JP5155082B2 - 円筒体の表面検査装置 - Google Patents
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Description
円筒体の周面端部に転がり接触し、かつ円筒体の位置を規定する基準ローラと、
円筒体の周面端部に凸状欠陥が形成されている場合に、その凸状欠陥に前記基準ローラが接触して、円筒体が乗り上がることにより、円筒体が径方向に変位する際の変位量を検出する変位量検出手段と、
前記変位量検出手段からの情報に基づいて、円筒体における凸状欠陥の有無を検出する凸状欠陥検出手段と、を備えたことを特徴とする円筒体の表面検査装置。
前記変位量検出手段からの情報に基づいて、円筒体の形状を検査する形状検査手段が設けられる前項1に記載の円筒体の表面検査装置。
前記回転量検出手段および前記凸状欠陥検出手段からの情報に基づいて、円筒体の周面における凸状欠陥が存在する位置を特定する欠陥位置特定手段と、を備える前項1〜12のいずれか1項に記載の円筒体の表面検査装置。
円筒体の周面端部に凸状欠陥が形成されている場合に、その凸状欠陥に前記基準ローラが接触して、円筒体が乗り上がることにより、円筒体が径方向に変位する際の変位量を検出する変位量検出手段と、
前記変位量検出手段からの情報に基づいて、円筒体における凸状欠陥の有無を検出する凸状欠陥検出手段と、を備えたことを特徴とする円筒体の凸状欠陥検出装置。
円筒体の周面端部に凸状欠陥が形成されている場合に、その凸状欠陥に前記基準ローラが接触して、円筒体が乗り上がることにより、円筒体が径方向に変位する際の変位量を前記変位量検出手段によって検出し、その検出情報に基づいて、円筒体における凸状欠陥の有無を検出する凸状欠陥検出手段を備えたことを特徴とする円筒体の形状検査装置。
円筒体の周面端部に転がり接触し、かつ円筒体の位置を規定する基準ローラを設置しておき、
円筒体の周面端部に凸状欠陥が形成されている場合に、その凸状欠陥に前記基準ローラが接触して、円筒体が乗り上がることにより、円筒体が径方向に変位する際の変位量に基づいて、円筒体における凸状欠陥の有無を検出するようにしたことを特徴とする円筒体の表面検査方法。
軸心回りに回転する円筒体の周面端部に転がり接触し、かつ円筒体の位置を規定する基準ローラを設置しておき、
円筒体の周面端部に凸状欠陥が形成されている場合に、その凸状欠陥に前記基準ローラが接触して、円筒体が乗り上がることにより、円筒体が径方向に変位する際の変位量に基づいて、円筒体における凸状欠陥の有無を検出するようにしたことを特徴とする円筒体の凸状欠陥検出方法。
円筒体の周面端部に凸状欠陥が形成されている場合に、その凸状欠陥に前記基準ローラが接触して、円筒体が乗り上がることにより、円筒体が径方向に変位する際の変位量を前記変位量量手段によって検出し、その検出情報に基づいて、円筒体における凸状欠陥の有無を検出するようにしたことを特徴とする円筒体の形状検査方法。
43…計測光
51…基準ローラ
W…円筒体
W1…内周面
W5…凸状欠陥
Claims (16)
- 円筒体を軸心回りに回転させつつ、表面状態を検査するようにした円筒体の表面検査装置であって、
円筒体の周面端部に転がり接触し、かつ円筒体の位置を規定する基準ローラと、
円筒体の周面端部に凸状欠陥が形成されている場合に、その凸状欠陥に前記基準ローラが接触して、円筒体が乗り上がることにより、円筒体が径方向に変位する際の変位量を検出する変位量検出手段と、
前記変位量検出手段からの情報に基づいて、円筒体における凸状欠陥の有無を検出する凸状欠陥検出手段と、を備え、
前記変位量検出手段が、円筒体における軸心方向が異なる複数の位置において、円筒体を回転させつつ、円筒体の径方向の変位量をそれぞれ検出するよう構成され、
前記変位量検出手段からの情報に基づいて、円筒体の形状を検査する形状検査手段が設けられ、
前記凸状欠陥検出手段として機能するコントローラと、凸状欠陥時の変位動作による変動パターン情報である対比情報を多数保持する記憶装置とが設けられ、
前記コントローラは、前記変位量検出手段からの情報に基づいて、実際に得られた変位動作による変動パターンを、前記対比情報と照合させて、類似する対比情報が存在する場合には 当該変位動作が凸状欠陥によるものと判断するようにしたことを特徴とする円筒体の表面検査装置。 - 前記変位量検出手段は、円筒体に対してその外側から計測光を照射し、その計測光のうち、円筒体によって遮られずに透過した光を検出することによって、変位量を検出するようにした非接触式の変位検出器によって構成される請求項1に記載の円筒体の表面検査装置。
- 前記変位量検出手段は、円筒体の外周面に接触する接触子を有し、その接触子が円筒体の径方向に変位する際に、その変位量を検出する接触式の変位検出器によって構成される請求項1に記載の円筒体の表面検査装置。
- 表面状態の検査と、凸状欠陥の有無の検査とが並行して行われる請求項1〜3のいずれか1項に記載の円筒体の表面検査装置。
- 前記基準ローラは、円筒体の内周面に転がり接触するものである請求項1〜4のいずれか1項に記載の円筒体の表面検査装置。
- 前記基準ローラの外周面が、円筒体の周面端部に倣って形成される請求項1〜5のいずれか1項に記載の円筒体の表面検査装置。
- 円筒体が、感光ドラム用基体によって構成される請求項1〜6いずれか1項に記載の円筒体の表面検査装置。
- 凸状欠陥が、円筒体の周面端部に形成されるバリによって構成される請求項1〜7のいずれか1項に記載の円筒体の表面検査装置。
- 前記形状検査手段による円筒体の形状検査と、凸状欠陥の有無の検査とが並行して行われる請求項1〜8のいずれか1項に記載の円筒体の表面検査装置。
- 円筒体の端面と周面との間に、C面取り加工による面取り部が形成される請求項1〜9のいずれか1項に記載の円筒体の表面検査装置。
- 円筒体の端面が、軸心に対し垂直な垂直面に形成される請求項1〜10のいずれか1項に記載の円筒体の表面検査装置。
- 円筒体の回転量を検出する回転量検出手段と、
前記回転量検出手段および前記凸状欠陥検出手段からの情報に基づいて、円筒体の周面における凸状欠陥が存在する位置を特定する欠陥位置特定手段と、を備える請求項1〜11のいずれか1項に記載の円筒体の表面検査装置。 - 前記変位量検出手段による検出位置は、前記基準ローラに対応する位置に設定される請求項1〜12のいずれか1項に記載の円筒体の表面検査装置。
- 前記基準ローラを、円筒体の周面に押圧付勢する付勢手段が設けられる請求項1〜13のいずれか1項に記載の円筒体の表面検査装置。
- 軸心回りに回転する円筒体の周面端部に転がり接触し、かつ円筒体の位置を規定する基準ローラと、
円筒体の周面端部に凸状欠陥が形成されている場合に、その凸状欠陥に前記基準ローラが接触して、円筒体が乗り上がることにより、円筒体が径方向に変位する際の変位量を検出する変位量検出手段と、
前記変位量検出手段からの情報に基づいて、円筒体における凸状欠陥の有無を検出する凸状欠陥検出手段と、を備え、
前記変位量検出手段が、円筒体における軸心方向が異なる複数の位置において、円筒体を回転させつつ、円筒体の径方向の変位量をそれぞれ検出するよう構成され、
前記変位量検出手段からの情報に基づいて、円筒体の形状を検査する形状検査手段が設けられ、
前記凸状欠陥検出手段として機能するコントローラと、凸状欠陥時の変位動作による変動パターン情報である対比情報を多数保持する記憶装置とが設けられ、
前記コントローラは、前記変位量検出手段からの情報に基づいて、実際に得られた変位動作による変動パターンを、前記対比情報と照合させて、類似する対比情報が存在する場合には 当該変位動作が凸状欠陥によるものと判断するようにしたことを特徴とする円筒体の凸状欠陥検出装置。 - 円筒体の周面端部に転がり接触し、かつ円筒体の位置を規定する基準ローラと、円筒体における軸心方向が異なる複数の位置において、円筒体を回転させつつ、円筒体の径方向の変位量をそれぞれ検出する変位量検出手段と、を備え、前記変位量検出手段からの情報に基づいて、円筒体の形状を検査するようにした円筒体の形状検査方法であって、
円筒体の周面端部に凸状欠陥が形成されている場合に、その凸状欠陥に前記基準ローラが接触して、円筒体が乗り上がることにより、円筒体が径方向に変位する際の変位量を前記変位量検出手段によって検出し、その検出情報に基づいて、円筒体における凸状欠陥の有無を検出するものとし、
凸状欠陥時の変位動作による変動パターン情報である対比情報を多数保持しておいて、前記変位量検出手段からの情報に基づいて、実際に得られた変位動作による変動パターンを、前記対比情報と照合させて、類似する対比情報が存在する場合には 当該変位動作が凸状欠陥によるものと判断するようにしたことを特徴とする円筒体の形状検査方法。
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