JP2000157936A - 粒状物選別方法及び粒状物選別装置 - Google Patents

粒状物選別方法及び粒状物選別装置

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JP2000157936A
JP2000157936A JP33712698A JP33712698A JP2000157936A JP 2000157936 A JP2000157936 A JP 2000157936A JP 33712698 A JP33712698 A JP 33712698A JP 33712698 A JP33712698 A JP 33712698A JP 2000157936 A JP2000157936 A JP 2000157936A
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JP33712698A
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Satoru Satake
覺 佐竹
Takeshi Fukumori
武 福森
Takafumi Ito
隆文 伊藤
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Satake Engineering Co Ltd
Original Assignee
Satake Engineering Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】不良品の中から異物を取り除く作業で時間を費
やしたり、そのために色彩選別装置とは別の新たな装置
を入れたりすることなく、別の作業となっていた不良品
と異物との分別を、従来の不良品・異物が選別可能な粒
状物色彩選別装置の構成を大きく変更することなく可能
とし、あるいはこれまでの装置にいくらか加えるだけで
実現可能とした。 【解決手段】選別対象物の良品・不良品とそれ以外の異
物とを含む被選別原料を移動させる供給装置3と、移動
する被選別原料に可視光と近赤外光とを照射する光学部
5と、被選別原料から得られる光情報を受光解析する制
御装置19と、CCDセンサー11で受光した可視光に
関する光情報の解析結果に基づいて被選別原料から不良
品を排除選別する電磁弁15とイジェクタ13と、NI
Rセンサー10で受光した近赤外光に関する光情報の解
析結果に基づいて被選別原料から異物を排除選別する電
磁弁14とイジェクタ12と、を備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】被選別原料に光を照射して得
られる反射光や透過光などの光情報を解析して、被選別
原料から不要な不良品や異物を取り除くための粒状物選
別方法及びその装置であって、被選別原料から取り除か
れた不良品と異物の混合物から更に異物を取り除いた
り、被選別原料から異物と不良品を順に取り除くための
粒状物選別方法及びその装置に関する。
【0002】
【従来の技術】粒状物の色彩を検出する選別によって被
選別物を分別することは周知の技術であるので、特に穀
物の色彩選別を一例に挙げて説明する。可視光と近赤外
光とを被選別物である、例えば原料白米に照射すると、
原料白米に含まれる着色粒は可視光を照射して得られる
米粒反射光から検出することができる。この場合着色粒
は不良品となる。また原料白米に含まれる石、泥、ガラ
スなどの異物は、近赤外光を照射して得られる異物透過
光あるいは反射光から検出することができる。また、こ
れら可視光による光信号と近赤外光による光信号とによ
り検出される不良品と異物の信号は、一つの選別手段
(イジェクタ)を駆動するようになっており、従来は原
料白米からこれら着色粒と異物とを共に不良品として取
り除くために色彩選別が利用されていた。したがって、
選別は、白米と、それ以外の不良品・異物との二種選別
であった。
【0003】ところで、この技術のもとに一次・二次選
別方式により、一次選別で排除された不良品・異物を原
料として再度二次選別して、ここに混入が予想される良
品を取り除いて、これを一次選別の供給部に戻すことが
行われているが、二次選別で良品を取り除く作業で、再
度不良品・異物の混入が予想されることから、一次選別
で取り除いた不良品・異物を二次選別して一次選別の原
料に戻すよりも、二次選別後に他に販売利用できるよう
にすることが必要とされていた。
【0004】このようにして原料白米から取り除かれ選
別された不良品・異物の混合物は、不良品が穀物である
ことから家畜の飼料として利用されることが多いもの
の、同時に選別された異物である石、泥、ガラスが含ま
れているために、そのままでは販売できないものとなっ
ていた。したがって、販売するためには、色彩選別後に
これら異物を取り除く作業に時間を費やしたり、そのた
めに色彩選別とは別の装置を必要としているのが現状で
ある
【0005】また、従来の三種選別としては、可視光の
反射光・透過光による赤色の検出により焼き米としらた
米の選別を可能にした方法が特開昭54-78190号に開示さ
れているが、これらは異物を含んだ被選別物を対象とし
たものではなく、したがって近赤外光が使用されておら
ず、異物の選別は不可能といってよい。
【0006】また可視光と近赤外光による良品・不良品
と異物をそれぞれに対応したイジェクタで排除選別する
技術がUS特許5,353,937号に開示してあるが、被選別物
から得られる近赤外光による光信号と可視光による光信
号とにより、被選別物が良品であるか不良品であるか、
また異物であるかを判断して、対象となる被選別物に最
適なイジェクタにのみ信号を送出するためのマトリクス
等を含む回路を必要とし、回路が複雑となるものであ
る。ちなみにこの出願の要旨は排除選別する対象物に応
じた遅延時間と噴射時間とを適宜設定して適用するとい
うものである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】以上のことから、本発
明では従来の不良品から異物を取り除く作業で時間を費
やしたり、そのために色彩選別装置とは別の新たな装置
を入れたりすることなく、別の作業となっていた不良品
と異物との分別を、従来の不良品・異物が選別可能な粒
状物色彩選別装置の構成を大きく変更することなく可能
とし、あるいはこれまでの装置にいくらか加えるだけで
実現可能とした、粒状物選別方法及びその装置の提供を
技術的課題とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、選別対象物の良品・不良品とそれ以外の異物とを含
む被選別原料を移動させながら、移動する被選別原料に
可視光と近赤外光とを照射して、被選別原料から得られ
る可視光に基づく光情報を受光解析し、被選別原料から
得られる近赤外光に基づく光情報を受光解析することに
より、受光した可視光に関する光情報の解析結果に基づ
いて被選別原料から不良品を排除選別する過程と、受光
した近赤外光に関する光情報の解析結果に基づいて被選
別原料から異物を排除選別する過程とを備える粒状物選
別方法とした。
【0009】これは、可視光に関する光情報を受光して
その光情報の解析結果に基づいて不良品を排除選別する
信号回路と、近赤外光に関する光情報を受光してその光
情報の解析結果に基づいて異物を排除選別する信号回路
とのそれぞれを独立した回路とすることにより、余計な
回路を組み込まなくとも、異物と不良品を個別に排除し
て確実に三種選別を可能とするものである。つまりこう
することにより不良品に異物が混入することなく、安価
な回路のまま3種選別が可能となる。
【0010】より具体的には、例えば、不良品を排除選
別する過程を先に実行し次に異物を排除選別する過程を
実行する構成とした場合、異物が良品と同等色であり不
良品のみ着色している原料であれば、着色不良品に対応
した可視光の光情報により被選別原料から不良品である
着色粒だけを排除選別した後、異物に対応した近赤外光
の光情報により不良品の無くなった被選別原料から異物
だけを排除選別することで異物と不良品とを別々に選別
することができる。ところで、選別対象物の良品・不良
品と異物とは近赤外光を照射して得られる光情報におい
て明確な差を検出できることが必要であり、その差が生
じる近赤外光の波長域であることが必要である。
【0011】また、異物を排除選別する過程を先に実行
して次に不良品を排除選別する過程を実行する構成とし
た場合、被選別原料の異物の色彩に条件はない。先ず近
赤外光の光情報により被選別原料から異物だけを確実に
排除選別することができる。このとき異物が良品と異な
る色彩であれば可視光による光情報でも検出して排除選
別動作をしてしまうが、先に近赤外光の光情報での検出
で異物を排除選別しているので、同様に可視光による光
情報による検出で排除選別が実行されても、該当の異物
は無く空振りに終わる。このように異物が無くなって流
れる被選別原料から不良品だけを排除選別することがで
きるので、被選別原料からは異物と不良品を別々に選別
することができる。したがって近赤外光と可視光とそれ
ぞれ独立した回路で前述と同様に不良品と異物とを別々
に選別することができる。
【0012】更に上記の場合、近赤外光に関する光情報
を受光する視点と可視光に関する光情報を受光する視点
は同一視点とすることで従来の色彩選別機と同等の構成
で本願が実現できる。また、異物や不良品を排除する手
段、例えばイジェクタ等の配置を被選別原料の同一の流
路に沿って配置することで、従来の色彩選別機にもう一
つのイジェクタを加えるだけでよく、これも従来の色彩
選別機と変わらない構成で本願が実現できるものであ
る。
【0013】また一方、可視光に関する光情報を受光し
てその光情報の解析結果に基づいて不良品を排除選別す
る信号をイジェクタ等の排除機能に接続した構成に、近
赤外光に関する光情報を受光してその光情報の解析結果
に基づいて異物を排除選別する信号をOR回路を介して
前記の一つのイジェクタに付け加えた構成として、不良
品と異物とを排除選別した後、更に別に独立した、近赤
外光に関する光情報を受光してその光情報の解析結果に
基づいて異物を排除選別する回路を設ける構成とするこ
ともできる。つまり、被選別原料から不良品と異物とを
一度に排除選別し、この不良品と異物を被選別原料とし
てこれから異物を排除選別することにより、不良品と異
物を確実に別々に選別することができる。不良品と異物
とからなる被選別原料から異物を排除選別することは、
異物の色彩に関係のない近赤外光の光情報で実行できる
ので、的確に異物を排除することができる。
【0014】これを、前半を不良品と異物を一度に排除
選別する一次選別とし、後半を異物を排除選別する二次
選別として筐体を分離した構成にすれば、従来の良品と
不良品・異物の選別を可能にした色彩選別機と、近赤外
光を照射して異物を選別する選別機といった構成の選別
装置とすることができる。このことは既設の色彩選別機
を取り換えることなく、これに近赤外光を照射して異物
を選別する機能を備える選別機を追加することで本願が
実現できることにもなる。もちろん、上述した一次・二
次選別機能を備えた一体的粒状物選別機を否定するもの
ではなく、新たな設備においては本願による一次・二次
選別機能を備えた一体的粒状物選別機を導入することが
好ましい。
【0015】
【発明の実施の形態】図1に、本発明を適用した粒状物
選別機1の第1の実施例を図1に示している。図1では
全体構造を一部省略して主要部を拡大して示している。
なお、ここでは被選別原料(以下単に「原料」という)
の例を穀物とし特に白米良品、白米の着色粒等不良品、
石・ガラス等異物として説明する。
【0016】粒状物選別機1の上部に原料を貯留する貯
留タンク2を備え、その下部に貯留タンク2から原料を
適量ずつ排出するフィーダ3を備えている。フィーダ3
から適量排出される原料は、傾斜したシュート4を滑落
しながらシュート4に沿って次の光学検出部5へ投入さ
れる。フィーダ3とシュート4は搬送手段であり、例え
ばコンベア仕様のものであってもよく、次の工程に適量
ずつ排出できる仕組みがあれば良い。
【0017】光学検出部5は、原料の落下軌跡中の任意
点Oを視点として前後に配置されており、前光学部5a
と後光学部5bとから構成されている。それぞれの光学
部5には、照明手段として可視光用の蛍光灯6と近赤外
用のハロゲンランプ7、基準板となるバックグランド
8,9とがそれぞれ備えられている。蛍光灯6の色彩
は、着色粒として排除する不良品の色彩に応じて変更さ
れるか、複数本の蛍光灯により複数の色彩を備えるよう
にしてもよい。また、ハロゲンランプ7も、選別に必要
とされる近赤外光の波長範囲に応じて他の照明手段に変
更されるべきものである。バックグランド8,9は、近
赤外光用8と可視光用9とが備えられている。本例の照
明手段である蛍光灯は、白米と着色粒等不良品とを見分
けて不良品を検出するに適した色彩の蛍光灯を適宜選択
し、近赤外光用のハロゲンランプ等は、異物と白米とを
見分けて異物を検出するに適した近赤外光の照明を適宜
選択することになる。
【0018】前後の光学部5のそれぞれに対して、近赤
外光用の受光カメラ(以下「NIRカメラ」という)1
0と可視光用カメラ(以下「CCDカメラ」という)1
1が備えられ、これらは視点Oを中心にしてそれぞれに
対応したバックグランドと対峙して配設されている。つ
まりNIRカメラ10aは、視点Oを中心にしてバック
グランド8aと対峙するよう配置され、CCDカメラ1
1aはバックグランド9aと対峙するよう配置されてい
る。同様にNIRカメラ10bとCCDカメラ11bも
配置されている。NIRカメラ10に対峙しているバッ
クグランド8は、原料がバックグランド8の前を通過す
る際、異物が検出し易いように基準となる背景を作り、
CCDカメラ11に対峙しているバックグランド9は、
原料がバックグランド9の前を通過する際、不良品が検
出し易いように基準となる背景を作りだすものである。
ところでNIRカメラとしてInGaAs受光素子を集
積したセンサーを使用するとよい。また、CCDカメラ
としてはビデオカメラに使用されような受光素子を集積
した受光センサーを使用するとよい。
【0019】視点Oから更に下降したところには、近赤
外光用の排除装置12(以下「イジェクタ12」とい
う)と可視光用排除装置13(以下「イジェクタ13」
という)とが、原料が流下する軌跡にそって順に配置さ
れている。それぞれのイジェクタ12,13は、電磁弁
14,15とエアーパイプにより接続されている。また
該電磁弁14,15は、図示しないエアーポンプとエア
ーホースで接続されており、後述する制御装置から送ら
れる駆動信号により駆動して、エアーポンプのエアーを
イジェクタ12.13のそれぞれに送出するものであ
る。このエアーの送出でイジェクタ12,13は落下す
る原料にエアーを噴出させて、不良品と異物を排除する
ことができる。
【0020】近赤外光イジェクタ12により排除された
原料は、排出口16から機外に排出される。可視光イジ
ェクタ13により排除された原料は、排出口17から機
外に排出される。両方のイジェクタ12,13のいずれ
にも排除されなかった原料は排出口18から機外に排出
される。このように原料は三種選別することができる。
【0021】更に図2を加えて説明すると、視点Oから
各センサー(10,11)により検出される原料の反射
光信号は、制御装置19によって処理される。制御装置
19には、各センサーによる反射光信号を増幅する増幅
器20と増幅された信号を基準値と比較する比較器21
と、センサー(10,11)位置とイジェクタ(12,
13)位置との距離に応じた遅延時間が設定してある遅
延回路22と、この回路22を介して、電磁弁14,1
5に駆動信号を出力する駆動回路23とが備えてある。
この駆動信号により電磁弁14,15が作動してイジェ
クタ(12,13)からエアーが噴出し、センサー(1
0,11)で検出した不良品あるいは異物が排除選別さ
れる。以上の増幅器20、比較器21、遅延回路22、
駆動回路23は、NIRセンサー10とCCDセンサー
11で独立した回路として設けてあり、更に増幅器20
と比較器21は、センサー種別ごとに前後に対してそれ
ぞれ独立して設けてある。そして、前後のNIRセンサ
ー10の一組と、前後のCCDセンサー11の一組それ
ぞれに1つずつのイジェクタ12,13が配してある。
つまり、前後に配したNIRセンサー10a,10bの
いずれかの受光信号によって比較器21が異物を検出す
れば、一定の遅延時間をおいて電磁弁14だけが作動
し、イジェクタ12からエアーが噴出され異物が排除さ
れる。一方、前後に配したCCDセンサー11a,11
bのいずれかの受光信号によって比較器21が不良品を
検出すれば、一定の遅延時間をおいて電磁弁15だけが
作動し、イジェクタ13からエアーが噴出され不良品が
排除される。言い換えれば、NIRセンサーとCCDセ
ンサーの信号が、お互いに何らかの形で干渉することは
なく、例えば一方の信号を他方のキャンセル信号として
使用したり、両方の信号を利用したマトリクスを作成す
ることはなく、したがってそのための回路は本願には存
在しない。
【0022】ところで制御装置19は、更にフィーダ3
の駆動を制御すると共に操作パネル24を接続してもよ
い。つまり、操作パネル24の操作で装置1の運転を開
始すると、フィーダ3が駆動して原料の投入が開始され
る。またフィータ3の駆動は急激に最大流量で供給する
のではなく、徐々に供給量が多くなるように制御するこ
ともできる。なお、ここではセンサーで原料の反射光信
号を検出することを前提に記述したが、透過光信号を検
出すること、あるいは透過光信号と反射光信号との両方
を検出するように構成してもよい。
【0023】以上の構成で原料を投入したときの、原料
中に存在する良品と不良品・異物のそれぞれを検出した
際の各イジェクタの動作を表1に示す。
【表1】 各センサー(10,11)が白米の反射光を光情報とし
て検出したときには、両方のイジェクタ12,13から
はエアーは噴射されず、白米は何事もなく通過して排出
口18から機外に排出される。各センサーが白米と色彩
が異なる着色粒の反射光を光情報として検出するとNI
Rセンサー10側のイジェクタ12からはエアーは噴射
されず、CCDセンサー11側のイジェクタ13からの
みエアーが噴射されて不良品である着色粒はイジェクタ
13によって排除選別され排出口17から機外に排出さ
れる。各センサーが異物である透明ガラスの反射光を光
情報として検出したときには、NIRセンサー10側の
イジェクタ12からのみエアーが噴射されて異物である
透明ガラスはイジェクタ12によって排除選別され排出
口16から機外に排出される。このときCCDセンサー
11側のイジェクタ13からはエアーは噴射されない。
各センサーが異物である黒石の反射光を光情報として検
出したときには、NIRセンサー10側のイジェクタ1
2とCCDセンサー11側のイジェクタ12の両方から
エアーが噴射される。この場合、NIRセンサー10側
のイジェクタ12がCCD側のイジェクタ13の上方に
配置してあるので、視点Oからの距離が異なることから
遅延回路22の遅延時間が異なるため、イジェクタ12
がイジェクタ13より先に噴射して、図3に示すよう
に、連続的に流れる粒子100〜103のうち、102
の異物の黒石はイジェクタ12により排除される。その
まま流下して図4位置に100〜103(粒子102は
存在しない)の粒子が移動したとき、イジェクタ13が
噴射するが、既に黒石102は排除されているので、イ
ジェクタ13の噴射は空振りとなり、余分な粒子が不良
品側に排除されることはない。
【0024】本願の第1の特徴はここにあり、特別な回
路を設けなくともNIRカメラ10とCCDカメラ11
の回路の両方で駆動信号が出されたとしても、NIRカ
メラ10の回路に接続したイジェクタ12を、CCDカ
メラ11の回路に接続したイジェクタ13よりも先に作
動させる位置に配しているので、誤って不良品側に異物
を排除して、不良品に異物が混入することはない。これ
をイジェクタ12とイジェクタ13を同じ位置に配する
と、NIRカメラ10とCCDカメラ11との両方にキ
ャッチされる黒い石が通過した場合には、イジェクタ1
2,13が同時に同じ位置で作動してしまい、不良品側
と異物側のいずれに排除選別されるか不明であり、不良
品側に異物が混入すること、あるいはその逆の混入も予
想され、本願の1つの目的である、不良品と異物とを1
つの選別装置で分別することはできない。以上のごと
く、近赤外光用の回路と可視光用の回路とを別の独立し
た回路として、更に排除する位置を異なる位置にするこ
とで、的確に排除がなされ三種選別が大きな変更もな
く、装置の価格を高騰させることもなく、従来の選別装
置にイジェクターを加えるだけで実現することができ
る。ところで、各イジェクタの噴射方向は実施例のよう
に同じ方向でなくても、互いに適当な角度を設けても良
い。
【0025】ところで、原料中の異物が良品白米と同等
色である場合には、図5及び図6で示すようにCCDセ
ンサー11側のイジェクタ13とNIRセンサー10側
のイジェクタ12との上下の配置を入れ替えても本願は
実現可能である。
【表2】 つまり、各イジェクタの作動は表2で示すとおりであ
り、図5のように粒子104〜106が通過しても、異
物が白米と同等色の白い石105や透明ガラスの光情報
を検出したときにはNIRセンサー10側のイジェクタ
12だけが作動して、図6のようにCCDセンサー11
側のイジェクタ13は、着色米108の光情報を検出し
たときのみ作動することになり、排除選別された不良品
と異物が混じり合うことはない。なお、この場合におい
ても、イジェクタを図5、図6のように異なる位置に配
することが有効である。それは、イジェクタの一回の噴
射は、排除選別を確実にするためにある程度の時間継続
して噴射されるため、複数のイジェクタを同じ位置に配
すると次のような不都合が生じる。つまり、CCDセン
サー11側のイジェクタ13とNIR側センサー10側
のイジェクタ12とが交互に噴射を繰り返すときなど、
噴射が交互にずれていても互いの一回の噴射時間が重な
り合うことは避けられずイジェクタの噴射の一部が重な
ることになり、イジェクタの噴射により一度排除されか
けた不良品と異物とが噴射位置において混在状態とな
り、異物と不良品の分別が不確実になることは避けられ
ないが、本願のようにイジェクタの位置を異なる位置に
することと、NIRセンサー10とCCDセンサー11
とを独立した回路とすることにより、不良品と異物の選
別は確実に行えて、しかも装置の価格を高騰させること
なく実現できる。
【0026】次に本発明を適用した第2の実施例につい
て、図7乃至図10によりその構成を説明する。ここで
は第1の実施例と大きく異なる部分は、図7で示した一
次選別部30と図8で示した二次選別部40とにより図
9に示す粒状物選別装置を構成している。
【0027】まず図7に示す一次選別部30は、粒状物
選別機30の上部に原料を貯留する貯留タンク2を備
え、その下部に貯留タンク2から原料を適量ずつ排出す
るフィーダ3を備えている。フィーダ3から適量排出さ
れる原料は、傾斜したシュート4を滑落しながらシュー
ト4に沿って次の光学検出部5へ投入される。フィーダ
3とシュート4は搬送手段であり、例えばコンベア仕様
のものであってもよく、次の工程に適量ずつ排出できる
仕組みがあれば良い。
【0028】光学検出部5は、原料の落下軌跡中の任意
点Oを視点として前後に配置されており、前光学部5a
と後光学部5bとから構成されている。それぞれの光学
部5には、照明手段として可視光用の蛍光灯6と近赤外
用のハロゲンランプ7、基準板となるバックグランド
8,9とがそれぞれ備えられている。バックグランド
8,9は、近赤外光用8と可視光用9とが備えられてい
る。前後の光学部5のそれぞれに対して、近赤外光用の
受光カメラ(以下「NIRカメラ」という)10と可視
光用カメラ(以下「CCDカメラ」という)11が備え
られ、これらは視点Oを中心にしてそれぞれに対応した
バックグランドと対峙して配設されている。つまりNI
Rカメラ10aは、視点Oを中心にしてバックグランド
8aと対峙するよう配置され、CCDカメラ11aはバ
ックグランド9aと対峙するよう配置されている。同様
にNIRカメラ10bとCCDカメラ11bも配置され
ている。
【0029】視点Oから更に下降したところには、排除
装置31(以下「イジェクタ31」という)が、原料が
流下する軌跡に沿うように配置されている。イジェクタ
31は、電磁弁32とエアーパイプにより接続されてい
る。また該電磁弁32は、図示しないエアーポンプとエ
アーホースで接続されており、後述する制御装置から送
られる駆動信号により駆動して、エアーポンプのエアー
をイジェクタ31に送出するものである。このエアーの
送出でイジェクタ31は落下する原料にエアーを噴出さ
せて、不良品と異物とを排除することができる。イジェ
クタ31により排除された原料は、排出口33から機外
に排出される。イジェクタ31に排除されなかった原料
は排出口18から機外に排出される。このように原料は
二種選別することができる。
【0030】視点Oから各センサー(10,11)によ
り検出される原料の反射光信号は、制御装置34によっ
て処理される。制御装置34には、図10に示すように
各センサーによる反射光信号を増幅する増幅器20と増
幅された信号を基準値と比較する比較器21と、センサ
ー(10,11)位置とイジェクタ(31)位置との距
離に応じた遅延時間が設定してある遅延回路22と、こ
の回路22とOR回路47を介して、電磁弁32に駆動
信号を出力する駆動回路48とが備えてある。この駆動
信号により電磁弁32が作動してイジェクタ31からエ
アーが噴出し、センサー(10,11)で検出した不良
品または異物が排除選別される。以上の増幅器20、比
較器21、遅延回路22までは、NIRセンサー10と
CCDセンサー11で独立した回路として設けてあり、
更に増幅器20と比較器21は、センサー種別ごとに前
後に対してそれぞれ独立して設けてある。そして、前後
のNIRセンサー10の一組と、前後のCCDセンサー
11の一組それぞれの信号はOR回路47で合成され、
いずれかの信号によっても1つのイジェクタ31が駆動
するようにしてある。つまり、前後に配したNIRセン
サー10a,10bのいずれかの受光信号によって比較
器21が異物を検出したとき、あるいは、前後に配した
CCDセンサー11a,11bのいずれかの受光信号に
よって比較器21が不良品を検出したとき、一定の遅延
時間をおいて電磁弁32が作動し、イジェクタ31から
エアーが噴出され不良品と異物が排除される。ここにお
いても、OR回路で合成する以外には、NIRセンサー
とCCDセンサーの信号が、お互いに何らかの形で干渉
する、例えば一方の信号を他方のキャンセル信号として
使用したり、両方の信号を利用したマトリクスを作作成
することはなく、したがってそのための回路は本願には
存在しない。
【0031】ここでの選別は図9の一次選別で示すよう
に、一次原料を良品と不良品・異物との二種に分別する
ものであり、いわゆる従来の色彩選別機と同様の選別機
能を有するものである。以上の構成で原料を投入したと
きに、原料中に存在する良品と不良品・異物のそれぞれ
を検出した際のイジェクタ31の動作を表3に示す。
【表3】 まず、各センサー(10,11)が白米の反射光を光情
報として検出したときには、イジェクタ31からはエア
ーは噴射されず、白米は何事もなく通過して排出口18
から機外に排出される。各センサーが白米と色彩が異な
る着色粒の反射光を光情報として検出するとNIRセン
サー10側の遅延回路22aからは信号は出力されず、
CCDセンサー11側の遅延回路22bからのみ信号が
出力されてOR回路47を介して駆動回路48によって
電磁弁32が駆動され、不良品である着色粒はイジェク
タ31の噴射によって排除選別され排出口33から機外
に排出される。各センサーが異物である透明ガラスの反
射光を光情報として検出したときには、NIRセンサー
10側の遅延回路22aからのみ信号が出力されて、O
R回路47を介して駆動回路48によって電磁弁32が
駆動され、異物である透明ガラスはイジェクタ31の噴
射によって排除選別され排出口33から機外に排出され
る。このときCCDセンサー11側の遅延回路22bか
らは信号は出力されない。各センサーが異物である黒石
の反射光を光情報として検出したときには、NIRセン
サー10側の遅延回路22aとCCDセンサー11側の
遅延回路22bの両方から信号が出力されて、OR回路
48を介して駆動回路48によって電磁弁32が駆動さ
れ、異物である黒石はイジェクタ31の噴射によって排
除選別されて排出口33から機外に排出される。
【0032】このように選別された不良品と異物は、搬
送手段(図示せず)により二次選別部40に原料として
投入される。二次選別部40の構成を図8に示し、図7
と異なる部分について説明する。視点Oを中心に配置さ
れている光学部41は、前光学部41aと後光学部41
bとからなり、各光学部には近赤外光照射用のハロゲン
ランプ7とバックグランド8及び照明用蛍光灯6とを備
えている。また視点Oを中心としてバックグランド8a
に対向する位置にNIRカメラ10aと、バックグラン
ド8bに対向する位置にNIRカメラ10bとが配置さ
れている。視点Oの下方には原料が流下する軌跡に沿っ
てイジェクタ42が設けられている。イジェクタ42
は、電磁弁43とエアーパイプにより接続されている。
また該電磁弁43は、図示しないエアーポンプとエアー
ホースで接続されており、後述する制御装置から送られ
る駆動信号により駆動して、エアーポンプのエアーをイ
ジェクタ42に送出するものである。このエアーの送出
でイジェクタ42は落下する原料にエアーを噴出させ
て、異物と排除することができる。イジェクタ42によ
り排除された異物は、排出口46から機外に排出され
る。イジェクタ42に排除されなかった不良品は排出口
45から機外に排出される。このように原料は二種選別
することができる。
【0033】視点OからNIRセンサー10により検出
される原料の反射光信号は、制御装置49によって処理
される。制御装置49には、図11に示すようにNIR
センサー10による反射光信号を増幅する増幅器20と
増幅された信号を基準値と比較する比較器21と、NI
Rセンサー10位置とイジェクタ42位置との距離に応
じた遅延時間が設定してある遅延回路22と、この回路
22を介して、電磁弁43に駆動信号を出力する駆動回
路23とが備えてある。この駆動信号により電磁弁43
が作動してイジェクタ42からエアーが噴出し、NIR
センサー10で検出した異物が排除選別される。以上の
増幅器20、比較器21、遅延回路22、駆動回路23
は、NIRセンサー10に1つのイジェクタ42が配し
てある。つまり、前後に配したNIRセンサー10a,
10bのいずれかの受光信号によって比較器21が異物
を検出すれば、一定の遅延時間をおいて電磁弁43が作
動し、イジェクタ42からエアーが噴出され異物が排除
される。ここにおいては、NIRセンサーの信号しか存
在せず、他の信号を利用したマトリクスを作成すること
はなく、したがってそのための回路は本願には存在しな
い。なお前述の図7で示した制御装置34と図8で示し
た制御装置49とは、図示のように別の制御装置とする
こともできるし、一体の制御装置として構成してもよ
い。
【0034】ここでの選別は図9の二次選別で示すよう
に、一次選別から搬送された不良品と異物からなる原料
を不良品と異物の二種に分別するものである。以上の構
成で原料を投入したときの信号処理について図8と図1
1により説明する。まず、NIRセンサー10,11が
不良品の反射光を光情報として検出したときには、イジ
ェクタ42からはエアーは噴射されず、不良品は何事も
なく通過して排出口45から機外に排出される。NIR
センサー10が不良品と異なる透明ガラスや石の異物の
反射光を光情報として検出するとNIRセンサー10の
遅延回路22から信号が出力され、駆動回路23によっ
て電磁弁43が駆動され、異物はイジェクタ42の噴射
によって排除選別され排出口46から機外に排出され
る。このように不良品と異物からなる二次選別の原料
は、受光手段がNIRセンサーだけとなっているので、
容易に不良品と異物とに二種選別することができる。
【0035】図9に示す粒状物選別装置は、一次選別部
30と二次選別部40とから構成されているが、一次選
別部30と二次選別部40とを別の機枠で製造するこ
と、あるいは一体の機枠で製造することは自由に選択で
きることであり、別の機枠で製造すると、従来の不良品
・異物を排除選別できる色彩選別機に二次選別部40設
けることで本願の三種選別が達成できる。また一体の機
枠で製造すれば、一台の粒状物選別機で本願の三種選別
が可能となる。いずれの場合にも、一次選別部30と二
次選別部40とは何らかの搬送手段で連絡されており、
コンベア等を利用することや、一次選別部30と二次選
別部40とを上下に配置することなどは自由に選択でき
る。
【0036】
【発明の効果】以上のように、図1の第1の実施例によ
ると、これまでの良品、不良品・異物と二種選別可能で
あった粒状物色彩選別機に、可視光と近赤外光とに回路
を独立させて、それぞれにイジェクター機能を付加する
ことにより、本願の三種選別が可能となり、その場合の
信号回路も大きな改造もなく、イジェクタも従来の駆動
回路を付け加えるだけで、安価に三種選別可能な粒状物
選別機が実現できる。
【0037】また、図7と図8及び図9によると、一次
選別部30と二次選別部40とを一体にした粒状物選別
装置として構成することにより、良品と不良品及び異物
との三種選別を行うに最適な選別装置として提供でき
る。
【0038】また一次選別部30と二次選別部40とを
別体として着目すれば、原料を良品と不良品・異物との
二種選別が可能な既設の粒状物選別装置に、二次選別部
40を付加することにより、本願の三種選別が可能とな
り、既設の粒状物選別装置においても、装置をすべて入
れ替えることなく安価に三種選別が実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用した粒状物選別機の第1の実施例
である。
【図2】第1の実施例における光情報の解析回路を示し
たブロック図である。
【図3】第1の実施例による排除選別の状態を示す図で
ある。
【図4】第1の実施例による排除選別の状態を示す図で
ある。
【図5】第1の実施例による別の排除選別の状態を示す
図である。
【図6】第1の実施例による別の排除選別の状態を示す
図である。
【図7】本発明を適用した粒状物選別機の第2の実施例
の一次選別を示す図である。
【図8】本発明を適用した粒状物選別機の第2の実施例
の二次選別を示す図である。
【図9】第2の実施例の原料の流れを示した図である。
【図10】第2の実施例による一次選別の光情報の解析
回路を示したブロック図である。
【図11】第2の実施例による二次選別の光情報の解析
回路を示したブロック図である。
【符号の説明】
1 粒状物選別機 2 貯留タンク 3 フィーダ 4 シュート 5 光学検出部 6 蛍光灯 7 ハロゲンランプ 8 バックグランド 9 バックグランド 10 近赤外光用の受光カメラ(NIRカメラ) 11 可視光用カメラ(CCDカメラ) 12 近赤外光用の排除装置(イジェクタ) 13 可視光用排除装置(イジェクタ) 14 電磁弁 15 電磁弁 16 排出口 17 排出口 18 排出口 19 制御装置 20 増幅器 21 比較器 22 遅延回路 23 駆動回路 24 操作パネル 30 一次選別部(粒状物選別機) 31 排除装置(イジェクタ) 32 電磁弁 33 排出口 34 制御装置 40 二次選別部 41 光学部 42 イジェクタ 43 電磁弁 45 排出口 46 排出口 47 OR回路 48 駆動回路 49 制御装置
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成11年9月14日(1999.9.1
4)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0019
【補正方法】変更
【補正内容】
【0019】視点Oから更に下降したところには、近赤
外光用の排除装置12(以下「イジェクタ12」とい
う)と可視光用排除装置13(以下「イジェクタ13」
という)とが、原料が流下する軌跡にそって順に配置さ
れている。それぞれのイジェクタ12,13は、電磁弁
14,15とエアーパイプにより接続されている。また
該電磁弁14,15は、図示しないエアーポンプとエア
ーホースで接続されており、後述する制御装置から送ら
れる駆動信号により駆動して、エアーポンプのエアーを
イジェクタ1213のそれぞれに送出するものであ
る。このエアーの送出でイジェクタ12,13は落下す
る原料にエアーを噴出させて、不良品と異物を排除する
ことができる。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0032
【補正方法】変更
【補正内容】
【0032】このように選別された不良品と異物は、搬
送手段(図示せず)により二次選別部40に原料として
投入される。二次選別部40の構成を図8に示し、図7
と異なる部分について説明する。視点Oを中心に配置さ
れている光学部41は、前光学部41aと後光学部41
bとからなり、各光学部には近赤外光照射用のハロゲン
ランプ7とバックグランド8及び照明用蛍光灯6とを備
えている。また視点Oを中心としてバックグランド8a
に対向する位置にNIRカメラ10aと、バックグラン
ド8bに対向する位置にNIRカメラ10bとが配置さ
れている。視点Oの下方には原料が流下する軌跡に沿っ
てイジェクタ42が設けられている。イジェクタ42
は、電磁弁43とエアーパイプにより接続されている。
また該電磁弁43は、図示しないエアーポンプとエアー
ホースで接続されており、後述する制御装置から送られ
る駆動信号により駆動して、エアーポンプのエアーをイ
ジェクタ42に送出するものである。このエアーの送出
でイジェクタ42は落下する原料にエアーを噴出させ
て、異物排除することができる。イジェクタ42によ
り排除された異物は、排出口46から機外に排出され
る。イジェクタ42によって排除されなかった不良品は
排出口45から機外に排出される。このように原料は二
種選別することができる。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0035
【補正方法】変更
【補正内容】
【0035】図9に示す粒状物選別装置は、一次選別部
30と二次選別部40とから構成されているが、一次選
別部30と二次選別部40とを別の機枠で製造するこ
と、あるいは一体の機枠で製造することは自由に選択で
きることであり、別の機枠で製造すると、従来の不良品
・異物を排除選別できる色彩選別機に二次選別部40
設けることで本願の三種選別が達成できる。また一体の
機枠で製造すれば、一台の粒状物選別機で本願の三種選
別が可能となる。いずれの場合にも、一次選別部30と
二次選別部40とは何らかの搬送手段で連絡されてお
り、コンベア等を利用することや、一次選別部30と二
次選別部40とを上下に配置することなどは自由に選択
できる。
【手続補正4】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図9
【補正方法】変更
【補正内容】
【図9】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G059 AA05 BB11 CC20 DD12 EE01 EE02 EE11 FF01 GG03 GG10 HH01 HH02 KK04 MM05 MM08 3F079 AC15 BA06 CA31 CA44 CB25 CB30 CB32 CB33 CB36 CC03 DA06 EA11

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】選別対象物の良品・不良品とそれ以外の異
    物とを含む被選別原料を移動させる過程と、移動する被
    選別原料に可視光と近赤外光とを照射する過程と、被選
    別原料から得られる可視光に関する光情報を受光解析す
    る過程と、被選別原料から得られる近赤外光に関する光
    情報を受光解析する過程と、受光した可視光に関する光
    情報の解析結果に基づいて被選別原料から不良品を排除
    選別する過程と、受光した近赤外光に関する光情報の解
    析結果に基づいて被選別原料から異物を排除選別する過
    程と、を備えることを特徴とする粒状物選別方法。
  2. 【請求項2】可視光に関する光情報の解析結果に基づい
    て被選別原料から不良品を排除選別すると共に近赤外光
    に関する光情報の解析結果に基づいて被選別原料から異
    物を排除選別する過程と、次いで近赤外光に関する光情
    報の解析結果に基づいて、前記過程で得られる不良品と
    異物とを含む被選別原料から異物を排除選別する過程
    と、を備えることを特徴とする請求項1記載の粒状物選
    別方法。
  3. 【請求項3】可視光に関する光情報の解析結果と近赤外
    光に関する光情報の解析結果とに基づいて被選別原料か
    ら不良品と異物とを排除選別する過程における、可視光
    に関する光情報と近赤外光に関する光情報とは同一視点
    から得ることを特徴とする請求項2記載の粒状物選別方
    法。
  4. 【請求項4】近赤外光に関する光情報の解析結果に基づ
    いて被選別原料から異物を排除選別する過程と、可視光
    に関する光情報の解析結果に基づいて被選別原料から不
    良品を排除選別する過程と、を備え、異物を排除する過
    程を不良品を排除する過程より先に実行することを特徴
    とする請求項1記載の粒状物選別方法。
  5. 【請求項5】異物を選別排除する過程と不良品を選別排
    除する過程とを、被選別原料の同一流路上に離間して配
    したことを特徴とする請求項4記載の粒状物選別方法。
  6. 【請求項6】近赤外光に関する光情報と可視光に関する
    光情報とは同一視点から得ることを特徴とする請求項4
    記載の粒状物選別方法。
  7. 【請求項7】選別対象物の良品・不良品とそれ以外の異
    物とを含む被選別原料を供給する供給手段と、供給され
    る被選別原料に可視光と近赤外光とを照射する光照射手
    段と、被選別原料から得られる光情報を受光する受光手
    段と、受光した光情報を解析する解析手段と、前記受光
    手段の可視光に関する光情報の解析結果に基づく被選別
    原料中の不良品の検出信号により駆動する不良品排除手
    段と、前記受光手段の近赤外光に関する光情報の解析結
    果に基づく被選別原料中の異物の検出信号により駆動す
    る異物排除手段と、前記各手段を制御する制御手段と、
    を備えることを特徴とする粒状物選別装置。
  8. 【請求項8】可視光に関する光情報の解析結果と近赤外
    光に関する光情報の解析結果とに基づく被選別原料中の
    不良品と異物のいずれか一つの検出信号により駆動する
    不良品・異物排除手段と、次いで近赤外光に関する光情
    報の解析結果に基づく被選別原料中の異物の検出信号に
    より駆動する異物排除手段とを備えることを特徴とする
    請求項7記載の粒状物選別装置。
  9. 【請求項9】可視光に関する光情報の解析結果と近赤外
    光に関する光情報の解析結果とに基づく被選別原料中の
    不良品と異物のいずれか一つの検出信号により駆動する
    不良品・異物排除手段における、被選別原料から得られ
    る近赤外光に関する光情報を受光する受光手段と被選別
    原料から得られる可視光に関する光情報を受光する受光
    手段とは、同一視点から光情報を得ることを特徴とする
    請求項8記載の粒状物選別装置。
  10. 【請求項10】被選別原料を供給する供給手段と、可視
    光と近赤外光とを照射する光照射手段と、受光手段及
    び、不良品・異物排除手段とを備えた一次選別手段と、
    被選別原料を供給する供給手段と、近赤外光を照射する
    光照射手段と、受光手段及び、異物排除手段とを備えた
    二次選別手段及び一次選別手段により得られる不良品・
    異物を二次選別手段の供給手段に搬送する搬送手段と、 を備えることを特徴とする請求項8記載の粒状物選別装
    置。
  11. 【請求項11】近赤外光に関する光情報の解析結果に基
    づく被選別原料中の異物の検出信号により駆動する異物
    排除手段と、可視光に関する光情報の解析結果に基づく
    被選別原料中の不良品の検出信号により駆動する不良品
    排除手段とは、異物排除手段を不良品排除手段より先に
    作動させる位置に配したことを特徴とする請求項7記載
    の粒状物選別装置。
  12. 【請求項12】異物排除手段と不良品排除手段の順で被
    選別原料の同一流路上に任意間隔をもって配置してある
    ことを特徴とする請求項11記載の粒状物選別装置。
  13. 【請求項13】被選別原料から得られる近赤外光に関す
    る光情報を受光する受光手段と被選別原料から得られる
    可視光に関する光情報を受光する受光手段とは、同一視
    点から光情報を得ることを特徴とする請求項11記載の
    粒状物選別装置。
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Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001356051A (ja) * 2000-06-15 2001-12-26 Satake Corp 玄米色彩選別方法及び玄米色彩選別装置
WO2002040967A1 (en) * 2000-11-17 2002-05-23 Foss Tecator Ab A method and device for recording images of grains from cereals to detect cracking
JP2003245611A (ja) * 2002-02-22 2003-09-02 Nichirei Corp 食品撮像兼排出装置
JP2007283204A (ja) * 2006-04-17 2007-11-01 Satake Corp 色彩選別機
EP2081012A1 (en) 2008-01-18 2009-07-22 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Method of inspecting food and inspection apparatus implementing the same
EP2081013A1 (en) 2008-01-18 2009-07-22 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Method of inspecting food and inspection apparatus implementing the same
WO2010100817A1 (ja) * 2009-03-04 2010-09-10 パナソニック株式会社 分別方法、分別装置
CN102069076A (zh) * 2010-09-27 2011-05-25 安徽捷迅光电技术有限公司 茶叶色选机的防逆流装置
CN105436101A (zh) * 2016-01-05 2016-03-30 韩岳炀 带式色选机
JP2016170150A (ja) * 2015-03-16 2016-09-23 株式会社イシダ 検査装置
CN106053342A (zh) * 2015-04-06 2016-10-26 株式会社佐竹 谷粒品级判别装置以及该装置的来自谷粒的光的受光方法
CN106269570A (zh) * 2015-05-29 2017-01-04 合肥美亚光电技术股份有限公司 物料的分选装置和分选方法
CN109332222A (zh) * 2011-11-25 2019-02-15 陶朗分拣有限公司 弹射器装置和阵列,分类离散物体的方法和相应的计算机程序
JP2020171878A (ja) * 2019-04-09 2020-10-22 株式会社セイホー 磁力選別装置及び異物選別システム
WO2022138306A1 (ja) * 2020-12-25 2022-06-30 株式会社サタケ 選別装置
US20220297162A1 (en) * 2019-08-27 2022-09-22 Satake Corporation Optical granular matter sorter
US20230067478A1 (en) * 2020-03-05 2023-03-02 Satake Corporation Optical sorter

Cited By (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4674390B2 (ja) * 2000-06-15 2011-04-20 株式会社サタケ 玄米色彩選別方法及び玄米色彩選別装置
JP2001356051A (ja) * 2000-06-15 2001-12-26 Satake Corp 玄米色彩選別方法及び玄米色彩選別装置
WO2002040967A1 (en) * 2000-11-17 2002-05-23 Foss Tecator Ab A method and device for recording images of grains from cereals to detect cracking
US6888954B2 (en) 2000-11-17 2005-05-03 Foss Analytical Ab Device and method for recording images
JP2003245611A (ja) * 2002-02-22 2003-09-02 Nichirei Corp 食品撮像兼排出装置
JP2007283204A (ja) * 2006-04-17 2007-11-01 Satake Corp 色彩選別機
EP2081012A1 (en) 2008-01-18 2009-07-22 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Method of inspecting food and inspection apparatus implementing the same
EP2081013A1 (en) 2008-01-18 2009-07-22 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Method of inspecting food and inspection apparatus implementing the same
US8286800B2 (en) 2009-03-04 2012-10-16 Panasonic Corporation Separation method and separation apparatus
WO2010100817A1 (ja) * 2009-03-04 2010-09-10 パナソニック株式会社 分別方法、分別装置
CN102069076A (zh) * 2010-09-27 2011-05-25 安徽捷迅光电技术有限公司 茶叶色选机的防逆流装置
CN109332222A (zh) * 2011-11-25 2019-02-15 陶朗分拣有限公司 弹射器装置和阵列,分类离散物体的方法和相应的计算机程序
JP2016170150A (ja) * 2015-03-16 2016-09-23 株式会社イシダ 検査装置
CN106053342A (zh) * 2015-04-06 2016-10-26 株式会社佐竹 谷粒品级判别装置以及该装置的来自谷粒的光的受光方法
CN106053342B (zh) * 2015-04-06 2020-06-16 株式会社佐竹 谷粒品级判别装置以及该装置的来自谷粒的光的受光方法
CN106269570A (zh) * 2015-05-29 2017-01-04 合肥美亚光电技术股份有限公司 物料的分选装置和分选方法
CN105436101A (zh) * 2016-01-05 2016-03-30 韩岳炀 带式色选机
JP2020171878A (ja) * 2019-04-09 2020-10-22 株式会社セイホー 磁力選別装置及び異物選別システム
US20220297162A1 (en) * 2019-08-27 2022-09-22 Satake Corporation Optical granular matter sorter
US11858007B2 (en) * 2019-08-27 2024-01-02 Satake Corporation Optical granular matter sorter
US20230067478A1 (en) * 2020-03-05 2023-03-02 Satake Corporation Optical sorter
US11883854B2 (en) * 2020-03-05 2024-01-30 Satake Corporation Optical sorter
WO2022138306A1 (ja) * 2020-12-25 2022-06-30 株式会社サタケ 選別装置

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