KR100827583B1 - 2 개 이상의 다른 임계 레벨로 입상물들을 선별하는 방법및 장치 - Google Patents

Abstract

연속적인 형태로 이동하는 입상물(粒狀物)들은 광에 의해 조사되고, 고체 촬상 소자로부터의 화소 신호들은 제 1 레벨의 입상물의 불량부분을 검출하기 위해 결정된 소정의 휘도의 임계 값에 의해 2 진화되며, 상기 화소 신호들은 또한 제 2 레벨의 불량 부분을 검출하기 위해 결정된 소정의 휘도의 임계값에 의해 2 진화된다. 상기 제 2 레벨은 제 1 레벨의 착색 톤보다 더 짙은 착색 톤에 대한 것이다. 불량 화소 신호가 상기 2 진화 화소들로부터 검출되는 경우에, 중심 위치의 불량 입상물의 화소가 상기 입상물의 외형을 검출하기 위해 결정된 소정의 휘도의 임계 값에 의해 2 진화된 고체 촬상 소자로부터 화소 신호들의 데이터에 근거하여 특정되며, 특정된 불량 입상물 화소와 상기 선별 신호는 특정된 중심 위치의 화소에 대응하는 불량 입상물의 중심 위치에 대해 작용하도록 출력된다. 크기가 작더라도 상품 가치에 영향을 주는 짙은 착색 부분을 가지는 입상물은 효과적으로 배출될 수 있다. 선별 수율은 상품 가치에 영향을 주지 않으며 이와 같이 작고 희미하게 착색된 작은 불량 부분을 가지는 입상물들을 선별하지 않음에 의해 향상된다.

불량 검출 회로, 중심 검출 회로, 화상 메모리, 기억 회로

Description

2 개 이상의 다른 임계 레벨로 입상물들을 선별하는 방법 및 장치{METHOD AND APPARATUS FOR SORTING GRANULAR OBJECTS WITH AT LEAST TWO DIFFERENT THRESHOLD LEVELS}

도 1 은 본 발명에 따른 입상물(粒狀物) 선별 장치의 분석적인 단면도.

도 2 는 본 발명에 따른 입상물 선별 장치의 슈트 (chute), 노즐 및 센서 소자들사이의 관계를 도시하는 도면.

도 3 은 본 발명에 따른 입상물 선별 장치의 CCD 센서로부터의 신호에 신호 처리를 수행하는 회로의 블록도.

도 4 (a) 는 CCD 센서에 의해 수신되는 신호를 도시하는 도면.

도 4 (b), (c), (d) 는 각각 본 발명에 따른 2 진화된 신호들을 도시하는 도면.

도 5 는 본 발명에 따른 입상물 선별 장치의 InGaAs 센서로부터의 신호에 신호 처리를 수행하는 회로의 블록도.

도 6 (a) 및 도 6 (b) 는 본 발명에 따라 검출된 착색 부분들의 화상처리된 화상들을 도시하는 도면.

도 7 (a) 내지 도 7 (h) 는 본 발명에 따라 검출된 쌀 낟알의 외형의 화상-처리 화상들을 도시하는 도면.

도 8 은 본 발명에 따른 화상 처리의 흐름도.

※도면의 주요부분에 대한 부호의 설명※

20 : 제어 장치 28 : 화상 처리 보드

30 : 화상 메모리 31 : 기억 회로

40 : 불량 검출 회로 41 : 중심 검출 회로

본 발명은 입상물[粒狀物 : granular object]용 선별 장치에 관한 것이며, 특히 선별될 각각의 물질로부터 고체 촬상 소자 (solid-state image device), 예를 들어 CCD 센서에 의해 얻어지는 화상 신호들이 화상처리되는 입상물용 선별 방법 및 장치에 관한 것으로, 선별 동작 (sorting action) 은 많은 입상물들 사이에 선별될 입상물들을 특정함에 의해 수행된다.

이동하는 입상물들을 CCD 센서가 장치된 카메라로 촬영함에 의해 불량 부분이 검출되는 불량 입상물들을 선별하기 위한 기술이 공지되어 있고, 촬영된 입상물의 각 화상에 대한 광량(quantity of light)이 소정의 임계값으로 2 진화된다. 이러한 기술은 상기 입상물들을 선별하는 것으로 제한받지 않고 일본 특개평 평성 8-35940 호에 기술되는 바와 같이 목재관련 물체들을 선별하는데 그리고 일본 특개평 평성 9-203614 호에 기술되는 바와 같이 병을 선별하는데 응용된다.

최근에, CCD 센서의 해상도(화소들 또는 픽셀들의 수)가 향상되어 이와 같이 정밀도 이외에 미세한 착색들 및 광량의 농담(濃淡)의 차를 검출가능하게 할 뿐만 아니라 매우 향상된 처리 속도를 갖는다. 특히, 각각 크기가 작은 플라스틱 물질들의 작은 펠릿(pellet) 및 쌀 낟알들과 같은 입상물들에 대하여, 향상된 CCD 센서는 효과적이다. 쌀 낟알에 있어서, 착색은 생육동안의 손상에 의해 발생될 수 있고, 작은 펠릿들에 있어서, 착색은 불순물 또는 이물질들의 혼합에 의해 발생될 수 있다. 그러한 성질을 가진 착색 부분은 수 mm 내지 1/10 mm 정도의 폭 또는 직경을 가질 수 있다. 또한 상기 착색 부분들에서 착색 농담(heaviness)의 차가 존재하며, 상기 착색들의 농담은 상품 가치에 영향을 주는 것에서 부터 상기 상품 가치에 영향을 주지 않는 것으로 변화한다.

향상된 해상도는 인간의 눈에 의해 쉽게 구별되지 않는 입상물들을 구별가능하게 하는데 기여하였다. 특히, 종래에 선별하기 어려웠던 작지만 짙은 착색을 선별하는 것을 가능하게 하였다. 한편으로는, 너무 짙지 않은 착색을 가지고 품질에 직접 또는 실질적으로 영향을 주지 않는 크기의 쌀 낟알 또는 작은 펠릿이 감지되고 선별되어, 선별 수율을 낮게 하거나, 바람직하지 않게도 많은 양품들을 불량품들과 혼합시킨다. 그러한 환경하에서, 하나의 해결책은 임계 값을 변경시키는 것이지만, 그러한 변경이 더 짙은쪽의 착색의 레벨로 간단히 행해지는 경우에, 선별 기준은 착색 부분의 크기(영역)에 상관없이 농담에 근거하여 변경되어, 농담에 있어서 희미하지만 크기에 있어서 넓게 확대되는 착색은 선별의 기준과 상관없다. 그러나, 농담에 있어서 착색이 희미한 경우에도, 그 크기가 클 때에는 상품 가치에 영향을 줘서 그러한 착색을 가지는 낟알을 선별하는 것이 바람직하게 된다.

상술된 바는 촬상 소자의 해상도 향상의 결과이며, 상기 문제점은 종래의 기술에서와 같이 해상도가 낮은 경우에 용이하게 된다. 그러나, 그러한 경우에 있어서, 작은 크기의 착색의 검출은 어렵게 되어, 크기는 작지만 짙은 착색이 선별되어야한다는 소망이 만족되지 않는다.

또한, 종래의 선별에 있어서, 선별 동작은 상기 착색 부분을 목표로 하며, 착색 부분이 입상물의 주변 부분 또는 단부에 존재하는 경우에, 착색 부분을 목표로 하는 선별 동작은 당면된 입상물의 정확한 배출을 수행할 수 없을 뿐만 아니라 당면된 입상물과 연속적으로 함께 이동하는 다른 입상물들을 바람직하지 않게 배출시킨다. 이는 상기 선별 수율을 낮게 할 뿐만 아니라 불량품들에 혼합되는 양품들의 비율을 증가시키는 원인이 된다.

본 발명의 목적은 선별 수율을 향상시키며 입상물들을 선별하기 위한 방법 및 장치를 제공하는 것이며, 선별 정밀도를 향상시키기 위하여 상기 해상도는 낟알의 크기가 작은 경우에도, 상품 가치에 영향을 주는 짙게 착색된 부분을 가지는 불량 입상물들을 선별할 수 있도록 향상되며, 상기 선별 수율은 상품 가치에 이와 같이 영향을 주지 않으며 작고 단지 희미하게 착색된 불량 부분을 가지는 입상물들을 선별하지 않음에 의해 향상된다. 또한, 상품 가치를 저하시키는 불량 입상물들만이 선별되고, 양질의 입상물들이 혼합되지 않고 불량 입상물들이 선별되는 선별 처리가 존재한다.

본 발명의 특성에 따라서, 입상물들을 선별하는 방법이 제공되며, 상기 방법 은, 연속적인 형태로 이동하는 입상물들이 광에 의해 조사되는 동안에 고체 촬상 소자로 촬영되는 단계와,

제 1 레벨의 입상물의 불량 부분을 검출하기 위해 결정된 소정의 휘도의 임계 값에 의해 고체 촬상 소자로부터의 화소 신호들을 2 진화하는 단계와,

상기 2 진화된 화소 신호들로부터 불량 화소 신호를 검출하는 단계와,

연속적인 불량 화소 신호들이 소정의 수를 초과하는 경우에 불량으로 결정되며, 상기 연속적인 불량 화소 신호들의 수가 상기 소정의 수를 초과하지 않은 경우에 불량 화소 신호들을 캔슬(cancel)하는 단계와,

위 단계에서 불량으로 결정된 그 입상물들로 입상물 선별 처리를 진행시키는 단계를 포함한다.

본 발명에 따라서, 입상물을 촬영하여 취득한 입상물의 화상이 비교적 희미한 착색의 불량 부분을 검출하기 위해 제 1 레벨의 임계값에 의해 2 진화된다. 제 1 레벨의 불량 부분이 화상으로부터 검출되는 경우에, 예를 들어, 각각 비교적 희미한 착색의 착색 부분을 가지는 다수의 화소들이 연속적으로 검출되어, 그 수가 소정의 수를 초과하는 경우에, 그러한 부분을 불량 부분 즉, 착색 부분으로 하는 선별 처리가 진행된다. 한편으로는, 제 1 레벨의 불량 부분이 검출되지만 그 수가 소정의 수를 초과하지 않는 경우에, 그러한 부분은 불량 부분으로서 취급되지 않고 캔슬된다. 즉, 상품 가치에 영향을 주지 않는 불량 부분이 검출되는 경우에, 선별 처리는 진행되지 않는다. 따라서, 희미한 착색의 불량 부분이 존재하는 경우에, 상기 불량 부분이 배제되거나 배제되지 않는지 여부에 대한 판단은 그러한 부분의 크기에 의존한다.

판단 처리는 화상 처리를 통하여 수행되며, 상기 화소 신호들이 스캐닝동안에 얻어질 때, 스캐닝이 입상물들의 이동 방향에 수직인 방향으로 행해지면, 스캐닝 방향(수평 방향)에 따른 불량 부분들로서 연속적인 화소들의 수가 검출될 뿐만 아니라 물체 이동 방향(수직 방향)에 따른 불량 부분들로서 연속적인 화소들의 수가 유효하게 검출된다. 예를 들어, 그 수가 연속적인 3 화소들을 초과하는 경우에, 수평 방향에 대한 소정의 값이 설정되고, 예를 들어 그 수가 연속적인 2 화소들(2 열)을 초과하는 경우에, 수직 방향에 대한 소정의 값이 설정되며, 불량 부분의 수평 방향의 크기뿐만 아니라 상기 불량 부분의 수직 방향의 크기를 설정함에 의해 제 1 레벨의 불량 부분을 판단하는 것이 가능하다. 해상도의 향상에 따라서, 희미한 착색의 불량 부분의 검출 정밀도가 향상될 뿐만아니라 화소들의 수를 계산함에 의해 상기 불량 부분의 크기에 대한 판단을 가능하여, 해상도의 향상으로 생기는 효과들을 보여준다. 또한, 상기 배치는 화상 요소 신호들이 직렬 모드로 입력되는 것인지 상기 신호들이 병렬 모드로 입력되는 것인지에 상관 없이, 상기 화상 처리 기술로 각각 서로 일치하는 입상물의 화소들의 수평 및 수직 방향의 위치들로 각각의 스캐닝 신호를 누적시킴에 의해 소정의 기억 용량에 의한 배치 처리를 수행하는 것이 가능하다.

본 명세서에서 상품 가치에 영향을 주지 않는 불량 부분은 인간의 눈 관찰에 의해 쉽게 또는 용이하게 인식되지 않는 그러한 불량 부분으로 부르며, 그러한 불량 부분의 존재는 상품 가치에 영향을 주지 않으며, 그러한 부분의 존재에도 불구하고, 상품의 품질 및 안전성은 실질적으로 그리고 충분히 유지될 수 있다.

본 발명에 따른 선별 처리에는 추가적으로 제 1 레벨보다 짙은 제 2 레벨의 입상물의 불량 부분을 검출하기 위해 결정된 소정의 휘도의 임계 값에 의해 고체 촬상 소자로부터의 화소 신호들을 2 진화하는 단계와 상기 2 진화된 화소 신호들 사이에 불량 부분으로서 결정된 상기 화소로 입상물의 선별 처리를 진행시키는 단계를 더 포함한다. 상기 제 1 레벨은 희미한 착색의 불량 부분에 대한 임계 값이며, 제 2 레벨은 짙은 착색의 불량 부분에 대한 임계 값이다. 짙은 착색의 불량 부분에 대한 화소 신호가 검출되는 경우에, 관련된 입상물에 대한 선별 처리가 상기 화소들의 연속 및 비연속에 상관없이 진행된다. 따라서, 짙은 착색의 불량 부분을 가지는 화소가 검출되는 경우에, 관련된 입상물은 항상 불량 입상물로서 배출된다.

제 2 임계값을 사용하는 2 진화 처리가 상기 제 1 임계값을 사용하는 2 진화 처리와 동시에 수행된다. 제 2 임계 값에 의해 불량으로 간주된 화소는 제 1 임계 값에 의해서도 불량으로 간주된다. 그러나, 제 1 임계 값에 의한 2 진화에서, 짙은 착색의 불량 부분이 연속적인 화소들의 소정의 수를 초과하지 않는 경우에, 그러한 부분은 캔슬되며, 불량으로 간주되지 않는다. 그러나, 제 2 임계값을 제공함에 의해, 화소가 비연속적인 경우조차도, 즉 화소가 단지 해상도를 향상시킴에 의해 검출가능하게 되는 매우 작은 불량 부분을 가질 때 조차도, 그러한 불량 부분이 짙은 착색이면, 관련된 화소는 제 2 임계 값에 의한 2 진화를 통해 불량으로 판단되는 화소가 되며, 상기 관련된 입상물은 불량으로 판단되어 배출된다. 따라서, 해상도 향상에 대한 효과가 증명된다.

또한, 입상물들을 선별하는 상술된 방법은,

입상물의 외형을 검출하기 위해 결정된 소정의 휘도의 임계 값에 의해 결정된 고체 촬상 소자로부터의 화소 신호들을 2 진화함에 의해 입상물 화소들을 특정하는 단계와,

상기 제 1 레벨 또는 제 2 레벨에서 검출된 불량 화소에 근거하여 불량 입상물 화소들을 특정하는 단계와,

상기 특정된 불량 입상물 화소들에 근거하여 불량 화소들의 중심 위치에서 화소를 특정하는 단계와,

상기 특정된 중심 위치에서의 화소에 대응하여, 상기 불량 입상물의 중심 위치에 대해 작용하는 선별 신호를 출력하는 단계를 포함한다.

입상물의 외형은 상기 입상물의 외형을 검출하기 위해 결정된 소정의 휘도의 임계 값에 의해 검출되며, 상기 휘도의 임계 값은 상술된 제 1 및 제 2 레벨의 임계 값들과 별도로 설정된다. 상기 제 1 및 제 2 레벨 임계 값들에 의해 검출된 불량 화소들에 근거하여, 특히, 상기 입상물의 외형을 형성하는 화소들의 집합에 상기 불량 부분의 화소들을 위치시킴에 의해, 불량 화소들을 가지는 입상물은 불량 입상물로 인식되어지며, 불량 입상물의 중심 위치에서의 화소는 불량 입상물의 화소 집합에 있는 불량 부분의 화소 위치에 상관없이 특정된다. 이런 방식으로, 선별 동작이 화소의 불량 부분으로 지시되는 종래의 기술과 달리, 선별 신호는 특정의 불량 입상물의 중심 위치의 화소에 대응하는 상기 불량 입상물의 중심 위치에 대해 작용하도록 출력된다. 따라서, 입상물에 있어서 불량 입상물의 불량 부분이 어디에 존재하던지 간에, 관련된 단일 불량 입상물을 제거하도록 보장된다.

상술된 불량 입상물의 중심 위치의 화소를 특정하는 단계에 대하여, 상기 방법은,

상기 불량 입상물의 화소들의 수직 및 수평 방향으로 수축 처리를 제공하는 단계와,

하나의 블록으로서 소정수의 연속적인 화소들을 가진 다수의 블록으로 연속적인 화소들을 분할하고, 상기 수축 처리되는 화소들을 다수의 블록 단위들로 확대하는 단계와,

상기 확대 처리에 의해 얻어진 다수의 블록의 수평 방향의 중심 블록을 특정하는 단계와,

상기 확대 처리에 의해 얻어진 다수의 블록의 수직 방향의 중심 블록을 특정하는 단계와,

수평 방향의 중심 블록과 수직 방향의 중심 블록사이를 오버래핑함에 의해 입상물의 중심 위치 블록을 결정하는 단계를 포함한다.

불량 입상물의 화소들에 대하여, 화상 처리 방법인 수축 처리가 수행된다. 상기 입상물들이 연속적인 형태로 이동하므로, 주변 부분들에서의 오버래핑이 예상되어, 각각의 입상물의 1 화소 집합이 특정될 수 없는 경우들이 존재한다. 따라서, 소정수의 화소들에 대한 수축 처리에 의해, 화소 집합은 수직 및 수평 방향으로 만들어지고, 이런 식으로, 상기 입상물들의 오버래핑이 해결되고, 하나의 입상물 화소를 특정하는 것이 가능하다. 수축 처리에 의해 입상물들이 개별적으로 서로 독립적인 화소 집합들로 만들어진 후에, 예를 들어 연속적인 화소들인 소정수의 화소들은 각각 1 블록으로 분할되고, 1 디비전 (division) 내에서, 상기 입상물의 1 화소가 존재하는 경우에도, 1 블록 전체가 상기 입상물 화소로서 확대된다. 즉, 입상물들의 화소 집합은 화소 블록 집합이 된다.

상술된 바와 같이 확대된 화소들의 다수의 블록의 집합에 의해, 수직 방향의 중심 블록과 수평 방향의 중심 블록이 특정된다. 상기 수평 방향으로 우수 블록들이 존재하는 경우에, 중심 블록들로서 2 블록이 선택되고, 수평 방향으로 기수 블록들이 존재하는 경우에, 중심 블록으로서 1 블록이 선택된다. 수직 및 수평 방향들로 상술된 바와 같이 선택된 중심 블록들을 오버래핑함에 의해, 상기 입상물들의 중심 블록들을 특정하는 것이 가능하다. 중심 블록의 위치가 소정의 입상물의 중심 위치가 되므로, 상기 입상물의 이동 방향의 중심 위치를 화소들상에 특정하는 것이 가능하며, 선별 동작은 상기 관련된 화소의 중심 위치로 향하도록 상기 선별 신호가 출력된다.

상술된 바와 같이, 소정의 연속적인 다수의 블록은 1 디비전을 구성하며, 상기 디비전내의 블록들중 임의의 하나는 중심 위치로 되며, 상기 선별 신호는 그러한 디비전에 대응하여 선별 위치로 출력된다. 통상, 입상물용 선별 수단은 예를 들어 다수의 배출기가 실질적으로 하나의 라인내에 설치되도록 구성된다. 각각 다수의 블록을 구성하는 디비전들은 하나의 단부에서 다른 단부로 개별적인 제트 에어 (jet air) 배출 수단에 순차적으로 할당된다. 상기 불량 입상물의 중심 위치가 다수의 블록 중 임의의 것에 존재하는 경우에, 상기 선별 신호는 그러한 디비전에 대응하는 제트 에어 배출 수단으로 출력되어, 상기 제트 에어 배출 수단이 동작된다.

본 발명의 상기 및 다른 목적, 특징 및 이점들은 첨부된 도면들에 대하여 설명된 본 발명의 양호한 실시예들의 다음의 기술로부터 명백하게 된다.

본 발명에 따른 입상물 선별 장치의 개요가 도 1 및 도 2를 참조하여 설명된다. 본원에 설명된 상기 선별 장치는 입상물들 사이의 낟알들, 특히 선별될 물질들로서의 쌀 낟알들에 대하여, 착색 부분들을 가지는 쌀 낟알들 또는 쌀 낟알들에 혼합된 이물질들에 대하여 선별 또는 배출 (ejection)이 행해진다. 도 1 은 주요 구성요소들 및 입상물 선별 장치의 내부 구조 배치를 분석적으로 도시하는 단면도이다. 상기 장치에는, 그것의 상부 부분에, 진동 공급 (vibration feeder) 수단 (2) 과 탱크부 (3)를 가지는 쌀 낟알 공급부 (4) 와, 상기 진동 공급 수단 (2) 으로부터 공급된 쌀 낟알들을 소정의 궤적으로 이송하는 경사진 판형상 형태의 슈트 (5) 가 장치된다. 이러한 슈트 (5) 에 의해 쌀 낟알들은 그 후에 광학 검출부 (6) 로 배출공급된다.

상기 광학 검출부 (6) 는 실질적으로 슈트 (5)로부터 배출된 쌀 낟알들의 궤적에 대하여 대칭적이며, 전 광학 검출부 (6a)와 후 광학 검출 부 (6b)를 구성한다. 각각의 상기 전 및 후 광학 검출부 (6a,6b) 에는, 상기 쌀 낟알들의 낙하 위치의 시점 O 에 대하여 전후에, 화소로서 예를 들어 실리콘 센서를 가지는 CCD 센서가 장착된 가시광 수광부 (7a,7b) 와 InGaAs 소자로 구성된 아날로그 센서가 장치된 근 적외광 수광부 (8a,8b)가 설치된다. 상기 가시광 수광부 (7a,7b) 와 근 적외광 수광부(8a,8b) 는 상기 슈트 (5) 의 폭 방향에 대응하여 설치된다. 또한 조명용 형광등 (9a,9b,10a,10b), 조명용 할로겐 램프들 (11a,11b), 각각의 광학 검출부들 (6a,6b) 에 대응한 배경(background) 판들 (12a,12b) 이 설치된다. 배경 판들 (12a,12b) 에 있어서, 상기 수광부들 (8a,8b)과 시점 O 사이의 시선을 차단하지 않도록 개구부들 (13a,13b) 이 설치된다. 가시광 수광부 (7) 는 유리하게도 집광 렌즈들이 장치된 광각도 카메라로 구성될 수 있다.

상기 선별부 (15) 는 쌀 낟알들의 낙하 방향에 따라 광학 검출부 (6) 아래에 배치되고, 상기 쌀 낟알들에 대하여 고속의 제트 에어를 방출하는 다수의 노즐 (16) 은 상기 슈트 (5) 의 폭 방향으로 설치된다. 압축된 에어를 에어 파이프 (17) 들을 통해 노즐 (16) 들로 공급되게 하는 밸브 (18)가 각각의 노즐 (16) 들에 연결되며, 상기 밸브 (18) 는 압축 에어 공급 장치 (도시되지 않음)에 연결된다.

광 수광부들 (7,8) 은 이후에 기술되는 제어 장치 (20) 를 통한 밸브 (18) 에 연결되며, 상기 수광부들 (7,8) 을 통해 쌀 낟알들 또는 이물질들로부터 수신된 신호들은 상기 제어 장치 (20) 에 의해 처리된다. 착색된 부분들 또는 이물질들을 가지는 불량 쌀 낟알들이 검출되며, 관련된 밸브 (18) 들을 구동하는 신호들이 출력된다. 따라서 상기 밸브 (18) 가 구동되는 경우에, 불량 쌀 낟알들 또는 이물질들은 노즐 (16)로부터 분출된 에어에 의해 낟알 낙하 궤적에서부터 배제되며, 불량품 배출구 (22) 로부터 배출된다. 수용가능한 낟알들은, 즉 배출되지 않는 낟알들은, 쌀 낟알 낙하 궤적에 따라 양품 배출구 (23) 로부터 외부로 배출된다.

도 2 는 상기 슈트 (5) 의 앞면으로부터 본, 상기 폭 방향으로 배치된 슈트 (5), 수광부(7), 노즐 (16) 들의 위치 및 배치를 개략적으로 도시하는 확대도이다. 상기 슈트 (5) 는 예를 들어 각각 소정의 폭을 가지는 다수의 디비전들로 분할되며, 노즐 (16) 은 상기 슈트 (5) 의 각각의 디비전에 할당된다. 상기 노즐 (16) 의 폭은 바람직하게도 쌀 낟알들의 경우에 1.5 내지 2 mm 이다. 이러한 실시예에서, 수광부 (7)에 있어서, 6 개의 수광 센서 소자들은 하나의 블록을 구성하고, 4 개의 블록은 1 개의 노즐로 할당된다. 즉. 이런 경우에, 24 개의 소자를 사용하여, 상기 슈트 (5) 의 제 1 디비전으로 이동하는 쌀 낟알들의 광량이 수신된다. 즉, 화소들에 있어서, 각각의 노즐에 대하여 수평 방향인 24 개의 화소들이 존재한다. 쌀 낟알들을 촬영할 때, 상기 화상들은 쌀 낟알들의 흐름에 대하여 수직 방향으로 스캐닝함에 의해 얻어진다.

다음으로, 도 3 및 도 4에 대하여, 상기 수광부들 (7,8) 로부터 출력된 신호들을 처리하는 제어 장치 (20) 가 설명된다. 상기 제어 장치 (20) 에는 입상물의 외형에 대응하는 임계 값이 입력되는 비교기 (25), 비교적 희미한 착색(제 1 레벨)에 대응하는 임계 값이 입력되는 비교기 (26), 비교적 짙은 착색 (제 2 레벨) 에 대응하는 임계 값이 입력되는 비교기 (27), 상기 비교기들로부터 상기 신호들을 화상 처리하는 화상 처리 보드 (28), 상기 화상 처리 보드 (28) 로부터의 출력 신호들에 근거하여 출력되는 선별 신호들이 입력되는 지연 회로 (29)가 장착된다. 화상 처리를 위해 필요한 화상 메모리 (30) 및 상기 처리 프로그램을 저장하는 기억 회로 (31) 와 같은 다른 구성요소들도 물론 상기 제어 장치 (20) 내에 포함되지만, 이들은 적절히 설계되어 설치될 수 있으므로 상세히 기술되지 않는다. 또한, CPU (32) 와 입력/출력 회로 (33) 에 대해서는, 이들은 상기 처리 단에서 개별적으로 제어가 행해지는 것 또는 하나의 CPU 에 의해 전체적으로 제어가 행해지는 것과 같이 다양하게 설계될 수 있으므로, 단지 하나의 예만이 여기서 개시되며, 더 상세히 기술되지 않는다. 상기 밸브 회로 (34)는 상기 지연 회로 (29)로부터 출력되는 신호들에 의해 동작된다.

상기 제어 회로 (20) 는 수광부 (7) 의 CCD 센서로부터 출력되는 다수의 화소 신호들을 수신한다. 상기 화소 신호들은 각각 상기 비교기들 (25,26,27) 로 포워드되고 각각의 임계 값들에 의해 2 진화된다. 상기 2 진화된 신호들에 대하여, 상기 비교기들 (26, 27) 로부터의 신호들은 상기 화상 처리 보드 (28) 내의 불량 검출 회로 (40)에 의해 불량이 검출되고, 이때에 상기 불량 신호의 유무가 확인된다. 임의의 불량 신호가 검출되는 경우에, 상기 중심 검출 회로 (41) 에 의한 중심 검출이 행해진다. 도 4 (a) 는 디지털 신호의 일부분이 생략된, 하나의 쌀 낟알에 대하여 CCD 센서로부터 출력된 디지털 신호의 예를 도시한다. 이렇게 도시된 예에서, 하나의 쌀 낟알에 있어서, 비교적 희미한 착색 및 넓은 범위의 착색의 착색 부분이 존재하며, 또한 비교적 짙은 착색 및 작은 범위의 착색의 착색 부분이 존재한다. 도 4 (a) 에 있어서, 또한 3 개의 다른 비교기들 (25,26,27)의 3 가지 레벨의 임계값들이 도시된다. 도 4 (a) 에 도시된 바와 같이 신호들이 상기 비교기들 (25,26,27)의 각각에 입력되는 경우에, 상기 비교기들 (25,26,27)의 각각으로부터 출력되는 신호는 도 4 (b),(c),(d) 의 예들에서 도시된 바와 같이 2 진화된 신호가 된다. 이와 같이 생성된 2 진화된 신호들은 화상 처리 보드 (28) 의 화상 메모리 (30) 내에 순차적으로 기억된다. 상기 비교기들 (25,26,27)은 분리된 회로들로서 도시되었지만, 관련 처리들은 프로그램의 일부분으로 통합되어 화상 처리 보드 (28)에서 수행될 수 있다.

도 5 에 도시된 바와 같이 아날로그/디지털 변환 회로 (50) 를 설치함에 의해, 통상의 InGaAs 센서에 있어서 출력이 아날로그 신호일 때, 신호 처리가 상기 제어 유닛 (20)에서와 유사하게 실행될 수 있다. 그러나, 비교기 (51) 에는 이물질들(유리, 합성수지, 돌)을 선별하는 제 4 의 임계값이 설정된다. 만일 비교기 (52) 에 미리 이물질들에 대한 외형 레벨을 검출하기 위해 설정된 임계 값이 제공되는 경우에, 그 2 진화된 신호에 의해, 상기 신호는 상기와 같이 외형을 특정하기 위한 신호를 구성하므로 바람직하다.

이제, 상기 제어 장치 (20) 에 의한 화상 처리가 도 6 내지 도 8 을 참조하여 설명된다. CCD 센서 (7)로부터 출력된 데이터, 예를 들어 병렬로 출력된 12 비트가 8 비트의 직렬 데이터로 변환될 수 있다. 이와 같이 변환된 상기 CCD 센서 (7) 로부터의 데이터는 미리 상기 비교기들 (26,27)에서 설정된 착색 부분들에 대한 임계값(제 1 레벨, 제 2 레벨)들에 의해 2진화 처리(단계 601a,601b) 되며, 미리 상기 비교기 (25)에서 설정된 외형 임계값에 의해 2 진화 처리된다(단계 701). 도 6 (a) 는 단지 다수의 스캐닝에 의해 얻어진 데이터의 부분만을 그리고 제 1 레벨에 의해 2 진화된 데이터의 한 가지 예만을 도시한다. 유사하게도 제 2 레벨에 의해 2 진화된 데이터가 얻어진다.

다음으로, 화상 처리 보드 (28)에서의 신호처리가 설명된다(도 3을 참조). 이 처리는 미리 상기 화상 처리 보드 (28) 의 기억 회로 (31) 내에 기억된 프로그램에 따라 수행된다. 제 1 레벨의 비교기 (26) 에 의해 2 진화된 데이터의 화상 처리의 초기 설정에 있어서, 불량 쌀 낟알의 조건들 및 범위들이 다음과 같이 설정된다. 즉, 스캐닝 방향 (수평 방향)에서 연속적인 화소들의 수는 3이고, 이동 방향(수직 방향)의 연속적인 화소들의 수는 2 이다. 이 조건이 도 6 (a)에 적용될 때, 제 n 번 스캐닝에서의 수평 방향의 연속적인 화소들의 수는 5 이고, 제 n+1 번 스캐닝에서의 연속적인 화소들의 수는 7 이고, 제 n+2 번 스캐닝에서의 연속적인 화소들의 수는 4 이고, 이러한 스캐닝의 어떠한 것에서도, 그 수는 수평 방향의 연속적인 화소들의 초기 설정 수 3을 초과하므로, 관계된 낟알은 불량 낟알들에 해당된다. 또한, 수직 방향의 연속적인 화소들의 초기 설정 수 2 가 초과되어 본원에서 검출된 화소들의 집합은 불량 낟알의 화소들로서 판단된다(단계 602). 또한, 도 6(b)의 예에 있어서, 제 m 번 스캐닝에서 수평 방향의 연속적인 화소들의 수는 3 이므로, 상기 수평 방향의 연속적인 화소들의 초기 설정 수 3 이 초과되지 않으며, 수직 방향의 연속적인 화소들이 존재하지 않는다. 따라서 집합내의 화소들은 불량 낟알의 화소로서 판단되지 않고 캔슬 된다. 상기 제 2 레벨의 비교기 (27) 에 의해 2 진화된 데이터에서 검출된 불량 낟알 화소에 있어서, 상기 임계 값은 제 1 레벨의 값과 다르고, 상기 불량 화소는 짙은 착색을 나타내므로, 이는 불량으로 판단된다.

상기 착색 부분에 대한 2 진화된 데이터의 처리와 함께, 도 7 (a) 내지 도 7 (b)에서 도시된 바와 같은 쌀 낟알의 외형 처리가 수행된다. 도 7 (a) 는 상기 외형 레벨의 비교기 (25) 에 의해 얻어진 신호를 도시한다. 상기 신호는 쌀 낟알의 외형 신호가 간단히 2 진화 처리되는(단계 701) 신호이다. 상기 외형의 수축 처리가 뒤따른다. 상기 수축 처리에 있어서, 도 7 (b)에 도시된 바와 같이, 상기 수직 방향의 주변 화소들은 하나씩 균일하게 제거된다(단계 702). 그 후에, 도 7 (c) 에 도시된 바와 같이, 수평 방향의 주변 화소들은 동시에 3 개의 화상 조사들에 의해 균일하게 제거된다(단계 703). 본원에서 제거된 화소들의 수는 실시예들로 제한받지 않고, 선택적으로 설정될 수 있다. 이러한 처리는 다른 쌀 낟알 화소들과의 관계를 해결가능하게 하고, 개별 쌀 낟알의 외형을 확인할 수 있게 한다.

단계들 (601a,601b)에서 검출된 착색된 화소들 [도 6(a)] 및 단계 703 까지 얻어진 쌀 낟알의 외부 화소들 [도 7 (c)] 은 서로 완전하게 오버랩되며 [도 7(d)], 이런 방식으로, 그 전체의 착색된 낟알의 외형이 확인될 수 있다(단계 704).

다음으로, 수광부 (7)의 센서 소자들이 수평 방향의 노즐(16)들의 폭 넓이를 따라, 6 개의 소자가 1 블록이며, 4 블록이 1 디비전이 되도록 분할되는 도 2를 참조하여 이미 설명된 수광부 (7)의 센서 소자들의 분할과 같은 방식으로, 상기 화상 처리는 노즐 (16)의 폭을 따라 1 블록으로 취급되는 6 개의 화소를 갖는 블록 유닛들로 전체 소자들이 변환되도록 수행될 수 있다. 6 개의 화소들을 구성하는 1 블록내에, 1 불량 낟알 화소가 존재한다할지라도, 그 전체와 관련된 블록은 불량 블록이 되며, 이는 팽창 처리된다[단계 705, 도 7(e)].

상기 물체의 중심 위치의 검출은 다음의 방식들로 수행된다. 먼저, 수평 방향의 중심 위치의 검출이 도 7 (e) 의 데이터에 근거하여, 각각의 블록 데이터가 상하의 블록 데이터와 OR 논리 연산됨에 의해 팽창되며, 수평 방향의 중심은 패턴 매칭에 의해 얻어진다. 수평 방향의 우수 데이터가 존재하는 경우에, 중심의 2 블록은 중심 위치를 구성하며, 기수 데이터가 존재하는 경우에, 중심의 1 블록은 중심 위치를 구성한다[단계 706, 도 7(f)]. 또한, 수직 방향의 중심 위치의 검출이, 도 7 (e)의 데이터에 근거하여, 각각의 블록 데이터가 좌우의 블록 데이터와 OR 논리 연산됨에 의해 팽창되고, 수직 방향의 중심이 패턴 매칭에 의해 얻어지도록 수행된다. 수직 방향의 우수 데이터가 존재하는 경우에, 중심의 2 블록은 중심 위치를 구성하며, 기수 데이터가 존재하는 경우에, 중심의 1 블록은 중심 위치를 구성한다[단계 707, 도 7(g)]. 이런 방식으로, 상기 수평 방향 및 수직 방향에서 각각 중심 위치들이 논리 AND에 의해 계산되는 경우에, 도 7 (g)에 도시된 바와 같이 중심의 4 블록이 얻어진다(단계 708). 상기 중심의 블록들이 얻어지는 경우에, 이런 블록들이 존재하는 디비전이 결정되고[도 7(h)], 이 디비전에 대응하는 노즐 (16) 이 결정된다. 동작 신호가 상기 노즐 (16)이 연결되는 밸브로 이송된다(단계 709).

도 7(g)에 도시된 바와 같이 중심블록이 1 디비전내에 존재하는 경우에 중심 위치는 그러한 디비전내에 존재하는 것으로 결정되도록 상기 계산된 중심 위치의 블록이 존재하는 디비전에 대응하여 노즐 (10) 로부터의 제트 에어가 분출 되도록 상기 동작 신호가 출력된다. 그러나, 중심 블록이 수평 방향의 2 디비전으로 확장될 때, 에어가 2 디비전에 대응하는 2 개의 노즐로부터 분출되도록 동작 신호는 상기 밸브 (18)로 이송된다.

전자기 밸브용 동작 신호들은 분사 타이밍을 전체 화상내의 불량 화소들의 중심 위치에 근거하여 조절하고, 설정된 분사 시간을 가산하고, 노즐 (16)의 분사 타이밍을 설정하고, 소정의 지연 시간을 수광부(7) 및 노즐 (16) 사이의 거리에 근거하여 상기 지연 회로 (29) 에 의해 조절된 후에 밸브(18)로 이송된다.

상술된 것은 수광부 (7) 에서 CCD 센서로부터 수신된 신호들의 처리를 주로 설명하였지만, 수광부 (8) 의 InGaAs 센서로부터 수신된 신호들의 처리는 상기 센서가 만족할만한 해상도를 가지는 경우에 유사하게 수행된다. 이물질들의 검출에 대하여, 이물질의 존재는 제 4 레벨의 임계 값이 미리 설정된 비교기 (51) 에 의해 2 진화되어 확인되며, 상기 이물질의 외형은 외형 레벨이 미리 설정된 비교기 (52) 에 의해 2 진화되어 확인된다. 일종의 이물질들에 의존하여, 제 4 레벨의 비교기 (51)에 의해 2 진화된 데이터는 외형 데이터로서 사용될 수 있다. 이는 CCD 센서에 의해 검출된 착색 부분들과 같이 다수의 레벨의 농담이 존재하지 않기 때문이다.

상술된 바와 같이, 센서의 해상도는 다양한 크기의 착색 부분들을 검출가능하게 하여 이와 같이 상승되고, 상기 착색 부분의 크기가 화소들의 수에 의해 특정될 수 있으므로, 향상된 해상도에 의해 희미한 착색의 형태로 불량 부분 검출의 정밀도를 향상 시킬뿐만 아니라 화소들을 계산함에 의해 그 크기를 판단할 수 있다. 따라서, 향상된 해상도는 상기 효과와 이점들을 증명한다.

제 2 임계값은 짙은 착색의 착색 부분을 판단하기 위해 설정되므로, 상기 해 상도의 향상에 의해서만 검출될 수 있는 그러한 작은 불량 부분조차도, 그러한 불량 부분이 짙은 착색에 대한 경우에 제 2 임계값을 통한 2 진화에 의해 불량으로 판단될 수 있고, 관련된 입상물이 불량으로 판단되고 배출된다. 따라서, 향상된 해상도는 상기 효과들을 증명하였다.

입상물의 외부 형태가 검출된 후에, 입상물들의 외형을 형성하는 화소들의 집합에 상기 불량 부분의 화소를 위치시킴에 의해, 상기 불량 화상 요소를 가지는 입상물이 불량 입상물로서 인식될 수 있고, 상기 불량 입상물의 중심 위치의 화소는 불량 입상물들의 화소 집합의 불량 부분의 화소 위치에 상관없이 특정된다. 이런 식으로, 선별 신호는, 상기 선별 동작이 화소의 불량 부분으로 지시되는 종래기술과 달리 상기 특정된 불량 입상물의 중심 위치의 화소에 대응하여, 상기 불량 입상물의 중심 위치에 대하여 작용하도록 출력된다. 따라서, 상기 입상물에 있어서 상기 입상물의 불량 부분이 어디에 존재하더라도, 관련된 단일 불량 입상물을 배출하는 것이 확인된다.

상기 상품 가치에 실질적인 영향을 주는 단지 그러한 불량 입상물들은 효과적으로 제거된다. 이는 작은 크기의 불량 부분을 검출하도록 높은 해상도를 가지는 센서를 사용함에 의해, 그리고 희미한 착색들의 불량 부분들에 대하여 임계 값들을 설정함에 의해 얻어진 불량 부분들의 화소들의 수를 계산함으로써 불량들의 존재를 결정할 수 있게 됨에 의해, 또한 상기 불량 부분들의 크기에 상관없이 불량 부분들에 대한 판단이 행해질 수 있도록 짙은 착색들의 불량 부분들에 대한 임계 값들을 설정함에 의해 가능하게 된다.

또한, 불량 입상물들의 판단에 부가하여, 상기 불량 부분이 상기 입상물의 어떤 위치에 존재하더라도, 선별 동작이 실질적으로 입상물의 중심 부분으로 향하게 될 수 있어, 선별 동작을 받는 다른 입상물들을 포함하는 기회들이 작아 지게 된다. 따라서, 선별 정밀도를 향상시키기 위하여, 상기 해상도는 크기가 작은 경우에도 상품 가치에 영향을 주는 짙게 착색된 부분을 가지는 불량 입상물들을 선별할 수 있도록 향상되고, 상기 선별 수율은 이와 같이 상기 상품 가치에 영향을 주지 않는 작고 단지 희미하게 착색된 불량 부분을 가지는 입상물들을 선별하지 않음에 의해 향상된다.

본 발명이 양호한 실시예들로 기술되는 반면에, 사용된 용어들은 제한 사항이라기 보다 오히려 설명의 용어들이며, 첨부된 청구항들의 범위내의 변경들은 상기 청구항들에 의해 규정된 바와 같이 본 발명의 진정한 범위를 이탈하지 않고 행해질 수 있음을 이해할 수 있다.

본 발명은 선별 수율을 향상시키며 입상물들을 선별하기 위한 방법 및 장치를 제공하며, 선별 정밀도를 향상시키기 위하여 상기 해상도는 낟알의 크기가 작은 경우에도, 상품 가치에 영향을 주는 짙게 착색된 부분을 가지는 불량 입상물들을 선별할 수 있도록 향상되며, 상기 선별 수율은 상품 가치에 이와 같이 영향을 주지 않으며 작고 단지 희미하게 착색된 불량부분을 가지는 입상물들을 선별하지 않음에 의해 향상된다. 또한, 상품 가치를 저하시키는 불량 입상물들만이 선별되고, 양질의 입상물들이 혼합되지 않고 불량 입상물들이 선별되는 선별 처리를 제공한다.

Claims (8)

1. 입상물들을 선별하는 방법에 있어서,

   연속적인 형태로 이동하는 입상물들에 광을 조사하면서 다수의 화소를 가지는 고체 촬상 소자 (solid-state image device) 로 촬영하는 단계;

   제 1 레벨의 입상물의 불량 부분을 검출하기 위해 결정된 소정의 휘도의 임계 값에 의해 상기 고체 촬상 소자로부터의 화소 신호들을 2 진화하는 단계;

   2 진화된 상기 화소 신호들로부터 불량 화소 신호를 검출하는 단계;

   연속적인 불량 화소 신호들의 수가 소정의 수를 초과하는 경우에 불량이라고 결정하며, 상기 연속적인 불량 화소 신호들의 수가 상기 소정의 수를 초과하지 않은 경우에 불량 화소 신호들을 캔슬 (cancel)하는 단계; 및

   불량으로서 결정된 상기 입상물들로 입상물 선별 처리를 진행시키는 단계를 포함하는, 입상물 선별 방법.
2. 입상물들을 선별하는 방법으로서,

   연속적인 형태로 이동하는 입상물들에 광을 조사하면서 다수의 화소를 가지는 고체 촬상 소자로 촬영하는 단계;

   제 1 레벨의 입상물의 불량 부분을 검출하기 위해 결정된 소정의 휘도의 제 1 임계값에 의해 상기 고체 촬상 소자로부터의 화소 신호들을 2 진화함과 동시에 상기 제 1 레벨보다 짙은 제 2 레벨의 입상물의 불량 부분을 검출하기 위해 결정된 소정의 휘도의 제 2 임계값에 의해 상기 고체 촬상 소자로부터의 상기 화소 신호들을 2 진화하는 단계;

   상기 2진화된 화소 신호들로부터 불량 화소 신호를 검출하는 단계;

   상기 검출 단계에서, 상기 제 2 임계값에 의해 2 진화된 화소 신호들로부터 불량 화소 신호를 검출하는 경우, 불량으로 결정하고 그 입상물들로 입상물 선별 처리를 진행시키는 단계;

   상기 검출 단계에서, 상기 제 1 임계값에 의해 2 진화된 화소 신호들로부터 불량 화소 신호를 검출하는 경우, 연속적인 불량 화소 신호들의 수가 소정의 수를 초과하는 경우에 불량이라고 결정하며, 상기 연속적인 불량 화소 신호들의 수가 상기 소정의 수를 초과하지 않은 경우에 불량 화소 신호들을 캔슬하고, 불량으로서 결정된 그 입상물들로 입상물 선별 처리를 진행시키는 단계를 포함하는, 입상물 선별 방법.
3. 제 2 항에 있어서,

   상기 입상물 선별 처리는,

   입상물의 외형을 검출하기 위해 결정된 소정의 휘도의 임계 값에 의해 상기 고체 촬상 소자로부터의 상기 화소 신호들을 2 진화함으로써 입상물 화소들을 특정하는 단계;

   상기 제 1 레벨 또는 제 2 레벨에서 검출된 불량 화소들에 근거하여 불량 입상물 화소들을 특정하는 단계;

   특정된 상기 불량 입상물 화소들에 근거하여 상기 불량 입상물의 중심 위치의 화소를 특정하는 단계; 및

   특정된 상기 중심 위치에 있는 상기 화소에 대응하는 상기 불량 입상물의 중심 위치에 대해 작용하는 선별 신호를 출력하는 단계를 더 포함하는, 입상물 선별 방법.
4. 제 3 항에 있어서,

   상기 불량 입상물의 중심 위치의 화소를 특정하는 단계는,

   상기 불량 입상물 화소들을 수직 및 수평 방향으로 수축 처리하는 단계;

   소정수의 연속적인 화소들이 하나의 블록을 형성하게끔 하여 연속적인 화소들을 다수의 블록들로 분할하고, 상기 수축 처리되는 화소들을 블록 단위로 확대하는 단계;

   상기 확대하는 단계에 의해 얻어진 다수 블록의 수평 방향의 중심 블록을 특정하는 단계;

   상기 확대하는 단계에 의해 얻어진 다수 블록의 수직 방향의 중심 블록을 특정하는 단계; 및

   상기 수평 방향의 중심 블록과 상기 수직 방향의 중심 블록사이를 오버래핑함으로써 중심 위치 블록을 결정하는 단계를 포함하는, 입상물 선별 방법.
5. 제 4 항에 있어서,

   연속적인 소정의 다수의 블록들이 하나의 디비전을 형성하고, 상기 디비전내의 임의의 블록이 중심 위치가 되는 경우에, 선별 신호가 상기 디비전에 대응하는선별 및 배출 수단으로 출력되는, 입상물 선별 방법.
6. 입상물들을 선별하는 장치에 있어서,

   연속적인 형태로 입상물들을 이송하는 이송 수단(4,5);

   이송되는 상기 입상물들을 조명하는 조명 수단 (9a, 9b; 10a, 10b; 11a, 11b);

   조명되는 상기 입상물들을 촬영하는 고체 촬상 소자 (7a,7b;8a,8b);

   상기 고체 촬상 소자로부터의 화상 신호로부터 제 1 소정의 농담 (heaviness) 을 가지는 불량 부분을 취하는 제 1 의 2 진화 수단 (26);

   상기 고체 촬상 소자로부터의 상기 화상 신호로부터 소정의 입상물의 형상을 취하는 제 2 의 2 진화 수단 (25);

   상기 제 1 의 2 진화 수단 (26)에 의해 취해진 불량 부분들내에, 불량 검출 회로(40)에 의해 캔슬되지 않을 불량 부분과 캔슬될 소정의 크기내의 불량 부분을 포함하는 불량 입상물들에 대하여 상기 제 2 의 2 진화 수단(25)에 의해 소정의 입상물 형상의 중심 위치를 추출하는 중심 검출 회로(41)가 장착된 화상 처리 수단(28);

   상기 입상물의 중심 위치와 상기 소정의 입상물의 이송 시간으로부터 계산된 지연 시간이 경과된 후에 신호를 출력하는 지연 수단 (29); 및

   상기 지연 수단 (29)으로부터의 출력 신호에 근거하여 상기 불량 입상물의 중심 위치에서 작용하는 선별 수단 (34)를 포함하는, 입상물 선별 장치.
7. 제 6 항에 있어서,

   상기 제 1 소정의 농담보다 짙은 제 2 소정의 농담을 가지는 불량 부분을 취하는 제 3 의 2 진화 수단 (27)이 장착되며,

   상기 화상 처리 수단 (28) 은 상기 제 3 의 2 진화 수단 (27)에 의해 결정된 상기 불량 입상물에 대하여 상기 제 2 의 2 진화 수단 (25)에 의해 취해진 상기 입상물의 형상으로부터 상기 소정의 입상물의 중심 위치를 추출하는, 입상물 선별 장치.
8. 제 6 항 또는 제 7 항에 있어서,

   상기 화상 처리 수단(28)은,

   수직 및 수평 방향으로 불량 입상물 화소들을 수축하는 수단;

   하나의 블록을 형성하는 소정수의 연속적인 화상들을 가진 다수의 블록들로 연속적인 화상들을 분할하고, 수축 처리되는 상기 화소들을 블록 단위로 확대하는 수단; 및

   확대 처리에 의해 얻어진 다수의 블록내의 수평 방향의 불량 입상물의 중심과 확대 처리에 의해 얻어진 다수의 블록내의 수직 방향의 불량 입상물의 중심을 계산하고, 수평 및 수직 방향으로 계산된 상기 중심들에 근거하여 상기 입상물의 중심 위치를 추출하는 수단을 포함하는, 입상물 선별 장치.

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