JPH11237341A - 粒状物色彩選別方法 - Google Patents
粒状物色彩選別方法Info
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- JPH11237341A JPH11237341A JP5628298A JP5628298A JPH11237341A JP H11237341 A JPH11237341 A JP H11237341A JP 5628298 A JP5628298 A JP 5628298A JP 5628298 A JP5628298 A JP 5628298A JP H11237341 A JPH11237341 A JP H11237341A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 １次選別においては確実に着色粒と異物を感
知して取り除き２次選別においては確実に不着色粒だけ
を１次側に返すことができるようにした粒状物色彩選別
方法の提供を提供する 【解決手段】 可視光センサー１２の信号は明るい粒子
の信号を検出するように、近赤外光センサー１３は穀物
以外の異物の信号を検出するようにそれぞれのコンパレ
ター１４，１５は設定してあり、コンパレータ１４の可
視光センサー１２側の出力信号は遅延回路１６を介して
ＮＡＮＤ回路１８に接続され、一方のコンパレータ１５
の近赤外光センサー１３側の出力信号はワンショット回
路１７を介してＮＡＮＤ回路１８に接続されており、こ
のＮＡＮＤ回路１８の出力信号はＡＮＤ回路１９に接続
され、このＡＮＤ回路１９には更に遅延回路１６の出力
信号が接続してある。
知して取り除き２次選別においては確実に不着色粒だけ
を１次側に返すことができるようにした粒状物色彩選別
方法の提供を提供する 【解決手段】 可視光センサー１２の信号は明るい粒子
の信号を検出するように、近赤外光センサー１３は穀物
以外の異物の信号を検出するようにそれぞれのコンパレ
ター１４，１５は設定してあり、コンパレータ１４の可
視光センサー１２側の出力信号は遅延回路１６を介して
ＮＡＮＤ回路１８に接続され、一方のコンパレータ１５
の近赤外光センサー１３側の出力信号はワンショット回
路１７を介してＮＡＮＤ回路１８に接続されており、こ
のＮＡＮＤ回路１８の出力信号はＡＮＤ回路１９に接続
され、このＡＮＤ回路１９には更に遅延回路１６の出力
信号が接続してある。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】流下させた粒状物をその色彩
等により選別する粒状物色彩選別方法であって、例えば
穀物（白米）から1 次選別によって着色粒と異物とを不
良品として選別し、２次選別によってこの不良品から良
品（白米）を選別する、２段階選別方式の粒状物色彩選
別方法に関する。
等により選別する粒状物色彩選別方法であって、例えば
穀物（白米）から1 次選別によって着色粒と異物とを不
良品として選別し、２次選別によってこの不良品から良
品（白米）を選別する、２段階選別方式の粒状物色彩選
別方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の粒状物色彩選別機を、石あるいは
ガラス等の異物が混入した白米を原料とした場合を例と
して図４により説明する。通常このような選別は１次選
別、２次選別として行われ、それぞれ白米中に含まれる
着色粒を感知するための受光センサ−と無機物を感知す
るための受光センサ−とを備えている。１次選別におい
ては原料白米中の着色粒と異物を不良品としてはじき出
して取り除く。ここで１次不良品には良品となるべき白
米が多く含まれており、この白米を取り除くべく次の２
次選別が必要となる。１次不良品が原料となる２次選別
では１次選別の不良品から更に着色粒と異物を不良品と
してはじき出して取り除き、残された白米が１次選別の
原料に返される。
ガラス等の異物が混入した白米を原料とした場合を例と
して図４により説明する。通常このような選別は１次選
別、２次選別として行われ、それぞれ白米中に含まれる
着色粒を感知するための受光センサ−と無機物を感知す
るための受光センサ−とを備えている。１次選別におい
ては原料白米中の着色粒と異物を不良品としてはじき出
して取り除く。ここで１次不良品には良品となるべき白
米が多く含まれており、この白米を取り除くべく次の２
次選別が必要となる。１次不良品が原料となる２次選別
では１次選別の不良品から更に着色粒と異物を不良品と
してはじき出して取り除き、残された白米が１次選別の
原料に返される。
【０００３】ただしこの場合の２次選別の原料は、不良
品混入率が５０％程度までに対応できる。 それは不良品
濃度がこれ以上高いと、２次選別における不良品をはじ
き出す動作が頻繁となり、例えばこの動作に高速応答可
能な圧縮空気を吹き付けるエジェクタを使用したものに
おいては、濃度の高い不良品を排除するために常に噴射
状態となり、的確な選別ができなくなる。 したがって、
不良品混入率が５０％を超える２次選別原料の場合は、
不良品中の良品つまり白米をはじき出す手法が取られる
のが通常である。 この例を図５に示す 図５においては、図４と同様に１次選別、２次選別とし
て行われ構成も変わらない。１次選別においては原料白
米中の着色粒と異物を不良品としてはじき出して取り除
く。ここでも１次不良品には良品となるべき白米が含ま
れており、この白米を取り除くべく次の２次選別が必要
となる。図４と異なるところは１次不良品が原料となる
２次選別では１次選別の不良品から更に良品である白米
を良品としてはじき出して取り除き、はじき出された白
米を１次選別の原料に返すようにしたものである。２次
原料の不良品混入率が５０％を超える場合はその原料
中、混入率の少ない側、つまり白米をはじき出すことが
適切な手法となる。 これはもともと原料の不良品混入率
が高いか、１次選別における不良品除去率が高いかによ
って発生するものである。
品混入率が５０％程度までに対応できる。 それは不良品
濃度がこれ以上高いと、２次選別における不良品をはじ
き出す動作が頻繁となり、例えばこの動作に高速応答可
能な圧縮空気を吹き付けるエジェクタを使用したものに
おいては、濃度の高い不良品を排除するために常に噴射
状態となり、的確な選別ができなくなる。 したがって、
不良品混入率が５０％を超える２次選別原料の場合は、
不良品中の良品つまり白米をはじき出す手法が取られる
のが通常である。 この例を図５に示す 図５においては、図４と同様に１次選別、２次選別とし
て行われ構成も変わらない。１次選別においては原料白
米中の着色粒と異物を不良品としてはじき出して取り除
く。ここでも１次不良品には良品となるべき白米が含ま
れており、この白米を取り除くべく次の２次選別が必要
となる。図４と異なるところは１次不良品が原料となる
２次選別では１次選別の不良品から更に良品である白米
を良品としてはじき出して取り除き、はじき出された白
米を１次選別の原料に返すようにしたものである。２次
原料の不良品混入率が５０％を超える場合はその原料
中、混入率の少ない側、つまり白米をはじき出すことが
適切な手法となる。 これはもともと原料の不良品混入率
が高いか、１次選別における不良品除去率が高いかによ
って発生するものである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところが図５のような
構成の場合、受光センサ−は白米のような明るい白米を
感知するセンサ−と無機物を感知する受光センサ−とな
るから、２次選別側では白米が通過した場合には白米と
して感知されるだけで上手くはじき出されるが、無機物
であるガラス等が通過した場合は穀物より明るいため白
米受光センサ−では白米のように明るいものとして良品
側にはじかれてしまう。つまり、２次側では白米と、白
米と同等かそれ以上の明るさを持つものはすべてはじき
出されてしまうことになる。
構成の場合、受光センサ−は白米のような明るい白米を
感知するセンサ−と無機物を感知する受光センサ−とな
るから、２次選別側では白米が通過した場合には白米と
して感知されるだけで上手くはじき出されるが、無機物
であるガラス等が通過した場合は穀物より明るいため白
米受光センサ−では白米のように明るいものとして良品
側にはじかれてしまう。つまり、２次側では白米と、白
米と同等かそれ以上の明るさを持つものはすべてはじき
出されてしまうことになる。
【０００５】このことは白米以外のものがはじかれてし
まうということだけでなく、着色粒が１次原料として返
されること以上に、こうした穀物以外の異物が１次原料
に何度も返され機外に出されることなく残留することは
避けるべきであり、できうる限り２次選別においては、
白米だけをはじき出す動作としておきたい。
まうということだけでなく、着色粒が１次原料として返
されること以上に、こうした穀物以外の異物が１次原料
に何度も返され機外に出されることなく残留することは
避けるべきであり、できうる限り２次選別においては、
白米だけをはじき出す動作としておきたい。
【０００６】従来例の着色粒と異物を同時に選別可能に
した色彩選別方法において、２次側で白米をはじき出す
ことは不可能であり、 ２次側原料の不良品の混入率が高
くても、２次側の処理流量を低下させて着色粒をはじき
出しているのが現状であり、選別精度の低下にともない
２次側の処理能力が向上せず、２次側処理能力に合わせ
た１次側の設計もしくは２次側の大型化を招いていた。 以上のことから、１次選別においては確実に着色粒と異
物を感知して取り除き２次選別においては確実に白米だ
けを１次側に返すことができる粒状物色彩選別方法の提
供を技術的課題とする。
した色彩選別方法において、２次側で白米をはじき出す
ことは不可能であり、 ２次側原料の不良品の混入率が高
くても、２次側の処理流量を低下させて着色粒をはじき
出しているのが現状であり、選別精度の低下にともない
２次側の処理能力が向上せず、２次側処理能力に合わせ
た１次側の設計もしくは２次側の大型化を招いていた。 以上のことから、１次選別においては確実に着色粒と異
物を感知して取り除き２次選別においては確実に白米だ
けを１次側に返すことができる粒状物色彩選別方法の提
供を技術的課題とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明では前記課題を解
決するために、流下する粒状物の反射光あるいは透過光
を受光して、該受光した粒状物光量と任意のしきい値と
の比較により、前記粒状物を選別する粒状物色彩選別方
法において、流下する原料粒状物の着色に対応した光を
受光する第1 受光手段と、流下する原料粒状物の無機質
に対応した光を受光する第２受光手段とを有し、前記第
１受光手段による着色反応信号または第２受光手段によ
る無機質反応信号とにより、前記粒状物を不良品粒状物
として選別する第１次選別過程と、該第１次選別により
選別された不良品粒状物を流下させ、流下する不良品粒
状物の不着色に対応した光を受光する第３受光手段と、
流下する不良品粒状物の無機質に対応した光を受光する
第４受光手段とを有し、第３受光手段による不着色反応
信号により不着色粒状物を選別する過程において、同一
粒状物から不着色に対応した光を第３受光手段が受光す
るとともに同一粒状物から無機質に対応した光を第４受
光手段が受光したとき、第４受光手段による無機質反応
信号を前記第３受光手段の不着色反応信号のキャンセル
信号とする第２次選別過程とからなる粒状物色彩選別方
法とした。
決するために、流下する粒状物の反射光あるいは透過光
を受光して、該受光した粒状物光量と任意のしきい値と
の比較により、前記粒状物を選別する粒状物色彩選別方
法において、流下する原料粒状物の着色に対応した光を
受光する第1 受光手段と、流下する原料粒状物の無機質
に対応した光を受光する第２受光手段とを有し、前記第
１受光手段による着色反応信号または第２受光手段によ
る無機質反応信号とにより、前記粒状物を不良品粒状物
として選別する第１次選別過程と、該第１次選別により
選別された不良品粒状物を流下させ、流下する不良品粒
状物の不着色に対応した光を受光する第３受光手段と、
流下する不良品粒状物の無機質に対応した光を受光する
第４受光手段とを有し、第３受光手段による不着色反応
信号により不着色粒状物を選別する過程において、同一
粒状物から不着色に対応した光を第３受光手段が受光す
るとともに同一粒状物から無機質に対応した光を第４受
光手段が受光したとき、第４受光手段による無機質反応
信号を前記第３受光手段の不着色反応信号のキャンセル
信号とする第２次選別過程とからなる粒状物色彩選別方
法とした。
【０００８】１次選別ではこれまでどおり、第１受光手
段による着色反応信号または第２受光手段による無機質
反応信号とのいずれかの信号によって前記粒状物を不良
品粒状物として選別することができる。 本発明の２次選別では、同一粒状物から不着色に対応し
た光を第３受光手段が受光するとともに同一粒状物から
無機質に対応した光を第４受光手段が受光したとき、第
４受光手段による無機質反応信号を前記第３受光手段の
不着色反応信号のキャンセル信号としたので、第３受光
手段によって不着色反応信号を受光した粒状物であって
も、同一粒状物から第４受光手段が無機質反応信号を受
けていれば、その粒状物は不着色粒ではなく無機質粒で
あるとして、第３受光手段による不着色反応信号をキャ
ンセルするので無機物粒を不着色粒と見誤ってはじき出
すことがなくなった。つまり、第３受光手段によって不
着色反応信号が受光され且つ第４受光手段によって無機
質反応信号が受光されていないときにのみ不着色粒とし
てはじき出されるものとなった。
段による着色反応信号または第２受光手段による無機質
反応信号とのいずれかの信号によって前記粒状物を不良
品粒状物として選別することができる。 本発明の２次選別では、同一粒状物から不着色に対応し
た光を第３受光手段が受光するとともに同一粒状物から
無機質に対応した光を第４受光手段が受光したとき、第
４受光手段による無機質反応信号を前記第３受光手段の
不着色反応信号のキャンセル信号としたので、第３受光
手段によって不着色反応信号を受光した粒状物であって
も、同一粒状物から第４受光手段が無機質反応信号を受
けていれば、その粒状物は不着色粒ではなく無機質粒で
あるとして、第３受光手段による不着色反応信号をキャ
ンセルするので無機物粒を不着色粒と見誤ってはじき出
すことがなくなった。つまり、第３受光手段によって不
着色反応信号が受光され且つ第４受光手段によって無機
質反応信号が受光されていないときにのみ不着色粒とし
てはじき出されるものとなった。
【０００９】
【発明の実施の形態】さて本発明では１次選別と２次選
別とを備える粒状物色彩選別機について説明するが、 １
次選別と２次選別に使用される粒状物色彩選別機の構成
は処理量の違いはあるが構成において同等とみることが
できるので１つの粒状物色彩選別機の説明のみ行う。
別とを備える粒状物色彩選別機について説明するが、 １
次選別と２次選別に使用される粒状物色彩選別機の構成
は処理量の違いはあるが構成において同等とみることが
できるので１つの粒状物色彩選別機の説明のみ行う。
【００１０】本発明に係る粒状物色彩選別機１の一例に
ついて図１において説明する。図1に示すものは粒状物
色彩選別機１の光学部分を中心とした要部断面図であ
る。ここには原料を案内するシュ−ト２と、光学検出部
３ａ，３ｂと、不良品と良品とを選別区分する噴射ノズ
ル部４と、光学検出部３の出力信号に基づいて噴射ノズ
ル部４の噴射を制御する制御部５とを備えている。
ついて図１において説明する。図1に示すものは粒状物
色彩選別機１の光学部分を中心とした要部断面図であ
る。ここには原料を案内するシュ−ト２と、光学検出部
３ａ，３ｂと、不良品と良品とを選別区分する噴射ノズ
ル部４と、光学検出部３の出力信号に基づいて噴射ノズ
ル部４の噴射を制御する制御部５とを備えている。
【００１１】光学検出部３ａ，３ｂは原料Ｇがシュ−ト
２の下方終端から落下する落下軌跡を挟んでその両側に
配置されており、それぞれの光学検出部３にはハロゲン
ランプ６と蛍光灯７とバックグランド８及び受光部９と
が備えられている。更にそれぞれの受光部９には集光レ
ンズ１０と光学フィルタ１１と可視光センサ−（着色粒
子検出用）１２ａ，１２ｂと、近赤外光センサ−（異物
検出用）１３ａ，１３ｂとが備えられている。各受光部
９ａ，９ｂは原料Ｇの落下軌跡上にある光学検出位置Ｐ
からの光を受光するように配置してある。
２の下方終端から落下する落下軌跡を挟んでその両側に
配置されており、それぞれの光学検出部３にはハロゲン
ランプ６と蛍光灯７とバックグランド８及び受光部９と
が備えられている。更にそれぞれの受光部９には集光レ
ンズ１０と光学フィルタ１１と可視光センサ−（着色粒
子検出用）１２ａ，１２ｂと、近赤外光センサ−（異物
検出用）１３ａ，１３ｂとが備えられている。各受光部
９ａ，９ｂは原料Ｇの落下軌跡上にある光学検出位置Ｐ
からの光を受光するように配置してある。
【００１２】可視光センサ−１２はシリコンフォトセン
サ−やＣＣＤラインセンサ−などが用いられており、近
赤外光センサ−１３にはゲルマニウムフォトセンサ−や
ＩｎＧａＡｓアレイセンサ−などが用いられている。更
にセンサ−の配置については、本実施例のようにセンサ
−を重ねた特殊な構造にしたものや、センサ−それぞれ
を独立配置するものなど、実用に即した形態とすること
ができる。これらセンサ−は、主に可視光センサ−にお
いては蛍光灯の照明による粒状物の反射光や透過光を受
光し、主に近赤外光センサ−においてはハロゲンランプ
の照明による粒状物の反射光や透過光を受光するもので
ある。
サ−やＣＣＤラインセンサ−などが用いられており、近
赤外光センサ−１３にはゲルマニウムフォトセンサ−や
ＩｎＧａＡｓアレイセンサ−などが用いられている。更
にセンサ−の配置については、本実施例のようにセンサ
−を重ねた特殊な構造にしたものや、センサ−それぞれ
を独立配置するものなど、実用に即した形態とすること
ができる。これらセンサ−は、主に可視光センサ−にお
いては蛍光灯の照明による粒状物の反射光や透過光を受
光し、主に近赤外光センサ−においてはハロゲンランプ
の照明による粒状物の反射光や透過光を受光するもので
ある。
【００１３】以上のような構成において、粒状物が穀粒
である白米を例に説明すると、 各受光部９それぞれの着
色粒センサ−１２に受光された信号は、１次選別におい
てはコンパレ−タ（比較器）に着色粒のしきい値が設定
され受光信号が着色粒のレベルを超えたときにコンパレ
−タから信号が出力され、２次選別においてはコンパレ
−タに白色粒のしきい値が設定され受光信号がこの白色
粒のレベルを超えたときにコンパレ−タから信号が出力
される。
である白米を例に説明すると、 各受光部９それぞれの着
色粒センサ−１２に受光された信号は、１次選別におい
てはコンパレ−タ（比較器）に着色粒のしきい値が設定
され受光信号が着色粒のレベルを超えたときにコンパレ
−タから信号が出力され、２次選別においてはコンパレ
−タに白色粒のしきい値が設定され受光信号がこの白色
粒のレベルを超えたときにコンパレ−タから信号が出力
される。
【００１４】近赤外光センサ−１３により受光された信
号は、１次選別および２次選別ともに、コンパレ−タに
近赤外領域で穀物と大きく異なる石やガラスなどの信号
に対してしきい値が設定され受光信号がこれら石やガラ
スなど異物対して設定されたしきい値を超えたときにコ
ンパレ−タから信号が出力される。
号は、１次選別および２次選別ともに、コンパレ−タに
近赤外領域で穀物と大きく異なる石やガラスなどの信号
に対してしきい値が設定され受光信号がこれら石やガラ
スなど異物対して設定されたしきい値を超えたときにコ
ンパレ−タから信号が出力される。
【００１５】このようにして、１次選別においては第１
受光手段となる可視光センサ−により白米中の着色粒の
光を受光したときに制御部５は噴射ノズル部４を作動さ
せて着色粒を排除し、第２受光手段となる近赤外光セン
サ−により白米中の異物の光を受光したときに制御部５
は噴射ノズル部４を作動させて異物を排除するものであ
る。
受光手段となる可視光センサ−により白米中の着色粒の
光を受光したときに制御部５は噴射ノズル部４を作動さ
せて着色粒を排除し、第２受光手段となる近赤外光セン
サ−により白米中の異物の光を受光したときに制御部５
は噴射ノズル部４を作動させて異物を排除するものであ
る。
【００１６】また２次選別においては、１次選別後の着
色粒と異物と若干の白米とからなる１次不良品を原料と
して、本実施例の場合白米を抜き取る選別を行うので、
第３受光手段となる可視光センサ−により白米粒の光を
受光したときに制御部５は噴射ノズル部４を作動させて
白米粒を排除し、第４受光手段となる近赤外光センサ−
により異物の光を受光しても制御部５は噴射ノズル部４
を作動させないで異物を通過させるものである。ところ
が２この２次選別の場合、可視光センサ−は白米粒だけ
でなく異物であるガラス等の比較的明るい異物の光も受
光して白米粒と同等にコンパレ−タが判断するので、こ
れらも白米粒と同じように排除してしまう。この２次選
別で排除されたものは再び１次選別の原料に返されるこ
とになり、本願ではこのガラス等の明るい異物が含まれ
ないようにした。
色粒と異物と若干の白米とからなる１次不良品を原料と
して、本実施例の場合白米を抜き取る選別を行うので、
第３受光手段となる可視光センサ−により白米粒の光を
受光したときに制御部５は噴射ノズル部４を作動させて
白米粒を排除し、第４受光手段となる近赤外光センサ−
により異物の光を受光しても制御部５は噴射ノズル部４
を作動させないで異物を通過させるものである。ところ
が２この２次選別の場合、可視光センサ−は白米粒だけ
でなく異物であるガラス等の比較的明るい異物の光も受
光して白米粒と同等にコンパレ−タが判断するので、こ
れらも白米粒と同じように排除してしまう。この２次選
別で排除されたものは再び１次選別の原料に返されるこ
とになり、本願ではこのガラス等の明るい異物が含まれ
ないようにした。
【００１７】
【実施例】次にこれをどのように処理するかを図２によ
り示す。可視光センサ−１２の信号は明るい粒子の信号
を検出するように、近赤外光センサ−１３は穀物以外の
異物の信号を検出するようにそれぞれのコンパレタ−１
４，１５は設定してある。コンパレ−タ１４の可視光セ
ンサ−１２側の出力信号は遅延回路１６を介してＮＡＮ
Ｄ回路１８に接続されている。一方のコンパレ−タ１５
の近赤外光センサ−１３側の出力信号はワンショット回
路１７を介してＮＡＮＤ回路１８に接続されている。こ
のＮＡＮＤ回路１８の出力信号はＡＮＤ回路１９に接続
され、このＡＮＤ回路１９には更に遅延回路１６の出力
信号が接続してある。 この回路では、可視光センサ−１２側のコンパレ−タ１
４のみ信号が出力された場合だけ噴射ノズル部４を作動
させる信号が出力されるものとなる。つまり、コンパレ
−タ１４とコンパレ−タ１５との両方から信号が出力さ
れた場合や、コンパレ−タ１５だけから出力された場合
あるいはいずれのコンパレ−タからも出力がなされなか
った場合には噴射ノズル部４を作動させる信号は出力さ
れ. ない。これをマトリクスで示すと表１のようにな
る。
り示す。可視光センサ−１２の信号は明るい粒子の信号
を検出するように、近赤外光センサ−１３は穀物以外の
異物の信号を検出するようにそれぞれのコンパレタ−１
４，１５は設定してある。コンパレ−タ１４の可視光セ
ンサ−１２側の出力信号は遅延回路１６を介してＮＡＮ
Ｄ回路１８に接続されている。一方のコンパレ−タ１５
の近赤外光センサ−１３側の出力信号はワンショット回
路１７を介してＮＡＮＤ回路１８に接続されている。こ
のＮＡＮＤ回路１８の出力信号はＡＮＤ回路１９に接続
され、このＡＮＤ回路１９には更に遅延回路１６の出力
信号が接続してある。 この回路では、可視光センサ−１２側のコンパレ−タ１
４のみ信号が出力された場合だけ噴射ノズル部４を作動
させる信号が出力されるものとなる。つまり、コンパレ
−タ１４とコンパレ−タ１５との両方から信号が出力さ
れた場合や、コンパレ−タ１５だけから出力された場合
あるいはいずれのコンパレ−タからも出力がなされなか
った場合には噴射ノズル部４を作動させる信号は出力さ
れ. ない。これをマトリクスで示すと表１のようにな
る。
【００１８】
【表１】 これは、表１ＮＯ．４のパタ−ンに顕著なように、可視
光センサ−１２が白米粒を検出して近赤外光センサ−１
３が異物を検出した場合には、ガラスを検出しているこ
とが判明するが、このとき近赤外光センサ−１３側のコ
ンパレ−タ１５の出力が常にキャンセル信号として働く
ように回路が構成されているため、この場合の可視光セ
ンサ−１２側のコンパレ−タ１４の出力はキャンセルさ
れて、噴射ノズル部４を作動させる信号は出力されな
い。
光センサ−１２が白米粒を検出して近赤外光センサ−１
３が異物を検出した場合には、ガラスを検出しているこ
とが判明するが、このとき近赤外光センサ−１３側のコ
ンパレ−タ１５の出力が常にキャンセル信号として働く
ように回路が構成されているため、この場合の可視光セ
ンサ−１２側のコンパレ−タ１４の出力はキャンセルさ
れて、噴射ノズル部４を作動させる信号は出力されな
い。
【００１９】したがって、２次側選別において多くの着
色粒と異物の中から比較的少ない量の白米粒を検出し
て、的確に噴射ノズル部４を作動させることができるよ
うになった。 図３により信号処理のパタ−ンについて説明する。 図３
にふられたＮＯ．は表１の同ＮＯ．と同じパタ−ンであ
ることを示している。ここではＮＯ．４のパタ−ンでキ
ャンセル回路を説明する。これは可視光センサ−１２側
のコンパレ−タ回路１４と近赤外光センサ−１３側のコ
ンパレ−タ回路１５との両方から信号が出力された場合
である。コンパレタ−１４側の信号は遅延回路１６によ
り遅延され、他方のコンパレ−タ１５側の信号はワンシ
ョット回路１７により信号が規定の信号に変換されてい
る。ここで遅延回路１６の出力信号はワンショット回路
１７の信号幅内に収まっており、この２つの信号がＮＡ
ＮＤ回路１８とＡＮＤ回路１９を通過した場合、何ら信
号は出力されない。つまり、 可視光センサ−１２側で明
るい粒として検出しても、近赤外光センサ−１３側で異
物として検出していれば、可視光センサ−１２側の信号
はキャンセルされることになる。ここではパラ−ンＮ
Ｏ．３の場合のみこの回路から排除信号が出力されるも
のとなっている。
色粒と異物の中から比較的少ない量の白米粒を検出し
て、的確に噴射ノズル部４を作動させることができるよ
うになった。 図３により信号処理のパタ−ンについて説明する。 図３
にふられたＮＯ．は表１の同ＮＯ．と同じパタ−ンであ
ることを示している。ここではＮＯ．４のパタ−ンでキ
ャンセル回路を説明する。これは可視光センサ−１２側
のコンパレ−タ回路１４と近赤外光センサ−１３側のコ
ンパレ−タ回路１５との両方から信号が出力された場合
である。コンパレタ−１４側の信号は遅延回路１６によ
り遅延され、他方のコンパレ−タ１５側の信号はワンシ
ョット回路１７により信号が規定の信号に変換されてい
る。ここで遅延回路１６の出力信号はワンショット回路
１７の信号幅内に収まっており、この２つの信号がＮＡ
ＮＤ回路１８とＡＮＤ回路１９を通過した場合、何ら信
号は出力されない。つまり、 可視光センサ−１２側で明
るい粒として検出しても、近赤外光センサ−１３側で異
物として検出していれば、可視光センサ−１２側の信号
はキャンセルされることになる。ここではパラ−ンＮ
Ｏ．３の場合のみこの回路から排除信号が出力されるも
のとなっている。
【００２０】
【発明の効果】粒状物色彩選別機は、受光センサ−によ
る受光能力の向上や噴射ノズル等による選別精度の向上
により、１次選別の選別精度は大きく向上してきたが、
１次選別後の不良品を原料とする２次選別においては、
原料に含まれる不良品( 石、ガラス、着色粒）の含有率
が高くなり、これまでの２次選別で行われてきた２次選
別での不良品の排除は、噴射ノズル等の噴射装置の駆動
回数が多くなり、噴射装置の応答が連動せず的確に排除
できなくなっていた。しかし、本発明によりいままで困
難であった２次選別原料に比較的少ない量となっている
良品（白米粒）をガラスと区別して排除できるようにな
ったので、２次選別における噴射ノズルの噴射回数が減
少して噴射装置が的確に応答できるようになった。この
ことにより２次選別でも的確な選別が可能となり、よっ
て１次選別のチャンネル数を増加させ処理量を増加させ
ることができ、逆に２次選別においては装置を小型化す
ることも可能であり、いずれにしても装置の小型化ある
いは処理能力を向上させることができるようになった。
る受光能力の向上や噴射ノズル等による選別精度の向上
により、１次選別の選別精度は大きく向上してきたが、
１次選別後の不良品を原料とする２次選別においては、
原料に含まれる不良品( 石、ガラス、着色粒）の含有率
が高くなり、これまでの２次選別で行われてきた２次選
別での不良品の排除は、噴射ノズル等の噴射装置の駆動
回数が多くなり、噴射装置の応答が連動せず的確に排除
できなくなっていた。しかし、本発明によりいままで困
難であった２次選別原料に比較的少ない量となっている
良品（白米粒）をガラスと区別して排除できるようにな
ったので、２次選別における噴射ノズルの噴射回数が減
少して噴射装置が的確に応答できるようになった。この
ことにより２次選別でも的確な選別が可能となり、よっ
て１次選別のチャンネル数を増加させ処理量を増加させ
ることができ、逆に２次選別においては装置を小型化す
ることも可能であり、いずれにしても装置の小型化ある
いは処理能力を向上させることができるようになった。
【図1 】本発明に係る粒状物色彩選別機の要部側断面図
である。
である。
【図２】本発明を実現した信号処理のブロック図であ
る。
る。
【図３】本発明に係る信号処理回路による信号処理を示
した図である。
した図である。
【図４】従来の粒状物色彩選別機の１次２次選別を示し
たフロ−図である。
たフロ−図である。
【図５】従来の粒状物色彩選別機の１次２次選別を示し
たフロ−図である。
たフロ−図である。
【符号の説明】 １ 粒状物色彩選別機 ２ シュ−ト ３ 光学検出部 ４ 噴射ノズル部 ５ 制御部 ６ ハロゲンランプ ７ 蛍光灯 ８ バックグランド ９ 受光部 １０ 集光レンズ １１ 光学フィルタ１１ １２ 可視光センサ−（着色粒子検出用） １３ 近赤外光センサ−（異物検出用） １４ コンパレ−タ １５ コンパレ−タ １６ 遅延回路 １７ ワンショット回路 １８ ＮＡＮＤ回路 １９ ＡＮＤ回路
【手続補正書】
【提出日】平成１０年３月２０日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００３
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００３】ただしこの場合の２次選別の原料は、不良
品混入率が５０％程度まで対応できる。それは不良品濃
度がこれ以上高いと、２次選別における不良品をはじき
出す動作が頻繁となり、例えばこの動作に高速応答可能
な圧縮空気を吹き付けるエジェクタを使用したものにお
いては、濃度の高い不良品を排除するために常に噴射状
態となり、的確な選別ができなくなる。したがって、不
良品混入率が５０％を超える２次選別原料の場合は、不
良品中の良品つまり白米をはじき出す手法が取られるの
が通常である。この例を図５に示す 図５においては、図４と同様に１次選別、２次選別とし
て行われ構成も変わらない。１次選別においては原料白
米中の着色粒と異物を不良品としてはじき出して取り除
く。ここでも１次不良品には良品となるべき白米が含ま
れており、この白米を取り除くべく次の２次選別が必要
となる。図４と異なるところは１次不良品が原料となる
２次選別では１次選別の不良品から更に良品である白米
を良品としてはじき出して取り除き、はじき出された白
米を１次選別の原料に返すようにしたものである。２次
原料の不良品混入率が５０％を超える場合はその原料
中、混入率の少ない側、つまり白米をはじき出すことが
適切な手法となる。これはもともと原料の不良品混入率
が高いか、１次選別における不良品除去率が高いかによ
って発生するものである。
品混入率が５０％程度まで対応できる。それは不良品濃
度がこれ以上高いと、２次選別における不良品をはじき
出す動作が頻繁となり、例えばこの動作に高速応答可能
な圧縮空気を吹き付けるエジェクタを使用したものにお
いては、濃度の高い不良品を排除するために常に噴射状
態となり、的確な選別ができなくなる。したがって、不
良品混入率が５０％を超える２次選別原料の場合は、不
良品中の良品つまり白米をはじき出す手法が取られるの
が通常である。この例を図５に示す 図５においては、図４と同様に１次選別、２次選別とし
て行われ構成も変わらない。１次選別においては原料白
米中の着色粒と異物を不良品としてはじき出して取り除
く。ここでも１次不良品には良品となるべき白米が含ま
れており、この白米を取り除くべく次の２次選別が必要
となる。図４と異なるところは１次不良品が原料となる
２次選別では１次選別の不良品から更に良品である白米
を良品としてはじき出して取り除き、はじき出された白
米を１次選別の原料に返すようにしたものである。２次
原料の不良品混入率が５０％を超える場合はその原料
中、混入率の少ない側、つまり白米をはじき出すことが
適切な手法となる。これはもともと原料の不良品混入率
が高いか、１次選別における不良品除去率が高いかによ
って発生するものである。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００４
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところが図５のような
構成の場合、受光センサーは白米のような明るい白米を
感知するセンサーと無機物を感知する受光センサーとか
らなるので、２次選別側では白米が通過した場合には白
米として感知されるだけで上手くはじき出されるが、無
機物であるガラス等が通過した場合は穀物より明るいた
め白米受光センサーでは白米のように明るいものとして
良品側にはじかれてしまう。つまり、２次側では白米
と、白米と同等かそれ以上の明るさを持つものはすべて
はじき出されてしまうことになる。
構成の場合、受光センサーは白米のような明るい白米を
感知するセンサーと無機物を感知する受光センサーとか
らなるので、２次選別側では白米が通過した場合には白
米として感知されるだけで上手くはじき出されるが、無
機物であるガラス等が通過した場合は穀物より明るいた
め白米受光センサーでは白米のように明るいものとして
良品側にはじかれてしまう。つまり、２次側では白米
と、白米と同等かそれ以上の明るさを持つものはすべて
はじき出されてしまうことになる。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１４】近赤外光センサー１３により受光された信
号は、１次選別および２次選別ともに、コンパレータに
近赤外領域で穀物と大きく異なる石やガラスなどの信号
に対してしきい値が設定され受光信号がこれら石やガラ
スなど異物に対して設定されたしきい値を超えたときに
コンパレータから信号が出力される。
号は、１次選別および２次選別ともに、コンパレータに
近赤外領域で穀物と大きく異なる石やガラスなどの信号
に対してしきい値が設定され受光信号がこれら石やガラ
スなど異物に対して設定されたしきい値を超えたときに
コンパレータから信号が出力される。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１６】また２次選別においては、１次選別後の着
色粒と異物と若干の白米とからなる１次不良品を原料と
して、本実施例の場合白米を抜き取る選別を行うので、
第３受光手段となる可視光センサーにより白米粒の光を
受光したときに制御部５は噴射ノズル部４を作動させて
白米粒を排除し、第４受光手段となる近赤外光センサー
により異物の光を受光しても制御部５は噴射ノズル部４
を作動させないで異物を通過させるものである。ところ
がこの２次選別の場合、可視光センサーは白米粒だけで
なく異物であるガラス等の比較的明るい異物の光も受光
して白米粒と同等にコンパレータが判断するので、これ
らも白米粒と同じように排除してしまう。この２次選別
で排除されたものは再び１次選別の原料に返されること
になり、本願ではこのガラス等の明るい異物が含まれな
いようにした。
色粒と異物と若干の白米とからなる１次不良品を原料と
して、本実施例の場合白米を抜き取る選別を行うので、
第３受光手段となる可視光センサーにより白米粒の光を
受光したときに制御部５は噴射ノズル部４を作動させて
白米粒を排除し、第４受光手段となる近赤外光センサー
により異物の光を受光しても制御部５は噴射ノズル部４
を作動させないで異物を通過させるものである。ところ
がこの２次選別の場合、可視光センサーは白米粒だけで
なく異物であるガラス等の比較的明るい異物の光も受光
して白米粒と同等にコンパレータが判断するので、これ
らも白米粒と同じように排除してしまう。この２次選別
で排除されたものは再び１次選別の原料に返されること
になり、本願ではこのガラス等の明るい異物が含まれな
いようにした。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１７
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１７】
【実施例】次にこれをどのように処理するかを図２によ
り示す。この場合、図２は２次選別における信号処理回
路として説明する。可視光センサー１２の信号は明るい
粒子の信号を検出するように、近赤外光センサー１３は
穀物以外の異物の信号を検出するように、それぞれのコ
ンパレター１４，１５は設定してある。コンパレータ１
４の可視光センサー１２側の出力信号は遅延回路１６を
介してＮＡＮＤ回路１８に接続されている。一方のコン
パレータ１５の近赤外光センサー１３側の出力信号はワ
ンショット回路１７を介してＮＡＮＤ回路１８に接続さ
れている。このＮＡＮＤ回路１８の出力信号はＡＮＤ回
路１９に接続され、このＡＮＤ回路１９には更に遅延回
路１６の出力信号が接続してある。この回路では、可視
光センサー１２側のコンパレータ１４のみ信号が出力さ
れた場合だけ噴射ノズル部４を作動させる信号が出力さ
れるものとなる。つまり、コンパレータ１４とコンパレ
ータ１５との両方から信号が出力された場合や、コンパ
レータ１５だけから出力された場合あるいはいずれのコ
ンパレータからも出力がなされなかった場合には噴射ノ
ズル部４を作動させる信号は出力されない。これをマト
リクスで示すと表１のようになる。
り示す。この場合、図２は２次選別における信号処理回
路として説明する。可視光センサー１２の信号は明るい
粒子の信号を検出するように、近赤外光センサー１３は
穀物以外の異物の信号を検出するように、それぞれのコ
ンパレター１４，１５は設定してある。コンパレータ１
４の可視光センサー１２側の出力信号は遅延回路１６を
介してＮＡＮＤ回路１８に接続されている。一方のコン
パレータ１５の近赤外光センサー１３側の出力信号はワ
ンショット回路１７を介してＮＡＮＤ回路１８に接続さ
れている。このＮＡＮＤ回路１８の出力信号はＡＮＤ回
路１９に接続され、このＡＮＤ回路１９には更に遅延回
路１６の出力信号が接続してある。この回路では、可視
光センサー１２側のコンパレータ１４のみ信号が出力さ
れた場合だけ噴射ノズル部４を作動させる信号が出力さ
れるものとなる。つまり、コンパレータ１４とコンパレ
ータ１５との両方から信号が出力された場合や、コンパ
レータ１５だけから出力された場合あるいはいずれのコ
ンパレータからも出力がなされなかった場合には噴射ノ
ズル部４を作動させる信号は出力されない。これをマト
リクスで示すと表１のようになる。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１９】したがって、２次側選別において多くの着
色粒と異物の中から比較的少ない量の白米粒を検出し
て、的確に噴射ノズル部４を作動させることができるよ
うになった。図３により信号処理のパターンについて説
明する。図３にふられたＮＯ．は表１の同ＮＯ．と同じ
パターンであることを示している。ここではＮＯ．４の
パターンでキャンセル回路を説明する。これは可視光セ
ンサー１２側のコンパレータ回路１４と近赤外光センサ
ー１３側のコンパレータ回路１５との両方から信号が出
力された場合である。コンパレター１４側の信号は遅延
回路１６により遅延され、他方のコンパレータ１５側の
信号はワンショット回路１７により信号が規定の信号に
変換されている。この変換は例えばオフディレイ処理で
ある。ここで遅延回路１６の出力信号はワンショット回
路１７の信号幅内に収まっており、この２つの信号がＮ
ＡＮＤ回路１８とＡＮＤ回路１９を通過した場合、何ら
信号は出力されない。つまり、可視光センサー１２側で
明るい粒として検出しても、近赤外光センサー１３側で
異物として検出していれば、可視光センサー１２側の信
号はキャンセルされることになる。ここではパターンＮ
Ｏ．３の場合のみこの回路から排除信号が出力されるも
のとなっている。
色粒と異物の中から比較的少ない量の白米粒を検出し
て、的確に噴射ノズル部４を作動させることができるよ
うになった。図３により信号処理のパターンについて説
明する。図３にふられたＮＯ．は表１の同ＮＯ．と同じ
パターンであることを示している。ここではＮＯ．４の
パターンでキャンセル回路を説明する。これは可視光セ
ンサー１２側のコンパレータ回路１４と近赤外光センサ
ー１３側のコンパレータ回路１５との両方から信号が出
力された場合である。コンパレター１４側の信号は遅延
回路１６により遅延され、他方のコンパレータ１５側の
信号はワンショット回路１７により信号が規定の信号に
変換されている。この変換は例えばオフディレイ処理で
ある。ここで遅延回路１６の出力信号はワンショット回
路１７の信号幅内に収まっており、この２つの信号がＮ
ＡＮＤ回路１８とＡＮＤ回路１９を通過した場合、何ら
信号は出力されない。つまり、可視光センサー１２側で
明るい粒として検出しても、近赤外光センサー１３側で
異物として検出していれば、可視光センサー１２側の信
号はキャンセルされることになる。ここではパターンＮ
Ｏ．３の場合のみこの回路から排除信号が出力されるも
のとなっている。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図面の簡単な説明
【補正方法】変更
【補正内容】
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る粒状物色彩選別機の要部側断面図
である。
である。
【図２】本発明を実現した信号処理のブロック図であ
る。
る。
【図３】本発明に係る信号処理回路による信号処理を示
した図である。
した図である。
【図４】従来の粒状物色彩選別機の１次２次選別を示し
たフロー図である。
たフロー図である。
【図５】従来の粒状物色彩選別機の１次２次選別を示し
たフロー図である。
たフロー図である。
【符号の説明】 １ 粒状物色彩選別機 ２ シュート ３ 光学検出部 ４ 噴射ノズル部 ５ 制御部 ６ ハロゲンランプ ７ 蛍光灯 ８ バックグランド ９ 受光部 １０ 集光レンズ １１ 光学フィルタ １２ 可視光センサー（着色粒子検出用） １３ 近赤外光センサー（異物検出用） １４ コンパレータ １５ コンパレータ １６ 遅延回路 １７ ワンショット回路 １８ ＮＡＮＤ回路 １９ ＡＮＤ回路
【手続補正９】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図３
【補正方法】変更
【補正内容】
【図３】
Claims (1)
- 【請求項１】流下する粒状物の反射光あるいは透過光を
受光して、該受光した粒状物光量と任意のしきい値との
比較により、前記粒状物を選別する粒状物色彩選別方法
において、流下する原料粒状物の着色に対応した光を受
光する第1 受光手段と、流下する原料粒状物の無機質に
対応した光を受光する第２受光手段とを有し、前記第１
受光手段による着色反応信号または第２受光手段による
無機質反応信号とにより、前記粒状物を不良品粒状物と
して選別する第１次選別過程と、 該第１次選別により選別された不良品粒状物を流下さ
せ、流下する不良品粒状物の不着色に対応した光を受光
する第３受光手段と、流下する不良品粒状物の無機質に
対応した光を受光する第４受光手段とを有し、第３受光
手段による不着色反応信号により不着色粒状物を選別す
る過程において、同一粒状物から不着色に対応した光を
第３受光手段が受光するとともに同一粒状物から無機質
に対応した光を第４受光手段が受光したとき、第４受光
手段による無機質反応信号を前記第３受光手段の不着色
反応信号のキャンセル信号とする第２次選別過程とから
なることを特徴とする粒状物色彩選別方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5628298A JPH11237341A (ja) | 1998-02-20 | 1998-02-20 | 粒状物色彩選別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5628298A JPH11237341A (ja) | 1998-02-20 | 1998-02-20 | 粒状物色彩選別方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11237341A true JPH11237341A (ja) | 1999-08-31 |
Family
ID=13022753
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5628298A Pending JPH11237341A (ja) | 1998-02-20 | 1998-02-20 | 粒状物色彩選別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11237341A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010253444A (ja) * | 2009-04-28 | 2010-11-11 | Satake Corp | 選別機における樹脂片の選別条件設定方法 |
| CN116748170A (zh) * | 2023-08-22 | 2023-09-15 | 江西省全南县石磊矿业有限责任公司 | 一种低品位萤石矿选装置及其方法 |
-
1998
- 1998-02-20 JP JP5628298A patent/JPH11237341A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010253444A (ja) * | 2009-04-28 | 2010-11-11 | Satake Corp | 選別機における樹脂片の選別条件設定方法 |
| CN116748170A (zh) * | 2023-08-22 | 2023-09-15 | 江西省全南县石磊矿业有限责任公司 | 一种低品位萤石矿选装置及其方法 |
| CN116748170B (zh) * | 2023-08-22 | 2023-11-24 | 江西省全南县石磊矿业有限责任公司 | 一种低品位萤石矿选装置及其方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20041201 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041213 |
|
| A521 | Written amendment |
Effective date: 20050114 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20050210 |