JPH1157628A - 粒状体の検査装置及び検査システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 不良検出精度並びに不良除去精度を適切に維
持しながら、大量の検査対象物を迅速に処理する。 【構成】 傾斜姿勢に保持された広幅の板状部材１Ａに
よって、粒状体群が一層状態で横幅方向に広がった状態
で流下案内しながら、流下方向下流側の長尺状の予定存
在箇所Ｊにおいて、透過光及び反射光の照明状態で、複
数個の受光部を並置させた透過光用ラインセンサ５Ａ及
び反射光用ラインセンサ５Ｂの受光情報に基づいて不良
物の位置を判別して、粒状体群の全幅を所定幅で複数個
の区画に分割形成した各区画に対応する状態で並置され
た複数個の噴射ノズル６ａのうちで、上記不良物が存在
する区画の噴射ノズル６ａを作動させて不良物にエアー
を吹き付けて正常物と異なる経路に分離させて選別す
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、粒状体群を検査対
象物として流下案内させる流下案内手段と、その流下案
内手段の流下方向下流側において、前記粒状体群におけ
る不良物の有無を検出する不良検出部と、その不良検出
部での検出情報に基づいて正常物と不良物とを異なる経
路に分離して選別する選別部とが設けられた粒状体の検
査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】上記粒状体の検査装置は、例えば、外部
の精米機等からの米粒群を検査対象物の粒状体群として
選別処理して、着色米等の不良米や石、ガラス等の異物
を不良物として除去して正常米（正常物）を得るもので
あるが、従来では、多数並置した斜め姿勢の流下樋群
（流下案内手段に相当する）にて米粒群を流下させなが
ら、流下方向下流側の検出位置に達した米粒等を各樋毎
に個別の光源で照明してその反射光を個別のホトセンサ
等の受光センサで受光し、その出力レベルが適正光量範
囲内であれば正常米とする一方で、適正光量範囲を外れ
ると着色米や石等の不良物と判定して、その不良物を検
出位置よりも下流側箇所において、エアー噴射ノズルに
よって正常米の経路から分離させて選別するようにして
いた（例えば、特公昭６０‐２１１４号公報参照）。

【０００３】なお、上記のように分離した不良物に正常
物が混入する場合がある一方で、正常物として回収した
ものに不良物が混入する場合がある。そのため、１回の
選別処理の後で、不良物中の正常物を回収して回収率を
上げるための再選別処理や、選別精度を上げるために正
常物を再度選別して不良物を除去する処理がなされる。
ここで、１回目の処理を１次選別、２回目の処理を２次
選別と呼ぶ。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術では、流下案内手段を多数の流下樋群で構成し
て、各流下樋を流れる１列状の粒状体群に対して、不良
物の有無を検出して正常物から分離するようにしていた
ので、流下案内手段や不良検出部等が複雑化・大型化す
る割りには、装置全体としての処理能力が低いという問
題点があった。ここで、処理能力を上げるために各樋で
の粒状体群の流下量を多くすると、前後を流れる粒同士
が接近して各粒毎の良否を的確に区別して検出すること
ができなくなり、また、処理能力を上げるために各樋で
の粒状体群の流下速度を速くし過ぎると、受光センサの
検出光量が低下して不良検出が適切にできず、同時に、
エアーによる不良物の分離も困難になるために、かかる
手段では、検査装置の処理能力を上げるには限界があ
る。又、上記従来技術では、反射光だけを用いて不良の
有無を検出するので、検出できる不良が限られ、検出精
度が低いという不具合があった。

【０００５】本発明は、上記実情に鑑みてなされたもの
であって、その目的は、上記従来技術の不具合を解消す
べく、不良検出精度並びに不良除去精度を適切に維持し
ながら、大量の検査対象物を迅速に処理することができ
る粒状体の検査装置を提供することである。

【０００６】

【課題を解決するための手段】請求項１では、傾斜姿勢
に保持された広幅の板状部材によって、粒状体群が一層
状態で横幅方向に広がった状態で流下案内され、その流
下方向下流側において、前記板状部材の下端部から流下
する粒状体群が広幅状態で存在することが予定される長
尺状の予定存在箇所が照明され、その照明光が前記長尺
状の予定存在箇所を透過した透過光が、複数個の受光部
を前記長尺状の予定存在箇所の長手方向に沿って並置さ
せた透過光用ラインセンサにて受光されるとともに、上
記照明光が前記長尺状の予定存在箇所で反射した反射光
が、複数個の受光部を前記長尺状の予定存在箇所の長手
方向に沿って並置させた反射光用ラインセンサにて受光
され、その両ラインセンサの受光情報に基づいて前記長
尺状の予定存在箇所における不良物の位置が判別され、
その不良検出情報に基づいて、粒状体群の全幅を所定幅
で複数個の区画に分割形成した各区画に対応する状態で
並置された複数個の噴射ノズルのうちで、上記不良物が
存在する区画の噴射ノズルを作動させて不良物にエアー
を吹き付けて正常物と異なる経路に分離させて選別す
る。

【０００７】従って、広幅の板状部材上に大量の粒状体
群を横幅方向に広がった状態で流下させながら、透過光
と反射光の両方の照明光にて各種の不良を検出できる状
態で、所定の分解能を有するラインセンサにて不良物の
位置を的確に検出し、その広幅状態の粒状体群のうちで
不良物が存在する範囲に対応する噴射ノズルだけを作動
させて不良物を正常物と分離するので、従来技術のよう
に、粒状体群を一列状に流下させる流下樋群を多数並置
させて流下案内手段を構成する検査装置では、流下案内
手段や不良検出部等が複雑化・大型化する割りには、装
置全体としての処理能力が低いという不具合を解消する
ことができる。しかも、反射光と透過光の両受光情報に
基づいて粒状体群における不良の有無を検出するので、
例えば粒状体群を米粒群とした場合に、従来のように反
射光の受光情報だけを用いて不良の有無を検出するもの
では、光反射率が米粒と同程度の白色の石やプラスチッ
ク等については検出できず、又、透過光の受光情報だけ
を用いて不良の有無を検出するものでは、光透過率が米
粒と同程度の色ガラス等については検出できないという
不具合を適切に解消することができ、不良検出精度並び
に不良除去精度を適切に維持できる。もって、大量の検
査対象物を迅速に、かつ精度良く処理することができる
粒状体の検査装置が得られる。

【０００８】請求項２では、請求項１において、前記長
尺状の予定存在箇所がその予定存在箇所を挟んで一方側
に設けた照明手段にて照明され、同じ側に設けた反射光
用ラインセンサにて、上記予定存在箇所からの反射光が
受光されるとともに、前記反射光用ラインセンサの受光
方向であって前記予定存在箇所の背部側に位置する状態
で前記長尺状の予定存在箇所を挟んで他方側に設けた反
射部材にて反射された反射光が受光され、さらに、前記
予定存在箇所からの透過光が、前記長尺状の予定存在箇
所を挟んで他方側に設けた透過光用ラインセンサにて受
光される。

【０００９】従って、長尺状の予定存在箇所を挟んで一
方側に設けた照明手段を併用して、透過光及び反射光に
よる不良検出の照明を行うことができるので、予定存在
箇所の両側に照明手段を設けるのに比べて、装置を簡素
化することができ、もって、請求項１の好適な手段が得
られる。

【００１０】請求項３では、請求項１又は２において、
透過光及び反射光の両ラインセンサにおいて、前記長尺
状の予定存在箇所の一端側から他端側に向けて前記複数
個の受光部から各受光情報が順次取り出される。

【００１１】従って、上記長尺状の予定存在箇所におい
て、同一方向に沿いながら同一範囲に存在する各粒状体
に対して、透過光と反射光によって同時に不良の有無を
検出し、その両検出情報に基づいて不良物を分離させる
ので、例えば、両ラインセンサにおける各受光部から受
光情報の取り出し方向が同じでない場合には、同一範囲
の各粒状体に対して、一方のラインセンサでの受光と他
方のラインセンサでの受光とのタイミングがずれて、両
受光情報を合わせて不良物の有無の判別を行う処理が複
雑になるのに比べて、極力簡素な判別処理にて不良検出
を行うことができ、もって、請求項１又は２の好適な手
段が得られる。

【００１２】請求項４では、請求項１〜３のいずれか１
項において、幅方向全幅に亘って平坦な案内面を備えて
形成されている板状部材によって、粒状体群が一層状態
で横幅方向に広がった状態で流下案内される。

【００１３】従って、極力均一な状態で大量の検査対象
物を流下させることができて、不良の有無の検出及びそ
の除去を適切な状態で円滑に行うことができ、もって、
請求項１〜３のいずれか１項の好適な手段が得られる。

【００１４】請求項５では、請求項１〜３のいずれか１
項において、粒状体群を横幅方向に複数列状に分割する
ための仕切部を備えた板状部材によって、粒状体群が横
幅方向に複数列状に分割した状態で流下案内される。

【００１５】従って、各列に分割した粒状体群につい
て、他の列の粒状体群と区別しながら、不良の有無の検
出及びその除去を的確に行うことができ、もって、請求
項１〜３のいずれか１項の好適な手段が得られる。

【００１６】請求項６では、請求項５において、筒状又
は溝状に形成されている仕切部によって、粒状体群が横
幅方向に複数列状に分割される。

【００１７】従って、例えば立設した単なる縦板や幕等
によって仕切部を構成すると、粒状体がその縦板や幕等
に引っ掛かって粒状体群を１列状態で適切に案内させる
ことができないおそれがあるのに比べて、円滑に１列状
態に分割して案内させることができ、もって、請求項５
の好適な手段が得られる。

【００１８】請求項７では、請求項４記載の粒状体の検
査装置にて構成される１次選別用検査装置にて、外部か
ら供給される検査対象物が正常物と不良物とに選別処理
され、その１次選別用検査装置にて選別された検査対象
物が、請求項５又は６記載の粒状体の検査装置にて構成
された２次選別用検査装置に搬送され、その２次選別用
検査装置にて再選別される。

【００１９】従って、幅方向全幅に亘って平坦に形成さ
れた板状部材を備えた１次選別用検査装置にて、外部か
ら供給される大量の検査対象物を迅速に流下案内させな
がら１次選別し、その１次選別後の検査対象物を、粒状
体群を横幅方向に複数列状に分割するための仕切部を備
えた板状部材によって各列毎に精度を上げて２次選別を
行うので、検査対象物の処理量が多い１次選別用装置
と、１次選別に比べて処理量が少ない２次選別用装置と
の処理能力のバランスを図りながら、１次選別及び２次
選別を良好に行うことができる粒状体の検査システムが
得られる。尚、１次選別用の板状部材と２次選別用の板
状部材とを同じ横幅に形成すれば、その他の装置構成を
同じにして、つまり、構成の兼用化を図りながら、１次
用と２次用の検査装置を構成できるものとなり、システ
ムの製作において有利である。

【００２０】請求項８では、請求項７において、１次選
別用検査装置が１次選別用ユニットにユニット構成さ
れ、２次選別用検査装置が２次選別用ユニットにユニッ
ト構成され、その１次選別用ユニットの任意個数、及
び、前記２次選別用ユニットの任意個数を並置させて、
粒状体の検査システムが構成される。

【００２１】従って、必要数の１次選別用及び２次選別
用の各ユニットを適宜組み合わせて検査システムを構成
するので、必要とする１次及び２次選別の各処理能力に
適切かつ柔軟に対応することができ、もって、請求項７
の好適な手段が得られる。

【００２２】

【発明の実施の形態】以下、本発明の粒状体の検査装置
の実施形態を、玄米や精米等の米粒群からなる粒状体群
を検査対象物として流下案内させながら、不良検出及び
不良物除去を行う場合について図面に基づいて説明す
る。

【００２３】図１〜図３（尚、図３は、不良検出及び不
良物除去の説明図であるために、図１及び図２とは装置
構成の配置が異なる箇所がある）に示すように、広幅の
板状のシュータ１Ａが、水平面に対して所定角度（例え
ば６０度）に傾斜されて設置され、このシュータ１Ａの
上部側に設けた貯溜タンク７からフィーダ９によって搬
送されて供給された米粒群ｋが一層状態で横方向に広が
った状態で滑って移送されている。つまり、米粒群ｋを
検査対象物として流下案内させる流下案内手段１が、米
粒群ｋを一層状態で横幅方向に広がった状態で流下案内
させるために、傾斜姿勢に保持された広幅の板状部材と
してのシュータ１Ａにて構成されている。ここで、上記
シュータ１Ａは、幅方向全幅に亘って平坦な案内面１ａ
を備えて形成された平面シュータである。

【００２４】但し、上記平面シュータ１Ａに代えて、図
６に示すように、前記板状部材として、粒状体群を横幅
方向に複数列状に分割した状態で流下案内させるための
仕切部１ｂを備えて形成された仕切付シュータ１Ｂでも
よい。この例は、仕切部１ｂが粒状体群の各列に対応す
る溝状に形成された溝付シュータを示す。

【００２５】貯溜タンク７には、外部の精米機等から供
給される検査対象物か、又は、その外部からの検査対象
物を１次選別処理した後再選別される正常物又は不良物
が貯溜される。タンク７は下端側ほど先細筒状に形成さ
れ、その底部には、貯溜された米粒群ｋをシュータ１
Ａ，１Ｂへ供給させるために開閉作動する開閉蓋２０Ａ
が設けられている。そして、タンクからフィーダ９上に
落下した米粒群ｋのシュータ１Ａ，１Ｂへの供給量が、
フィーダ９の搬送速度を変化させて調節されるようにな
っている。尚、タンク７には、内部の米粒群ｋの存在量
を検出するためのレベルセンサ１２が設置されている。

【００２６】シュータ１Ａ，１Ｂの下端部から流下する
米粒群ｋが広幅状態で存在することが予定される長尺状
の予定存在箇所Ｊ（以後、検出位置Ｊと呼ぶ）が、米粒
群ｋの流下経路中に設定されている。そして、その検出
位置Ｊを挟んで一方側（図の左側）に、その検出位置Ｊ
を照明する照明光源４として蛍光灯等からなるライン状
光源４Ａ，４Ｂと、そのライン状光源４Ａ，４Ｂからの
照明光が上記検出位置Ｊで反射した反射光を受光する反
射光用ラインセンサ５Ｂとが設けられ、さらに、後述の
透過光用ラインセンサ５Ａの受光方向であって検出位置
Ｊの背部側に位置して前記ライン状光源４Ａ，４Ｂから
の照明光を透過光用ラインセンサ５Ａに向けて反射する
透過光用反射板８Ａとが、一方の格納室１３Ｂ内に格納
されて設けられている。

【００２７】又、上記検出位置Ｊを挟んで他方側（図の
右側）に、ライン状光源４Ａ，４Ｂからの照明光が検出
位置Ｊを透過した透過光を受光する透過光用ラインセン
サ５Ａと、反射光用ラインセンサ５Ｂの受光方向であっ
て検出位置Ｊの背部側に位置して前記ライン状光源４
Ａ，４Ｂからの照明光を反射光用ラインセンサ５Ｂに向
けて反射する反射光用反射板８Ｂとが、他方の格納室１
３Ａ内に格納されて設けられいる。

【００２８】前記両格納室１３Ａ，１３Ｂ夫々は、前記
検出位置Ｊに面する側に板状の透明なガラスからなる窓
部材１４Ａ，１４Ｂを備えている。ここで、２つの窓部
材１４Ａ，１４Ｂは、下側ほど互いの間隔が狭くなるＶ
字状に配置されている。

【００２９】前記ライン状光源４Ａ，４Ｂは、検出位置
Ｊを斜め下方から照明する下側光源４Ａと、検出位置Ｊ
を斜め上方から照明する上側光源４Ｂとから構成され、
この両光源４Ａ，４Ｂは、検出位置Ｊに対して設定照明
角度を維持する状態でフレーム２２に保持されている。
そして、このように検出位置Ｊを照明光の投射角度を変
えて２つの方向から照明しているので、図１１に示すよ
うに、米粒ｋが正常な位置から横方向にずれた場合で
も、極力均一な状態で良好に照明できることになる。

【００３０】前記反射用反射板８Ｂは、米粒と同じ反射
率の領域８ａを上記ライン状光源４Ａ，４Ｂにて照明さ
れた米粒群ｋの全幅に対応して長手状に形成し、且つそ
の長手状の領域８ａの両側に黒色の領域８ｂを形成する
ように、前記窓部１４Ａの内面に印刷等による塗膜とし
て形成されている。又、前記透過用反射板８Ａは、前記
光源支持用のフレーム２２に連設された板部２２ａを折
り曲げて、その表面を印刷等にて白色に形成した白色板
からなる。

【００３１】図５に示すように、上記両ラインセンサ５
Ａ，５Ｂは、米粒ｋの大きさよりも小さい範囲ｐ（例え
ば米粒ｋの大きさの１０分の１程度）を夫々の受光対象
範囲として、各別に受光情報が取出し可能な複数個の受
光部５ａを、前記検出位置Ｊの長手方向に沿って並置さ
せて備えている。具体的には、複数個の受光部５ａとし
ての受光素子が直線状に並置されたモノクロタイプのＣ
ＣＤセンサ５０と、検出位置Ｊでの米粒群ｋの像を上記
ＣＣＤセンサの各受光素子上に結像させる光学系５１と
から構成されている。そして、両ラインセンサ５Ａ，５
Ｂが、前記長尺状の検出位置Ｊの一端側から他端側に向
けて、例えば図３において、長尺状の検出位置Ｊの左端
側から右端側に向けて、各受光部５ａから各受光情報を
順次取り出すように構成されている。

【００３２】上記両ラインセンサ５Ａ，５Ｂの検出位置
Ｊから流下方向下流側に、上記検出位置Ｊでの受光情報
に基づいて不良と判定された米粒ｋや異物等に対してエ
アーを吹き付けて正常な米粒ｋの流れ方向から横方向に
分離させるためのエアー吹き付け装置６が設けられてい
る。つまり、このエアー吹き付け装置６によって、シュ
ータ１Ａ，１Ｂの流下方向下流側において、米粒群ｋ内
の正常物と不良物とを異なる経路に分離して選別する選
別部６が構成され、そのエアー吹き付け装置６は、不良
物にエアーを吹き付けて正常物と異なる経路に分離させ
るための噴射ノズル６ａの複数個を、粒状体群の全幅を
所定幅で複数個の区画に分割形成した各区画に対応する
状態で並置させ、後述の判別手段１００にて判別された
不良物が存在する区画の噴射ノズル６ａを作動させるよ
うに構成される。

【００３３】そして、シュータ１Ａ，１Ｂの下端部から
所定経路に沿って流下する米粒群ｋのうちで、前記エア
ーの吹き付けを受けずにそのまま進行してくる正常な米
粒ｋを回収する良米回収箱２と、エアーの吹き付けを受
けて正常な米粒ｋの流れから横方向に分離した着色米
（焼け米）や胴割れ米等の不良米又は石やガラス片等の
異物を回収する不良物回収箱３とが設置されている。
尚、良米回収箱２の受口部２Ｂが細長い筒状に形成さ
れ、その良米回収用の受口部２Ｂの周囲を囲むように、
不良物回収箱３の受口部３Ｂが設けられている。

【００３４】前記良米回収箱２と不良物回収箱３の下部
側は、下端側ほど先細筒状に形成されるとともに、その
筒部先端を、スクリュー式の横搬送コンベア１６の搬送
始端側へ連通させるか又は外部への排出経路２ｇ，３ｇ
側へ連通させるかを切り換える揺動式のシャッター２
Ａ，３Ａが設けられている。尚、上記横搬送コンベア１
６の搬送終端側に移送された米粒群ｋは、後述の検査シ
ステムにおいて、２次選別のために、次の検査装置に向
けて搬送される。

【００３５】制御構成を説明すると、図４に示すよう
に、マイクロコンピュータ利用の制御装置１０が設けら
れ、この制御装置１０に、前記両ラインセンサ５Ａ，５
Ｂからの各画像信号と、前記レベルセンサ１２の検出信
号と、各種の指令情報を入力する操作卓２１からの操作
情報とが入力されている。

【００３６】一方、制御装置１０からは、前記ライン状
光源４Ａ，４Ｂを点灯させる点灯回路１９に対する駆動
信号と、各噴射ノズル６ａを各別に作動させるために、
図示しないコンプレッサーから各噴射ノズル６ａへの各
エアー供給路のエアー流通をオンオフする複数個の電磁
弁１１に対する駆動信号と、前記開閉蓋２０Ａを作動さ
せる電磁ソレノイド２０ａ及び前記シャッター２Ａ，３
Ａを作動させる電磁ソレノイド２ａ，３ａに対する各駆
動信号と、前記横搬送コンベア１６を作動させるコンベ
ア用モータ１６Ａへの駆動信号とが出力されている。

【００３７】そして、上記制御装置１０を利用して、前
記両ラインセンサ５Ａ，５Ｂの受光情報に基づいて前記
長尺状の検出位置Ｊにおける不良物（不良米及び混入異
物）の位置を判別する判別手段１００が構成され、さら
に、シュータ１Ａ，１Ｂの流下方向下流側において、前
記粒状体群における不良物の有無を検出する不良検出部
Ｆが、前記ライン状光源４Ａ，４Ｂと、両ラインセンサ
５Ａ，５Ｂと、前記判別手段１００とを備えて構成され
ている。

【００３８】以下、具体的に、前記検出位置Ｊにおける
透過光用及び反射光用の各ラインセンサ５Ａ，５Ｂの受
光情報に基づいて、米粒群ｋにおける各米粒の良否又は
米粒群ｋ内に混入した異物の存否を判別する構成につい
て説明する。

【００３９】透過光の場合は、図７の透過光用ラインセ
ンサ５Ａの出力波形に示すように、各受光部５ａの受光
量に対応する出力電圧が米粒群ｋに対する適正光量範囲
ΔＥｔ内にある場合に正常な米粒の存在を判別し、設定
適正範囲ΔＥｔを外れた場合に前記米粒の不良又は前記
異物の存在を判別する。ここで、透過光用の設定適正範
囲ΔＥｔは、正常米粒からの標準的な透過光に対する出
力電圧レベルｅ０を挟んで上下所定幅の範囲に設定され
る。

【００４０】そして、設定適正範囲ΔＥｔよりも小さい
場合に、正常な米粒よりも透過率が小さい不良の米粒や
異物等（例えば、黒色の石粒）の存在を判別し、適正光
量範囲ΔＥｔよりも大きい場合に、正常な米粒ｋよりも
透過率が大きい不良の米粒ｋ又は前記異物の存在を判別
する。この正常な米粒ｋよりも透過率が大きい不良の米
粒ｋ又は異物の例としては、薄い色付の透明なガラス片
等が正常な米粒ｋよりも透過率が大きい異物になり、
又、正常な米粒ｋを「もち米」としたときの「うるち
米」が正常な米粒ｋよりも透過率が大きい不良の米粒ｋ
になる。

【００４１】図７には、受光部５ａの出力電圧（受光
量）が、米粒ｋに一部着色部分が存在する位置や黒色の
石等の位置（ｅ１で示す）、及び、胴割れ部分が存在す
る位置（ｅ２で示す）では、上記設定適正範囲ΔＥｔよ
りも下側に位置し、又、正常な米粒よりも透過率が大き
い異物等が存在する場合には、位置ｅ４に示すように設
定適正範囲ΔＥｔよりも上側に位置している状態を例示
している。

【００４２】一方、反射光の場合には、図８の反射光用
のラインセンサ５Ｂの出力波形に示すように、各受光部
５ａの受光量に対応する出力電圧が設定適正範囲ΔＥｈ
内にある場合に正常な米粒の存在を判別し、設定適正範
囲ΔＥｈを外れた場合に前記米粒の不良又は前記異物の
存在を判別する。ここで、反射光用の設定適正範囲ΔＥ
ｈは、正常米粒からの標準的な反射光に対する出力電圧
レベルｅ０’を挟んで上下所定幅の範囲に設定される。

【００４３】図８には、米粒ｋに一部着色部分が存在す
る位置（ｅ１’で示す）や胴割れ部分が存在する位置
（ｅ２’で示す）では、上記設定適正範囲ΔＥｈから下
側に外れている状態を例示し、又、ガラス片等の異物が
存在する場合には、異物からの強い直接反射光によって
位置ｅ３’に示すように設定適正範囲ΔＥｈから上側に
外れている状態を例示している。又、図示しないが、黒
色の石等では、反射率が非常に小さいので、波形におい
て設定適正範囲ΔＥｈから下側に大きく外れることにな
る。

【００４４】そして、前記制御装置１０は、上記不良の
判別情報に基づいて、前記両ラインセンサ５Ａ，５Ｂの
検出位置Ｊに移送した米粒群ｋのうちで、米粒の不良又
は異物の存在が判別された場合には、検出位置Ｊから前
記噴射ノズル６ａによるエアー噴射位置までの移送時間
が経過するに伴って、流下している不良の米粒又は異物
に対して、その位置に対応する区画の各噴射ノズル６ａ
からエアーを吹き付けて正常な米粒の経路から分離させ
る。

【００４５】次に、上記検査装置を各別のユニットに構
成して、その複数個を組み合わせて、１次選別処理及び
２次選別処理を行うように構成した検査システムについ
て説明する。図９に、４台の検査ユニット（左からＭ
１，Ｍ２，Ｍ３，Ｍ４と呼ぶ）を横並び状態に配置し
て、隣接するユニット同士をボルト等の連結具にて連結
固定したシステムを示す。ここで、左側の３台Ｍ１〜Ｍ
３は、前記平面シュータ１Ａを設けて１次選別処理を行
う１次選別用ユニットであり、右端の１台Ｍ４は、前記
仕切付シュータ１Ｂを設けて、上記３台の１次選別用ユ
ニットＭ１〜Ｍ３で選別された不良物を再選別する２次
選別用ユニットである。尚、各１次選別用ユニットＭ１
〜Ｍ３及び２次選別用ユニットＭ４で選別された正常米
は、良品として外部に排出され、２次選別用ユニットＭ
４で選別された不良米等は、不良品として外部に排出さ
れる。上記１次選別用ユニットＭ１〜Ｍ３の夫々には、
外部か検査対象物を貯溜タンク７に供給するための供給
管２３が連結されている。又、３台の１次選別用ユニッ
トＭ１〜Ｍ３の各横搬送コンベア１６の搬送始端側に搬
送された不良物は、１つの回収用横搬送コンベア１７に
よって２次選別用ユニットＭ４の横脇位置まで横搬送さ
れてから縦搬送コンベア１８によって、２次選別用ユニ
ットＭ４の上方位置に縦搬送され、縦搬送コンベア１８
の終端部から斜め下向きの移送管１８ａにて２次選別用
ユニットＭ４の貯溜タンク７に供給される。以上より、
各横搬送コンベア１６と、回収用横搬送コンベア１７
と、縦搬送コンベア１８とが、１次選別後の正常物又は
不良物を２次選別する装置の貯溜用タンク７に搬送する
搬送手段Ｈを構成する。尚、上記回収用横搬送コンベア
１７と縦搬送コンベア１８とは、１次選別用ユニットＭ
１〜Ｍ３のいずれかの横搬送コンベア１６に連動して駆
動される。

【００４６】尚、上記形態とは別形態の検査システムの
例として、図１０に示すように、１次選別用ユニットＭ
１〜Ｍ３だけを横並び状態に配置して連結固定し、２次
選別用ユニットＭ４は、上記１次選別用ユニットＭ１〜
Ｍ３とは連結固定せずに単独の形態にすることもでき
る。

【００４７】〔別実施形態〕上記実施例では、検査対象
物としての粒状体群が玄米等の米粒群ｋである場合につ
いて例示したが、これに限るものではなく、例えば、プ
ラスチック粒等における不良物や異物の存否を検査する
場合にも適用できる。

【００４８】上記実施例では、流下案内手段における板
状部材に備える仕切部を溝形状１ｂに構成したが、これ
以外に、パイプ等の筒状に形成してもよい。

【００４９】上記実施例では、透過光及び反射光用の各
ラインセンサ５Ａ，５Ｂを、受光部５ａとして多数個の
光素子を並置したモノクロタイプのＣＣＤラインセンサ
にて構成したが、これ以外に、撮像管式のテレビカメラ
でもよい。又、モノクロタイプではなく、カラータイプ
のＣＣＤセンサにて構成して、例えば、色情報Ｒ，Ｇ，
Ｂ毎の受光量から不良米や異物の存否をさらに精度良く
判別するようにしてもよい。

【００５０】上記実施例では、搬送手段Ｈをスクリュー
式の搬送コンアベ１６，１７にて構成したが、これ以外
に、例えば、エアー式の搬送装置でもよい。

【図面の簡単な説明】

【図１】不良物検出・除去装置の全体側面図

【図２】同要部側面図

【図３】同要部斜視図

【図４】制御構成のブロック図

【図５】ラインセンサの受光範囲を示す図

【図６】別実施形態の流下案内手段の斜視図

【図７】透過光用ラインセンサの出力波形図

【図８】反射光用ラインセンサの出力波形図

【図９】複数の検査ユニットを組み合わせた不良物検出
・除去システム

【図１０】別実施形態の不良物検出・除去システム

【図１１】複数の照明光源による作用を説明するための
側面図

【符号の説明】

１ 流下案内手段 １Ａ 板状部材 １Ｂ 板状部材 １ａ 案内面 １ｂ 仕切部 ４ 照明手段 ５Ａ 透過光用ラインセンサ ５Ｂ 反射光用ラインセンサ ５ａ 受光部 ６ 選別部 ６ａ 噴射ノズル ８Ｂ 反射部材 １００ 判別手段 Ｆ 不良検出部 Ｈ 搬送手段 Ｍ１〜Ｍ３ １次選別用検査装置 Ｍ１〜Ｍ３ １次選別用ユニット Ｍ４ ２次選別用検査装置 Ｍ４ ２次選別用ユニット

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 粒状体群を検査対象物として流下案内さ
   せる流下案内手段と、その流下案内手段の流下方向下流
   側において、前記粒状体群における不良物の有無を検出
   する不良検出部と、その不良検出部での検出情報に基づ
   いて正常物と不良物とを異なる経路に分離して選別する
   選別部とが設けられた粒状体の検査装置であって、 前記流下案内手段が、粒状体群を一層状態で横幅方向に
   広がった状態で流下案内させるために、傾斜姿勢に保持
   された広幅の板状部材にて構成され、 前記不良検出部が、 前記板状部材の下端部から流下する粒状体群が広幅状態
   で存在することが予定される長尺状の予定存在箇所を照
   明する照明手段と、 その照明手段からの照明光が前記長尺状の予定存在箇所
   を透過した透過光を受光する複数個の受光部を前記長尺
   状の予定存在箇所の長手方向に沿って並置させた透過光
   用ラインセンサと、 前記照明手段からの照明光が前記長尺状の予定存在箇所
   で反射した反射光を受光する複数個の受光部を前記長尺
   状の予定存在箇所の長手方向に沿って並置させた反射光
   用ラインセンサと、 前記両ラインセンサの受光情報に基づいて前記長尺状の
   予定存在箇所における不良物の位置を判別する判別手段
   とを備えて構成され、 前記選別部が、不良物にエアーを吹き付けて正常物と異
   なる経路に分離させるための噴射ノズルの複数個を、粒
   状体群の全幅を所定幅で複数個の区画に分割形成した各
   区画に対応する状態で並置させ、前記判別手段にて判別
   された不良物が存在する区画の噴射ノズルを作動させる
   ように構成されている粒状体の検査装置。
2. 【請求項２】 前記長尺状の予定存在箇所を挟んで一方
   側に、前記照明手段と、前記反射光用ラインセンサとが
   設けられ、 前記長尺状の予定存在箇所を挟んで他方側に、前記透過
   光用ラインセンサと、前記反射光用ラインセンサの受光
   方向であって前記予定存在箇所の背部側に位置して前記
   照明手段からの照明光を前記反射光用ラインセンサに向
   けて反射する反射部材とが設けられている請求項１記載
   の粒状体の検査装置。
3. 【請求項３】 前記両ラインセンサが、前記長尺状の予
   定存在箇所の一端側から他端側に向けて前記複数個の受
   光部から各受光情報を順次取り出すように構成されてい
   る請求項１又は２記載の粒状体の検査装置。
4. 【請求項４】 前記板状部材が、幅方向全幅に亘って平
   坦な案内面を備えて形成されている請求項１〜３のいず
   れか１項に記載の粒状体の検査装置。
5. 【請求項５】 前記板状部材が、前記粒状体群を横幅方
   向に複数列状に分割した状態で流下案内させるための仕
   切部を備えて形成されている請求項１〜３のいずれか１
   項に記載の粒状体の検査装置。
6. 【請求項６】 前記仕切部が、筒状又は溝状に形成され
   ている請求項５記載の粒状体の検査装置。
7. 【請求項７】 請求項４記載の粒状体の検査装置を、外
   部から供給される検査対象物を正常物と不良物とに選別
   処理する１次選別用検査装置とし、 請求項５又は６記載の粒状体の検査装置を、前記１次選
   別用検査装置にて選別処理された正常物又は不良物を再
   選別処理する２次選別用検査装置とし、 前記１次選別用検査装置にて選別された検査対象物を前
   記２次選別用検査装置に搬送する搬送手段が設けられて
   いる粒状体の検査システム。
8. 【請求項８】 前記１次選別用検査装置を１次選別用ユ
   ニットに、前記２次選別用検査装置を２次選別用ユニッ
   トに、夫々各別に構成し、 前記１次選別用ユニットの任意個数、及び、前記２次選
   別用ユニットの任意個数を並置させて構成されている請
   求項７記載の粒状体の検査システム。