JPH10109071A - 不良検出装置及び不良物除去装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 検査対象物が実際に位置する予定存在箇所Ｊ
と、例えば反射光の場合に、反射板８の位置とが異なる
等により、反射光又は透過光について不良検出用の適正
光量範囲が適切に設定できないという問題を解決する。 【解決手段】 照明手段４にて照明された検査対象物の
予定存在箇所Ｊからの反射光を受光する反射光受光手段
５Ｂ又は予定存在箇所Ｊを透過した透過光を受光する透
過光受光手段５Ａと、検査対象物と同一の反射率又は透
過率の検査基準物Ｋｊを予定存在箇所Ｊに位置させたと
きの反射又は透過光受光手段の受光情報を基準受光量と
して記憶し、その基準受光量の情報に基づいて粒状体に
対する適正光量範囲を設定し、各受光手段５Ａ，５Ｂの
受光量が適正光量範囲を外れた場合に粒状体の不良又は
前記異物の存在を判定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、粒状体群を検査対
象物として、その検査対象物の予定存在箇所を照明する
照明手段と、その照明手段からの照明光が前記予定存在
箇所で反射した反射光を受光する反射光受光手段、ある
いは、上記照明光が前記予定存在箇所を透過した透過光
を受光する透過光受光手段と、その反射あるいは透過光
の受光手段の受光情報に基づいて、粒状体群における各
粒状体の良否又は粒状体群内に混入した異物の存否を判
別する判別手段とが設けられた不良検出装置、及び、そ
の不良検出装置にて検出された不良の粒状体又は異物を
除去する不良物除去装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】上記不良検出装置では、図１７に例示す
るように、例えばシュータＴにて移送されて検出位置
（予定存在箇所）に達した米粒等の粒状体群を、両側か
ら横向きに光源Ｌｇで照明しながら、その照明光が米粒
群及び反対側に設けた反射板Ｒ（正常な米粒と同程度の
反射率に形成されている）で反射した反射光をフォトセ
ンサ等からなる受光手段Ｐｓで受光し、その受光レベル
が予め反射板Ｒからの反射光量により設定した適正光量
範囲内であれば正常な米粒と判定する一方で、適正光量
範囲を外れると、着色した米粒等の不良物や、石・プラ
スチック等の異物が混入していると判定していた（例え
ば、特開平２‐２１９８０号公報参照）。尚、上記不良
物等は、検出位置よりも経路下流側箇所において、噴射
ノズルＮｚにて正常な粒の経路から分離される。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術では、検査対象物の実際の検出位置である予定存
在箇所よりも後方側であって受光手段Ｐｓとの距離がよ
り遠い反射板Ｒからの反射光量を測定し、その反射光量
を基準にして検査対象物に対する適正光量範囲を設定し
ているため、実際の検出位置における検査対象物からの
反射光量に対して上記適正光量範囲が誤差を生じて必ず
しも適切に設定されず、不良の検出精度を低下させるお
それがあった。

【０００４】又、上記従来技術では、照明光源Ｌｇから
の照明光の光量が、例えば光源用のランプの劣化等によ
って出荷時に比べて低下する等の変化があると、検査対
象物及び反射板Ｒからの反射光量が変化して、上記設定
した適正光量範囲とのズレが生じて不良の検出精度を低
下させる問題もあった。

【０００５】又、上記従来技術では、検出位置が例えば
図１７の紙面に垂直な方向に長手状に設定され、これに
合わせて反射板Ｒを長手状に形成すると、その反射板Ｒ
の長手方向の両端部からの反射光量が低下するため、そ
の端部付近では、米粒等の検査対象物の検出精度が低下
するという問題もあった。

【０００６】本発明は、上記実情に鑑みてなされたもの
であって、その第１の目的は、検査対象物が実際に位置
する予定存在箇所（検出位置）と、例えば反射光の場合
の反射板の位置とが異なる等の理由によって、反射光及
び透過光についての不良検出用の適正光量範囲が適切に
設定できないという問題を解決することにあり、第２の
目的は、長期間の使用に伴って照明光量が経時的に変化
しても、その光量変化によって不良検出の精度が低下し
ないようにすることにあり、第３の目的は、反射光の場
合に、長手状の検出位置に対して長手状の反射板を使う
ときにおいて、その両端部での光量低下を改善して不良
検出の精度を低下させないようにすることにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】請求項１によれば、検査
対象物としての粒状体群の予定存在箇所に、検査対象物
の反射率と同一の反射率である検査基準物を位置させ、
照明手段からの照明光が検査基準物で反射した反射光を
受光した反射光受光手段の受光量が基準受光量として記
憶され、その基準受光量の情報に基づいて粒状体群に対
する適正光量範囲が設定され、前記予定存在箇所に検査
対象物が存在する状態でその予定存在箇所からの反射光
を受光した反射光受光手段の受光量が上記適正光量範囲
を外れた場合に、粒状体群における粒状体の不良又は粒
状体群内に混入した異物の存在が判定される。

【０００８】従って、検査対象物の実際の検出位置であ
る予定存在箇所に検査対象物の反射率と同一の反射率の
検査基準物を位置させたときの反射光量の情報から、検
査対象物に対する適正光量範囲を適切に設定することが
できるので、従来のように、上記予定存在箇所よりも後
方側に位置する反射板からの反射光量によって適正光量
範囲を設定する場合に誤差が生じるという問題もなく、
反射光照明の場合において前記第１の目的を実現して、
検出精度の低下を回避できる不良検出装置が得られる。

【０００９】請求項２によれば、請求項１において、長
手状の予定存在箇所に検査対象物の反射率と同一の反射
率である検査基準物を位置させ、照明光が検査基準物で
反射した反射光が、前記長手状の予定存在箇所の全体に
亘って直線状に並んでいて各別に受光情報が取出し可能
な複数個の受光部にて受光され、各受光部毎に各受光量
が基準受光量として記憶され、その複数個の受光部の基
準受光量の平均値情報に基づいて複数個の受光部に対し
て一つの適正光量範囲が設定される。そして、上記基準
受光量の平均値に対する各受光部の基準受光量の偏差を
打ち消すように、前記長手状の予定存在箇所に存在する
検査対象物、及び反射光受光手段の受光方向であって前
記長手状の予定存在箇所の背面側に設けた長手状の反射
部材からの反射光を受光した各受光部の検出受光量が補
正され、その補正後の各受光部の受光量が上記一つの適
正光量範囲を外れた場合に、粒状体群における粒状体の
不良又は粒状体群内に混入した異物の存在が判定され
る。

【００１０】従って、長手状の予定存在箇所に検査対象
物を位置させた状態でその全体において並列的に能率良
く不良検出しながら、長手状の予定存在箇所の各位置の
検査対象物に対して共通の一つの適正光量範囲を設定す
ることにより、各位置毎に異なる適正光量範囲を設定す
る煩雑さを避けて、処理構成の単純化も実現でき、もっ
て、請求項１に係る不良検出装置の好適な手段が得られ
る。

【００１１】請求項３によれば、請求項２において、長
手状の予定存在箇所の背面側に設けた長手状の反射部材
が、その長手方向の両端部において端部側ほど反射光受
光手段に近づく状態で設けられている。

【００１２】従って、例えば、長手状の反射部材をその
長手方向に沿って直線上に形成すると、その長手方向の
両端部では、反射光量が中央部分と比べて低下して不良
検出の精度が低下するのに比べて、長手状の反射部材の
両端部からの反射光量の低下が抑制されて、その両端部
においても検出精度の低下を回避させることができ、も
って、前記第３の目的を実現して、請求項２に係る不良
検出装置の好適な手段が得られる。

【００１３】請求項４によれば、検査対象物としての粒
状体群の予定存在箇所に、検査対象物の透過率と同一の
透過率である検査基準物を位置させ、照明手段からの照
明光が検査基準物を透過した透過光を受光した透過光受
光手段の受光量が基準受光量として記憶され、その基準
受光量の情報に基づいて粒状体群に対する適正光量範囲
が設定され、前記予定存在箇所に検査対象物が存在する
状態でその予定存在箇所からの透過光を受光した透過光
受光手段の受光量が上記適正光量範囲を外れた場合に、
粒状体群における粒状体の不良又は粒状体群内に混入し
た異物の存在が判定される。

【００１４】従って、検査対象物の実際の検出位置であ
る予定存在箇所に検査対象物の透過率と同一の透過率の
検査基準物を位置させたときの透過光量の情報から、検
査対象物に対する適正光量範囲を適切に設定することが
でき、透過光照明の場合において前記第１の目的を実現
して、検出精度の低下を回避できる不良検出装置が得ら
れる。

【００１５】請求項５によれば、請求項４において、長
手状の予定存在箇所に検査対象物の透過率と同一の透過
率である検査基準物を位置させ、照明光が検査基準物を
透過した透過光が、前記長手状の予定存在箇所の全体に
亘って直線状に並んでいて各別に受光情報が取出し可能
な複数個の受光部にて受光され、各受光部毎に各受光量
が基準受光量として記憶され、その複数個の受光部の基
準受光量の平均値情報に基づいて複数個の受光部に対し
て一つの適正光量範囲が設定される。そして、上記基準
受光量の平均値に対する各受光部の基準受光量の偏差を
打ち消すように、前記長手状の予定存在箇所に存在する
検査対象物を透過した透過光を受光した各受光部の検出
受光量が補正され、その補正後の各受光部の受光量が上
記一つの適正光量範囲を外れた場合に、粒状体群におけ
る粒状体の不良又は粒状体群内に混入した異物の存在が
判定される。

【００１６】従って、長手状の予定存在箇所に検査対象
物を位置させた状態でその全体において並列的に能率良
く不良検出しながら、長手状の予定存在箇所の各位置の
検査対象物に対して共通の一つの適正光量範囲を設定す
ることにより、各位置毎に異なる適正光量範囲を設定す
る煩雑さを避けて、処理構成の単純化も実現でき、もっ
て、請求項４に係る不良検出装置の好適な手段が得られ
る。

【００１７】請求項６によれば、請求項１〜５のいずれ
か１項において、照明手段からの照明光量の経時的な変
化が検出され、その光量変化情報に基づいて、反射光受
光手段もしくは透過光受光手段の受光量情報、又は前記
適正光量範囲が補正されて、照明光量の経時的な変化の
影響が打ち消される。

【００１８】従って、例えば照明用の光源ランプの劣化
等により、照明光量が低下する等の変化が生じても、そ
の光量変化を適切に補正するので、前記第２の目的を実
現して、検出精度の低下を回避できる不良検出装置が得
られる。

【００１９】請求項７によれば、請求項６において、照
明手段からの照明光が長手状の反射部材で反射した反射
光が、その長手方向に沿って並ぶ複数個の受光部にて受
光され、その各受光部の受光量情報を用いて、照明手段
からの照明光量の経時的な変化が検出される。

【００２０】従って、照明光量の変化を検出するのに、
例えば光量変化検出用の特別の受光手段を設けるのに比
べて、反射光照明の場合に必要な反射部材及び反射光受
光用の受光部を活用して、装置構成の簡素化を実現する
ことができ、もって、請求項６に係る不良検出装置の好
適な手段が得られる。

【００２１】請求項８によれば、長手状に形成された検
査対象物の予定存在箇所が照明され、その長手状の予定
存在箇所で反射した反射光、及び反射光受光手段の受光
方向であって前記長手状の予定存在箇所の背面側にその
長手方向の両端部において端部側ほど反射光受光手段に
近づく状態で設けた長手状の反射部材からの反射光が、
長手状の予定存在箇所の全体に亘って直線状に並んでい
て、反射光受光手段を構成する各別に受光情報が取出し
可能な複数個の受光部にて受光され、各受光部の受光情
報に基づいて、粒状体群における各粒状体の良否又は粒
状体群内に混入した異物の存否が判別される。

【００２２】従って、長手状の予定存在箇所に検査対象
物を位置させた状態でその全体において並列的に能率良
く不良検出しながら、例えば長手状の反射部材を長手状
の予定存在箇所に対応させて直線上に形成すると、その
長手方向の両端部では、反射光量が中央部分と比べて低
下して不良検出の精度が低下するのに比べて、長手状の
反射部材の両端部からの反射光量の低下を抑制して、そ
の両端部においても検出精度の低下を回避させることが
でき、もって、前記第３の目的を実現する不良検出装置
が得られる。

【００２３】請求項９によれば、請求項１〜８のいずれ
か１項に記載の不良検出装置が備えられ、予定移送経路
に沿って移送される検査対象物である粒状体群が前記予
定存在箇所に移送され、その予定存在箇所に移送した粒
状体群のうちの不良の粒状体及び異物が、粒状体群のう
ちの正常な粒状体の経路と異なる経路に分離して移送さ
れる。

【００２４】従って、例えば検査対象物（粒状体群）を
移送させずにその不良検出及び不良物除去を行うには、
装置側を可動できるように構成する必要があるのに比べ
て、検査対象物をその予定存在箇所つまり不良検出位置
から、異なる経路への分離位置つまり不良物除去位置に
順次移送しながら、不良物及び異物を正常な粒状体から
分離して移送させることで、装置側を可動させないよう
にしながら装置各部を合理的に配置して円滑な動作が実
現できる不良物除去装置が得られる。

【００２５】請求項１０によれば、請求項９において、
予定移送経路に沿って一層状態で且つ複数列並ぶ状態で
移送されている検査対象物が、その並び方向の全幅にお
いて照明され、その並び方向に沿ってその全幅を受光範
囲として反射光又は透過光受光手段によって受光され、
その受光情報に基づいて、複数列の検査対象物の並び方
向の全幅における粒状体の良否又は混入異物の存否が判
別される。

【００２６】従って、複数列並ぶ状態ではなく、例えば
一列状態で検査対象物（粒状体群）を移送するものに比
べて、その並び方向の全幅において並列的につまり能率
良く不良を検出することができ、もって、請求項９に係
る不良物除去装置の好適な手段が得られる。

【００２７】請求項１１によれば、請求項９又は１０に
おいて、検査対象物である粒状体群を自重にて落下させ
て移送させながら、その粒状体群内の不良の粒状体又は
異物に対してエアーが吹き付けられ、その不良の粒状体
又は異物が正常な粒状体の移送経路から分離される。

【００２８】従って、正常な粒状体の移送経路から不良
の粒状体又は異物を分離させるのに、エアーの吹き付け
作用によって行うので、例えば、出退動作をする板等の
機械的な手段で直接接触して分離させるのに比べて、速
い応答速度で且つソフトタッチに損傷を与えるおそれも
なく良好に分離でき、もって、請求項９又は１０に係る
不良物除去装置の好適な手段が得られる。

【００２９】

【発明の実施の形態】以下、本発明の不良検出装置及び
不良物除去装置の実施形態を、玄米等の米粒群からなる
粒状体群を検査対象物として所定経路に沿って移送しな
がら、不良検出及び不良物除去を行う場合について図面
に基づいて説明する。

【００３０】図１及び図２に示すように、所定幅の板状
のシュータ１が、水平面に対して所定角度（例えば６０
度）に傾斜されて設置され、このシュータ１の上部側に
設けた貯溜用のホッパー７から供給される米粒群ｋが一
層状態で横方向に広がった状態で滑って移送されてい
る。シュータ１の下方には、シュータ下端から所定速度
で自然落下する米粒群ｋのうちの正常な米粒ｋを回収す
る良米回収箱２と、正常な米粒ｋの流れから分離した着
色米（焼け米）や胴割れ米等の不良米又は石やガラス片
等の異物を回収する不良物回収箱３とが設置されてい
る。以上より、シュータ１が、検査対象物としての米粒
群ｋを予定移送経路（つまりシュータ上の米粒群ｋの流
れ経路及びシュータ下端から飛び出た米粒群ｋの落下経
路）に沿って一層状態で且つ複数列並ぶ状態で移送する
移送手段Ｈを構成する。

【００３１】前記ホッパー７は、シュータ１の上部側部
分を利用したシュータ面１ａと、このシュータ面１ａに
対向して反対側に傾斜した傾斜側面７ａと、ホッパー７
の全周を囲むための側壁部７ｂ及び上壁部７ｃとによっ
て、図２の紙面に垂直な方向視において下端側ほど先細
状の筒体に構成されている。傾斜側面７ａには、ホッパ
ー７内の米粒ｋをシュータ１へ排出するために、図２の
紙面に垂直な方向に沿う直線状の隙間をシュータ面１ａ
との間に形成する開閉ゲート９Ａと、その開閉ゲート９
Ａを移動させて上記隙間を変更するためのゲート駆動モ
ータ９Ｂ及びその他の機構が設けられている。尚、傾斜
側面７ａの上方の側壁部７ｂには、ホッパー７内の貯溜
量を検出するレベルセンサ１２が設置され、上壁部７ｃ
には、外部から供給される米粒の流入口７Ａが設けられ
ている。

【００３２】前記予定移送経路つまりシュータ下端から
の米粒群ｋの落下経路の途中に、米粒群ｋの長手状の予
定存在箇所Ｊが設定されている。すなわち、前記移送手
段Ｈは、米粒群ｋを上記長手状の予定存在箇所Ｊつまり
後述の検査用のラインセンサ５Ａ，５Ｂの受光位置に移
送するように構成されている。

【００３３】そして、図２に示すように、上記米粒群ｋ
の予定存在箇所Ｊを挟んで一方側に、その予定存在箇所
Ｊを複数列の米粒群ｋの並び方向の全幅を照明する状態
で照明する照明手段としてのライン状光源４（蛍光灯等
からなる）と、そのライン状光源４からの照明光が上記
予定存在箇所Ｊで反射した反射光を受光する反射光受光
手段としてのラインセンサ５Ｂとが、一方の格納室１３
Ｂ内に格納されて設けられ、又、前記予定存在箇所Ｊを
挟んで他方側に、前記ライン状光源４からの照明光が前
記予定存在箇所Ｊを透過した透過光を受光する透過光受
光手段としてのラインセンサ５Ａと、前記反射光用のラ
インセンサ５Ｂの受光方向であって前記予定存在箇所Ｊ
の背部側に位置して前記ライン状光源４からの照明光を
反射させるための長手状の反射部材としての反射板８と
が、他方の格納室１３Ａ内に格納されて設けられてい
る。

【００３４】前記両格納室１３Ａ，１３Ｂ夫々は、前記
予定存在箇所Ｊに面する側に板状の透明なガラスからな
る窓部材１４Ａ，１４Ｂを備えるとともに、その窓部材
１４Ａ，１４Ｂの入射側及び出射側の各面が、前記透過
光用のラインセンサ５Ａに入射する透過光及び前記反射
光用のラインセンサ５Ｂに入射する反射光の両方向に対
して直交するように設定されている。そして、透過光と
反射光の方向が同一方向にできないために、各窓部材１
４Ａ，１４Ｂを途中箇所で折れ曲げるように形成して上
記直交状態を実現している。尚、折れ曲がった窓部材１
４Ａ，１４Ｂを構成するのに、１枚のガラス板を曲げた
ものでもよく、あるいは、２枚のガラス板を隙間がない
ように接続させたものでもよい。

【００３５】上記反射板８は、米粒と同じ反射率の領域
８ａを上記ライン状光源４にて照明された米粒群ｋの全
幅に対応して長手状に形成し、且つその長手状の領域８
ａの両側に黒色の領域８ｂを形成した表面を、窓部１４
Ａの背部に押し付ける状態で固定されている。つまり、
反射板８が、他方の格納室１３Ａ内の窓部１４Ａを固定
するための固定部材に兼用されている。もう一方の格納
室１３Ｂの窓部１４Ｂは専用の固定板１５で押し付けて
固定されている。

【００３６】図４に示すように、上記両ラインセンサ５
Ａ，５Ｂは、米粒ｋの大きさよりも小さい範囲ｐ（例え
ば米粒ｋの大きさの１０分の１程度）を夫々の受光対象
範囲として、各別に受光情報が取出し可能な複数個の受
光部５ａを長手状の予定存在箇所Ｊの全体に亘って直線
状に並ぶ状態で備えている。具体的には、複数個の受光
部５ａとしての受光素子が上記複数列の米粒群ｋの並び
方向に沿ってその全幅に亘って直線状に並置されたモノ
クロタイプのＣＣＤセンサと、米粒群ｋの像を上記ＣＣ
Ｄセンサの各受光素子上に結像させるための光学系とか
ら構成されている。これにより、両ラインセンサ５Ａ，
５Ｂは、複数列の米粒群ｋの並び方向に沿ってその全幅
を受光範囲とするように構成される。

【００３７】上記両ラインセンサ５Ａ，５Ｂの予定移送
経路における受光位置（予定存在箇所Ｊ）から経路方向
の下手側に、不良と判定された米粒ｋや異物等に対して
エアーを吹き付けて正常な米粒ｋの流れ方向から分離さ
せて前記不良物回収箱３に回収させるためのエアー吹き
付け装置６が設けられている。このエアー吹き付け装置
６は、米粒ｋの流れ方向に対して横幅方向に所定幅毎に
分割した各米粒群ｋに対して各別に吹き付け作動する複
数個のエアーガン６ａを備えている。

【００３８】制御構成を説明すると、図３に示すよう
に、マイクロコンピュータ利用の制御装置１０が設けら
れ、この制御装置１０に、前記両ラインセンサ５Ａ，５
Ｂからの各画像信号と、前記レベルセンサ１２の検出信
号とが入力されている。一方、制御装置１０からは、前
記エアー吹き付け装置６の各エアーガン６ａを夫々各別
に作動させるために、図示しないコンプレッサーから上
記各エアーガン６ａへの各エアー供給路のエアー流通を
オンオフする複数個の電磁弁１１に対する駆動信号と、
前記レベルセンサ１２の検出信号に基づいて、ホッパー
７内の貯溜量を設定状態に維持するための前記ゲート駆
動モータ９Ｂに対する駆動信号とが出力されている。

【００３９】前記制御装置１０を利用して、前記反射光
用のラインセンサ５Ｂの受光情報に基づいて、米粒群ｋ
における各米粒の良否又は米粒群ｋ内に混入した異物の
存否を判別する判別手段１００と、図５に示すように、
米粒群ｋの反射率と同一の反射率である検査基準物Ｋｊ
を前記予定存在箇所Ｊに位置させたときの前記反射光用
のラインセンサ５Ｂの受光情報を基準受光量として記憶
する基準受光量記憶手段１０１とが構成されている。こ
こで、検査基準物Ｋｊは、長手状の予定存在箇所Ｊに合
わせて長尺状で、且つ米粒群ｋの反射率と同一の反射率
となるように白色系の樹脂板等で構成される。そして、
前記判別手段１００は、前記基準受光量記憶手段１０１
の情報に基づいて前記米粒ｋに対する適正光量範囲を設
定し、前記反射光用のラインセンサ５Ｂの受光量が前記
適正光量範囲を外れた場合に米粒の不良又は異物の存在
を判定するように構成されている。

【００４０】具体的には、図６に示すように、基準受光
量記憶手段１０１は、各受光部５ａ毎に前記基準受光量
Ｓｉ（ｉ＝０〜〔受光部の数−１〕）を記憶し、判別手
段１００は、複数個の受光部５ａの基準受光量Ｓｉにつ
いての平均値情報Ｓｍに基づいて、その平均値Ｓｍを中
心として上下に所定幅となる反射光の光量範囲として、
複数個の受光部５ａに対して一つの適正光量範囲ΔＥｈ
を設定するとともに、基準受光量の平均値Ｓｍに対する
各受光部５ａの基準受光量Ｓｉの偏差を打ち消すよう
に、各受光部５ａの検出受光量つまり出力電圧ｊを補正
し、その補正後の出力電圧ｊが前記一つの適正光量範囲
ΔＥｈを外れた場合に米粒ｋの不良又は異物の存在を判
定するように構成されている。

【００４１】次に、上記検出受光量の補正処理について
説明する。図７に示すように、補正用データをルックア
ップテーブルとして記憶するメモリＬＵＴが設けられ、
このメモリＬＵＴは、以下の手順にて作成する。 （１）前述の基準受光量の平均値Ｓｍと各受光部５ａの
基準受光量Ｓｉの比（Ｓｍ／Ｓｉ）を求める。 （２）位置データｉ（ｉ＝０〜〔受光部の数−１〕）で
表した各受光部５ａ毎に、下式のように、出力電圧ｊ
を、とり得る全ての値（例えば、８ビットの信号とする
と、２５６レベルの値になる）の範囲で変化させなが
ら、各値ｊに上記比（Ｓｍ／Ｓｉ）を掛けて出力電圧ｊ
の補正値を求め、その値が前記適正光量範囲ΔＥｈ内で
あれば、メモリＬＵＴの該当番地（ｉ，ｊ）に判定出力
として「０」を記憶させ、適正光量範囲ΔＥｈから外れ
ていれば、メモリＬＵＴの該当番地（ｉ，ｊ）に判定出
力として「１」を記憶させる。

【００４２】

【数１】ｊの補正値＝ｊ×〔ｓｍ／ｓｉ〕……式Ａ

【００４３】そして、上記手順にて作成したメモリＬＵ
Ｔに対して、受光部５ａの位置データｉ（ｉ＝０〜〔受
光部の数−１〕）と、その位置ｉでのラインセンサ５Ｂ
の出力電圧ｊとを入力すると、その各受光部５ａに対し
て、正常な米粒ｋのときは「０」が、不良の粒や異物等
が存在する場合は「１」が、メモリＬＵＴから判定出力
として出力される。

【００４４】反射光用のラインセンサ５Ｂの補正後の出
力電圧の波形を図１１に示す。図には、上記設定適正範
囲ΔＥｈ内に出力電圧がある正常米粒が存在する位置ｅ
０’の外に、米粒に一部着色部分が存在する位置ｅ１’
や、胴割れ部分が存在する位置ｅ２’では、上記設定適
正範囲ΔＥｈから下側に外れている状態を例示し、又、
ガラス片等の異物が存在する場合には、異物からの強い
直接反射光によって設定適正範囲ΔＥｈから上側に外れ
ている状態の位置ｅ３’を例示している。又、黒色の石
等の存在位置でも、反射率が非常に小さいので、波形に
おいて設定適正範囲ΔＥｈから下側に大きく外れること
になる。尚、図中、ｒは反射板８からの反射光に対する
出力電圧のレベルを示す。

【００４５】又、前記基準受光量記憶手段１０１は、米
粒群ｋの透過率と同一の透過率である検査基準物Ｋｊを
前記予定存在箇所Ｊに位置させたときの前記透過光用の
ラインセンサ５Ａの受光情報を基準受光量として記憶す
るように構成されている（図５参照）。ここで、検査基
準物Ｋｊは、前記反射光用の基準受光量の記憶に使った
長手状の検査基準物Ｋｊを共用して、その白色系の樹脂
板等で構成される検査基準物Ｋｊを米粒群ｋの透過率と
同一の透過率となるようにする。

【００４６】そして、前記判別手段１００は、前記透過
光用のラインセンサ５Ａの受光情報に基づいて、米粒群
ｋにおける各米粒の良否又は米粒群ｋ内に混入した異物
の存否を判別するために、前記基準受光量記憶手段１０
１の情報（但し、透過光用の基準受光量）に基づいて前
記米粒ｋに対する適正光量範囲を設定し、前記透過光用
のラインセンサ５Ａの受光量が前記適正光量範囲を外れ
た場合に米粒の不良又は異物の存在を判定するように構
成されている。

【００４７】具体的には、前述の反射光の場合と同様に
（図６参照）、基準受光量記憶手段１０１は、各受光部
５ａ毎に透過光の基準受光量Ｓｉ（ｉ＝０〜〔受光部の
数−１〕）を記憶し、判別手段１００は、複数個の受光
部５ａの基準受光量Ｓｉについての平均値情報Ｓｍに基
づいて、その平均値Ｓｍを中心として上下に所定幅とな
る透過光の光量範囲として、複数個の受光部５ａに対し
て一つの適正光量範囲ΔＥｔを設定するとともに、基準
受光量の平均値Ｓｍに対する各受光部５ａの基準受光量
Ｓｉの偏差を打ち消すように、各受光部５ａの検出受光
量つまり出力電圧ｊを補正し、その補正後の出力電圧ｊ
が前記一つの適正光量範囲ΔＥｔを外れた場合に米粒ｋ
の不良又は異物の存在を判定するように構成されてい
る。

【００４８】透過光用のラインセンサ５Ａの補正後の出
力電圧の波形を図１２に示す。各受光部５ａの出力電圧
が上記適正光量範囲ΔＥｔの上限値ＵＬと下限値ＬＬと
の間にある位置ｅ０に正常な米粒の存在を判定するとと
もに、米粒ｋの一部着色部分又は黒色の石粒等の存在位
置ｅ１や、胴割れ部分が存在する位置ｅ２では、上記設
定適正範囲ΔＥｔの下限値ＬＬよりも小さくなり、正常
な米粒よりも透過率が小さい不良の米粒や異物等の存在
を判定する。

【００４９】ここで、透過光の場合は、米粒ｋや異物等
が存在しない位置に対応する受光部５ａでは、照明光源
４からの照明光を直接受光して設定適正範囲ΔＥｔの上
限値ＵＬよりも大きい出力値Ｅｓになる。そこで、適正
光量範囲ΔＥｔの上限値ＵＬと、照明光源４からの照明
光を直接受光したときの受光量Ｅｓとの間に、明側の判
定レベルＵＬ１を設定し、ラインセンサ５Ａの受光量
が、適正光量範囲ΔＥｔの上限値ＵＬと前記明側の判定
レベルＵＬ１との間にある位置ｅ４に、正常な米粒ｋよ
りも透過率が大きい不良の米粒ｋ又は前記異物の存在を
判定する。この正常な米粒ｋよりも透過率が大きい不良
の米粒ｋ又は異物の例としては、正常な米粒ｋを「もち
米」としたときの「うるち米」が正常な米粒ｋよりも透
過率が大きい不良の米粒ｋになり、薄い色付の透明なガ
ラス片等が、正常な米粒ｋよりも透過率が大きい異物に
なる。

【００５０】そして、ラインセンサ５Ａの出力電圧が、
上記明側の判定レベルＵＬ１と、設定適正範囲ΔＥｔの
上限値ＵＬとの間にあることを判別するために、ライン
センサ５Ａの各受光部５ａにおいて、その出力電圧が明
側の判定レベルＵＬ１よりも小で且つ前記適正光量範囲
ΔＥｔの上限値ＵＬよりも大である受光部５ａを求め、
その求めた受光部５ａの隣接する連続個数が設定個数
（例えば、２個）を超える箇所を、正常な米粒ｋよりも
透過率が大きい不良の米粒ｋ又は前記異物の存在箇所と
判定している。

【００５１】つまり、受光部５ａの出力電圧が明側の判
定レベルＵＬ１よりも小である２値情報と、前記適正光
量範囲ΔＥｔの上限値ＵＬよりも大である２値情報とを
演算して、前記出力電圧が前記明側の判定レベルＵＬ１
よりも小で且つ前記適正光量範囲ΔＥｔの上限値ＵＬよ
りも大である受光部５ａを求める。具体的な処理を、図
１３にて説明する。（イ）は、受光部５ａの出力電圧が
明側の判定レベルＵＬ１よりも小のときを１とした出力
波形であり、前述の４つの位置ｅ０，ｅ１，ｅ２，ｅ４
の夫々に対応する箇所で１になっている。（ロ）は、前
記上限値ＵＬよりも大のときを１とした出力波形（上限
値ＵＬよりも小のときを１とした出力波形の反転波形）
であり、前述の４つの位置ｅ０，ｅ１，ｅ２，ｅ４のう
ちでｅ４だけが出力されていない。そして、（イ）の波
形と（ロ）の波形との論理積（ＡＮＤ処理）を演算する
と、（ハ）に示すように、ｅ４だけに対応する信号波形
が得られる。但し、ＵＬ１にて検出される波形とＵＬに
て検出される波形の幅が異なる（ＵＬ１の方がＵＬに比
べて広い）ので、ｅ４以外の位置ｅ０，ｅ１，ｅ２にお
いても、前後に細いパルス状の波形が出るが、これは、
前述の設定個数（例えば、２個）以下の波形をカットす
るフイルター処理にて除去することができる。そして、
（ニ）に示すように、設定適正範囲ΔＥｔの下限値ＬＬ
よりも下側の位置ｅ１，ｅ２と、上記位置ｅ４とが、不
良物の位置として判定される。

【００５２】又、前記制御装置１０を利用して、照明光
源４を構成する蛍光灯の劣化等によって生じる照明光源
４からの照明光量の経時的な変化を検出する光量変化検
出手段１０２が構成されている（図３参照）。具体的に
は、反射光の場合には、図８に示すように、前記長手状
の反射板８からの反射光を受光する反射光用のラインセ
ンサ５Ｂの各受光部５ａの受光量情報を用いて、上記照
明光量の経時的な変化を検出する。つまり、出荷調整時
に各受光部５ａの出力電圧ｒの平均値ｒｍを求めて記憶
させておき、ある期間使用後の各受光部５ａの出力電圧
ｒ’の平均値ｒｍ’と、上記最初の平均値ｒｍとの比
（ｒｍ’／ｒｍ）によって光量変化率が求まる。尚、図
８には、正常な米粒群ｋについての出力電圧ｊ，ｊ’を
例示している。透過光の場合には、光源４からの直接光
を受光したときの透過光用のラインセンサ５Ａの出力電
圧（図１２のＥｓ）の変化を検出し、上記反射光と同様
な手順で、透過光の場合の光量変化率を求める。

【００５３】そして、前記判別手段１００は、前記光量
変化検出手段１０２の情報に基づいて、前記照明光量の
経時的な変化の影響を打ち消すように、前記反射光用の
ラインセンサ５Ｂもしくは前記透過光用のラインセンサ
５Ａの受光量情報を補正するように構成されている。具
体的には、下式のように、前記基準受光量の情報で補正
した後の各受光部５ａの出力電圧ｊを上記光量変化率
（ｒｍ’／ｒｍ）で割って、出力電圧ｊの補正値を求め
る。そして、この値が前記適正光量範囲ΔＥｈ，ΔＥｔ
内であるか否かを判断して、前記メモリＬＵＴのデータ
を書き換え、以後は、この修正されたメモリＬＵＴを使
用する。

【００５４】

【数２】 ｊの補正値＝ｊ×〔ｓｍ／ｓｉ〕／〔ｒｍ’／ｒｍ〕……式Ｂ

【００５５】前記移送手段Ｈは、図３に示すように、前
記制御装置１０及び前記エアー吹き付け装置６をも利用
して、前記判別手段１００の判別情報に基づいて、前記
予定存在箇所Ｊに移送した米粒群ｋのうちの正常な米粒
ｋと不良の米粒及び前記異物とを異なる経路に分離して
移送するように構成されている。具体的には、米粒の不
良又は異物の存在が判別された場合には、予定存在箇所
Ｊから下流側の移送経路における前記不良の米粒又は前
記異物に対する異なる経路への分離箇所（前記エアーガ
ン６ａの設置箇所）までの移送時間が経過するに伴っ
て、前記不良の米粒又は前記異物を正常な米粒の経路と
異なる経路に分離させる。つまり、米粒群ｋを自重にて
落下させて移送させるとともに、不良の米粒又は異物に
対して、その位置に対応する各エアーガン６ａからエア
ーを吹き付けて正常な米粒の経路から分離させる。

【００５６】次に、図９及び図１０に示すフローチャー
トに基づいて、不良検出及び不良物除去の動作について
説明する。出荷調整時（図９）には、先ず、前記検査基
準物Ｋｊに基づく基準受光量データの記憶処理（ここで
は、「リファレンス作成」という。以下同じ）と、最初
の照明光量の記憶処理（「照明光補正データ作成」）と
を行う。尚、図示しないが、この前に、装置の電源をオ
ンしてウオームアップ運転させておく。次に、上記基準
受光量データに基づいて前記適正光量範囲ΔＥｈ，ΔＥ
ｔを設定して（「しきい値設定」）、前述の補正式Ａに
従って、補正用データを記憶させたメモリＬＵＴを作成
する（「ＬＵＴ作成」）。最後に、エアー吹き付け装置
６に対する各ノズルの作動時間等の調整を行う（「排除
調整」）。

【００５７】通常運転時（図１０）には、先ず、装置を
立ち上げて所定の時間、ウオームアップ運転させてか
ら、そのときの照明光量の検出と前記光量変化率を求め
る処理（「照明光補正データ作成」）を行い、前記適正
光量範囲ΔＥｈ，ΔＥｔと上記光量変化率とを使って、
前述の補正式Ｂに従って、メモリＬＵＴの補正用データ
を書き換えて修正されたメモリＬＵＴを作成する（「Ｌ
ＵＴ作成」）。

【００５８】そして、実際に米粒群を移送しながら運転
開始して、所定の清掃時間が経過するまで運転を続け
る。清掃時間が経過すると、米粒群の移送を停止させ、
格納室の窓部材１４Ａ，１４Ｂの表面等に付着した塵や
埃等を除去するように装置を清掃してから、清掃後の照
明光量の検出と前記光量変化率を求める処理（「照明光
補正データ作成」）を行う。このときに、照明光量の低
下が大きい場合等には、光源４の電圧を上げる等して光
量を調整する（「調光」）。調光処理をしないときに
は、上記求めた光量変化率を使ってメモリＬＵＴの内容
を修正するが、調光処理をしたときは照明光量が変化し
ているので、照明光量の検出と前記光量変化率を求める
処理（「照明光補正データ作成」）を再度行い、このデ
ータに基づいてメモリＬＵＴの内容を修正する。以後
は、米粒群の移送を開始して、この修正後のメモリＬＵ
Ｔを使って不良検出を行う。

【００５９】〔別実施形態〕前記反射部材８の別実施例
を図１４に示す。上記実施例では、長手状の反射部材８
を長手方向に沿って直線状に形成しているのに対して、
別実施例では、長手状の反射部材８が、その長手方向の
両端部において端部側ほど前記反射光受光手段（ライン
センサ５Ｂ）に近づく状態で設けられている。つまり、
図の（イ）は、反射部材８の中間部分は直線状に形成
し、両端部だけを端部側ほどラインセンサ５Ｂに近づく
ように曲げた例、（ロ）は、反射部材８の両端部だけで
なく、中間部分も端部側ほどラインセンサ５Ｂに近づく
ように曲げた例を示す。そして、反射部材８を直線状に
した場合には、図１５の２点鎖線で示すように、反射光
用のラインセンサ５Ｂの出力電圧が、反射部材８の両端
部で大きく低下するのに対して、反射部材８を曲げた場
合には、図１５の実線で示すように、反射光用のライン
センサ５Ｂの出力電圧の反射部材８の両端部での低下が
抑制される。

【００６０】上記実施例では、判別手段１００が、光量
変化検出手段１０２の情報（照明光量の変化率）に基づ
いて、照明光量の経時的な変化の影響を打ち消すため
に、各受光手段５Ａ，５Ｂの受光量情報を補正したが、
これ以外に、各受光手段５Ａ，５Ｂの受光量情報は補正
せずに、前記適正光量範囲ΔＥｈ，ΔＥｔを補正しても
よい。つまり、図６に示すように、始めに設定した適正
光量範囲ΔＥｈ，ΔＥｔに照明光量の変化率を掛けて、
補正後の適正光量範囲ΔＥｈ”，ΔＥｔ”とするであ
る。

【００６１】上記実施例では、判別手段１００が、基準
受光量記憶手段１０１の情報（各受光部５ａ毎の基準受
光量）に基づいて、一つの適正光量範囲ΔＥｈ，ΔＥｔ
を設定したが、これに限るものではない。例えば、図１
６に反射光の例で示すように、各受光部での基準受光量
Ｓｉの値をを中心として上下に所定幅となる反射光の光
量範囲として、複数個の受光部５ａ夫々に対して夫々の
適正光量範囲ΔＥｈ’を設定し、各受光部５ａの検出電
圧が夫々の適正光量範囲ΔＥｈ’内であるか否かを判断
するようにしてもよい。

【００６２】上記実施例では、判別手段１００が行う検
出受光量の補正処理用のデータを記憶するメモリＬＵＴ
に、受光部５ａの位置ｉと、その位置ｉでの受光量の検
出値ｊとを入力すると、正常な粒状体のときは「０」、
不良物のときは「１」が、判定出力として出力されるよ
うにしたが、このような２値判定に限るものではなく、
例えば、受光部５ａの位置ｉと、その位置ｉでの受光量
の検出値ｊとを入力すると、その検出値ｊが補正された
多値（例えば、８ビット）の情報を出力するように、補
正用のメモリを構成してもよく、この場合は、上記多値
の情報を判断処理して、より精度の高い不良検出を行う
ことができる。

【００６３】上記実施例では、判別手段１００が、基準
受光量記憶手段１０１の情報に基づいて補正処理を行っ
てから不良の検出処理を行うようにしたが、これに限る
ものではない。例えば、図１５のｒに示される両端部で
の反射光量の低下が改善された長手状の反射部材８を使
えば、図１１に示す反射光のラインセンサ５Ｂの波形
（但し、この場合は、縦軸は補正無しの出力電圧とな
る）において、横軸方向の両端部（ラインセンサ５Ｂの
両端部の受光部５ａ）の位置まで、補正無しで設定した
一つの適正光量範囲ΔＥｈを使って不良検出処理ができ
る。

【００６４】上記実施例では、基準受光量記憶手段１０
１に基準受光量の情報を記憶させるために、出荷調整時
にのみ、検査基準物Ｋｊを予定存在箇所Ｊに置いて、反
射又は透過光についての受光量を検出するようにした
が、例えば、検査基準物Ｋｊを予定存在箇所Ｊに対して
出し入れする手段を装置に備えさせることにより、出荷
後においても、適宜（例えば、前記「調光」を行った
時）、基準受光量記憶手段１０１に、新しい基準受光量
の情報を記憶させるようにしてもよい。

【００６５】上記実施例では、粒状体群の移送を停止さ
せた状態で、反射部材８からの反射光又は光源４からの
直接照明光の光量を検出して、経時的な光量変化を検出
する光量変化検出手段１０２を構成したが、これに限る
ものではない。例えば、粒状体群の移送経路の横幅方向
での一部に粒状体群を流さない箇所を設定し、この部分
を使って、経路の大部分で粒状体群を流しながら、反射
部材８からの反射光又は光源４からの直接照明光の光量
を検出するようにしてもよい。

【００６６】上記実施例では、両受光手段５Ａ，５Ｂが
複数個の受光部５ａを備えるように構成したが、例えば
フォトセンサー等の単一のセンサーで構成して、前述の
判別手段１００による不良検出処理を行うようにしても
よい。

【００６７】上記実施例では、検査対象物としての粒状
体群が米粒群ｋである場合について例示したが、これに
限るものではなく、例えば、プラスチック粒等における
不良物や異物の存否を検査する場合にも適用できる。

【００６８】上記実施例では、照明手段４を、複数列状
の検査対象物（米粒群ｋ）の全幅を照明するようにライ
ン状の蛍光灯にて構成したが、検査対象物（米粒群ｋ）
の予定存在箇所その他の条件に応じて、照明手段の具体
構成は適宜変更できる。

【００６９】上記実施例では、受光手段５Ａを、モノク
ロタイプのＣＣＤセンサを利用して構成したが、撮像管
式のテレビカメラを利用して構成してもよい。又、モノ
クロタイプではなく、カラータイプのＣＣＤセンサにて
構成して、例えば、色情報Ｒ，Ｇ，Ｂ毎の受光量から不
良米や異物の存否をさらに精度良く判別するようにして
もよい。

【００７０】上記実施例では、移送手段Ｈにて検査対象
物としての粒状体群（米粒群ｋ）を予定移送経路に沿っ
て複数列並ぶ状態で（つまり横方向に広がった状態で）
移送するようにしたが、これ以外に、例えば、予定移送
経路に沿って一列状態で（つまり直線状に）移送させる
ようにしてもよい。

【００７１】上記実施例では、検査対象物としての粒状
体群（米粒群ｋ）を予定移送経路に沿って一層状態で複
数列並ぶ状態で移送する移送手段Ｈを構成するために、
傾斜させたシュータ１を設けてその面上を粒状体群を滑
らせるようにしたが、これ以外に、例えば、粒状体群を
一層状態で載置して搬送する搬送装置等を設けてもよ
い。又、自重にて落下している粒状体群（米粒群ｋ）中
の不良物に向けてエアーを吹き付けて、正常な粒状体の
経路から不良物を分離して移送するように、移送手段Ｈ
を構成したが、これに限るものではなく、例えば、不良
物をエアーで吸引するようにしてもよい。

【図面の簡単な説明】

【図１】不良検出・除去装置の概略斜視図

【図２】同概略側面図

【図３】制御構成のブロック図

【図４】受光検出範囲の説明図

【図５】基準受光量を記憶させるための配置を示す装置
側面図

【図６】基準受光量の記憶時の出力波形図

【図７】補正用のメモリのブロック図

【図８】照明光量の変化を示す出力波形図

【図９】動作のフローチャート

【図１０】動作のフローチャート

【図１１】反射光受光手段の出力波形図

【図１２】透過光受光手段の出力波形図

【図１３】透過光の場合の不良検出処理を説明する波形
図

【図１４】別実施例の反射部材を示す平面図

【図１５】別実施例の反射部材による反射光受光手段の
出力波形図

【図１６】別実施例の不良検出処理を示す受光手段の出
力波形図

【図１７】従来技術の受光検出部を示す側面図

【符号の説明】

４ 照明手段 ５Ａ 透過光受光手段 ５Ｂ 反射光受光手段 ５ａ 受光部 ８ 反射部材 １００ 判別手段 １０１ 基準受光量記憶手段 １０２ 光量変化検出手段 Ｈ 移送手段

Claims (11)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 粒状体群を検査対象物として、その検査
   対象物の予定存在箇所を照明する照明手段と、その照明
   手段からの照明光が前記予定存在箇所で反射した反射光
   を受光する反射光受光手段と、その反射光受光手段の受
   光情報に基づいて、粒状体群における各粒状体の良否又
   は粒状体群内に混入した異物の存否を判別する判別手段
   とが設けられた不良検出装置であって、 前記検査対象物の反射率と同一の反射率である検査基準
   物を前記予定存在箇所に位置させたときの前記反射光受
   光手段の受光情報を基準受光量として記憶する基準受光
   量記憶手段が設けられ、 前記判別手段は、前記基準受光量記憶手段の情報に基づ
   いて前記粒状体に対する適正光量範囲を設定し、前記反
   射光受光手段の受光量が前記適正光量範囲を外れた場合
   に粒状体の不良又は前記異物の存在を判定するように構
   成されている不良検出装置。
2. 【請求項２】 前記予定存在箇所が長手状に設定される
   とともに、前記反射光受光手段が、各別に受光情報が取
   出し可能な複数個の受光部を前記長手状の予定存在箇所
   の全体に亘って直線状に並ぶ状態で備えるように構成さ
   れ、 前記反射光受光手段の受光方向であって前記長手状の予
   定存在箇所の背面側に、前記照明手段からの照明光を反
   射させるための長手状の反射部材が設けられ、 前記基準受光量記憶手段は、前記各受光部毎に前記基準
   受光量を記憶するように構成され、 前記判別手段は、前記複数個の受光部の前記基準受光量
   についての平均値情報に基づいて、前記複数個の受光部
   に対して一つの適正光量範囲を設定するとともに、前記
   基準受光量の平均値に対する前記各受光部の前記基準受
   光量の偏差を打ち消すように、前記各受光部の検出受光
   量を補正し、その補正後の受光量が前記一つの適正光量
   範囲を外れた場合に粒状体の不良又は前記異物の存在を
   判定するように構成されている請求項１記載の不良検出
   装置。
3. 【請求項３】 前記長手状の反射部材が、その長手方向
   の両端部において端部側ほど前記反射光受光手段に近づ
   く状態で設けられている請求項２記載の不良検出装置。
4. 【請求項４】 粒状体群を検査対象物として、その検査
   対象物の予定存在箇所を照明する照明手段と、その照明
   手段からの照明光が前記予定存在箇所を透過した透過光
   を受光する透過光受光手段と、その透過光受光手段の受
   光情報に基づいて、粒状体群における各粒状体の良否又
   は粒状体群内に混入した異物の存否を判別する判別手段
   とが設けられた不良検出装置であって、 前記検査対象物の透過率と同一の透過率である検査基準
   物を前記予定存在箇所に位置させたときの前記透過光受
   光手段の受光情報を基準受光量として記憶する基準受光
   量記憶手段が設けられ、 前記判別手段は、前記基準受光量記憶手段の情報に基づ
   いて前記粒状体に対する適正光量範囲を設定し、前記透
   過光受光手段の受光量が前記適正光量範囲を外れた場合
   に粒状体の不良又は前記異物の存在を判定するように構
   成されている不良検出装置。
5. 【請求項５】 前記予定存在箇所が長手状に設定される
   とともに、前記透過光受光手段が、各別に受光情報が取
   出し可能な複数個の受光部を前記長手状の予定存在箇所
   の全体に亘って直線状に並ぶ状態で備えるように構成さ
   れ、 前記基準受光量記憶手段は、前記各受光部毎に前記基準
   受光量を記憶するように構成され、 前記判別手段は、前記複数個の受光部の前記基準受光量
   についての平均値情報に基づいて、前記複数個の受光部
   に対して一つの適正光量範囲を設定するとともに、前記
   基準受光量の平均値に対する前記各受光部の前記基準受
   光量の偏差を打ち消すように、前記各受光部の検出受光
   量を補正し、その補正後の受光量が前記一つの適正光量
   範囲を外れた場合に粒状体の不良又は前記異物の存在を
   判定するように構成されている請求項４記載の不良検出
   装置。
6. 【請求項６】 前記照明手段からの照明光量の経時的な
   変化を検出する光量変化検出手段が設けられ、 前記判別手段は、前記光量変化検出手段の情報に基づい
   て、前記照明光量の経時的な変化の影響を打ち消すよう
   に、前記反射光受光手段もしくは前記透過光受光手段の
   受光量情報、又は前記適正光量範囲を補正するように構
   成されている請求項１〜５のいずれか１項に記載の不良
   検出装置。
7. 【請求項７】 前記光量変化検出手段は、前記長手状の
   反射部材からの反射光を受光する前記各受光部の受光量
   情報を用いて、前記照明光量の経時的な変化を検出する
   ように構成されている請求項６記載の不良検出装置。
8. 【請求項８】 粒状体群を検査対象物として、その検査
   対象物の予定存在箇所を照明する照明手段と、その照明
   手段からの照明光が前記予定存在箇所で反射した反射光
   を受光する反射光受光手段と、その反射光受光手段の受
   光情報に基づいて、粒状体群における各粒状体の良否又
   は粒状体群内に混入した異物の存否を判別する判別手段
   とが設けられた不良検出装置であって、 前記検査対象物の予定存在箇所が長手状に形成されると
   ともに、前記反射光受光手段が、各別に受光情報が取出
   し可能な複数個の受光部を前記長手状の予定存在箇所の
   全体に亘って直線状に並ぶ状態で備えるように構成さ
   れ、 前記反射光受光手段の受光方向であって前記長手状の予
   定存在箇所の背面側に、前記照明手段からの照明光を反
   射させるための長手状の反射部材が、その長手方向の両
   端部において端部側ほど前記反射光受光手段に近づく状
   態で設けられている不良検出装置。
9. 【請求項９】 請求項１〜８のいずれか１項に記載の不
   良検出装置を備えた不良物除去装置であって、 前記検査対象物を予定移送経路に沿って移送する移送手
   段が設けられ、 前記移送手段は、前記検査対象物を予定移送経路におけ
   る前記予定存在箇所に移送するとともに、前記判別手段
   の判別情報に基づいて、前記予定存在箇所に移送した前
   記検査対象物のうちの正常な粒状体と不良の粒状体及び
   前記異物とを異なる経路に分離して移送するように構成
   されている不良物除去装置。
10. 【請求項１０】 前記移送手段は、前記検査対象物を一
    層状態で且つ複数列並ぶ状態で移送するように構成さ
    れ、 前記照明手段は、前記複数列の検査対象物の並び方向の
    全幅を照明するように構成され、 前記反射光受光手段又は前記透過光受光手段は、前記複
    数列の検査対象物の並び方向に沿ってその全幅を受光範
    囲とするように構成されている請求項９記載の不良物除
    去装置。
11. 【請求項１１】 前記移送手段は、前記検査対象物を自
    重にて落下させて移送させるとともに、前記不良の粒状
    体又は前記異物に対してエアーを吹き付けて正常な粒状
    体の経路から分離させるように構成されている請求項９
    又は１０記載の不良物除去装置。