JPH1099797A - 粒状体の検査装置 - Google Patents
粒状体の検査装置Info
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- JPH1099797A JPH1099797A JP25835096A JP25835096A JPH1099797A JP H1099797 A JPH1099797 A JP H1099797A JP 25835096 A JP25835096 A JP 25835096A JP 25835096 A JP25835096 A JP 25835096A JP H1099797 A JPH1099797 A JP H1099797A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 流下案内される粒状体の種類の違いや、流下
案内される粒状体群の流量の違い等にかかわらず、正常
な粒状体と不良の粒状体や異物とを適切に分離させるこ
とができる粒状体の検査装置を提供する。 【解決手段】 傾斜姿勢の流下案内路1により流下案内
される粒状体群を対象として、粒状体の良否又は異物の
存否を判別して、不良の粒状体及び異物を正常な粒状体
と異なる経路に分離させるエアー吹き付け装置6が備え
られ、判別部Hにより不良の粒状体及び異物の判別が行
われてから、その判別された不良の粒状体又は異物が位
置すると予測される領域において、エアー吹き付け装置
6を操作させるように構成され、不良の粒状体又は異物
に対する、エアー吹き付け装置6によるエアー吹きつけ
時間を変更調整できるように構成されている。
案内される粒状体群の流量の違い等にかかわらず、正常
な粒状体と不良の粒状体や異物とを適切に分離させるこ
とができる粒状体の検査装置を提供する。 【解決手段】 傾斜姿勢の流下案内路1により流下案内
される粒状体群を対象として、粒状体の良否又は異物の
存否を判別して、不良の粒状体及び異物を正常な粒状体
と異なる経路に分離させるエアー吹き付け装置6が備え
られ、判別部Hにより不良の粒状体及び異物の判別が行
われてから、その判別された不良の粒状体又は異物が位
置すると予測される領域において、エアー吹き付け装置
6を操作させるように構成され、不良の粒状体又は異物
に対する、エアー吹き付け装置6によるエアー吹きつけ
時間を変更調整できるように構成されている。
Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、穀粒やそ
の他の粒状体の検査装置に関わり、詳しくは、傾斜姿勢
の流下案内路により流下案内されて一層状態となる粒状
体群を対象として、粒状体の良否又は異物の存否を判別
する判別手段と、この判別手段による判別対象箇所より
も流下方向下手側において、流下案内される不良の粒状
体及び異物に対して作用して、これらを正常な粒状体と
異なる経路に分離させる分離操作手段と、前記判別手段
の判別情報に基づいて前記分離操作手段の動作を制御す
る制御手段が備えられ、前記制御手段は、前記判別手段
により不良の粒状体及び異物の判別が行われてから、そ
の判別された不良の粒状体又は異物が位置すると予測さ
れる領域において、前記分離操作手段を操作させるよう
に構成されている粒状体の検査装置に関する。
の他の粒状体の検査装置に関わり、詳しくは、傾斜姿勢
の流下案内路により流下案内されて一層状態となる粒状
体群を対象として、粒状体の良否又は異物の存否を判別
する判別手段と、この判別手段による判別対象箇所より
も流下方向下手側において、流下案内される不良の粒状
体及び異物に対して作用して、これらを正常な粒状体と
異なる経路に分離させる分離操作手段と、前記判別手段
の判別情報に基づいて前記分離操作手段の動作を制御す
る制御手段が備えられ、前記制御手段は、前記判別手段
により不良の粒状体及び異物の判別が行われてから、そ
の判別された不良の粒状体又は異物が位置すると予測さ
れる領域において、前記分離操作手段を操作させるよう
に構成されている粒状体の検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】上記粒状体の検査装置において、従来で
は、例えば特開平2‐21980号公報に示されるよう
に、光学式の判別手段による判別結果に基づいて、分離
操作手段として、噴射ノズル装置からの圧縮空気が噴射
されて不良品や異物が吹き飛ばされて分離されるように
構成され、この噴射ノズル装置の作動タイミングや噴射
作動時間は常に一定に設定されていた。
は、例えば特開平2‐21980号公報に示されるよう
に、光学式の判別手段による判別結果に基づいて、分離
操作手段として、噴射ノズル装置からの圧縮空気が噴射
されて不良品や異物が吹き飛ばされて分離されるように
構成され、この噴射ノズル装置の作動タイミングや噴射
作動時間は常に一定に設定されていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記構成の検査装置に
おいては、傾斜姿勢の流下案内路により流下案内される
検査対象物としての粒状体の種類が異なったような場合
には、流下されるときの案内面との間の摩擦抵抗やある
いは粒状体の形状、大きさ等が異なり、そのことに起因
して、このような粒状体の種類の差異によって流下案内
されるときの流下速度が夫々異なることが考えられる。
おいては、傾斜姿勢の流下案内路により流下案内される
検査対象物としての粒状体の種類が異なったような場合
には、流下されるときの案内面との間の摩擦抵抗やある
いは粒状体の形状、大きさ等が異なり、そのことに起因
して、このような粒状体の種類の差異によって流下案内
されるときの流下速度が夫々異なることが考えられる。
【0004】又、粒状体の種類が同じであっても、流下
案内される粒状体群の中に不良の粒状体や異物が混入す
る場合には、このような不良の粒状体や異物における比
重や摩擦抵抗等は正常な粒状体と異なっていることがあ
る。粒状体群の流下案内される流量が多い場合には、こ
のような不良の粒状体や異物が存在する場合であって
も、このような不良の粒状体や異物の周囲に多数存在す
る正常な粒状体が連続的に層状態で滑らかに流動するこ
とにより、不良の粒状体や異物もそれに連なって同じよ
うな流動状態で流下案内されることになるが、例えば、
流量が少なくなると、流下案内される各粒状体の間隔が
広くなるので、粒状体群のうちの不良の粒状体や異物の
各々の流動状態が、それ自身の比重や摩擦抵抗等に起因
して、その他の正常な粒状体群とは異なる流動状態にな
ることがある。その結果、正常な粒状体の流下速度と、
不良の粒状体や異物の流下速度が異なったものとなる。
案内される粒状体群の中に不良の粒状体や異物が混入す
る場合には、このような不良の粒状体や異物における比
重や摩擦抵抗等は正常な粒状体と異なっていることがあ
る。粒状体群の流下案内される流量が多い場合には、こ
のような不良の粒状体や異物が存在する場合であって
も、このような不良の粒状体や異物の周囲に多数存在す
る正常な粒状体が連続的に層状態で滑らかに流動するこ
とにより、不良の粒状体や異物もそれに連なって同じよ
うな流動状態で流下案内されることになるが、例えば、
流量が少なくなると、流下案内される各粒状体の間隔が
広くなるので、粒状体群のうちの不良の粒状体や異物の
各々の流動状態が、それ自身の比重や摩擦抵抗等に起因
して、その他の正常な粒状体群とは異なる流動状態にな
ることがある。その結果、正常な粒状体の流下速度と、
不良の粒状体や異物の流下速度が異なったものとなる。
【0005】しかしながら、上記従来構成においては、
分離操作手段による粒状体群の流下方向に対する分離用
の作用幅が常に同じであることから、上述したように粒
状体の種類の差異や、流量の差異等に起因して、分離対
象物の流下速度が異なることがある場合には、正常な粒
状体と不良の粒状体や異物とを適切に分離させることが
できないものになる不利があった。
分離操作手段による粒状体群の流下方向に対する分離用
の作用幅が常に同じであることから、上述したように粒
状体の種類の差異や、流量の差異等に起因して、分離対
象物の流下速度が異なることがある場合には、正常な粒
状体と不良の粒状体や異物とを適切に分離させることが
できないものになる不利があった。
【0006】本発明はかかる点に着目してなされたもの
であり、その目的は、流下案内される粒状体の種類の違
いや、流下案内される粒状体群の流量の違い等にかかわ
らず、正常な粒状体と不良の粒状体や異物とを適切に分
離させることができる粒状体の検査装置を提供する点に
ある。
であり、その目的は、流下案内される粒状体の種類の違
いや、流下案内される粒状体群の流量の違い等にかかわ
らず、正常な粒状体と不良の粒状体や異物とを適切に分
離させることができる粒状体の検査装置を提供する点に
ある。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の特徴構
成によれば、傾斜姿勢の流下案内路により流下案内され
て一層状態となる粒状体群を対象として、判別手段が、
粒状体の良否又は異物の存否を判別する。そして、制御
手段の制御作動によって、判別手段により不良の粒状体
及び異物の判別が行われてから、判別手段による判別対
象箇所よりも流下方向下手側において、その判別された
不良の粒状体又は異物が位置すると予測される領域にお
いて、分離操作手段によって、流下案内される不良の粒
状体及び異物に対して作用してこれらを正常な粒状体と
異なる経路に分離させることになる。そして、制御手段
は、指令手段の指令情報に基づいて、不良の粒状体又は
異物に対する、分離操作手段による粒状体群の流下方向
に沿う分離用の作用幅を変更調整するように構成されて
いる。
成によれば、傾斜姿勢の流下案内路により流下案内され
て一層状態となる粒状体群を対象として、判別手段が、
粒状体の良否又は異物の存否を判別する。そして、制御
手段の制御作動によって、判別手段により不良の粒状体
及び異物の判別が行われてから、判別手段による判別対
象箇所よりも流下方向下手側において、その判別された
不良の粒状体又は異物が位置すると予測される領域にお
いて、分離操作手段によって、流下案内される不良の粒
状体及び異物に対して作用してこれらを正常な粒状体と
異なる経路に分離させることになる。そして、制御手段
は、指令手段の指令情報に基づいて、不良の粒状体又は
異物に対する、分離操作手段による粒状体群の流下方向
に沿う分離用の作用幅を変更調整するように構成されて
いる。
【0008】例えば、粒状体群の流下速度が速い場合
や、粒状体群の流下流量が多い場合等においては、前記
作用幅を狭くすることによって、不良の粒状体や異物だ
けを適正に分離させるとともに、その前後に位置する正
常な粒状体が併せて分離されることを極力回避させるこ
とができ、又、粒状体群の流下速度が遅い場合や、ある
いは流下案内される粒状体群の流量が少ない場合等にお
いては、前記作用幅を広げることにより不良の粒状体や
異物を漏れの少ない状態で確実に分離させることが可能
となる。従って、粒状体の種類や流量の違いにかかわら
ず、不良の粒状体や異物だけを適正に分離させることが
可能となった。
や、粒状体群の流下流量が多い場合等においては、前記
作用幅を狭くすることによって、不良の粒状体や異物だ
けを適正に分離させるとともに、その前後に位置する正
常な粒状体が併せて分離されることを極力回避させるこ
とができ、又、粒状体群の流下速度が遅い場合や、ある
いは流下案内される粒状体群の流量が少ない場合等にお
いては、前記作用幅を広げることにより不良の粒状体や
異物を漏れの少ない状態で確実に分離させることが可能
となる。従って、粒状体の種類や流量の違いにかかわら
ず、不良の粒状体や異物だけを適正に分離させることが
可能となった。
【0009】請求項2に記載の特徴構成によれば、前記
指令手段として、流下案内路により流下案内される粒状
体群の流量を検出する流量検出手段が設けられ、制御手
段は、流量検出手段の検出情報に基づいて、検出される
粒状体群の流量が少ない場合には、流量が多い場合より
も前記作用幅を幅広に変更調整するように構成されてい
る。
指令手段として、流下案内路により流下案内される粒状
体群の流量を検出する流量検出手段が設けられ、制御手
段は、流量検出手段の検出情報に基づいて、検出される
粒状体群の流量が少ない場合には、流量が多い場合より
も前記作用幅を幅広に変更調整するように構成されてい
る。
【0010】従って、流下案内路により実際に流下案内
される粒状体群の流量の検出情報に基づいて、分離操作
手段による粒状体群の流下方向に沿う分離用の作用幅を
適切な状態に変更することにより、実際の流下状況に応
じて適切な作用幅となり、適正に不良の粒状体や異物を
分離させることができる。
される粒状体群の流量の検出情報に基づいて、分離操作
手段による粒状体群の流下方向に沿う分離用の作用幅を
適切な状態に変更することにより、実際の流下状況に応
じて適切な作用幅となり、適正に不良の粒状体や異物を
分離させることができる。
【0011】請求項3に記載の特徴構成によれば、前記
分離操作手段は、不良の粒状体及び異物に対してエアー
を吹きつけてこれらを正常な粒状体と異なる経路に分離
させるように構成され、制御手段は、エアーの吹きつけ
時間を変更させることにより、前記作用幅を変更調整す
るように構成されている。
分離操作手段は、不良の粒状体及び異物に対してエアー
を吹きつけてこれらを正常な粒状体と異なる経路に分離
させるように構成され、制御手段は、エアーの吹きつけ
時間を変更させることにより、前記作用幅を変更調整す
るように構成されている。
【0012】エアーの吹きつけによって不良粒状体等を
分離させる構成であるから、例えば、アクチュエータに
て操作される押圧部材によって機械的に分離操作を行う
ような場合に較べて、作用幅の調整をエアーの噴出量や
噴出時間等を変更させるだけで容易に対応できるものと
なり、制御構成を簡素にしながら、不良の粒状体及び異
物を適正に分離させることができる利点がある。
分離させる構成であるから、例えば、アクチュエータに
て操作される押圧部材によって機械的に分離操作を行う
ような場合に較べて、作用幅の調整をエアーの噴出量や
噴出時間等を変更させるだけで容易に対応できるものと
なり、制御構成を簡素にしながら、不良の粒状体及び異
物を適正に分離させることができる利点がある。
【0013】請求項4に記載の特徴構成によれば、前記
流下案内路が、横幅方向に沿って複数の列状に粒状体群
が一層状態で流下案内される案内板にて構成され、前記
判別手段が、横幅方向に沿って複数の列状に流下案内さ
れる粒状体群に対して横幅方向に沿う複数箇所で各別に
判別動作を実行する状態で設けられるとともに、前記分
離操作手段は前記各判別手段の各々に対応して作動する
状態で、前記案内板の流下横幅方向に沿って複数設けら
れている。
流下案内路が、横幅方向に沿って複数の列状に粒状体群
が一層状態で流下案内される案内板にて構成され、前記
判別手段が、横幅方向に沿って複数の列状に流下案内さ
れる粒状体群に対して横幅方向に沿う複数箇所で各別に
判別動作を実行する状態で設けられるとともに、前記分
離操作手段は前記各判別手段の各々に対応して作動する
状態で、前記案内板の流下横幅方向に沿って複数設けら
れている。
【0014】流下案内路を一列状態で粒状体群が流下案
内される構成に較べて、多量の粒状体群を流下させなが
ら、判別手段や分離操作手段によって、各列状の粒状体
群において、良否や異物の存否の判別、及び、不良粒状
体等の分離が各別に行われるので、全体としての検査処
理能力を向上させながら、不良粒状体等の分離操作を適
正に行うことができるものとなる。
内される構成に較べて、多量の粒状体群を流下させなが
ら、判別手段や分離操作手段によって、各列状の粒状体
群において、良否や異物の存否の判別、及び、不良粒状
体等の分離が各別に行われるので、全体としての検査処
理能力を向上させながら、不良粒状体等の分離操作を適
正に行うことができるものとなる。
【0015】請求項5に記載の特徴構成によれば、前記
判別手段は、照射される光に対する粒状体の光学的特性
を検出する受光手段の検出情報に基づいて、粒状体の良
否又は異物の存否を判別するように構成され、前記流量
検出手段は、前記受光手段の検出情報に基づいて、粒状
体の流量を検出するように構成されている。
判別手段は、照射される光に対する粒状体の光学的特性
を検出する受光手段の検出情報に基づいて、粒状体の良
否又は異物の存否を判別するように構成され、前記流量
検出手段は、前記受光手段の検出情報に基づいて、粒状
体の流量を検出するように構成されている。
【0016】従って、粒状体の良否又は異物の存否を判
別する為の受光手段の検出情報を利用して、粒状体の流
量を検出するようにしているので、特別な流量検出用の
検出手段を設ける必要がなく、検出用部材の兼用化によ
り、構成を複雑化させることなく流量の検出とそれに基
づく分離用作用幅の変更調整とを行うことが可能となっ
た。
別する為の受光手段の検出情報を利用して、粒状体の流
量を検出するようにしているので、特別な流量検出用の
検出手段を設ける必要がなく、検出用部材の兼用化によ
り、構成を複雑化させることなく流量の検出とそれに基
づく分離用作用幅の変更調整とを行うことが可能となっ
た。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明の粒状体の検査装置
の実施形態を、玄米等の米粒群からなる粒状体群を検査
対象物として所定経路に沿って移送しながら、不良検出
及び不良物除去を行う場合について図面に基づいて説明
する。
の実施形態を、玄米等の米粒群からなる粒状体群を検査
対象物として所定経路に沿って移送しながら、不良検出
及び不良物除去を行う場合について図面に基づいて説明
する。
【0018】図1及び図2に示すように、所定幅の板状
のシュータ1(流下案内路の一例)が、水平面に対して
所定角度(例えば60度)に傾斜されて設置され、この
シュータ1の上部側に設けた貯溜用のホッパー7から供
給される米粒群kが一層状態で横方向複数の列状に広が
った状態で滑って移送されるように構成されている。シ
ュータ1の下方には、シュータ下端から所定速度で自然
落下する米粒群kのうちの正常な米粒kを回収する良米
回収箱2(正常な粒状体)と、正常な米粒kの流れから
分離した着色米(焼け米)や胴割れ米等の不良米(不良
の粒状体)又は石やガラス片等の異物を回収する不良物
回収箱3とが設置された回収部Eが設けられている。以
上より、シュータ1が、検査対象物としての米粒群kを
予定移送経路(つまりシュータ上の米粒群kの流れ経路
及びシュータ下端から飛び出た米粒群kの落下経路)に
沿って一層状態で且つ複数列並ぶ状態で移送するように
構成されている。
のシュータ1(流下案内路の一例)が、水平面に対して
所定角度(例えば60度)に傾斜されて設置され、この
シュータ1の上部側に設けた貯溜用のホッパー7から供
給される米粒群kが一層状態で横方向複数の列状に広が
った状態で滑って移送されるように構成されている。シ
ュータ1の下方には、シュータ下端から所定速度で自然
落下する米粒群kのうちの正常な米粒kを回収する良米
回収箱2(正常な粒状体)と、正常な米粒kの流れから
分離した着色米(焼け米)や胴割れ米等の不良米(不良
の粒状体)又は石やガラス片等の異物を回収する不良物
回収箱3とが設置された回収部Eが設けられている。以
上より、シュータ1が、検査対象物としての米粒群kを
予定移送経路(つまりシュータ上の米粒群kの流れ経路
及びシュータ下端から飛び出た米粒群kの落下経路)に
沿って一層状態で且つ複数列並ぶ状態で移送するように
構成されている。
【0019】前記ホッパー7は、シュータ1の上部側部
分を利用した流下案内面としてのシュータ面1aと、こ
のシュータ面1aに対向して反対側に傾斜した傾斜側面
7aと、ホッパー7の全周を囲むための側壁部7b及び
上壁部7cとによって、図2の紙面に垂直な方向視にお
いて下端側ほど先細状の筒体に構成されている。傾斜側
面7aの上方の側壁部7bには、ホッパー7内の貯溜量
を検出する貯留量検出手段としてのレベルセンサ12が
設置され、上壁部7cには、外部から供給される米粒の
流入口7Aが設けられている。このホッパー7に対して
は、例えば、図示しない精米装置にて精米された後の米
粒群や籾摺装置にて処理された後の玄米等の米粒群等が
連続的に供給される。傾斜側面7aには、ホッパー7内
の米粒kをシュータ1へ排出するための開口Qの開口面
積を変更させて米粒群kの流量を変更調整する流量調整
手段9が備えられている。この流量調整手段9は、前記
開口Qの開口面積を変更させる開閉ゲート9Aと、その
開閉ゲート9Aをシュータ面とほぼ直交する方向に移動
させるゲート駆動モータ9B等を備えて構成されてい
る。
分を利用した流下案内面としてのシュータ面1aと、こ
のシュータ面1aに対向して反対側に傾斜した傾斜側面
7aと、ホッパー7の全周を囲むための側壁部7b及び
上壁部7cとによって、図2の紙面に垂直な方向視にお
いて下端側ほど先細状の筒体に構成されている。傾斜側
面7aの上方の側壁部7bには、ホッパー7内の貯溜量
を検出する貯留量検出手段としてのレベルセンサ12が
設置され、上壁部7cには、外部から供給される米粒の
流入口7Aが設けられている。このホッパー7に対して
は、例えば、図示しない精米装置にて精米された後の米
粒群や籾摺装置にて処理された後の玄米等の米粒群等が
連続的に供給される。傾斜側面7aには、ホッパー7内
の米粒kをシュータ1へ排出するための開口Qの開口面
積を変更させて米粒群kの流量を変更調整する流量調整
手段9が備えられている。この流量調整手段9は、前記
開口Qの開口面積を変更させる開閉ゲート9Aと、その
開閉ゲート9Aをシュータ面とほぼ直交する方向に移動
させるゲート駆動モータ9B等を備えて構成されてい
る。
【0020】前記開閉ゲート9Aは、図9(イ)に示す
ように、前記開口Qの開口面積を変更調整自在な小流量
用のゲート板9A1と、大流量用のゲート板9A2とを
備えて構成され、小流量用のゲート板9A1は、シュー
タ側の端縁部に、流量の最少調整位置において少量の粒
状体の通過を許容する複数の台形状の凹部20が形成さ
れ、大流量用のゲート板9A2は、流量の最少調整位置
において粒状体群の通過を阻止すべくシュータ側の端縁
部が直線状に形成されている。そして、前記各ゲート板
9A1,9A2は各別に米粒群kの流下方向と交差する
方向にゲート駆動モータ9Bにて位置変更調節自在に構
成されている。
ように、前記開口Qの開口面積を変更調整自在な小流量
用のゲート板9A1と、大流量用のゲート板9A2とを
備えて構成され、小流量用のゲート板9A1は、シュー
タ側の端縁部に、流量の最少調整位置において少量の粒
状体の通過を許容する複数の台形状の凹部20が形成さ
れ、大流量用のゲート板9A2は、流量の最少調整位置
において粒状体群の通過を阻止すべくシュータ側の端縁
部が直線状に形成されている。そして、前記各ゲート板
9A1,9A2は各別に米粒群kの流下方向と交差する
方向にゲート駆動モータ9Bにて位置変更調節自在に構
成されている。
【0021】従って、供給される米粒群kは、このホッ
パー7に一時的に貯溜されて前記開口からそのままシュ
ート面1a上を流下案内されることになるので、例えば
上方側からシュート面上に落下供給される場合のよう
に、飛び跳ねたり、その他の米粒群に衝突して流動状態
を乱したりする等の不利の無い状態で滑らかに流下案内
されることになる。つまり、ホッパー7により貯溜部T
が構成されることになる。尚、図中21は、米粒群の詰
まりを防止する為の回転体である。
パー7に一時的に貯溜されて前記開口からそのままシュ
ート面1a上を流下案内されることになるので、例えば
上方側からシュート面上に落下供給される場合のよう
に、飛び跳ねたり、その他の米粒群に衝突して流動状態
を乱したりする等の不利の無い状態で滑らかに流下案内
されることになる。つまり、ホッパー7により貯溜部T
が構成されることになる。尚、図中21は、米粒群の詰
まりを防止する為の回転体である。
【0022】又、前記シュータ1におけるシュータ面1
aの流下方向側端部は、図8に示すように、流下案内さ
れる米粒群kから離間するように湾曲成形されている。
このように構成することで同図の仮想線に示すように、
米粒群kがシュータ面1aの端縁(エッジ)によって回
転力を受けて外方側への跳ね上がったりして、流れが乱
されることが無く、滑らかな流動状態を維持できるもの
となる。
aの流下方向側端部は、図8に示すように、流下案内さ
れる米粒群kから離間するように湾曲成形されている。
このように構成することで同図の仮想線に示すように、
米粒群kがシュータ面1aの端縁(エッジ)によって回
転力を受けて外方側への跳ね上がったりして、流れが乱
されることが無く、滑らかな流動状態を維持できるもの
となる。
【0023】図2に示すように、つまり、シュータ1の
流下方向下手側に、流下案内される米粒群を対象とし
て、粒状体の良否又は異物の存否を判別するための判別
手段としての判別部Hが設けられている。
流下方向下手側に、流下案内される米粒群を対象とし
て、粒状体の良否又は異物の存否を判別するための判別
手段としての判別部Hが設けられている。
【0024】この判別部Hは、シュータ1の流下方向下
手側において、前記シュータ下端からの米粒群kの落下
経路の途中に米粒群kの予定存在箇所Jが設定され、米
粒群kを上記予定存在箇所J、即ち、後述の検査用のラ
インセンサ5A,5Bの受光位置に移送するように構成
されている。そして、上記米粒群kの落下経路を挟ん
で、一方側に、上記予定存在箇所Jに複数列状に並ぶ米
粒群kの並び方向の全幅を照明する蛍光灯等からなるラ
イン状光源4と、そのライン状光源4からの照明光が上
記予定存在箇所Jの米粒群kで反射した反射光を受光す
るラインセンサ5Bとが、一方のケース13B内に格納
された状態で配置され、他方側に、そのライン状光源4
からの照明光が上記予定存在箇所Jを透過した透過光を
受光するラインセンサ5Aと、前記ライン状光源4から
の照明光を受けて反射光用のラインセンサ5Bに向けて
反射させるための反射板8とが、他方のケース13A内
に格納された状態で配置されている。そして、流下案内
される米粒群kに照射される光の光学特性(反射率や透
過率)の変化に基づいて、米粒群kの良否又は異物の存
否を判別するように構成されている。
手側において、前記シュータ下端からの米粒群kの落下
経路の途中に米粒群kの予定存在箇所Jが設定され、米
粒群kを上記予定存在箇所J、即ち、後述の検査用のラ
インセンサ5A,5Bの受光位置に移送するように構成
されている。そして、上記米粒群kの落下経路を挟ん
で、一方側に、上記予定存在箇所Jに複数列状に並ぶ米
粒群kの並び方向の全幅を照明する蛍光灯等からなるラ
イン状光源4と、そのライン状光源4からの照明光が上
記予定存在箇所Jの米粒群kで反射した反射光を受光す
るラインセンサ5Bとが、一方のケース13B内に格納
された状態で配置され、他方側に、そのライン状光源4
からの照明光が上記予定存在箇所Jを透過した透過光を
受光するラインセンサ5Aと、前記ライン状光源4から
の照明光を受けて反射光用のラインセンサ5Bに向けて
反射させるための反射板8とが、他方のケース13A内
に格納された状態で配置されている。そして、流下案内
される米粒群kに照射される光の光学特性(反射率や透
過率)の変化に基づいて、米粒群kの良否又は異物の存
否を判別するように構成されている。
【0025】尚、各ケース13A,13Bの前記予定存
在箇所Jに向く側は、入射光を通過させるために、透明
ガラスからなる窓部14A,14Bにて構成されてい
る。上記反射板8は、米粒と同じ反射率の領域8aを上
記ライン状光源4にて照明された米粒群kの全幅に対応
して長手状に形成し、その長手状の領域8aの両側に黒
色の領域8bを形成している。
在箇所Jに向く側は、入射光を通過させるために、透明
ガラスからなる窓部14A,14Bにて構成されてい
る。上記反射板8は、米粒と同じ反射率の領域8aを上
記ライン状光源4にて照明された米粒群kの全幅に対応
して長手状に形成し、その長手状の領域8aの両側に黒
色の領域8bを形成している。
【0026】図4に示すように、上記両ラインセンサ5
A,5Bは、米粒kの大きさよりも小さい範囲p(例え
ば米粒kの大きさの10分の1程度)を夫々の受光対象
範囲として、各別に受光情報が取出し可能な複数個の受
光部5aを、米粒群kの予定存在箇所Jの全体に亘って
備えるように構成されている。具体的には、複数個の受
光部5aとしての受光素子が上記複数列の米粒群kの並
び方向に沿ってその全幅に亘って直線状に並置されたモ
ノクロタイプのCCDセンサと、米粒群kの像を上記C
CDセンサの各受光素子上に結像させるための光学系と
から構成されている。これにより、米粒群kの流れ方向
の全幅における透過及び反射画像情報が得られる。
A,5Bは、米粒kの大きさよりも小さい範囲p(例え
ば米粒kの大きさの10分の1程度)を夫々の受光対象
範囲として、各別に受光情報が取出し可能な複数個の受
光部5aを、米粒群kの予定存在箇所Jの全体に亘って
備えるように構成されている。具体的には、複数個の受
光部5aとしての受光素子が上記複数列の米粒群kの並
び方向に沿ってその全幅に亘って直線状に並置されたモ
ノクロタイプのCCDセンサと、米粒群kの像を上記C
CDセンサの各受光素子上に結像させるための光学系と
から構成されている。これにより、米粒群kの流れ方向
の全幅における透過及び反射画像情報が得られる。
【0027】上記両ラインセンサ5A,5Bの予定移送
経路における受光位置(予定存在箇所J)から経路方向
の下手側に、不良と判定された米粒kや異物等に対して
エアーを吹き付けて正常な米粒kの流れ方向から分離さ
せて前記不良物回収箱3に回収させるための分離操作手
段としてのエアー吹き付け装置6が設けられている。こ
のエアー吹き付け装置6は、米粒kの流れ方向に対して
横幅方向に所定幅毎に分割した各米粒群kに対して各別
に吹き付け作動する複数個のエアーガン6aを備えてい
る。
経路における受光位置(予定存在箇所J)から経路方向
の下手側に、不良と判定された米粒kや異物等に対して
エアーを吹き付けて正常な米粒kの流れ方向から分離さ
せて前記不良物回収箱3に回収させるための分離操作手
段としてのエアー吹き付け装置6が設けられている。こ
のエアー吹き付け装置6は、米粒kの流れ方向に対して
横幅方向に所定幅毎に分割した各米粒群kに対して各別
に吹き付け作動する複数個のエアーガン6aを備えてい
る。
【0028】制御構成を説明すると、図3に示すよう
に、マイクロコンピュータ利用の制御装置10が設けら
れ、この制御装置10に、前記両ラインセンサ5A,5
Bからの各画像信号と、前記レベルセンサ12の検出信
号とが入力されている。一方、制御装置10からは、前
記エアー吹き付け装置6の各エアーガン6aを夫々各別
に作動させるために、図示しないコンプレッサーから上
記各エアーガン6aへの各エアー供給路のエアー流通を
オンオフする複数個の電磁弁11に対する駆動信号と、
前記レベルセンサ12の検出信号に基づいて、ホッパー
7内の貯溜量を設定状態に維持するための前記ゲート駆
動モータ9Bに対する駆動信号とが出力されている。
に、マイクロコンピュータ利用の制御装置10が設けら
れ、この制御装置10に、前記両ラインセンサ5A,5
Bからの各画像信号と、前記レベルセンサ12の検出信
号とが入力されている。一方、制御装置10からは、前
記エアー吹き付け装置6の各エアーガン6aを夫々各別
に作動させるために、図示しないコンプレッサーから上
記各エアーガン6aへの各エアー供給路のエアー流通を
オンオフする複数個の電磁弁11に対する駆動信号と、
前記レベルセンサ12の検出信号に基づいて、ホッパー
7内の貯溜量を設定状態に維持するための前記ゲート駆
動モータ9Bに対する駆動信号とが出力されている。
【0029】前記制御装置10は、前記透過光用のライ
ンセンサ5Aの受光情報に基づいて、米粒群kにおける
各米粒の良否又は米粒群k内に混入した異物の存否を判
別するように構成されている。具体的には、図5の透過
光用のラインセンサ5Aの出力波形に示すように、制御
装置10は、透過光用のラインセンサ5Aの受光量つま
り各受光部5aの受光量に対応する出力電圧が米粒群k
に対する適正光量範囲ΔEtの上限値ULと下限値LL
との間にある場合に正常な米粒の存在を判定するととも
に、設定適正範囲ΔEtの下限値LLよりも小さい場合
に、正常な米粒よりも透過率が小さい不良の米粒や異物
等(例えば、黒色の石粒)の存在を判定する。
ンセンサ5Aの受光情報に基づいて、米粒群kにおける
各米粒の良否又は米粒群k内に混入した異物の存否を判
別するように構成されている。具体的には、図5の透過
光用のラインセンサ5Aの出力波形に示すように、制御
装置10は、透過光用のラインセンサ5Aの受光量つま
り各受光部5aの受光量に対応する出力電圧が米粒群k
に対する適正光量範囲ΔEtの上限値ULと下限値LL
との間にある場合に正常な米粒の存在を判定するととも
に、設定適正範囲ΔEtの下限値LLよりも小さい場合
に、正常な米粒よりも透過率が小さい不良の米粒や異物
等(例えば、黒色の石粒)の存在を判定する。
【0030】ここで、透過光の場合は、米粒kや異物等
が存在しない位置に対応する受光部5aでは、照明光源
4からの照明光を直接受光して設定適正範囲ΔEtの上
限値ULよりも大きい出力値Esになる。そこで、制御
装置10は、適正光量範囲ΔEtの上限値ULと、照明
光源4からの照明光を直接受光したときの受光量Esと
の間に、明側の判定レベルUL1を設定し、ラインセン
サ5Aの受光量が、適正光量範囲ΔEtの上限値ULと
前記明側の判定レベルUL1との間にある場合に、正常
な米粒kよりも透過率が大きい不良の米粒k又は前記異
物の存在を判定するように構成されている。この正常な
米粒kよりも透過率が大きい不良の米粒k又は異物の例
としては、正常な米粒kを「もち米」としたときの「う
るち米」が正常な米粒kよりも透過率が大きい不良の米
粒kになり、薄い色付の透明なガラス片等が、正常な米
粒kよりも透過率が大きい異物になる。
が存在しない位置に対応する受光部5aでは、照明光源
4からの照明光を直接受光して設定適正範囲ΔEtの上
限値ULよりも大きい出力値Esになる。そこで、制御
装置10は、適正光量範囲ΔEtの上限値ULと、照明
光源4からの照明光を直接受光したときの受光量Esと
の間に、明側の判定レベルUL1を設定し、ラインセン
サ5Aの受光量が、適正光量範囲ΔEtの上限値ULと
前記明側の判定レベルUL1との間にある場合に、正常
な米粒kよりも透過率が大きい不良の米粒k又は前記異
物の存在を判定するように構成されている。この正常な
米粒kよりも透過率が大きい不良の米粒k又は異物の例
としては、正常な米粒kを「もち米」としたときの「う
るち米」が正常な米粒kよりも透過率が大きい不良の米
粒kになり、薄い色付の透明なガラス片等が、正常な米
粒kよりも透過率が大きい異物になる。
【0031】図5には、受光部5aの出力電圧(受光
量)が、米粒kに一部着色部分が存在する位置や、黒色
の石等(e1で示す)、及び、胴割れ部分が存在する位
置(e2で示す)では、上記設定適正範囲ΔEtよりも
下側に位置し、又、正常な米粒よりも透過率が大きい異
物等が存在する場合には、位置e4に示すように設定適
正範囲ΔEtよりも上側で前記明側の判定レベルUL1
よりも下側に位置している状態を例示している。従っ
て、この明側の判定レベルUL1によって、全ての粒状
体(正常な米粒や不良の米粒及び石等の異物)の存否
(通過状況)を判別できることになる。
量)が、米粒kに一部着色部分が存在する位置や、黒色
の石等(e1で示す)、及び、胴割れ部分が存在する位
置(e2で示す)では、上記設定適正範囲ΔEtよりも
下側に位置し、又、正常な米粒よりも透過率が大きい異
物等が存在する場合には、位置e4に示すように設定適
正範囲ΔEtよりも上側で前記明側の判定レベルUL1
よりも下側に位置している状態を例示している。従っ
て、この明側の判定レベルUL1によって、全ての粒状
体(正常な米粒や不良の米粒及び石等の異物)の存否
(通過状況)を判別できることになる。
【0032】そして、ラインセンサ5Aの受光量が、上
記明側の判定レベルUL1と、設定適正範囲ΔEtの上
限値ULとの間にあることを判別するために、ラインセ
ンサ5Aの各受光部5aにおいて、その受光量(出力電
圧)が明側の判定レベルUL1よりも小で且つ前記適正
光量範囲ΔEtの上限値ULよりも大である受光部5a
を求め、その求めた受光部5aの隣接する連続個数が設
定個数(例えば、2個)を超える箇所を、正常な米粒k
よりも透過率が大きい不良の米粒k又は前記異物の存在
箇所と判定するように構成されている。
記明側の判定レベルUL1と、設定適正範囲ΔEtの上
限値ULとの間にあることを判別するために、ラインセ
ンサ5Aの各受光部5aにおいて、その受光量(出力電
圧)が明側の判定レベルUL1よりも小で且つ前記適正
光量範囲ΔEtの上限値ULよりも大である受光部5a
を求め、その求めた受光部5aの隣接する連続個数が設
定個数(例えば、2個)を超える箇所を、正常な米粒k
よりも透過率が大きい不良の米粒k又は前記異物の存在
箇所と判定するように構成されている。
【0033】つまり、受光部5aの受光量が明側の判定
レベルUL1よりも小である2値情報と、受光部5aの
受光量が前記適正光量範囲ΔEtの上限値ULよりも大
である2値情報とを演算して、前記受光量が前記明側の
判定レベルUL1よりも小で且つ前記適正光量範囲ΔE
tの上限値ULよりも大である受光部5aを求める。
レベルUL1よりも小である2値情報と、受光部5aの
受光量が前記適正光量範囲ΔEtの上限値ULよりも大
である2値情報とを演算して、前記受光量が前記明側の
判定レベルUL1よりも小で且つ前記適正光量範囲ΔE
tの上限値ULよりも大である受光部5aを求める。
【0034】具体的な処理を、図6によって説明する。
(イ)は、受光部5aの受光量が明側の判定レベルUL
1よりも小のときを1とした出力波形であり、前述の4
つの位置e0,e1,e2,e4の夫々に対応する箇所
で1になっている。(ロ)は、設定適正範囲ΔEtの上
限値ULよりも大のときを1とした出力波形(上限値U
Lよりも小のときを1とした出力波形の反転波形)であ
り、前述の4つの位置e0,e1,e2,e4のうちで
e4だけが出力されていない。そして、(イ)の波形と
(ロ)の波形との論理積(AND処理)を演算すると、
(ハ)に示すように、e4だけに対応する信号波形が得
られる。但し、UL1にて検出される波形とULにて検
出される波形の幅が異なる(UL1の方がULに比べて
広い)ので、e4以外の位置e0,e1,e2において
も、前後に細いパルス状の波形が出るが、これは、前述
の設定個数(例えば、2個)以下の波形をカットするフ
イルター処理にて除去することができる。そして、
(ニ)に示すように、設定適正範囲ΔEtの下限値LL
よりも下側の位置e1,e2と、上記位置e4とが、不
良物の位置として判定される。
(イ)は、受光部5aの受光量が明側の判定レベルUL
1よりも小のときを1とした出力波形であり、前述の4
つの位置e0,e1,e2,e4の夫々に対応する箇所
で1になっている。(ロ)は、設定適正範囲ΔEtの上
限値ULよりも大のときを1とした出力波形(上限値U
Lよりも小のときを1とした出力波形の反転波形)であ
り、前述の4つの位置e0,e1,e2,e4のうちで
e4だけが出力されていない。そして、(イ)の波形と
(ロ)の波形との論理積(AND処理)を演算すると、
(ハ)に示すように、e4だけに対応する信号波形が得
られる。但し、UL1にて検出される波形とULにて検
出される波形の幅が異なる(UL1の方がULに比べて
広い)ので、e4以外の位置e0,e1,e2において
も、前後に細いパルス状の波形が出るが、これは、前述
の設定個数(例えば、2個)以下の波形をカットするフ
イルター処理にて除去することができる。そして、
(ニ)に示すように、設定適正範囲ΔEtの下限値LL
よりも下側の位置e1,e2と、上記位置e4とが、不
良物の位置として判定される。
【0035】一方、反射光の場合には、図7の反射光用
のラインセンサ5Bの出力波形に示すように、ラインセ
ンサ5Aの複数個の受光部5aの受光情報に基づいて、
その各受光部5aの受光量に対応する出力電圧が設定適
正範囲ΔEhを外れた場合に前記米粒の不良又は前記異
物の存在を判定する。ここで、反射光用の設定適正範囲
ΔEhは、正常米粒からの標準的な反射光に対する出力
電圧レベルe0’を挟んで上下所定幅の範囲に設定され
る。
のラインセンサ5Bの出力波形に示すように、ラインセ
ンサ5Aの複数個の受光部5aの受光情報に基づいて、
その各受光部5aの受光量に対応する出力電圧が設定適
正範囲ΔEhを外れた場合に前記米粒の不良又は前記異
物の存在を判定する。ここで、反射光用の設定適正範囲
ΔEhは、正常米粒からの標準的な反射光に対する出力
電圧レベルe0’を挟んで上下所定幅の範囲に設定され
る。
【0036】図7には、米粒kに一部着色部分が存在す
る位置(e1’で示す)や胴割れ部分が存在する位置
(e2’で示す)では、上記設定適正範囲ΔEhから下
側に外れている状態を例示し、又、ガラス片等の異物が
存在する場合には、異物からの強い直接反射光によって
位置e3’に示すように設定適正範囲ΔEhから上側に
外れている状態を例示している。又、図示しないが、黒
色の石等では、反射率が非常に小さいので、波形におい
て設定適正範囲ΔEhから下側に大きく外れることにな
る。
る位置(e1’で示す)や胴割れ部分が存在する位置
(e2’で示す)では、上記設定適正範囲ΔEhから下
側に外れている状態を例示し、又、ガラス片等の異物が
存在する場合には、異物からの強い直接反射光によって
位置e3’に示すように設定適正範囲ΔEhから上側に
外れている状態を例示している。又、図示しないが、黒
色の石等では、反射率が非常に小さいので、波形におい
て設定適正範囲ΔEhから下側に大きく外れることにな
る。
【0037】そして、エアー吹き付け装置6を利用し
て、制御装置10の判別情報に基づいて、前記予定存在
箇所Jに移送した米粒群kのうちの正常な米粒kと不良
の米粒及び前記異物とを異なる経路に分離して移送する
ように構成されている。具体的には、制御装置10にて
米粒の不良又は異物の存在が判別された場合には、前記
予定存在箇所Jから予定移送経路における不良の米粒又
は前記異物に対する異なる経路への分離箇所(前記エア
ーガン6aの設置箇所)までの移送時間が経過するに伴
って、前記不良の米粒又は前記異物を正常な米粒の経路
と異なる経路に分離させるように構成されている。つま
り、米粒群kを自重にて落下させて移送させるととも
に、不良の米粒又は異物に対して、その位置に対応する
各エアーガン6aからエアーを吹き付けて正常な米粒の
経路から分離させる。
て、制御装置10の判別情報に基づいて、前記予定存在
箇所Jに移送した米粒群kのうちの正常な米粒kと不良
の米粒及び前記異物とを異なる経路に分離して移送する
ように構成されている。具体的には、制御装置10にて
米粒の不良又は異物の存在が判別された場合には、前記
予定存在箇所Jから予定移送経路における不良の米粒又
は前記異物に対する異なる経路への分離箇所(前記エア
ーガン6aの設置箇所)までの移送時間が経過するに伴
って、前記不良の米粒又は前記異物を正常な米粒の経路
と異なる経路に分離させるように構成されている。つま
り、米粒群kを自重にて落下させて移送させるととも
に、不良の米粒又は異物に対して、その位置に対応する
各エアーガン6aからエアーを吹き付けて正常な米粒の
経路から分離させる。
【0038】又、制御装置10は、レベルセンサ12に
て検出されるホッパー7内の米粒群kの貯留量が設定量
に維持されるように、開口Qの開口面積、即ち、シュー
タ面1a上を流下案内される米粒群kの流下流量を変更
調整すべく前記開閉ゲート9Aの開閉動作を制御するよ
うに構成されている。つまり、ホッパー7内の米粒群k
の貯留量が設定量より少なくなると流量を少なくさせ、
貯留量が設定量より多くなると流量を多くさせるように
変更調整することによって、ホッパー7内の米粒群kの
貯留量を設定量に維持するのである。そして、流量が少
ない場合においては、小流量用のゲート板9A1を最小
調整位置、シュータ側端縁がシュータ面1aに接当する
位置に位置固定して、凹部20のみを通して米粒群kが
流下可能な状態において、大流量用のゲート板9A22
を位置変更調整して、開口Qの開口面積を少ない量で変
更調整する(図9(ロ)参照)。又、大流量での変更調
整時には、小流量用のゲート板9A1と大流量用のゲー
ト板9A2とが重なり合った状態で連動して位置変更調
整させることで、シュータ面1aの全幅にわたって開口
Qが形成され(図9(ハ)参照)、大きな流量での変更
調整を行うことができ、全体としての変更調整可能な範
囲が大きいものとなる。
て検出されるホッパー7内の米粒群kの貯留量が設定量
に維持されるように、開口Qの開口面積、即ち、シュー
タ面1a上を流下案内される米粒群kの流下流量を変更
調整すべく前記開閉ゲート9Aの開閉動作を制御するよ
うに構成されている。つまり、ホッパー7内の米粒群k
の貯留量が設定量より少なくなると流量を少なくさせ、
貯留量が設定量より多くなると流量を多くさせるように
変更調整することによって、ホッパー7内の米粒群kの
貯留量を設定量に維持するのである。そして、流量が少
ない場合においては、小流量用のゲート板9A1を最小
調整位置、シュータ側端縁がシュータ面1aに接当する
位置に位置固定して、凹部20のみを通して米粒群kが
流下可能な状態において、大流量用のゲート板9A22
を位置変更調整して、開口Qの開口面積を少ない量で変
更調整する(図9(ロ)参照)。又、大流量での変更調
整時には、小流量用のゲート板9A1と大流量用のゲー
ト板9A2とが重なり合った状態で連動して位置変更調
整させることで、シュータ面1aの全幅にわたって開口
Qが形成され(図9(ハ)参照)、大きな流量での変更
調整を行うことができ、全体としての変更調整可能な範
囲が大きいものとなる。
【0039】そして、前記制御装置10は、受光手段と
しての透過光用のラインセンサ5Aの検出情報、具体的
には、明側の判定レベルUL1に基づいて、米粒群kの
流量を検出するように構成されている。つまり、全ての
粒状体(不良粒や異物を含む)は明側の判定レベルUL
1を下回ることから、この判定レベルUL1を下回った
回数をカウントすることによって、シュート1を流下案
内される米粒群kの流量を計測することができるのであ
る。しかも、制御装置10は、この流量の検出情報に基
づいて、エアー吹き付け装置6による米粒群の流下方向
に沿う分離用の作用幅、具体的には、エアーの吹きつけ
時間を変更調整するように構成されている。従って、流
量検出手段100は制御装置10に制御プログラム形式
で備えられ、この流量検出手段100が流量の検出情報
に基づいて、分離用の作用幅の変更調整を指令する指令
手段に相当することになる。
しての透過光用のラインセンサ5Aの検出情報、具体的
には、明側の判定レベルUL1に基づいて、米粒群kの
流量を検出するように構成されている。つまり、全ての
粒状体(不良粒や異物を含む)は明側の判定レベルUL
1を下回ることから、この判定レベルUL1を下回った
回数をカウントすることによって、シュート1を流下案
内される米粒群kの流量を計測することができるのであ
る。しかも、制御装置10は、この流量の検出情報に基
づいて、エアー吹き付け装置6による米粒群の流下方向
に沿う分離用の作用幅、具体的には、エアーの吹きつけ
時間を変更調整するように構成されている。従って、流
量検出手段100は制御装置10に制御プログラム形式
で備えられ、この流量検出手段100が流量の検出情報
に基づいて、分離用の作用幅の変更調整を指令する指令
手段に相当することになる。
【0040】次に、制御装置10による分離作動制御に
ついて図10のフローチャートに基づいて説明する。
尚、このフローチャートは、設定単位時間毎に繰り返し
て実行されるようになっている。先ず、前記明側の判定
レベルUL1を下回った回数をカウントすることによっ
て、シュート1を流下案内される米粒群kの流量を計測
する(ステップ1)とともに、この流量に応じて予め設
定されたマップデータに基づいて、不良又は異物の存在
が判別された時点からエアー吹きつけ作動開始箇所まで
米粒が流下するまで、即ち、エアー吹き付け装置6がエ
アー吹きつけ作動開始までの遅れ時間TRと、エアー吹
きつけ作動の継続時間TS とを設定する(ステップ
2)。尚、ここで、流量が小さいほど、遅れ時間TR は
短く、且つ、吹きつけ作動の継続時間T S が長くなるよ
うにマップデータが予め設定されている。
ついて図10のフローチャートに基づいて説明する。
尚、このフローチャートは、設定単位時間毎に繰り返し
て実行されるようになっている。先ず、前記明側の判定
レベルUL1を下回った回数をカウントすることによっ
て、シュート1を流下案内される米粒群kの流量を計測
する(ステップ1)とともに、この流量に応じて予め設
定されたマップデータに基づいて、不良又は異物の存在
が判別された時点からエアー吹きつけ作動開始箇所まで
米粒が流下するまで、即ち、エアー吹き付け装置6がエ
アー吹きつけ作動開始までの遅れ時間TRと、エアー吹
きつけ作動の継続時間TS とを設定する(ステップ
2)。尚、ここで、流量が小さいほど、遅れ時間TR は
短く、且つ、吹きつけ作動の継続時間T S が長くなるよ
うにマップデータが予め設定されている。
【0041】そして、不良粒や異物の存在が検出される
まで、前記遅れ時間TR や継続時間TS よりも充分短い
時間に設定された設定単位時間毎に上述の設定動作が実
行され、不良粒や異物の存在が検出されると、その時点
から上述したように設定された前記遅れ時間TR が経過
した後に、不良粒等に対応する電磁弁11を開弁作動さ
せてエアーの吹きつけ作動を開始させ(ステップ3,
4,5)、上述したように設定された前記継続時間TS
が経過すると電磁弁11を閉弁させてエアーの吹きつけ
作動を停止させるように制御する(ステップ6,7)。
従って、流量が変化すると、前記遅れ時間TR や継続時
間TS が適宜変更調整されることになる。例えば、流量
が少なくなると、粒状体同士が分離して不良粒や異物等
は正常粒に較べて比重や摩擦抵抗等が異なり、流下速度
が速くなったり遅くなったりして分離作用箇所に達する
までの時間にバラツキが生じるが、このような場合に
は、遅延時間TR が短く、継続時間TS が長くなるの
で、このようなバラツキにかかわらず適正に分離操作さ
せることができるのである。
まで、前記遅れ時間TR や継続時間TS よりも充分短い
時間に設定された設定単位時間毎に上述の設定動作が実
行され、不良粒や異物の存在が検出されると、その時点
から上述したように設定された前記遅れ時間TR が経過
した後に、不良粒等に対応する電磁弁11を開弁作動さ
せてエアーの吹きつけ作動を開始させ(ステップ3,
4,5)、上述したように設定された前記継続時間TS
が経過すると電磁弁11を閉弁させてエアーの吹きつけ
作動を停止させるように制御する(ステップ6,7)。
従って、流量が変化すると、前記遅れ時間TR や継続時
間TS が適宜変更調整されることになる。例えば、流量
が少なくなると、粒状体同士が分離して不良粒や異物等
は正常粒に較べて比重や摩擦抵抗等が異なり、流下速度
が速くなったり遅くなったりして分離作用箇所に達する
までの時間にバラツキが生じるが、このような場合に
は、遅延時間TR が短く、継続時間TS が長くなるの
で、このようなバラツキにかかわらず適正に分離操作さ
せることができるのである。
【0042】〔別実施形態〕 (1)上記実施形態では、流量に応じて遅延時間TR と
継続時間TS とを1種類のマップデータに基づいて設定
するようにしたが、このような流量に対する遅延時間と
継続時間との相関関係を示すマップデータを、例えば、
複数種類用意して、粒状体の種類に応じて適宜切り換え
るようにしてもよい。
継続時間TS とを1種類のマップデータに基づいて設定
するようにしたが、このような流量に対する遅延時間と
継続時間との相関関係を示すマップデータを、例えば、
複数種類用意して、粒状体の種類に応じて適宜切り換え
るようにしてもよい。
【0043】(2)上記実施形態では、分離用の作用幅
を変更する構成として、判別手段により不良又は異物の
判別動作時点から分離作動するまでの遅れ時間と作動継
続時間とを各別に変更設定する構成としたが、このよう
な構成に代えて、例えば、前記判別動作時点から粒状体
が流下して分離作用箇所に存在すると予測されるまでの
基準遅延時間を予め設定しておいて、その基準遅延時間
を中心として前後方向に同一時間だけ時間幅を設定する
ようにして、その時間幅を流量に応じて変更調整するよ
うにしてもよい。
を変更する構成として、判別手段により不良又は異物の
判別動作時点から分離作動するまでの遅れ時間と作動継
続時間とを各別に変更設定する構成としたが、このよう
な構成に代えて、例えば、前記判別動作時点から粒状体
が流下して分離作用箇所に存在すると予測されるまでの
基準遅延時間を予め設定しておいて、その基準遅延時間
を中心として前後方向に同一時間だけ時間幅を設定する
ようにして、その時間幅を流量に応じて変更調整するよ
うにしてもよい。
【0044】(3)上記実施形態では、分離操作手段と
して、エアーを吹きつけて分離させる構成としたが、こ
のような構成に代えて、アクチュエータにて移動操作さ
れる押圧部材にて不良粒や異物を分離操作させる構成と
してもよく、このように構成した場合には、流量に応じ
て押圧部材による押圧作用幅を変更調整するようにして
もよい。
して、エアーを吹きつけて分離させる構成としたが、こ
のような構成に代えて、アクチュエータにて移動操作さ
れる押圧部材にて不良粒や異物を分離操作させる構成と
してもよく、このように構成した場合には、流量に応じ
て押圧部材による押圧作用幅を変更調整するようにして
もよい。
【0045】(4)上記実施形態では、粒状体群の流量
検出を、受光手段の検出情報を有効利用して検出する構
成としたが、このような構成に限らず、専用の流量検出
センサを設ける構成であってもよい。
検出を、受光手段の検出情報を有効利用して検出する構
成としたが、このような構成に限らず、専用の流量検出
センサを設ける構成であってもよい。
【0046】(5)上記実施形態では、指令手段とし
て、流量検出手段の検出情報に基づいて前記作用幅を変
更調整するようにしたが、このような構成に代えて、人
為操作に基づいて、作用幅の変更調整情報を指令するよ
うに構成するものでもよい。
て、流量検出手段の検出情報に基づいて前記作用幅を変
更調整するようにしたが、このような構成に代えて、人
為操作に基づいて、作用幅の変更調整情報を指令するよ
うに構成するものでもよい。
【0047】(6)上記実施形態では、判別手段とし
て、粒状体の光学特性の変化に基づいて良否等を判別す
るようにしたが、このような構成に限らず、例えば、一
対の電極間を粒状体が通過する構成として、それらの間
での静電容量の変化に基づいて良否を判別する等、各種
の形態で判別する構成を用いることができる。
て、粒状体の光学特性の変化に基づいて良否等を判別す
るようにしたが、このような構成に限らず、例えば、一
対の電極間を粒状体が通過する構成として、それらの間
での静電容量の変化に基づいて良否を判別する等、各種
の形態で判別する構成を用いることができる。
【0048】(7)上記実施形態では、案内板としての
シュータ上を横幅方向に沿って複数列状に粒状体群が流
下案内される構成とし、横幅方向に沿って、判別手段や
分離操作手段を並列配置させる構成としたが、1列状で
粒状体群が流下案内される構成として、判別手段や分離
操作手段が夫々1個づつ備える構成としてもよい。
シュータ上を横幅方向に沿って複数列状に粒状体群が流
下案内される構成とし、横幅方向に沿って、判別手段や
分離操作手段を並列配置させる構成としたが、1列状で
粒状体群が流下案内される構成として、判別手段や分離
操作手段が夫々1個づつ備える構成としてもよい。
【0049】(8)上記実施形態では、検査対象物とし
ての粒状体群が米粒群kである場合について例示した
が、これに限るものではなく、例えば、プラスチック粒
等における不良物や異物の存否を検査する場合にも適用
できる。
ての粒状体群が米粒群kである場合について例示した
が、これに限るものではなく、例えば、プラスチック粒
等における不良物や異物の存否を検査する場合にも適用
できる。
【図1】検査装置の概略斜視図
【図2】同概略側面図
【図3】制御構成のブロック図
【図4】受光検出範囲の説明図
【図5】透過光受光手段の出力波形図
【図6】透過光の場合の不良検出処理を説明する波形図
【図7】反射光受光手段の出力波形図
【図8】シュータ面の端部を示す図
【図9】開閉ゲートを示す図
【図10】制御動作のフローチャート
1 流下案内路 5A 受光手段 6 分離操作手段 10 制御手段 100 流量検出手段 H 判別手段
Claims (5)
- 【請求項1】 傾斜姿勢の流下案内路により流下案内さ
れて一層状態となる粒状体群を対象として、粒状体の良
否又は異物の存否を判別する判別手段と、 この判別手段による判別対象箇所よりも流下方向下手側
において、流下案内される不良の粒状体及び異物に対し
て作用して、これらを正常な粒状体と異なる経路に分離
させる分離操作手段と、 前記判別手段の判別情報に基づいて前記分離操作手段の
動作を制御する制御手段が備えられ、 前記制御手段は、前記判別手段により不良の粒状体及び
異物の判別が行われてから、その判別された不良の粒状
体又は異物が位置すると予測される領域において、前記
分離操作手段を操作させるように構成されている粒状体
の検査装置であって、 前記制御手段は、指令手段の指令情報に基づいて、不良
の粒状体又は異物に対する、前記分離操作手段による粒
状体群の流下方向に沿う分離用の作用幅を変更調整する
ように構成されている粒状体の検査装置。 - 【請求項2】 前記指令手段として、前記流下案内路に
より流下案内される粒状体群の流量を検出する流量検出
手段が設けられ、 前記制御手段は、前記流量検出手段の検出情報に基づい
て、検出される粒状体群の流量が少ない場合には、流量
が多い場合よりも前記作用幅を幅広に変更調整するよう
に構成されている請求項1記載の粒状体の検査装置。 - 【請求項3】 前記分離操作手段は、不良の粒状体及び
異物に対してエアーを吹きつけてこれらを正常な粒状体
と異なる経路に分離させるように構成され、 前記制御手段は、エアーの吹きつけ時間を変更させるこ
とにより、前記作用幅を変更調整するように構成されて
いる請求項1又は2記載の粒状体の検査装置。 - 【請求項4】 前記流下案内路が、横幅方向に沿って複
数の列状に粒状体群が一層状態で流下案内される案内板
にて構成され、 前記判別手段が、横幅方向に沿って複数の列状に流下案
内される粒状体群に対して横幅方向に沿う複数箇所で各
別に判別動作を実行する状態で設けられるとともに、 前記分離操作手段は前記各判別手段の各々に対応して作
動する状態で、前記案内板の流下横幅方向に沿って複数
設けられている請求項1〜3のいずれか1項に記載の粒
状体の検査装置。 - 【請求項5】 前記判別手段は、照射される光に対する
粒状体の光学的特性を検出する受光手段の検出情報に基
づいて、粒状体の良否又は異物の存否を判別するように
構成され、 前記流量検出手段は、前記受光手段の検出情報に基づい
て、粒状体の流量を検出するように構成されている請求
項1〜4のいずれか1項に記載の粒状体の検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25835096A JPH1099797A (ja) | 1996-09-30 | 1996-09-30 | 粒状体の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25835096A JPH1099797A (ja) | 1996-09-30 | 1996-09-30 | 粒状体の検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1099797A true JPH1099797A (ja) | 1998-04-21 |
Family
ID=17319025
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25835096A Pending JPH1099797A (ja) | 1996-09-30 | 1996-09-30 | 粒状体の検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1099797A (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4732729A (en) * | 1984-02-24 | 1988-03-22 | Hitachi, Ltd. | Fast breeder reactor |
KR100480319B1 (ko) * | 2002-05-14 | 2005-04-06 | 한잠기계(주) | 미립 색채 선별 장치(米粒 色彩 選別 裝置) |
KR100755224B1 (ko) * | 2001-11-09 | 2007-09-04 | 가부시끼가이샤 사따께 | Ccd 선형 센서로 구성되는 광검출 장치를 갖는입상체용 색선별 장치 |
JP2008005370A (ja) * | 2006-06-26 | 2008-01-10 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | 撮像装置および撮像装置を用いた識別装置 |
JP2013017918A (ja) * | 2011-07-07 | 2013-01-31 | Satake Corp | 光学式選別機 |
CN109590241A (zh) * | 2018-12-18 | 2019-04-09 | 合肥泰禾光电科技股份有限公司 | 一种x光机定标装置以及x光机定标方法 |
PL425222A1 (pl) * | 2018-04-13 | 2019-10-21 | Rosz Adam Avicon | Urządzenie redukujące różnice prędkości cząstek sortowanego niejednorodnego sypkiego materiału |
CN111448448A (zh) * | 2017-12-11 | 2020-07-24 | 马尔文帕纳科 | 通过尺寸排阻色谱法确定颗粒尺寸分布 |
KR20230146490A (ko) | 2021-01-15 | 2023-10-19 | 국방과학연구소 | 연료의 흡열반응을 유도하기 위한 탄소계 물질을 포함하는 흡열분해 촉매 및 이를 이용한 냉각 방법 |
-
1996
- 1996-09-30 JP JP25835096A patent/JPH1099797A/ja active Pending
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4732729A (en) * | 1984-02-24 | 1988-03-22 | Hitachi, Ltd. | Fast breeder reactor |
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KR20230146490A (ko) | 2021-01-15 | 2023-10-19 | 국방과학연구소 | 연료의 흡열반응을 유도하기 위한 탄소계 물질을 포함하는 흡열분해 촉매 및 이를 이용한 냉각 방법 |
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