KR100544941B1 - 웨이퍼를 웨이퍼 테이프에 부착하기 위한 장치 및 방법 - Google Patents
웨이퍼를 웨이퍼 테이프에 부착하기 위한 장치 및 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100544941B1 KR100544941B1 KR1019980020600A KR19980020600A KR100544941B1 KR 100544941 B1 KR100544941 B1 KR 100544941B1 KR 1019980020600 A KR1019980020600 A KR 1019980020600A KR 19980020600 A KR19980020600 A KR 19980020600A KR 100544941 B1 KR100544941 B1 KR 100544941B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- wafer
- film
- tacky
- tape
- force
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 33
- 239000012528 membrane Substances 0.000 claims description 3
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 2
- 239000002313 adhesive film Substances 0.000 claims 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 claims 1
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 claims 1
- 230000037303 wrinkles Effects 0.000 abstract 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 155
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 13
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 238000007373 indentation Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B32—LAYERED PRODUCTS
- B32B—LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
- B32B37/00—Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding
- B32B37/10—Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding characterised by the pressing technique, e.g. using action of vacuum or fluid pressure
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B32—LAYERED PRODUCTS
- B32B—LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
- B32B37/00—Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding
- B32B37/0007—Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding involving treatment or provisions in order to avoid deformation or air inclusion, e.g. to improve surface quality
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B32—LAYERED PRODUCTS
- B32B—LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
- B32B37/00—Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding
- B32B37/10—Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding characterised by the pressing technique, e.g. using action of vacuum or fluid pressure
- B32B37/1009—Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding characterised by the pressing technique, e.g. using action of vacuum or fluid pressure using vacuum and fluid pressure
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67132—Apparatus for placing on an insulating substrate, e.g. tape
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B32—LAYERED PRODUCTS
- B32B—LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
- B32B2457/00—Electrical equipment
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B32—LAYERED PRODUCTS
- B32B—LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
- B32B37/00—Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding
- B32B37/12—Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding characterised by using adhesives
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T156/00—Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
- Y10T156/17—Surface bonding means and/or assemblymeans with work feeding or handling means
- Y10T156/1702—For plural parts or plural areas of single part
- Y10T156/1744—Means bringing discrete articles into assembled relationship
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T156/00—Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
- Y10T156/17—Surface bonding means and/or assemblymeans with work feeding or handling means
- Y10T156/1702—For plural parts or plural areas of single part
- Y10T156/1744—Means bringing discrete articles into assembled relationship
- Y10T156/1749—All articles from single source only
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Fluid Mechanics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Dicing (AREA)
Abstract
Description
Claims (19)
- (가) 점착성 제1 표면 및 대향하는 제2 표면을 갖는 가요성 막과,(나) 상기 가요성 막을 지지하는 프레임과,(다) 상기 가요성 막의 점착성 제1 표면에 근접하여 웨이퍼를 지지하는 지지 수단과,(라) 상기 웨이퍼와 접촉하여 상기 막을 상기 웨이퍼에 부착시키도록 상기 막의 제2 표면의 일부분을 선택적으로 가압하는 돌출 수단과,(마) 상기 돌출 수단을 상기 웨이퍼에 대해 내측에서 외측으로 나선 형상을 따라 진행시켜 상기 가요성 막이 상기 웨이퍼에 부착되도록, 상기 가요성 막과 상기 웨이퍼에 대해 상기 돌출 수단을 이동시키는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 처리 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 돌출 수단은 상기 막의 제2 표면에 집중력을 집중시키는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 처리 장치.
- 제2항에 있어서, 상기 돌출 수단은 상기 집중력을 상기 웨이퍼의 중심 부근으로부터 외측으로 안내하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 처리 장치.
- 제3항에 있어서, 상기 돌출 수단은 상기 집중력을 상기 웨이퍼의 상기 중심으로부터 외측으로 연속 나선 경로로 안내하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 처리 장치.
- 제4항에 있어서, 상기 나선 경로는 경로가 인접한 링들을 따라 중첩하도록 하는 폭을 갖는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 처리 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 돌출 수단은 롤러를 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 처리 장치.
- 제3항에 있어서, 상기 돌출 수단은 상기 집중력을 회전시키는 수단과, 상기 집중력을 상기 웨이퍼의 중심 부근으로부터 외측으로 직선으로 전진시키는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 처리 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 지지 수단은 상기 프레임 위에 위치되며, 상기 막의 점착성 표면은 상기 지지 수단에 의해 지지된 웨이퍼를 향해 상방으로 향하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 처리 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 지지 수단은 상기 웨이퍼를 상기 제1 점착성 표면 상에 선택적으로 배치하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 처리 장치.
- 점착성 제1 표면 및 대향하는 제2 표면을 갖는 가요성 점착성 막에 웨이퍼를 고정하는 방법이며,(가) 상기 웨이퍼를 상기 점착성 제1 표면 부근에 배치하는 단계와,(나) 상기 막의 점착성 제1 표면의 상기 웨이퍼에 대한 부착성을 증가시키기 위하여 상기 웨이퍼 부근의 상기 막의 제2 표면에 대항하여 집중력을 안내하는 단계와,(다) 상기 집중력을 상기 웨이퍼에 대해 내측에서 외측으로 나선 형상을 따라 진행시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제10항에 있어서, 상기 웨이퍼는 상기 단계 (가)에서 상기 점착성 제1 표면 상에 조심스럽게 배치되는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제10항에 있어서, 상기 집중력은 상기 웨이퍼의 중심 부근으로부터 외측으로 안내되는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제12항에 있어서, 상기 집중력은 나선 경로로 안내되는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제13항에 있어서, 상기 나선 경로는 상기 경로가 자체 경로와 중첩하도록 하는 폭을 갖는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제10항에 있어서, 상기 집중력은 롤러에 의해 생성되는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제15항에 있어서, 상기 롤러는 상기 막에 대항하여 구를 때 가열되는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제10항에 있어서, 상기 웨이퍼는 상기 막의 점착성 제1 표면 위에 위치되고, 상기 웨이퍼는 상방으로 연장된 능동 표면을 가지며, 상기 집중력은 상기 막의 제2 표면에 대항하여 아래로부터 안내되는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제13항에 있어서, 상기 나선 경로를 형성하기 위해, 상기 집중력이 상기 막의 중심으로부터 외측으로 직선으로 전진될 때 상기 웨이퍼 및 상기 막을 회전시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제10항에 있어서, 상기 웨이퍼는 부분적으로 절단되어 있으며, 상기 집중력은 부분적으로 절단된 상기 웨이퍼를 파단시키기에는 충분치 않은 것을 특징으로 하는 방법.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US4865497P | 1997-06-05 | 1997-06-05 | |
US60/048,654 | 1997-06-05 | ||
US60-048,654 | 1997-06-05 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR19990006641A KR19990006641A (ko) | 1999-01-25 |
KR100544941B1 true KR100544941B1 (ko) | 2006-03-23 |
Family
ID=21955714
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019980020600A KR100544941B1 (ko) | 1997-06-05 | 1998-06-03 | 웨이퍼를 웨이퍼 테이프에 부착하기 위한 장치 및 방법 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US6129811A (ko) |
JP (1) | JP4322328B2 (ko) |
KR (1) | KR100544941B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101489966B1 (ko) * | 2006-08-08 | 2015-02-04 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | 반도체 웨이퍼의 보유 지지 방법 및 그 장치 및 반도체웨이퍼 보유 지지 구조체 |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3838797B2 (ja) * | 1998-10-27 | 2006-10-25 | 松下電器産業株式会社 | 部品の貼り着け方法とその装置 |
JP3303294B2 (ja) * | 1999-06-11 | 2002-07-15 | 株式会社東京精密 | 半導体保護テープの切断方法 |
JP2001345300A (ja) * | 2000-05-31 | 2001-12-14 | Disco Abrasive Syst Ltd | 半導体ウエーハ加工体および半導体ウエーハ加工体を保持するチャックテーブルを備えた加工装置 |
JP2002367931A (ja) * | 2001-06-07 | 2002-12-20 | Lintec Corp | ダイボンディングシート貼着装置およびダイボンディングシートの貼着方法 |
US20040244908A1 (en) * | 2003-06-03 | 2004-12-09 | Hsin Chung Hsien | Method for packing transparent layers for image sensor packages |
US20050064683A1 (en) * | 2003-09-19 | 2005-03-24 | Farnworth Warren M. | Method and apparatus for supporting wafers for die singulation and subsequent handling |
US7713841B2 (en) * | 2003-09-19 | 2010-05-11 | Micron Technology, Inc. | Methods for thinning semiconductor substrates that employ support structures formed on the substrates |
US20050064679A1 (en) * | 2003-09-19 | 2005-03-24 | Farnworth Warren M. | Consolidatable composite materials, articles of manufacture formed therefrom, and fabrication methods |
JP2005150177A (ja) * | 2003-11-12 | 2005-06-09 | Nitto Denko Corp | 半導体ウエハ裏面への粘着テープ貼付方法及び粘着テープ貼付装置 |
US7244665B2 (en) * | 2004-04-29 | 2007-07-17 | Micron Technology, Inc. | Wafer edge ring structures and methods of formation |
US7547978B2 (en) * | 2004-06-14 | 2009-06-16 | Micron Technology, Inc. | Underfill and encapsulation of semiconductor assemblies with materials having differing properties |
JP4326418B2 (ja) * | 2004-07-16 | 2009-09-09 | 株式会社東京精密 | フィルム剥離方法およびフィルム剥離装置 |
JP2007036153A (ja) * | 2005-07-29 | 2007-02-08 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの保護テープ貼着方法および貼着装置 |
JP2007036111A (ja) * | 2005-07-29 | 2007-02-08 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | フィルム剥離方法およびフィルム剥離装置 |
US7923298B2 (en) * | 2007-09-07 | 2011-04-12 | Micron Technology, Inc. | Imager die package and methods of packaging an imager die on a temporary carrier |
JP5188303B2 (ja) * | 2008-07-24 | 2013-04-24 | 信越ポリマー株式会社 | 板体用固定治具 |
KR101612048B1 (ko) * | 2008-12-08 | 2016-04-12 | 후지필름 디마틱스, 인크. | 웨이퍼 테이핑 |
AT511384B1 (de) * | 2011-05-11 | 2019-10-15 | Thallner Erich | Verfahren und vorrichtung zum bonden zweier wafer |
JP2014152287A (ja) * | 2013-02-12 | 2014-08-25 | Disco Abrasive Syst Ltd | 粘着シートの貼着方法 |
JP6933788B2 (ja) * | 2017-08-23 | 2021-09-08 | 株式会社タカトリ | 基板への接着テープ貼り付け装置及び貼り付け方法 |
CN110027902B (zh) * | 2018-01-12 | 2021-02-12 | 神讯电脑(昆山)有限公司 | 触控面板真空吸附装置 |
JP2020205357A (ja) * | 2019-06-18 | 2020-12-24 | 株式会社ディスコ | テープ貼着方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6312563A (ja) * | 1986-07-02 | 1988-01-19 | Fujitsu Ltd | 半導体装置の製造方法 |
JPH01143211A (ja) * | 1987-11-27 | 1989-06-05 | Takatori Haitetsuku:Kk | ウエハーに対する保護テープの貼付け切り抜き方法および装置 |
US5104023A (en) * | 1987-05-01 | 1992-04-14 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Apparatus for fabrication semiconductor device |
JPH05259276A (ja) * | 1992-03-13 | 1993-10-08 | Fujitsu Ltd | 半導体ウェーハへのテープ添着方法とその装置 |
KR950007040A (ko) * | 1993-08-07 | 1995-03-21 | 문정환 | 진공챔버를 이용한 웨이퍼 마운팅 방법 및 그 장치 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5891298A (en) * | 1995-08-31 | 1999-04-06 | Nitto Denko Corporation | Method and apparatus for peeling protective adhesive tape from semiconductor wafer |
JP3447518B2 (ja) * | 1996-08-09 | 2003-09-16 | リンテック株式会社 | 接着シート貼付装置および方法 |
US6007654A (en) | 1996-12-31 | 1999-12-28 | Texas Instruments Incorporated | Noncontact method of adhering a wafer to a wafer tape |
US5911850A (en) * | 1997-06-20 | 1999-06-15 | International Business Machines Corporation | Separation of diced wafers |
JP3865184B2 (ja) * | 1999-04-22 | 2007-01-10 | 富士通株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
-
1998
- 1998-05-27 JP JP14587198A patent/JP4322328B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1998-06-02 US US09/088,671 patent/US6129811A/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-06-03 KR KR1019980020600A patent/KR100544941B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2000
- 2000-08-11 US US09/637,490 patent/US6471806B1/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6312563A (ja) * | 1986-07-02 | 1988-01-19 | Fujitsu Ltd | 半導体装置の製造方法 |
US5104023A (en) * | 1987-05-01 | 1992-04-14 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Apparatus for fabrication semiconductor device |
JPH01143211A (ja) * | 1987-11-27 | 1989-06-05 | Takatori Haitetsuku:Kk | ウエハーに対する保護テープの貼付け切り抜き方法および装置 |
JPH05259276A (ja) * | 1992-03-13 | 1993-10-08 | Fujitsu Ltd | 半導体ウェーハへのテープ添着方法とその装置 |
KR950007040A (ko) * | 1993-08-07 | 1995-03-21 | 문정환 | 진공챔버를 이용한 웨이퍼 마운팅 방법 및 그 장치 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101489966B1 (ko) * | 2006-08-08 | 2015-02-04 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | 반도체 웨이퍼의 보유 지지 방법 및 그 장치 및 반도체웨이퍼 보유 지지 구조체 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6129811A (en) | 2000-10-10 |
US6471806B1 (en) | 2002-10-29 |
KR19990006641A (ko) | 1999-01-25 |
JPH118288A (ja) | 1999-01-12 |
JP4322328B2 (ja) | 2009-08-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100544941B1 (ko) | 웨이퍼를 웨이퍼 테이프에 부착하기 위한 장치 및 방법 | |
US6946326B2 (en) | Method and device for protecting micro electromechanical systems structures during dicing of a wafer | |
US7348275B2 (en) | Processing method for semiconductor wafer | |
US6465329B1 (en) | Microcircuit die-sawing protector and method | |
JP4739900B2 (ja) | 転着装置及び転着方法 | |
KR101570043B1 (ko) | 마운트 장치 및 마운트 방법 | |
JP2003264203A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2002367931A (ja) | ダイボンディングシート貼着装置およびダイボンディングシートの貼着方法 | |
US20030070517A1 (en) | Method and apparatus for peeling protective sheet | |
WO2004038779A1 (ja) | エキスパンド方法及びエキスパンド装置 | |
EP1679739B1 (en) | Sheet-peeling device and method | |
US6007654A (en) | Noncontact method of adhering a wafer to a wafer tape | |
JP5956339B2 (ja) | モールドウエハからフィルムを分離させるための装置及び方法 | |
JP2002124500A (ja) | 半導体ウエハのテープ貼り付け装置およびその貼り付け方法 | |
US20010002569A1 (en) | Apparatus for cutting adhesive tape mounted on semiconductor wafer | |
JP2000331963A (ja) | ウェーハフレームへのウェーハ取付方法と装置及びそれを組込んだ平面加工装置 | |
US6685073B1 (en) | Method and apparatus for stretching and processing saw film tape after breaking a partially sawn wafer | |
JP2002151528A (ja) | ダイボンディングシート貼着装置およびダイボンディングシートの貼着方法 | |
JP2003059862A (ja) | 剥離装置 | |
JPS6362328A (ja) | 半導体基板の裏面処理方法 | |
WO2007040032A1 (ja) | 転着装置及び転着方法 | |
JP3975534B2 (ja) | 半導体基板からの保護シート剥離方法 | |
US11735464B1 (en) | Method of demounting thin semiconductor devices | |
JPH0257344B2 (ko) | ||
JP2005079151A (ja) | ダイシングテープ、ピックアップ装置および半導体装置の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121227 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131227 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141230 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151230 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161229 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171228 Year of fee payment: 13 |
|
EXPY | Expiration of term |