KR101228647B1 - 제어 장치 및 제어 방법 - Google Patents

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도시바 미쓰비시덴키 산교시스템 가부시키가이샤
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Abstract

본 발명은 한쪽의 측정기로부터 다른 쪽의 측정기로 전환된 경우에도, 측정치를 갑자기 변화시키는 일 없이 열간압연 장치의 제어를 적절하게 계속하는 것으로서, 제 1의 프로세스 값으로 하여 측정하는 멀티 게이지(123)(제 l의 측정부)와, 제 2의 프로세스 값으로 하여 측정하는 평탄도계(127)(제 2의 측정부)와, 멀티 게이지(123)(제 1의 측정부)의 이상을 검출하는 이상 검출부(12)와, 프로세스 정보를 기억하는 프로세스 정보 기억부(2)와, 제 2의 프로세스 값을 보정하기 위한 학습항(Z)을 산출하는 학습항 산출부(13)와, 학습항(Z)을 기억하는 학습항 기억부(3)와, 보정 판폭값(보정 프로세스 값)을 생성하는 보정부(14)와, 이상이 검출된 시점 이전에서의 제 1의 프로세스 값과, 이상이 검출된 시점 이후에서의 보정 판폭값(보정 프로세스 값)을 선택하는 선택부(15)와, 선택된 프로세스 값 및 보정 프로세스 값에 의거하여, 압연 라인의 제어를 행하는 기기 제어부(16)를 구비한다.

Description

제어 장치 및 제어 방법{CONTROL DEVICE AND CONTROL METHOD}
본 발명은, 열간압연 장치를 제어하는 제어 장치에 관한 것으로, 특히, 2개 이상의 측정기를 구비하고, 한쪽의 측정기가 고장난 경우에도 적절하게 운전을 계속하는 제어 장치 및 제어 방법에 관한 것이다.
근래, 철강을 비롯한 압연 제품의 품질에 대한 고객 요구는 엄격해지는 경향이어서, 높은 레벨의 품질 관리가 요구되고 있다. 예를 들면, 열간압연 장치에서는, 피압연재의 판두께, 판폭, 마무리 압연기 출구측 온도, 권취(卷取) 온도 등의 관리항목이 있고, 관리항목의 값이 각각 소정의 관리 범위내가 되도록 열간압연 장치의 각 기기를 제어하는 것이 요구된다.
예를 들면, 압연재의 판폭은, 판폭 자체가 약 600㎜ 내지 2,300㎜임에 대해, 마무리압연 후의 판폭 정밀도는 목표치에 대해 0 내지 8㎜ 정도의 관리 범위내일 것이 요구되고 있다. 또한, 이 관리범위는, 제품으로서 요구되는 판폭에 대해, 피압연재의 길이 방향(반송 방향) 전체 길이에서 요구되는 값이고, 이의 구간에서 목표치에 대해 관리범위를 벗어나 마이너스의 값이 되면, 보정할 수가 없다.
그래서, 관리범위로부터 벗어나지 않도록 높은 판폭 정밀도로 품질 관리하기 위해, 슬래브 사이징 프레스나 에저 등의 폭 수정 수단을 이용하여 제어할 필요가 있다. 에저를 사용한 경우, 수평 밀을 이용하여 판두께를 얇게 하는 것도 계속하여 행하여진다. 이 때, 에저를 사용한 때의 도그본이라고 불리는 폭방향 단부의 국소 변형부 및 이 부분의 수평 밀 압하에 의한 폭방향 변형이나 수평 밀에 의한 폭 넓어짐이 발생한다. 또한, 압연중의 온도 변화에 의해 피압연재의 변형하기 쉬움, 즉 변형 저항도 변화한다. 그 때문에, 에저 및 수평 밀에 의한 판폭 변화량을, 계산 모델을 이용하여 정확하게 산출하는 것은 매우 곤란하였다. 그래서, 열간압연 장치(압연 라인)상의 주요한 관리점에서, 판폭을 측정하는 폭 측정기를 설치하고, 이 폭 측정기에 의해 측정된 판폭을 이용하여 정밀도 관리 및 계산 모델의 학습을 행하는 경우가 많다.
특허 문헌 1에는, 압연재의 권취기 앞에 배치한 폭 측정기에 의한 측정폭과 미리 정한 권취기 앞 폭 목표치와의 폭 편차와, 마무리 압연기 출구측에 배치한 폭 측정기에 의한 측정 폭과 미리 정한 열간 마무리 압연기 출구측 폭 목표치와의 폭 편차가 동등하게 되도록 마무리 압연기 출구측 폭 목표치를 수정하는 판폭 제어 방법이 기재되어 있다.
[선행기술문헌]
[특허문헌]
특허문헌1 일본 특허 제3341622호 공보
지금까지는 측정기는 유지보수가 필요하기 때문에, 압연 라인 상의 동일 개소에 복수대 설치되는 것은, 측정기 자체가 염가인 경우를 제외하고는 그다지 행해져 오지 않았다. 그러나 근래, 복수의 측정기가 설치되고, 이들의 측정기를 전환하여 이용할 수 있는 경우가 나왔다.
예를 들면, CCD 카메라에 의해 에지를 검출하여 판폭을 측정하는 폭 측정기나, X선 디텍터를 판폭 방향에 다수 배치하여 X선 투과량으로부터 에지 검출을 행하는 폭 측정기 등 복수의 측정 방식의 폭 측정기가 마련되고, 이들을 전환하여 사용되는 경우가 있다. 그러나, 폭 측정기의 측정 방식의 차이에 의해, 측정된 판폭값이 다른 경우가 있다.
또한, 라인 구성에 따라서는, 예를 들면 마무리 압연기 출구측 등 동일 또는 근접하는 품질 관리 포인트에 동일한 측정 방식의 폭 측정기가 복수 배치되는 경우도 있다. 예를 들면, 상용계(메인)로서 사용되는 제 1의 폭 측정기와, 비상용계(백업)로서 사용되는 제 2의 폭 측정기를 구비하고, 제 1의 폭 측정기가 고장난 경우에, 제 2의 폭 측정기로 전환함에 의해 폭 측정을 계속하는 일도 있다.
그러나, 동일한 측정 방식의 측정기인 제 1의 폭 측정기와 제 2의 폭 측정기가, 피압연재의 동일한 측정 대상점을 측정한 경우에도, 측정치가 다른 경우가 있다. 이것은, 측정점이 약간 어긋나 버려 결과적으로 측정점이 다른 것 및 측정기 자체에 개체차가 있는 것 등에 기인한다고 생각하고 있다. 이들을 기차(機差)라고 부른다. 이와 같은 기차가 있으면, 제 1의 폭 측정기가 고장난 경우에, 제 2의 폭 측정기로 전환하였다고 하여도, 측정치가 다른 것이 생각된다. 이에 의해, 측정치가 갑자기 변화하기 때문에, 열간압연 장치의 제어에 영향을 미치고, 결과적으로 제품의 품질이 변동한다.
마찬가지로, 특허 문헌 1에 기재된 판폭 제어 방법을 이용하여도, 폭 측정기를 전환하여 이용하는 경우, 전환한 때에 측정치가 갑자기 변화하기 때문에, 열간압연 장치의 제어에 영향을 미치고, 결과로서 제품의 품질이 변동한다.
본 발명은, 상기 과제를 감안하여 이루어진 것으로, 한쪽의 측정기로부터 다른 쪽의 측정기로 전환된 경우에도, 측정치를 갑자기 변화시키는 일 없이 열간압연 장치의 제어를 적절하게 계속하는 제어 장치 및 제어 방법을 제공하는 것에 있다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 관한 제어 장치의 제 1의 특징은, 피압연재를 압연하는 압연 라인에서의 프로세스 값을 제 1의 프로세스 값으로 하여 측정하는 제 1의 측정부와, 상기 압연 라인에서의 상기 제 1의 프로세스 값과 동종의 프로세스 값을 제 2의 프로세스 값으로 하여 측정하는 제 2의 측정부와, 상기 제 1의 측정부의 이상을 검출하는 이상 검출부와, 상기 제 1의 프로세스 값과, 상기 제 2의 프로세스 값과, 상기 제 1의 프로세스 값 및 상기 제 2의 프로세스 값이 측정된 시점을 나타내는 측정 시점 정보와, 상기 이상 검출부에 의해 이상이 검출된 시점을 나타내는 이상 검출 시점 정보와 관련지어서, 프로세스 정보로서 기억하는 프로세스 정보 기억부와, 상기 프로세스 정보에 의거하여, 상기 제 2의 프로세스 값을 상기 제 1의 프로세스 값에 접근하도록 보정하기 위한 학습항을 산출하는 학습항 산출부와, 상기 학습항 산출부에 의해 산출된 학습항을 기억하는 학습항 기억부와, 상기 프로세스 정보에 의거하여, 상기 제 2의 프로세스 값을 상기 학습항 기억부에 의해 기억된 학습항으로 보정함에 의해 보정 프로세스 값을 생성하는 보정부와, 상기 프로세스 정보에 의거하여, 상기 이상 검출부에 의해 이상이 검출된 시점 이전에서의 상기 제 1의 프로세스 값과, 상기 이상 검출부에 의해 이상이 검출된 시점 이후에서의 상기 보정 프로세스 값을 선택하는 선택부와, 상기 선택부에 의해 선택된 프로세스 값 및 보정 프로세스 값에 의거하여, 상기 압연 라인의 제어를 행하는 기기 제어부를 구비하는 것에 있다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 관한 제어 장치의 제 2의 특징은, 상기 학습항 산출부는, 상기 프로세스 값 기억부에 기억된 프로세스 정보에 의거하여, 상기 제 1의 프로세스 값과 상기 제 2의 프로세스 값과의 차를 산출하고, 상기 산출된 차와 상기 학습항 기억부에 기억된 전회의 압연시에 있어서의 상기 학습항에 의거하여, 지수평활법(指數平滑法)에 의해 새로운 상기 학습항을 산출하고, 상기 산출된 새로운 학습항을 상기 학습항 기억부에 기억시키는 것에 있다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 관한 제어 장치의 제 3의 특징은, 상기 이상 검출부는, 상기 제 1의 프로세스 값의 표준편차를 산출하고, 이 표준편차가 소정의 범위를 초과한 경우 또는 제로인 경우에, 상기 제 1의 측정부에 이상이 발생하였다고 판정하는 것에 있다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 관한 제어 장치의 제 4의 특징은, 상기 학습항 산출부는, 상기 제 1의 측정부 및 제 2의 측정부에 의해, 서로 상기 피압연재에 대한 위치 관계가 개략 동일한 개소에서 측정된 제 1의 프로세스 값 및 제 2의 프로세스 값의 차에 의거하여, 상기 제 2의 프로세스 값을 상기 제 1의 프로세스 값에 접근하도록 보정하기 위한 학습항을 산출하는 것에 있다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 관한 제어 방법의 제 1의 특징은, 피압연재를 압연하는 압연 라인에서의 프로세스 값을 제 1의 프로세스 값으로 하여 측정하는 제 1의 측정 스텝과, 상기 압연 라인에서의 상기 제 1의 프로세스 값과 동종의 프로세스 값을 제 2의 프로세스 값으로 하여 측정하는 제 2의 측정 스텝과, 상기 제 1의 측정 스텝의 이상을 검출하는 이상 검출 스텝과, 상기 제 1의 프로세스 값과, 상기 제 2의 프로세스 값과, 상기 제 1의 프로세스 값 및 상기 제 2의 프로세스 값이 측정된 시점을 나타내는 측정 시점 정보와, 상기 이상 검출 스텝에 의해 이상이 검출된 시점을 나타내는 이상 검출 시점 정보와 관련지어서, 프로세스 정보로서 프로세스 정보 기억부에 기억시키는 프로세스 정보 기억 스텝과, 상기 프로세스 정보에 의거하여, 상기 제 2의 프로세스 값을 상기 제 1의 프로세스 값에 접근하도록 보정하기 위한 학습항을 산출하는 학습항 산출 스텝과, 상기 학습항 산출 스텝에 의해 산출된 학습항을 학습항 기억부에 기억시키는 학습항 기억 스텝과, 상기 프로세스 정보에 의거하여, 상기 제 2의 프로세스 값을 상기 학습항 기억 스텝에 의해 기억된 학습항으로 보정함에 의해 보정 프로세스 값을 생성하는 보정 스텝과, 상기 프로세스 정보에 의거하여, 상기 이상 검출 스텝에 의해 이상이 검출된 시점 이전에서의 상기 제 1의 프로세스 값과, 상기 이상 검출 스텝에 의해 이상이 검출된 시점 이후에서의 상기 보정 프로세스 값을 선택하는 선택 스텝과, 상기 선택 스텝에 의해 선택된 프로세스 값 및 보정 프로세스 값에 의거하여, 상기 압연 라인의 제어를 행하는 기기 제어 스텝을 갖는 것에 있다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 관한 제어 방법의 제 2의 특징은, 상기 학습항 산출 스텝은, 상기 프로세스 값 기억부에 기억된 프로세스 정보에 의거하여, 상기 제 1의 프로세스 값과 상기 제 2의 프로세스 값과의 차를 산출하고, 상기 산출된 차와 상기 학습항 기억부에 기억된 전회의 압연시에 있어서의 상기 학습항에 의거하여, 지수평활법에 의해 새로운 상기 학습항을 산출하고, 상기 산출된 새로운 학습항을 상기 학습항 기억부에 기억시키는 것에 있다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 관한 제어 방법의 제 3의 특징은, 상기 이상 검출 스텝은, 상기 제 1의 프로세스 값의 표준편차를 산출하고, 이 표준편차가 소정의 범위를 초과한 경우 또는 제로인 경우에, 상기 제 1의 측정부에 이상이 발생하였다고 판정하는 것에 있다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 관한 제어 방법의 제 4의 특징은, 상기 학습항 산출 스텝은, 상기 제 1의 측정 스텝 및 제 2의 측정 스텝에 의해, 서로 상기 피압연재에 대한 위치 관계가 개략 동일한 개소에서 측정된 제 1의 프로세스 값 및 제 2의 프로세스 값의 차에 의거하여, 상기 제 2의 프로세스 값을 상기 제 1의 프로세스 값에 접근하도록 보정하기 위한 학습항을 산출하는 것에 있다.
본 발명의 제어 장치 및 제어 방법에 의하면, 한쪽의 측정기로부터 다른 쪽의 측정기로 전환된 경우에도, 측정치를 갑자기 변화시키는 일 없이 열간압연 장치의 제어를 적절하게 계속할 수 있다.
도 1은 본 발명에 관한 한 실시 형태에 관한 제어 장치에 의해 제어되는 열간압연 장치의 구성을 도시한 구성도.
도 2는 본 발명에 관한 한 실시 형태에 관한 제어 장치의 기능 구성을 도시한 구성도.
도 3은 본 발명에 관한 한 실시 형태에 관한 제어 장치가 구비하는 프로세스 정보 기억부에 기억된 프로세스 정보의 한 예를 도시하는 도면.
도 4는 본 발명에 관한 한 실시 형태에 관한 제어 장치가 구비하는 학습항 기억부에 기억된 학습항의 한 예를 도시하는 도면.
도 5는 본 발명에 관한 한 실시 형태에 관한 제어 장치의 처리 순서를 도시하는 플로우 차트.
도 6은 본 발명에 관한 한 실시 형태에 관한 제어 장치에 있어서, 프로세스 정보 기억부에 기억된 프로세스 정보와, 실적 보정 프로세스 정보 기억부에 기억된 실적 보정 프로세스 정보를 설명하는 도면.
도 7은 본 발명에 관한 한 실시 형태에 관한 제어 장치에 의해 제어되는, 2개의 온도계가 구비된 열간압연 장치를 모식적으로 도시하는 도면.
본 발명에 관한 한 실시 형태에 관한 제어 장치의 구성에 관해 설명한다.
≪열간압연 장치의 구성≫
도 1은, 본 발명에 관한 한 실시 형태에 관한 제어 장치에 의해 제어되는 열간압연 장치의 구성을 도시한 구성도이다. 도 1중의 화살표는, 열간압연 장치(열간압연 라인)에서 압연되는 피압연재(200)가 반송되는 반송 방향을 나타내고 있다. 일반적으로, 피압연재(200)는, 열간압연 장치에서 압연된 과정에서, 슬래브, 바, 코일이라고도 불리지만, 여기서는, 피압연재(200)라는 호칭으로 통일하기로 한다.
도 1에 도시하는 바와 같이, 열간압연 장치(100)는, 가열로(101)와, 프라이머리 디스케일러(103)와, 거친 에저(105)와, 거친 압연기(107)와, 거친 출측(出側) 판폭계(109)와, 거친 출측 온도계(111)와, 마무리 입측(入側) 온도계(113)와, 크롭 셰어(115)와, 세컨더리 디스케일러(117)와, 마무리 압연기(119)와, 마무리 출측 판후계(121)와, 멀티 게이지(123)와, 마무리 출측 온도계(125)와, 평탄도계(127)와, 런아웃 라미너 스프레이 냉각부(129)와, 코일러 입측 온도계(131)와, 코일러 입측 판폭계(133)와, 코일러(135)를 구비한다.
가열로(101)는, 피압연재(200)를 가열하기 위한 로(爐)이다.
프라이머리 디스케일러(l03)는, 가열로(101)의 가열에 의해 피압연재(200)표면에 형성된 산화막을, 피압연재(200)의 상하 방향에서 고압수를 분사함에 의해 제거한다.
거친 에저(l05)는, 열간압연 라인상 면방향에서 보아, 피압연재(200)의 폭방향의 압연을 행한다.
거친 압연기(107)는, 단수 또는 복수 스탠드를 구비하고, 피압연재(200)의 상하 방향의 압연을 행한다. 또한, 거친 압연기(107)는, 온도 저하 방지 등의 관점에서, 라인 길이를 짧게 할 필요가 있고, 또한 복수 패스(반송 방향에 대한 왕복 운동)에 의한 압연이 필요하기 때문에, 가역식 압연기를 포함하여 구성되는 경우가 많다. 또한, 거친 압연기(107)는, 반제품인 피압연재(200)에 고압수를 분사하여, 표면의 산화막을 제거하기 위한 디스케일러를 구비하고 있다. 압연은, 고온에서 행하여지기 때문에, 산화막이 형성되기 쉽고, 이와 같은 산화막을 제거하기 위한 장치를 적절히 이용할 필요가 있다.
거친 출측 판폭계(109)는, 압연중의 반제품인 피압연재(200)의 판폭을 측정한다.
거친 출측 온도계(111)는, 압연중의 반제품인 피압연재(200)의 표면 온도를 측정한다.
마무리 입측 온도계(113)는, 거친 압연기(107)와 마무리 압연기(119) 사이의 거리가 길기 때문에, 마무리 압연기(119)의 입구에서의 피압연재(200)의 표면 온도를 측정한다.
크롭 셰어(crop shear;115)는, 피압연재(200)의 선미단부를 절단한다.
세컨더리 디스케일러(117)는, 거친 압연기(107)와 마무리 압연기(119) 사이의 거리가 길기 때문에, 마무리 압연기(119)의 입구에 마련되고, 마무리 압연 후의 피압연재(200)의 표면 성상을 좋게 하기 위해, 거친 압연된 피압연재(200) 표면에 형성된 산화막을, 피압연재(200)의 상하 방향에서 고압수를 분사함에 의해 제거한다.
마무리 압연기(119)는, 스탠드라고 불리는 압연 롤이 복수열 설치된 탠덤식이 채용되고 있고, 복수의 압연 롤로 상하 방향으로 압연함에 의해, 목표 판두께의 피압연재(200)를 얻을 수 있다. 이 마무리 압연기(119)의 스탠드 및 스탠드 사이에는, 산화막 형성을 억제하기 위해, 및 온도 제어를 행하기 위해, 스프레이가 구비되어 있다.
마무리 출측 판후계(121)는, 마무리 압연기(119)에 의해 압연된 피압연재(200)의 판두께를 측정한다. 피압연재(200)의 판두께를 목표 범위내로 제어하기 위해, 이 마무리 출측 판후계(121)에 의해 측정된 판두께의 값을 프로세스 값으로 하여 마무리 압연기(119)의 압하 위치의 피드백 제어에 사용된다.
X선 측정기의 일종인 멀티 게이지(Multi-Channel Gauge)(123)는, X선의 검출기를 피압연재(2000) 폭방향으로 나열한 형태를 하고 있고, 폭방향에서의 판두께 분포를 측정할 수 있기 때문에, 판두께, 크라운, 판폭 등 복수 종류의 프로세스 값을 1대로 측정할 수 있는 복합형 측정기이다.
마무리 출측 온도계(125)는, 마무리 압연기(119)에 의한 압연 후의 피압연재(2000) 표면 온도를 측정한다. 피압연재(200)의 온도는, 제품의 금속 조직의 형성이나 재질과 밀접하게 관련되어 있고, 적절한 온도로 관리될 필요가 있다.
평탄도계(127)는, 마무리 압연기(119)에 의한 압연 후의 피압연재(200)의 평탄도를 측정한다. 또한, 평탄도계(127)는, 복수의 CCD 카메라를 구비하고 있고, 피압연재(200)의 판폭을 측정하는 것도 가능하다. 평탄도계(127)는 멀티 게이지(123)보다 측정 정밀도가 높기 때문에, 마무리 압연기(119) 출구측의 판폭값으로서는, 평탄도계(127)에 의해 측정된 판폭값이 사용되는 경우가 많다.
런아웃 라미너 스프레이 냉각부(129)는, 피압연재(200) 온도를 제어하기 위해, 냉각수에 의해 피압연재(200)를 냉각하는 장치이다. 이들에는, 통상의 런아웃 테이블 냉각 장치에 더하여, 전후에 강제 냉각 장치가 구비되는 것도 있다.
코일러 입측 온도계(131)는, 런아웃 라미너 스프레이 냉각부(129)에 의해 냉각된 피압연재(200)의 표면 온도를 측정한다. 피압연재(200)의 온도는, 압연 제품의 금속 조직의 형성이나 재질과 밀접하게 관련되어 있고, 적절한 온도로 관리될 필요가 있다.
코일러 입측 판폭계(133)는, 런아웃 라미너 스프레이 냉각부(129)에 의해 냉각된 피압연재(200)의 판폭을 측정한다. 통상의 압연에서는, 오스테나이트 영역까지 가열된 피압연재(200)는, 런아웃 라미너 스프레이 냉각부(129)에서 페라이트나 펄라이트 등의 조직으로 변태하기 때문에 변태 후의 판폭을 측정한다. 또한, 마무리 압연기(119) 출구측에서 약 860℃ 전후, 코일러(135) 입측에서 약 600℃ 전후이기 때문에, 보다 실온에 가까운 상태에서 측정함에 의해, 선팽창에 의한 실온과의 오차가 보다 적은 상태에서 판폭을 측정할 수 있다.
코일러(135)는, 피압연재(200)를 반송하기 위해 권취한다.
≪제어 장치(1)의 기능 구성≫
도 2는, 본 발명에 관한 한 실시 형태에 관한 제어 장치(1)의 기능 구성을 도시한 구성도이다. 또한, 도 2에서는, 멀티 게이지(123)를 제 1의 측정부로 하고, 평탄도계(127)를 제 2의 측정부로 한 경우를 예로 들어 설명한다.
도 2에 도시하는 바와 같이, 본 발명에 관한 한 실시 형태에 관한 제어 장치(1)는, 프로세스 정보 기억부(2)와 학습항 기억부(3)와, 제어부(4)와, 실적 보정 프로세스 정보 기억부(5)를 구비하고 있고, 상술한 멀티 게이지(123)에 의해 측정된 판폭값이 공급됨과 함께, 평탄도계(127)에 의해 측정된 판폭값이 공급된다.
프로세스 정보 기억부(2)는, 멀티 게이지(123)에 의해 측정된 제 1의 프로세스 값인 판폭값과, 평탄도계(127)에 의해 측정된 제 2 프로세스 값인 판폭값과, 이러한 판폭값을 측정한 시점을 나타내는 측정 시점 정보와, 후술하는 이상 검출부(12)에 의해 이상이 검출된 시점을 나타내는 이상 검출 시점 정보와 관련지어서, 프로세스 정보로서 기억한다.
도 3은, 본 발명에 관한 한 실시 형태에 관한 제어 장치(1)가 구비하는 프로세스 정보 기억부(2)에 기억된 프로세스 정보의 한 예를 도시하는 도면이다.
도 3에 도시하는 바와 같이, 측정 시각(t)(부호 201)마다, 멀티 게이지(123)에 의해 측정된 제 1의 프로세스 값인 판폭값(부호 202)와, 평탄도계(127)에 의해 측정된 제 2의 프로세스 값인 판폭값(부호 203)와, 후술하는 이상 검출부(12)에 의해 이상이 검출되었는지의 여부를 나타내는 에러 코드(이상 검출 시점 정보)(부호 204)가 관련지어져서, 프로세스 정보로서 기억되어 있다. 여기서는, 에러 코드(이상 검출 시점 정보)가 "1"인 경우, 이상 검출부(12)에 의해 이상이 검출된 것을 나타내고, "0"인 경우, 이상 검출부(12)에 의해 이상이 검출되지 않은 것을 나타내고 있다.
학습항 기억부(3)는, 후술하는 학습항 산출부(13)에 의해 산출된 학습항을 기억한다.
도 4는, 본 발명에 관한 한 실시 형태에 관한 제어 장치(1)가 구비하는 학습항 기억부(3)에 기억된 학습항의 한 예를 도시하는 도면이다.
도 4에 도시하는 바와 같이, 학습항 기억부(3)에는, 강종(A) 내지 강종(C)마다, 학습항 테이블(300 내지 500)이 기억되어 있다.
학습항 테이블(300 내지 500)은, 각각, 목표 판폭(X(1) … X(m)), 및 목표 판두께(Y(1) … Y(n))에 대응하는 학습항(Z)이 기억되어 있다. 예를 들면, 강종(A)의 학습항 테이블(300)에서는, 목표 판폭(X(m)) 및 목표 판두께(Y(1))에 대응하는 학습항으로서, 학습항(ZA(m)1)이 기억되어 있다.
실적 보정 프로세스 정보 기억부(5)는, 프로세스 정보에, 이상 검출부(12)에 의해 이상이 검출된 것을 나타내는 에러 코드가 포함되지 않은 경우, 멀티 게이지(123)에 의해 측정된 판폭값을 실적 보정 프로세스 정보로서 기억하고, 이상 검출부(12)에 의해 이상이 검출된 것을 나타내는 에러 코드가 포함되어 있는 경우, 이상 검출부(12)에 의해 이상이 검출된 시점 이전에서의 멀티 게이지(123)에 의해 측정된 판폭값과, 이상 검출부(12)에 의해 이상이 검출된 시점 이후에서의 후술하는 보정부(14)에 의해 생성된 보정 판폭값을 선택하고, 실적 보정 프로세스 정보로서 기억한다.
제어부(4)는, 제어 장치(1)의 중추적인 제어를 행한다. 또한, 제어부(4)는, 프로세스 정보 기억 제어부(11)와, 이상 검출부(12)와, 학습항 산출부(13)와, 보정부(14)와, 선택부(15)와, 기기 제어부(16)를 구비한다.
프로세스 정보 기억 제어부(11)는, 제 1의 프로세스 값과, 제 2의 프로세스 값과, 제 1의 프로세스 값 및 제 2의 프로세스 값이 측정된 시점을 나타내는 측정 시점 정보와, 이상 검출부(12)에 의해 이상이 검출된 시점을 나타내는 이상 검출 시점 정보와 관련지어서, 프로세스 정보로서 프로세스 정보 기억부(2)에 기억시킨다.
이상 검출부(12)는, 멀티 게이지(123)(제 1의 측정부)의 이상을 검출한다. 구체적으로는, 이상 검출부(12)는, 피압연재(200)의 1본분(本分)의 정시간(定時間) 또는 정길이(定長) 프로세스 값의 표준편차를 산출하고, 이 표준편차가 어느 값보다도 큰, 또는 제로인 경우, 멀티 게이지(123)(제 1의 측정부)에 이상이 발생하였다고 판정한다.
학습항 산출부(13)는, 프로세스 정보에 의거하여, 제 2의 프로세스 값을 제 1의 프로세스 값에 접근하도록 보정하기 위한 학습항을 산출한다.
보정부(14)는, 프로세스 정보에 의거하여, 제 2의 프로세스 값을 학습항 기억부(3)에 의해 기억된 학습항(Z)으로 보정함에 의해 보정 판폭값(보정 프로세스 값)을 생성한다.
선택부(15)는, 프로세스 정보에 의거하여, 이상 검출부(12)에 의해 이상이 검출된 것을 나타내는 에러 코드가 포함되지 않은 경우, 멀티 게이지(123)에 의해 측정된 판폭값을 선택하고, 이상 검출부(12)에 의해 이상이 검출된 것을 나타내는 에러 코드가 포함되어 있는 경우, 이상 검출부(12)에 의해 이상이 검출된 시점 이전에서의 제 1의 프로세스 값과, 이상 검출부(12)에 의해 이상이 검출된 시점 이후에서의 후술하는 보정부(14)에 의해 생성된 보정 판폭값(보정 프로세스 값)을 선택한다.
기기 제어부(16)는, 외부로부터 공급된 목표 판폭, 목표 판두께, 강종 등의 설정 조건, 선택부(15)에 의해 선택된 프로세스 값 및 보정 프로세스 값에 의거하여, 압연 라인의 제어를 행한다. 구체적으로는, 가열로(101)와, 프라이머리 디스케일러(103)와, 거친 에저(105)와, 거친 압연기(107)와, 크롭 셰어(115)와, 세컨더리 디스케일러(117)와, 마무리 압연기(119)와, 런아웃 라미너 스프레이 냉각부(129)와, 코일러(135)를 제어한다.
또한, 기기 제어부(16)는, 다음에 압연하는 피압연재(200)의 설정을 고정밀도로 하기 위한 설정 계산, 예를 들면 판폭이라면 피압연재(200)의 압연 후의 판폭과 판폭 목표치와의 폭 편차량을 적게 하기 위해, 피압연재(200)마다 판폭 실적치와 판폭 목표치를 비교함에 의해, 설정 계산 학습 기능인 판폭 학습을 실시한다.
이 설정 계산 학습 기능에서는 통상, 압연 후에 모델 계산에 의한 계산치와, 실측치를 비교하여, 모델 계산 오차의 흡수를 행한다. 이 설정 계산 학습 기능에 관해서는, 「판 압연의 이론과 실제」(사단법인 일본철강협회 : l984)의 p. 291에 기재되어 있다.
또한, 기기 제어부(16)는, 이상 검출부(12)에 의해 이상이 검출된 경우, 제 1의 프로세스 값인 판폭값 대신에, 평탄도계(127)에 의해 측정된 제 2 프로세스 값인 판폭값을 이용하여, 피드백 제어를 행하도록 하여도 좋다.
≪제어 장치(1)의 작용≫
도 5는, 본 발명에 관한 한 실시 형태에 관한 제어 장치(1)의 처리 순서를 도시한 플로우 차트이다. 또한, 도 5에서는, 멀티 게이지(123)를 제 1의 측정부로 하고, 평탄도계(127)를 제 2의 측정부로 한 경우를 예로 들어 설명한다.
도 5에 도시하는 바와 같이, 제어부(4)의 학습항 산출부(13)는, 피압연재(200)의 압연이 완료되었는지의 여부를 판정한다(스텝 S101). 구체적으로는, 기기 제어부(16)가, 1본분의 피압연재(200)가, 열간압연 장치(100)에 구비된 가열로(101)로부터 순차적으로 공급되고, 코일러(135)에 의해 권취되면, 피압연재(200)의 압연이 완료되었다고 판정한다.
스텝 S101에서, 피압연재(200)의 압연이 완료되었다고 판정된 경우(YES의 경우), 학습항 산출부(13)는, 프로세스 정보 기억부(2)에 기억된 프로세스 정보를 판독한다(스텝 S103).
다음에, 학습항 산출부(13)는, 측정치의 차를 산출한다(스텝 S105). 구체적으로는, 학습항 산출부(13)는, 스텝 S103에서 판독된 프로세스 정보에 의거하여, 임의의 시점에서의 멀티 게이지(123)에 의해 측정된 판폭값(B1)(제 1의 프로세스 값)과 평탄도계(127)에 의해 측정된 판폭값(B2)(제 2의 프로세스 값)을 산출하고,
하기한 식 1을 이용하여 차(δ)를 산출한다.
δ=B1-B2 (식 1)
다음에, 학습항 산출부(13)는, 학습항(Z)를 산출한다(스텝 S107). 구체적으로는, 학습항 산출부(13)는, 스텝 S101에서 압연이 완료된 피압연재(200)의 강종, 목표 판두께(X), 및 목표 판두께(Y)에 대응한 학습항을, 전회의 압연시에 산출된 학습항(Zn-1)으로서 학습항 기억부(3)로부터 추출한다. 그리고, 학습항 산출부(13)는, 스텝 S105에서 산출된 차(δ)와, 하기한 식 2를 이용하여, 지수평활법에 의해 전회의 압연시에 산출된 학습항(Z)을 평활화함에 의해 새로운 학습항(Zn)을 산출하다. 또한, 식 2에서는, Zn -1을 전회의 압연시에 산출된 학습항으로 하고, Zn을 금회의 압연시에 산출한 학습항으로 하여 표기하고 있다.
Zn=(1-β)·Zn -1 + β·δ (식 2)
여기서, β는, 학습 게인이고 0 내지 1.0의 범위이다. 이 학습 게인(β)은, 1.0에 가까울수록 학습 속도가 빨라지지만 이상치(異常値)의 영향을 받기 쉬워지고, 통상은 0.3 내지 0.4 정도로 하는 일이 많다.
그리고, 학습항 산출부(13)는, 산출된 학습항(Z)을 학습항 기억부(3)에 기억한다(스텝 S109). 구체적으로는, 학습항 산출부(13)는, 학습항 기억부(3)에 기억된 학습항 테이블에서, 스텝 S101에서 압연이 완료된 피압연재(200)의 강종, 목표 판두께(X), 및 목표 판두께(Y)에 대응하는 학습항(Zn-1)을, 스텝 S107에서 산출된 학습항(Zn)으로 재기록한다.
다음에, 제어부(4)의 보정부(14)는, 보정 프로세스 값을 생성한다(스텝 S111). 구체적으로는, 보정부(14)는, 프로세스 정보 기억부(2)에 기억된 프로세스 정보에 의거하여, 하기한 식 3을 이용하여, 평탄도계(127)에 의해 측정된 판폭값(B2)을 학습항 기억부(3)에 의해 기억된 학습항(Z)으로 보정함에 의해 보정 프로세스 값인 보정 판폭값(B2 comp)을 생성한다.
B2 comp=B2 + Z (식 3)
다음에, 제어부(4)의 선택부(15)는, 스텝 S101에서 압연 완료한 피압연재(200)의 압연중에, 멀티 게이지(123)(제 1의 측정부)에 이상이 있었는지의 여부를 판정한다(스텝 S113) 구체적으로는, 선택부(15)는, 프로세스 정보 기억부(2)에 기억된, 스텝 S101에서 압연 완료한 피압연재(200)에 대응하는 프로세스 정보에 포함되는 에러 코드(이상 검출 시점 정보)에 "1"을 나타내고 있는 데이터가 존재하는 경우, 멀티 게이지(123)에 이상이 있다고 판정한다.
스텝 S113에서, 멀티 게이지(123)에 이상이 없었다고 판정된 경우(N0의 경우), 선택부(15)는, 멀티 게이지(123)(제 1의 측정부)에 의해 측정된 판폭값을 선택한다. 구체적으로는, 선택부(15)는, 프로세스 정보 기억부(2)에 기억된, 스텝 S101에서 압연 완료한 피압연재(200)에 대응하는 프로세스 정보중에서, 멀티 게이지(123)에 의해 측정된 판폭값을 선택한다(스텝 S115).
한편, 스텝 S113에서, 멀티 게이지(123)(제 1의 측정부)에 이상이 있다고 판정된 경우(YES의 경우), 선택부(15)는, 이상이 검출된 시점 이전에서의 멀티 게이지(123)에 의해 측정된 판폭값과, 이상이 검출된 시점 이후에서의 보정부(14)에 의해 생성된 보정 판폭값을 선택한다(스텝 S117).
예를 들면, 도 3의 예에서, 시각(t201)이, "00:10:10"의 시점에서, 에러 코드(204)의 값이 "0"부터 "1"이 되었다고 하면, 선택부(15)는, 시각(t201)이, "00:10:00"의 시점까지의 멀티 게이지(123)에 의해 측정된 판폭값(202)을 선택함과 함께, 시각(t201)이, "00:10:10"의 시점 이후에서의 보정부(14)에 의해 생성된 보정 판폭값을 선택한다.
다음에, 선택부(15)는, 스텝 S115에서 선택된 멀티 게이지(123)에 의해 측정된 판폭값 또는 스텝 S117에서 선택된 이상이 검출된 시점 이전에서의 멀티 게이지(123)에 의해 측정된 판폭값 및 이상이 검출된 시점 이후에서의 보정부(14)에 의해 생성된 보정 판폭값을, 실적 보정 프로세스 정보로서 실적 보정 프로세스 정보 기억부(5)에 기억한다(스텝 S119).
도 6은, 본 발명에 관한 한 실시 형태에 관한 제어 장치(1)에 있어서, 프로세스 정보 기억부(2)에 기억된 프로세스 정보와, 실적 보정 프로세스 정보 기억부(5)에 기억된 실적 보정 프로세스 정보를 설명하는 도면이다.
도 6에 도시하는 601은, 멀티 게이지(123)에 의해 측정된 판폭값을 나타내고 있고, 602는, 평탄도계(127)에 의해 측정된 판폭값을 나타내고 있고, 603은, 보정부(14)에 의해 생성된 보정 판폭값을 나타내고 있다.
도 6에 도시하는 바와 같이, 임의의 시점인 t1시점에서의 멀티 게이지(123) 및 평탄도계(127) 각각 측정된 판폭값의 차에 의거하여, 평탄도계(127)에 의해 측정된 판폭값을 보정하기 위한 학습항(Z)이 산출된다.
그리고, t2시점에서, 멀티 게이지(123)에 의해 측정된 판폭값이 일정치로 되어 있기 때문에, 표준편차가 제로라고 판정하고, t2시점 이후 멀티 게이지(123)에 이상이 있다고 판정된다. 그 때문에, 제어부(4)의 선택부(15)는, 이상 검출부(12)에 의해 이상이 검출된 t2시점 이전에서의 멀티 게이지(123)에 의해 측정된 판폭값(601)과, 이상 검출부(12)에 의해 이상이 검출된 t2시점 이후에서의 보정부(14)에 의해 생성된 보정 판폭값(603)을 선택하고, 실적 보정 프로세스 정보로서 실적 보정 프로세스 정보 기억부(5)에 기억시킨다.
이에 의해, 멀티 게이지(123)에 이상이 발생한 경우에도, 측정치를 갑자기 변화시키는 일 없이 기억할 수 있다.
이상과 같이, 본 발명에 관한 한 실시 형태에 관한 제어 장치(1)에 의하면, 피압연재(200)를 압연하는 압연 라인(열간압연 장치)에서의 판폭값(프로세스 값)을 제 1의 프로세스 값으로 하여 측정하는 멀티 게이지(123)(제 1의 측정부)와, 압연 라인(열간압연 장치)에서 제 1의 프로세스 값과 동종의 프로세스 값인 판폭값을 제 2의 프로세스 값으로 하여 측정하는 평탄도계(127)(제 2의 측정부)와, 멀티 게이지(123)(제 1의 측정부)의 이상을 검출하는 이상 검출부(12)와, 제 1의 프로세스 값과, 제 2의 프로세스 값과, 제 1의 프로세스 값 및 제 2의 프로세스 값이 측정된 시점을 나타내는 측정 시점 정보와, 이상 검출부(12)에 의해 이상이 검출된 시점을 나타내는 이상 검출 시점 정보와 관련지어서, 프로세스 정보로서 기억하는 프로세스 정보 기억부(2)와, 프로세스 정보에 의거하여, 제 2의 프로세스 값을 제 1의 프로세스 값에 접근하도록 보정하기 위한 학습항을 산출하는 학습항 산출부(13)와, 학습항 산출부(13)에 의해 산출된 학습항(Z)을 기억하는 학습항 기억부(3)와, 프로세스 정보에 의거하여, 제 2의 프로세스 값을 학습항 기억부(3)에 의해 기억된 학습항(Z)으로 보정함에 의해 보정 판폭값(보정 프로세스 값)을 생성하는 보정부(14)와, 프로세스 정보에 의거하여, 이상 검출부(12)에 의해 이상이 검출된 시점 이전에서의 제 1의 프로세스 값과, 이상 검출부(12)에 의해 이상이 검출된 시점 이후에서의 보정 판폭값(보정 프로세스 값)을 선택하는 선택부(15)와, 선택부(15)에 의해 선택된 프로세스 값 및 보정 프로세스 값에 의거하여, 압연 라인의 제어를 행하는 기기 제어부(16)를 구비하기 때문에, 멀티 게이지(123)(제 1의 측정부)에 이상이 발생한 경우에도, 측정치를 갑자기 변화시키는 일 없이 열간압연 장치(100)의 제어를 적절하게 계속한다.
또한, 본 발명에 관한 한 실시 형태에 관한 제어 장치(1)에서는, 지수평활법에 의해 새로운 학습항(Z)을 산출하였지만, 이것으로 한하지 않는다.
예를 들면, 목표 판두께, 목표 판폭, 합금종 등을 층별 키로 하는 층별 학습법이나, 동종류의 측정치와 차(δ)를 교시 데이터로 하는 뉴럴네트워크에 의한 학습법을 이용할 수 있다.
또한, 본 발명에 관한 한 실시 형태에 관한 제어 장치(1)에서는, 멀티 게이지(123)를 제 1의 측정부로 하고, 평탄도계(127)를 제 2의 측정부로 하였지만 이것으로 한하지 않는다.
예를 들면, 평탄도계(127)를 제 1의 측정부로 하고, 멀티 게이지(123)를 제 2의 측정부로 하여도 좋고, 평탄도계(127)를 제 1의 측정부로 하고, 코일러 입측 판폭계(133)를 제 2의 측정부로 하여도 좋다.
또한, 측정하는 프로세스 값은 판폭으로는 한하지 않고, 거친 출측 온도계(111), 마무리 입측 온도계(113), 마무리 출측 온도계(125), 또는 코일러 입측 온도계(131)에 의해 측정된 온도를 프로세스 값으로 하여도 좋고, 마무리 출측 판후계(121)에 의해 측정된 판두께치를 프로세스 값으로 하여도 좋다.
즉, 제 1의 측정부와 제 2의 측정부란, 열간압연 장치(100)(압연 라인)상에 마련되고, 동종의 프로세스 값을 측정하는 측정기라면 좋다.
또한, 본 발명에 관한 한 실시 형태에 관한 제어 장치(1)에서는, 임의의 시점에서의 멀티 게이지(123) 및 평탄도계(127) 각각 측정된 판폭값의 차를 산출하였지만, 이것으로 한정하지 않는다.
예를 들면, 멀티 게이지(123)에 의해 측정된 판폭값의 평균과 평탄도계(127)에 의해 측정된 판폭값의 평균과의 차를 산출하도록 하여도 좋다. 또한, 2개의 온도계를 구비하고, 피압연재(200)에 대한 위치 관계가 개략 동일한 개소에서의 2개의 온도계 각각 측정된 온도의 차를 산출하도록 하여도 좋다.
도 7은, 2개의 온도계가 구비된 열간압연 장치를 복식적으로 도시하는 도면이다.
도 7에 도시하는 바와 같이, 제 1의 마무리 출측 온도계(140)와 제 2의 마무리 출측 온도계(141)가 구비되어 있다.
그리고, 학습항 산출부(17)는, 제 1의 마무리 출측 온도계(140)및 제 2의 마무리 출측 온도계(141)에 의해 피압연재(200)에 대한 위치 관계가 개략 동일한 개소에서 측정한 각각의 온도에 의거하여, 차를 산출한다. 예를 들면, 학습항 산출부(17)는, 압연재(200)의 반송 속도에 의거하여, 피압연재(200)의 선단부터 피압연재(200)상의 소정 거리(S)만큼 떨어진 지점에서의 온도에 의거하여 차를 산출한다.
그리고, 학습항 산출부(13)는, 산출된 차에 의거하여, 제 2의 마무리 출측 온도계(141)에 의해 측정된 온도를 보정하기 위한 학습항(Z)을 산출하도록 하여도 좋다.
또한, 본 발명에 관한 한 실시 형태에 관한 제어 장치(1)에서는, 멀티 게이지(123) 및 평탄도계(127) 각각 측정된 판폭값의 차를 산출하였지만, 이것으로 한하지 않고, 비(比)를 산출하도록 하여도 좋다. 구체적으로는, 학습항 산출부(13)는, 멀티 게이지(123)에 의해 측정된 판폭값(B1)과 평탄도계(127)에 의해 측정된 판폭값(B2)에 의거하여, 하기한 식 4를 이용하여 비(φ)를 산출한다.
φ=B1/B2 (식 4)
그리고, 학습항 산출부(13)는, 비(φ)를 산출한 경우, 학습항 산출부(13)는, 산출된 비(φ)를, 하기한 식 5를 이용하여, 지수평활법에 의해 전회의 압연시에 산출된 학습항(Z)을 평활화함에 의해 새로운 학습항(Zn)을 산출한다. 또한, 식 5에서는, Zn - 1를 전회의 압연시에 산출된 학습항으로 하고, Zn를 금회의 압연시에 산출한 학습항으로 하여 표기하고 있다.
Zn=(1-β)·Zn -1 + β·φ (식 5)
또한, 제어부(4)의 보정부(14)는, 프로세스 정보 기억부(2)에 기억된 프로세스 정보에 의거하여, 하기한 식 6을 이용하여, 평탄도계(127)에 의해 측정된 판폭값(B2)을 학습항 기억부(3)에 의해 기억된 학습항(Z)으로 보정함에 의해 보정 프로세스 값인 보정 판폭값(B2 comp)을 생성한다.
B2 comp=B2 × Z (식 6)
이상과 같이, 본 발명에 관한 제어 장치 및 제어 방법은, 피압연재를 압연하는 열간압연 장치를 제어하는 제어 장치 및 제어 방법에 이용할 수 있다.
1 : 제어 장치
2 : 프로세스 정보 기억부
3 : 학습항 기억부
4 : 제어부
5 : 실적 보정 프로세스 정보 기억부
11 : 프로세스 정보 기억 제어부
12 : 이상 검출부
13 : 학습항 산출부
14 : 보정부
15 : 선택부
16 : 기기 제어부
17 : 학습항 산출부
100 : 열간압연 장치
101 : 가열로
103 : 프라이머리 디스케일러
105 : 거친 에저
107 : 거친 압연기
109 : 거친 출측 판폭계
111 : 거친 출측 온도계
113 : 마무리 입측 온도계
115 : 크롭 셰어
117 : 세컨더리 디스케일러
119 : 마무리 압연기
121 : 마무리 출측 판후계
123 : 멀티 게이지
125 : 마무리 출측 온도계
127 : 평탄도계
129 : 런아웃 라미너 스프레이 냉각부
131 : 코일러 입측 온도계
133 : 코일러 입측 판폭계
135 : 코일러
140 : 제 1의 마무리 출측 온도계
141 : 제 2의 마무리 출측 온도계

Claims (8)

  1. 피압연재를 압연하는 압연 라인에서의 프로세스 값을 제 1의 프로세스 값으로 하여 측정하는 제 1의 측정부와,
    상기 압연 라인에서의 상기 제 1의 프로세스 값과 동종의 프로세스 값을 제 2의 프로세스 값으로 하여 측정하는 제 2의 측정부와,
    상기 제 1의 측정부의 이상을 검출하는 이상 검출부와,
    상기 제 1의 프로세스 값과, 상기 제 2의 프로세스 값과, 상기 제 1의 프로세스 값 및 상기 제 2의 프로세스 값이 측정된 시점을 나타내는 측정 시점 정보와,상기 이상 검출부에 의해 이상이 검출된 시점을 나타내는 이상 검출 시점 정보와 관련지어서, 프로세스 정보로서 기억하는 프로세스 정보 기억부와,
    상기 프로세스 정보에 의거하여, 상기 제 2의 프로세스 값을 상기 제 1의 프로세스 값에 접근하도록 보정하기 위한 학습항을 산출하는 학습항 산출부와,
    상기 학습항 산출부에 의해 산출된 학습항을 기억하는 학습항 기억부와,
    상기 프로세스 정보에 의거하여, 상기 제 2의 프로세스 값을 상기 학습항 기억부에 의해 기억된 학습항으로 보정함에 의해 보정 프로세스 값을 생성하는 보정부와,
    상기 프로세스 정보에 의거하여, 상기 이상 검출부에 의해 이상이 검출된 시점 이전에서의 상기 제 1의 프로세스 값과, 상기 이상 검출부에 의해 이상이 검출된 시점 이후에서의 상기 보정 프로세스 값을 선택하는 선택부와,
    상기 선택부에 의해 선택된 프로세스 값 및 보정 프로세스 값에 의거하여, 상기 압연 라인의 제어를 행하는 기기 제어부를 구비한 것을 특징으로 하는 제어 장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 학습항 산출부는,
    상기 프로세스 값 기억부에 기억된 프로세스 정보에 의거하여, 상기 제 1의 프로세스 값과 상기 제 2의 프로세스 값과의 차를 산출하고, 상기 산출된 차와 상기 학습항 기억부에 기억된 전회의 압연시에 있어서의 상기 학습항에 의거하여, 지수평활법에 의해 새로운 상기 학습항을 산출하고, 상기 산출된 새로운 학습항을 상기 학습항 기억부에 기억시키는 것을 특징으로 하는 제어 장치.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 이상 검출부는,
    상기 제 1의 프로세스 값의 표준편차를 산출하고, 이 표준편차가 소정의 범위를 초과한 경우 또는 제로인 경우에, 상기 제 1의 측정부에 이상이 발생하였다고 판정하는 것을 특징으로 하는 제어 장치.
  4. 제 1항 내지 제 3항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 학습항 산출부는, 상기 제 1의 측정부 및 제 2의 측정부에 의해, 서로 상기 피압연재에 대한 위치 관계가 개략 동일한 개소에서 측정된 제 1의 프로세스 값 및 제 2의 프로세스 값의 차에 의거하여, 상기 제 2의 프로세스 값을 상기 제 1의 프로세스 값에 접근하도록 보정하기 위한 학습항을 산출하는 것을 특징으로 하는 제어 장치.
  5. 피압연재를 압연하는 압연 라인에서의 프로세스 값을 제 1의 프로세스 값으로 하여 측정하는 제 1의 측정 스텝과,
    상기 압연 라인에서의 상기 제 1의 프로세스 값과 동종의 프로세스 값을 제 2의 프로세스 값으로 하여 측정하는 제 2의 측정 스텝과,
    상기 제 1의 측정 스텝의 이상을 검출하는 이상 검출 스텝과,
    상기 제 1의 프로세스 값과, 상기 제 2의 푸 n 세스 값과, 상기 제 1의 프로세스 값 및 상기 제 2의 프로세스 값이 측정된 시점을 나타내는 측정 시점 정보와, 상기 이상 검출 스텝에 의해 이상이 검출된 시점을 나타내는 이상 검출 시점 정보와 관련지어서, 프로세스 정보로서 프로세스 정보 기억부에 기억시키는 프로세스 정보 기억 스텝과,
    상기 프로세스 정보에 의거하여, 상기 제 2의 프로세스 값을 상기 제 1의 프로세스 값에 접근하도록 보정하기 위한 학습항을 산출하는 학습항 산출 스텝과,
    상기 학습항 산출 스텝에 의해 산출된 학습항을 학습항 기억부에 기억시키는 학습항 기억 스텝과,
    상기 프로세스 정보에 의거하여, 상기 제 2의 프로세스 값을 상기 학습항 기억 스텝에 의해 기억된 학습항으로 보정함에 의해 보정 프로세스 값을 생성하는 보정 스텝과,
    상기 프로세스 정보에 의거하여, 상기 이상 검출 스텝에 의해 이상이 검출된 시점 이전에서의 상기 제 1의 프로세스 값과, 상기 이상 검출 스텝에 의해 이상이 검출된 시점 이후에서의 상기 보정 프로세스 값을 선택하는 선택 스텝과,
    상기 선택 스텝에 의해 선택된 프로세스 값 및 보정 프로세스 값에 의거하여, 상기 압연 라인의 제어를 행하는 기기 제어 스텝을 갖는 것을 특징으로 하는 제어 방법.
  6. 제 5항에 있어서,
    상기 학습항 산출 스텝은,
    상기 프로세스 값 기억부에 기억된 프로세스 정보에 의거하여, 상기 제 1의 프로세스 값과 상기 제 2의 프로세스 값과의 차를 산출하고, 상기 산출된 차와 상기 학습항 기억부에 기억된 전회의 압연시에 있어서의 상기 학습항에 의거하여, 지수평활법에 의해 새로운 상기 학습항을 산출하고, 상기 산출된 새로운 학습항을 상기 학습항 기억부에 기억시키는 것을 특징으로 하는 제어 방법.
  7. 제 5항에 있어서,
    상기 이상 검출 스텝은,
    상기 제 1의 프로세스 값의 표준편차를 산출하고, 이 표준편차가 소정의 범위를 초과한 경우 또는 제로인 경우에, 상기 제 1의 측정부에 이상이 발생하였다고 판정하는 것을 특징으로 하는 제어 방법.
  8. 제 5항 내지 제 7항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 학습항 산출 스텝은,
    상기 제 1의 측정 스텝 및 제 2의 측정 스텝에 의해, 서로 상기 피압연재에 대한 위치 관계가 개략 동일한 개소에서 측정된 제 1의 프로세스 값 및 제 2의 프로세스 값의 차에 의거하여, 상기 제 2의 프로세스 값을 상기 제 1의 프로세스 값에 접근하도록 보정하기 위한 학습항을 산출하는 것을 특징으로 하는 제어 방법.
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