JP5599501B2

JP5599501B2 - 画像表示パネルの検査方法

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Publication number: JP5599501B2
Application number: JP2013219085A
Authority: JP
Inventors: 勲野尻; 博之村井
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 2013-10-22
Filing date: 2013-10-22
Publication date: 2014-10-01
Anticipated expiration: 2023-03-07
Also published as: JP2014059567A

Description

この発明は画像表示パネルの検査方法に関し、特に、複数行複数列に配置された複数の画素表示回路を含む画像表示パネルを検査する方法に関する。

近年、液晶パネルの高解像度化が進められ、ＬＣＤ（liquid crystal display）モジュールとＦＰＣ（flexible printed circuit board）を接続するための端子の数が増加している。また、ＬＣＤモジュールの小型化が進められ、端子のピッチが狭くなっている。液晶パネルの検査は、各端子にプローブを当てて行なうが、端子数の増加および端子ピッチの狭小化にともない検査装置のコストアップが生じている。

検査装置のコストダウンを図る方法としては、液晶パネルの奇数番のデータ線を１つの検査端子に接続するとともに、偶数番のデータ線をもう１つの検査端子に接続し、２つの検査端子を用いて検査した後に２つの端子を除去する方法がある（たとえば特許文献１参照）。

特開平５−５８９７号公報

このような２つの検査端子を複数の液晶パネルに共通に設ければ、さらに検査装置のコストダウンを図ることができるとも考えられる。しかし、単に複数の液晶パネルの奇数番のデータ線を１つの検査端子に接続するとともに偶数番のデータ線をもう１つの検査端子に接続しただけでは、各液晶パネルを個別に正確に検査することができない。

それゆえに、この発明の主たる目的は、検査を低コストで正確に行なうことが可能な画像表示パネルの検査方法を提供することである。

この発明に係る画像表示パネルの検査方法は、絶縁基板上に形成され、複数行複数列に配置された複数の画素表示回路と、それぞれ複数行に対応して設けられた複数の走査線と、それぞれ複数列に対応して設けられた複数のデータ線とを含み、複数のデータ線が３本ずつ複数のデータ線グループに分割された画像表示パネルと、それぞれ複数のデータ線グループに対応して設けられ、各々が、画像表示パネルの通常動作時に、データ線選択信号に同期して第１〜第３の画像表示信号を時分割で受ける複数のデータ端子と、それぞれ複数のデータ線グループに対応して設けられ、各々が、画像表示パネルの通常動作時に、対応のデータ端子に与えられた第１〜第３の画像表示信号をデータ線選択信号に同期して対応のデータ線グループに含まれる３本のデータ線にそれぞれ供給する複数の切換回路とを備えた画像表示装置において、画像表示パネルを検査する方法である。この検査方法では、さらに、画像表示パネルの検査時に、データ線選択信号に同期して論理レベルが変化する検査用データ信号を受ける検査端子と、各データ線グループに対応して設けられ、第１の電極が検査端子に接続され、第２の電極が対応のデータ端子に接続され、画像表示パネルの通常動作時に非導通状態にされ、画像表示パネルの検査時に導通状態にされる３端子半導体スイッチとを備え、各切換回路は、画像表示パネルの検査時に、検査端子および対応の３端子半導体スイッチを介して与えられた検査用データ信号をデータ線選択信号に同期して対応のデータ線グループに含まれる３本のデータ線に順次供給する。

この発明に係る画像表示パネルの検査方法では、検査端子を検査装置に接続すれば検査できるので、検査に使用する端子が少なくて済み、検査装置のコストダウンを図ることができる。したがって、検査を低コストで正確に行なうことができる。

この発明の実施の形態１によるカラー液晶画像装置の構成を示すブロック図である。図１に示した液晶セルに対応して設けられる液晶駆動回路の構成を示す回路図である。図１に示したカラー液晶表示装置の組立部品であるＬＣＤモジュールの構成を示す回路ブロック図である。図３に示したＬＣＤモジュールの検査方法を説明するためのタイムチャートである。実施の形態１の変更例を示す回路ブロック図である。実施の形態１の他の変更例を示す回路ブロック図である。この発明の実施の形態２によるＬＣＤモジュールの検査方法を説明するための図である。この発明の実施の形態３によるＬＣＤモジュールの検査方法を説明するための図である。図８に示したＬＣＤモジュールの構成を示す回路ブロック図である。図８に示した検査用端子切換回路の構成を示す回路ブロック図である。この発明の実施の形態４によるＬＣＤモジュールの構成を示す回路ブロック図である。図１１に示したＬＣＤモジュールへの半導体チップの実装方法を説明するための断面図である。実施の形態４の変更例を示す回路ブロック図である。

［実施の形態１］
図１は、この発明の実施の形態１によるカラー液晶表示装置の構成を示すブロック図である。図１において、このカラー液晶表示装置は、液晶パネル１、垂直走査回路７および水平走査回路８を備え、たとえば携帯電話機に設けられる。

液晶パネル１は、複数行複数列に配置された複数の液晶セル２と、それぞれ複数行に対応して設けられた複数の走査線４と、それぞれ複数行に対応して設けられた複数の共通電位線５と、それぞれ複数列に対応して設けられた複数のデータ線６とを含む。複数の共通電位線５は、互いに接続されている。

液晶セル２は、各行において３つずつ予めグループ化されている。各グループの３つの液晶セル２には、それぞれＲ，Ｇ，Ｂのカラーフィルタが設けられている。各グループの３つの液晶セル２は、１つの画素３を構成している。

各液晶セル２には、図２に示すように、液晶駆動回路１０が設けられている。液晶駆動回路１０は、Ｎ型ＴＦＴ（薄膜トランジスタ）１１およびキャパシタ１２を含む。Ｎ型ＴＦＴ１１は、データ線６と液晶セル２の一方電極２ａとの間に接続され、そのゲートは走査線４に接続される。キャパシタ１２は、液晶セル２の一方電極２ａと共通電位線５との間に接続される。共通電位線５には、共通電位ＶＣＯＭが与えられる。液晶セル２の他方電極は、対向電極に接続される。対向電極には、一般には共通電位ＶＣＯＭと同電位が与えられる。

図１に戻って、垂直走査回路７は、画像信号に従って、複数の走査線４を所定時間ずつ順次選択し、選択した走査線４を選択レベルの「Ｈ」レベルにする。走査線４が選択レベルの「Ｈ」レベルにされると、図２のＮ型ＴＦＴ１１が導通し、その走査線４に対応する各液晶セル２の一方電極２ａとその液晶セル２に対応するデータ線６とが結合される。

水平走査回路８は、画像信号に従って、垂直走査回路７によって１本の走査線４が選択されている間に、各データ線６に階調電位ＶＧを与えるとともに共通電位線５に共通電位ＶＣＯＭを与える。液晶セル２の光透過率は、その電極間電圧に応じて変化する。

垂直走査回路７および水平走査回路８によって液晶パネル１の全液晶セル２が走査されると、液晶パネル１に１つのカラー画像が表示される。

図３は、図１および図２に示したカラー液晶表示装置の組立部品であるＬＣＤモジュールの構成を示す回路ブロック図である。図３において、このＬＣＤモジュールは、ガラス基板１５と、その表面に形成された液晶パネル１、垂直走査回路７、１：３デマルチプレクサ２０、検査用端子切換回路２５、複数（たとえば２４０）のデータ端子３０．１〜３０．４，…、Ｒ端子３１、Ｇ端子３２、Ｂ端子３３、制御端子３４、偶数データ端子３５、および奇数データ端子３６を備える。

端子３０．１〜３０．４，…，３１〜３６は、ガラス基板１５の１辺に沿って所定のピッチで配置される。検査時は、端子３１〜３６の各々はプローブを介して検査装置に接続される。検査後は、端子３０．１〜３０．４，…，３１〜３６はＦＰＣに接続される。データ端子３０．１〜３０．４，…の各々には、ＦＰＣから階調電位ＶＧが与えられる。Ｒ端子３１には、Ｒ用のデータ線６を選択するための信号φＲが与えられる。Ｇ端子３２には、Ｇ用のデータ線６を選択するための信号φＧが与えられる。Ｂ端子３３には、Ｂ用のデータ線６を選択するための信号φＢが与えられる。制御端子３４には、制御信号φＣが与えられる。偶数データ端子３５には、偶数データ信号ＤＥが与えられる。奇数データ端子３６には、奇数データ信号ＤＯが与えられる。

１：３デマルチプレクサ２０は、液晶パネル１の２４０組のＲ用データ線６、Ｇ用データ線６およびＢ用データ線６に対応して設けられた２４０組のＮ型ＴＦＴ２１〜２３を含む。Ｎ型ＴＦＴ２１〜２３は、それぞれ対応の組のＲ用データ線６、Ｇ用データ線６およびＢ用データ線６の一方端と対応のデータ端子（たとえば３０．１）との間に接続され、そのゲートはそれぞれＲ端子３１、Ｇ端子３２およびＢ端子３３に接続される。

信号φＲ，φＧ，φＢのうちの信号φＲが「Ｈ」レベルにされると、各Ｎ型ＴＦＴ２１が導通し、各Ｒ用データ線６と対応のデータ端子とが結合される。信号φＲ，φＧ，φＢのうちの信号φＧが「Ｈ」レベルにされると、各Ｎ型ＴＦＴ２２が導通し、各Ｇ用データ線６と対応のデータ端子とが結合される。信号φＲ，φＧ，φＢのうちの信号φＢが「Ｈ」レベルにされると、各Ｎ型ＴＦＴ２３が導通し、各Ｂ用データ線６と対応のデータ端子とが結合される。

検査用端子切換回路２５は、２４０組のＲ用データ線６、Ｇ用データ線６およびＢ用データ線６のうちの各奇数番の組に対応して設けられたＮ型ＴＦＴ２６と、各偶数番の組に対応して設けられたＮ型ＴＦＴ２７とを含む。各Ｎ型ＴＦＴ２６は、対応のＮ型ＴＦＴ２１〜２３のドレインと奇数データ線３６との間に接続され、そのゲートは制御端子３４に接続される。各Ｎ型ＴＦＴ２７は、対応のＮ型ＴＦＴ２１〜２３のドレインと偶数データ端子３５との間に接続され、そのゲートは制御端子３４に接続される。

制御信号φＣが「Ｈ」レベルにされると、Ｎ型ＴＦＴ２６，２７が導通し、奇数番目の組のＮ型ＴＦＴ２１〜２３のドレインと奇数データ端子３６が接続されるとともに、偶数番目の組のＮ型ＴＦＴ２１〜２３のドレインと偶数データ端子３５が接続される。

図４は、図３に示したＬＣＤモジュールの検査方法を示すタイムチャートである。検査時は、端子３１〜３６の各々は、プローブを介して検査装置に接続される。ある時刻ｔ０において複数の走査線４のうちのいずれかの走査線４が選択され、その走査線４の電位ＶＨが「Ｈ」レベルに立上げられる。これにより、その走査線４に対応する各Ｎ型ＴＦＴ１１が導通し、各データ線６が導通したＮ型ＴＦＴ１１を介して液晶セル２に接続される。また時刻ｔ０において制御信号φＣが「Ｈ」レベルに立上げられてＮ型ＴＦＴ２６，２７が導通し、奇数番の組のＮ型ＴＦＴ２１〜２３のドレインがＮ型ＴＦＴ２６を介して奇数データ端子３６に接続されるとともに、偶数番の組のＮ型ＴＦＴ２１〜２３のドレインがＮ型ＴＦＴ２７を介して偶数データ端子３５に接続される。

次いで時刻ｔ１において信号φＲが「Ｈ」レベルに立上げられて各Ｎ型ＴＦＴ２１が導通し、各奇数番のＲ用データ線６がＮ型ＴＦＴ２１，２６を介して奇数データ端子３６に接続されるとともに、各偶数番のＲ用データ線６がＮ型ＴＦＴ２１，２７を介して偶数データ端子３５に接続される。また時刻ｔ１において奇数データ信号ＤＯが「Ｌ」レベルに立下げられるとともに偶数データ信号ＤＥが「Ｈ」レベルに立上げられ、各奇数番のＲ用データ線６が「Ｌ」レベルにされるとともに各偶数番のＲ用データ線６が「Ｈ」レベルにされる。時刻ｔ１から所定時間経過後に信号φＲが「Ｌ」レベルに立下げられて各Ｎ型ＴＦＴ２１が非導通になり、選択された走査線４に対応する各Ｒ用液晶セル２へのデータ信号の書込が終了する。

次に、時刻ｔ２において信号φＧが「Ｈ」レベルに立上げられて各Ｎ型ＴＦＴ２２が導通し、各奇数番のＧ用データ線６がＮ型ＴＦＴ２２，２６を介して奇数データ端子３６に接続されるとともに、各偶数番のＧ用データ線６がＮ型ＴＦＴ２２，２７を介して偶数データ端子３５に接続される。また時刻ｔ２において奇数データ信号ＤＯが「Ｈ」レベルに立上げられるとともに偶数データ信号ＤＥが「Ｌ」レベルに立下げられ、各奇数番のＧ用データ線６が「Ｈ」レベルにされるとともに各偶数番のＧ用データ線６が「Ｌ」レベルにされる。時刻ｔ２から所定時間経過後に信号φＧが「Ｌ」レベルに立下げられて各Ｎ型ＴＦＴ２２が非導通になり、選択された走査線４に対応する各Ｇ用液晶セル２へのデータ信号の書込が終了する。

次いで時刻ｔ３において信号φＢが「Ｈ」レベルに立上げられて各Ｎ型ＴＦＴ２３が導通し、各奇数番のＢ用データ線６がＮ型ＴＦＴ２３，２６を介して奇数データ端子３６に接続されるとともに、各偶数番のＢ用データ線６がＮ型ＴＦＴ２３，２７を介して偶数データ端子３５に接続される。また時刻ｔ３において奇数データ信号ＤＯが「Ｌ」レベルに立下げられるとともに偶数データ信号ＤＥが「Ｈ」レベルに立下げられ、各奇数番のＢ用データ線６が「Ｌ」レベルにされるとともに各偶数番のＢ用データ線６が「Ｈ」レベルにされる。時刻ｔ３から所定時間経過後に信号φＢが「Ｌ」レベルに立下げられて各Ｎ型ＴＦＴ２３が非導通になり、選択された走査線４に対応する各Ｂ用液晶セル２へのデータ信号の書込が終了する。次に、時刻ｔ４において走査線４の電位ＶＨが「Ｌ」レベルに立下げられ、１本の走査線４に対応する各液晶セル２へのデータ信号の書込が終了する。

以上の動作を各走査線４ごとに行なうことにより、液晶パネル１の全液晶セル２に「Ｈ」レベルまたは「Ｌ」レベルのデータ信号を書込むことができる。液晶パネル１が正常か否かは、たとえば各液晶セル２の光透過率を検出することにより判定される。たとえば隣接する２本のデータ線６が短絡している場合は、それらのデータ線６に対応する各液晶セル２には、「Ｈ」レベルと「Ｌ」レベルの間の中間レベルの電位が書込まれ、その液晶セル２は正常なデータ線６に対応する液晶セル２と異なる光透過率を示す。したがって、液晶パネル１が正常が否かを容易に判定することができる。

検査において正常と判定されたＬＣＤモジュールの端子３０．１〜３０．４，…，３１〜３６は、ＦＰＣに接続される。端子３４〜３６の各々は、ＦＰＣにより、Ｎ型ＴＦＴ２６，２７を非導通にするような電位（たとえば接地電位ＧＮＤ）に固定される。階調電位ＶＧの書込は、図４で示したデータ信号ＤＥ，ＤＯの書込と同様に行なわれる。すなわち、図４の時刻ｔ１〜ｔ２の間は、データ端子３０．１〜３０．４，…の各々にＲ用階調電位ＶＧが与えられ、Ｒ用液晶セル２の各々にＲ用階調電位ＶＧが書込まれる。時刻ｔ２〜ｔ３の間は、データ端子３０．１〜３０．４，…の各々にＧ用階調電位ＶＧが与えられ、Ｇ用液晶セル２の各々にＧ用階調電位ＶＧが書込まれる。時刻ｔ３〜ｔ４の間は、データ端子３０．１〜３１．４，…の各々にＢ用階調電位ＶＧが与えられ、Ｂ用液晶セル２の各々にＢ用階調電位ＶＧが書込まれる。このようにして、液晶パネル１の各液晶セル２に階調電位ＶＧが書込まれ、液晶パネル１の１つのカラー画像が表示される。

この実施の形態１では、各奇数番の組のＮ型ＴＦＴ２１〜２３のドレインと奇数データ端子３６の間にＮ型ＴＦＴ２６を接続し、各偶数番の組のＮ型ＴＦＴ２１〜２３のドレインと偶数データ端子３５の間にＮ型ＴＦＴ２７を接続し、Ｎ型ＴＦＴ２６，２７のゲートを制御端子３４に接続する。検査時はＮ型ＴＦＴ２６，２７を導通させて端子３５，３６に検査用のデータ信号ＤＥ，ＤＯを与え、通常動作時はＮ型ＴＦＴ２６，２７を非導通状態に固定する。したがって、検査時に必要な端子の数が少なくてすみ、検査装置の低コスト化を図ることができる。また、複数のＬＣＤモジュールの複数の奇数データ端子３６を互いに接続するとともに複数の偶数データ端子３５を互いに接続した場合でも、各ＬＣＤモジュール用の制御信号φＣのレベルを制御することにより、各ＬＣＤモジュールを個別に正確に検査することができる。

なお、液晶パネル１は、ガラス基板１５表面の所定領域に走査線４、データ線６、Ｎ型ＴＦＴ１１およびキャパシタ１２を含むアレイ基板を形成した後に、そのアレイ基板の表面に液晶を介して対向基板を配置することにより形成される。実施の形態１では、液晶パネル１の組立後に液晶セル２の光透過率を検査することとしたが、液晶パネル１の組立前すなわち対向基板を配置する前の状態で、キャパシタ１２の電荷量をモニタリングすることによりアレイ基板を検査してもよい。

また、この実施の形態１では、検査用端子切換回路２５をＮ型ＴＦＴで構成したが、Ｐ型ＴＦＴで構成してもよいし、Ｎ型ＴＦＴおよびＰ型ＴＦＴの並列接続体すなわちトランスファーゲートで接続してもよい。

また、図５に示すように、検査時に使用する端子３１〜３６の各々のサイズをデータ端子３０．１〜３０．４，…の各々のサイズよりも大きくするとよい。これにより、プローブの位置精度を低下させることができ、検査装置のコストダウンを図ることができる。

また、図６に示すように、検査時に使用する端子３１〜３６のピッチをデータ端子３０．１〜３０．４，…のピッチよりも大きくするとよい。この場合も、プローブの位置精度を低下させることができ、検査装置のコストダウンを図ることができる。また、図５の変更例と図６の変更例を組合せ、検査時に使用する端子３１〜３６の大きさおよびピッチをデータ端子３０．１〜３０．４，…の大きさおよびピッチよりも大きくすると、検査装置の一層のコストダウンを図ることができる。

［実施の形態２］
図７は、この発明の実施の形態２によりＬＣＤモジュールの検査方法を説明するための図である。図７において、この検査方法では、ガラス基板４０の表面に複数（図では３つ）のＬＣＤモジュール４１〜４３が形成される。ＬＣＤモジュール４１〜４３の各々は、図３で示したものと同じである。ＬＣＤモジュール４１〜４３の各々の検査時に使用される端子３１〜３６は、ガラス基板４０の１辺に対向して配置される。また、ガラス基板４０のその１辺に沿って、Ｒ端子５１、Ｇ端子５２、Ｂ端子５３、制御端子５４〜５６、偶数データ端子５７、および奇数データ端子５８が配置される。

ＬＣＤモジュール４１〜４３のＲ端子３１は、ともにＲ端子５１に接続される。ＬＣＤモジュール４１〜４３のＧ端子３２は、ともにＧ端子５２に接続される。ＬＣＤモジュール４１〜４３のＢ端子３３は、ともにＢ端子５３に接続される。ＬＣＤモジュール４１〜４３の制御端子３４は、ともに制御端子５４〜５６に接続される。ＬＣＤモジュール４１〜４３の偶数データ端子３５は、ともに偶数データ端子５７に接続される。ＬＣＤモジュール４１〜４３の奇数データ端子３６は、ともに奇数データ端子５８に接続される。

検査時は、端子５１〜５８の各々がプローブを介して検査装置に接続される。端子５１〜５８には、それぞれ信号φＲ，φＧ，φＢ，φＣ１，φＣ２，φＣ３，ＤＥ，ＤＯが与えられる。ＬＣＤモジュール４１〜４３を検査する場合は、それぞれ制御信号φＣ１〜φＣ３が「Ｈ」レベルにされる。ＬＣＤモジュール４１〜４３の各々は、実施の形態１と同じ方法で検査される。検査の終了後は、ＬＣＤモジュール４１〜４３の各々はガラス基板４０から切出される。このとき、ＬＣＤモジュール４１〜４３の各々は、不要となった端子５１〜５８および配線から切離される。

この実施の形態２では、１回のプロービングで複数のＬＣＤモジュール４１〜４３を検査できるので、分断されたＬＣＤモジュールを１つずつ検査する場合に比べ、プロービングの回数が少なくてすみ、プロービングの切換に必要な時間が短くてすむ。また、プロービングの回数が少なくてすむので、プローブの磨耗や折れ曲がりを軽減することができ、プローブの寿命を延ばすことができる。したがって、テストコストの大幅な低減化を図ることができる。

なお、この実施の形態２でも、液晶パネル１を組立てる前の状態で、キャパシタ１２の電荷量をモニタリングすることにより各アレイ基板を検査してもよい。

［実施の形態３］
図８は、この発明の実施の形態３によるＬＣＤモジュールの検査方法を説明するための図である。図８において、この検査方法では、ガラス基板６０の表面に複数（図では３つ）のＬＣＤモジュール６１〜６３が形成される。ＬＣＤモジュール６１〜６３の外部端子部６１ａ〜６１ｃは、ガラス基板６０の１辺に対向して配置される。ＬＣＤモジュール６１〜６３の外部端子部６１ａ〜６１ｃに沿って、それぞれ検査用端子切換回路６４〜６６が設けられる。また、ガラス基板６０のその１辺に沿って、Ｒ端子７１、Ｇ端子７２、Ｂ端子７３、制御端子７４〜７６、偶数データ端子７７、および奇数データ端子７８が設けられる。

図９は、ＬＣＤモジュール６１の構成を示す回路ブロック図であって、図３と対比される図である。図９を参照して、ＬＣＤモジュール６１が図３のＬＣＤモジュールと異なる点は、検査用端子切換回路２５、制御端子３４、偶数データ端子３５および奇数データ端子３６が除去されている点である。外部端子部６１ａは、データ端子３０．１〜３０．４，…、Ｒ端子３１、Ｇ端子３２、およびＢ端子３３を含む。ガラス基板１５は、ガラス基板６０の一部を構成している。ＬＣＤモジュール６２，６３もＬＣＤモジュール６１と同じ構成である。

検査用端子切換回路６４は、図１０に示すように、奇数番のデータ端子３０．１，３０．３，…の各々に対応して設けられたＮ型ＴＦＴ２６と、偶数番のデータ端子３０．２，３０．４，…の各々に対応して設けられＮ型ＴＦＴ２７とを含む。各Ｎ型ＴＦＴ２６は、対応の奇数番のデータ端子と奇数データ端子７８との間に接続され、そのゲートは制御端子７４に接続される。各Ｎ型ＴＦＴ２７は、対応の偶数番のデータ端子と偶数データ端子７７との間に接続され、そのゲートは制御端子７４に接続される。なお、図１０では、制御端子７５，７６の図示は省略されている。検査用端子切換回路６５，６６も検査用端子切換回路６４と同じ構成である。ただし、検査用端子切換回路６５のＮ型ＴＦＴ２６，２７のゲートは制御端子７５に接続され、検査用端子切換回路６６のＮ型ＴＦＴ２６，２７のゲートは制御端子７６に接続される。

検査時は、端子７１〜７８の各々がプローブを介して検査装置に接続される。端子７１〜７８には、それぞれ信号φＲ，φＧ，φＢ，φＣ１，φＣ２，φＣ３，ＤＥ，ＤＯが与えられる。ＬＣＤモジュール６１〜６３を検査する場合は、それぞれ制御信号φＣ１〜φＣ３が「Ｈ」レベルにされる。ＬＣＤモジュール６１〜６３の各々は、実施の形態１と同様に検査される。検査の終了後は、ＬＣＤモジュール６１〜６３の各々はガラス基板６０から切出される。このとき、ＬＣＤモジュール６１〜６３の各々は、不要となった検査用端子切換回路６４〜６６、端子７１〜７８および配線から切離される。

この実施の形態３では、実施の形態２と同じ効果が得られる他、不要となったＮ型ＴＦＴ２６，２７を非導通状態に固定する処置（Ｎ型ＴＦＴ２６，２７のゲートおよびドレインに接地電位ＧＮＤを印加すること）が不要となる。また、ＬＣＤモジュールの構成が簡単になる。

なお、この実施の形態３では、ガラス基板６０上に複数のＬＣＤモジュール６１〜６３を設けた場合について説明したが、図１０から分かるように、この検査方法は、ガラス基板６０上に１つのＬＣＤモジュール６１を設けた場合でも有効である。

［実施の形態４］
図１１は、この発明の実施の形態４によるＬＣＤモジュールの構成を示す回路ブロック図であって、図３と対比される図である。図１１を参照して、このＬＣＤモジュールが図３のＬＣＤモジュールと異なる点は、端子３４〜３６と検査用端子切換回路２５の間の３本の配線がＣＯＧ（chip on glass）実装領域８０を通過し、３本の配線のＣＯＧ実装領域８０内の所定の位置にパッド８１〜８３がそれぞれ設けられている点である。検査の終了後には、ＣＯＧ実装領域８０を覆うようにして半導体チップが実装される。このとき、半導体チップの接地電位ＧＮＤの電極が３つのパッド８１〜８３と導通状態にされ、パッド８１〜８３は接地電位ＧＮＤに固定される。半導体チップには、図示しない電源端子および接地端子より、電源電位ＶＤＤおよび接地電位ＧＮＤが与えられる。半導体チップは、ＤＣ−ＤＣコンバータなどを含んでいる。

図１２は、ＣＯＧ実装領域８０に実装された半導体チップ９０の一部を示す断面図である。図１２において、ガラス基板１５の表面に絶縁膜９２が形成され、絶縁膜９２の表面に金属配線９３が形成される。この金属配線９３は、奇数データ端子３６および各Ｎ型ＴＦＴ２６のドレインに接続される。

金属配線９３を覆うようにして絶縁膜９４が形成され、絶縁膜９４の所定領域に開口部が形成され、金属配線９３の所定部分が露出される。絶縁膜９４の開口部を覆うようにして金属端子であるパッド８３が形成される。パッド８３の表面に異方性導電樹脂９５が塗布され、半導体チップ９０の接地端子であるバンプ電極９１がパッド８３上に位置するように半導体チップ９０が搭載される。これにより、バンプ電極９１とパッド８３は電気的に接続される。

この実施の形態４では、検査後に半導体チップ９０を実装することにより、検査用端子切換回路２５のＮ型ＴＦＴ２６，２７を非導通状態に固定する。したがって、ＬＣＤモジュールの外部から端子３４〜３６に接地電位ＧＮＤを与える必要がなくなるので、ＦＰＣの端子数を少なくすることができ、ＦＰＣの幅を狭くすることができる。

なお、図１３に示すように、端子３４〜３６をＣＯＧ実装領域８０内に設けてもよい。端子３４〜３６は、半導体チップ９０の実装により、接地電位ＧＮＤに固定される。この変更例では、実施の形態４と同じ効果が得られる他、パッド８１〜８３を別途設ける必要がない。

今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。

１液晶パネル、２液晶セル、３画素、４走査線、５共通電位線、６データ線、７垂直走査回路、８水平走査回路、１０液晶駆動回路、１１，２１〜２３，２６，２７Ｎ型ＴＦＴ、１２キャパシタ、１５，４０，６０ガラス基板、２０１：３デマルチプレクサ、２５，６４〜６６検査用端子切換回路、３０データ端子、３１，５１，７１Ｒ端子、３２，５２，７２Ｇ端子、３３，５３，７３Ｂ端子、３４，５４〜５６，７４〜７６制御端子、３５，５７，７７偶数データ端子、３６，５８，７８奇数データ端子、４１〜４３，６１〜６３ＬＣＤモジュール、６１ａ〜６３ａ外部端子部、８０ＣＯＧ実装領域、８１〜８３パッド、９０半導体チップ、９１バンプ電極、９２，９４絶縁膜、９３金属配線、９５異方性導電樹脂。

Claims

絶縁基板上に形成され、複数行複数列に配置された複数の画素表示回路と、それぞれ前記複数行に対応して設けられた複数の走査線と、それぞれ前記複数列に対応して設けられた複数のデータ線とを含み、前記複数のデータ線が３本ずつ複数のデータ線グループに分割された画像表示パネルと、
それぞれ前記複数のデータ線グループに対応して設けられ、各々が、前記画像表示パネルの通常動作時に、データ線選択信号に同期して第１〜第３の画像表示信号を時分割で受ける複数のデータ端子と、
それぞれ前記複数のデータ線グループに対応して設けられ、各々が、前記画像表示パネルの通常動作時に、対応のデータ端子に与えられた前記第１〜第３の画像表示信号を前記データ線選択信号に同期して対応のデータ線グループに含まれる３本のデータ線にそれぞれ供給する複数の切換回路とを備えた画像表示装置において、前記画像表示パネルを検査する方法であって、
さらに、前記画像表示パネルの検査時に、前記データ線選択信号に同期して論理レベルが変化する検査用データ信号を受ける検査端子と、
各データ線グループに対応して設けられ、第１の電極が前記検査端子に接続され、第２の電極が対応のデータ端子に接続され、前記画像表示パネルの通常動作時に非導通状態にされ、前記画像表示パネルの検査時に導通状態にされる３端子半導体スイッチとを備え、
各切換回路は、前記画像表示パネルの検査時に、前記検査端子および対応の３端子半導体スイッチを介して与えられた前記検査用データ信号を前記データ線選択信号に同期して対応のデータ線グループに含まれる３本のデータ線に順次供給する、画像表示パネルの検査方法。
絶縁基板上に形成され、複数行複数列に配置された複数の画素表示回路と、それぞれ前記複数行に対応して設けられた複数の走査線と、それぞれ前記複数列に対応して設けられた複数のデータ線とを含み、前記複数のデータ線が３本ずつ複数のデータ線グループに分割された画像表示パネルと、
それぞれ前記複数のデータ線グループに対応して設けられ、各々が、前記画像表示パネルの通常動作時に、データ線選択信号に同期して第１〜第３の画像表示信号を時分割で受ける複数のデータ端子と、
それぞれ前記複数のデータ線グループに対応して設けられ、各々が、前記画像表示パネルの通常動作時に、対応のデータ端子に与えられた第１〜第３の画像表示信号を前記データ線選択信号に同期して対応のデータ線グループに含まれる３本のデータ線にそれぞれ供給する複数の切換回路とを備えた画像表示装置において、前記画像表示パネルを検査する方法であって、
さらに、前記画像表示パネルの検査時に、前記データ線選択信号に同期して論理レベルが変化する第１の検査用データ信号を受ける第１の検査端子と、
前記画像表示パネルの検査時に、前記データ線選択信号に同期して論理レベルが変化する第２の検査用データ信号を受け、前記第１および第２の検査用データ信号は互いに相補な信号である第２の検査端子と、
各奇数番のデータ線グループに対応して設けられ、第１の電極が前記第１の検査端子に接続され、第２の電極が対応のデータ端子に接続され、前記画像表示パネルの通常動作時に非導通状態にされ、前記画像表示パネルの検査時に導通状態にされる第１の３端子半導体スイッチと、
各偶数番のデータ線グループに対応して設けられ、第１の電極が前記第２の検査端子に接続され、第２の電極が対応のデータ端子に接続され、前記画像表示パネルの通常動作時に非導通状態にされ、前記画像表示パネルの検査時に導通状態にされる第２の３端子半導体スイッチとを備え、
各奇数番の切換回路は、前記画像表示パネルの検査時に、前記第１の検査端子および対応の第１の３端子半導体スイッチを介して与えられた前記第１の検査用データ信号を前記データ線選択信号に同期して対応のデータ線グループに含まれる３本のデータ線に順次供給し、
各偶数番の切換回路は、前記画像表示パネルの検査時に、前記第２の検査端子および対応の第２の３端子半導体スイッチを介して与えられた前記第２の検査用データ信号を前記データ線選択信号に同期して対応のデータ線グループに含まれる３本のデータ線に順次供給する、画像表示パネルの検査方法。