JP3146149B2 - 不良検出装置及び不良物除去装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、米、麦の穀実、小
豆・大豆等の豆類の種子、等の穀粒群を検査対象物とし
て穀粒の良否又は穀粒群内に混入している異物を検出す
る不良検出装置、及び、その不良検出装置にて検出され
た不良の穀粒又は異物を除去する不良物除去装置に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】上記不良検出装置では、図９に例示する
ように、例えば所定経路Ｌに沿って移送されている検査
対象物としての穀粒群の一例である米粒群ｋを光源Ｌｇ
にて照明して、その照明光が米粒群ｋで反射した反射光
をフォトセンサ等からなる受光手段Ｓにて受光し、その
受光レベルが予め設定した適正範囲内であれば正常な米
粒と判定する一方で、適正範囲から外れると、米粒の着
色等の不良や、石・プラスチック等の異物の混入がある
と判定している。ここで、受光手段Ｓの受光方向におい
て米粒群ｋの背部側に、米粒と同じ反射率の反射面を備
えた反射板ｈを配置して、その反射板ｈからの反射光の
受光レベルを基準として上記適正範囲を設定している。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術では、反射板ｈの反射面を受光手段Ｓの受光方向
に位置する基準位置ａを中央にして比較的広い面積に形
成しているので、例えばガラス片ｇのような異物につい
て、上記基準位置ａからの反射光は、図に点線で示すよ
うにガラス片ｇで屈折して受光手段Ｓには入射しない
が、反射板ｈの周辺位置ｂからの反射光がガラス片ｇで
屈折して受光手段Ｓに入射するような場合に、正常な米
粒からの反射光と誤って判断され、上記ガラス片ｇを異
物として検出できないおそれがあった。

【０００４】本発明は、上記実情に鑑みてなされたもの
であって、その目的は、上記従来技術の不具合を解消す
べく、透明なためそれを透過した光について受光レベル
がほとんど変化しない様なガラス片等の異物でも的確に
検出でき、さらに、その検出結果に基づいて、米、麦の
穀実、小豆・大豆等の豆類の種子等の穀粒群における不
良の穀粒や異物を正常な穀粒から確実に分離して除去で
きるようにすることである。

【０００５】

【課題を解決するための手段】請求項１の構成によれ
ば、検査対象物としての穀粒群を照明した照明光が、穀
粒群で反射されるとともに、受光手段の受光方向であっ
て穀粒群の背部側に位置する基準面で反射され、その穀
粒群からの反射光及び基準面からの反射光を受光手段が
受光した受光情報に基づいて、穀粒の良否又は穀粒群内
に混入している異物の存否が判別される。つまり、穀粒
群の反射率と同じ反射率である基準面からの反射光は穀
粒群からの反射光と同じ光量となるので、この基準面か
らの反射光を基準として穀粒の良否又は穀粒群内に混入
している異物の存否が判別できることになり、

【０００６】同時に、図２及び図８に例示するように、
基準面８ａに近接して受光手段５Ｂの受光方向とは異な
る方向に位置する周辺面８ｂからの反射光は通常は受光
手段５Ｂに入射しないが、ガラスｇ等の異物によってそ
の周辺面８ｂからの反射光の光路が曲がって受光手段５
Ｂに入射することにより、周辺部８ｂは穀粒群ｋの反射
率と異なる反射率であるので、その周辺面８ｂからの反
射光の光量は穀粒群ｋからの反射光と異なり区別できる
ことになる。

【０００７】従って、受光手段の受光方向で穀粒群の背
部側に配置した基準面からの反射光を基準として、穀粒
の良否又は穀粒群内への混入異物の存否を的確に検出し
ながら、受光手段の受光方向と異なる方向に位置する周
辺面からの反射光がガラス片等の異物を経て受光手段に
入射したときにも、その周辺面を穀粒群の反射率つまり
基準面の反射率と同じに形成するような従来技術では正
常な穀粒と誤って検出するおそれがあるのに対して、周
辺面を基準面と異なる反射率に形成することで正常な穀
粒と誤検出することを回避させ、穀粒の不良や異物の混
入を的確に検出できる不良検出装置が得られる。

【０００８】請求項２の構成によれば、請求項１におい
て、受光手段の受光量が、正常な穀粒からの反射光つま
り基準面からの反射光の受光量を基準として設定された
設定適正範囲を外れた場合に、穀粒の不良又は異物の存
在が判定される。

【０００９】従って、穀粒が例えば米粒である場合の着
色米や胴割れ米等の不良の穀粒、ガラス等で屈折により
反射板の周辺面からの反射光を受光するもの、及び黒色
系の石やプラスチック等のように光の反射率が低い異物
については、正常な穀粒からの反射光量よりも光量低下
する（つまり設定適正範囲よりも下側に外れる）ことで
検出でき、ガラス片等のようにその一部からの光反射に
よって強い反射光を受光したときは、設定適正範囲より
も上側に外れることで検出できるように種々の不良につ
いて的確に検出でき、もって、請求項１に係る不良検出
装置の好適な手段が得られる。

【００１０】請求項３の構成によれば、請求項１又は２
において、受光手段の受光方向であって検査対象物の背
部側に位置させる基準面、及び、その基準面に近接して
位置させる周辺面が、単一の部材上に形成されている。

【００１１】従って、例えば基準面と周辺面とが別々の
部材上に形成されている場合には、基準面が受光手段の
受光方向で穀粒群の背部側に位置する状態で、基準面を
形成した部材を設置した後で、周辺面を形成した部材を
周辺面が基準面に近接する状態で設置する必要があり、
基準面及び周辺面の装置への設置の手間が多くなるのに
対して、基準面が受光手段の受光方向で穀粒群の背部側
に位置する状態で単一の部材を装置に取り付けるだけの
少ない手間で設置することができ、もって、請求項１又
は２に係る不良検出装置の好適な手段が得られる。

【００１２】請求項４の構成によれば、請求項１、２又
は３において、基準面に近接した周辺面からの反射光
が、ガラス片等の異物を経て受光手段に入射したとき
に、その周辺面の反射率が穀粒群の反射率よりも小さい
ので、その周辺面からの反射光の光量は穀粒群からの光
量よりも小さくなり穀粒群と区別できる。

【００１３】従って、例えば周辺面の反射率を穀粒群の
反射率よりも大なる反射率にして異なる反射率に形成す
るような場合には、周辺面からの反射光が受光手段に入
射したときの光量が、異物における光の透過率等によっ
ては穀粒群からの光量と同程度になって区別できないお
それがあるのに対して、周辺面の反射率を穀粒群の反射
率よりも小なる反射率にして穀粒群からの光量よりも確
実に小さい光量によって異物等の存在を的確に検出で
き、もって、請求項１、２又は３に係る不良検出装置の
好適な手段が得られる。

【００１４】請求項５の構成によれば、請求項１、２、
３又は４記載の不良検出装置が備えられ、予定移送経路
に沿って移送される穀粒群が受光手段の予定移送経路に
対する受光対象箇所へ移送されると、予定移送経路を挟
んだ一方側からの照明光が穀粒群及び予定移送経路を挟
んだ他方側の基準面で反射して予定移送経路を挟んだ同
じ側の受光手段にて受光され、その受光対象箇所での受
光情報に基づいて判別された不良の穀粒及び異物が、穀
粒群のうちの正常な穀粒の経路と異なる経路に分離して
移送される。

【００１５】従って、例えば検査対象物（穀粒群）を移
送させずにその不良検出及び不良物除去を行うには、装
置側を可動できるように構成する必要があるのに比べ
て、検査対象物（穀粒群）を受光手段の受光対象箇所つ
まり不良検出位置から、異なる経路への分離位置つまり
不良物除去位置に順次移送しながら、不良の穀粒及び異
物を正常な穀粒から分離して移送させるようにすること
で、装置側を可動させないようにしながら装置各部を合
理的に配置して円滑な動作が実現できる不良物除去装置
が得られる。

【００１６】請求項６の構成によれば、請求項５におい
て、予定移送経路に沿って一層状態で且つ複数列並ぶ状
態で移送されている穀粒群の並び方向の全幅が照明され
るとともに、穀粒群の並び方向に沿う長手状に形成され
た基準面が照明され、その複数列の穀粒群及び長手状の
基準面からの反射光が、受光手段によって穀粒群の並び
方向に沿う長手状の全幅を検出対象範囲として受光さ
れ、その受光情報に基づいて、複数列の穀粒群の並び方
向の全幅における穀粒の良否又は混入異物の存否が判別
される。ここで、上記長手状の基準面の短手方向の両側
に設けた周辺面からの反射光は、異物等を経て受光手段
にて受光されてもその光量が穀粒群からの反射光と異な
る（例えば小である）ことで区別される。

【００１７】従って、検査対象物を複数列並ぶ状態では
なく、例えば一列状態で予定移送経路に沿って移送する
ものに比べて、その並び方向の全幅において並列的につ
まり能率良く、しかも、ガラス片等の異物を誤って正常
な穀粒と誤検出することも防止しながら良好に不良を検
出することができ、もって、請求項５に係る不良物除去
装置の好適な手段が得られる。

【００１８】請求項７の構成によれば、請求項５又は６
において、自重にて落下して移送されている穀粒群内の
不良の穀粒又は異物に対してエアーが吹き付けられ、そ
の不良の穀粒又は異物が正常な穀粒の移送経路と異なる
経路に分離される。

【００１９】従って、正常な穀粒の移送経路から不良の
穀粒又は異物を分離させるのに、エアーの吹き付け作用
によって行うので、例えば、出退動作をする板等の機械
的な手段で直接接触して分離させるのに比べて、速い応
答速度で且つソフトタッチに損傷を与えるおそれもなく
良好に分離でき、もって、請求項５又は６に係る不良物
除去装置の好適な手段が得られる。

【００２０】

【発明の実施の形態】以下、本発明の不良検出装置及び
不良物除去装置の実施形態を、穀粒群の一例である、玄
米や精米等の米粒群を検査対象物として所定経路に沿っ
て移送しながら、不良検出及び不良物除去を行う場合に
ついて図面に基づいて説明する。

【００２１】図１及び図２に示すように、所定幅の板状
のシュータ１が、水平面に対して所定角度（例えば４５
度）に傾斜されて設置され、このシュータ１の上方側か
らホッパー等７にて供給された米粒群ｋが一層状態で横
方向に広がった状態で滑って移送されている。シュータ
１の下方には、シュータ下端から所定速度で自然落下す
る米粒群ｋのうちの正常な米粒ｋを回収する良米回収箱
２と、正常な米粒ｋの流れから分離した着色米（焼け
米）や胴割れ米等の不良米又は石やガラス片等の異物を
回収する不良物回収箱３とが設置されている。以上よ
り、シュータ１が、米粒群ｋを予定移送経路（つまりシ
ュータ上の米粒群ｋの流れ経路及びシュータ下端から飛
び出た米粒群ｋの落下経路）に沿って一層状態で且つ複
数列並ぶ状態で移送する移送手段Ｈを構成する。

【００２２】前記予定移送経路つまりシュータ下端から
の米粒群ｋの落下経路を挟んで、一方側に、複数列の米
粒群ｋの並び方向の全幅を照明するように蛍光灯等にて
構成された照明手段としてのライン状光源４と、そのラ
イン状光源４からの照明光が米粒群ｋで反射した反射光
を受光する受光手段としてのラインセンサ５Ｂとが設け
られ、他方側に、そのライン状光源４からの照明光が米
粒群ｋを透過した透過光を受光するラインセンサ５Ａが
設けられている。そして、上記両ラインセンサ５Ａ，５
Ｂの前記予定移送経路に対する受光対象箇所Ｊが、図２
に示すように予定移送経路の経路方向において略同一位
置に設定されるとともに、上記両ラインセンサ５Ａ，５
Ｂの検出対象範囲が、上記受光対象箇所Ｊにおいて複数
列の米粒群ｋの並び方向に沿う長手状の全幅に設定さ
れ、前記移送手段Ｈは、上記受光対象箇所Ｊへ米粒群ｋ
を移送するように構成されている。

【００２３】又、前記米粒群ｋの落下経路を挟んで他方
側に、前記ライン状光源４からの照明光を受けて反射光
用のラインセンサ５Ｂに向けて反射させるための反射板
８が設けられている。つまり、この反射板８には、図２
及び図７に示すように、前記反射光用のラインセンサ５
Ｂの受光方向であって米粒群ｋの背部側に、米粒群ｋの
反射率と同じ反射率の基準面８ａが、上記ラインセンサ
５Ｂの長手状の検出対象範囲に対応させて長手状に形成
され、その長手状の基準面８ａの短手方向の両側に近接
させて、米粒群ｋの反射率と異なるように米粒群ｋの反
射率よりも小なる反射率の周辺面８ｂが黒色の領域に形
成されている。以上より、反射板８が、上記基準面８ａ
及び周辺面８ｂを形成する単一の部材に相当する。

【００２４】図４に示すように、上記両ラインセンサ５
Ａ，５Ｂは、米粒ｋの大きさよりも小さい範囲ｐ（例え
ば米粒ｋの大きさの１０分の１程度）を夫々の受光対象
範囲として各別に受光情報が取出し可能な複数個の受光
部５ａを、米粒群ｋの存在範囲の全体に亘って備えて構
成されている。具体的には、複数個の受光部５ａとして
の受光素子が上記複数列の米粒群ｋの並び方向に沿って
その全幅に亘って直線状に並置されたモノクロタイプの
ＣＣＤセンサと、米粒群ｋの像を上記ＣＣＤセンサの各
受光素子上に結像させるための光学系とから構成されて
いる。

【００２５】上記両ラインセンサ５Ａ，５Ｂの予定移送
経路における受光対象箇所Ｊから経路方向の下手側に、
不良と判定された米粒ｋや異物等に対してエアーを吹き
付けて正常な米粒ｋの流れ方向から分離させて前記不良
物回収箱３に回収させるためのエアー吹き付け装置６が
設けられている。このエアー吹き付け装置６は、米粒ｋ
の流れ方向に対して横幅方向に所定幅毎に分割した各米
粒群ｋに対して各別に吹き付け作動する複数個のエアー
ガン６ａを備えている。

【００２６】制御構成を説明すると、図３に示すよう
に、マイクロコンピュータ利用の制御装置１０が設けら
れ、この制御装置１０に、前記両ラインセンサ５Ａ，５
Ｂからの各画像信号が入力され、制御装置１０からは、
前記エアー吹き付け装置６の各エアーガン６ａを夫々各
別に作動させるために、図示しないコンプレッサーから
上記各エアーガン６ａへの各エアー供給路のエアー流通
をオンオフする複数個の電磁弁１１に対する駆動信号が
出力されている。

【００２７】前記制御装置１０を利用して、前記両ライ
ンセンサ５Ａ，５Ｂの受光情報に基づいて前記米粒の良
否又は前記異物の存否を判別する判別手段１００が構成
され、この判別手段１００は、前記各ラインセンサ５
Ａ，５Ｂの受光量が設定適正範囲を外れた場合に前記米
粒の不良又は前記異物の存在を判定するように構成され
ている。具体的には、図５の透過光用のラインセンサ５
Ａ及び図６の反射光用のラインセンサ５Ｂの各出力波形
に示すように、各ラインセンサ５Ａ，５Ｂ夫々の複数個
の受光部５ａの受光情報に基づいて、その各受光部５ａ
の受光量に対応する出力電圧が設定適正範囲ΔＥｔ，Δ
Ｅｈを外れた場合に前記米粒の不良又は前記異物の存在
を判定する。ここで、透過光の場合は、米粒ｋが存在し
ない位置では正常米粒からの標準的な透過光を受光した
ときの出力電圧レベルｅ０よりも大きくなるので、透過
光用の設定適正範囲ΔＥｔは、上記電圧レベルｅ０より
も所定量下側の設定レベルｅｋ以上の範囲として設定さ
れ、反射光用の設定適正範囲ΔＥｈは、正常米粒からの
標準的な反射光に対する出力電圧レベルｅ０’を挟んで
上下所定幅の範囲に設定される。

【００２８】図５及び図６には、米粒ｋに一部着色部分
が存在する位置（ｅ１，ｅ１’で示す）や胴割れ部分が
存在する位置（ｅ２で示す）では、上記設定適正範囲Δ
Ｅｔ，ΔＥｈから下側に外れている状態を例示し、又、
ガラス片等の異物が存在する場合には、異物で直接反射
された強い光によって反射光の位置ｅ３’に示すように
設定適正範囲ΔＥｈから上側に外れるか、又は、図８に
示すように、反射板８の周辺面８ｂからの反射光が、ガ
ラス片ｇ等によって光路が曲がって反射用のラインセン
サ５Ｂに入射することにより、周辺面８ｂが黒色の領域
に形成されてその反射率が米粒ｋに比べて非常に小さい
ので、図６のｅ４’に示すようにΔＥｈから下側に外れ
る。又、図示しないが、黒色の石等では、反射率及び透
過率が共に非常に小さいので、両波形において各設定適
正範囲ΔＥｔ，ΔＥｈから下側に大きく外れる。

【００２９】そして、前記移送手段Ｈは、前記制御装置
１０及び前記エアー吹き付け装置６をも利用して、前記
判別手段１００の判別情報に基づいて、前記米粒群ｋの
うちの正常な米粒と不良の米粒及び前記異物とを異なる
経路に分離して移送するように構成されている。具体的
には、判別手段１００にて前記米粒の不良又は前記異物
の存在が判別された場合には、前記両ラインセンサ５
Ａ，５Ｂの前記予定移送経路に対する受光対象箇所から
前記予定移送経路における前記不良の米粒又は前記異物
に対する異なる経路への分離箇所（前記エアーガン６ａ
の設置箇所）までの移送時間が経過するに伴って、前記
不良の米粒又は前記異物を正常な米粒の経路と異なる経
路に分離させる。つまり、米粒群ｋを自重にて落下させ
て移送させるとともに、不良の米粒又は異物に対して、
その位置に対応する各エアーガン６ａからエアーを吹き
付けて正常な米粒の経路から分離させる。

【００３０】〔別実施形態〕上記実施形態では、周辺面
８ｂの反射率を検査対象物（穀粒群ｋ）の反射率よりも
小さくするのに、周辺面８ｂを黒色の領域に形成した
が、黒色以外の他の明度の低い色でもよく、あるいは、
色以外の表面の状態（凹凸等）で反射率が小さくなるよ
うにしてもよい。又、検査対象物の反射率と異なる反射
率にするのに、検査対象物の反射率よりも小なる反射率
ではなく、逆に、検査対象物の反射率よりも大なる反射
率にしてもよい。又、基準面８ａと周辺面８ｂとを単一
の部材（反射板８）上に形成するのではなく、各別の部
材上に形成してもよい。

【００３１】上記実施形態では、判別手段１００が、透
過光用のラインセンサ５Ａの受光量及び反射光用のライ
ンセンサ５Ｂの受光量の情報を用いて、そのいずれか一
方が設定適正範囲を外れた場合に前記穀粒の不良又は前
記異物の存在を判定するように構成したが、上記反射光
用のラインセンサ５Ｂの受光量の情報だけを用いて、そ
れが設定適正範囲を外れた場合に穀粒の不良又は異物の
存在を判定するように構成することもできる。

【００３２】上記実施形態では、各受光手段５Ａ，５Ｂ
を、モノクロタイプのＣＣＤセンサを利用して構成した
が、撮像管式のテレビカメラを利用して構成してもよ
い。又、モノクロタイプではなく、カラータイプのＣＣ
Ｄセンサにて構成して、例えば、色情報Ｒ，Ｇ，Ｂ毎の
受光量から不良の穀粒や異物の存否をさらに精度良く判
別するようにしてもよい。

【００３３】上記実施形態では、移送手段Ｈにて検査対
象物（穀粒群ｋ）を予定移送経路に沿って複数列並ぶ状
態で（つまり横方向に広がった状態で）移送するように
したが、これ以外に、例えば、予定移送経路に沿って一
列状態で（つまり直線状に）移送させるようにしてもよ
い。そして、移送手段Ｈの検査対象物（穀粒群ｋ）に対
する移送形態に合わせて、照明手段４も、複数列状の検
査対象物（穀粒群ｋ）の全幅を照明するライン状光源で
はなく他の光源等に適宜変更され、又、受光手段である
各ラインセンサ５Ａ，５Ｂの検出対象範囲や、基準面８
ａ及び周辺面８ｂの形状も、長手状ではない適切な形状
に変更される。尚、両ラインセンサ５Ａ，５Ｂの予定移
送経路に対する受光対象箇所Ｊは、予定移送経路の経路
方向において略同一位置ではなく異なる位置に設定して
もよい。

【００３４】上記実施形態では、検査対象物（穀粒群
ｋ）を予定移送経路に沿って一層状態で複数列並ぶ状態
で移送する移送手段Ｈを構成するために、傾斜させたシ
ュータ１を設けてその面上を検査対象物（穀粒群ｋ）を
滑らせるようにしたが、これ以外に、例えば、検査対象
物（穀粒群ｋ）を一層状態で載置して搬送する搬送装置
等を設けてもよい。又、自重落下している穀粒群ｋ中の
不良の穀粒等に向けてエアーを吹き付けて、正常な穀粒
の経路から不良の穀粒又は異物を分離して移送するよう
に、移送手段Ｈを構成したが、これに限るものではな
く、例えば、不良の穀粒等をエアーで吸引するようにし
てもよい。

【００３５】尚、特許請求の範囲の項に図面との対照を
便利にするために符号を記すが、該記入により本発明は
添付図面の構成に限定されるものではない。

【図面の簡単な説明】

【図１】不良検出・除去装置の概略斜視図

【図２】同概略側面図

【図３】制御構成のブロック図

【図４】受光検出範囲の説明図

【図５】透過光用ラインセンサの出力波形図

【図６】反射光用ラインセンサの出力波形図

【図７】反射板の正面図

【図８】反射光における不良検出の説明図

【図９】従来例の反射板による誤検出の説明図

【符号の説明】

４ 照明手段 ５Ｂ 受光手段 １００ 判別手段 ８ａ 基準面 ８ｂ 周辺面 ８ 部材 Ｈ 移送手段

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山崎 祐一 大阪府堺市石津北町64番地 株式会社ク ボタ 堺製造所内 (72)発明者 中尾 知功 大阪府堺市石津北町64番地 株式会社ク ボタ 堺製造所内 (72)発明者 北野 紳一 大阪府堺市石津北町64番地 株式会社ク ボタ 堺製造所内 (56)参考文献 特開 昭58−159882（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−114786（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) B07C 5/342 G01N 21/958 G01V 9/04

Claims (7)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 穀粒群を検査対象物として穀粒の良否又
   は穀粒群内に混入している異物を検出する不良検出装置
   であって、 検査対象物を照明する照明手段（４）と、その照明手段
   （４）からの照明光が検査対象物で反射した反射光を受
   光する受光手段（５Ｂ）と、その受光手段（５Ｂ）の受
   光情報に基づいて前記穀粒の良否又は前記異物の存否を
   判別する判別手段（１００）とが設けられ、 前記受光手段（５Ｂ）の受光方向であって前記検査対象
   物の背部側に検査対象物の反射率と同じ反射率の基準面
   （８ａ）が設けられ、その基準面（８ａ）に近接させて
   前記検査対象物の反射率と異なる反射率の周辺面（８
   ｂ）が設けられている不良検出装置。
2. 【請求項２】 前記判別手段（１００）は、前記受光手
   段（５Ｂ）の受光量が設定適正範囲を外れた場合に前記
   穀粒の不良又は前記異物の存在を判定するように構成さ
   れている請求項１記載の不良検出装置。
3. 【請求項３】 前記基準面（８ａ）と前記周辺面（８
   ｂ）とが、単一の部材（８）上に形成されている請求項
   １又は２記載の不良検出装置。
4. 【請求項４】 前記周辺面（８ｂ）の反射率が、前記検
   査対象物の反射率よりも小なる反射率である請求項１、
   ２又は３記載の不良検出装置。
5. 【請求項５】 請求項１、２、３又は４記載の不良検出
   装置を備えた不良物除去装置であって、 前記検査対象物を予定移送経路に沿って移送する移送手
   段（Ｈ）が設けられ、前記予定移送経路を挟んで一方側
   に、前記照明手段（４）と前記受光手段（５Ｂ）とが配
   置され、他方側に前記基準面（８ａ）と前記周辺面（８
   ｂ）とが配置され、 前記移送手段（Ｈ）は、前記受光手段（５Ｂ）の前記予
   定移送経路に対する受光対象箇所へ前記検査対象物を移
   送するとともに、前記判別手段（１００）の判別情報に
   基づいて、前記検査対象物のうちの正常な穀粒と不良の
   穀粒及び前記異物とを異なる経路に分離して移送するよ
   うに構成されている不良物除去装置。
6. 【請求項６】 前記移送手段（Ｈ）は、前記検査対象物
   を一層状態で且つ複数列並ぶ状態で移送するように構成
   され、 前記照明手段（４）は、前記複数列の検査対象物の並び
   方向の全幅を照明するように構成され、 前記受光手段（５Ｂ）は、前記複数列の検査対象物の並
   び方向に沿う長手状の全幅を検出対象範囲とするように
   構成され、 前記基準面（８ａ）は、前記受光手段（５Ｂ）の長手状
   の検出対象範囲に対応させて長手状に形成され、その長
   手状の基準面（８ａ）の短手方向の両側に、前記周辺面
   （８ｂ）が設けられている請求項５記載の不良物除去装
   置。
7. 【請求項７】 前記移送手段（Ｈ）は、前記検査対象物
   を自重にて落下させて移送させるとともに、前記不良の
   穀粒又は前記異物に対してエアーを吹き付けて正常な穀
   粒の経路と異なる経路に分離させるように構成されてい
   る請求項５又は６記載の不良物除去装置。