JPH1190345A - 粒状体の検査装置 - Google Patents

粒状体の検査装置

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JPH1190345A
JPH1190345A JP25857597A JP25857597A JPH1190345A JP H1190345 A JPH1190345 A JP H1190345A JP 25857597 A JP25857597 A JP 25857597A JP 25857597 A JP25857597 A JP 25857597A JP H1190345 A JPH1190345 A JP H1190345A
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JP
Japan
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flow
section
granular material
state
group
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JP25857597A
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English (en)
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Masahiko Shimano
雅彦 嶋野
Yuji Suzuki
祐二 鈴木
Hiroaki Sato
裕明 佐藤
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Kubota Corp
Original Assignee
Kubota Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 不良の検出位置において粒状体群の各粒の位
置が流れの厚み方向に変動して不良物の位置がずれて判
別された場合にも不良物を適切に分離して選別できるよ
うにする。 【構成】 一層状態で横幅方向に広がった広幅状態で流
下案内される粒状体群の長尺状の予定存在箇所Jを、長
さ方向に沿って区分した各区分からの検出光が、前記予
定存在箇所Jの長さよりも短い幅内に並べた受光手段の
各受光部にて各別に受光され、その受光情報に基づいて
前記予定存在箇所の複数の区分のうちの不良物が存在す
る区分の位置が判別され、前記複数の区分のうちで不良
物が存在すると判別された区分に対応する粒状体を、ノ
ズル6aにて粒状体群の流れから分離するときに、不良
物が存在すると判別された区分に隣接する区分に対応す
る粒状体を併せて、粒状体群の流れから分離して選別す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、検査対象物として
の粒状体群が一層状態で横幅方向に広がった広幅状態と
なるように、粒状体群を流下案内させる流下案内手段
と、その流下案内手段の下端部から流下する粒状体群が
広幅状態で存在することが予定される長尺状の予定存在
箇所を照明する照明手段と、前記予定存在箇所をその長
さ方向に沿って複数に区分して各区分からの検出光を各
別に受光する複数の受光部を、前記予定存在箇所の長さ
よりも短い幅内に並べた状態で備える受光手段と、その
受光手段における複数の受光部の受光情報に基づいて、
前記予定存在箇所の複数の区分のうちの不良物が存在す
る区分の位置を判別する判別手段と、その判別手段の情
報に基づいて、前記予定存在箇所における複数の区分の
うちで不良物が存在すると判別された区分に対応する粒
状体を、前記広幅状態で流下する粒状体群の流れから分
離して選別する選別手段とが設けられた粒状体の検査装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】上記粒状体の検査装置は、例えば、外部
の精米機等からの米粒群を検査対象物の粒状体群として
検査して、着色米等の不良米や石、ガラス等の異物を不
良物として除去して正常米(正常物)を得るものである
が、従来では、図1に示すように、例えば斜め姿勢に保
持した平面状の板状部材からなる流下案内手段1によっ
て米粒群を広幅状態で流下案内させながら、流下方向下
流側の検出位置Jに達した米粒群を照明してその広幅状
態の米粒群からの反射光や透過光を、レンズ等の光学系
によって複数個の受光素子(受光部に相当)を直線状に
並べたCCDラインセンサ等の受光センサ5A,5Bの
受光面に縮小して結像させ、その各受光素子の出力レベ
ルが適正光量範囲のときは正常な米粒と判別する一方
で、出力レベルが適正光量範囲を外れた場合には、着色
米や石等の不良物が存在すると判別して、上記検出位置
よりも流下方向下流側において、米粒群の全幅を複数に
区画した各区画に対応させた複数のエアー噴射ノズル6
a(選別手段に対応)のうちで、不良物が判別された位
置に対応する区画のノズルを作動させて米粒群にエアー
を吹き付け、不良物を正常米の経路から分離させて選別
するようにしていた(例えば、本出願人が先に提案した
特願平8−40823号参照)。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記検
査装置では大量の検査対象物を効率良く検査するため
に、板状部材等の流下案内手段の傾斜角を急角度に設定
しているが、流下する粒状体の速度が速くなると各粒が
流下案内面から上方に跳ねる程度が大きくなり、図11
に例示するように、上記検出位置Jにおける各粒の位置
は、正規の位置Jに対して流れの厚み方向に受光センサ
に近づく側又はそれから遠ざかる側に変動して、粒状体
群は厚みを持った流れ状態に形成される。一方、検出位
置Jにおける広幅の画像は、受光センサの受光面に縮小
して結像されているので、受光センサは、検出位置Jに
対して両端側になるほど斜め方向から受光する状態にな
っている。そのため、上記従来技術では、例えば、正規
の位置Jでは左から2番目のノズルの区画に対応する受
光センサの受光対象範囲s2に存在する不良物k2’が
受光センサに近づく側に位置ずれしていると、受光セン
サの受光方向が斜め方向であるために、左から1番目の
ノズルに対応する受光センサの受光対象範囲s1に存在
する不良物k1と誤って判別される。その結果、その判
別に基づいて左から1番目のノズル6aが作動し、2番
目のノズル6aは作動しないので、上記不良物k1を適
切に分離させることができないという不具合が生じる。
【0004】本発明は、上記実情に鑑みて従来技術の不
具合を解消すべくなされたものであって、その第1の目
的は、不良の検出位置において粒状体群の各粒の位置が
流れの厚み方向に変動して不良物の位置がずれて判別さ
れた場合にも、不良物を適切に分離して選別できるよう
にすることにあり、第2の目的は、不良の検出位置にお
いて粒状体群の各粒の位置が流れの厚み方向に変動する
ことを極力抑制して、不良の位置の判別を適切に行うこ
とができるようにすることにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】請求項1では、検査対象
物としての粒状体群が一層状態で横幅方向に広がった状
態となるように流下案内され、その流下案内手段の下端
部から流下する粒状体群が広幅状態で存在することが予
定される長尺状の予定存在箇所が照明され、その長尺状
の予定存在箇所をその長さ方向に沿って複数に区分した
各区分からの検出光が、複数の受光部を前記予定存在箇
所の長さよりも短い幅内に並べた状態で備える受光手段
の上記各受光部にて各別に受光され、その受光手段にお
ける複数の受光部の受光情報に基づいて前記予定存在箇
所の複数の区分のうちの不良物が存在する区分の位置が
判別され、その判別情報に基づいて、前記予定存在箇所
における複数の区分のうちで不良物が存在すると判別さ
れた区分に対応する粒状体を、広幅状態で流下する粒状
体群の流れから分離するときに、不良物が存在すると判
別された区分に隣接する区分に対応する粒状体を併せ
て、粒状体群の流れから分離して選別する。
【0006】従って、粒状体群が広幅状態で存在する長
尺状の予定存在箇所の画像を縮小して、予定存在箇所を
両端側になるほど斜め方向から受光する状態で予定存在
箇所を長さ方向に区分した受光手段の各受光部にて受光
させる装置において、従来のように、不良物の存在が判
別された区分に対応する粒状体だけを粒状体群の流れか
ら分離するものでは、粒状体群の各粒が流れ厚み方向に
位置ずれして、不良物の存在が正しい区分からずれた位
置の区分として判別されると、不良物を適切に分離でき
ないのに対して、不良物の存在が判別された区分ととも
にその区分に隣接する区分に対応する粒状体をも粒状体
群の流れから分離するので、上記存在位置がずれて判別
された不良物をも適切に分離することができ、もって、
前記第1の目的が達成される。
【0007】請求項2では、請求項1において、粒状体
にエアーを吹き付けて粒状体群の流れから分離させる噴
射ノズルの複数個が、粒状体群の全幅をその幅方向に沿
って前記予定存在箇所における各区分の幅よりも広幅の
複数の区画に分割形成した各区画に対応する状態で並置
され、その複数の区画のうちで、前記予定存在箇所にお
いて不良物の存在が判別された区分を含む区画及びその
区画に隣接する区画に対応する前記噴射ノズルが作動さ
れる。
【0008】従って、受光手段における受光部の数に比
べて少ない数の噴射ノズルによって分離手段の複雑化を
抑制しながら、各噴射ノズルからのエアーの吹き付けに
よって、速い応答速度で且つソフトタッチに損傷を与え
るおそれもない状態で、前記存在位置がずれて判別され
た不良物をも適切に分離することができ、もって、請求
項1の好適な手段が得られる。
【0009】請求項3では、請求項1において、粒状体
にエアーを吹き付けて粒状体群の流れから分離させる噴
射ノズルの複数個が、粒状体群の全幅をその幅方向に沿
って前記予定存在箇所における各区分の幅よりも広幅の
複数の区画に分割形成した各区画に対応する状態で並置
されると共に、各噴射ノズルのエアー吹き付け範囲が隣
接する区画の噴射ノズルのエアー吹き付け範囲と重複す
る状態に形成され、その複数の区画のうちで、前記予定
存在箇所において不良物の存在が判別された区分を含む
区画に対応する噴射ノズルが作動される。
【0010】従って、受光手段における受光部の数に比
べて少ない数の噴射ノズルによって分離手段の複雑化を
抑制しながら、各噴射ノズルからのエアーの吹き付けに
よって、速い応答速度で且つソフトタッチに損傷を与え
るおそれもない状態で、前記存在位置がずれて判別され
た不良物をも適切に分離することができ、もって、請求
項1の好適な手段が得られる。
【0011】請求項4では、検査対象物としての粒状体
群が、他の部分よりも緩い傾斜状態の緩傾斜面を粒状体
群流れ方向において部分的に備えた流下案内手段の流下
案内面によって、一層状態で横幅方向に広がった状態と
なるように流下案内され、その流下案内手段の下端部か
ら流下する粒状体群が広幅状態で存在することが予定さ
れる長尺状の予定存在箇所が照明され、その長尺状の予
定存在箇所をその長さ方向に沿って複数に区分した各区
分からの検出光が、複数の受光部を前記予定存在箇所の
長さよりも短い幅内に並べた状態で備える受光手段の上
記各受光部にて各別に受光され、その受光手段における
複数の受光部の受光情報に基づいて前記予定存在箇所の
複数の区分のうちの不良物が存在する区分の位置が判別
され、その判別情報に基づいて、前記予定存在箇所にお
ける複数の区分のうちで不良物が存在すると判別された
区分に対応する粒状体が、広幅状態で流下する粒状体群
の流れから分離して選別される。
【0012】従って、粒状体群が流下案内手段の流下案
内面の一部に備えた緩傾斜面を流下するときに、流下速
度が遅くなって各粒の跳ね動作が小さくなるので、検出
位置において粒状体群の各粒の位置が流れの厚み方向に
変動することを極力抑制して、不良物の判別を適切に行
うことができ、もって、前記第2の目的が達成される。
【0013】請求項5では、請求項4において、粒状体
群が流下案内手段の上端部に設けた緩傾斜面を流下して
から、その下部側に傾斜状態が滑らかに変化して連なる
急傾斜面によって流下案内される。
【0014】従って、流下案内手段の上端部に設けた緩
傾斜面において粒状体群の流下速度が遅くなって各粒の
跳ね動作が小さくなるとともに、例えば、上記緩傾斜面
を下部側の急傾斜面に対して急に傾斜状態が変化するよ
うに連設させると、その連結箇所において粒状体群の流
れ状態の乱れが大きくなるおそれがあるのに比べて、乱
れが小さくなった粒状体群の流れ状態を極力乱さない状
態で円滑に流下させることができ、もって、請求項4の
好適な手段が得られる。
【0015】請求項6では、請求項4において、粒状体
群が流下案内手段の急傾斜面を流下してから、その下部
側に傾斜状態が滑らかに変化して連なる緩傾斜面によっ
て流下案内される。
【0016】従って、粒状体群が流下案内手段の急傾斜
面を速い速度で流下して流れ状態の乱れが大きくなった
後に、緩傾斜面によって流下速度が遅くなって各粒の跳
ね動作が小さくなるとともに、例えば、上記緩傾斜面を
上部側の急傾斜面に対して急に傾斜状態が変化するよう
に連設させると、その連結箇所において粒状体群の流れ
状態の乱れが大きくなるおそれがあるのに比べて、粒状
体群の流れ状態の乱れを極力小さくした状態で円滑に流
下させることができ、もって、請求項4の好適な手段が
得られる。
【0017】請求項7では、請求項4において、粒状体
群が流下案内手段の上端部に設けた緩傾斜面を流下して
から、その下部側に傾斜状態が滑らかに変化して連なる
急傾斜面によって流下案内され、その急傾斜面を流下し
てから、その下部側に傾斜状態が滑らかに変化して連な
る緩傾斜面によって流下案内される。
【0018】従って、流下案内手段の上端部及び下端部
に設けた各緩傾斜面において粒状体群の流下速度が遅く
なって各粒の跳ね動作が小さくなるとともに、例えば、
上記上端部及び下端部の各緩傾斜面を急傾斜面に対して
急に傾斜状態が変化するように連設させると、その連結
箇所において粒状体群の流れ状態の乱れが大きくなるお
それがあるのに比べて、粒状体群の流れ状態の乱れを極
力小さくした状態で円滑に流下させることができ、もっ
て、請求項4の好適な手段が得られる。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、本発明の粒状体の検査装置
の実施形態を、玄米や精米等の米粒群からなる粒状体群
を検査対象物として流下案内させながら、不良検出及び
不良物除去を行う場合について図面に基づいて説明す
る。
【0020】図1〜図3(尚、図3は、不良検出及び不
良物除去の説明図であるために、図1及び図2とは装置
構成の配置が異なる箇所がある)に示すように、幅方向
全幅に亘って平坦な案内面を備えた広幅の板状のシュー
タ1が、水平面に対して所定角度(例えば60度)に傾
斜されて設置され、このシュータ1の上部側に設けた貯
溜タンク7からフィーダ9によって搬送されてきた米粒
群kが一層状態で横方向に広がった状態で滑って移送さ
れている。つまり、米粒群kが一層状態で横幅方向に広
がった広幅状態となるように、米粒群kを流下案内させ
る流下案内手段1が、前記シュータ1にて構成されてい
る。尚、ここでは、一層状態で流下させることを目的と
しているので、例えば粒が重なって部分的に2層状態等
になる場合も、一層状態に含まれる。
【0021】貯溜タンク7には、外部の精米機等から供
給される検査対象物や、その外部からの検査対象物を1
次選別処理した後再選別される正常物又は不良物が貯溜
される。タンク7は下端側ほど先細筒状に形成され、タ
ンク7からフィーダ9上に落下した米粒群kのシュータ
1への供給量が、フィーダ9の搬送速度を変化させて調
節されるようになっている。
【0022】シュータ1の下端部から流下する米粒群k
が広幅状態で存在することが予定される長尺状の予定存
在箇所J(以後、検出位置Jと呼ぶ)が、米粒群kの流
下経路中に設定され、その検出位置Jを挟んで一方側
(図の左側)に、その検出位置Jを照明する照明光源4
として蛍光灯等からなるライン状光源4A,4Bと、そ
のライン状光源4A,4Bからの照明光が上記検出位置
Jの米粒群kで反射した反射光を受光する反射用ライン
センサ5Bとが設けられている。一方、上記検出位置J
を挟んで他方側(図の右側)に、ライン状光源4A,4
Bからの照明光が検出位置Jの米粒群kを透過した透過
光を受光する透過用ラインセンサ5Aが設けられてい
る。
【0023】ここで、前記ライン状光源4A,4Bは、
前記透過用ラインセンサ5Aの受光方向に対して傾いた
状態で異なる方向から米粒群kを照明するように、検出
位置Jを斜め下方から照明する下側光源4Aと、検出位
置Jを斜め上方から照明する上側光源4Bとから構成さ
れ、この両光源4A,4Bは、検出位置Jに対して設定
照明角度を維持する状態でフレーム22に保持されてい
る。そして、このように検出位置Jの粒状体群を照明角
度を変えて2つの方向から照明しているので、図6に示
すように、各米粒kが粒状体群の厚み方向に正常な位置
から位置ずれした米粒k’の場合でも、極力均一な状態
で良好に照明できることになる。
【0024】前記ライン状光源4A,4Bを設けた側と
同じ側に、前記米粒群kにおける正常米からの透過光と
同一又は略同一の明るさの光を前記透過用ラインセンサ
5Aに向けて反射する透過光用反射板5Aが設けられ、
上記ライン状光源4A,4Bがこの透過光用反射板5A
を照明するように配置されている。尚、前記透過用反射
板8Aは、前記光源支持用のフレーム22に連設された
板部22aを折り曲げて、その表面を印刷等にて白色に
形成した白色板からなる。そして、前記ライン状光源4
A,4Bと、前記反射用ラインセンサ5Bと、前記透過
光用反射板8Aとが、一方の格納室13B内に格納され
ている。
【0025】又、前記透過用ラインセンサ5Aを設けた
側と同じ側に、米粒群kにおける正常米からの反射光と
同一又は略同一の明るさの光を前記反射用ラインセンサ
5Bに向けて反射する反射光用反射板8Bが設けられて
いる。そして、前記透過用ラインセンサ5Aと、前記反
射光用反射板8Bとが、他方の格納室13A内に格納さ
れている。尚、両格納室13A,13Bは側板が共通の
一体の箱体である。
【0026】前記両格納室13A,13B夫々は、前記
検出位置Jに面する側に板状の透明なガラスからなる窓
部材14A,14Bを備えている。ここで、2つの窓部
材14A,14Bは、下側ほど互いの間隔が狭くなるV
字状に配置されている。そして、前記反射用反射板8B
は、米粒と同じ反射率の領域8aを上記ライン状光源4
A,4Bにて照明された米粒群kの全幅に対応して長手
状に形成し、且つその長手状の領域8aの両側に黒色の
領域8bを形成するように、前記窓部14Aの内面に印
刷等による塗膜として形成されている。
【0027】図5に示すように、上記両ラインセンサ5
A,5Bは、米粒kの大きさよりも小さい範囲p(例え
ば米粒kの大きさの10分の1程度)を夫々の受光対象
範囲として、各別に受光情報が取出し可能な複数個の受
光部5aを、前記検出位置Jの長手方向に沿って並置さ
せて備えている。具体的には、複数個の受光部5aとし
ての受光素子が直線状に並置されたモノクロタイプのC
CDセンサ50と、検出位置Jでの米粒群kの像を上記
CCDセンサの各受光素子上に結像させる光学系51と
から構成されている。そして、両ラインセンサ5A,5
Bが、前記長尺状の検出位置Jの一端側から他端側に向
けて、例えば図3において、長尺状の検出位置Jの左端
側から右端側に向けて、各受光部5aから各受光情報を
順次取り出すように構成されている。
【0028】以上より、前記長尺状の検出位置Jをその
長さ方向に沿って複数に区分して各区分からの検出光を
各別に受光する複数の受光部5aを、前記検出位置Jの
長さよりも短い幅内に並べた状態で備える受光手段が、
前記透過用ラインセンサ5Aと、前記反射用ラインセン
サ5Bとによって構成されることになる。
【0029】上記両ラインセンサ5A,5Bの検出位置
Jから流下方向下流側に、上記検出位置Jでの受光情報
に基づいて不良と判定された米粒kや異物等に対してエ
アーを吹き付けて正常な米粒kの流れ方向から横方向に
分離させるためのエアー吹き付け装置6が設けられてい
る。そして、上記エアー吹き付け装置6は、粒状体にエ
アーを吹き付けて粒状体群の流れから分離させる噴射ノ
ズル6aの複数個を、粒状体群の全幅をその幅方向に沿
って前記検出位置Jにおける各区分(受光部5aの受光
対象範囲)の幅よりも広幅の複数の区画に分割形成した
各区画に対応する状態で並置させている。
【0030】ここで、上記エアー吹き付け装置6は、図
9及び図10に示すように、各噴射ノズル6aに対応さ
せて、各エアー供給口6bから供給されるエアーを吹き
出す偏平状の吹き出し口を凹部状に形成した下側部分6
Aと、各噴射ノズル6aを区分形成するように、下側部
分6Aに対して上側からシール接着される上側部分6B
とから構成される。そして、各偏平状の吹き出し口は、
エアーを前方側に向けてほぼ真っ直ぐに吹き出すように
平面視においてストレート形状に形成されて、粒状体群
の全幅を吹き漏らし部分がなく、しかも、隣接するノズ
ル6aの各吹き出し範囲が重複しない状態に設定されて
いる。
【0031】そして、シュータ1の下端部から所定経路
に沿って流下する米粒群kのうちで、噴射ノズル6aか
らのエアーの吹き付けを受けずにそのまま進行してくる
正常な米粒kを回収する良米用の受口部2Bと、エアー
の吹き付けを受けて正常な米粒kの流れから横方向に分
離した着色米や胴割れ米等の不良米又は石やガラス片等
の異物を回収する不良物用の受口部3Bとが設けられ、
良米用の受口部2Bが米粒群kの横幅方向に沿って細長
い筒状に形成され、その受口部2Bの周囲を囲むよう
に、不良物用の受口部3Bが形成されている。尚、良米
用の受口部2Bにて回収された米粒k、及び、不良物用
の受口部3Bにて回収された不良物は、再選別処理等の
ために、本検査装置のタンク7へ又は他の検査装置に搬
送される。
【0032】図1に示すように、脚部F0を備えた底板
F1上に立設された縦枠F2,F3,F4が、横枠F
5,F6,F7によって連結されて機枠が構成されてい
る。表側の縦枠F4の上部斜め部分に、情報の表示及び
入力用の操作卓21が設置され、フィーダ9に対する振
動発生器9Aが横枠F5上に設置され、前記エアー吹き
付け装置6へのエアー供給用のエアタンク15が底板F
1上に設置されている。又、箱状の格納室13A,13
Bが前部側で縦枠F4に後部側で縦枠F3に支持され、
シュート1が上部側で横枠F6に下部側で格納室13B
に支持されている。装置外面を覆うカバーKが機枠に取
り付けられている。
【0033】制御構成を説明すると、図4に示すよう
に、マイクロコンピュータ利用の制御装置10が設けら
れ、この制御装置10に、前記両ラインセンサ5A,5
Bからの各画像信号と、前記操作卓21からの操作情報
とが入力されている。一方、制御装置10からは、前記
ライン状光源4A,4Bを点灯させる点灯回路19に対
する駆動信号と、各噴射ノズル6aを各別に作動させる
ために、エアタンク15から各噴射ノズル6aへの各エ
アー供給路のエアー流通をオンオフする複数個の電磁弁
11に対する駆動信号と、前記フィーダ用振動発生器9
Aへの駆動信号とが出力されている。
【0034】そして、上記制御装置10を利用して、前
記両ラインセンサ5A,5Bにおける複数の受光部5a
の受光情報に基づいて、前記長尺状の検出位置Jの複数
の区分(受光部5aの受光対象範囲)のうちの不良物が
存在する区分の位置を判別する判別手段100が構成さ
れている。以下、具体的に、前記検出位置Jにおける透
過光用及び反射光用の各ラインセンサ5A,5Bの受光
情報に基づいて、米粒群kにおける各米粒の良否又は米
粒群k内に混入した異物の存否を判別する構成について
説明する。
【0035】透過光の場合は、図7の透過光用ラインセ
ンサ5Aの出力波形に示すように、各受光部5aの受光
量に対応する出力電圧が米粒群kに対する適正光量範囲
ΔEt内にある場合に正常な米粒の存在を判別し、設定
適正範囲ΔEtを外れた場合に前記米粒の不良又は前記
異物の存在を判別する。ここで、透過光用の設定適正範
囲ΔEtは、正常米粒からの標準的な透過光に対する出
力電圧レベルe0を挟んで上下所定幅の範囲に設定され
る。
【0036】そして、設定適正範囲ΔEtよりも小さい
場合に、正常な米粒よりも透過率が小さい不良の米粒や
異物等(例えば、黒色の石粒)の存在を判別し、適正光
量範囲ΔEtよりも大きい場合に、正常な米粒kよりも
透過率が大きい不良の米粒k又は前記異物の存在を判別
する。この正常な米粒kよりも透過率が大きい不良の米
粒k又は異物の例としては、薄い色付の透明なガラス片
等が正常な米粒kよりも透過率が大きい異物になり、
又、正常な米粒kを「もち米」としたときの「うるち
米」が正常な米粒kよりも透過率が大きい不良の米粒k
になる。
【0037】図7には、受光部5aの出力電圧(受光
量)が、米粒kに一部着色部分が存在する位置や黒色の
石等の位置(e1で示す)、及び、胴割れ部分が存在す
る位置(e2で示す)では、上記設定適正範囲ΔEtよ
りも下側に位置し、又、正常な米粒よりも透過率が大き
い異物等が存在する場合には、位置e4に示すように設
定適正範囲ΔEtよりも上側に位置している状態を例示
している。
【0038】一方、反射光の場合には、図8の反射光用
のラインセンサ5Bの出力波形に示すように、各受光部
5aの受光量に対応する出力電圧が設定適正範囲ΔEh
内にある場合に正常な米粒の存在を判別し、設定適正範
囲ΔEhを外れた場合に前記米粒の不良又は前記異物の
存在を判別する。ここで、反射光用の設定適正範囲ΔE
hは、正常米粒からの標準的な反射光に対する出力電圧
レベルe0’を挟んで上下所定幅の範囲に設定される。
【0039】図8には、米粒kに一部着色部分が存在す
る位置(e1’で示す)や胴割れ部分が存在する位置
(e2’で示す)では、上記設定適正範囲ΔEhから下
側に外れている状態を例示し、又、ガラス片等の異物が
存在する場合には、異物からの強い直接反射光によって
位置e3’に示すように設定適正範囲ΔEhから上側に
外れている状態を例示している。又、図示しないが、黒
色の石等では、反射率が非常に小さいので、波形におい
て設定適正範囲ΔEhから下側に大きく外れることにな
る。
【0040】そして、前記制御装置10は、上記不良の
判別情報に基づいて、前記両ラインセンサ5A,5Bの
検出位置Jに移送した米粒群kのうちで、米粒の不良又
は異物の存在が判別された場合には、検出位置Jから前
記噴射ノズル6aによるエアー噴射位置までの移送時間
が経過するに伴って、流下している不良の米粒又は異物
に対して、その不良物の位置に対応する区画の噴射ノズ
ル6a及びこの区画に隣接する両側の区画の各噴射ノズ
ル6aからエアーを吹き付けて正常な米粒の経路から分
離させる。
【0041】つまり、前記エアー吹き付け装置6及び上
記制御装置10を利用して、前記判別手段100の情報
に基づいて、前記検出位置Jにおける複数の区分のうち
で不良物が存在すると判別された区分に対応する粒状体
を分離するときに、不良物が存在すると判別された区分
に隣接する区分に対応する粒状体を併せて、前記広幅状
態で流下する米粒群kの流れから分離して選別する選別
手段101が構成され、この選別手段101は、前記噴
射ノズル6aについての複数の区画のうちで、前記検出
位置Jにおいて不良物の存在が判別された区分を含む区
画及びその区画に隣接する区画に対応する噴射ノズル6
aを作動させるように構成される。
【0042】以下、具体例について説明する。例えば、
図11に示すように、1番左側のノズル6aに対応する
検出範囲s1の不良物k1が検出されたときには、左側
から1番目と2番目の2つのノズル6aを作動させる。
これにより、本来は2番目のノズル6aに対応する検出
範囲s2の不良物k2’が、1番目のノズル6aの検出
範囲s1に近接した位置で、流れの正規位置Jからセン
サ側に位置ずれしたために、1番目のノズル6aの検出
範囲s1の不良物として検出されたものでも、2番目の
ノズル6aが作動して、不良物として分離されることに
なる。又、2番目のノズル6aに対応する検出範囲s2
の不良物k2a,k2bが検出されたときには、左側か
ら1番目と2番目と3番目の3つのノズル6aを作動さ
せる。これにより、本来は1番目のノズル6aに対応す
る検出範囲s1の不良物k1’が、2番目のノズル6a
の検出範囲s2に近接した位置で、流れの正規位置Jか
らセンサと反対側に位置ずれしたために、2番目のノズ
ル6aの検出範囲s2の不良物k2aとして検出された
ものでも、1番目のノズル6aが作動して不良物として
分離されることになる。逆に、本来は3番目のノズル6
aに対応する検出範囲s3の不良物k3’が、2番目の
ノズル6aの検出範囲s2に近接した位置で、流れの正
規位置Jからセンサ側に位置ずれしたために、2番目の
ノズル6aの検出範囲s2の不良物k2bとして検出さ
れたものでも、3番目のノズル6aが作動して不良物と
して分離されることになる。
【0043】〔別実施形態〕上記実施例では、不良物の
存在が判別された区分(受光範囲)に対応する区画の噴
射ノズル6aとこの区画に隣接する区画の各噴射ノズル
6aを作動させて、流れの厚み方向に位置ずれした不良
物を確実に分離して選別させるようにしたが、これ以外
の別の選別手段101の構成も可能である。つまり、前
記選別手段101が、粒状体にエアーを吹き付けて粒状
体群の流れから分離させる噴射ノズル6aの複数個を、
粒状体群の全幅をその幅方向に沿って前記検出位置Jに
おける各区分の幅よりも広幅の複数の区画に分割形成し
た各区画に対応する状態で並置させると共に、各噴射ノ
ズル6aのエアー吹き付け範囲を隣接する区画の噴射ノ
ズル6aのエアー吹き付け範囲と重複する状態に形成
し、且つ、前記複数の区画のうちで、前記検出位置Jに
おいて不良物の存在が判別された区分を含む区画に対応
する前記噴射ノズル6aを作動させるように構成されて
いる。具体的には、前記ストレート形状のエアー吹き出
し口を備えた各噴射ノズル6aに代えて、図12に示す
ように、エアーを前方側ほど横幅方向に広がる状態で吹
き出すように、エアー吹き出し口を平面視において先端
側ほど横広がりの「ラッパ形状」に形成して、隣接する
ノズル6aの各吹き出し範囲を互いに重複させる。従っ
て、この噴射ノズル6aの場合は、不良物の存在位置に
対応する区画の噴射ノズル6aを作動させると、エアー
が横幅方向に広がるので、上記区画の本来の不良物とと
もに、隣接する区画に存在する不良物が流れ厚み方向に
位置ずれして、誤って隣の区画の不良物として判別され
た場合も適切に分離できることになる。又、別の形態と
して、図16に示すように、各ノズル6aを2列千鳥状
に配列するとともに、隣接するノズル6aの吹き出し口
を流れの横幅方向に重複する状態に形成して、エアー吹
き付け範囲を重複するようにしてもよい。
【0044】次に、前記エアー吹き付け装置6の構造の
別実施例について説明する。図13及び図14に示すよ
うに、前記下側部分6Aに、各噴射ノズル6aに対応さ
せて、前記エアー吹き出す用の偏平状の凹部を形成する
とともに、各エアー吹き出し用の凹部を囲む状態で接着
材保持用の凹溝6cを形成し、この下側部分6Aの凹溝
6cに嵌合する凸部6dを、前記上側部分6Bに形成し
ている。この構造では、シール用の接着剤を凹溝6cと
凸部6dの間隙に確実に保持して良好なシール性が得ら
れるとともに、接着剤がエアー吹き出し用の凹部にはみ
出してエアーの通過状態を妨げるおそれがない。
【0045】上記実施例では、流下案内手段(シュート
1)の流下案内面を上端部から下端部に一定傾斜角の平
面に形成した場合を説明したが、粒状体群の流れ状態で
の各粒の跳ね動作を抑制させるための流下案内手段1の
別実施例について、図15に基づいて説明する。つま
り、この場合は、前記流下案内手段1の流下案内面が、
他の部分よりも緩い傾斜状態の緩傾斜面を粒状体群流れ
方向において部分的に備えるように構成されている。図
15(イ)は、前記緩傾斜面1aが、前記シュート1の
上端部箇所に、その下部側の急傾斜面に対して傾斜状態
が滑らかに変化して連なる状態で設けられている例(上
部側緩傾斜面)を示す。図15(ロ)は、前記緩傾斜面
1bが、前記シュート1の下端部箇所に、その上部側の
急傾斜面に対して傾斜状態が滑らかに変化して連なる状
態で設けられている例(下部側緩傾斜面)を示す。図1
5(ハ)は、前記緩傾斜面が、前記シュート1の上端部
箇所に、その下部側の急傾斜面に対して傾斜状態が滑ら
かに変化して連なる状態で設けた上部側緩傾斜面1a
と、前記シュート1の下端部箇所に、その上部側の急傾
斜面に対して傾斜状態が滑らかに変化して連なる状態で
設けた下部側緩傾斜面1bとから構成されている例を示
す。図15(ニ)は、前記シュート1の上端部箇所に、
上部側緩傾斜面1aが設けられ、さらに、その上部側緩
傾斜面1aの上部に、前記シュート1の急傾斜面よりも
緩い緩傾斜面1cを設けて、その緩傾斜面1cを上部側
緩傾斜面1aに傾斜状態が滑らかに変化するように連設
させた例を示す。
【0046】上記実施例では、受光手段5A,5Bを、
受光部5aとして多数個の光素子を並置したモノクロタ
イプのCCDラインセンサにて構成したが、これ以外
に、撮像管式のテレビカメラでもよい。又、モノクロタ
イプではなく、カラータイプのCCDセンサにて構成し
て、例えば、色情報R,G,B毎の受光量から不良米や
異物の存否をさらに精度良く判別するようにしてもよ
い。
【0047】上記実施例では、選別手段101が、不良
物の位置の粒状体群にエアーを吹き付けて正常物と分離
させるようにしたが、これに限るものではなく、例え
ば、粒状体群をエアーで吸引して分離させるようにして
もよい。
【0048】上記実施例では、検査対象物としての粒状
体群が玄米等の米粒群kである場合について例示した
が、これに限るものではなく、例えば、プラスチック粒
等における不良物や異物の存否を検査する場合にも適用
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】不良物検出・除去装置の全体側面図
【図2】同要部側面図
【図3】同要部斜視図
【図4】制御構成のブロック図
【図5】ラインセンサの受光範囲を示す図
【図6】複数の照明光源による作用を説明するための側
面図
【図7】透過光用ラインセンサの出力波形図
【図8】反射光用ラインセンサの出力波形図
【図9】エアー噴射装置の構造を示す斜視図
【図10】エアー噴射装置の構造を示す平面図
【図11】不良物の検出位置とエアー吹き付け範囲を説
明するための平面図
【図12】別実施例のエアー噴射装置の構造を示す平面
【図13】別実施例のエアー噴射装置の構造を示す斜視
【図14】別実施例のエアー噴射装置の構造を示す断面
側面図
【図15】別実施例の流下案内手段の構成を示す概略側
面図
【図16】別実施例のエアー噴射装置の正面図
【符号の説明】
1 流下案内手段 1a 緩傾斜面 1b 緩傾斜面 1c 緩傾斜面 4 照明手段 5A 受光手段 5B 受光手段 5a 受光部 6a 噴射ノズル 100 判別手段 101 選別手段

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 検査対象物としての粒状体群が一層状態
    で横幅方向に広がった広幅状態となるように、粒状体群
    を流下案内させる流下案内手段と、 その流下案内手段の下端部から流下する粒状体群が広幅
    状態で存在することが予定される長尺状の予定存在箇所
    を照明する照明手段と、 前記予定存在箇所をその長さ方向に沿って複数に区分し
    て各区分からの検出光を各別に受光する複数の受光部
    を、前記予定存在箇所の長さよりも短い幅内に並べた状
    態で備える受光手段と、 その受光手段における複数の受光部の受光情報に基づい
    て、前記予定存在箇所の複数の区分のうちの不良物が存
    在する区分の位置を判別する判別手段と、 その判別手段の情報に基づいて、前記予定存在箇所にお
    ける複数の区分のうちで不良物が存在すると判別された
    区分に対応する粒状体を、前記広幅状態で流下する粒状
    体群の流れから分離して選別する選別手段とが設けられ
    た粒状体の検査装置であって、 前記選別手段が、前記判別手段の情報に基づいて、前記
    予定存在箇所における複数の区分のうちで不良物が存在
    すると判別された区分に対応する粒状体を分離するとき
    に、不良物が存在すると判別された区分に隣接する区分
    に対応する粒状体を併せて、粒状体群の流れから分離し
    て選別するように構成されている粒状体の検査装置。
  2. 【請求項2】 前記選別手段が、粒状体にエアーを吹き
    付けて粒状体群の流れから分離させる噴射ノズルの複数
    個を、粒状体群の全幅をその幅方向に沿って前記予定存
    在箇所における各区分の幅よりも広幅の複数の区画に分
    割形成した各区画に対応する状態で並置させ、且つ、前
    記複数の区画のうちで、前記予定存在箇所において不良
    物の存在が判別された区分を含む区画及びその区画に隣
    接する区画に対応する前記噴射ノズルを作動させるよう
    に構成されている請求項1記載の粒状体の検査装置。
  3. 【請求項3】 前記選別手段が、粒状体にエアーを吹き
    付けて粒状体群の流れから分離させる噴射ノズルの複数
    個を、粒状体群の全幅をその幅方向に沿って前記予定存
    在箇所における各区分の幅よりも広幅の複数の区画に分
    割形成した各区画に対応する状態で並置させると共に、
    各噴射ノズルのエアー吹き付け範囲を隣接する区画の噴
    射ノズルのエアー吹き付け範囲と重複する状態に形成
    し、且つ、前記複数の区画のうちで、前記予定存在箇所
    において不良物の存在が判別された区分を含む区画に対
    応する前記噴射ノズルを作動させるように構成されてい
    る請求項1記載の粒状体の検査装置。
  4. 【請求項4】 検査対象物としての粒状体群が一層状態
    で横幅方向に広がった広幅状態となるように、粒状体群
    を流下案内させる流下案内手段と、 その流下案内手段の下端部から流下する粒状体群が広幅
    状態で存在することが予定される長尺状の予定存在箇所
    を照明する照明手段と、 前記予定存在箇所をその長さ方向に沿って複数に区分し
    て各区分からの検出光を各別に受光する複数の受光部
    を、前記予定存在箇所の長さよりも短い幅内に並べた状
    態で備える受光手段と、 その受光手段における複数の受光部の受光情報に基づい
    て、前記予定存在箇所の複数の区分のうちの不良物が存
    在する区分の位置を判別する判別手段と、 その判別手段の情報に基づいて、前記予定存在箇所にお
    ける複数の区分のうちで不良物が存在すると判別された
    区分に対応する粒状体を、前記広幅状態で流下する粒状
    体群の流れから分離して選別する選別手段とが設けられ
    た粒状体の検査装置であって、 前記流下案内手段の流下案内面が、他の部分よりも緩い
    傾斜状態の緩傾斜面を粒状体群流れ方向において部分的
    に備えるように構成されている粒状体の検査装置。
  5. 【請求項5】 前記緩傾斜面が、前記流下案内手段の上
    端部箇所に、その下部側の急傾斜面に対して傾斜状態が
    滑らかに変化して連なる状態で設けられている請求項4
    記載の粒状体の検査装置。
  6. 【請求項6】 前記緩傾斜面が、前記流下案内手段の下
    端部箇所に、その上部側の急傾斜面に対して傾斜状態が
    滑らかに変化して連なる状態で設けられている請求項4
    記載の粒状体の検査装置。
  7. 【請求項7】 前記緩傾斜面が、前記流下案内手段の上
    端部箇所に、その下部側の急傾斜面に対して傾斜状態が
    滑らかに変化して連なる状態で設けられた上部側緩傾斜
    面と、前記流下案内手段の下端部箇所に、その上部側の
    急傾斜面に対して傾斜状態が滑らかに変化して連なる状
    態で設けられた下部側緩傾斜面とから構成されている請
    求項4記載の粒状体の検査装置。
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002001232A (ja) * 2000-06-16 2002-01-08 Satake Corp 粒状物選別装置
JP2007244986A (ja) * 2006-03-15 2007-09-27 Anritsu Sanki System Co Ltd 物品検査装置
JP2012055859A (ja) * 2010-09-10 2012-03-22 Mitsubishi Electric Corp 選別装置
JP2013043164A (ja) * 2011-08-26 2013-03-04 Satake Corp 光学式選別機用シュート
JP2013220404A (ja) * 2012-04-19 2013-10-28 Gunma Prefecture 振り分け機構を備えた搬送装置
WO2016088558A1 (ja) * 2014-12-02 2016-06-09 株式会社サタケ 粒状物色彩選別機のエジェクター
WO2017159629A1 (ja) * 2016-03-18 2017-09-21 株式会社イシダ 振分装置
JP2017167040A (ja) * 2016-03-17 2017-09-21 日本ゼオン株式会社 異物の検出方法、異物の検出装置、エラストマーの製造方法およびエラストマーの製造装置
WO2022163100A1 (ja) * 2021-01-28 2022-08-04 株式会社サタケ 光学式選別機

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4561944B2 (ja) * 2000-06-16 2010-10-13 株式会社サタケ 粒状物選別装置
JP2002001232A (ja) * 2000-06-16 2002-01-08 Satake Corp 粒状物選別装置
JP2007244986A (ja) * 2006-03-15 2007-09-27 Anritsu Sanki System Co Ltd 物品検査装置
JP4647522B2 (ja) * 2006-03-15 2011-03-09 アンリツ産機システム株式会社 物品検査装置
JP2012055859A (ja) * 2010-09-10 2012-03-22 Mitsubishi Electric Corp 選別装置
CN103796935A (zh) * 2011-08-26 2014-05-14 株式会社佐竹 光学式分选机用滑槽
JP2013043164A (ja) * 2011-08-26 2013-03-04 Satake Corp 光学式選別機用シュート
JP2013220404A (ja) * 2012-04-19 2013-10-28 Gunma Prefecture 振り分け機構を備えた搬送装置
WO2016088558A1 (ja) * 2014-12-02 2016-06-09 株式会社サタケ 粒状物色彩選別機のエジェクター
JP2016107170A (ja) * 2014-12-02 2016-06-20 株式会社サタケ 粒状物色彩選別機のエジェクター
GB2559433A (en) * 2014-12-02 2018-08-08 Satake Eng Co Ltd Ejector for granular material color sorting machine
GB2559433B (en) * 2014-12-02 2020-05-13 Satake Eng Co Ltd Ejector for granular matter color sorter
JP2017167040A (ja) * 2016-03-17 2017-09-21 日本ゼオン株式会社 異物の検出方法、異物の検出装置、エラストマーの製造方法およびエラストマーの製造装置
WO2017159629A1 (ja) * 2016-03-18 2017-09-21 株式会社イシダ 振分装置
WO2022163100A1 (ja) * 2021-01-28 2022-08-04 株式会社サタケ 光学式選別機

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