KR100839398B1 - 노광 장치 및 노광 방법 - Google Patents

노광 장치 및 노광 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR100839398B1
KR100839398B1 KR1020070028681A KR20070028681A KR100839398B1 KR 100839398 B1 KR100839398 B1 KR 100839398B1 KR 1020070028681 A KR1020070028681 A KR 1020070028681A KR 20070028681 A KR20070028681 A KR 20070028681A KR 100839398 B1 KR100839398 B1 KR 100839398B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
substrate
exposure
stage
board
mask
Prior art date
Application number
KR1020070028681A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20070104827A (ko
Inventor
마사히로 미야시타
다쿠미 도가시
Original Assignee
닛본 세이고 가부시끼가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 닛본 세이고 가부시끼가이샤 filed Critical 닛본 세이고 가부시끼가이샤
Publication of KR20070104827A publication Critical patent/KR20070104827A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100839398B1 publication Critical patent/KR100839398B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70775Position control, e.g. interferometers or encoders for determining the stage position
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70716Stages
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70758Drive means, e.g. actuators, motors for long- or short-stroke modules or fine or coarse driving
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

과제
2 대의 기판 스테이지에 대한 기판의 공급을 효율적으로 실시하고, 노광 전사된 기판 제조의 택트 타임을 단축할 수 있는 노광 장치 및 노광 방법을 제공한다.
해결 수단
노광 장치 (PE) 는, 마스크 스테이지 (10) 와, 마스크 스테이지 (10) 에 대하여 상대적으로 이동 가능한 2 개의 기판 스테이지 (11, 12) 와, 프리얼라인먼트 유닛 (14) 과, 프리얼라인먼트 유닛 (14) 에 대하여 대향 배치된 2 개의 기판 로더 (15, 16) 를 구비한다. 일방의 기판 스테이지 (11) 를 대기 위치 (WP1) 로부터 노광 위치 (EP) 로 이동시키고 기판 (W) 에 마스크 패턴 (P) 을 노광 전사하는 동안에, 타방의 기판 스테이지 (12) 를 노광 위치 (EP) 로부터 대기 위치 (WP2) 로 이동시킨 후, 노광 전사된 기판 (W) 을 배출하고, 미리 정렬된 기판 (W) 을 기판 로더 (16) 에 의해 타방의 기판 스테이지 (12) 로 반송하고, 또한 기판 로더 (15) 에 의해 기판 (W) 을 프리얼라인먼트 유닛 (14) 으로 반송한다.
마스크 스테이지, 조사 장치, 프리얼라인먼트 유닛

Description

노광 장치 및 노광 방법{EXPOSURE APPARATUS AND EXPOSURE METHOD}
도 1 은 본 발명의 노광 장치의 전체 구성을 개략적으로 나타내는 평면도.
도 2 는 노광 장치의 주요부 정면도.
도 3 은 기판 스테이지의 측면도.
도 4 는 도 1 에 있어서의 기판 로더의 측면도.
도 5 는 1 장째의 기판이 노광됨과 동시에, 2 장째의 기판이 기판 스테이지로 반송되고, 또한 3 장째의 기판이 프리얼라인먼트 유닛 (pre-alignment unit) 으로 반송되는 상태를 나타내는 설명도.
도 6 은 2 장째의 기판이 노광됨과 동시에, 노광 전사된 1 장째의 기판이 배출되고, 3 장째의 기판이 기판 스테이지로 반송되고, 또한 4 장째의 기판이 프리얼라인먼트 유닛으로 반송되는 상태를 나타내는 설명도.
도 7 은 기판 스테이지 및 기판 로더의 노광 동작시의 위치를 나타내는 그래프.
부호의 설명
10 : 마스크 스테이지 11 : 제 1 기판 스테이지
12 : 제 2 기판 스테이지 13 : 조사 장치
14 : 프리얼라인먼트 유닛 15 : 제 1 기판 로더
16 : 제 2 기판 로더 70A, 70B : 기판 카셋트
PE : 노광 장치 M : 마스크
P : 마스크 패턴 W : 기판
EP : 노광 위치 WP1 : 제 1 대기 위치
WP2 : 제 2 대기 위치
특허 문헌 1 : 일본 공개특허공보 소63-87725호
특허 문헌 2 : 일본 특허공보 제3203719호
본 발명은, 노광 장치 및 노광 방법에 관련된 것이고, 보다 상세하게는, 반도체나, 액정 디스플레이 패널이나 플라즈마 디스플레이 등의 대형 플랫 패널 디스플레이를 제조하는 경우에 사용되는 노광 장치 및 노광 방법에 관한 것이다.
종래의 노광 장치로는, 마스크와 기판을 접근시킨 상태에서 마스크를 통하여 패턴 노광용 광을 조사하고, 이로써 기판에 마스크 패턴을 노광 전사한다 (예를 들어, 특허 문헌 1 및 2 참조).
특허 문헌 1 에 기재된 노광 장치는, 마스크가 배치되는 2 개의 틀과, 2 개의 틀의 각각에 대응하여 기판이 탑재되는 2 개의 기판 스테이지와, 2 개의 기판 스테이지에 각각 대응하여 배치된 2 개의 얼라인먼트 기구를 구비하고, 각각의 틀 과 기판 스테이지를 조합한 상태에서, 교대로 노광 위치로 이동시켜 노광 전사하는 스테이지 이동 기구가 알려져 있다. 이로써, 스테이지 이동 기구는 2 개의 기판 스테이지에서 얼라인먼트와 노광을 동시에 실시하여, 택트 타임 (tact time) 의 단축을 도모한다.
또, 특허 문헌 2 에 기재된 노광 장치는, 각각 기판을 탑재하는 복수의 기판 스테이지와, 노광 위치에 있어서의 기판 스테이지의 위치를 검출하는 제 1 측정 시스템과, 관측 위치에 있어서의 기판 스테이지의 위치를 검출하는 제 2 측정 시스템을 구비하고, 복수의 기판 스테이지를 노광 위치에 교대로 위치 결정하여 노광 전사한다. 이로써, 2 개의 측정 시스템에서 기판 스테이지의 위치를 중단 없이 측정함으로써, 탑재 수단의 위치를 정확하게 측정한다.
그런데, 특허 문헌 1 및 2 에 기재된 노광 장치에서는, 2 개의 기판 스테이지를 이용함으로써 택트 타임의 단축을 도모하는데, 어느 것에도, 2 개의 기판 스테이지에 대한 기판의 반송에 관해서는 기재되어 있지 않고, 추가적인 개선의 여지가 있었다.
본 발명은, 전술한 과제를 감안하여 이루어진 것이고, 그 목적은 2 개의 기판 스테이지에 대한 기판의 반송을 효율적으로 실시하고, 노광 전사되는 기판의 택트 타임을 단축할 수 있는 노광 장치 및 노광 방법을 제공하는 것에 있다.
과제를 해결하기 위한 수단
본 발명의 상기 목적은, 하기의 구성 및 방법에 의해 달성된다.
(1) 마스크를 유지하는 마스크 스테이지와,
마스크 스테이지의 하방에 위치하는 노광 위치와 제 1 대기 위치 사이에서 이동 가능한 제 1 기판 스테이지와,
노광 위치와 제 2 대기 위치 사이에서 이동 가능한 제 2 기판 스테이지와,
노광 위치로 이동한 제 1 및 제 2 기판 스테이지에 유지된 기판에, 패턴 노광용 광을 마스크를 통하여 조사하는 조사 장치와,
제 1 및 제 2 기판 스테이지로 공급되는 기판의 위치를 미리 정렬하는 프리얼라인먼트 유닛과,
프리얼라인먼트 유닛의 측방에 배치되어 기판을 프리얼라인먼트 유닛으로 반송하고, 또한 프리얼라인먼트 유닛에서 미리 정렬된 기판을 제 1 기판 스테이지로 반송하는 제 1 기판 로더와,
프리얼라인먼트 유닛에 대하여 제 1 기판 로더와 대향 배치되고, 기판을 프리얼라인먼트 유닛으로 반송하고, 또한 프리얼라인먼트 유닛에서 미리 정렬된 기판을 제 2 기판 스테이지로 반송하는 제 2 기판 로더를 구비하는 것을 특징으로 하는 노광 장치.
(2) 상기 (1) 에 기재된 노광 장치를 사용한 노광 방법으로서,
제 1 기판 스테이지를 제 1 대기 위치로부터 노광 위치로 이동시켜, 제 1 기판 스테이지에 유지된 기판에 마스크의 마스크 패턴을 노광 전사하는 제 1 노광 공정과,
프리얼라인먼트 유닛에서 미리 정렬된 기판을 제 2 기판 로더에 의해 제 2 기판 스테이지로 반송하는 제 1 반송 공정과,
기판을 제 1 기판 로더에 의해 프리얼라인먼트 유닛으로 공급하여 기판의 위치를 조정하는 제 1 프리얼라인먼트 공정과,
제 2 기판 스테이지를 제 2 대기 위치로부터 노광 위치로 이동시켜, 제 2 기판 스테이지에 유지된 기판에 마스크의 마스크 패턴을 노광 전사하는 제 2 노광 공정과,
프리얼라인먼트 유닛에서 미리 정렬된 기판을 제 1 기판 로더에 의해 제 1 기판 스테이지로 반송하는 제 2 반송 공정과,
기판을 제 2 기판 로더에 의해 프리얼라인먼트 유닛으로 공급하여 기판의 위치를 조정하는 제 2 프리얼라인먼트 공정을 가지며,
제 1 반송 공정과 제 1 프리얼라인먼트 공정 중 적어도 하나는, 제 1 노광 공정과 동시에 실시되고,
제 2 반송 공정과 제 2 프리얼라인먼트 공정 중 적어도 하나는, 제 2 노광 공정과 동시에 실시되는 것을 특징으로 하는 노광 방법.
(3) 제 1 노광 공정에서 노광 전사된 기판을 유지하는 제 1 기판 스테이지를 노광 위치로부터 제 1 대기 위치로 이동시킨 후, 제 1 기판 로더에 의해 기판을 배출시키는 제 1 배출 공정과,
제 2 노광 공정에서 노광 전사된 기판을 유지하는 제 2 기판 스테이지를 노광 위치로부터 제 2 대기 위치로 이동시킨 후, 제 2 기판 로더에 의해 기판을 배출 시키는 제 2 배출 공정을 추가로 구비하고,
제 2 배출 공정은 제 1 노광 공정과 동시에 실시되고, 또한, 제 1 배출 공정은 제 2 노광 공정과 동시에 실시되는 것을 특징으로 하는 상기 (2) 에 기재된 노광 방법.
(4) 제 1 기판 스테이지의 제 1 대기 위치로부터 노광 위치로의 이동은, 제 2 기판 스테이지의 노광 위치로부터 제 2 대기 위치로의 이동과 동기(同期)하며,
제 2 기판 스테이지의 제 2 대기 위치로부터 노광 위치로의 이동은, 제 1 기판 스테이지의 노광 위치로부터 제 1 대기 위치로의 이동과 동기하는 것을 특징으로 하는 상기 (2) 또는 (3) 에 기재된 노광 방법.
발명을 실시하기 위한 최선의 형태
이하, 본 발명에 따른 노광 장치 및 노광 방법의 일 실시형태를 도면에 기초하여 상세하게 설명한다.
도 1 은 본 발명의 노광 장치의 전체 구성을 개략적으로 나타내는 평면도, 도 2 는 노광 장치의 주요부 정면도, 도 3 은 기판 스테이지의 측면도, 도 4 는 도 1 에 있어서의 기판 로더의 측면도이다. 도 1 ∼ 도 3 에 나타내는 바와 같이, 노광 장치 (PE) 는 마스크 스테이지 (10), 제 1 기판 스테이지 (11), 제 2 기판 스테이지 (12), 조사 장치 (13), 프리얼라인먼트 유닛 (14), 제 1 기판 로더 (15), 제 2 기판 로더 (16), 마스크 로더 (17), 및 마스크 얼라이너 (18; mask aligner) 를 구비하고, 각각 기판대 (基台; 21) 상에 탑재되어 있다.
마스크 스테이지 (10) 는, 기판대 (21) 상에 배치된 장방형의 스테이지 베이 스 (23) 에 설치된 복수의 지주(支柱; 22) 에 지지되고, 스테이지 베이스 (23) 의 상방에 설치되어 있다. 복수의 지주 (22) 는, 제 1 및 제 2 기판 스테이지 (11, 12) 가 Y 방향 (도 1 중 좌우 방향) 으로 이동하여 마스크 스테이지 (10) 의 하방에 진출 가능하도록 스테이지 베이스 (23) 의 상방에 스페이스를 형성하고 있다. 마스크 스테이지 (10) 는 중앙에 직사각형의 개구 (25a) 를 갖고, 마스크 스테이지 (10) 에 대하여 X, Y, θ 방향으로 위치 조정 가능하게 지지된 마스크 유지부 (25) 를 구비하고, 노광할 패턴을 갖는 마스크 (M) 가 이 개구 (25a) 에 면하도록 하여 마스크 유지부 (25) 에 유지되어 있다. 또, 마스크 스테이지 (10) 에는, 마스크 유지부 (25) 에 대한 마스크 (M) 의 위치를 검출하는 마스크용 얼라인먼트 카메라 (도시 생략) 와, 마스크 (M) 와 기판 (W) 사이의 갭을 검출하는 갭 센서 (도시 생략) 가 설치되어 있다.
도 2 및 도 3 에 나타내는 바와 같이, 제 1 및 제 2 기판 스테이지 (11, 12) 는, 피노광재로서의 기판 (W) 을 유지하는 기판 유지부 (31a, 31b) 를 상면에 각각 갖는다. 또, 제 1 및 제 2 기판 스테이지 (11, 12) 의 하방에는, Y 축 테이블 (33), Y 축 이송 기구 (34), X 축 테이블 (35), X 축 이송 기구 (36), 및 Z-기울기 조정 기구 (37) 를 구비하는 기판 스테이지 이동 기구 (32, 32) 가 각각 설치된다. 각 기판 스테이지 이동 기구 (32, 32) 는, 스테이지 베이스 (23) 에 대하여 제 1 및 제 2 기판 스테이지 (11, 12) 를 X 방향 및 Y 방향으로 보내어 구동함과 함께, 마스크 (M) 와 기판 (W) 사이의 간극을 약간 조정하도록, 제 1 및 제 2 기판 스테이지 (11, 12) 를 Z 축 방향으로 약간 이동시키고 기울인다.
구체적으로, Y 축 이송 기구 (34) 는, 스테이지 베이스 (23) 와 Y 축 테이블 (33) 사이에 리니어 가이드 (38; linear guide) 와 Y 축 이송 구동 기구 (39) 를 구비한다. 스테이지 베이스 (23) 상에는 2 개의 안내 레일 (40) 이 Y 축 방향을 따라 평행하게 배치되어 있고, Y 축 테이블 (33) 의 이면에 장착된 슬라이더 (41) 가 전동체 (도시 생략) 를 통하여 걸쳐서 설치되어 있다. 이로써, 2 대의 Y 축 스테이지 (33, 33) 가 2 개의 안내 레일 (40) 을 따라 Y 축 방향을 따라 이동 가능하게 지지된다.
또, 스테이지 베이스 (23) 상에는, 모터 (42) 에 의해 회전 구동되는 볼나사 축 (43) 이 제 1 및 제 2 기판 스테이지 (11, 12) 에 대응하여 각각 설치되어 있고, 볼나사 축 (43) 에는 Y 축 테이블 (33) 의 이면에 장착된 볼나사 너트 (44) 가 나사 결합되어 있다.
또, X 축 이송 기구 (36) 도, 도 3 에 나타내는 바와 같이, Y 축 테이블 (33) 과 X 축 테이블 (35) 사이에 리니어 가이드 (45) 와 X 축 이송 구동 기구 (46) 가 설치되어 있다. Y 축 테이블 (33) 상에는 2 개의 안내 레일 (47) 이 X 축 방향을 따라 평행하게 배치되어 있고, X 축 테이블 (35) 의 이면에 장착된 슬라이더 (48) 가 전동체 (도시 생략) 를 통하여 걸쳐서 설치되어 있다. 또한, Y 축 테이블 (33) 상에는 모터 (49) 에 의해 회전 구동되는 볼나사 축 (50) 이 설치되어 있고, 볼나사 축 (50) 에는 Y 축 테이블 (35) 의 이면에 장착된 볼나사 너트 (51) 가 나사 결합되어 있다.
한편, Z-기울기 조정 기구 (37) 는, 모터와 볼나사와 쐐기를 조합하여 이루 어지는 가동 쐐기 기구를 구비하고 있고, X 축 테이블 (35) 의 상면에 설치한 모터 (52) 에 의해 볼나사 축 (53) 을 회전 구동함과 함께, 볼나사 너트 (54) 를 쐐기형상의 이동체에 조립하고, 이 쐐기의 경사면을 기판 스테이지 (11, 12) 의 하면에 돌출 형성한 쐐기 (55) 의 경사면과 걸어 맞춤시키고 있다.
그리고, 이 볼나사 축 (53) 을 회전 구동시키면 볼나사 너트 (54) 가 X 축 방향으로 수평 미동(微動)하고, 이 수평 미동 운동이 조립된 쐐기상 이동체의 경사면에 의해 고정밀한 상하 미동 운동으로 변환된다. 이 가동 쐐기 기구는 X 축 방향의 일단 측에 2 대, 타단 측에 1 대 (도시 생략), 합계 3 대 설치되고, 각각이 독립적으로 구동 제어된다.
이로써, Y 축 이송 기구 (34) 는, 각 기판 스테이지 (11, 12) 의 기판 유지부 (31a, 31b) 에 유지된 기판 (W) 을 개별적으로 마스크 스테이지 (10) 의 하방에 배치된 노광 위치 (EP) 에 배치하기 위하여, 제 1 기판 스테이지 (11) 를 제 1 대기 위치 (WP1) 와 노광 위치 (EP) 사이에서 안내 레일 (40) 을 따라 Y 축 방향으로 이동시키고, 제 2 기판 스테이지 (12) 를 제 2 대기 위치 (WP2) 와 노광 위치 (EP) 사이에서 안내 레일 (40) 을 따라 Y 축 방향으로 이동시킨다. 또한, X 축 이송 기구 (36) 및 Y 축 이송 기구 (34) 는, 노광 위치 (EP) 에 있는 기판 유지부 (31a, 31b) 를 마스크 (M) 에 대하여 X, Y 방향으로 단계 이동시키도록 제 1 및 제 2 기판 스테이지 (11, 12) 를 이동시킨다.
또한, Y 축 이송 구동 기구 (39), X 축 이송 구동 기구 (46), 및 가동 쐐기 기구는, 모터와 볼나사 장치를 조합하고 있는데, 스테이터와 가동자를 갖는 리니어 모터에 의해 구성되어도 된다.
또, 도 1 ∼ 도 3 에 나타내는 바와 같이, 제 1 및 제 2 기판 스테이지 (11, 12) 에는, 각 기판 유지부 (31a, 31b) 의 X 방향 측부와 Y 방향 측부에 각각 백미러 (61, 62; back mirror) 가 장착되어 있고, 또 스테이지 베이스 (23) 의 Y 축 방향의 양측과, 스테이지 베이스의 X 축 방향의 한 측에는, 3 대의 레이저 간섭계 (63, 64, 65) 가 설치되어 있다. 이로써, 레이저 간섭계 (63, 64. 65) 로부터 레이저 광을 백미러 (61, 62) 에 조사하고, 백미러 (61, 62) 에 의해 반사된 레이저 광을 수광하고, 레이저 광과 백미러 (61, 62) 에 의해 반사된 레이저 광의 간섭을 측정하여, 제 1 및 제 2 스테이지 (11, 12) 의 위치를 검출한다.
도 2 에 나타내는 바와 같이, 조사 장치 (13) 는 마스크 유지부 (25) 의 개구 (25a) 상방에 배치되고, 자외선 조사용의 광원인, 예를 들어 고압 수은 램프, 오목거울, 옵티컬 인터그레이터 (optical integrator), 평면 미러, 구면 미러, 및 노광 제어용 셔터 등을 구비하여 구성된다. 조사 장치 (13) 는, 노광 위치로 이동한 제 1 및 제 2 기판 스테이지 (11, 12) 의 기판 유지부 (31a, 31b) 에 유지된 기판 (W) 에, 패턴 노광용 광을 마스크 (M) 를 통하여 조사한다. 이로써, 기판 (W) 에는 마스크 (M) 의 마스크 패턴 (P) 이 노광 전사된다.
프리얼라인먼트 유닛 (14) 은, 기판대 (21) 의 외측에 설치된 기판 카셋트 (70A, 70B) 로부터 반송된 기판 (W) 이, 제 1 기판 스테이지 (11) 또는 제 2 기판 스테이지 (12) 로 공급되기에 앞서, 마스크 (M) 에 대한 기판 (W) 의 위치가 소정의 위치가 되도록 미리 정렬하는 것이고, 도면 중 마스크 스테이지 (10) 의 앞측에 배치되어 있다. 프리얼라인먼트 유닛 (14) 은, 도시하지 않은 X 축 이송 기구, Y 축 이송 기구, 및 회전 기구를 구비하고, 프리얼라인먼트 유닛 (14) 상에 탑재된 기판 (W) 의 위치를 소정의 위치로 조정한다.
제 1 기판 로더 (15) 는 도 1 중 프리얼라인먼트 유닛 (14) 의 우측방에 배치되고, 제 2 기판 스테이지 (12) 로 공급되는 기판 (W) 을 유지하여 프리얼라인먼트 유닛 (14) 으로 반송하고, 또 미리 정렬된 기판 (W) 을 프리얼라인먼트 유닛 (14) 으로부터 제 1 기판 스테이지 (11) 로 반송하도록 되어 있다.
제 2 기판 로더 (16) 는, 프리얼라인먼트 유닛 (14) 에 대하여 제 1 기판 로더 (15) 와 대향 배치, 즉 도면 중 프리얼라인먼트 유닛 (14) 의 좌측에 배치되고, 제 1 기판 스테이지 (11) 로 공급되는 기판 (W) 을 유지하여 프리얼라인먼트 유닛 (14) 으로 반송하고, 또 미리 정렬된 기판 (W) 을 프리얼라인먼트 유닛 (14) 으로부터 제 2 기판 스테이지 (12) 로 반송하도록 되어 있다.
도 4 에 나타내는 바와 같이, 제 1 및 제 2 기판 로더 (15, 16) 는, 기판대 (21) 에 고정된 칼럼 (81) 에 복수의 반송부 (82, 83) 가 요동(搖動), 가능하게 설치되는 로더 로봇이다. 복수의 반송부 (82, 83) 는, 승강 기구 (도시 생략) 를 통해 칼럼 (81) 을 따라 상하 이동함과 함께, 각각 서보 모터가 설치되어 서로 독립적으로 구동된다. 각 반송부 (82, 83) 는, 제 1 및 제 2 아암 (84, 85) 과, 제 1 아암 (84) 의 선단에 복수의 막대 형상 부재 (86) 가 평행하게 심어져서 설치된 기판 탑재대 (87) 를 갖는다. 그리고, 각각의 서보 모터를 제어하여 작동시킴으로써 기판 탑재대 (87) 를 승강, 회전, 및 이동시키고, 기판 탑재대 (87) 상의 기판 (W) 을 반송한다.
구체적으로, 제 1 기판 로더 (15) 는, 기판 카셋트 (70A) 에 수용된 기판 (W) 을 기판 탑재대 (87) 상에 탑재하여 프리얼라인먼트 유닛 (14) 으로 반송하고, 미리 정렬된 기판 (W) 을 기판 탑재대 (87) 상에 탑재하여 프리얼라인먼트 유닛 (14) 으로부터 제 1 기판 스테이지 (11) 로 반송하고, 또한 제 1 대기 위치 (WP1) 에 위치하는 제 1 기판 스테이지 (11) 상의 노광 전사 후의 기판 (W) 을 기판 탑재대 (87) 상에 탑재하여 기판 카셋트 (70A) 로 반송한다.
제 2 기판 로더 (16) 는, 기판 카셋트 (70B) 에 수용된 기판 (W) 을 기판 탑재대 (87) 상에 탑재하여 프리얼라인먼트 유닛 (14) 으로 반송하고, 미리 정렬된 기판 (W) 을 기판 탑재대 (87) 상에 탑재하여 프리얼라인먼트 유닛 (14) 으로부터 제 2 기판 스테이지 (12) 로 반송하고, 또한 제 2 대기 위치 (WP2) 에 위치하는 제 2 기판 스테이지 (12) 상의 노광 전사 후의 기판 (W) 을 기판 탑재대 (87) 상에 탑재하여 기판 카셋트 (70B) 로 반송한다.
또, 마스크 로더 (17) 및 마스크 얼라이너 (18) 는, 제 1 기판 스테이지 (11) 에 대하여 제 1 기판 로더 (15) 와 대향 배치되어 있다. 마스크 로더 (17) 는, 도 4 에 나타내는 제 1 및 제 2 기판 로더 (15, 16) 와 대략 동일한 구성을 갖고, 기판대 (21) 의 외측에 설치된 마스크 카셋트 (91) 로부터 마스크 (M) 를 반입하고, 마스크 얼라이너 (18) 에 의해 미리 정렬된 마스크 (M) 를 마스크 스테이지 (10) 로 공급한다. 또한, 마스크 스테이지 (10) 에 대한 마스크 (M) 의 공급은, 마스크 로더 (17) 에 의해 마스크 얼라이너 (18) 로부터 직접 마스크 스테 이지 (10) 로 공급해도 되지만, 마스크 로더 (17) 에 의해 마스크 얼라이너 (18) 로부터 제 1 기판 스테이지 (11) 로 한번 반송하고, 이어서 제 1 기판 스테이지 (11) 에 의해 마스크 스테이지 (10) 로 공급하도록 해도 된다. 또, 마스크 로더 (17) 의 반송부는, 기판 로더 (15, 16) 와 동일하게 복수 구비하여도 되고, 혹은 둘 중 하나만 구비해도 된다.
다음으로, 본 발명의 노광 장치 (PE) 에 의한 노광 방법에 대하여, 도 5 로부터 도 7 을 참조하여 상세하게 설명한다. 또한, 설명의 편의를 위해, 제 1 기판 스테이지 (11) 는 기판 (W) 을 유지하고, 또한 프리얼라인먼트 유닛 (14) 에는 미리 정렬된 기판 (W) 이 이미 탑재되어 있는 것으로 하여 설명한다.
도 5 에 나타내는 바와 같이, 1 장째의 기판 (W) 을 유지하고 제 1 대기 위치 (WP1) 에 있는 제 1 기판 스테이지 (11) (도면 중 일점 쇄선으로 나타낸다.) 는, Y 축 이송 기구 (34) 를 작동시킴으로써 노광 위치 (EP) 로 이동한다 (화살표 A). 그리고, 도시하지 않은 갭 카메라를 사용하여 마스크 (M) 와 기판 (W) 사이의 갭 조정을 실시한 후, 조사 장치 (13) 로부터 1 쇼트째의 패턴 노광용 광이 마스크 (M) 를 통하여 기판 (W) 에 조사되고, 마스크 (M) 에 형성된 마스크 패턴 (P) 이 기판 (W) 에 노광 전사된다. 또한, 제 1 기판 스테이지 (11) 를 단계 이동시키고, 백미러 (61, 62) 와 레이저 간섭계 (63, 64, 65) 를 사용하여 얼라인먼트 조정을 실시함과 함께 갭 조정을 실시한 후, 2 쇼트째의 패턴 노광용 광에 의해 마스크 패턴 (P) 을 기판 (W) 에 노광 전사하고, 이후 동일하게 하여 단계 노광을 실시한다 (제 1 노광 공정).
또한, 갭 조정 후의 마스크 (M) 와 기판 (W) 의 위치 맞춤을 하는 경우에는, 백미러 (61, 62) 와 레이저 간섭계 (63, 64) 를 사용하는 대신에, 얼라인먼트 카메라를 사용하여 실시해도 된다. 이 경우, 1 쇼트째의 노광 전사시에도, 갭 조정 후 이 얼라인먼트 카메라를 사용하여 위치 맞춤을 하는 경우가 있다.
상기 노광 전사가 실시되고 있는 동안, 미리 정렬되어 프리얼라인먼트 유닛 (14) 에 탑재되어 있는 2 장째의 기판 (W) 은, 제 2 기판 로더 (16) 에 의해 화살표 B 방향으로 반송되고 제 2 대기 위치 (WP2) 에 있는 제 2 기판 스테이지 (12) 에 유지된다 (제 1 반송 공정). 또한, 제 1 기판 로더 (15) 는, 기판 카셋트 (70A) 에 수용된 3 장째의 기판 (W) 을 수취하고, 화살표 C 방향으로 반송하여 프리얼라인먼트 유닛 (14) 으로 공급하고, 기판 (W) 의 위치를 소정의 위치가 되도록 조정한다 (제 1 프리얼라인먼트 공정).
도 6 에 나타내는 바와 같이, 1 장째의 기판 (W) 의 노광 전사 완료 후, 제 1 기판 스테이지 (11) 는 노광 위치 (EP) 로부터 제 1 대기 위치 (WP1) 로 이동하고, 제 1 기판 로더 (15) 는 제 1 기판 스테이지 (11) 로부터 기판 (W) 을 수취하고 화살표 D 방향으로 반송하여 기판 카셋트 (70A) 로 기판 (W) 을 배출한다 (제 1 배출 공정).
또, 상기 제 1 배출 공정을 개시함과 동시에, 2 장째의 기판 (W) 의 노광 공정을 개시한다. 즉, 제 1 기판 스테이지 (11) 가 노광 위치 (EP) 로부터 제 1 대기 위치 (WP1) 로 이동하는 것과 동시에, 2 장째의 기판 (W) 을 유지하고 있는 제 2 기판 스테이지 (12) (도면 중 일점 쇄선으로 나타낸다) 가 Y 축 이송 기구 (34) 를 작동시킴으로써, 제 2 대기 위치 (WP2) 로부터 노광 위치 (EP) 로 이동한다 (화살표 E). 그 후, 제 1 노광 공정과 동일하게 도시하지 않은 갭 센서를 사용하여 마스크 (M) 와 기판 (W) 사이의 갭 조정을 실시한 후, 조사 장치 (13) 로부터 1 쇼트째의 패턴 노광용 광이 마스크 (M) 를 통하여 기판 (W) 에 조사되고, 마스크 (M) 에 형성된 마스크 패턴 (P) 이 제 2 기판 스테이지 (12) 에 유지된 기판 (W) 에 노광 전사된다. 또한, 제 2 기판 스테이지 (12) 를 단계 이동시키고, 백미러 (61, 62) 와 레이저 간섭계 (63, 64, 65) 를 사용하여 얼라인먼트 조정을 실시함과 함께 갭 조정을 실시한 후, 2 쇼트째의 패턴 노광용 광에 의해 마스크패턴 (P) 을 기판 (W) 에 노광 전사하고, 이후 동일하게 하여 단계 노광을 실시한다 (제 2 노광 공정).
또, 제 2 노광 공정이 실시되고 있는 동안, 미리 정렬되어 프리얼라인먼트 유닛 (14) 에 탑재되어 있는 3 장째의 기판 (W) 은, 제 1 기판 로더 (15) 에 의해 화살표 F 방향으로 반송되고, 제 1 대기 위치 (WP1) 에 있는 제 1 기판 스테이지 (11) 에 유지된다 (제 2 반송 공정). 또한, 제 2 기판 로더 (16) 는, 기판 카셋트 (70B) 에 수용된 4 장째의 기판 (W) 을 수취하고, 화살표 G 방향으로 반송하여 프리얼라인먼트 유닛 (14) 으로 공급하고, 기판 (W) 의 위치가 소정의 위치가 되도록 조정한다 (제 2 프리얼라인먼트 공정).
그리고, 2 장째의 기판 (W) 의 노광 전사 완료 후, 제 2 기판 스테이지 (12) 는 노광 위치 (EP) 로부터 제 2 대기 위치 (WP2) 로 이동하고, 제 2 기판 로더 (16) 는 제 2 기판 스테이지 (12) 로부터 기판 (W) 을 수취하고, 기판 카셋트 (70B) 로 배출한다 (제 2 배출 공정). 또, 이 제 2 배출 공정의 개시와 동시에 제 2 기판 스테이지 (12) 로 동기시키면서, 제 1 기판 스테이지 (11) 를 제 1 대기 위치 (WP1) 로부터 노광 위치 (EP) 로 이동하여, 제 1 노광 공정을 실시한다. 그 후, 상기 서술한 바와 같이, 제 1 노광 공정이 실시되고 있는 동안에 제 2 배출 공정, 제 1 반송 공정, 제 1 프리얼라인먼트 공정이 실시된다.
도 7 은, 제 1 및 제 2 기판 스테이지 (11, 12) 와 제 1 및 제 2 기판 로더 (15, 16) 의 노광 동작시의 위치를 나타낸다.
본 실시형태에서는, 제 1 및 제 2 기판 로더 (15, 16) 는 2 개의 반송부 (82, 83) 를 각각 갖고 있기 때문에, 예를 들어 일방의 반송부 (82) 에서 제 1 기판 스테이지 (11) 상의 기판 (W) 을 기판 카셋트 (70B) 로 배출시키고, 타방의 반송부 (83) 에서 미리 정렬된 기판 (W) 을 제 1 기판 스테이지 (11) 로 반송할 수 있고, 제 1 반송 공정과 제 2 배출 공정을 동시에 실시할 수 있다. 단, 각 기판 로더 (15, 16) 가 하나의 반송부만 갖는 경우에는, 제 2 배출 공정 후 제 1 반송 공정을 실시하면 된다.
이후, 동일한 조작을 반복 실시함으로써, 복수의 기판 (W) 을 순차 반송하면서 마스크 패턴 (P) 이 기판 (W) 에 노광 전사된다.
따라서, 본 실시형태의 노광 장치 (PE) 에 의하면, 마스크 스테이지 (10) 와, 마스크 스테이지 (10) 에 대하여 상대적으로 이동 가능한 제 1 및 제 2 기판 스테이지 (11, 12) 와, 프리얼라인먼트 유닛 (14) 과, 프리얼라인먼트 유닛 (14) 에 대하여 대향 배치된 제 1 및 제 2 기판 로더 (15, 16) 를 구비하기 때문에, 제 1 및 제 2 기판 스테이지 (11, 12) 에 대하여 프리얼라인먼트 유닛 (14) 을 공용할 수 있고, 노광 장치 (PE) 의 구성을 간략화하면서 2 개의 기판 스테이지 (11, 12) 에 대한 기판 (W) 의 반송을 효율적으로 실시하여, 노광 전사되는 기판의 택트 타임을 단축할 수 있다.
또, 본 발명의 노광 방법에 의하면, 제 1 및 제 2 기판 스테이지 (11, 12) 의 일방이 대기 위치 (WP1, WP2) 로부터 노광 위치 (EP) 로 이동하여 기판 (W) 에 노광 전사하는 노광 공정 동안에, 타방의 기판 스테이지 (11, 12) 를 노광 위치 (EP) 로부터 대기 위치 (WP1, WP2) 로 이동시킨 후 노광 전사된 기판 (W) 을 배출하는 배출 공정과, 미리 정렬된 기판 (W) 을 타방의 기판 스테이지 (11, 12) 로 반송하는 반송 공정과, 기판 카셋트 (70A, 70B) 로부터 공급되는 기판 (W) 을 프리얼라인먼트 유닛 (14) 으로 공급하여 위치를 조정하는 프리얼라인먼트 공정이 실시되기 때문에, 기판 (W) 의 반송 시간을 외관 상 단축할 수 있고, 2 개의 기판 스테이지 (11, 12) 에 대한 기판의 반송을 효율적으로 실시하고, 노광 전사되는 기판의 택트 타임을 단축할 수 있다.
또한, 제 1 기판 스테이지 (11) 의 제 1 대기 위치 (WP1) 로부터 노광 위치 (EP) 로의 이동은, 제 2 기판 스테이지 (12) 의 노광 위치 (EP) 로부터 제 2 대기 위치 (WP2) 로의 이동과 동기하고, 또한 제 2 기판 스테이지 (12) 의 제 2 대기 위치 (WP2) 로부터 노광 위치 (EP) 로의 이동은, 제 1 기판 스테이지 (11) 의 노광 위치 (EP) 로부터 제 1 대기 위치 (WP1) 로의 이동과 동기하기 때문에, 2 개의 기판 스테이지 (11, 12) 의 기판의 반송이 효율적으로 실시되어, 노광 전사되는 기판 의 택트 타임을 보다 단축할 수 있다.
또한, 본 발명은 전술한 실시형태로 한정되는 것이 아니고, 적절하게 변형, 개량 등이 가능하다.
본 발명의 노광 장치에 의하면, 마스크 스테이지와, 마스크 스테이지에 대하여 상대적으로 이동 가능한 제 1 및 제 2 기판 스테이지와, 프리얼라인먼트 유닛과, 프리얼라인먼트 유닛에 대하여 대향 배치된 제 1 및 제 2 기판 로더를 구비하기 때문에, 제 1 및 제 2 기판 스테이지에 대하여 프리얼라인먼트 유닛을 공용할 수 있고, 노광 장치의 구성을 간략화하면서 2 개의 기판 스테이지에 대한 기판의 반송을 효율적으로 실시하여, 노광 전사되는 기판의 택트 타임을 단축할 수 있다.
또, 본 발명의 노광 방법에 의하면, 제 1 및 제 2 기판 스테이지의 일방이 대기 위치로부터 노광 위치로 이동하고 기판에 노광 전사하는 노광 공정 사이에, 미리 정렬된 기판을 타방의 기판 스테이지로 반송하는 반송 공정과, 기판을 프리얼라인먼트 유닛으로 공급하여 위치를 조정하는 프리얼라인먼트 공정 중 적어도 하나가 실시되기 때문에, 기판의 반송 시간을 외관상 단축할 수 있고, 2 개의 기판 스테이지에 대한 기판의 반송을 효율적으로 실시하여, 노광 전사되는 기판의 택트 타임을 단축할 수 있다.
또한, 상기 노광 공정 동안에, 노광 공정에서 노광 전사된 기판을 유지하는 기판 스테이지를 노광 위치로부터 대기 위치로 이동시킨 후, 기판 로더에 의해 기판을 배출시키는 배출 공정이 실시되기 때문에, 기판의 반송 시간을 외관상 보다 단축할 수 있고, 2 개의 기판 스테이지에 대한 기판의 반송을 효율적으로 실시하여, 노광 전사되는 기판의 택트 타임을 단축할 수 있다.
또한, 제 1 기판 스테이지의 제 1 대기 위치와 노광 위치 사이의 이동은, 제 2 기판 스테이지의 제 2 대기 위치와 노광 위치 사이의 이동과 동기하기 때문에, 2 개의 기판 스테이지의 기판의 반송이 효율적으로 실시되어, 노광 전사되는 기판의 택트 타임을 보다 단축할 수 있다.

Claims (4)

  1. 마스크를 유지하는 마스크 스테이지와,
    이 마스크 스테이지의 하방에 위치하는 노광 위치와 제 1 대기 위치 사이에서 이동 가능한 제 1 기판 스테이지와,
    상기 노광 위치와 제 2 대기 위치 사이에서 이동 가능한 제 2 기판 스테이지와,
    상기 노광 위치로 이동한 상기 제 1 및 제 2 기판 스테이지에 유지된 기판에, 패턴 노광용 광을 상기 마스크를 통하여 조사하는 조사 장치와,
    상기 제 1 및 제 2 기판 스테이지로 공급되는 상기 기판의 위치를 미리 정렬하는 프리얼라인먼트 유닛과,
    상기 프리얼라인먼트 유닛의 측방에 배치되어, 상기 기판을 상기 프리얼라인먼트 유닛으로 반송하고, 또한 상기 프리얼라인먼트 유닛에서 미리 정렬된 상기 기판을 상기 제 1 기판 스테이지로 반송하는 제 1 기판 로더와,
    상기 프리얼라인먼트 유닛에 대하여 상기 제 1 기판 로더와 대향하여 배치되고, 상기 기판을 상기 프리얼라인먼트 유닛으로 반송하고, 또한 상기 프리얼라인먼트 유닛에서 미리 정렬된 상기 기판을 상기 제 2 기판 스테이지로 반송하는 제 2 기판 로더를 구비하는 것을 특징으로 하는, 노광 장치.
  2. 제 1 항에 기재된 노광 장치를 사용한 노광 방법으로서,
    상기 제 1 기판 스테이지를 상기 제 1 대기 위치로부터 상기 노광 위치로 이동시켜, 상기 제 1 기판 스테이지에 유지된 상기 기판에 상기 마스크의 마스크 패턴을 노광 전사하는 제 1 노광 공정과,
    상기 프리얼라인먼트 유닛에서 미리 정렬된 상기 기판을 상기 제 2 기판 로더에 의해 상기 제 2 기판 스테이지로 반송하는 제 1 반송 공정과,
    상기 기판을 상기 제 1 기판 로더에 의해 상기 프리얼라인먼트 유닛으로 공급하여 상기 기판의 위치를 조정하는 제 1 프리얼라인먼트 공정과,
    상기 제 2 기판 스테이지를 제 2 대기 위치로부터 상기 노광 위치로 이동시켜, 상기 제 2 기판 스테이지에 유지된 상기 기판에 상기 마스크의 마스크 패턴을 노광 전사하는 제 2 노광 공정과,
    상기 프리얼라인먼트 유닛에서 미리 정렬된 상기 기판을 상기 제 1 기판 로더에 의해 상기 제 1 기판 스테이지로 반송하는 제 2 반송 공정과,
    상기 기판을 상기 제 2 기판 로더에 의해 상기 프리얼라인먼트 유닛으로 공급하여 상기 기판의 위치를 조정하는 제 2 프리얼라인먼트 공정을 가지며,
    상기 제 1 반송 공정과 상기 제 1 프리얼라인먼트 공정 중 적어도 하나는, 상기 제 1 노광 공정과 동시에 실시되고,
    상기 제 2 반송 공정과 상기 제 2 프리얼라인먼트 공정 중 적어도 하나는, 상기 제 2 노광 공정과 동시에 실시되는 것을 특징으로 하는, 노광 방법.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 제 1 노광 공정에서 노광 전사된 상기 기판을 유지하는 상기 제 1 기판 스테이지를 상기 노광 위치로부터 상기 제 1 대기 위치로 이동시킨 후, 상기 제 1 기판 로더에 의해 상기 기판을 배출시키는 제 1 배출 공정과,
    상기 제 2 노광 공정에서 노광 전사된 상기 기판을 유지하는 상기 제 2 기판 스테이지를 상기 노광 위치로부터 상기 제 2 대기 위치로 이동시킨 후, 상기 제 2 기판 로더에 의해 상기 기판을 배출시키는 제 2 배출 공정을 더 구비하고,
    상기 제 2 배출 공정은 상기 제 1 노광 공정과 동시에 실시되고, 상기 제 1 배출 공정은 상기 제 2 노광 공정과 동시에 실시되는 것을 특징으로 하는, 노광 방법.
  4. 제 2 항 또는 제 3 항에 있어서,
    상기 제 1 기판 스테이지의 상기 제 1 대기 위치로부터 상기 노광 위치로의 이동은, 상기 제 2 기판 스테이지의 상기 노광 위치로부터 상기 제 2 대기 위치로의 이동과 동기(同期)하며,
    상기 제 2 기판 스테이지의 상기 제 2 대기 위치로부터 상기 노광 위치로의 이동은, 상기 제 1 기판 스테이지의 상기 노광 위치로부터 상기 제 1 대기 위치로의 이동과 동기하는 것을 특징으로 하는, 노광 방법.
KR1020070028681A 2006-04-24 2007-03-23 노광 장치 및 노광 방법 KR100839398B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006119412A JP2007294594A (ja) 2006-04-24 2006-04-24 露光装置及び露光方法
JPJP-P-2006-00119412 2006-04-24

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20070104827A KR20070104827A (ko) 2007-10-29
KR100839398B1 true KR100839398B1 (ko) 2008-06-20

Family

ID=38764931

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020070028681A KR100839398B1 (ko) 2006-04-24 2007-03-23 노광 장치 및 노광 방법

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP2007294594A (ko)
KR (1) KR100839398B1 (ko)
CN (1) CN100526996C (ko)
TW (1) TW200745790A (ko)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4726814B2 (ja) * 2007-01-16 2011-07-20 株式会社日立ハイテクノロジーズ 基板の位置決め装置及び位置決め方法
KR101005582B1 (ko) * 2009-07-13 2011-01-05 한국기계연구원 기판 정렬 모듈 및 이를 구비하는 리소그래피 장치
US8379186B2 (en) * 2009-07-17 2013-02-19 Nikon Corporation Pattern formation apparatus, pattern formation method, and device manufacturing method
TWI398639B (zh) * 2010-01-08 2013-06-11 Nat Univ Kaohsiung The carrier of the package
CN102365591A (zh) * 2010-03-12 2012-02-29 松下电器产业株式会社 校准方法和平板显示器的制造方法
JP5843161B2 (ja) * 2011-05-13 2016-01-13 株式会社ニコン 露光装置、フラットパネルディスプレイの製造方法、及びデバイス製造方法
CN104238272B (zh) * 2013-06-18 2017-02-01 群创光电股份有限公司 曝光系统与曝光方法
TWI499872B (zh) 2013-06-18 2015-09-11 Innolux Corp 曝光系統與曝光製程
TWI596449B (zh) * 2016-05-30 2017-08-21 志聖工業股份有限公司 工件曝光方法、曝光設備及其置件機構
CN112015054B (zh) * 2019-05-31 2021-10-01 上海微电子装备(集团)股份有限公司 传输装置、传输方法及光刻机

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010082674A (ko) * 2000-02-15 2001-08-30 시마무라 기로 노광방법 및 노광장치, 및 디바이스 제조방법
KR20030011296A (ko) * 2001-04-06 2003-02-07 가부시키가이샤 니콘 노광장치 및 기판처리 시스템 및 디바이스 제조방법

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3203719B2 (ja) * 1991-12-26 2001-08-27 株式会社ニコン 露光装置、その露光装置により製造されるデバイス、露光方法、およびその露光方法を用いたデバイス製造方法
JP4458322B2 (ja) * 2003-01-14 2010-04-28 キヤノン株式会社 露光装置およびデバイス製造方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010082674A (ko) * 2000-02-15 2001-08-30 시마무라 기로 노광방법 및 노광장치, 및 디바이스 제조방법
KR20030011296A (ko) * 2001-04-06 2003-02-07 가부시키가이샤 니콘 노광장치 및 기판처리 시스템 및 디바이스 제조방법

Also Published As

Publication number Publication date
JP2007294594A (ja) 2007-11-08
CN100526996C (zh) 2009-08-12
KR20070104827A (ko) 2007-10-29
TW200745790A (en) 2007-12-16
TWI338201B (ko) 2011-03-01
CN101063824A (zh) 2007-10-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100839398B1 (ko) 노광 장치 및 노광 방법
US9152062B2 (en) Pattern forming device, pattern forming method, and device manufacturing method
JP4932352B2 (ja) 露光装置及び露光方法
WO2007145038A1 (ja) 近接露光装置及び近接露光方法
JP2009295950A (ja) スキャン露光装置およびスキャン露光方法
KR20090116333A (ko) 상하 독립구동 방식의 양면 동시 노광시스템
KR100875863B1 (ko) 노광 장치 및 노광 방법
JP4942401B2 (ja) 露光装置及び露光方法
JP2002365810A (ja) 分割逐次近接露光装置
US10908507B2 (en) Micro LED array illumination source
JP2007322706A (ja) 露光装置及び露光方法
KR101180379B1 (ko) 노광 장치
JP5577730B2 (ja) 近接露光装置及び近接露光方法
JP5089238B2 (ja) 露光装置用基板アダプタ及び露光装置
JP2008209632A (ja) マスク装着方法及び露光装置ユニット
JP2008026475A (ja) 露光装置
JP2000012422A (ja) 露光装置
JP2008096908A (ja) 基板保持機構及びフラットパネルディスプレイ基板用露光装置の基板保持方法
JP2006100590A (ja) 近接露光装置
JP2008224754A (ja) 分割逐次近接露光方法及び分割逐次近接露光装置
JP5084230B2 (ja) 近接露光装置および近接露光方法
JP2007248636A (ja) 位置測定装置のミラー固定構造
JP2005017204A (ja) 位置決め装置
JP2008209631A (ja) 露光装置及びそのマスク装着方法
KR20070104841A (ko) 노광 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130524

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140530

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150515

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160517

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170522

Year of fee payment: 10

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180516

Year of fee payment: 11

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190515

Year of fee payment: 12