JP3146165B2 - 不良検出装置及び不良物除去装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、粒状体群を検査対
象物として、その検査対象物を照明したときの対象物か
らの検出光の情報に基づいて、粒状体群における各粒状
体の良否又は粒状体群内に混入した異物を検出する不良
検出装置、及び、その不良検出装置にて検出された不良
の粒状体又は異物を除去する不良物除去装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】上記不良検出装置では、図９に例示する
ように、例えばシュータＴにて移送されて検出位置に達
した米粒等の粒状体群を、両側から横向きに光源Ｌｇで
照明しながら、その照明光が米粒群及び反対側に設けた
反射板Ｒ（正常な米粒と同程度の反射率に形成されてい
る）で反射した反射光をフォトセンサ等からなる受光手
段Ｐｓで受光し、その受光レベルが予め反射板Ｒからの
反射光量により設定した適正光量範囲内であれば正常な
米粒と判定する一方で、適正光量範囲を外れると、着色
した米粒等の不良物や、石・プラスチック等の異物が混
入していると判定していた。そして、上記光源Ｌｇ、受
光手段Ｐｓ、反射板Ｒ等を、移送経路の両側の夫々にお
いて光透過用の窓部Ｗを備えた防塵用のケーシングＫｓ
内に格納していた（例えば、特開平２‐２１９８０号公
報参照）。尚、上記不良物等は、検出位置よりも経路下
流側箇所において、噴射ノズルＮｚにて正常な粒の経路
から分離される。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上記従来技術では、検
査対象物からの反射光の受光情報だけから米粒の不良等
を検出しているので、例えば光反射率が米粒と同程度の
白色の石やプラスチック等について検出できないおそれ
があり、そのため、反射光と透過光の両方の受光情報を
使って不良検出することが考えられ、例えば、図９の２
つの受光手段Ｐｓのうちの一方（例えば、右側）を米粒
群を透過した透過光を受光する透過光用の受光手段とし
て用い、経路を挟んで反対側（左側）の反射板Ｒを透過
用の照明光源に代える構成が想定できる。しかし、この
ような単純な置き換えをするだけでは、各窓部Ｗの入射
面及び出射面の法線方向が、経路を挟んで両側に位置す
る透過光源と透過光用の受光手段とを結ぶ透過光の方
向、及び、経路を挟んで両側に位置する反射板Ｒと受光
手段Ｐｓとを結ぶ反射光の方向に対して必ずしも一致し
ていないために、各窓部Ｗに入射した透過光や反射光が
不要な方向に屈折したり反射したりして散乱等が生じ、
検出精度を低下させるおそれがあった。

【０００４】本発明は、上記実情に鑑みてなされたもの
であって、その目的は、上記従来技術の不具合を解消す
べく、反射光と透過光の両方の受光情報を使って不良検
出を適切に行うために、照明用の光源や、透過光及び反
射光用の受光手段や、反射部材等を透明な窓部を備えた
防塵用ケース内に格納する場合に、上記予定存在箇所を
透過又は反射して各受光手段に入射する光が、上記透明
な窓部を通過するときに不要な方向に屈折や反射して散
乱等を生じないようにすることである。

【０００５】

【課題を解決するための手段】請求項１によれば、検査
対象物としての粒状体群の予定存在箇所を挟んで一方側
の格納室内に格納した照明手段からの照明光が、その一
方の格納室に備えた板状の透明な窓部材を入射側及び出
射側の各面に直交する状態で通過してから上記予定存在
箇所を照明し、その照明光が予定存在箇所で反射された
反射光が、上記一方の窓部材を入射側及び出射側の各面
に直交する状態で通過してから反射光受光手段によって
受光されるとともに、上記照明手段からの照明光が予定
存在箇所を挟んで他方側の格納室内に格納した反射部材
にて反射された反射光が、その他方の格納室及び上記一
方の格納室に備えた各板状の透明な窓部材を入射側及び
出射側の各面に直交する状態で通過してから反射光受光
手段によって受光され、その両受光手段の受光情報に基
づいて、粒状体群における各粒状体の良否又は粒状体群
内に混入した異物の存否が判別される。

【０００６】従って、反射光と透過光の両方の受光情報
を使って不良検出を適切に行うために、照明手段や、透
過及び反射用の各受光手段や、反射部材等を、透明な窓
部を備えた防塵用の格納室内に格納する場合に、検査対
象物の予定存在箇所を透過又は反射して各受光手段に入
射する光が、上記透明な窓部をその入射側及び出射側の
各面に対して直交する状態で通過するので、通過時に不
要な方向に屈折したり反射したりすることなく真っ直ぐ
に通過して散乱等を生じないようにすることができ、検
出精度の低下を回避できる不良検出装置が得られる。

【０００７】請求項２によれば、請求項１において、他
方の格納室側の窓部材が、同じ格納室に設ける反射部材
によって固定される。

【０００８】従って、上記反射部材を固定部材に兼用す
るので、上記窓部材に対する専用の固定部材が不要とな
って、装置構成が簡素化でき、もって、請求項１に係る
不良検出装置の好適な手段が得られる。

【０００９】請求項３によれば、請求項１において、一
方の格納室側の照明手段からの照明光が、他方の格納室
側の窓部材の内側面上に形成した反射部材によって、一
方の格納室側の反射光受光手段に向けて反射される。

【００１０】従って、上記反射部材として専用の部材が
不要となって、装置構成が簡素化でき、しかも、一方の
面から窓部材に入射した光が反対側の面で反射されるの
で、窓部材の背部位置に別部材の反射部材を配置する構
成では、窓部材の両面を通過した光が反射部材で反射さ
れて再び窓部材に入射するように、窓部材の各面を通過
する回数が多いのに比べて、窓部材の各面を通過する回
数が少なくなって光量損失等の不利も改善でき、もっ
て、請求項１に係る不良検出装置の好適な手段が得られ
る。

【００１１】請求項４によれば、請求項１〜３のいずれ
か１項に記載の不良検出装置が備えられ、予定移送経路
に沿って移送される検査対象物である粒状体群が両受光
手段の受光位置つまり前記予定存在箇所に移送され、そ
の受光位置に移送した粒状体群のうちの不良の粒状体及
び異物が、粒状体群のうちの正常な粒状体の経路と異な
る経路に分離して移送される。

【００１２】従って、例えば検査対象物（粒状体群）を
移送させずにその不良検出及び不良物除去を行うには、
装置側を可動できるように構成する必要があるのに比べ
て、検査対象物（粒状体群）を両受光手段の受光位置つ
まり不良検出位置から、異なる経路への分離位置つまり
不良物除去位置に順次移送しながら、不良物及び異物を
正常な粒状体から分離して移送させるようにすること
で、装置側を可動させないようにしながら装置各部を合
理的に配置して円滑な動作が実現できる不良物除去装置
が得られる。

【００１３】請求項５によれば、請求項４において、予
定移送経路に沿って一層状態で且つ複数列並ぶ状態で移
送されている検査対象物が、その並び方向の全幅におい
て照明されるとともに、その並び方向に沿ってその全幅
を受光範囲として両受光手段によって受光され、その受
光情報に基づいて、複数列の検査対象物の並び方向の全
幅における粒状体の良否又は混入異物の存否が判別され
る。

【００１４】従って、複数列並ぶ状態ではなく、例えば
一列状態で検査対象物（粒状体群）を移送するものに比
べて、その並び方向の全幅において並列的につまり能率
良く不良を検出することができ、もって、請求項４に係
る不良物除去装置の好適な手段が得られる。

【００１５】請求項６によれば、請求項４又は５におい
て、検査対象物である粒状体群を自重にて落下させて移
送させながら、その粒状体群内の不良の粒状体又は異物
に対してエアーが吹き付けられ、その不良の粒状体又は
異物が正常な粒状体の移送経路から分離される。

【００１６】従って、正常な粒状体の移送経路から不良
の粒状体又は異物を分離させるのに、エアーの吹き付け
作用によって行うので、例えば、出退動作をする板等の
機械的な手段で直接接触して分離させるのに比べて、速
い応答速度で且つソフトタッチに損傷を与えるおそれも
なく良好に分離でき、もって、請求項４又は５に係る不
良物除去装置の好適な手段が得られる。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下、本発明の不良検出装置及び
不良物除去装置の実施形態を、玄米等の米粒群からなる
粒状体群を検査対象物として所定経路に沿って移送しな
がら、不良検出及び不良物除去を行う場合について図面
に基づいて説明する。

【００１８】図１及び図２に示すように、所定幅の板状
のシュータ１が、水平面に対して所定角度（例えば６０
度）に傾斜されて設置され、このシュータ１の上部側に
設けた貯溜用のホッパー７から供給される米粒群ｋが一
層状態で横方向に広がった状態で滑って移送されてい
る。シュータ１の下方には、シュータ下端から所定速度
で自然落下する米粒群ｋのうちの正常な米粒ｋを回収す
る良米回収箱２と、正常な米粒ｋの流れから分離した着
色米（焼け米）や胴割れ米等の不良米又は石やガラス片
等の異物を回収する不良物回収箱３とが設置されてい
る。以上より、シュータ１が、検査対象物としての米粒
群ｋを予定移送経路（つまりシュータ上の米粒群ｋの流
れ経路及びシュータ下端から飛び出た米粒群ｋの落下経
路）に沿って一層状態で且つ複数列並ぶ状態で移送する
移送手段Ｈを構成する。

【００１９】前記ホッパー７は、シュータ１の上部側部
分を利用したシュータ面１ａと、このシュータ面１ａに
対向して反対側に傾斜した傾斜側面７ａと、ホッパー７
の全周を囲むための側壁部７ｂ及び上壁部７ｃとによっ
て、図２の紙面に垂直な方向視において下端側ほど先細
状の筒体に構成されている。傾斜側面７ａには、ホッパ
ー７内の米粒ｋをシュータ１へ排出するために、図２の
紙面に垂直な方向に沿う直線状の隙間をシュータ面１ａ
との間に形成する開閉ゲート９Ａと、その開閉ゲート９
Ａを移動させて上記隙間を変更するためのゲート駆動モ
ータ９Ｂ及びその他の機構が設けられている。尚、傾斜
側面７ａの上方の側壁部７ｂには、ホッパー７内の貯溜
量を検出するレベルセンサ１２が設置され、上壁部７ｃ
には、外部から供給される米粒の流入口７Ａが設けられ
ている。

【００２０】図２に示すように、前記予定移送経路つま
りシュータ下端からの米粒群ｋの落下経路の途中に、米
粒群ｋの予定存在箇所Ｊが設定されている。すなわち、
前記移送手段Ｈは、米粒群ｋを上記予定存在箇所Ｊつま
り後述の検査用のラインセンサ５Ａ，５Ｂの受光位置に
移送するように構成されている。

【００２１】そして、上記米粒群ｋの予定存在箇所Ｊを
挟んで一方側に、その予定存在箇所Ｊを複数列の米粒群
ｋの並び方向の全幅を照明する状態で照明する照明手段
としてのライン状光源４（蛍光灯等からなる）と、その
ライン状光源４からの照明光が上記予定存在箇所Ｊで反
射した反射光を受光する反射光受光手段としてのライン
センサ５Ｂとが、一方の格納室１３Ｂ内に格納されて設
けられ、又、前記予定存在箇所Ｊを挟んで他方側に、前
記ライン状光源４からの照明光が前記予定存在箇所Ｊを
透過した透過光を受光する透過光受光手段としてのライ
ンセンサ５Ａと、前記反射光用のラインセンサ５Ｂの受
光方向であって前記予定存在箇所Ｊの背部側に位置して
前記ライン状光源４からの照明光を前記反射光用のライ
ンセンサ５Ｂに向けて反射する反射部材としての反射板
８とが、他方の格納室１３Ａ内に格納されて設けられて
いる。

【００２２】前記両格納室１３Ａ，１３Ｂ夫々は、前記
予定存在箇所Ｊに面する側に板状の透明なガラスからな
る窓部材１４Ａ，１４Ｂを備えるとともに、その窓部材
１４Ａ，１４Ｂの入射側及び出射側の各面が、前記透過
光用のラインセンサ５Ａに入射する透過光及び前記反射
光用のラインセンサ５Ｂに入射する反射光の両方向に対
して直交するように設定されている。そして、透過光と
反射光の方向が同一方向にできないために、各窓部材１
４Ａ，１４Ｂを途中箇所で折れ曲げるように形成して上
記直交状態を実現している。尚、折れ曲がった窓部材１
４Ａ，１４Ｂを構成するのに、１枚のガラス板を曲げた
ものでもよく、あるいは、２枚のガラス板を隙間がない
ように接続させたものでもよい。

【００２３】上記反射板８は、米粒と同じ反射率の領域
８ａを上記ライン状光源４にて照明された米粒群ｋの全
幅に対応して長手状に形成し、且つその長手状の領域８
ａの両側に黒色の領域８ｂを形成した表面を、窓部１４
Ａの背部に押し付ける状態で固定されている。つまり、
反射板８が、他方の格納室１３Ａ内の窓部１４Ａを固定
するための固定部材に兼用されている。もう一方の格納
室１３Ｂの窓部１４Ｂは専用の固定板１５で押し付けて
固定されている。

【００２４】図４に示すように、上記両ラインセンサ５
Ａ，５Ｂは、米粒ｋの大きさよりも小さい範囲ｐ（例え
ば米粒ｋの大きさの１０分の１程度）を夫々の受光対象
範囲として、各別に受光情報が取出し可能な複数個の受
光部５ａを、米粒群ｋの予定存在箇所Ｊの全体に亘って
備えるように構成されている。具体的には、複数個の受
光部５ａとしての受光素子が上記複数列の米粒群ｋの並
び方向に沿ってその全幅に亘って直線状に並置されたモ
ノクロタイプのＣＣＤセンサと、米粒群ｋの像を上記Ｃ
ＣＤセンサの各受光素子上に結像させるための光学系と
から構成されている。これにより、両ラインセンサ５
Ａ，５Ｂは、複数列の米粒群ｋの並び方向に沿ってその
全幅を受光範囲とするように構成される。

【００２５】上記両ラインセンサ５Ａ，５Ｂの予定移送
経路における受光位置（予定存在箇所Ｊ）から経路方向
の下手側に、不良と判定された米粒ｋや異物等に対して
エアーを吹き付けて正常な米粒ｋの流れ方向から分離さ
せて前記不良物回収箱３に回収させるためのエアー吹き
付け装置６が設けられている。このエアー吹き付け装置
６は、米粒ｋの流れ方向に対して横幅方向に所定幅毎に
分割した各米粒群ｋに対して各別に吹き付け作動する複
数個のエアーガン６ａを備えている。

【００２６】制御構成を説明すると、図３に示すよう
に、マイクロコンピュータ利用の制御装置１０が設けら
れ、この制御装置１０に、前記両ラインセンサ５Ａ，５
Ｂからの各画像信号と、前記レベルセンサ１２の検出信
号とが入力されている。一方、制御装置１０からは、前
記エアー吹き付け装置６の各エアーガン６ａを夫々各別
に作動させるために、図示しないコンプレッサーから上
記各エアーガン６ａへの各エアー供給路のエアー流通を
オンオフする複数個の電磁弁１１に対する駆動信号と、
前記レベルセンサ１２の検出信号に基づいて、ホッパー
７内の貯溜量を設定状態に維持するための前記ゲート駆
動モータ９Ｂに対する駆動信号とが出力されている。

【００２７】前記制御装置１０を利用して、前記両ライ
ンセンサ５Ａ，５Ｂの受光情報に基づいて、米粒群ｋに
おける各米粒の良否又は米粒群ｋ内に混入した異物の存
否を判別する判別手段１００が構成されている。具体的
には、図５の透過光用のラインセンサ５Ａの出力波形に
示すように、透過光用のラインセンサ５Ａの受光量つま
り各受光部５ａの受光量に対応する出力電圧が米粒群ｋ
に対する適正光量範囲ΔＥｔの上限値ＵＬと下限値ＬＬ
との間にある場合に正常な米粒の存在を判定するととも
に、設定適正範囲ΔＥｔの下限値ＬＬよりも小さい場合
に、正常な米粒よりも透過率が小さい不良の米粒や異物
等（例えば、黒色の石粒）の存在を判定する。

【００２８】ここで、透過光の場合は、米粒ｋや異物等
が存在しない位置に対応する受光部５ａでは、照明光源
４からの照明光を直接受光して設定適正範囲ΔＥｔの上
限値ＵＬよりも大きい出力値Ｅｓになる。そこで、前記
判別手段１００は、適正光量範囲ΔＥｔの上限値ＵＬ
と、照明光源４からの照明光を直接受光したときの受光
量Ｅｓとの間に、明側の判定レベルＵＬ１を設定し、ラ
インセンサ５Ａの受光量が、適正光量範囲ΔＥｔの上限
値ＵＬと前記明側の判定レベルＵＬ１との間にある場合
に、正常な米粒ｋよりも透過率が大きい不良の米粒ｋ又
は前記異物の存在を判定するように構成されている。こ
の正常な米粒ｋよりも透過率が大きい不良の米粒ｋ又は
異物の例としては、正常な米粒ｋを「もち米」としたと
きの「うるち米」が正常な米粒ｋよりも透過率が大きい
不良の米粒ｋになり、薄い色付の透明なガラス片等が、
正常な米粒ｋよりも透過率が大きい異物になる。

【００２９】図５には、受光部５ａの出力電圧（受光
量）が、米粒ｋに一部着色部分が存在する位置や、黒色
の石等（ｅ１で示す）、及び、胴割れ部分が存在する位
置（ｅ２で示す）では、上記設定適正範囲ΔＥｔよりも
下側に位置し、又、正常な米粒よりも透過率が大きい異
物等が存在する場合には、位置ｅ４に示すように設定適
正範囲ΔＥｔよりも上側で前記明側の判定レベルＵＬ１
よりも下側に位置している状態を例示している。

【００３０】そして、ラインセンサ５Ａの受光量が、上
記明側の判定レベルＵＬ１と、設定適正範囲ΔＥｔの上
限値ＵＬとの間にあることを判別するために、ラインセ
ンサ５Ａの各受光部５ａにおいて、その受光量（出力電
圧）が明側の判定レベルＵＬ１よりも小で且つ前記適正
光量範囲ΔＥｔの上限値ＵＬよりも大である受光部５ａ
を求め、その求めた受光部５ａの隣接する連続個数が設
定個数（例えば、２個）を超える箇所を、正常な米粒ｋ
よりも透過率が大きい不良の米粒ｋ又は前記異物の存在
箇所と判定している。

【００３１】つまり、判別手段１００は、受光部５ａの
受光量が明側の判定レベルＵＬ１よりも小である２値情
報と、受光部５ａの受光量が前記適正光量範囲ΔＥｔの
上限値ＵＬよりも大である２値情報とを演算して、前記
受光量が前記明側の判定レベルＵＬ１よりも小で且つ前
記適正光量範囲ΔＥｔの上限値ＵＬよりも大である受光
部５ａを求める。

【００３２】具体的な処理を、図６によって説明する。
（イ）は、受光部５ａの受光量が明側の判定レベルＵＬ
１よりも小のときを１とした出力波形であり、前述の４
つの位置ｅ０，ｅ１，ｅ２，ｅ４の夫々に対応する箇所
で１になっている。（ロ）は、設定適正範囲ΔＥｔの上
限値ＵＬよりも大のときを１とした出力波形（上限値Ｕ
Ｌよりも小のときを１とした出力波形の反転波形）であ
り、前述の４つの位置ｅ０，ｅ１，ｅ２，ｅ４のうちで
ｅ４だけが出力されていない。そして、（イ）の波形と
（ロ）の波形との論理積（ＡＮＤ処理）を演算すると、
（ハ）に示すように、ｅ４だけに対応する信号波形が得
られる。但し、ＵＬ１にて検出される波形とＵＬにて検
出される波形の幅が異なる（ＵＬ１の方がＵＬに比べて
広い）ので、ｅ４以外の位置ｅ０，ｅ１，ｅ２において
も、前後に細いパルス状の波形が出るが、これは、前述
の設定個数（例えば、２個）以下の波形をカットするフ
イルター処理にて除去することができる。そして、
（ニ）に示すように、設定適正範囲ΔＥｔの下限値ＬＬ
よりも下側の位置ｅ１，ｅ２と、上記位置ｅ４とが、不
良物の位置として判定される。

【００３３】一方、反射光の場合には、図７の反射光用
のラインセンサ５Ｂの出力波形に示すように、ラインセ
ンサ５Ａの複数個の受光部５ａの受光情報に基づいて、
その各受光部５ａの受光量に対応する出力電圧が設定適
正範囲ΔＥｈを外れた場合に前記米粒の不良又は前記異
物の存在を判定する。ここで、反射光用の設定適正範囲
ΔＥｈは、正常米粒からの標準的な反射光に対する出力
電圧レベルｅ０’を挟んで上下所定幅の範囲に設定され
る。

【００３４】図７には、米粒ｋに一部着色部分が存在す
る位置（ｅ１’で示す）や胴割れ部分が存在する位置
（ｅ２’で示す）では、上記設定適正範囲ΔＥｈから下
側に外れている状態を例示し、又、ガラス片等の異物が
存在する場合には、異物からの強い直接反射光によって
位置ｅ３’に示すように設定適正範囲ΔＥｈから上側に
外れている状態を例示している。又、図示しないが、黒
色の石等では、反射率が非常に小さいので、波形におい
て設定適正範囲ΔＥｈから下側に大きく外れることにな
る。

【００３５】そして、前記移送手段Ｈは、前記制御装置
１０及び前記エアー吹き付け装置６をも利用して、前記
判別手段１００の判別情報に基づいて、前記両ラインセ
ンサ５Ａ，５Ｂの受光位置（予定存在箇所Ｊ）に移送し
た米粒群ｋのうちの正常な米粒ｋと不良の米粒及び前記
異物とを異なる経路に分離して移送するように構成され
ている。具体的には、米粒の不良又は異物の存在が判別
された場合には、予定存在箇所Ｊから前記予定移送経路
における前記不良の米粒又は前記異物に対する異なる経
路への分離箇所（前記エアーガン６ａの設置箇所）まで
の移送時間が経過するに伴って、前記不良の米粒又は前
記異物を正常な米粒の経路と異なる経路に分離させるよ
うに構成されている。つまり、米粒群ｋを自重にて落下
させて移送させるとともに、不良の米粒又は異物に対し
て、その位置に対応する各エアーガン６ａからエアーを
吹き付けて正常な米粒の経路から分離させる。

【００３６】〔別実施形態〕前記反射部材８の別実施例
を図８に示す。つまり、前記他方の格納室１３Ａ側の窓
部材１４Ａの内側面上に、反射部材８が形成されてい
る。具体的には、窓部材１４Ａを構成するガラス板面
に、白色系の塗料を印刷して米粒と同じ反射率の領域８
ａを形成し、その両側に、黒色の塗料にて黒色の領域８
ｂを形成する。尚、この場合は、図２の窓部材１４Ｂの
固定板１５と同様な固定板にて、上記反射部材８を形成
した窓部材１４Ａを固定する。

【００３７】上記実施例では、両受光手段５Ａ，５Ｂが
複数個の受光部５ａを備えるように構成したが、例えば
フォトセンサー等の単一のセンサーで構成して、前述の
判別手段１００による不良検出処理を行うようにしても
よい。

【００３８】上記実施例では、検査対象物としての粒状
体群が米粒群ｋである場合について例示したが、これに
限るものではなく、例えば、プラスチック粒等における
不良物や異物の存否を検査する場合にも適用できる。

【００３９】上記実施例では、照明手段４を、複数列状
の検査対象物（米粒群ｋ）の全幅を照明するようにライ
ン状の蛍光灯にて構成したが、検査対象物（米粒群ｋ）
の予定存在箇所その他の条件に応じて、照明手段の具体
構成は適宜変更できる。

【００４０】上記実施例では、受光手段５Ａを、モノク
ロタイプのＣＣＤセンサを利用して構成したが、撮像管
式のテレビカメラを利用して構成してもよい。又、モノ
クロタイプではなく、カラータイプのＣＣＤセンサにて
構成して、例えば、色情報Ｒ，Ｇ，Ｂ毎の受光量から不
良米や異物の存否をさらに精度良く判別するようにして
もよい。

【００４１】上記実施例では、移送手段Ｈにて検査対象
物としての粒状体群（米粒群ｋ）を予定移送経路に沿っ
て複数列並ぶ状態で（つまり横方向に広がった状態で）
移送するようにしたが、これ以外に、例えば、予定移送
経路に沿って一列状態で（つまり直線状に）移送させる
ようにしてもよい。

【００４２】上記実施例では、検査対象物としての粒状
体群（米粒群ｋ）を予定移送経路に沿って一層状態で複
数列並ぶ状態で移送する移送手段Ｈを構成するために、
傾斜させたシュータ１を設けてその面上を粒状体群を滑
らせるようにしたが、これ以外に、例えば、粒状体群を
一層状態で載置して搬送する搬送装置等を設けてもよ
い。又、自重にて落下している粒状体群（米粒群ｋ）中
の不良物に向けてエアーを吹き付けて、正常な粒状体の
経路から不良物を分離して移送するように、移送手段Ｈ
を構成したが、これに限るものではなく、例えば、不良
物をエアーで吸引するようにしてもよい。

【図面の簡単な説明】

【図１】不良検出・除去装置の概略斜視図

【図２】同概略側面図

【図３】制御構成のブロック図

【図４】受光検出範囲の説明図

【図５】透過光受光手段の出力波形図

【図６】透過光の場合の不良検出処理を説明する波形図

【図７】反射光受光手段の出力波形図

【図８】別実施例の窓部材を示す正面及び側面図

【図９】従来例の受光検出部を示す側面図

【符号の説明】

４ 照明手段 ５Ａ 透過光受光手段 ５Ｂ 反射光受光手段 ８ 反射部材 １３Ａ 格納室 １３Ｂ 格納室 １４Ａ 窓部材 １４Ｂ 窓部材 １００ 判別手段 Ｈ 移送手段

フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−204526（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−22977（ＪＰ，Ａ) 実開 昭63−103783（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) B07C 5/342

Claims (6)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 粒状体群を検査対象物として、 その検査対象物の予定存在箇所を挟んで一方側に、その
   予定存在箇所を照明する照明手段と、その照明手段から
   の照明光が前記予定存在箇所で反射した反射光を受光す
   る反射光受光手段とが、一方の格納室に格納されて設け
   られ、 前記予定存在箇所を挟んで他方側に、前記照明手段から
   の照明光が前記予定存在箇所を透過した透過光を受光す
   る透過光受光手段と、前記反射光受光手段の受光方向で
   あって前記予定存在箇所の背部側に位置して前記照明手
   段からの照明光を前記反射光受光手段に向けて反射する
   反射部材とが、他方の格納室に格納されて設けられ、 前記両格納室夫々が、前記予定存在箇所に面する側に板
   状の透明な窓部材を備えるとともに、その窓部材の入射
   側及び出射側の各面が、前記透過光受光手段に入射する
   透過光及び前記反射光受光手段に入射する反射光の両方
   向に対して直交するように設定され、 前記両受光手段の受光情報に基づいて、粒状体群におけ
   る各粒状体の良否又は粒状体群内に混入した異物の存否
   を判別する判別手段が設けられている不良検出装置。
2. 【請求項２】 前記反射部材が、前記他方の格納室側の
   前記窓部材を固定するための固定部材に兼用されている
   請求項１記載の不良検出装置。
3. 【請求項３】 前記他方の格納室側の前記窓部材の内側
   面上に、前記反射部材が形成されている請求項１記載の
   不良検出装置、
4. 【請求項４】 請求項１〜３のいずれか１項に記載の不
   良検出装置を備えた不良物除去装置であって、 前記検査対象物を予定移送経路に沿って移送する移送手
   段が設けられ、 前記移送手段は、前記検査対象物を前記両受光手段の受
   光位置に移送するとともに、前記判別手段の判別情報に
   基づいて、前記両受光手段の受光位置に移送した前記検
   査対象物のうちの正常な粒状体と不良の粒状体及び前記
   異物とを異なる経路に分離して移送するように構成され
   ている不良物除去装置。
5. 【請求項５】 前記移送手段は、前記検査対象物を一層
   状態で且つ複数列並ぶ状態で移送するように構成され、 前記照明手段は、前記複数列の検査対象物の並び方向の
   全幅を照明するように構成され、 前記両受光手段は、前記複数列の検査対象物の並び方向
   に沿ってその全幅を受光範囲とするように構成されてい
   る請求項４記載の不良物除去装置。
6. 【請求項６】 前記移送手段は、前記検査対象物を自重
   にて落下させて移送させるとともに、前記不良の粒状体
   又は前記異物に対してエアーを吹き付けて正常な粒状体
   の経路から分離させるように構成されている請求項４又
   は５記載の不良物除去装置。