JP3303294B2 - 半導体保護テープの切断方法 - Google Patents

半導体保護テープの切断方法

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はウエーハ保護テープの切
断方法に係り、特に半導体ウエーハのバックグラインダ
ー等の加工時に用いられる表面保護テープの切断方法に
関する。
【0002】
【従来の技術】IC等の半導体装置は、ウエーハ1上に多
数同時に形成され、個々に性能検査がされた後ダイシン
グソーで個々のデバイスに分割される。しかしながらIC
カード等に用いられる半導体デバイスは厚さの薄いもの
が要求されるようになり、その場合はダイシングソーで
個々のデバイスに分割する前にバックグラインダーでウ
エーハ1の裏面を研削して所望の厚さに加工している。
この場合ウエーハ1の表面に形成された半導体デバイス
を破損や汚染から守るために、表面に保護テープ2を貼
って加工している。この表面保護テープ2は、テープ基
材3と粘着剤4とから成っており、この粘着剤4を介し
てウエーハ1の表面に貼付された後ウエーハ1の外周に
沿って切断工具5でカットされている。(図4〜図6)
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述したとおり保護テ
ープ2は、ウエーハ1の表面と直角にウエーハ1の外周
に沿って、切断されていた。(図4〜図6) ところが近年スマートカードに代表される超薄型ICカー
ドが登場するに及び、それに組み込まれる半導体デバイ
スも30ミクロン〜50ミクロンという超超薄型化が求
められるようになって来た。ところで半導体ウエーハ1
は、外周のエッジ部分が尖っていると、いくつもの製造
工程を経る中で微細な割れや欠けが生じ、その微細な破
片が悪さをしたりエッジ部に発生したマイクロクラック
が内部に進行してダメージを与えたりする為、外周のエ
ッジ部分を面取りしてシャープなエッジをなくしてい
る。この面取りされたウエーハ1の表面に保護テープ2
を貼る場合、表面の平坦部のみならず面取りされた径斜
面にまでテープが倣って貼付され、この状態で表面の平
坦部と直角にウエーハの外周に沿って切断される。
【0004】この表面に保護テープ2の貼られたウエー
ハ1は、保護テープ2の貼られた面を下にしてバックグ
ラインダーのワークテーブルに載置固定され、上方から
研削砥石で所定の厚さ迄加工される。ところが最終厚み
が極めて薄いウエーハ1ではウエーハ1の元厚の半分以
上も研削加工しなければならない。この場合は図5 に
示すように硬脆性材料であるウエーハ1だけでなく、樹
脂材料である保護テープ2の基材3まで一緒に研削する
ことになり、この樹脂材料が研削砥石の砥粒(ダイヤモ
ンド等)に絡み付き、目詰まりを起こして加工性能を劣
化させ、加工能率の低下や加工品質の低下を来すととも
に、更にはウエーハ1を破損させる要因ともなってい
た。
【0005】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
もので、最終厚みが極めて薄いウエーハであっても、樹
脂材料である保護テープの基材まで一緒に研削すること
がなく研削砥石の目詰まりを引き起こさないウエーハの
表面保護テープの切断方法を提供する。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、ウエーハの1面を加工するにあたり、該ウ
エーハの他の1面を保護するために貼付される保護テー
プの切断方法であって、前記ウエーハに貼付された前記
保護テープの表面と該保護テープの切断面とでなす角度
が鈍角となるように、切断工具を傾斜させて切断し、前
記切断工具の傾斜角度を、前記ウエーハの面取り部分の
形状及び前記ウエーハの最終厚みを基に調整して、前記
保護テープの外径を、前記ウエーハの平坦面よりも大き
く前記ウエーハの外径よりも小さく且つ前記ウエーハの
加工領域まではみ出さない寸法に切断することを特徴と
するウエーハ保護テープの切断方法を提供する。
【0007】
【0008】
【0009】
【作用】本発明によれば、ウエーハ保護テープ2はウエ
ーハ1の表面を保護するのに必要最小限の寸法で切断さ
れるので、最終厚みが極めて薄いウエーハ1であっても
ウエーハ1の加工領域5にまではみ出すことが無く、樹
脂材料である保護テープ2の基材3まで一緒に研削する
ことがないので研削砥石の目詰まりを生じさせない。
【0010】
【実施例】以下添付図面に従って本発明に係るウエーハ
保護テープの切断方法について詳説する。なお各図面に
おいて同一部品には同一の符号を付してある。図1は本
発明の実施の形態を示す断面図で、本発明の切断方法を
概念的に表している。図2は本発明の切断方法を用いて
切断された保護テープ付きのウエーハを加工する時の、
加工領域と保護テープとの位置関係を示す断面図であ
り、図3は加工後の状態を示す断面図である。
【0011】図1において、ウエーハ1は図示しないテ
ープ貼付け装置の載置台上に半導体デバイスの形成され
た表面を上に、裏面を下にして吸着固定される。次いで
保護テープ2がその粘着剤4側を下にしてウエーハ上に
配置され、上から図示しない弾性体の回転ローラ等で加
圧されウエーハに貼付される。この時保護テープ2は、
ウエーハ表面の平坦部のみでなく周辺の面取りされた部
分の一部にも回り込むように貼り付けられる。次に、ウ
エーハ1の面取り部分の形状及びウエーハ1の最終厚み
を基に算出された角度だけ切断工具5が傾けられ、この
状態で切断工具5がウエーハ1の中心線を軸にして回転
し、ウエーハ1の外径に沿って保護テープ2を切断す
る。尚、切断工具5が傾斜固定されたままで、ウエーハ
1を吸着固定した載置台が回転するようにしてもよい。
これにより、保護テープ2は必要最小限の大きさで切断
される。
【0012】図2では上記方法で切断された保護テープ
2でデバイス面を保護されたウエーハ1の保護テープ2
側を下にして、図示しないバックグラインダーのワーク
テーブルに吸着固定されたウエーハ1を、上方から研削
砥石で裏面研削する場合の加工領域6(点線のハッチン
グ付きの枠)と保護テープ2の位置関係を示している。
図示のように保護テープ2の基材3は加工領域6の外側
に位置しているので、樹脂材料で出来ている基材3はウ
エーハ1の裏面研削中に同時に加工されることはない。
【0013】図3に示すバックグラインダーで裏面研削
されたウエーハ1は、その後研磨やエッチング等で研削
によるダメージ層を取り去り、最終厚みに仕上げられ
る。ウエーハ1はその後洗浄、乾燥工程を経てダイシン
グシートを介してダイシング用フレームに搭載されて、
ダイシングソーにより個々のデバイスに分割される。
【0014】
【発明の効果】以上本発明に係るウエーハ1の保護テー
プ2の切断方法によれば、ウエーハ1の裏面研削工程に
おいて、最終厚みが極めて薄いウエーハ1であってもウ
エーハ保護テープ2はウエーハ1の加工領域6にまでは
み出すことが無く、樹脂材料である保護テープ2の基材
3まで一緒に研削することがないので研削砥石の目詰ま
りを生じさせない。これにより加工性能を劣化させ、加
工能率の低下や加工品質の低下を来すとともに、更には
ウエーハを破損させる要因ともなっていた従来の問題点
を解決できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明の実施の形態を示す断面図で、
本発明の切断方法を概念的に表した図面である。
【図2】図2は本発明の切断方法を用いて切断された保
護テープ付きのウエーハを裏面加工する時の、加工領域
と保護テープとの位置関係を示す断面図である。
【図3】図3は本発明の切断方法を用いて切断された保
護テープ付きのウエーハを裏面加工した時の、加工後の
状態を示す断面図である。
【図4】図4は、従来の切断方法を概念的示す断面図で
ある。
【図5】図5は従来の切断方法を用いて切断された保護
テープ付きのウエーハを裏面加工する時の、加工領域と
保護テープとの位置関係を示す断面図である。
【図6】図6は従来の切断方法を用いて切断された保護
テープ付きのウエーハを裏面加工した時の、加工後の状
態を示す断面図である。
【符号の説明】
1…ウエーハ 2…ウエーハ保護テープ 3…テープ基材 4…テープ粘着剤 5…切断工具 6…裏面加工の加工領域
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平7−6985(JP,A) 特開 平2−303128(JP,A) 特開 平6−310480(JP,A) 特開 平11−333680(JP,A) 特開2000−173961(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/304

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ウエーハの1面を加工するにあたり、該
    ウエーハの他の1面を保護するために貼付される保護テ
    ープの切断方法であって、前記ウエーハに貼付された前記保護テープの表面と該保
    護テープの切断面とでなす角度が鈍角となるように、切
    断工具を傾斜させて切断し、 前記切断工具の傾斜角度を、前記ウエーハの面取り部分
    の形状及び前記ウエーハの最終厚みを基に調整して、前
    保護テープの外径を、前記ウエーハの平坦面よりも大
    きく前記ウエーハの外径よりも小さく且つ前記ウエーハ
    の加工領域まではみ出さない寸法に切断することを特徴
    とするウエーハ保護テープの切断方法。
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