JP5607734B2 - 離散的な低剛性の透明又は半透明体の欠陥を検査する装置及び方法 - Google Patents

離散的な低剛性の透明又は半透明体の欠陥を検査する装置及び方法 Download PDF

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Description

本発明は、離散的な低剛性の透明又は半透明体の欠陥を検査する装置及び方法に関するものである。
透明又は半透明製品での欠陥は、介在物や空洞などのような局所欠陥と、埃や髪などのような汚染物を含む。当該欠陥の大きさは、十数乃至数千ミクロンの範囲にある。
手作業製品ラインにおいて、品質制御操作者は、目視により製品での欠陥を検査する。一方、自動製品ラインにおいて、生産の安全性を考慮すると、手動の品質検査及び制御は許容されないが、完全に自動検査する装置はないため、自動製品ラインにおいて品質制御はない。
自動製品ラインにおいて品質制御を実現するために、多くの検査方法や装置は開発されている。それらは主に下記二種類の応用に応じたものであり、その一は、ガラスのような離散的な(Separated)高剛性の透明又は半透明体であり、その二は、プラスチックシートや紙などのような低剛性(low rigidity)の透明又は半透明体である。
特許文献1には、離散的な高剛性の透明体に対し欠陥検査を行う方法及び装置が開示されている。
特許文献1には、複数のローラで移動手段を形成して、離散的な高剛性の透明体であるガラスを搬送する。照明手段は、当該ガラスの一方の側であって当該複数のローラのうちの2つのローラ間の間隙内に設置され、当該ガラスに光を投射する。複数のラインセンサカメラから構成されたイメージングアレイ(撮像手段)は、当該ガラスの他方の側に設置され、当該照明手段から投射し当該ガラスを透過した光を受光し、一組の一次元画像を生成する。画像処理手段は、当該一組の一次元画像に基づいて二次元画像を再構成し、当該二次元画像を分析することにより当該ガラスでの欠陥を見つける。
低剛性の透明体は、低い剛性を有するからこれらのローラ上に移動できないため、上記特許出願に開示された方法及び装置は、低剛性の透明体に適用されない。
特許文献2には、連続的な低剛性の透明体に対し欠陥検査を行う装置及び方法が開示されている。
特許文献2には、一対のガイドローラを移動手段として、連続的な低剛性の透明体である連続的な低剛性の透明フィルムを搬送し、当該連続的な低剛性の透明フィルムは、この一対のガイドローラの周りに回転する。光源は、当該連続的な低剛性の透明フィルムの下方に設置され、線光を当該透明フィルムに投射する。受光器は、当該透明フィルムの当該受光器側とは反対側に設置され、かつ、当該透明フィルムを透過した光を受光して画像を生成する。判定手段は、当該生成した画像に基づき当該透明フィルムに欠陥が存在するか否かを判定する。
特許文献2に開示された装置及び方法では、当該低剛性の透明フィルムが当該一対のガイドローラの周りに回転して搬送されるように当該低剛性の透明フィルムが連続的であると要求されている。
従って、特許文献2に開示された装置及び方法は、離散的な低剛性の透明又は半透明体に適用できない。
米国特許出願公開第2004/0179193号明細書 米国特許出願公開第2006/0203246号明細書
従来の技術における上述の問題を考慮すると、本発明は、離散的な低剛性の透明又は半透明体の欠陥を検査する装置及び方法を提供し、当該装置及び方法によって、離散的な低剛性の透明又は半透明体での欠陥を検査できる。
本発明の一つの面によれば、離散的な低剛性の透明又は半透明体を搬送する第1の搬送手段及び第2の搬送手段と、離散的な低剛性の透明又は半透明体の搬送経路における第1の搬送手段と第2の搬送手段との間に設置され、上面を有する透明ブリッジと、透明ブリッジの一方の側に設置され、散乱光を透明ブリッジに透過させて透明ブリッジの上面に投射する照明手段と、透明ブリッジの他方の側に設置され、離散的な低剛性の透明又は半透明体が透明ブリッジの上面に入ると、照明手段から投射し離散的な低剛性の透明又は半透明体を透過した光を受光して画像を形成する撮像手段と、を含む、画像取得装置を提供する。
本発明の他の面によれば、上面を有する透明ブリッジを、離散的な低剛性の透明又は半透明体の搬送経路における第1の搬送手段と第2の搬送手段との間に設置するステップと、散乱光を透明ブリッジに透過させて透明ブリッジの上面に投射する照明手段を、透明ブリッジの一方の側に設置するステップと、離散的な低剛性の透明又は半透明体が透明ブリッジの上面に入ると照明手段から投射し離散的な低剛性の透明又は半透明体を透過した光を受光して画像を形成する撮像手段を、透明ブリッジの他方の側に設置するステップと、を含む、画像取得装置の製造方法を提供する。
また、本発明の他の面によれば、離散的な低剛性の透明又は半透明体の欠陥を検査する装置であって、離散的な低剛性の透明又は半透明体を搬送する第1の搬送手段及び第2の搬送手段と、離散的な低剛性の透明又は半透明体の搬送経路における第1の搬送手段と第2の搬送手段との間に設置され、上面を有する透明ブリッジと、透明ブリッジの一方の側に設置され、散乱光を透明ブリッジに透過させて透明ブリッジの上面に投射する照明手段と、透明ブリッジの他方の側に設置され、離散的な低剛性の透明又は半透明体が透明ブリッジの上面に入ると、照明手段から投射し離散的な低剛性の透明又は半透明体を透過した光を受光して画像を形成する撮像手段と、形成した画像を処理することにより、離散的な低剛性の透明又は半透明体に欠陥が存在するか否かを判定する画像処理手段と、を含む、装置を提供する。
さらに、本発明の他の面によれば、離散的な低剛性の透明又は半透明体の欠陥を検査する方法であって、散乱光を透明ブリッジの上面に投射するステップと、透明ブリッジの上面に位置する離散的な低剛性の透明又は半透明体を透過した光を受光して画像を形成するステップと、形成した画像を処理することにより、離散的な低剛性の透明又は半透明体に欠陥が存在するか否かを判定するステップと、を含む、方法を提供する。
以下の通り図面を組合わせた詳細な説明によって、本発明の他の特徴や利点はより明らかになる。
本発明の一つの実施例に係る離散的な低剛性の透明又は半透明体の欠陥を検査する装置を示す概略図である。 本発明の一つの実施例に係る搬送手段の例を示す図である。 本発明の一つの実施例に係る搬送手段の例を示す図である。 二値化した画像には階調が当該二値化した画像の背景の階調とは異なる領域が含まれている例を示す図である。 二値化した画像には階調が当該二値化した画像の背景の階調とは異なる領域が含まれている例を示す図である。
以下、図面を参照しながら本発明の各実施例を詳しく説明する。
図1は、本発明の一つの実施例に係る離散的な低剛性の透明又は半透明体の欠陥を検査する装置を示す概略図である。
図1に示すように、装置10は、画像取得装置100、画像処理手段200、及び実行手段300を含む。
画像を取得するための画像取得装置200は、2つの搬送手段102、104、透明ブリッジ106、照明手段108、及び撮像手段110を含む。
搬送手段102、104は、離散的な低剛性の透明又は半透明体の例である離散的なプラスチックシートB1を搬送する。この離散的なプラスチックシートB1の搬送経路において、所定の間隔で搬送手段102、104を設置する。本実施例では、搬送手段102、104の各々は、2つのローラ及び一つのリング状ベルトを含み、この2つのローラは、所定の間隔でこの離散的なプラスチックシートB1の搬送経路に配置され、駆動された時に回転し、このリング状ベルトは、この2つのローラの周りに回転するとともに、この2つのローラの回転に従って回転することにより、搬送経路に沿ってこの離散的なプラスチックシートB1を搬送する。図2A、2Bに示すように、このリング状ベルトは、一つの広いリング状ベルト、又は、所定の間隔で配置された複数の狭いリング状ベルトであってもよい。
透明ブリッジ106は、搬送手段102、104の間に設置される。透明ブリッジ106は、上面T1を有し、かつ、撮像手段110がよい画像品質を取得可能なように、当該離散的なプラスチックシートB1が透明ブリッジ106の上面T1に入った後、この離散的なプラスチックシートB1がスムーズに移動することができる。透明ブリッジ106の上面T1が搬送手段102、104の上面S1、S2よりも低くなるとともに、透明ブリッジ106が搬送手段102、104に近くなることにより、この離散的なプラスチックシートB1が搬送手段102から透明ブリッジ106に入る時に、この離散的なプラスチックシートB1が搬送手段102と透明ブリッジ106との間の間隙に陥らず、また、この離散的なプラスチックシートB1が透明ブリッジ106から搬送手段104に入る時に、この離散的なプラスチックシートB1が搬送手段104の側面に衝突してスムーズな移動を失ったり多少回転したりすることがなくなる。好ましくは、透明ブリッジ106の上面T1は搬送手段102、104の上面S1、S2よりも1〜3mm低くなるとともに、透明ブリッジ106と搬送手段102との間の間隙、及び透明ブリッジ106と搬送手段104との間の間隙は、いずれも離散的なプラスチックシートB1の厚みの半分よりも小さくなる。本実施例では、この離散的なプラスチックシートB1の搬送経路に平行し透明ブリッジ106の上面T1に垂直な透明ブリッジ106の断面は、逆台形または矩形であってもよく、透明ブリッジ106は、PMMA(有機ガラス)又はガラスなどの透明材料から製造されてもよい。
照明手段108は、透明ブリッジ106の下方(下側)に設置され、散乱光(diffusive light)を透明ブリッジ106に透過させて透明ブリッジ106の上面T1に投射する。
撮像手段110は、透明ブリッジ106の上方(上側)に設置され、照明手段108から投射し当該離散的なプラスチックシートB1を透過した光を受光して画像を形成する。本実施例では、撮像手段110は、ラインセンサカメラアレイであってもよい。
画像処理手段200は、画像取得装置100により取得された画像を処理することにより、この離散的なプラスチックシートB1に欠陥が存在するか否かを判定する。
本実施例では、画像処理手段200は、まず、画像取得装置100により取得された画像に対し自動閾値処理(auto-threshold)を実行することにより、この取得された画像に対し二値化処理を行うための2つの異なる閾値を取得する。次に、画像処理手段200は、この取得された2つの閾値のそれぞれによってこの取得された画像に対し二値化処理を実行することにより、2つの二値化した画像を取得する。さらに、画像処理手段200は、この2つの二値化した画像の何れかには、階調がこの二値化した画像の背景の階調とは異なる領域が含まれるか否かを検出し、図3A、3Bに示すように、この領域は、例えば黒点、黒線、白点、白線などであってもよい。最後に、この2つの二値化した画像の何れかには階調がこの二値化した画像の背景の階調とは異なる領域が含まれていることを検出した場合、画像処理手段200は、この離散的なプラスチックシートB1に欠陥が存在していると確定し、或いは、この2つの二値化した画像の何れかには階調がこの二値化した画像の背景の階調とは異なる領域が含まれていないことを検出した場合、画像処理手段200は、この離散的なプラスチックシートB1に欠陥が存在していないと確定する。
実行手段300は、この離散的なプラスチックシートB1に欠陥が存在するか否かに基づいて、この離散的なプラスチックシートB1を処理する。実行手段300は、判定手段、洗浄機器、及び移動手段を含む。この判定手段は、画像処理手段200がこの離散的なプラスチックシートB1に欠陥が存在していると確定した場合、この離散的なプラスチックシートB1がこの洗浄機器からのものであるか否かを検出することによりこの離散的なプラスチックシートB1が一回目に検査されるか否かを判定し、その中、この離散的なプラスチックシートB1がこの洗浄機器からのものであると検出した場合、この離散的なプラスチックシートB1が一回目に検査されることではないと判定し、この離散的なプラスチックシートB1がこの洗浄機器からのものではないと検出した場合、この離散的なプラスチックシートB1が一回目に検査されると判定する。この洗浄機器は洗浄動作を実行する。この移動手段は、画像処理手段200がこの離散的なプラスチックシートB1に欠陥が存在していないと確定した場合、この離散的なプラスチックシートB1を製品ラインにおける次のステップに移動し、この判定手段がこの離散的なプラスチックシートB1が一回目に検査されると判定した場合、この離散的なプラスチックシートB1をこの洗浄機器に移動させて洗浄し、また、この判定手段がこの離散的なプラスチックシートB1が一回目に検査されることではないと判定した場合、この離散的なプラスチックシートB1を拒絶する。
介在物は、プラスチックシートで最も一般的な欠陥であるが、それに対する検査は、プラスチックシートの粗い表面に妨げられ易い。プラスチックシートの粗い表面上のピークや谷は光を屈折することができるので、原画像において暗点(dark particles)として現れる。当該暗点は、欠陥候補であってプラスチックシートの介在物と混同され易い。しかし、本実施例での散乱光を利用することによって、プラスチックシートの粗い表面による不利な影響を減少する。
また、本実施例での散乱光を利用することによって、ピクセル解像度よりも小さいサイズの欠陥は散乱されて拡大画像を有するため、検査可能である。
従って、本実施例に係る装置は、離散的なプラスチックシートに存在している目視できない欠陥を検出できるため、本実施例に係る装置によって、高品質の離散的なプラスチックシートを取得し、顧客の高品質への要求を満たすことができる。
本実施例に係る装置によって欠陥が存在していないと検出した後、この離散的なプラスチックシートB1の表面積に対する欠陥の比率は、一般的に10-7より小さくなるが、好ましくはこの比率は10-8より小さくなる。当業者が理解するはずのように、ここで示される表面積に対する欠陥の比率の数値は、本発明の保護範囲の制限や縮小に用いられない。
当業者が理解するはずのように、上述の実施例では、透明ブリッジ106は、透明ブリッジ106の上面T1が搬送手段102、104の上面S1、S2よりも低くなるとともに、透明ブリッジ106が搬送手段102、104に近くなるように設置されていることにより、この離散的なプラスチックシートB1が搬送手段102から透明ブリッジ106に入る時に、この離散的なプラスチックシートB1が搬送手段102と透明ブリッジ106との間の間隙に陥らず、また、この離散的なプラスチックシートB1が透明ブリッジ106から搬送手段104に入る時に、この離散的なプラスチックシートB1が搬送手段104の側面に衝突してスムーズな移動を失ったり多少回転したりすることがなくなるという目的を達するが、本発明は、透明ブリッジ106は透明ブリッジ106の上面T1が搬送手段102、104の上面S1、S2よりも低くなるとともに透明ブリッジ106が搬送手段102、104に近くなるように設置されていることにより上述の目的を達することに限られない。本発明のその他の実施例では、その他の方式によって上述の目的を達してもよい。
例えば、本発明のその他の実施例では、透明ブリッジ106の上面T1が搬送手段102、104の上面S1、S2と面一であるとともに、透明ブリッジ106が搬送手段102、104に近くなる必要がない。この場合に、この離散的なプラスチックシートB1が搬送手段102から透明ブリッジ106に入る時に、作業者は手作業で搬送手段102からのこの離散的なプラスチックシートB1を透明ブリッジ106に搬送し、この離散的なプラスチックシートB1が透明ブリッジ106から搬送手段104に入る時に、作業者は手作業で透明ブリッジ106からのこの離散的なプラスチックシートB1を搬送手段104に搬送する。
また、例えば、本発明のその他の実施例では、透明ブリッジ106の上面T1が搬送手段102、104の上面S1、S2と面一であるとともに、透明ブリッジ106が搬送手段102、104に近くなる必要がなく、かつ、装置10は、搬送手段102と透明ブリッジ106との間の間隙、及び搬送手段104と透明ブリッジ106との間の間隙に向かって空気を噴射する噴射手段を含む。この噴射された空気が浮力を生じることによってこの離散的なプラスチックシートB1が浮き上がるので、この離散的なプラスチックシートB1は、搬送手段102から透明ブリッジ106に入る時に、搬送手段102と透明ブリッジ106との間の間隙に陥らず、また、透明ブリッジ106から搬送手段104に入る時に、搬送手段104の側面に衝突してスムーズな移動を失ったり多少回転したりすることがなくなる。
さらに、例えば、本発明のその他の実施例では、透明ブリッジ106の上面T1が搬送手段102、104の上面S1、S2と面一であるとともに、透明ブリッジ106が搬送手段102、104に近くなる必要がなく、かつ、装置10は、搬送手段102と透明ブリッジ106との間の間隙の上方、及び搬送手段104と透明ブリッジ106との間の間隙の上方にそれぞれ設置され、直流高電圧が印加された第1の電極板及び第2の電極板を含む。この第1の電極板及び第2の電極板に直流高電圧が印加されたので、この離散的なプラスチックシートB1が搬送手段102から透明ブリッジ106に入る時、及び透明ブリッジ106から搬送手段104に入る時に、この離散的なプラスチックシートB1の搬送手段102と透明ブリッジ106との間の間隙に位置する部分とこの第1の電極板とが互いに引き付ける静電力を生じ、また、この離散的なプラスチックシートB1の搬送手段104と透明ブリッジ106との間の間隙に位置する部分とこの第2の電極板とが互いに引き付ける静電力を生じることによって、この離散的なプラスチックシートB1は、搬送手段102から透明ブリッジ106に入る時に、搬送手段102と透明ブリッジ106との間の間隙に陥らず、また、透明ブリッジ106から搬送手段104に入る時に、搬送手段104の側面に衝突してスムーズな移動を失ったり多少回転したりすることがなくなる。
当業者が理解するはずのように、上述の実施例では、照明手段108が透明ブリッジ106の下側に設置され、撮像手段110が透明ブリッジ106の上側に設置されているが、本発明はこれに限られない。本発明のその他の実施例では、照明手段108が透明ブリッジ106の上側に設置され、撮像手段110が透明ブリッジ106の下側に設置されてもよい。即ち、本発明の各実施例では、照明手段108が透明ブリッジ106の一方の側に設置され、撮像手段110が透明ブリッジ106の他方の側に設置される。
当業者が理解するはずのように、上述の実施例では、撮像手段はラインセンサカメラアレイであるが、本発明の撮像手段はこれに限られない。本発明のその他の実施例では、撮像手段は二次元カメラであってもよい。
当業者が理解するはずのように、上述の実施例では、離散的なプラスチックシートB1は離散的な低剛性の透明又は半透明体の例とされているが、本発明の離散的な低剛性の透明又は半透明体は、この離散的なプラスチックシートB1に限られない。
当業者が理解するはずのように、上述の実施例において記述されている画像処理手段は、ソフトウエア、ハードウエア、又はソフトウエアとハードウエアとの組合わせによって実現することができる。
当業者が理解するはずのように、本発明の上述の各実施例は、発明の主旨から離脱しない限り、様々な変形や変更をすることができ、かつ、これらの変形や変更は、全て本発明の保護範囲に属するべきである。従って、本発明の保護範囲は、添付される特許請求の範囲により定義される。

Claims (25)

  1. 離散的な低剛性の透明又は半透明体を搬送する第1の搬送手段及び第2の搬送手段と、
    離散的な低剛性の透明又は半透明体の搬送経路における第1の搬送手段と第2の搬送手段との間に設置され、上面を有する透明ブリッジと、
    透明ブリッジの一方の側に設置され、散乱光を透明ブリッジに透過させて透明ブリッジの上面に投射する照明手段と、
    透明ブリッジの他方の側に設置され、離散的な低剛性の透明又は半透明体が透明ブリッジの上面に入ると、照明手段から投射し離散的な低剛性の透明又は半透明体を透過した光を受光して画像を形成する撮像手段と、
    前記第1の搬送手段と前記透明ブリッジとの間の間隙、及び前記第2の搬送手段と前記透明ブリッジとの間の間隙に向かって空気を噴射する噴射手段と、
    を含むことを特徴とする画像取得装置。
  2. 透明ブリッジの上面は、第1の搬送手段の上面及び第2の搬送手段の上面よりも低くなり、透明ブリッジは第1の搬送手段及び第2の搬送手段に近くなることを特徴とする請求項1に記載の画像取得装置。
  3. 直流高電圧が印加され、第1の搬送手段と透明ブリッジとの間の間隙の上方に設置される第1の電極板と、
    直流高電圧が印加され、第2の搬送手段と透明ブリッジとの間の間隙の上方に設置される第2の電極板と、
    をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の画像取得装置。
  4. 第1の搬送手段と第2の搬送手段のそれぞれは、
    駆動された時に回転可能な第1のローラ及び第2のローラと、
    第1のローラ及び第2のローラの周りに回動するとともに、第1のローラ及び第2のローラの回転に従って回転し、その上に位置する離散的な低剛性の透明又は半透明体を搬送するリング状ベルトと、
    をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の画像取得装置。
  5. リング状ベルトは、一つの広いリング状ベルト、又は複数の狭いリング状ベルトであることを特徴とする請求項に記載の画像取得装置。
  6. 透明ブリッジの上面は、第1の搬送手段の上面及び第2の搬送手段の上面よりも1〜3mm低くなることを特徴とする請求項2に記載の画像取得装置。
  7. 透明ブリッジと第1の搬送手段との間の間隙、及び透明ブリッジと第2の搬送手段との間の間隙は、離散的な低剛性の透明又は半透明体の厚みの半分よりも小さくなることを特徴とする請求項2に記載の画像取得装置。
  8. 離散的な低剛性の透明又は半透明体は、離散的なプラスチックシートであることを特徴とする請求項1に記載の画像取得装置。
  9. 画像取得装置を製造する方法であって、
    上面を有する透明ブリッジを、離散的な低剛性の透明又は半透明体の搬送経路における第1の搬送手段と第2の搬送手段との間に設置するステップと、
    散乱光を透明ブリッジに透過させて透明ブリッジの上面に投射する照明手段を、透明ブリッジの一方の側に設置するステップと、
    離散的な低剛性の透明又は半透明体が透明ブリッジの上面に入ると照明手段から投射し離散的な低剛性の透明又は半透明体を透過した光を受光して画像を形成する撮像手段を、透明ブリッジの他方の側に設置するステップと、
    前記第1の搬送手段と前記透明ブリッジとの間の間隙、及び前記第2の搬送手段と前記透明ブリッジとの間の間隙に向かって空気を噴射する噴射手段を設置するステップと、
    を含むことを特徴とする方法。
  10. 透明ブリッジの上面は、第1の搬送手段の上面及び第2の搬送手段の上面よりも低くなり、透明ブリッジは第1の搬送手段及び第2の搬送手段に近くなることを特徴とする請求項に記載の方法。
  11. 離散的な低剛性の透明又は半透明体は、離散的なプラスチックシートであることを特徴とする請求項に記載の方法。
  12. 離散的な低剛性の透明又は半透明体の欠陥を検査する装置であって、
    離散的な低剛性の透明又は半透明体を搬送する第1の搬送手段及び第2の搬送手段と、
    離散的な低剛性の透明又は半透明体の搬送経路における第1の搬送手段と第2の搬送手段との間に設置され、上面を有する透明ブリッジと、
    透明ブリッジの一方の側に設置され、散乱光を透明ブリッジに透過させて透明ブリッジの上面に投射する照明手段と、
    透明ブリッジの他方の側に設置され、離散的な低剛性の透明又は半透明体が透明ブリッジの上面に入ると、照明手段から投射し離散的な低剛性の透明又は半透明体を透過した光を受光して画像を形成する撮像手段と、
    形成した画像を処理することにより、離散的な低剛性の透明又は半透明体に欠陥が存在するか否かを判定する画像処理手段と、
    前記第1の搬送手段と前記透明ブリッジとの間の間隙、及び前記第2の搬送手段と前記透明ブリッジとの間の間隙に向かって空気を噴射する噴射手段と、
    を含むことを特徴とする装置。
  13. 透明ブリッジの上面は、第1の搬送手段の上面及び第2の搬送手段の上面よりも低くなり、透明ブリッジは第1の搬送手段及び第2の搬送手段に近くなることを特徴とする請求項12に記載の装置。
  14. 画像処理手段は、さらに、
    形成した画像に対し自動閾値処理を実行することにより、形成した画像に対し二値化処理を行うための閾値を取得する閾値算出モジュールと、
    取得した閾値によって形成した画像に対し二値化処理を実行することにより、二値化した画像を取得する二値化モジュールと、
    二値化した画像には、階調が二値化した画像の背景の階調とは異なる領域が含まれるか否かを検出する検出モジュールと、
    二値化した画像には階調が二値化した画像の背景の階調とは異なる領域が含まれていることを検出した場合、離散的な低剛性の透明又は半透明体に欠陥が存在していると確定し、二値化した画像には階調が二値化した画像の背景の階調とは異なる領域が含まれていないことを検出した場合、離散的な低剛性の透明又は半透明体に欠陥が存在していないと確定する確定モジュールと、
    を含むことを特徴とする請求項12に記載の装置。
  15. 離散的な低剛性の透明又は半透明体に欠陥が存在するか否かに基づいて、離散的な低剛性の透明又は半透明体を処理する実行手段をさらに含むことを特徴とする請求項12に記載の装置。
  16. 実行手段は、さらに、
    離散的な低剛性の透明又は半透明体に欠陥が存在していると確定した場合、離散的な低剛性の透明又は半透明体が一回目に検査されるか否かを判定する判定手段と、
    洗浄動作を実行する洗浄機器と、
    判定手段により離散的な低剛性の透明又は半透明体が一回目に検査されると判定された場合、離散的な低剛性の透明又は半透明体を洗浄機器に移動して洗浄し、判定手段により離散的な低剛性の透明又は半透明体が一回目に検査されることではないと判定された場合、離散的な低剛性の透明又は半透明体を拒絶する移動手段と、
    を含むことを特徴とする請求項15に記載の装置。
  17. 離散的な低剛性の透明又は半透明体は離散的なプラスチックシートであることを特徴とする請求項12に記載の装置。
  18. 判定手段により離散的な低剛性の透明又は半透明体に欠陥が存在していないと判定した場合、離散的な低剛性の透明又は半透明体の表面積に対する欠陥の比率は、10-7より小さくなることを特徴とする請求項1217の何れか一項に記載の装置。
  19. 判定手段により離散的な低剛性の透明又は半透明体に欠陥が存在していないと判定した場合、離散的な低剛性の透明又は半透明体の表面積に対する欠陥の比率は、さらに、10-8より小さくなることを特徴とする請求項18に記載の装置。
  20. 離散的な低剛性の透明又は半透明体の欠陥を検査する方法であって、
    散乱光を透明ブリッジの上面に投射するステップと、
    第1の搬送手段と前記透明ブリッジとの間の間隙、及び第2の搬送手段と前記透明ブリッジとの間の間隙に向かって、噴射手段により空気を噴射するステップと、
    透明ブリッジの上面に位置する離散的な低剛性の透明又は半透明体を透過した光を受光して画像を形成するステップと、
    形成した画像を処理することにより、離散的な低剛性の透明又は半透明体に欠陥が存在するか否かを判定するステップと、
    を含むことを特徴とする方法。
  21. 形成した画像を処理するステップは、さらに、
    形成した画像に対し自動閾値処理を実行することにより、形成した画像に対し二値化処理を行うための閾値を取得するステップと、
    取得した閾値によって形成した画像に対し二値化処理を実行することにより、二値化した画像を取得するステップと、
    二値化した画像には、階調が二値化した画像の背景の階調とは異なる領域が含まれるか否かを検出するステップと、
    二値化した画像には階調が二値化した画像の背景の階調とは異なる領域が含まれていることを検出した場合、離散的な低剛性の透明又は半透明体に欠陥が存在していると確定し、二値化した画像には階調が二値化した画像の背景の階調とは異なる領域が含まれていないことを検出した場合、離散的な低剛性の透明又は半透明体に欠陥が存在していないと確定するステップと、
    を含むことを特徴とする請求項20に記載の方法。
  22. 離散的な低剛性の透明又は半透明体に欠陥が存在していると確定した場合、離散的な低剛性の透明又は半透明体が一回目に検査されるか否かを判定するステップと、
    離散的な低剛性の透明又は半透明体が一回目に検査されると判定した場合、離散的な低剛性の透明又は半透明体を洗浄機器に移動して洗浄するステップと、
    離散的な低剛性の透明又は半透明体が一回目に検査されることではないと判定した場合、離散的な低剛性の透明又は半透明体を拒絶するステップと、
    を含むことを特徴とする請求項20に記載の方法。
  23. 離散的な低剛性の透明又は半透明体は離散的なプラスチックシートであることを特徴とする請求項20に記載の方法。
  24. 離散的な低剛性の透明又は半透明体に欠陥が存在していないと確定した場合、離散的な低剛性の透明又は半透明体の表面積に対する欠陥の比率は、10-7より小さくなることを特徴とする請求項2023の何れか一項に記載の方法。
  25. 離散的な低剛性の透明又は半透明体に欠陥が存在していないと確定した場合、離散的な低剛性の透明又は半透明体の表面積に対する欠陥の比率は、さらに、10-8より小さくなることを特徴とする請求項24に記載の方法。
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IL216903A (en) * 2010-12-10 2016-09-29 Advanced Vision Tech (A V T ) Ltd Conveyor facility with imaging background surface
CN102247952B (zh) * 2011-04-13 2013-09-25 浙江大学 水果自动分级装置
CN102759531A (zh) * 2012-07-25 2012-10-31 深圳市华星光电技术有限公司 自动光学检测装置
JP5984301B2 (ja) * 2012-10-29 2016-09-06 株式会社プレックス 布類検査装置
CN104165895B (zh) * 2014-08-04 2016-05-25 于双悦 工业ct的3d成像系统的成像方法
CN106404803A (zh) * 2016-09-09 2017-02-15 蚌埠中建材信息显示材料有限公司 一种超薄浮法玻璃外观质量检测方法
US10289930B2 (en) * 2017-02-09 2019-05-14 Glasstech, Inc. System and associated for online measurement of the optical characteristics of a glass sheet
CN107388964A (zh) * 2017-07-17 2017-11-24 国网重庆市电力公司电力科学研究院 一种电能表外露塑料件检测方法及系统
KR102296418B1 (ko) * 2020-06-22 2021-09-01 (주)대호테크 비젼 검사장치

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03122556A (ja) * 1989-10-04 1991-05-24 Nikka Densoku Kk 半透明シート状物の検査方法および装置
JPH03221850A (ja) * 1990-01-26 1991-09-30 Nikka Densoku Kk 正反射部と乱反射部の識別方法および装置
JP2678411B2 (ja) * 1991-07-26 1997-11-17 ニッカ電測株式会社 海苔の検査方法および装置
US5280170A (en) * 1992-12-22 1994-01-18 Emhart Glass Machinery Investments Inc. Machine for inspecting the shape of a container having a two dimensional camera for viewing the shadow of the projection of the container
JP3248635B2 (ja) * 1993-01-22 2002-01-21 サンクス株式会社 半透明シート状物体の検査装置
JP3149338B2 (ja) * 1995-06-15 2001-03-26 旭光学工業株式会社 光学部材検査方法
US6020954A (en) * 1997-12-18 2000-02-01 Imagestatistics, Inc. Method and associated apparatus for the standardized grading of gemstones
SG76564A1 (en) * 1998-11-30 2000-11-21 Rahmonic Resources Pte Ltd An apparatus and method to transport inspect and measure objects and surface details at high speeds
JP2000221142A (ja) * 1999-02-03 2000-08-11 Dac Engineering Kk 品質検査装置
JP4132046B2 (ja) 2001-07-05 2008-08-13 日本板硝子株式会社 シート状透明体の欠点を検査する装置
US7236847B2 (en) * 2002-01-16 2007-06-26 Kla-Tencor Technologies Corp. Systems and methods for closed loop defect reduction
JP2004245695A (ja) * 2003-02-13 2004-09-02 Ademakku:Kk 画像処理方法と異物検出装置
JP4789399B2 (ja) * 2003-05-01 2011-10-12 オリンパス株式会社 浮上ユニット
EP1765704A4 (en) * 2004-06-18 2009-03-04 Roye Weeks SYSTEM FOR HANDLING SURFACES
JP4628824B2 (ja) 2005-03-10 2011-02-09 富士フイルム株式会社 フイルムの欠陥検査装置及びフイルムの製造方法
JP3793217B1 (ja) * 2005-03-22 2006-07-05 森永製菓株式会社 画像解析検査用コンベヤ、製品検査用ベルト及び画像解析検査の検査精度向上方法
JP4951271B2 (ja) * 2005-05-12 2012-06-13 オリンパス株式会社 基板検査装置
TWI339727B (en) * 2005-06-03 2011-04-01 Maekawa Seisakusho Kk Apparatus for detecting contaminants in food
JP2007045618A (ja) * 2005-08-12 2007-02-22 Seiren Co Ltd 静電吸着板を用いた搬送装置
JP2007248291A (ja) * 2006-03-16 2007-09-27 Olympus Corp 基板検査装置
JP2007309779A (ja) * 2006-05-18 2007-11-29 Web Tec Kk 印刷物の品質検査装置及びその品質検査方法
CN1908638A (zh) * 2006-08-24 2007-02-07 上海交通大学 玻璃缺陷的光学检测装置

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