KR100561150B1 - 검사 단자를 포함한 화상 표시 장치 - Google Patents

검사 단자를 포함한 화상 표시 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR100561150B1
KR100561150B1 KR1020030075079A KR20030075079A KR100561150B1 KR 100561150 B1 KR100561150 B1 KR 100561150B1 KR 1020030075079 A KR1020030075079 A KR 1020030075079A KR 20030075079 A KR20030075079 A KR 20030075079A KR 100561150 B1 KR100561150 B1 KR 100561150B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
terminal
data
terminals
inspection
liquid crystal
Prior art date
Application number
KR1020030075079A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20040079820A (ko
Inventor
노지리이사오
무라이히로유끼
Original Assignee
미쓰비시덴키 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 filed Critical 미쓰비시덴키 가부시키가이샤
Publication of KR20040079820A publication Critical patent/KR20040079820A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100561150B1 publication Critical patent/KR100561150B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
    • G09G3/3611—Control of matrices with row and column drivers
    • G09G3/3648—Control of matrices with row and column drivers using an active matrix
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
    • G09G3/3611—Control of matrices with row and column drivers
    • G09G3/3685—Details of drivers for data electrodes
    • G09G3/3688—Details of drivers for data electrodes suitable for active matrices only
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136254—Checking; Testing
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2203/00—Function characteristic
    • G02F2203/69—Arrangements or methods for testing or calibrating a device
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2310/00—Command of the display device
    • G09G2310/02—Addressing, scanning or driving the display screen or processing steps related thereto
    • G09G2310/0264—Details of driving circuits
    • G09G2310/0297—Special arrangements with multiplexing or demultiplexing of display data in the drivers for data electrodes, in a pre-processing circuitry delivering display data to said drivers or in the matrix panel, e.g. multiplexing plural data signals to one D/A converter or demultiplexing the D/A converter output to multiple columns
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/12—Test circuits or failure detection circuits included in a display system, as permanent part thereof

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)

Abstract

본 발명의 LCD 모듈은, 검사 시에 각 제1 N형 TFT(26) 및 디멀티플렉서(20)를 통하여 각 홀수번의 조의 데이터선(6)에 홀수 데이터 신호(DO)를 제공하기 위한 홀수 데이터 단자(36)와, 검사 시에 각 제2 N형 TFT(27) 및 디멀티플렉서(20)를 통하여 각 짝수번의 조의 데이터선(6)에 짝수 데이터 신호(DE)를 제공하기 위한 짝수 데이터 단자(35)와, 검사 시에 제1, 제2 N형 TFT(26, 27)의 게이트에 제어 신호 (φC)를 제공하기 위한 제어 단자(34)를 포함한다. 따라서, 검사 시에 사용하는 단자수가 적어져 검사 장비의 저비용화를 도모할 수 있다.
데이터선, 제어 신호, 제어 단자, 단자수, LCD 모듈, 디멀티플렉서

Description

검사 단자를 포함한 화상 표시 장치{IMAGE DISPLAY DEVICE HAVING INSPECTION TERMINAL}
도 1은 본 발명의 실시예 1에 따른 컬러 액정 화상 장치의 구성을 도시하는 블록도.
도 2는 도 1에 도시한 액정 셀에 대응하여 설치되는 액정 구동 회로의 구성을 도시하는 회로도.
도 3은 도 1에 도시한 컬러 액정 표시 장치의 조립 부품인 LCD 모듈의 구성을 도시하는 회로 블록도.
도 4는 도 3에 도시한 LCD 모듈의 검사 방법을 설명하기 위한 타임차트.
도 5는 실시예 1의 변경예를 도시하는 회로 블록도.
도 6은 실시예 1의 다른 변경예를 도시하는 회로 블록도.
도 7은 본 발명의 실시예 2에 따른 LCD 모듈의 검사 방법을 설명하기 위한 도면.
도 8은 본 발명의 실시예 3에 따른 LCD 모듈의 검사 방법을 설명하기 위한 도면.
도 9는 도 8에 도시한 LCD 모듈의 구성을 도시하는 회로 블록도.
도 10은 도 8에 도시한 검사용 단자 전환 회로의 구성을 도시하는 회로 블록 도.
도 11은 본 발명의 실시예 4에 따른 LCD 모듈의 구성을 도시하는 회로 블록도.
도 12는 도 11에 도시한 LCD 모듈에의 반도체 칩의 실장 방법을 설명하기 위한 단면도.
도 13은 실시예 4의 변경예를 도시하는 회로 블록도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
1 : 액정 패널
2 : 액정 셀
3 : 화소
4 : 주사선
5 : 공통 전위선
6 : 데이터선
7 : 수직 주사 회로
8 : 수평 주사 회로
10 : 액정 구동 회로
11, 21∼23, 26, 27 : N형 TFT
12 : 캐패시터
15, 40, 60 : 유리 기판
20 : 1:3 디멀티플렉서
25, 64∼66 : 검사용 단자 전환 회로
30 : 데이터 단자
31, 51, 71 : R 단자
32, 52, 72 : G 단자
33, 53, 73 : B 단자
34, 54∼56, 74∼76 : 제어 단자
35, 57, 77 : 짝수 데이터 단자
36, 58, 78 : 홀수 데이터 단자
41∼43, 61∼63 : LCD 모듈
61a∼63a : 외부 단자부
80 : COG 실장 영역
81∼83 : 패드
90 : 반도체 칩
91 : 범프 전극
92, 94 : 절연막
93 : 금속 배선
95 : 이방성 도전 수지
본 발명은 화상 표시 장치에 관한 것으로, 특히, 절연 기판 상에 형성되어, 출하 전에 검사되는 화상 표시 장치에 관한 것이다.
최근, 액정 패널의 고해상도화가 진행되어, LCD(liquid crystal display) 모듈과 FPC(flexible printed circuit board)를 접속하기 위한 단자의 수가 증가하고 있다. 또, LCD 모듈의 소형화가 진행되어, 단자의 피치가 좁다. 액정 패널의 검사는 각 단자에 프로브를 적용하여 행하는데 단자 수의 증가 및 단자 피치의 협소화에 수반하여 검사 장치의 비용 상승이 발생하고 있다.
검사 장치의 비용 절감을 도모하는 방법으로서는 액정 패널의 홀수번의 데이터선을 1개의 검사 단자에 접속함과 함께, 짝수번의 데이터선을 또 다른 하나의 검사 단자에 접속하여, 2개의 검사 단자를 이용하여 검사한 후에 2개의 단자를 제거하는 방법이 있다(예, 일본 특개평5-5897호 공보).
이러한 2개의 검사 단자를 복수의 액정 패널에 공통으로 설치하면, 검사 장치의 비용을 더욱 절감할 수 있을 것으로 생각된다. 그러나, 단순히 복수의 액정 패널의 홀수번의 데이터선을 1개의 검사 단자에 접속함과 함께 짝수번의 데이터선을 또 다른 1개의 검사 단자에 접속하는 것만으로는 각 액정 패널을 개별적으로 정확하게 검사할 수는 없다.
그 때문에, 본 발명의 주된 목적은, 검사를 저비용으로 정확하게 행하는 것이 가능한 화상 표시 장치를 제공하는 것이다.
본 발명에 따른 화상 표시 장치에서는, 복수 행 복수 열로 배치된 복수의 화소 표시 회로와, 각각 복수 행에 대응하여 설치된 복수의 주사선과, 각각 복수 열에 대응하여 설치된 복수의 데이터선을 포함하는 화상 표시 패널과, 이들의 제1 전극이 각각 복수의 데이터선에 접속되어, 화상 표시 패널의 통상 동작 시에 비도통이 되는 복수의 트랜지스터와, 복수의 트랜지스터 중의 각 홀수번의 트랜지스터의 제2 전극에 접속된 제1 검사 단자와, 복수의 트랜지스터 중의 각 짝수번의 트랜지스터의 제2 전극에 접속된 제2 검사 단자와, 복수의 트랜지스터의 게이트에 접속되어, 검사 시에 복수의 트랜지스터를 제어하기 위한 제어 신호를 받는 제1 제어 단자가 설치된다. 따라서, 제1 검사 단자, 제2 검사 단자 및 제1 제어 단자를 검사 장치에 접속하면 검사할 수 있기 때문에, 검사에 사용하는 단자의 수가 적어지게 되어, 검사 장치의 비용 절감을 도모할 수 있다. 또한, 복수의 화상 표시 장치의 복수의 제1 검사 단자를 상호 접속함과 함께 복수의 제2 검사 단자를 상호 접속한 경우라도, 화상 표시 장치를 1개씩 정확하게 검사할 수 있다.
<발명의 실시예>
[실시예 1]
도 1은, 본 발명의 실시예 1에 따른 컬러 액정 표시 장치의 구성을 도시하는 블록도이다. 도 1에 있어서, 이 컬러 액정 표시 장치는 액정 패널(1), 수직 주사 회로(7) 및 수평 주사 회로(8)를 포함하고, 예를 들면 휴대 전화기에 설치된다.
액정 패널(1)은, 복수 행 복수 열로 배치된 복수의 액정 셀(2)과, 각각 복수 행에 대응하여 설치된 복수의 주사선(4)과, 각각 복수 행에 대응하여 설치된 복수 의 공통 전위선(5)과, 각각 복수 열에 대응하여 설치된 복수의 데이터선(6)을 포함한다. 복수의 공통 전위선(5)은 상호 접속되어 있다.
액정 셀(2)은 각 행에서 3개씩 미리 그룹화되어 있다. 각 그룹의 3개의 액정 셀(2)에는 각각 R, G, B의 컬러 필터가 설치되어 있다. 각 그룹의 3개의 액정 셀(2)은 1개의 화소(3)를 구성하고 있다.
각 액정 셀(2)에는 도 2에 도시한 바와 같이, 액정 구동 회로(10)가 설치되어 있다. 액정 구동 회로(10)는 N형 TFT(박막 트랜지스터)(11) 및 캐패시터(12)를 포함한다. N형 TFT(11)은 데이터선(6)과 액정 셀(2)의 한쪽 전극(2a)의 사이에 접속되고, 그 게이트는 주사선(4)에 접속된다. 캐패시터(12)는 액정 셀(2)의 한쪽 전극(2a)과 공통 전위선(5)의 사이에 접속된다. 공통 전위선(5)에는 공통 전위 VCOM이 주어진다. 액정 셀(2)의 다른 쪽 전극은 대향 전극에 접속된다. 대향 전극에는 일반적으로는 공통 전위 VCOM과 동 전위가 주어진다.
도 1로 되돌아가, 수직 주사 회로(7)는, 화상 신호에 따라서, 복수의 주사선(4)을 소정 시간 씩 순차 선택하고, 선택한 주사선(4)을 선택 레벨의 「H」 레벨로 한다. 주사선(4)이 선택 레벨의 「H」 레벨이 되면, 도 2의 N형 TFT(11)가 도통하여, 그 주사선(4)에 대응하는 각 액정 셀(2)의 한쪽 전극(2a)과 그 액정 셀(2)에 대응하는 데이터선(6)이 결합된다.
수평 주사 회로(8)는, 화상 신호에 따라, 수직 주사 회로(7)에 의해서 1개의 주사선(4)이 선택되어 있는 사이에, 각 데이터선(6)에 계조 전위 VG를 제공하면서 공통 전위선(5)에 공통 전위 VCOM을 제공한다. 액정 셀(2)의 광투과율은 그 전극 간 전압에 따라 변화한다.
수직 주사 회로(7) 및 수평 주사 회로(8)에 의해서 액정 패널(1)의 전 액정 셀(2)이 주사되면, 액정 패널(1)에 1개의 컬러 화상이 표시된다.
도 3은, 도 1 및 도 2에 도시한 컬러 액정 표시 장치의 조립 부품인 LCD 모듈의 구성을 도시하는 회로 블록도이다. 도 3에 있어서, 이 LCD 모듈은 유리 기판(15)과, 그 표면에 형성된 액정 패널(1), 수직 주사 회로(7), 1:3 디멀티플렉서(20), 검사용 단자 전환 회로(25), 복수(예를 들면 240)의 데이터 단자(30.1∼30.4, …), R 단자(31), G 단자(32), B 단자(33), 제어 단자(34), 짝수 데이터 단자(35), 및 홀수 데이터 단자(36)를 포함한다.
단자(30.1∼30.4, …, 31∼36)는 유리 기판(15)의 1 변에 따라서 소정의 피치로 배치된다. 검사 시에는 단자(31∼36) 각각이 프로브를 통하여 검사 장치에 접속된다. 검사 후에는 단자(30.1∼30.4, …, 31∼36)가 FPC에 접속된다. 데이터 단자(30.1∼30.4, … ) 각각에는 FPC로부터 계조 전위 VG가 주어진다. R 단자(31)에는 R용의 데이터선(6)을 선택하기 위한 신호 φR이 주어진다. G 단자(32)에는 G용의 데이터선(6)을 선택하기 위한 신호 φG가 주어진다. B 단자(33)에는 B용의 데이터선(6)을 선택하기 위한 신호 φB가 주어진다. 제어 단자(34)에는 제어 신호 φC가 주어진다. 짝수 데이터 단자(35)에는 짝수 데이터 신호 DE가 주어진다. 홀수 데이터 단자(36)에는 홀수 데이터 신호 DO가 주어진다.
1:3 디멀티플렉서(20)는 액정 패널(1)의 240조의 R용 데이터선(6), G용 데이터선(6) 및 B용 데이터선(6)에 대응하여 설치된 240조의 N형 TFT(21∼23)을 포함한 다. N형 TFT(21∼23)은 각각 대응하는 조의 R용 데이터선(6), G용 데이터선(6) 및 B용 데이터선(6)의 한쪽 끝과 대응하는 데이터 단자(예를 들면 30.1)의 사이에 접속되고, 게이트는 각각 R 단자(31), G 단자(32) 및 B 단자(33)에 접속된다.
신호 φR, φG, φB 중의 신호 φR이 「H」 레벨이 되면, 각 N형 TFT(21)이 도통하여, 각 R용 데이터선(6)과 대응하는 데이터 단자가 결합된다. 신호 φR, φG, φB 중의 신호 φG가 「H」 레벨이 되면, 각 N형 TFT(22)이 도통하여, 각 G용 데이터선(6)과 대응하는 데이터 단자가 결합된다. 신호 φR, φG, φB 중의 신호 φB가 「H」 레벨이 되면, 각 N형 TFT(23)이 도통하여, 각 B용 데이터선(6)과 대응하는 데이터 단자가 결합된다.
검사용 단자 전환 회로(25)는 240조의 R용 데이터선(6), G용 데이터선(6) 및 B용 데이터선(6) 중의 각 홀수번의 조에 대응하여 설치된 N형 TFT(26)과, 각 짝수번의 조에 대응하여 설치된 N형 TFT(27)을 포함한다. 각 N형 TFT(26)은 대응하는 N형 TFT(21∼23)의 드레인과 홀수 데이터선(36)의 사이에 접속되고, 그 게이트는 제어 단자(34)에 접속된다. 각 N형 TFT(27)은 대응하는 N형 TFT(21∼23)의 드레인과 짝수 데이터 단자(35)의 사이에 접속되고, 그 게이트는 제어 단자(34)에 접속된다.
제어 신호 φC가 「H」 레벨이 되면, N형 TFT(26, 27)이 도통하여, 홀수번째의 조의 N형 TFT(21∼23)의 드레인과 홀수 데이터 단자(36)가 접속됨과 함께, 짝수번째의 조의 N형 TFT(21∼23)의 드레인과 짝수 데이터 단자(35)가 접속된다.
도 4는 도 3에 도시한 LCD 모듈의 검사 방법을 도시하는 타임차트이다. 검 사 시에는 단자(31∼36) 각각은 프로브를 통하여 검사 장치에 접속된다. 어떤 시각 t0에 있어서 복수의 주사선(4) 중의 어느 하나의 주사선(4)이 선택되고, 그 주사선(4)의 전위 VH가 「H」 레벨로 상승된다. 이에 따라, 그 주사선(4)에 대응하는 각 N형 TFT(11)이 도통하여, 각 데이터선(6)이 도통한 N형 TFT(11)을 통하여 액정 셀(2)에 접속된다. 또한 시각 t0에 있어서 제어 신호 φC가 「H」 레벨로 상승하여 N형 TFT(26, 27)이 도통하여, 홀수번의 조의 N형 TFT(21∼23)의 드레인이 N형 TFT(26)을 통하여 홀수 데이터 단자(36)에 접속됨과 함께, 짝수번의 조의 N형 TFT(21∼23)의 드레인이 N형 TFT(27)을 통하여 짝수 데이터 단자(35)에 접속된다.
계속해서 시각 t1에 있어서 신호 φR이 「H」 레벨로 상승하여 각 N형 TFT(21)이 도통하여, 각 홀수번의 R용 데이터선(6)이 N형 TFT(21, 26)을 통하여 홀수 데이터 단자(36)에 접속됨과 함께, 각 짝수번의 R용 데이터선(6)이 N형 TFT(21, 27)을 통하여 짝수 데이터 단자(35)에 접속된다. 또한 시각 t1에 있어서 홀수 데이터 신호 DO가 「L」 레벨로 하강됨과 함께 짝수 데이터 신호 DE가 「H」 레벨로 상승되고, 각 홀수번의 R용 데이터선(6)이 「L」 레벨이 됨과 함께 각 짝수번의 R용 데이터선(6)이 「H」 레벨이 된다. 시각 t1으로부터 소정 시간 경과 후에 신호 φR이 「L」 레벨로 하강되어 각 N형 TFT(21)이 비도통이 되어, 선택된 주사선(4)에 대응하는 각 R용 액정 셀(2)에의 데이터 신호의 기입이 종료한다.
다음에, 시각 t2에 있어서 신호 φG가 「H」 레벨로 상승되어 각 N형 TFT(22)이 도통하여, 각 홀수번의 G용 데이터선(6)이 N형 TFT(22, 26)을 통하여 홀수 데이터 단자(36)에 접속됨과 함께, 각 짝수번의 G용 데이터선(6)이 N형 TFT(22, 27)을 통하여 짝수 데이터 단자(35)에 접속된다. 또한 시각 t2에 있어서 홀수 데이터 신호 DO가 「H」 레벨로 상승됨과 함께 짝수 데이터 신호 DE가 「L」 레벨로 하강되어, 각 홀수번의 G용 데이터선(6)이 「H」 레벨이 됨과 함께 각 짝수번의 G용 데이터선(6)이 「L」 레벨이 된다. 시각 t2으로부터 소정 시간 경과 후에 신호 φG가 「L」 레벨로 하강되어 각 N형 TFT(22)이 비도통이 되어, 선택된 주사선(4)에 대응하는 각 G용 액정 셀(2)에의 데이터 신호의 기입이 종료한다.
계속해서 시각 t3에 있어서 신호 φB가 「H」 레벨로 상승하여 각 N형 TFT(23)이 도통하여, 각 홀수번의 B용 데이터선(6)이 N형 TFT(23, 26)을 통하여 홀수 데이터 단자(36)에 접속됨과 함께, 각 짝수번의 B용 데이터선(6)이 N형 TFT(23, 27)을 통하여 짝수 데이터 단자(35)에 접속된다. 또한 시각 t3에 있어서 홀수 데이터 신호 DO가 「L」 레벨로 하강됨과 함께 짝수 데이터 신호 DE가 「H」 레벨로 상승되고, 각 홀수번의 B용 데이터선(6)이 「L」 레벨이 됨과 함께 각 짝수번의 B용 데이터선(6)이 「H」 레벨이 된다. 시각 t3으로부터 소정 시간 경과 후에 신호 φB가 「L」 레벨로 하강되어 각 N형 TFT(23)이 비도통이 되어, 선택된 주사선(4)에 대응하는 각 B용 액정 셀(2)에의 데이터 신호의 기입이 종료한다. 다음에, 시각 t4에 있어서 주사선(4)의 전위 VH가 「L」 레벨로 하강되어, 1개의 주사선(4)에 대응하는 각 액정 셀(2)에의 데이터 신호의 기입이 종료한다.
이상의 동작을 각 주사선(4)마다 행함으로써, 액정 패널(1)의 전 액정 셀(2)에 「H」 레벨 또는 「L」 레벨의 데이터 신호를 기입할 수 있다. 액정 패널(1)이 정상인가 아닌가는 예를 들면 각 액정 셀(2)의 광투과율을 검출함으로써 판정된다. 예를 들면 인접하는 2개의 데이터선(6)이 단락되어 있는 경우에는, 이들의 데이터선(6)에 대응하는 각 액정 셀(2)에는, 「H」 레벨과 「L」 레벨의 사이의 중간 레벨의 전위가 기입되어, 그 액정 셀(2)은 정상적인 데이터선(6)에 대응하는 액정 셀(2)과 상이한 광투과율을 나타낸다. 따라서, 액정 패널(1)이 정상이 아니라는 것을 용이하게 판정할 수 있다.
검사에 있어서 정상이라고 판정된 LCD 모듈의 단자(30.1∼30.4, … 31∼36)는 FPC에 접속된다. 단자(34∼36) 각각은 FPC에 의해, N형 TFT(26, 27)을 비도통으로 하는 전위(예를 들면 접지 전위 GND)로 고정된다. 계조 전위 VG의 기입은 도 4에서 도시한 데이터 신호 DE, DO의 기입과 마찬가지로 행해진다. 즉, 도 4의 시각 t1∼t2의 사이는 데이터 단자(30.1∼30.4, … ) 각각에 R용 계조 전위 VG가 주어지고, R용 액정 셀(2) 각각에 R용 계조 전위 VG가 기입된다. 시각 t2∼t3의 사이는 데이터 단자(30.1∼30.4, … ) 각각에 G용 계조 전위 VG가 주어지고, G용 액정 셀(2) 각각에 G용 계조 전위 VG가 기입된다. 시각 t3∼t4의 사이는, 데이터 단자(30.1∼31.4, …) 각각에 B용 계조 전위 VG가 주어지고, B용 액정 셀(2) 각각에 B용 계조 전위 VG가 기입된다. 이와 같이 하여, 액정 패널(1)의 각 액정 셀(2)에 계조 전위 VG가 기입되어, 액정 패널(1)의 하나의 컬러 화상이 표시된다.
이 실시예 1에서는, 각 홀수번의 조의 N형 TFT(21∼23)의 드레인과 홀수 데이터 단자(36)의 사이에 N형 TFT(26)을 접속하고, 각 짝수번의 조의 N형 TFT(21∼23)의 드레인과 짝수 데이터 단자(35)의 사이에 N형 TFT(27)을 접속하고, N형 TFT(26, 27)의 게이트를 제어 단자(34)에 접속한다. 검사 시에는 N형 TFT(26, 27)을 도통시켜 단자(35, 36)에 검사용의 데이터 신호 DE, DO를 제공하고, 통상 동작 시에는 N형 TFT(26, 27)을 비도통 상태로 고정한다. 따라서, 검사 시에 필요한 단자의 수가 적게 되어, 검사 장치의 저비용화를 도모할 수 있다. 또한, 복수의 LCD 모듈의 복수의 홀수 데이터 단자(36)를 상호 접속함과 함께 복수의 짝수 데이터 단자(35)를 상호 접속한 경우라도, 각 LCD 모듈용의 제어 신호 φC의 레벨을 제어하는 것에 의해, 각 LCD 모듈을 개별적으로 정확하게 검사할 수 있다.
또, 액정 패널(1)은 유리 기판(15) 표면의 소정 영역에 주사선(4), 데이터선(6), N형 TFT(11) 및 캐패시터(12)를 포함하는 어레이 기판을 형성한 후에, 그 어레이 기판의 표면에 액정을 개재하여 대향 기판을 배치함으로써 형성된다. 실시예 1에서는, 액정 패널(1)의 조립 후에 액정 셀(2)의 광투과율을 검사하도록 하였지만, 액정 패널(1)의 조립 전 즉 대향 기판을 배치하기 전의 상태에서, 캐패시터(12)의 전하량을 모니터링 함으로써 어레이 기판을 검사해도 된다.
또한, 이 실시예 1에서는, 검사용 단자 전환 회로(25)를 N형 TFT으로 구성하였지만, P형 TFT으로 구성해도 되고, N형 TFT 및 P형 TFT의 병렬 접속체 즉 트랜스퍼 게이트로 접속해도 된다.
또한, 도 5에 도시한 바와 같이, 검사 시에 사용하는 단자(31∼36) 각각의 사이즈를 데이터 단자(30.1∼30.4, … ) 각각의 사이즈보다 크게 해도 된다. 이에 따라, 프로브의 위치 정밀도를 저하시킬 수 있고, 검사 장치의 비용절감을 도모할 수 있다.
또한, 도 6에 도시한 바와 같이, 검사 시에 사용하는 단자(31∼36)의 피치를 데이터 단자(30.1∼30.4, … )의 피치보다 크게 해도 된다. 이 경우에도, 프로브의 위치 정밀도를 저하시킬 수 있어, 검사 장치의 비용 절감을 도모할 수 있다. 또한, 도 5의 변경예와 도 6의 변경예를 조합하여, 검사 시에 사용하는 단자(31∼36)의 크기 및 피치를 데이터 단자(30.1∼30.4, …)의 크기 및 피치보다도 크게 하면, 검사 장치의 한 층의 비용 절감을 도모할 수 있다.
[실시예 2]
도 7은 본 발명의 실시예 2에 의해 LCD 모듈의 검사 방법을 설명하기 위한 도면이다. 도 7에 있어서, 이 검사 방법에서는 유리 기판(40)의 표면에 복수(도 7에서는 3개)의 LCD 모듈(41∼43)이 형성된다. LCD 모듈(41∼43) 각각은 도 3에 도시한 것과 동일하다. LCD 모듈(41∼43) 각각의 검사 시에 사용되는 단자(31∼36)는 유리 기판(40)의 1 변에 대향하여 배치된다. 또한, 유리 기판(40)의 1 변을 따라서, R 단자(51), G 단자(52), B 단자(53), 제어 단자(54∼56), 짝수 데이터 단자(57), 및 홀수 데이터 단자(58)가 배치된다.
LCD 모듈(41∼43)의 R 단자(31)는 모두 R 단자(51)에 접속된다. LCD 모듈(41∼43)의 G 단자(32)는 모두 G 단자(52)에 접속된다. LCD 모듈(41∼43)의 B 단자(33)는 모두 B 단자(53)에 접속된다. LCD 모듈(41∼43)의 제어 단자(34)는 모두 제어 단자(54∼56)에 접속된다. LCD 모듈(41∼43)의 짝수 데이터 단자(35)는 모두 짝수 데이터 단자(57)에 접속된다. LCD 모듈(41∼43)의 홀수 데이터 단자(36)는 모두 홀수 데이터 단자(58)에 접속된다.
검사 시에는 단자(51∼58) 각각이 프로브를 통하여 검사 장치에 접속된다. 단자(51∼58)에는 각각 신호 φR, φG, φB, φC1, φC2, φC3, DE, DO가 주어진다. LCD 모듈(41∼43)을 검사하는 경우에는 각각 제어 신호 φC1∼φC3이 「H」 레벨이 된다. LCD 모듈(41∼43) 각각은 실시예 1과 동일한 방법으로 검사된다. 검사의 종료 후에는 LCD 모듈(41∼43) 각각은 유리 기판(40)으로부터 추출된다. 이 때, LCD 모듈(41∼43) 각각은 불필요해진 단자(51∼58) 및 배선으로부터 분리된다.
이 실시예 2에서는 1회의 프로빙으로 복수의 LCD 모듈(41∼43)을 검사할 수 있기 때문에, 분단된 LCD 모듈을 1개씩 검사하는 경우에 비교하여, 프로빙의 횟수가 적어지게 되어, 프로빙의 전환에 필요한 시간이 짧아지게 된다. 또한, 프로빙의 횟수가 적어지게 되기 때문에, 프로브의 마모나 절곡을 경감할 수가 있어, 프로브의 수명을 연장시킬 수 있다. 따라서, 테스트 비용의 대폭적인 저감화를 도모할 수 있다.
또, 이 실시예 2에서도, 액정 패널(1)을 조립하기 전의 상태에서, 캐패시터(12)의 전하량을 모니터링함으로써 각 어레이 기판을 검사해도 된다.
[실시예 3]
도 8은 본 발명의 실시예 3에 따른 LCD 모듈의 검사 방법을 설명하기 위한 도면이다. 도 8에 있어서, 이 검사 방법에서는, 유리 기판(60)의 표면에 복수(도 8에서는 3개)의 LCD 모듈(61∼63)이 형성된다. LCD 모듈(61∼63)의 외부 단자부(61a∼61c)는 유리 기판(60)의 1 변에 대향하여 배치된다. LCD 모듈(61∼63)의 외부 단자부(61a∼61c)에 따라서, 각각 검사용 단자 전환 회로(64 ∼66)가 설치된다. 또한, 유리 기판(60)의 1 변을 따라서, R 단자(71), G 단자(72), B 단자(73), 제어 단자(74∼76), 짝수 데이터 단자(77), 및 홀수 데이터 단자(78)가 설치된다.
도 9는 LCD 모듈(61)의 구성을 도시하는 회로 블록도로서, 도 3과 대비되는 도면이다. 도 9를 참조하면, LCD 모듈(61)이 도 3의 LCD 모듈과 다른 점은 검사용 단자 전환 회로(25), 제어 단자(34), 짝수 데이터 단자(35) 및 홀수 데이터 단자(36)가 제거되어 있는 점이다. 외부 단자부(61a)는 데이터 단자(30.1∼30.4, … ), R 단자(31), G 단자(32), 및 B 단자(33)를 포함한다. 유리 기판(15)은 유리 기판(60)의 일부를 구성하고 있다. LCD 모듈(62, 63)도 LCD 모듈(61)과 동일한 구성이다.
검사용 단자 전환 회로(64)는 도 10에 도시한 바와 같이, 홀수번의 데이터 단자(30.1, 30.3, … ) 각각에 대응하여 설치된 N형 TFT(26)과, 짝수번의 데이터 단자(30.2, 30.4, … ) 각각에 대응하여 설치된 N형 TFT(27)을 포함한다. 각 N형 TFT(26)은 대응하는 홀수번의 데이터 단자와 홀수 데이터 단자(78)의 사이에 접속되고, 그 게이트는 제어 단자(74)에 접속된다. 각 N형 TFT(27)은 대응하는 짝수번의 데이터 단자와 짝수 데이터 단자(77)의 사이에 접속되고, 그 게이트는 제어 단자(74)에 접속된다. 또, 도 10에서 제어 단자(75, 76)는 도시가 생략되어 있다. 검사용 단자 전환 회로(65, 66)도 검사용 단자 전환 회로(64)와 동일한 구성이다. 단, 검사용 단자 전환 회로(65)의 N형 TFT(26, 27)의 게이트는 제어 단자(75)에 접속되고, 검사용 단자 전환 회로(66)의 N형 TFT(26, 27)의 게이트는 제어 단자(76) 에 접속된다.
검사 시에는 단자(71∼78) 각각이 프로브를 통하여 검사 장치에 접속된다. 단자(71∼78)에는 각각 신호 φR, φG, φB, φC1, φC2, φC3, DE, DO가 주어진다. LCD 모듈(61∼63)을 검사하는 경우에는 각각 제어 신호 φC1∼φC3이 「H」 레벨이 된다. LCD 모듈(61∼63) 각각은 실시예 1과 같이 검사된다. 검사의 종료 후에는 LCD 모듈(61∼63) 각각은 유리 기판(60)으로부터 추출된다. 이 때, LCD 모듈(61∼63) 각각은 불필요해진 검사용 단자 전환 회로(64∼66), 단자(71∼78) 및 배선으로부터 분리된다.
이 실시예 3에서는, 실시예 2와 동일한 효과가 얻어지는 외에, 불필요해진 N형 TFT(26, 27)을 비도통 상태로 고정하는 처리(N형 TFT(26, 27)의 게이트 및 드레인에 접지 전위 GND를 인가하는 것)가 불필요해진다. 또한, LCD 모듈의 구성이 간단해진다.
또, 이 실시예 3에서는, 유리 기판(60) 상에 복수의 LCD 모듈(61∼63)을 설치한 경우에 대해 설명하였지만, 도 10으로부터 알 수 있는 바와 같이, 이 검사 방법은 유리 기판(60) 상에 1개의 LCD 모듈(61)을 설치한 경우라도 유효하다.
[실시예 4]
도 11은 본 발명의 실시예 4에 따른 LCD 모듈의 구성을 도시하는 회로 블록도로서, 도 3과 대비되는 도면이다. 도 11을 참조하면, 이 LCD 모듈이 도 3의 LCD 모듈과 다른 점은, 단자(34∼36)와 검사용 단자 전환 회로(25)의 사이의 3개의 배선이 COG(chip on glass) 실장 영역(80)을 통과하여, 3개의 배선의 COG 실장 영역(80) 내의 소정의 위치에 패드(81∼83)가 각각 설치되어 있는 점이다. 검사의 종료 후에는 COG 실장 영역(80)을 덮도록 반도체 칩이 실장된다. 이 때, 반도체 칩의 접지 전위 GND의 전극이 3개의 패드(81∼83)와 도통 상태에 되어, 패드(81∼83)는 접지 전위 GND로 고정된다. 반도체 칩에는, 도시가 생략된 전원 단자 및 접지 단자로부터, 전원 전위 VDD 및 접지 전위 GND가 주어진다. 반도체 칩은 DC-DC 컨버터 등을 포함하고 있다.
도 12는 COG 실장 영역(80)에 실장된 반도체 칩(90)의 일부를 도시하는 단면도이다. 도 12에 있어서, 유리 기판(15)의 표면에 절연막(92)이 형성되고, 절연막(92)의 표면에 금속 배선(93)이 형성된다. 이 금속 배선(93)은 홀수 데이터 단자(36) 및 각 N형 TFT(26)의 드레인에 접속된다.
금속 배선(93)을 덮도록 하여 절연막(94)이 형성되고, 절연막(94)의 소정 영역에 개구부가 형성되어, 금속 배선(93)의 소정 부분이 노출된다. 절연막(94)의 개구부를 덮도록 하여 금속 단자인 패드(83)가 형성된다. 패드(83)의 표면에 이방성 도전 수지(95)가 도포되고, 반도체 칩(90)의 접지 단자인 범프 전극(91)이 패드(83) 상에 위치하도록 반도체 칩(90)이 탑재된다. 이에 따라, 범프 전극(91)과 패드(83)는 전기적으로 접속된다.
이 실시예 4에서는, 검사 후에 반도체 칩(90)을 실장함으로써, 검사용 단자 전환 회로(25)의 N형 TFT(26, 27)을 비도통 상태로 고정한다. 따라서, LCD 모듈의 외부로부터 단자(34∼36)에 접지 전위 GND를 제공할 필요가 없게 되기 때문에, FPC의 단자 수를 적게 할 수 있어, FPC의 폭을 좁게 할 수 있다.
또, 도 13에 도시한 바와 같이, 단자(34∼36)를 COG 실장 영역(80) 내에 설치하여도 된다. 단자(34∼36)는 반도체 칩(90)의 실장에 의해, 접지 전위 GND로 고정된다. 이 변경예에서는 실시예 4와 동일한 효과가 얻어지는 외에, 패드(81∼83)를 별도 설치할 필요가 없다.
본 명세서에 개시된 실시예는 모든 점에서 예시이고 제한적인 것이 아니라고 생각돼야 된다. 본 발명의 범위는 상기한 설명이 아니라 특허 청구의 범위에 의해서 기술되고, 특허 청구의 범위와 균등의 의미 및 범위 내에서의 모든 변경이 포함되는 것으로 의도된다.
이상과 같이, 본 발명에 따르면, 제1 검사 단자, 제2 검사 단자 및 제1 제어 단자를 검사 장치에 접속하면 검사할 수 있기 때문에, 검사에 사용하는 단자의 수가 적어지게 되어, 검사 장치의 비용 절감을 도모할 수 있다. 또한, 복수의 화상 표시 장치의 복수의 제1 검사 단자를 상호 접속함과 함께 복수의 제2 검사 단자를 상호 접속한 경우라도 화상 표시 장치를 1개씩 정확하게 검사할 수 있다.

Claims (3)

  1. 절연 기판 상에 형성된 화상 표시 장치로서,
    복수 행 복수 열로 배치된 복수의 화소 표시 회로와, 각각 상기 복수 행에 대응하여 설치된 복수의 주사선과, 각각 상기 복수 열에 대응하여 설치된 복수의 데이터선을 포함하는 화상 표시 패널,
    이들의 제1 전극이 각각 상기 복수의 데이터선에 접속되어, 상기 화상 표시 패널의 통상 동작 시에 비도통이 되는 복수의 트랜지스터,
    상기 복수의 트랜지스터 중의 각 홀수번의 트랜지스터의 제2 전극에 접속된 제1 검사 단자,
    상기 복수의 트랜지스터 중의 각 짝수번의 트랜지스터의 제2 전극에 접속된 제2 검사 단자, 및
    상기 복수의 트랜지스터의 게이트에 접속되어, 상기 화상 표시 패널의 검사 시에 상기 복수의 트랜지스터를 제어하기 위한 제어 신호를 받는 제1 제어 단자
    를 포함하는 화상 표시 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    각각 상기 복수의 데이터선에 대응하여 설치되고, 각각이 상기 통상 동작 시에 상기 화소 표시 회로에 화소를 표시시키기 위한 화소 전위를 받는 복수의 데이터 단자를 더 포함하고,
    상기 제1 검사 단자, 상기 제2 검사 단자 및 상기 제1 제어 단자 각각의 사이즈는 상기 데이터 단자의 사이즈보다 큰 화상 표시 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    각각 상기 복수의 데이터선에 대응하여 설치되고, 각각이 상기 통상 동작 시에 상기 화소 표시 회로에 화소를 표시시키기 위한 화소 전위를 받는 복수의 데이터 단자를 더 포함하고,
    상기 복수의 데이터 단자는 소정의 피치로 배열되고,
    상기 제1 검사 단자, 상기 제2 검사 단자 및 상기 제1 제어 단자는 상기 복수의 데이터 단자의 피치보다도 큰 피치로 배열되어 있는 화상 표시 장치.
KR1020030075079A 2003-03-07 2003-10-27 검사 단자를 포함한 화상 표시 장치 KR100561150B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JPJP-P-2003-00061778 2003-03-07
JP2003061778A JP3964337B2 (ja) 2003-03-07 2003-03-07 画像表示装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20040079820A KR20040079820A (ko) 2004-09-16
KR100561150B1 true KR100561150B1 (ko) 2006-03-15

Family

ID=32923643

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020030075079A KR100561150B1 (ko) 2003-03-07 2003-10-27 검사 단자를 포함한 화상 표시 장치

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6982568B2 (ko)
JP (1) JP3964337B2 (ko)
KR (1) KR100561150B1 (ko)
CN (1) CN1262870C (ko)
TW (1) TWI279633B (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9508274B2 (en) 2013-01-21 2016-11-29 Samsung Display Co., Ltd. Thin film transistor substrate, method of inspecting the same, and display device including the same
CN109407321A (zh) * 2018-12-04 2019-03-01 厦门天马微电子有限公司 一种显示装置

Families Citing this family (45)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3866783B2 (ja) * 1995-07-25 2007-01-10 株式会社 日立ディスプレイズ 液晶表示装置
KR100491560B1 (ko) * 2003-05-06 2005-05-27 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시소자의 검사방법 및 장치
JP2005049519A (ja) * 2003-07-31 2005-02-24 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 表示装置
US8013816B2 (en) * 2004-06-30 2011-09-06 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Light emitting display
JP4630598B2 (ja) * 2004-08-06 2011-02-09 東芝モバイルディスプレイ株式会社 表示装置、表示装置の検査方法、及び、表示装置の検査装置
JP4476737B2 (ja) * 2004-08-06 2010-06-09 東芝モバイルディスプレイ株式会社 表示装置、表示装置の検査方法、及び、表示装置の検査装置
JP2006091239A (ja) * 2004-09-22 2006-04-06 Seiko Epson Corp 電気光学装置用基板及び電気光学装置、並びに検査方法
TWI333094B (en) * 2005-02-25 2010-11-11 Au Optronics Corp System and method for display testing
JP4633536B2 (ja) * 2005-05-19 2011-02-16 三菱電機株式会社 表示装置
KR101137885B1 (ko) * 2005-06-15 2012-04-25 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치와 그 검사방법
CN100464238C (zh) * 2005-07-01 2009-02-25 中华映管股份有限公司 有源元件阵列以及有源元件阵列的检测方法
KR100830383B1 (ko) * 2005-08-18 2008-05-20 세이코 엡슨 가부시키가이샤 전기 광학 장치, 그 검사 방법, 및 전자기기
JP5194382B2 (ja) * 2005-08-18 2013-05-08 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置及び電子機器
TWI309813B (en) * 2005-12-23 2009-05-11 Au Optronics Corp Display device and pixel testing method thereof
CN100399175C (zh) * 2005-12-29 2008-07-02 友达光电股份有限公司 主动组件阵列基板
CN100456114C (zh) * 2006-01-16 2009-01-28 友达光电股份有限公司 显示装置及其像素测试方法
JP4561647B2 (ja) * 2006-02-02 2010-10-13 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置用基板、電気光学装置および検査方法
JP2007248502A (ja) * 2006-03-13 2007-09-27 Epson Imaging Devices Corp 表示装置の製造方法及び表示装置
US20070290375A1 (en) * 2006-06-01 2007-12-20 Chin-Hai Huang Active device array mother substrate
CN101097304B (zh) * 2006-06-27 2011-07-13 中华映管股份有限公司 主动元件阵列母基板
TW200801755A (en) * 2006-06-30 2008-01-01 Innolux Display Corp Thin film transistor substrate and liquid crystal display panel using the same
JP2008026507A (ja) * 2006-07-20 2008-02-07 Sony Corp 表示装置および表示装置の検査方法
KR20080010551A (ko) * 2006-07-27 2008-01-31 삼성전자주식회사 표시 장치의 구동 장치 및 이를 포함하는 표시 장치
JP4984815B2 (ja) * 2006-10-19 2012-07-25 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置の製造方法
KR101304415B1 (ko) * 2007-01-25 2013-09-05 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
JP5138999B2 (ja) * 2007-08-01 2013-02-06 三菱電機株式会社 表示装置
JP5428299B2 (ja) * 2008-03-18 2014-02-26 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置及び電子機器
CN102109688B (zh) * 2009-12-29 2014-02-05 上海天马微电子有限公司 液晶显示面板、阵列基板及驱动线线缺陷检测方法
JP5570246B2 (ja) * 2010-02-26 2014-08-13 三菱電機株式会社 液晶表示装置
CN102566169B (zh) 2010-12-31 2015-02-25 上海天马微电子有限公司 液晶显示装置的检测装置及其测试方法
JP2012208301A (ja) * 2011-03-29 2012-10-25 Seiko Epson Corp 液晶装置および投射型表示装置
CN102368133B (zh) * 2011-10-14 2013-11-20 深圳市华星光电技术有限公司 液晶阵列及液晶显示面板
CN102495503A (zh) * 2011-11-22 2012-06-13 深圳市华星光电技术有限公司 阵列基板及其驱动方法
JP6051011B2 (ja) * 2012-10-22 2016-12-21 株式会社ジャパンディスプレイ 液晶表示装置およびその製造方法
KR101403127B1 (ko) 2012-11-23 2014-06-03 엘지디스플레이 주식회사 디스플레이패널 및 디스플레이패널 검사방법
CN103091918B (zh) * 2013-01-18 2016-01-13 北京京东方光电科技有限公司 阵列基板、显示装置及检测方法
US11457531B2 (en) * 2013-04-29 2022-09-27 Samsung Display Co., Ltd. Electronic component, electric device including the same, and bonding method thereof
CN103345080B (zh) * 2013-07-10 2017-01-25 深圳市华星光电技术有限公司 一种快速测试切换装置及相应的tft‑lcd阵列基板
CN104616612B (zh) * 2015-02-26 2018-05-25 上海和辉光电有限公司 Amoled显示器、其测试组件及其缺陷测试方法
CN108700786B (zh) 2016-02-10 2021-01-08 夏普株式会社 有源矩阵基板及显示面板
CN106057112B (zh) * 2016-08-09 2019-04-16 武汉华星光电技术有限公司 成盒测试电路以及液晶显示基板
CN106646953A (zh) * 2017-02-28 2017-05-10 武汉华星光电技术有限公司 一种液晶显示面板
WO2019167279A1 (ja) * 2018-03-02 2019-09-06 シャープ株式会社 表示装置
CN108897160A (zh) * 2018-08-06 2018-11-27 深圳市华星光电技术有限公司 液晶面板及其配向方法
TWI754348B (zh) * 2019-12-06 2022-02-01 群創光電股份有限公司 電子裝置的製造方法以及電子裝置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990038435A (ko) * 1997-11-05 1999-06-05 구자홍 액정표시장치
KR100236687B1 (ko) * 1995-02-01 2000-01-15 야스카와 히데아키 액정표시장치, 액정표시장치의 구동방법 및 액정표시장치의 검사방법
KR20010004901A (ko) * 1999-06-30 2001-01-15 김영환 액정 표시 소자의 화면표시 품위 검사방법
JP2002090424A (ja) * 2000-09-14 2002-03-27 Toshiba Corp マトリクスアレイ基板
KR20020059071A (ko) * 2000-12-30 2002-07-12 주식회사 현대 디스플레이 테크놀로지 액정표시장치의 패널내 배선의 결함 테스트 방법
KR20020094636A (ko) * 2001-06-12 2002-12-18 삼성전자 주식회사 액정 표시 장치의 제조 방법

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2594358B2 (ja) 1989-06-16 1997-03-26 松下電子工業株式会社 画像表示装置
JP2792634B2 (ja) 1991-06-28 1998-09-03 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板の検査方法
JPH10104647A (ja) 1996-09-30 1998-04-24 Advanced Display:Kk 液晶表示装置
JP2001235725A (ja) 2000-02-24 2001-08-31 Victor Co Of Japan Ltd 液晶表示装置
JP2002098999A (ja) 2000-09-26 2002-04-05 Toshiba Corp 液晶表示装置
JP4006304B2 (ja) * 2002-09-10 2007-11-14 株式会社 日立ディスプレイズ 画像表示装置
JP3628014B1 (ja) * 2003-09-19 2005-03-09 ウインテスト株式会社 表示装置及びそれに用いるアクティブマトリクス基板の検査方法及び装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100236687B1 (ko) * 1995-02-01 2000-01-15 야스카와 히데아키 액정표시장치, 액정표시장치의 구동방법 및 액정표시장치의 검사방법
KR19990038435A (ko) * 1997-11-05 1999-06-05 구자홍 액정표시장치
KR20010004901A (ko) * 1999-06-30 2001-01-15 김영환 액정 표시 소자의 화면표시 품위 검사방법
JP2002090424A (ja) * 2000-09-14 2002-03-27 Toshiba Corp マトリクスアレイ基板
KR20020059071A (ko) * 2000-12-30 2002-07-12 주식회사 현대 디스플레이 테크놀로지 액정표시장치의 패널내 배선의 결함 테스트 방법
KR20020094636A (ko) * 2001-06-12 2002-12-18 삼성전자 주식회사 액정 표시 장치의 제조 방법

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9508274B2 (en) 2013-01-21 2016-11-29 Samsung Display Co., Ltd. Thin film transistor substrate, method of inspecting the same, and display device including the same
CN109407321A (zh) * 2018-12-04 2019-03-01 厦门天马微电子有限公司 一种显示装置
CN109407321B (zh) * 2018-12-04 2021-03-19 厦门天马微电子有限公司 一种显示装置

Also Published As

Publication number Publication date
TW200417802A (en) 2004-09-16
TWI279633B (en) 2007-04-21
US6982568B2 (en) 2006-01-03
JP2004271847A (ja) 2004-09-30
JP3964337B2 (ja) 2007-08-22
US20040174183A1 (en) 2004-09-09
CN1527104A (zh) 2004-09-08
CN1262870C (zh) 2006-07-05
KR20040079820A (ko) 2004-09-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100561150B1 (ko) 검사 단자를 포함한 화상 표시 장치
US7777854B2 (en) Liquid crystal display, testing method thereof and manufacturing method thereof
US7038484B2 (en) Display device
KR100360157B1 (ko) 어레이기판 및 어레이기판의 검사방법
US6924875B2 (en) Array substrate having diodes connected to signal lines, method of inspecting array substrate, and liquid crystal display
KR100436197B1 (ko) 어레이 기판의 검사 방법
KR100394923B1 (ko) 어레이 기판의 검사 방법
US20070236244A1 (en) Test method, semiconductor device, and display
KR101791192B1 (ko) 디스플레이 장치 및 그 테스트 방법
JP2004310024A (ja) 液晶表示装置及びその検査方法
JP2004310024A5 (ko)
US20060028414A1 (en) Display device, inspection method for display device, and inspection device for display device
US7098987B1 (en) Array of active devices and method for testing an array of active devices
EP2333643A1 (en) Display device
JP5599501B2 (ja) 画像表示パネルの検査方法
US6985340B2 (en) Semiconductor device with protection circuit protecting internal circuit from static electricity
JP4570633B2 (ja) 画像表示装置
KR100442305B1 (ko) 어레이 기판 및 그 검사 방법 및 액정 표시 장치
KR101157248B1 (ko) 액정표시장치의 ｍｐｓ 검사배선 구조
JP5570246B2 (ja) 液晶表示装置
EP2442356B1 (en) Electronic device
JP2010032800A (ja) アクティブマトリクス基板、液晶表示パネル、アクティブマトリクス基板の検査方法
KR20050003255A (ko) 액정 표시패널의 검사방법
KR100475638B1 (ko) 액정커패시터 신호측정을 위한 배선이 형성된액정표시장치 및 그 배선형성방법
KR20050001540A (ko) 박막 트랜지스터 어레이 기판

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130227

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140220

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150224

Year of fee payment: 10

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160219

Year of fee payment: 11

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170221

Year of fee payment: 12

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180220

Year of fee payment: 13

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190219

Year of fee payment: 14

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20200219

Year of fee payment: 15