JP2017167040A - 異物の検出方法、異物の検出装置、エラストマーの製造方法およびエラストマーの製造装置 - Google Patents
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Abstract
Description
エラストマーを製造する過程で生じるクラムに異物が含まれているかを検出する方法であって、
前記クラムを落下させる工程と、
落下している前記クラムに照明光を照射する工程と、
落下している前記クラムの側方で、落下する前記クラムのばらつき厚み方向にずらして配置された複数の基準部材に照射された前記照明光の反射光を比較する工程と、
比較された前記反射光の明るさが略均一になるように、前記照明光を調節する工程と、
前記照明光が照射された落下途中の前記クラムを撮像する工程と、
撮像された前記クラムから異物を検出する工程と、を有する。
エラストマーを製造する過程で生じるクラムに異物が含まれているかを検出する検出装置であって、
前記クラムを落下させる落下手段と、
落下している前記クラムに照明光を照射する照明手段と、
落下している前記クラムの側方で、落下する前記クラムのばらつき厚み方向にずらして配置される複数の基準部材と、
複数の前記基準部材に照射された前記照明光の反射光を撮像する第1撮像手段と、
前記照明光が照射された落下途中の前記クラムを撮像する第2撮像手段と、
撮像された前記クラムから異物を検出する検出手段と、を有する。
前記共通撮像装置は、複数の前記基準部材に照射された前記照明光の反射光を撮像すると共に、前記照明光が照射された落下途中の前記クラムを撮像することができるように構成してある。
上記のいずれかに記載の異物の検出装置と、
前記検出装置で検出された異物を除去する除去手段と、を有する。
10… クラム
10a0,10a+,10a−… 正常クラム画像(実施例)
10b0,10b+,10b−… 正常クラム画像(比較例)
12… 異物
12a0,12a+,12a−… 異物画像(実施例)
12b0,12b+,12b−… 異物画像(比較例)
20… 乾燥室
24… 多孔ベルト
30… 搬送装置
32… 搬送ベルト(落下手段)
40… 成形装置
42… ホッパ
50… 異物の検出装置
52a,52b… 照明具(照明手段)
54a,54b… 撮像装置(第1および第2撮像手段、共通撮像装置)
56… 制御手段
60,62,64… 基準板(基準部材)
60a,62a,64a… 反射画像データ(実施例)
60b,62b,64b… 反射画像データ(比較例)
70… ガス吹出手段(除去手段)
80… 異物収容箱
100… エラストマー成形体
Claims (10)
- エラストマーを製造する過程で生じるクラムに異物が含まれているかを検出する方法であって、
前記クラムを落下させる工程と、
落下している前記クラムに照明光を照射する工程と、
落下している前記クラムの側方で、落下する前記クラムのばらつき厚み方向にずらして配置された複数の基準部材に照射された前記照明光の反射光を比較する工程と、
比較された前記反射光の明るさが略均一になるように、前記照明光を調節する工程と、
前記照明光が照射された落下途中の前記クラムを撮像する工程と、
撮像された前記クラムから異物を検出する工程と、を有する異物の検出方法。 - 撮像された前記クラムの色または明るさから、異物を検出する請求項1に記載の異物の検出方法。
- 撮像された前記クラムのR信号、G信号およびB信号の少なくともいずれかの信号の強さから、異物を検出する請求項1または2に記載の異物の検出方法。
- 請求項1〜3のいずれかに記載の異物の検出方法で検出された異物を除去する工程を有するエラストマーの製造方法。
- 異物が検出された直後のタイミングで、落下途中の前記クラムを、異物と共に除去する請求項4に記載のエラストマーの製造方法。
- エラストマーを製造する過程で生じるクラムに異物が含まれているかを検出する検出装置であって、
前記クラムを落下させる落下手段と、
落下している前記クラムに照明光を照射する照明手段と、
落下している前記クラムの側方で、落下する前記クラムのばらつき厚み方向にずらして配置される複数の基準部材と、
複数の前記基準部材に照射された前記照明光の反射光を撮像する第1撮像手段と、
前記照明光が照射された落下途中の前記クラムを撮像する第2撮像手段と、
撮像された前記クラムから異物を検出する検出手段と、を有する異物の検出装置。 - 前記第1撮像手段と前記第2撮像手段とは、共通撮像装置で構成され、
前記共通撮像装置は、複数の前記基準部材に照射された前記照明光の反射光を撮像すると共に、前記照明光が照射された落下途中の前記クラムを撮像することができるように構成してある請求項6に記載の異物の検出装置。 - 複数の前記基準部材に照射された前記照明光の反射光を比較し、比較された前記反射光の明るさが略均一になるように、前記照明光を調節する照明光調節手段をさらに有する請求項6または7に記載の異物の検出装置。
- 請求項6〜8のいずれかに記載の異物の検出装置と、
前記検出装置で検出された異物を除去する除去手段と、を有するエラストマーの製造装置。 - 前記除去手段は、異物が検出された直後のタイミングで、落下途中の前記クラムを、異物と共に除去するように構成してある請求項9に記載のエラストマーの製造装置。
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JP2016053886A JP2017167040A (ja) | 2016-03-17 | 2016-03-17 | 異物の検出方法、異物の検出装置、エラストマーの製造方法およびエラストマーの製造装置 |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020044275A (ja) * | 2018-09-21 | 2020-03-26 | 東芝ライテック株式会社 | 検知装置 |
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-
2016
- 2016-03-17 JP JP2016053886A patent/JP2017167040A/ja active Pending
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