JPH1190346A - 不良検出装置及び不良物除去装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 正常な検査対象物よりも透過率が大きい明側
の不良物を判別できると共に、小石等の小さい不良物や
正常な検査対象物の周縁部等に存在する不良箇所を適切
に判別することができ、その判別に基づいて、検査対象
物中に混入した不良物を正常物から確実に分離して除去
する。 【構成】 粒状体群の存在予定箇所Ｊが、透過光受光手
段５Ａの受光方向に対して傾いた斜め方向から照明手段
４にて照明され、粒状体群における正常物からの透過光
と同一又は略同一の明るさの光が、上記照明手段４と同
じ側に設けた投射部材８Ａから投射され、上記粒状体群
からの透過光と上記投射部材８Ａからの投射光とが透過
光受光手段５Ａにて受光され、その受光量が、上記正常
物からの透過光の明るさに基づいて設定される粒状体群
における正常物からの透過光に対する適正光量範囲から
外れた場合に、不良物の存在が判別される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、粒状体群を検査対
象物として、その検査対象物の存在予定箇所を照明する
照明手段が設けられ、前記存在予定箇所を挟んで、前記
照明手段の設置位置とは反対側に、前記照明手段からの
照明光が前記検査対象物を透過した透過光を受光する透
過光受光手段が設けられ、その透過光受光手段の受光情
報に基づいて、前記粒状体群における不良物の存否を判
別する判別手段が設けられた不良検出装置、及び、その
不良検出装置によって検出された不良物を除去するため
の不良物除去装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】上記不良検出装置では、図９及び図１０
に例示するように、例えば精米機等からの米粒群を検査
対象物の粒状体群として、所定経路に沿って移送しなが
ら、米粒ｋが検査用の存在予定箇所Ｊまで移送される
と、経路横方向から照明手段である光源Ｌｇにて米粒群
を照明して、米粒群を透過した透過光をフォトセンサや
ラインセンサ等の受光手段Ｐｓにて受光し、その受光レ
ベルが正常な検査対象物からの透過光に対する適正光量
範囲の下限値ＬＬを下回る位置には（図１０のｆ１）、
着色米等の不良米や石等の不良物が存在すると判別して
いた。そして、不良物除去装置では、上記検査用の存在
予定箇所Ｊから下流側箇所において、米粒群内の不良物
に対してエアーを吹き付ける等の分離手段にて、不良物
を正常物の経路から分離して除去させるようにしてい
た。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術では、受光手段Ｐｓの受光方向を照明手段の照明
方向と同じ方向に設定していたので、存在予定箇所Ｊに
検査対象物が存在しない場合には、透過光受光手段は照
明光源からの光を直接受光して受光レベルが高くなり、
前記適正光量範囲の上限値よりも明るい明側の不良物が
検出できない不利があるとともに、検査対象物中の不良
物が小石等のように小さい場合や、不良箇所が正常米等
の正常物の周縁部の一部に存在する場合には、光源Ｌｇ
からの強い光が対象物の周囲から回り込んで受光され
て、受光手段の受光レベルが低くならず（図１０のｆ
２）、小さい不良物や対象物の周縁部の不良箇所等を適
切に検出できないという不具合があった。尚、上記明側
の不良物の具体例として、「うるち米」を正常物とする
と、透過率が大の「ガラス」が明側の不良物に相当し、
「もち米」を正常物とすると、透過率が大の「ガラス」
や「うるち米」が明側の不良物に相当する。

【０００４】本発明は、上記実情に鑑みてなされたもの
であって、その目的は、上記従来技術の不具合を解消す
べく、正常な検査対象物よりも透過率が大きい明側の不
良物を判別できると共に、小石等の小さい不良物や正常
な検査対象物の周縁部等に存在する不良箇所を適切に判
別することができる不良検出装置、及び、その不良検出
装置による不良の判別に基づいて、検査対象物中に混入
した不良物を正常物から確実に分離して除去できる不良
物除去装置を得ることである。

【０００５】

【課題を解決するための手段】請求項１では、粒状体群
を検査対象物としてその検査対象物の存在予定箇所が、
存在予定箇所を挟んで照明手段の設置位置とは反対側に
設けた透過光受光手段の受光方向に対して傾いた斜め方
向から、上記照明手段にて照明されるとともに、粒状体
群における正常物からの透過光と同一又は略同一の明る
さの光が、上記照明手段を設けた側と同じ側に設けた投
射部材から透過光受光手段に向けて投射され、上記粒状
体群からの透過光と上記投射部材からの投射光とが透過
光受光手段にて受光され、その受光量が、上記正常物か
らの透過光の明るさに基づいて設定される粒状体群にお
ける正常物からの透過光に対する適正光量範囲から外れ
た場合に、不良物の存在が判別される。

【０００６】従って、検査対象物の存在予定箇所が透過
光受光手段の受光方向に対して傾いた斜め方向から照明
されるので、受光手段は照明手段からの光を直接受光す
ることなく、検査対象物内を透過して受光方向に散乱し
た透過光を受光して、その受光量が上記透過光用の適正
光量範囲の下限値よりも下側に外れると暗側の不良物と
判別する一方、適正光量範囲の上限値よりも上側に外れ
ると明側の不良物が判別できることになり、さらに、検
査対象物中の不良物が小石等のように小さい場合や、不
良箇所が正常米等の正常物の周縁部の一部に存在する場
合でも、照明光が対象物の周囲から回り込んで受光され
ることがないので、小さい不良物や周縁部の不良箇所等
に対応して受光レベルが小さくなり、それらの不良物等
も適切に判別することができる。

【０００７】請求項２では、請求項１において、光反射
体として構成された投射部材が、粒状体群を照明する照
明手段にて照明され、粒状体群からの透過光と投射部材
からの反射光とが上記透過光受光手段にて受光される。

【０００８】従って、例えば、内蔵の光源にて透過照明
される白色透過部材等にて投射部材を構成した場合に
は、検査対象物用の照明手段とは別の照明光源が必要と
なって、装置構成が複雑化するのに対して、照明手段を
兼用して装置構成を簡素化することができ、もって、請
求項１の好適な手段が得られる。

【０００９】請求項３では、請求項１又は２において、
前記粒状体群が、照明手段に備えた複数の照明部にて、
前記透過光受光手段の受光方向に対して傾いた状態で照
明角度が異なる複数の斜め方向から照明される。

【００１０】従って、図６に例示するように、例えば１
つの照明部４Ｂにて１つの照明角度の方向から粒状体群
を照明した場合には、粒の位置が存在予定箇所Ｊにおけ
る正規の位置の粒ｋに対してずれると、その位置ずれし
た粒ｋ’は照明部４Ｂによる照明範囲の端部に位置して
適切な照明がなされないおそれがあるが、上記照明部４
Ｂに加えて他の照明部４Ａにて異なる方向から照明する
ことにより、上記位置ずれした粒ｋ’も適切に照明する
ことができ、もって、請求項１又は２の好適な手段が得
られる。

【００１１】請求項４では、請求項１〜３のいずれか１
項において、前記粒状体群における正常物からの反射光
と同一又は略同一の明るさの光が、前記透過光受光手段
を設けた側と同じ側に設けた反射光用反射部材にて前記
反射光受光手段に向けて反射され、その反射光用反射部
材からの反射光と、照明手段からの照明光が前記粒状体
群で反射した反射光とが反射光受光手段にて受光され、
前記透過光受光手段及び前記反射光受光手段の両受光情
報に基づいて、前記粒状体群における不良物の存否が判
別される。

【００１２】従って、透過光及び反射光の両方の受光情
報に基づいて粒状体群における不良物の存否を判別する
ので、例えば光透過率が正常物と同程度であって透過光
の受光情報では不良の判別が難しい色ガラス等について
も、反射光の受光情報に基づいて良好に不良判別できる
ようにしながら、光反射率が正常物と同程度の石やプラ
スチック等について透過光の受光情報に基づいて良好に
不良判別することができ、もって、請求項１〜３のいず
れか１項の好適な手段が得られる。

【００１３】請求項５では、請求項１〜４のいずれか１
項の不良検出装置が備えられ、粒状体群が予定移送経路
に沿って移送され、予定移送経路における前記透過光受
光手段及び前記反射光受光手段の受光位置つまり前記存
在予定箇所に移送された粒状体群について、上記受光手
段の受光情報に基づく不良の存否が判別され、その判別
に基づいて、前記受光位置に移送した前記粒状体群のう
ちの正常物と不良物とを異なる経路に分離して移送され
る。

【００１４】従って、例えば粒状体群を移送させずに不
良検出と不良物の除去を行うには、装置側を可動できる
ように構成する必要があるのに比べて、粒状体群を受光
手段の受光位置つまり不良検出位置から、不良物を正常
物から異なる経路に分離する不良物除去位置に順次移送
させるようにすることで、装置側を可動させないように
しながら装置各部を合理的に配置して円滑な動作が実現
できる不良物除去装置が得られる。

【００１５】請求項６では、請求項５において、予定移
送経路に沿って一層状態で横幅方向に広がった状態で移
送されている粒状体群が、その横幅方向の全幅において
照明されるとともに、その横幅方向の全幅を受光範囲と
して前記透過光受光手段及び前記反射光受光手段にて受
光され、その受光情報に基づいて、粒状体群の横幅方向
の全幅における不良物の存否が判別される。

【００１６】従って、粒状体群を横幅方向に広がった状
態ではなく、例えば一列状に移送するものに比べて、横
幅方向の全幅において並列的に能率良く、不良を検出し
てその不良物を除去することができ、もって、請求項５
に係る不良物除去装置の好適な手段が得られる。

【００１７】請求項７では、請求項５又は６において、
粒状体群における不良物に対してエアーが吹き付けら
れ、その不良物が正常物の経路から分離されて除去され
る。

【００１８】従って、正常物の経路から不良物を分離さ
せるのに、エアーの吹き付けによって行うので、例えば
出退動作する板等の機械的な手段で直接接触して分離さ
せるのに比べて、速い応答速度で且つソフトタッチに損
傷を与えるおそれもなく良好に分離させることができ、
もって、請求項５又は６に係る不良物除去装置の好適な
手段が得られる。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下、本発明の不良検出装置及び
不良物除去装置の実施形態を、玄米や精米等の米粒群か
らなる粒状体群を検査対象物として流下案内させなが
ら、不良検出及び不良物除去を行う場合について図面に
基づいて説明する。

【００２０】図１〜図３（尚、図３は、不良検出及び不
良物除去の動作説明図であるために、図１及び図２とは
装置構成の配置が異なる箇所がある）に示すように、広
幅の板状のシュータ１が、水平面に対して所定角度（例
えば６０度）に傾斜されて設置され、このシュータ１の
上部側に設けた貯溜タンク７からフィーダ９によって搬
送されて供給された米粒群ｋが、シュータ１の上面を一
層状態で横方向に広がった状態で流下案内されて移送さ
れている。ここで、上記シュータ１は、幅方向全幅に亘
って平坦な案内面に形成された平面シュータである。
尚、ここでは、一層状態で移送させることを目的として
いるので、流れ状態により部分的に粒が重なって２層状
態等になっても、一層状態の概念に含まれる。

【００２１】貯溜タンク７には、外部の精米機等から供
給される検査対象物や、その外部からの検査対象物を１
次選別処理した後再選別される正常物又は不良物が貯溜
される。タンク７は下端側ほど先細筒状に形成され、タ
ンクからフィーダ９上に落下した米粒群ｋのシュータ１
への供給量が、フィーダ９の搬送速度を変化させて調節
されるようになっている。

【００２２】シュータ１の下端部から流下する米粒群ｋ
が広幅状態で存在することが予定される長尺状の存在予
定箇所Ｊ（以後、検出位置Ｊと呼ぶ）が、米粒群ｋの流
下経路中に設定され、その検出位置Ｊを米粒群ｋの横幅
方向の全幅を照明する状態で照明する照明光源４として
蛍光灯等からなるライン状光源４Ａ，４Ｂと、そのライ
ン状光源４Ａ，４Ｂからの照明光が上記検出位置Ｊの米
粒群ｋで反射した反射光を受光する反射光受光手段とし
ての反射用ラインセンサ５Ｂとが設けられている。一
方、上記検出位置Ｊを挟んで、ライン状光源４Ａ，４Ｂ
の設置位置とは反対側（図の右側）に、ライン状光源４
Ａ，４Ｂからの照明光が検出位置Ｊの米粒群ｋを透過し
た透過光を受光する透過光受光手段としての透過用ライ
ンセンサ５Ａが設けられている。

【００２３】ここで、前記ライン状光源４Ａ，４Ｂは、
前記透過用ラインセンサ５Ａの受光方向に対して傾いた
状態で異なる複数の斜め方向から米粒群ｋを照明する複
数の照明部として２つのライン状光源４Ａ，４Ｂを備え
ている。つまり、検出位置Ｊを斜め下方から照明する下
側光源４Ａと、検出位置Ｊを斜め上方から照明する上側
光源４Ｂとが備えられ、この両光源４Ａ，４Ｂは、検出
位置Ｊに対して夫々の照明角度を維持する状態でフレー
ム２２に保持されている。そして、このように検出位置
Ｊを照明光の照明角度を変えて２つの方向から照明して
いるので、図６に示すように、米粒ｋが正常な位置から
横方向にずれた位置の米粒ｋ’の場合でも、極力均一な
状態で良好に照明できることになる。

【００２４】前記ライン状光源４Ａ，４Ｂを設けた側と
同じ側に、前記米粒群ｋにおける正常物（正常米）から
の透過光と同一又は略同一の明るさの光を前記透過用ラ
インセンサ５Ａに向けて投射する投射部材として、光反
射体に構成された透過光用反射板８Ａが設けられ、前記
ライン状光源４Ａ，４Ｂが、この透過光用反射板８Ａを
照明するように配置されている。尚、前記透過用反射板
８Ａは、前記光源支持用のフレーム２２に連設された板
部２２ａを折り曲げて、その表面を印刷等にて白色に形
成した白色板からなる。そして、前記ライン状光源４
Ａ，４Ｂと、前記反射用ラインセンサ５Ｂと、前記透過
光用反射板８Ａとが、一方の格納室１３Ｂ内に格納され
ている。

【００２５】透過用ラインセンサ５Ａを設けた側と同じ
側に、米粒群ｋにおける正常物（正常米）からの反射光
と同一又は略同一の明るさの光を反射用ラインセンサ５
Ｂに向けて反射する反射光用反射部材としての反射光用
反射板８Ｂが設けられ、透過用ラインセンサ５Ａと、反
射光用反射板８Ｂとが、他方の格納室１３Ａ内に格納さ
れている。尚、両格納室１３Ａ，１３Ｂは側板が共通の
一体の箱体である。

【００２６】前記両格納室１３Ａ，１３Ｂ夫々は、前記
検出位置Ｊに面する側に板状の透明なガラスからなる窓
部材１４Ａ，１４Ｂを備えている。ここで、２つの窓部
材１４Ａ，１４Ｂは、下側ほど互いの間隔が狭くなるＶ
字状に配置されている。そして、前記反射用反射板８Ｂ
は、米粒と同じ反射率の領域８ａを上記ライン状光源４
Ａ，４Ｂにて照明された米粒群ｋの全幅に対応して長手
状に形成し、且つその長手状の領域８ａの両側に黒色の
領域８ｂを形成するように、前記窓部１４Ａの内面に印
刷等による塗膜として形成されている。

【００２７】図５に示すように、上記両ラインセンサ５
Ａ，５Ｂは、米粒ｋの大きさよりも小さい範囲ｐ（例え
ば米粒ｋの大きさの１０分の１程度）を夫々の受光対象
範囲として各別に受光情報が取出し可能な複数個の受光
部５ａを、前記検出位置Ｊの長手方向に沿って並置させ
て、米粒群ｋの横幅方向の全幅を受光範囲とするように
構成されている。具体的には、複数個の受光部５ａとし
ての受光素子が直線状に並置されたモノクロタイプのＣ
ＣＤセンサ５０と、検出位置Ｊでの米粒群ｋの像を上記
ＣＣＤセンサの各受光素子上に結像させる光学系５１と
から構成されている。そして、両ラインセンサ５Ａ，５
Ｂは、前記長尺状の検出位置Ｊの一端側から他端側に向
けて、例えば図３において、長尺状の検出位置Ｊの左端
側から右端側に向けて、各受光部５ａから各受光情報が
順次取り出される。

【００２８】上記両ラインセンサ５Ａ，５Ｂの検出位置
Ｊから流下方向下流側に、上記検出位置Ｊでの受光情報
に基づいて不良と判定された米粒ｋや異物等に対してエ
アーを吹き付けて正常な米粒ｋの流れ方向から横方向に
分離させるためのエアー吹き付け装置６が設けられてい
る。このエアー吹き付け装置６は、不良物にエアーを吹
き付けて正常物と異なる経路に分離させるための噴射ノ
ズル６ａの複数個を、粒状体群の全幅を所定幅で複数個
の区画に分割形成した各区画に対応する状態で並置させ
ている。そして、後述の判別手段１００にて判別された
不良物が存在する区画の噴射ノズル６ａを作動させるよ
うに構成される。

【００２９】以上より、シュータ１が、米粒群ｋを予定
移送経路（シュータ上の米粒群ｋの流れ経路及びシュー
タ下端から落下する米粒群ｋの落下経路）に沿って一層
状態で横幅方向に広がった状態で移送し、且つその予定
移送経路における前記両ラインセンサ５Ａ，５Ｂの受光
位置に移送する移送手段Ｈを構成すると共に、その移送
手段Ｈが、上記エアー吹き付け装置６及び後述の制御装
置１０をも利用して、その判別手段１００の判別情報に
基づいて、前記受光位置Ｊに移送した米粒群ｋのうちの
正常物と不良物とを異なる経路に分離して移送するよう
に、不良物にエアーを吹き付けて正常物の経路から分離
させるように構成される。

【００３０】そして、シュータ１の下端部から所定経路
に沿って流下する米粒群ｋのうちで、前記噴射ノズル６
ａからのエアーの吹き付けを受けずにそのまま進行して
くる正常な米粒ｋを回収する良米用の受口部２Ｂと、エ
アーの吹き付けを受けて正常な米粒ｋの流れから横方向
に分離した着色米や胴割れ米等の不良米又は石やガラス
片等の異物を回収する不良物用の受口部３Ｂとが設けら
れ、良米用の受口部２Ｂが横幅方向に細長い筒状に形成
され、その良米用の受口部２Ｂの周囲を囲むように、不
良物用の受口部３Ｂが形成されている。尚、良米用の受
口部２Ｂにて回収された米粒ｋ、及び、不良物用の受口
部３Ｂにて回収された不良物は、再選別等のために、本
検査装置のタンク７へ又は他の検査装置に搬送される。

【００３１】図１に示すように、脚部Ｆ０を備えた底板
Ｆ１上に立設された縦枠Ｆ２，Ｆ３，Ｆ４が、横枠Ｆ
５，Ｆ６，Ｆ７によって連結されて機枠が構成されてい
る。表側の縦枠Ｆ４の上部斜め部分に、情報の表示及び
入力用の操作卓２１が設置され、フィーダ９に対する振
動発生器９Ａが横枠Ｆ５上に設置され、前記エアー吹き
付け装置６へのエアー供給用のエアタンク１５が底板Ｆ
１上に設置されている。又、箱状の格納室１３Ａ，１３
Ｂが前部側で縦枠Ｆ４に後部側で縦枠Ｆ３に支持され、
シュート１が上部側で横枠Ｆ６に下部側で格納室１３Ｂ
に支持されている。装置外面を覆うカバーＫが機枠に取
り付けられている。

【００３２】制御構成を説明すると、図４に示すよう
に、マイクロコンピュータ利用の制御装置１０が設けら
れ、この制御装置１０に、前記両ラインセンサ５Ａ，５
Ｂからの各画像信号と、前記操作卓２１からの操作情報
とが入力されている。一方、制御装置１０からは、前記
ライン状光源４Ａ，４Ｂを点灯させる点灯回路１９に対
する駆動信号と、各噴射ノズル６ａを各別に作動させる
ために、エアタンク１５から各噴射ノズル６ａへの各エ
アー供給路のエアー流通をオンオフする複数個の電磁弁
１１に対する駆動信号と、前記フィーダ用振動発生器９
Ａへの駆動信号とが出力されている。

【００３３】そして、制御装置１０を利用して、前記透
過用及び反射用ラインセンサ５Ａ，５Ｂの両受光情報に
基づいて、米粒群ｋにおける不良物の存否を判別する判
別手段１００が構成されている。つまり、この判別手段
１００は、米粒群ｋからの透過光及び透過光用反射板８
Ａからの反射光を受光する透過用ラインセンサ５Ａの受
光情報に基づいて、その受光量が米粒群ｋにおける正常
物からの透過光に対する適正光量範囲から外れた場合
に、不良物の存在を判別し、又、米粒群ｋからの反射光
及び反射光用反射板８Ｂからの反射光を受光する反射用
ラインセンサ５Ｂの受光情報に基づいて、その受光量が
米粒群ｋにおける正常物からの反射光に対する適正光量
範囲から外れた場合に、不良物の存在を判別する。

【００３４】以下、具体的に、前記検出位置Ｊにおける
透過光用及び反射光用の各ラインセンサ５Ａ，５Ｂの受
光情報に基づいて、米粒群ｋにおける各米粒の良否又は
米粒群ｋ内に混入した異物の存否を判別する構成につい
て説明する。

【００３５】透過光の場合は、図７の透過光用ラインセ
ンサ５Ａの出力波形に示すように、各受光部５ａの受光
量に対応する出力電圧が米粒群ｋに対する適正光量範囲
ΔＥｔ内にある場合に正常な米粒の存在を判別し、設定
適正範囲ΔＥｔを外れた場合に前記米粒の不良又は前記
異物の存在を判別する。ここで、透過光用の適正光量範
囲ΔＥｔは、正常米粒からの標準的な透過光に対する出
力電圧レベルｅ０を挟んで上下所定幅の範囲に設定され
る。

【００３６】そして、適正光量範囲ΔＥｔよりも小さい
場合に、正常な米粒よりも透過率が小さい不良の米粒や
異物等（例えば、黒色の石粒）の存在を判別し、適正光
量範囲ΔＥｔよりも大きい場合に、正常な米粒ｋよりも
透過率が大きい明側の不良の米粒ｋ又は前記異物の存在
を判別する。この明側の不良の米粒ｋ又は異物の例とし
ては、薄い色付の透明なガラス片等が正常な米粒ｋより
も透過率が大きい異物になり、又、正常な米粒ｋを「も
ち米」としたときの「うるち米」が正常な米粒ｋよりも
透過率が大きい不良の米粒ｋになる。

【００３７】図７には、受光部５ａの出力電圧（受光
量）が、米粒ｋに一部着色部分が存在する位置や黒色の
石等の位置（ｅ１で示す）、及び、胴割れ部分が存在す
る位置（ｅ２で示す）では、上記適正光量範囲ΔＥｔよ
りも下側に位置し、又、正常な米粒よりも透過率が大き
い異物等が存在する場合には、位置ｅ４に示すように適
正光量範囲ΔＥｔよりも上側に位置している状態を例示
している。

【００３８】一方、反射光の場合には、図８の反射光用
のラインセンサ５Ｂの出力波形に示すように、各受光部
５ａの受光量に対応する出力電圧が適正光量範囲ΔＥｈ
内にある場合に正常な米粒の存在を判別し、適正光量範
囲ΔＥｈを外れた場合に前記米粒の不良又は前記異物の
存在を判別する。ここで、反射光用の適正光量範囲ΔＥ
ｈは、正常米粒からの標準的な反射光に対する出力電圧
レベルｅ０’を挟んで上下所定幅の範囲に設定される。

【００３９】図８には、米粒ｋに一部着色部分が存在す
る位置（ｅ１’で示す）や胴割れ部分が存在する位置
（ｅ２’で示す）では、上記適正光量範囲ΔＥｈから下
側に外れている状態を例示し、又、ガラス片等の異物が
存在する場合には、異物からの強い直接反射光によって
位置ｅ３’に示すように適正光量範囲ΔＥｈから上側に
外れている状態を例示している。又、図示しないが、黒
色の石等では、反射率が非常に小さいので、波形におい
て適正光量範囲ΔＥｈから下側に大きく外れることにな
る。

【００４０】そして、前記制御装置１０は、上記不良の
判別情報に基づいて、前記両ラインセンサ５Ａ，５Ｂの
検出位置Ｊに移送した米粒群ｋのうちで、米粒の不良又
は異物の存在が判別された場合には、検出位置Ｊから前
記噴射ノズル６ａによるエアー噴射位置までの移送時間
が経過するに伴って、流下している不良の米粒又は異物
に対して、その位置に対応する区画の各噴射ノズル６ａ
からエアーを吹き付けて正常な米粒の経路から分離させ
る。

【００４１】〔別実施形態〕上記実施例では、米粒群ｋ
における正常物からの透過光と同一又は略同一の明るさ
の光を透過光受光手段５Ａに向けて投射する投射部材
を、光反射体としての透過光用反射板８Ａにて構成した
が、このような反射体ではなく、例えば、照明用の内蔵
光源にて透過照明される白色透過部材等にて構成される
発光体によって、投射部材を構成するようにしてもよ
い。

【００４２】上記実施例では、照明手段４を、２つの照
明部４Ａ，４Ｂによって２つの異なる角度方向から照明
するようにしたが、これに限るものではなく、３つ以上
の照明部、あるいは、１つの照明部にて照明するように
してもよい。

【００４３】上記実施例では、移送手段Ｈが、粒状体群
を予定移送経路に沿って一層状態で横幅方向に広がった
状態で移送するように構成し、これに合わせて、照明手
段４が、粒状体群の横幅方向の全幅を照明するように構
成し、各受光手段５Ａ，５Ｂが、前記粒状体群の横幅方
向の全幅を受光範囲とするように構成したが、これに限
るものではない。例えば粒状体群を一列状態で移送さ
せ、これに合わせて、照明手段４を単一のランプ等にて
構成し、各受光手段５Ａ，５Ｂを、例えばフォトセンサ
等の単一のセンサで構成するようにしてもよい。

【００４４】又、上記実施例では、移送手段Ｈが、不良
物に対してエアーを吹き付けて、正常物と異なる経路に
分離させるようにしたが、これに限るものではなく、例
えば不良物をエアーで吸引して分離させるようにしても
よい。

【００４５】上記実施例では、透過光及び反射光用の各
ラインセンサ５Ａ，５Ｂを、受光部５ａとして多数個の
光素子を並置したモノクロタイプのＣＣＤラインセンサ
にて構成したが、ＣＣＤラインセンサ以外に、撮像管式
のテレビカメラでもよい。又、モノクロタイプではな
く、カラータイプのＣＣＤセンサにて構成して、例え
ば、色情報Ｒ，Ｇ，Ｂ毎の受光量から不良米や異物の存
否をさらに精度良く判別するようにしてもよい。

【００４６】上記実施例では、検査対象物としての粒状
体群が玄米等の米粒群ｋである場合について例示した
が、これに限るものではなく、例えば、プラスチック粒
等における不良物や異物の存否を検査する場合にも適用
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】不良物検出・除去装置の全体側面図

【図２】同要部側面図

【図３】同要部斜視図

【図４】制御構成のブロック図

【図５】ラインセンサの受光範囲を示す図

【図６】複数の照明光源による作用を説明するための側
面図

【図７】透過光用ラインセンサの出力波形図

【図８】反射光用ラインセンサの出力波形図

【図９】従来技術における受光検出部を示す側面図

【図１０】従来技術における不良判別処理を説明する波
形図

【符号の説明】

４ 照明手段 ４Ａ，４Ｂ 照明部 ５Ａ 透過光受光手段 ５Ｂ 反射光受光手段 ８Ａ 投射部材 ８Ｂ 反射光用反射部材 １００ 判別手段 Ｈ 移送手段

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 粒状体群を検査対象物として、 その検査対象物の存在予定箇所を照明する照明手段が設
   けられ、前記存在予定箇所を挟んで、前記照明手段の設
   置位置とは反対側に、前記照明手段からの照明光が前記
   検査対象物を透過した透過光を受光する透過光受光手段
   が設けられ、 その透過光受光手段の受光情報に基づいて、前記粒状体
   群における不良物の存否を判別する判別手段が設けられ
   た不良検出装置であって、 前記照明手段が、前記透過光受光手段の受光方向に対し
   て傾いた斜め方向から前記粒状体群を照明するように構
   成され、 前記照明手段を設けた側と同じ側に、前記粒状体群にお
   ける正常物からの透過光と同一又は略同一の明るさの光
   を前記透過光受光手段に向けて投射する投射部材が設け
   られ、 前記判別手段は、前記粒状体群からの透過光及び前記投
   射部材からの投射光を受光する前記透過光受光手段の受
   光情報に基づいて、その受光量が前記粒状体群における
   正常物からの透過光に対する適正光量範囲から外れた場
   合に、不良物の存在を判別するように構成されている不
   良検出装置。
2. 【請求項２】 前記投射部材が、光反射体として構成さ
   れ、 前記照明手段が、前記粒状体群を照明すると共に、前記
   投射部材を照明するように構成されている請求項１記載
   の不良検出装置。
3. 【請求項３】 前記照明手段が、前記透過光受光手段の
   受光方向に対して傾いた状態で照明角度が異なる複数の
   斜め方向から前記粒状体群を照明する複数の照明部を備
   えて構成されている請求項１又は２記載の不良検出装
   置。
4. 【請求項４】 前記照明手段からの照明光が前記粒状体
   群で反射した反射光を受光する反射光受光手段が設けら
   れると共に、前記透過光受光手段を設けた側と同じ側
   に、前記粒状体群における正常物からの反射光と同一又
   は略同一の明るさの光を前記反射光受光手段に向けて反
   射する反射光用反射部材が設けられ、 前記判別手段は、前記透過光受光手段及び前記反射光受
   光手段の両受光情報に基づいて、前記粒状体群における
   不良物の存否を判別するように構成されている請求項１
   〜３のいずれか１項に記載の不良検出装置。
5. 【請求項５】 請求項１〜４のいずれか１項に記載の不
   良検出装置を備えた不良物除去装置であって、 前記粒状体群を予定移送経路に沿って移送する移送手段
   が設けられ、 前記移送手段は、前記粒状体群を前記予定移送経路にお
   ける前記透過光受光手段及び前記反射光受光手段の受光
   位置に移送するとともに、前記判別手段の判別情報に基
   づいて、前記受光位置に移送した前記粒状体群のうちの
   正常物と不良物とを異なる経路に分離して移送するよう
   に構成されている不良物除去装置。
6. 【請求項６】 前記移送手段は、前記粒状体群を一層状
   態で横幅方向に広がった状態で移送するように構成さ
   れ、 前記照明手段は、前記粒状体群の横幅方向の全幅を照明
   するように構成され、 前記透過光受光手段及び前記反射光受光手段は、前記粒
   状体群の横幅方向の全幅を受光範囲とするように構成さ
   れている請求項５記載の不良物除去装置。
7. 【請求項７】 前記移送手段は、不良物にエアーを吹き
   付けて正常物の経路から分離させるように構成されてい
   る請求項５又は６記載の不良物除去装置。