KR100479136B1 - 범용인터페이스시험어댑터 - Google Patents

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KR100479136B1
KR100479136B1 KR10-1998-0704459A KR19980704459A KR100479136B1 KR 100479136 B1 KR100479136 B1 KR 100479136B1 KR 19980704459 A KR19980704459 A KR 19980704459A KR 100479136 B1 KR100479136 B1 KR 100479136B1
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멜빈 지. 오스터
브라이언 푹스
케네스 레이드
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배 시스템즈 에어크라프트 컨트롤즈 인크.
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Abstract

본 발명은 시험 스테이션과 피시험 유닛 사이를 접속하기 위한 범용 인터페이스 시험 어댑터에 관한 것이다. 범용 인터페이스 시험 어댑터는 시험 스테이션과 피시험 유닛 사이의 신호 경로를 선택하도록 구성되는 인터페이스 프레임 및 상호 교환 가능한 회로 카드 조립체를 포함한다. 인터페이스 프레임은 복수의 접촉핀이나 스프링 로딩된 프로브를 갖는 인터페이스면을 포함하며, 회로 카드 조립체는 접촉핀에 결합되도록 정렬된 복수의 접촉 패드를 갖는다. 시험 스테이션과 피시험 유닛 사이의 전기 접속은 상호 교환 가능한 회로 카드 조립체를 교환하기만 하면 재구성될 수 있다. 가압 프레임은 인터페이스면에 대해 회로 카드 조립체를 견고하게 유지시켜 전기 접속을 제공하도록 제공된다. 가압 프레임은 레버 아암에 의해 작동되는 각진 캠 슬롯 기구와 캠에 의해 인터페이스면을 향해 견인된다.

Description

범용 인터페이스 시험 어댑터 {GENERIC INTERFACE TEST ADAPTER}
본 발명은 시험 스테이션과 피시험 유닛(UUT, a unit under test)을 인터페이싱하는 것에 관한 것이다. 구체적으로, 본 발명은 시험 스테이션을 각종의 UUT에 접속시키기 위한 표준 시험 인터페이스를 갖는 인터페이스 시험 어댑터(an interface test adapter)에 관한 것이다.
UUT는 전형적으로 예컨대 비행기 비행 조종 시스템 등 대형 전자 시스템과 일체화되는 전자 장치이다. UUT는 복잡성 및 편의성에 기초하여 여러 범주로 분류된다. 보다 복잡한 UUT는 일반적으로 라인 교환 가능 유닛(LRU, a line replaceable unit)이라 부른다. LRU는 전형적으로 자체의 하우징과 수 백개의 개별 신호선 갯수만큼 제공하기 위한 전기 커넥터를 갖는다. 보다 간단한 UUT는 일반적으로 공장 교환 가능 유닛(SRU, a shop replaceable unit)이라 부르며 전형적으로 단일 회로 기판으로 구성된다. 따라서, UUT는 각종의 구성을 가질 수 있으며 그에 따라 시험 스테이션은 서로 다른 UUT 구성을 시험하도록 융통성을 가져야 한다.
시험 스테이션을 각종의 UUT에 접속시키기 위한 인터페이스 시험 어댑터의 예로는 스토워 등(Stowers et al.)의 미국 특허 제5,103,378호에 개시된 어댑터가 있다. 스토워 등의 특허에서, 시험 스테이션은 모듈러 카드 보유부(a modular card cage)에 수납된 여러 개의 컴퓨터 제어식 전자 계측 회로 카드(computer controlled electronic instrumentation circuit cards)를 갖는다. 계측 카드는 카드 보유부에서 마더 보드(a mother board)를 통해 함께 접속된다. 전기 커넥터는 UUT로의 필요한 접속을 위해 각각의 계측 카드의 전방에서 사용할 수 있다. 상호 접속 어댑터는 시험 스테이션과 상호 교환 가능한 시험 어댑터 사이에 한정된 인터페이스를 제공하는 커넥터 모듈을 형성하도록 전자 계측 회로 카드의 전방에 장착된다. 종래 기술에 의한 상호 교환 가능한 시험 어댑터는 각각의 UUT 구성에 따라 달라지도록 구성된다. 각각의 상호 교환 가능한 시험 어댑터는, 자체의 기계적인 하우징과, 회로 카드와, 커넥터 모듈을 UUT에 기계적 그리고 전기적 접속시키기 위한 내부 배선을 갖는다. 전형적인 상호 교환 가능한 시험 어댑터는 스토워 등의 특허의 도20 내지 도22에 도시되어 있다.
도9에 도시된 바와 같이, LRU형 UUT용의 상호 교환 가능한 시험 어댑터는 한 시험 어댑터와 다른 시험 어댑터 사이에 공통성이 존재하지 않기 때문에 상당히 복잡할 수 있다. 따라서, 개별 도선은 여러 개의 커넥터, 회로 카드 및 도선 덮개판 사이에서 때로는 다발로 한 지점으로부터 다른 지점으로 설치된다. 상이한 LRU형 UUT가 시험되기 위해 놓이면, 종래 기술에 의한 시험 어댑터는 상기 특정한 UUT를 위해 구성되어야 하며 상당한 노력이 상기 새로운 상호 교환 가능한 시험 어댑터를 설계, 구성 및 배선하는 데 소비되어야 한다. 또한, 도10에 도시된 바와 같이, SRU형 UUT용의 상호 교환 가능한 시험 어댑터는 LRU형 UUT용 시험 어댑터와 상당히 서로 다른 경우도 있다. 이와 같이, LRU형 UUT용 시험 어댑터를 구성하도록 사용되는 하우징 및 배선 설계는 SRU형 UUT용 시험 어댑터를 설계 및 구성하는 데 실제로는 무용하다. 각각의 종래 기술에 의한 시험 어댑터의 설계 및 구성에는 비용이 들며, 또한 종래의 시험 어댑터는 부피가 크며 취급 및 교환이 상대적으로 어려우며 사용하지 않는 경우에도 상당한 저장 공간을 요한다.
따라서, 각종의 UUT를 시험하도록 용이하게 재구성되며 취급이 상대적으로 용이하며 사용하지 않는 경우에도 저장이 상대적으로 용이한 인터페이스 시험 어댑터에 대한 필요성이 존재하는 것이다. 본 발명은 상기 필요성을 충족하며 추가로 관련된 장점을 제공한다.
도1은 시험 스테이션과 UUT 사이에 인터페이스를 제공하기 위한 본 발명에 따른 범용 인터페이스 시험 어댑터의 블럭도이다.
도2는 인터페이스면과 상호 교환 가능한 회로 카드 조립체와 상기 인터페이스면에 대해 카드 조립체를 가압하기 위한 가압 프레임을 갖는 본 발명에 따른 범용 인터페이스 시험 어댑터의 분해 사시도이다.
도3은 도1의 인터페이스면 및 상호 교환 가능한 회로 카드 조립체의 분해 사시도이다.
도4A는 도3의 인터페이스면의 스프링 로딩된 접촉핀 및 회로 카드 조립체의 대응하는 접촉 패드의 부분 단면 정면도이다.
도4B는 도3의 접촉 패드 및 회로 카드 조립체의 상호 접속 트레이스의 평면도이다.
도5A는 도2의 인터페이스면의 스프링 로딩된 rf 동축 커넥터 및 회로 카드 조립체의 대응하는 동심 접촉 패드의 부분 단면 정면도이다.
도5B는 도5A의 스프링 로딩된 rf 동축 커넥터 및 대응하는 동심 접촉 패드의 사시도이다.
도5C는 비압축 상태의 도5A의 스프링 로딩된 rf 동축 커넥터의 단면도이다.
도5D는 동축 커넥터가 스프링을 압축하기에 충분할 정도의 힘으로 동심 접촉핀에 대해 가압된 상태의 도5A의 스프링 로딩된 rf 동축 커넥터의 단면도이다.
도6은 도1의 범용 인터페이스 시험 어댑터의 분해 사시 배면도이다.
도7은 피시험 유닛의 시스템 레벨 시험용으로 구성된 본 발명에 따른 범용 인터페이스 시험 어댑터의 사시도이다.
도8은 카드 레벨에서 유닛을 시험하기 위해 구성된 본 발명에 따른 범용 인터페이스 어댑터의 분해 사시도이다.
도9는 피시험 유닛의 시스템 레벨 시험용의 기존의 상호 교환 가능한 시험 어댑터의 분해 사시도이다.
도10은 피시험 유닛의 카드 레벨 시험용의 다른 기존의 상호 교환 가능한 시험 어댑터의 분해 사시도이다.
본 발명은 시험 스테이션과 피시험 유닛 사이에 인터페이스를 제공하기 위한 범용 인터페이스 시험 어댑터로 실시화된다. 범용 인터페이스 시험 어댑터는 복수의 접촉핀을 갖는 평탄한 인터페이스면과 복수의 접촉 패드를 갖는 평탄한 인터페이스 카드를 포함한다. 접촉핀의 일부는 시험 스테이션으로 또는 상기 시험 스테이션으로부터의 소정의 전기 신호에 관련된다. 평탄면 인터페이스 카드는 인터페이스면에 결합되도록 구성된 평탄면을 갖는다. 복수의 접촉 패드는 평탄면에 있다. 각각의 접촉 패드는 평탄면이 인터페이스면에 정렬되어 결합되면 복수의 접촉핀과 관련 접촉 패드 사이에 전기 접촉이 이루어지도록 인터페이스면의 접촉핀 중 하나에 관련된다. 시험 어댑터는 또한 인터페이스 카드를 피시험 유닛에 전기 결합시키기 위한 적어도 하나의 커넥터를 포함한다. 인터페이스 카드의 전도성 트레이스(traces)는 커넥터를 접촉 패드에 결합시킨다.
본 발명의 보다 상세한 특징에서, 범용 인터페이스 시험 어댑터는 인터페이스면을 수납하기 위한 인터페이스 프레임과 상기 인터페이스 프레임에 대해 인터페이스 카드를 가압하는 가압 프레임을 추가로 포함한다. 인터페이스 프레임은 또한 인터페이스면에 수직한 방향 및 인터페이스면의 대향 단부들에서 제1 프레임으로부터 돌출되는 네 개의 삽통식 안내부에 장착된 한 쌍의 카드 안내부를 포함할 수도 있다. 카드 안내부는 인터페이스 카드를 인터페이스면에 정렬시키는 데 협력한다. 인터페이스 프레임은 또한 활주 캠과 상기 활주 캠을 작동하기 위한 액추에이터 손잡이(an actuator handle)를 포함할 수도 있다. 마찬가지로, 가압 프레임은 활주 캠에 관련된 각진(angled) 캠 슬롯을 갖는 캠 종동판(a cam follower plate)을 포함할 수도 있다. 활주 캠 및 각진 캠 슬롯은 액추에이터 손잡이가 결합 위치에 있으면 가압 프레임이 복수의 접촉핀과 복수의 관련 접촉 패드 사이에 전기 접촉을 제공할 정도의 충분한 힘으로 인터페이스면에 대해 인터페이스 카드를 가압하도록 구성된다.
본 발명의 다른 보다 상세한 특징에서, 접촉핀은 스프링 로딩된 금속 프로브(spring-loaded metal probes)를 포함한다. 또한, 인터페이스면은 축방향 중심 도체 및 동축 차폐체를 갖는 적어도 하나의 rf형 접촉핀을 포함할 수도 있으며, 회로 카드 조립체는 rf 접촉핀에 결합시키기 위한 동심쌍의 접촉 패드와 상기 동심쌍의 접촉 패드에 전기 결합된 RF 전송선을 포함할 수도 있다.
본 발명의 다른 실시예에서, 피시험 유닛은 하나 이상의 커넥터를 가지며 인터페이스 프레임은 또한 커넥터를 피시험 유닛으로부터 수용하기 위한 하나 이상의 인터페이스 커넥터를 수납한다. 또한, 인터페이스면은 시험 스테이션에 관련된 복수의 제1 접촉핀과 인터페이스 커넥터에 관련된 복수의 제2 접촉핀을 갖는다. 또한, 인터페이스면은 인터페이스 카드나 상호 교환 가능한 회로 카드 조립체에 결합되어 시험 스테이션을 인터페이스 커넥터에 전기 결합시키기 적합하다.
본 발명의 보다 상세한 특징에서, 회로 카드 조립체는 복수의 제1 접촉핀에 관련된 복수의 제1 접촉 패드와 복수의 제2 접촉핀에 관련된 평탄면의 복수의 제2 접촉 패드를 포함한다. 또한, 회로 카드 조립체는 평탄면이 인터페이스면에 정렬되어 결합되면 시험 스테이션과 인터페이스 커넥터 사이에 전기 접촉이 이루어지도록 복수의 제1 접촉 패드의 선택 접촉 패드를 복수의 제2 접촉 패드의 선택 접촉 패드에 결합시키는 전도성 트레이스를 포함한다.
본 발명의 기타 특징 및 장점은 실시예를 통해 본 발명의 원리를 도시하는 첨부 도면에 관련하여 취해진 양호한 실시예의 다음 설명을 참조하면 명백해질 것이다.
첨부 도면은 본 발명을 도시하고 있다.
이제 도면 특히 도1 및 도2를 참조하면, 본 발명은 시험 스테이션(12)과 피시험 유닛(UUT, 14) 사이에 전기 인터페이스를 제공하기 위한 범용 인터페이스 시험 어댑터(10)로 실시화된다. 범용 인터페이스 시험 어댑터의 독특한 특징 중에는 상기 어댑터가 상호 교환 가능한 회로 카드 조립체를 교환하기만 하면 시험 스테이션과 각종의 기계 및 전기적으로 개별적인 UUT의 인터페이싱을 가능케 하는 영구 구성된 인터페이스면(16) 및 상호 교환 가능한 회로 카드 조립체(18)가 있다. 범용 인터페이스 시험 어댑터는 인터페이스면(16) 및 범용 유닛 인터페이스 커넥터(22)를 수납하는 인터페이스 프레임(20)을 포함하며, 인터페이스면에 대해 회로 카드 조립체를 유지시키는 가압 프레임(24)을 포함한다.
도3 내지 도5D에 도시된 바와 같이, 인터페이스면(16)은 평탄면이며 네일 베드(a bed of nails)라 부르는 스프링 로딩된 접촉핀(26)이나 포고(POGOS)의 다섯 개의 서로 다른 영역이나 구역을 갖는다. 각각의 접촉핀은 일반적으로 상이한 전기 신호에 관련된다. 제1 및 제2 영역(28, 30)은 시험 스테이션의 계측 및 시험 카드 신호에 각각 대응하며, 제3 영역(32)은 시험 스테이션의 고전류 신호에 대응하며, 제4 영역(34)은 시험 스테이션의 rf 신호에 대응하며, 제5 영역(36)은 범용 UUT 인터페이스 커넥터(22)에 대응한다. 제1 내지 제4 영역에서 접촉핀(26)은 시험 스테이션(12)에 전기 접속되며 제5 영역에서 접촉핀은 범용 UUT 인터페이스 커넥터에 전기 접속된다. 시험 스테이션과 UUT(14) 사이에 필요해진 모든 전기 접속이 인터페이스면을 통해 이루어질 수 있도록 충분한 갯수의 접촉핀이 제공된다(대략 5000개).
상호 교환 가능한 회로 카드 조립체(18)는 인터페이스면(16)의 다섯 개의 접촉핀 영역에 대응하는 다섯 개의 접촉 패드(38)를 갖는 평탄한 인쇄 배선 기판이나 회로 카드로 구성된다. 회로 카드 조립체의 각각의 접촉 패드는 인터페이스면의 대응하는 접촉핀(26)에 정렬 및 결합되도록 위치된다. 회로 카드는 접촉 패드에 전기 접속되기 위한 다층 인쇄 도선이나 전도성 상호 접속 트레이스(40)를 추가로 포함한다. 회로 카드는 또한 특정한 UUT(14)를 시험하도록 제공될 필요가 있을 수도 있는 UUT 특정 회로(42)에 대한 공간을 제공하도록 접촉핀을 갖지 않는 개방 영역을 포함한다.
접촉핀(26) 및 접촉 패드(38)는 견고하게 기계 접촉되어야 인터페이스면(16)과 회로 카드 조립체(18) 사이에 전기 접속을 제공한다. 저주파 신호에 대해, 인터페이스면의 접촉핀은 스프링 로딩된 프로브나 포고(POGOS)이다(도4A). 도선(44)은 각각의 접촉핀의 후방에 접속된다. 회로 카드 조립체의 대응하는 접촉 패드는 둥근 금도금 패드이다(도4B).
rf 신호에 대해, 접촉핀은 50오옴(ohm) 동축 케이블로부터 나온 신호에 인터페이싱되기 위한 특별한 동축의 스프링 로딩된 프로브(46)이다. rf 프로브는 스프링이 로딩되며 케이블의 임피던스를 유지시키면서 접촉 패드로의 전기 접촉을 제공하는 축방향 중심 도체(48) 및 동축 차폐체(50)를 갖는다. SMB 커넥터(51)는 rf 프로브의 후방 단부에 제공된다. 적절한 동축의 스프링 로딩된 프로브로는 로드 아일랜드 운소켓(Woonsocket, Rhode Island) 소재의 TTI, Inc.제가 있다.
대응하는 rf 접촉 패드(52)는 동심 목표 패드로 구성된다. 회로 카드 조립체(18)에서, rf 신호는 rf 전송선을 형성하는 스트라이프라인(stripelines)에 의해 전송된다. 적절한 rf 정합 회로는 인쇄 회로 기판에 형성되어 동축 케이블과 인쇄 회로 기판의 대응하는 스트라이프라인 사이의 임피던스를 정합시킨다. 회로 카드 조립체가 다층 인쇄 회로 기판을 사용하기 때문에, 접지 평면, 보호 트레이스(guard traces) 및 기타 전형적인 rf 설계 구조는 회로 카드 조립체의 rf 신호 경로를 선택하도록 채용될 수 있다. 시험 스테이션(12)과 UUT(14) 사이의 도선 또는 도체의 길이는 상당히 한정되어 회로 카드 조립체의 적용 가능한 전도성 트레이스(40)의 길이를 증감시키면 차이가 설명될 수 있기 때문에 신호선 사이에서 추가의 비교 가능한 신호 지연이 유지될 수 있다.
인터페이스 프레임(20, 도2)은 또한 가압 프레임(24)의 일부로서 포함된 캠 종동판(56)의 세 세트의 각진 슬롯(54)에 결합되는 세 세트의 활주 캠(52)을 포함한다. 캠은 인터페이스면(16)에 평행하게 활주하며, 각진 슬롯에 결합되면 인터페이스 프레임을 향해 가압 프레임을 견인하는 힘을 제공한다. 가압 프레임은 회로 카드 조립체 영역으로의 접근을 제공하기 위한 제거 가능한 덮개를 구비한 개구(65)를 갖는다.
회로 카드 조립체(18)를 범용 인터페이스 시험 어댑터(10) 내로 설치하기 위해, 회로 카드 조립체는 인터페이스면(16)에 대해 카드 안내부를 견인하며 그에 따라 카드 회로 조립체를 견인하는 네 개의 스프링 로딩된 삽통식 안내부(60)에 의해 지지되는 한 쌍의 카드 안내부(58) 내로 삽입된다. 회로 카드 조립체는 안내부의 저부에서 스톱(62)에 의해 한정된 소정의 위치에 도달할 때까지 카드 안내부 아래로 활주된다. 상기 위치에서, 접촉 패드(38)는 대응하는 접촉핀(26)에 정렬된다. 캠 액추에이터 손잡이 또는 레버(64)는 캠에 연결되어 회로 카드 조립체가 접촉 패드에 대해 스프링 로딩된 접촉핀을 압축할 정도의 충분한 압력으로 인터페이스면에 대해 견인되도록 캠 활주에 대해 기계적인 장점을 제공한다.
인터페이스 프레임(20)측의 범용 UUT 인터페이스 커넥터(22)는 무삽발력 커넥터(zero insertion force connectors, 66) 및 동축 RF 커넥터(68)이다. 범용 UUT 인터페이스 커넥터에서 모든 전기 접점은 제5 접촉핀 영역(36)에서 대응하는 접촉핀을 갖는다. 이와 같이, UUT 인터페이스 커넥터에서 각각의 전기 접점은 인쇄 회로 카드의 적절한 접촉 패드에 상호 접속되면 시험 스테이션에 관련된 영역(28, 30, 32, 34)에서 접촉핀에 개별 접속된다.
도6에 도시된 바와 같이, 접촉핀(26)의 후방과 시험 스테이션(12)의 커넥터 모듈 사이의 전기 접속은 리본 케이블 조립체(70)에 의해 이루어질 수 있다. 혹은, 접촉핀의 후방으로의 전기 접속은 접촉핀에 접속되는 도선(44)을 갖는 커넥터 블럭(72)을 제공하거나, 인터페이스면(16)의 후방에 직접 커넥터(74)를 제공하면 이루어질 수 있다. 시험 스테이션으로부터 나온 모든 전기 신호가 인터페이스면에서 이용 가능하기 때문에, 인터페이스면을 재배선하여 개별 UUT를 시험할 필요는 없다. 대신에, 모든 필요한 "재배선(rewiring)"은 교환 가능한 회로 카드 조립체가 특정한 UUT 구성을 위해 설계되는 경우에 수행된다. 기존의 컴퓨터 이용 회로 기판 설계 및 자동 루팅 도구(auto-routing tools)가 회로 카드 조립체를 설계하는 데 사용될 수 있으며 기타 UUT를 위해 저장된 기존의 설계는 새로운 회로 카드 조립체를 설계할 경우에 기존의 설계를 이용하여 변형될 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 상호 교환 가능한 회로 카드 조립체의 설계 및 제조는 기존의 시험 어댑터의 이산된 도선(discrete wires)을 사용하는 설계 및 제조에 비해 훨씬 간단하고 비용 효과적이다.
도7은 인터페이스 프레임(20)측의 보다 대형의 UUT 인터페이스 커넥터(22)의 무삽발력 커넥터(66)를 통해 시스템 레벨 시험을 LRU형 UUT(14)에 대해 수행하도록 구성된 범용 인터페이스 시험 어댑터(10)를 도시하고 있다. UUT는 시험 케이블(76)에 의해 커넥터에 접속된다. 시험 스테이션(12)과 범용 UUT 인터페이스 커넥터 사이의 모든 접속은 인터페이스면(16) 및 회로 카드 조립체(18)를 통해 이루어진다.
도8에 도시된 바와 같이, 회로 카드 조립체(18)를 교환하여 가압 프레임(24)에서 개구(78)로부터 커버를 제거하기만 하면, 범용 시험 어댑터(10)는 SRU형 UUT 또는 회로 카드(14)를 시험하도록 용이하게 재구성될 수 있다. SRU형 회로 카드는 접촉 패드면에 대향인 회로 카드 조립체의 표면에 장착된 모서리 커넥터(80)에 의해 회로 카드 조립체에 접속된다. 여러 개의 SRU형 회로 카드는 필요하다면 하나 이상의 모서리 커넥터 및 다중 회로를 사용하여 동시에 시험될 수 있다.
이와 같이, 범용 인터페이스 시험 어댑터(10)는 시험 스테이션(12)이 교환 가능한 회로 카드 조립체(18)를 교환하기만 하면 각종의 UUT(14)를 시험할 수 있다. 또한, 시험 스테이션에 대한 검증 시험은 적절한 신호를 "재루핑시키도록(loop back)" 구성된 회로 카드 조립체를 사용하여 용이하게 수행될 수 있다. 또한, 회로 카드 조립체의 취급 및 저장은 기존의 시스템용의 시험 어댑터의 취급 및 저장에 비해 훨씬 간단하다.
상기에 본 발명에 따른 양호한 실시예를 개시하였지만, 당업자라면 본 발명의 범주를 벗어나지 않고도 도시된 양호한 실시예를 각종 형태로 변형할 수도 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 본 발명은 다음 청구의 범위에 의해서만 한정된다.

Claims (17)

  1. 시험 스테이션과 적어도 하나의 피시험 라인 교환 가능 유닛(LRU) 및 적어도 하나의 피시험 공장 교환 가능 유닛(SRU) 사이에 결합을 구성하기 위한 범용 인터페이스 시험 어댑터이며,
    범용 인터페이스 시험 어댑터와 라인 교환 가능 유닛(LRU)를 결합하기 위한 제1 커넥터와,
    제1 및 제2 접촉핀 영역을 포함하고, 제1 접촉핀 영역의 각 접촉핀은 시험 스테이션으로의 또는 시험 스테이션으로부터의 전기 신호와 관련되고 제2 접촉핀 영역의 각 접촉핀은 커넥터로의 또는 커넥터로부터의 전기 신호와 관련되는 실질적으로 평탄한 인터페이스면과,
    상호 교환 가능하고 실질적으로 평탄한 제1 인터페이스 카드와,
    상호 교환 가능하고 실질적으로 평탄한 제2 인터페이스 카드를 포함하며,
    상기 제1 인터페이스 카드는
    인터페이스면과 결합되도록 구성된 제1 실질적 평탄면과,
    상기 평탄면상의 제1 및 제2 접촉 패드 영역으로서, 제1 접촉 패드 영역의 각 접촉 패드는 제1 접촉핀 영역의 접촉핀들 중 하나와 관련되고, 제2 접촉 패드 영역의 각 접촉 패드는 제2 접촉핀 영역의 접촉핀들 중 하나와 관련되어, 제1 실질적 평탄면이 인터페이스면과 정합 정렬될 때, 제1 접촉핀 영역과 제1 접촉 패드 영역 사이에 그리고 제2 접촉핀 영역과 제2 접촉 패드 영역 사이에 전기 접촉이 이루어지는, 상기 제1 및 제2 접촉 패드 영역과,
    제1 접촉 패드 영역과 제2 접촉 패드 영역을 결합하는 제1 인터페이스 카드 상의 전도성 트레이스를 포함하며,
    상기 제2 인터페이스 카드는
    범용 인터페이스 시험 어댑터와 적어도 하나의 공장 교환 가능 유닛(SRU)을 결합하기 위한 적어도 하나의 제2 커넥터와,
    인터페이스면과 결합되도록 구성된 제2 실질적 평탄면과,
    상기 평탄면상의 제3 접촉 패드 영역으로서, 제3 접촉 패드 영역의 각 접촉 패드는 제1 접촉핀 영역의 접촉핀들 중 하나와 관련되어, 제2 실질적 평탄면이 인터페이스면과 정합 정렬될 때, 제1 접촉핀 영역과 제3 접촉 패드 영역 사이에 전기적 접촉이 이루어지는, 상기 제3 접촉 패드 영역과,
    제3 접촉 패드 영역과 적어도 하나의 제2 커넥터를 결합하는 제2 인터페이스 카드 상의 전도성 트레이스를 포함하는 범용 인터페이스 시험 어댑터.
  2. 제1항에 있어서, 상기 인터페이스면을 수납하기 위한 제1 프레임과,
    라인 교환 가능 유닛(LRU)이 시험될 때 상기 인터페이스면에 대해 제1 인터페이스 카드를 가압하고, 공장 교환 가능 유닛(SRU)이 시험될 때 상기 인터페이스면에 대해 제2 인터페이스 카드를 가압하는 가압 프레임을 추가로 포함하는 범용 인터페이스 시험 어댑터.
  3. 제2항에 있어서, 상기 제1 프레임은 인터페이스면에 수직한 방향 및 인터페이스면의 대향 단부들에서 제1 프레임으로부터 돌출되는 삽통식 안내부에 장착된 한 쌍의 카드 안내부를 추가로 포함하며, 상기 카드 안내부는 라인 교환 가능 유닛(LRU)이 시험될 때 제1 인터페이스 카드를 인터페이스면에 정렬시키고, 공장 교환 가능 유닛(SRU)이 시험될 때 제2 인터페이스 카드를 인터페이스면에 정렬시키는 범용 인터페이스 시험 어댑터.
  4. 제2항에 있어서, 상기 제1 프레임은 활주 캠과 상기 활주 캠을 작동하기 위한 액추에이터 손잡이를 포함하며,
    상기 가압 프레임은 활주 캠에 관련된 각진 캠 슬롯을 갖는 캠 종동판을 포함하여, 라인 교환 가능 유닛(LRU)이 시험될 때 액추에이터 손잡이가 결합 위치에 있으면 가압 프레임이 제1 및 제2 접촉핀 영역과 이에 관련된 제1 및 제2 접촉 패드 영역 사이에 전기 접촉을 제공할 정도의 충분한 힘으로 인터페이스면에 대해 제1 인터페이스 카드를 가압하고, 공장 교환 가능 유닛(SRU)이 시험될 때 액추에이터 손잡이가 결합 위치에 있으면 가압 프레임이 제1 접촉핀 영역과 제3 접촉 패드 영역 사이에 전기 접촉을 제공할 정도의 충분한 힘으로 인터페이스면에 대해 제2 인터페이스 카드를 가압하는 범용 인터페이스 시험 어댑터.
  5. 제1항에 있어서, 제1 및 제2 접촉핀 영역은 스프링 로딩된 금속 프로브를 포함하는 범용 인터페이스 시험 어댑터.
  6. 제1항에 있어서, 상기 인터페이스면은 축방향 중심 도체 및 동축 차폐체를 갖는 적어도 하나의 rf 접촉핀을 포함하며,
    상기 제1 및 제2 인터페이스 카드는 적어도 하나의 rf 접촉핀에 관련된 적어도 하나의 동심쌍의 접촉 패드와 상기 적어도 하나의 동심쌍의 접촉 패드에 전기 결합된 적어도 하나의 rf 전송선을 포함하는 범용 인터페이스 시험 어댑터.
  7. 상호 교환 가능한 회로 카드 조립체들을 사용하여, 각각 커넥터를 갖는 복수의 피시험 유닛과 시험 스테이션 사이에 인터페이스를 제공하기 위한 범용 인터페이스 시험 어댑터이며,
    피시험 유닛들로부터의 적어도 하나의 커넥터를 수용하기 위한 하나 이상의 인터페이스 커넥터와,
    상기 시험 스테이션에 결합된 복수의 제1 접촉핀, 및 피시험 라인 교환 가능 유닛(LRU)의 커넥터를 수용하는 하나 이상의 인터페이스 커넥터 중 제1 인터페이스 커넥터에 결합된 복수의 제2 접촉핀을 구비하며, 피시험 라인 교환 가능 유닛(LRU)에 시험 스테이션을 전기적 결합시키도록 제1 상호 교환 가능한 회로 카드 조립체와 정합하도록 되어 있고, 피시험 공장 교환 가능 유닛(SRU)에 시험 스테이션을 전기적 결합시키도록 제2 상호 교환 가능한 회로 카드 조립체와 정합하도록 되어 있는 인터페이스면을 수납하는 인터페이스 프레임을 포함하고,
    상기 인터페이스 프레임은 복수의 제1 접촉핀과 복수의 제2 접촉핀을 결합하도록 되어 있는 제1 상호 교환 가능한 회로 카드 조립체, 및 피시험 공장 교환 가능 유닛(SRU)의 커넥터를 수용하는 적어도 하나의 제2 인터페이스 커넥터와 복수의 제1 접촉핀을 결합하도록 되어 있는 제2 상호 교환 가능한 회로 카드 조립체를 수용하도록 되어 있는 범용 인터페이스 시험 어댑터.
  8. 제7항에 있어서, 상기 제1 상호 교환 가능한 회로 카드 조립체는,
    인터페이스면에 결합되도록 구성된 표면과,
    복수의 제1 접촉핀에 관련되도록 평탄면에 있는 복수의 제1 접촉 패드와 복수의 제2 접촉핀에 관련되도록 평탄면에 있는 복수의 제2 접촉 패드와,
    평탄면이 인터페이스면에 정합 정렬되면 시험 스테이션과 제1 인터페이스 커넥터 사이에 전기 접촉이 이루어지도록 복수의 제1 접촉 패드 중 선택된 접촉 패드를 복수의 제2 접촉 패드 중 선택된 접촉 패드에 결합시키는 전도성 트레이스를 포함하는 범용 인터페이스 시험 어댑터.
  9. 제8항에 있어서, 상기 인터페이스면에 대해 제1 상호 교환 가능한 회로 카드 조립체를 가압하는 가압 프레임을 추가로 포함하는 범용 인터페이스 시험 어댑터.
  10. 제9항에 있어서, 상기 인터페이스 프레임은 활주 캠과 상기 활주 캠을 작동하기 위한 액추에이터 손잡이를 포함하며,
    상기 가압 프레임은 활주 캠에 관련된 각진 캠 슬롯을 갖는 캠 종동판을 포함하여, 액추에이터 손잡이가 결합 위치에 있으면 가압 프레임이 복수의 제1 및 제2 접촉핀과 이에 관련된 복수의 제1 및 제2 접촉 패드 사이에 전기 접촉을 제공할 정도의 충분한 힘으로 인터페이스면에 대해 제1 상호 교환 가능한 회로 카드 조립체를 가압하는 범용 인터페이스 시험 어댑터.
  11. 제7항에 있어서, 상기 접촉핀은 스프링 로딩된 금속 프로브를 포함하는 범용 인터페이스 시험 어댑터.
  12. 제7항에 있어서, 인터페이스면은 축방향 중심 도체 및 동축 차폐체를 갖는 적어도 하나의 rf 접촉핀을 수용하며,
    상기 상호 교환 가능한 회로 카드 조립체들은 적어도 하나의 rf 접촉핀에 관련된 적어도 하나의 동심쌍의 접촉 패드 및 상기 적어도 하나의 동심쌍의 접촉 패드에 전기 결합된 적어도 하나의 rf 전송선을 포함하는 범용 인터페이스 시험 어댑터.
  13. 제7항에 있어서, 제2 상호 교환 가능한 회로 카드 조립체는 상기 적어도 하나의 제2 인터페이스 커넥터를 하나 이상의 접촉 패드에 결합시키는 전도성 트레이스를 포함하는 범용 인터페이스 시험 어댑터.
  14. 제7항에 있어서, 상기 인터페이스 프레임은 제2 상호 교환 가능한 회로 카드 조립체에 연결되도록 된 적어도 하나의 공장 교환 가능 유닛(SRU)을 수용하기 위한 개구를 한정하는 범용 인터페이스 시험 어댑터.
  15. 제7항에 있어서, 상기 제2 상호 교환 가능한 회로 카드 조립체는,
    인터페이스면과 결합하도록 구성된 표면과,
    복수의 제1 접촉핀에 관련되도록 평탄면에 있는 복수의 제1 접촉 패드와,
    평탄면이 인터페이스면에 정합 정렬되면 시험 스테이션과 적어도 하나의 제2 인터페이스 커넥터 사이에 전기 접촉이 이루어지도록 복수의 제1 접촉 패드 중 선택된 접촉 패드를 적어도 하나의 제2 인터페이스 커넥터와 결합시키는 전도성 트레이스를 포함하는 범용 인터페이스 시험 어댑터.
  16. 제15항에 있어서, 상기 인터페이스면에 대해 제2 상호 교환 가능한 회로 카드 조립체를 가압하는 가압 프레임을 추가로 포함하는 범용 인터페이스 시험 어댑터.
  17. 제16항에 있어서, 상기 인터페이스 프레임은 활주 캠과 상기 활주 캠을 작동하기 위한 액추에이터 손잡이를 포함하며,
    상기 가압 프레임은 활주 캠에 관련된 각진 캠 슬롯을 갖는 캠 종동판을 포함하여, 액추에이터 손잡이가 결합 위치에 있으면 가압 프레임이 복수의 제1 접촉핀과 복수의 제1 접촉 패드 사이에 전기 접촉을 제공할 정도의 충분한 힘으로 인터페이스면에 대해 제2 상호 교환 가능한 회로 카드 조립체를 가압하는 범용 인터페이스 시험 어댑터.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100777267B1 (ko) 2006-01-26 2007-11-20 우 옵트로닉스 코포레이션 전자소자 테스트 시스템의 범용 프루브 장치
KR102107111B1 (ko) 2019-09-19 2020-05-06 한화시스템 주식회사 Lru 결합형 sru 시험 장치 및 방법
KR102466483B1 (ko) * 2021-12-20 2022-11-11 한화시스템 주식회사 다중 신호를 사용하는 sru를 위한 시험 장치 및 방법

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6178255B1 (en) 1998-04-28 2001-01-23 Cross Match Technologies, Inc. Individualized fingerprint scanner
US6269319B1 (en) 1999-01-29 2001-07-31 The Mcdonnell Douglas Corporation Reconfigurable integration test station
US6272562B1 (en) * 1999-05-28 2001-08-07 Cross Match Technologies, Inc. Access control unit interface
US6239592B1 (en) * 1999-06-02 2001-05-29 Sun Microsystems, Inc. Test fixture with quick connect and release board interconnect mechanism
US6744910B1 (en) 1999-06-25 2004-06-01 Cross Match Technologies, Inc. Hand-held fingerprint scanner with on-board image normalization data storage
US6886104B1 (en) 1999-06-25 2005-04-26 Cross Match Technologies Rechargeable mobile hand-held fingerprint scanner with a data and power communication interface
US7162060B1 (en) 1999-08-09 2007-01-09 Cross Match Technologies Method, system, and computer program product for control of platen movement during a live scan
US6658164B1 (en) 1999-08-09 2003-12-02 Cross Match Technologies, Inc. Calibration and correction in a fingerprint scanner
WO2001011550A1 (en) * 1999-08-09 2001-02-15 Cross Match Technologties, Inc. Method, system, and computer program product for a gui to fingerprint scanner interface
AU2178100A (en) * 1999-08-09 2001-03-05 Cross Match Technologies, Inc. System and method for sending a packet with position address and line scan data over an interface cable
US6483932B1 (en) * 1999-08-19 2002-11-19 Cross Match Technologies, Inc. Method and apparatus for rolled fingerprint capture
EP1224609A1 (en) 1999-10-22 2002-07-24 Cross Match Technologies, Inc. Adjustable, rotatable finger guide in a tenprint scanner with movable prism platen
JP2004506993A (ja) * 2000-08-18 2004-03-04 クロス　マッチ　テクノロジーズ，　インコーポレイテッド 指紋スキャナ自動キャプチャシステムおよび方法
US6611152B1 (en) 2000-10-31 2003-08-26 The Boeing Company Test adapter for configuring the electrical communication between a unit under test and an electronic test station and associated separator plate
TW561263B (en) * 2001-03-10 2003-11-11 Samsung Electronics Co Ltd Parallel test board used in testing semiconductor memory devices
US6504730B1 (en) * 2001-07-23 2003-01-07 Hamilton Sundstrand Corporation Serviceable power modules for a power distribution assembly
US6841990B2 (en) * 2001-10-31 2005-01-11 Agilent Technologies, Inc. Mechanical interface for rapid replacement of RF fixture components
JP2005516290A (ja) 2002-01-17 2005-06-02 クロス マッチ テクノロジーズ， インコーポレイテッド 指紋ワークステーションおよび方法
US6954260B2 (en) 2002-01-17 2005-10-11 Cross Match Technologies, Inc. Systems and methods for illuminating a platen in a print scanner
JP2003307552A (ja) * 2002-04-17 2003-10-31 Tokyo Electron Ltd 信号検出用接触体及び信号校正装置
WO2004013801A2 (en) * 2002-08-02 2004-02-12 Cross Match Technologies, Inc. System and method for counting ridges in a captured print image
US6906544B1 (en) * 2003-02-14 2005-06-14 Cisco Technology, Inc. Methods and apparatus for testing a circuit board using a surface mountable adaptor
US7164440B2 (en) * 2003-02-28 2007-01-16 Cross Match Technologies, Inc. Dynamic image adaptation method for adjusting the quality of digital prints
WO2004090561A1 (ja) * 2003-04-04 2004-10-21 Advantest Corporation 接続ユニット、テストヘッド、および試験装置
US7082676B2 (en) * 2003-08-05 2006-08-01 Qualitau, Inc. Electrostatic discharge (ESD) tool for electronic device under test (DUT) boards
US20050047631A1 (en) * 2003-08-26 2005-03-03 Cross Match Technologies, Inc. Method and apparatus for rolled fingerprint image capture with variable blending
WO2008128286A1 (en) * 2007-04-18 2008-10-30 Tiip Pty Ltd Test instrument enclosure
US20080295090A1 (en) * 2007-05-24 2008-11-27 Lockheed Martin Corporation Software configuration manager
US7866784B2 (en) * 2008-08-19 2011-01-11 Silverbrook Research Pty Ltd Diagnostic probe assembly for printhead integrated circuitry
DE102012103893A1 (de) * 2012-05-03 2013-11-07 Turbodynamics Gmbh Modul zum Austauschen einer Schnittstelleneinheit in einem Testsystem zum Testen von Halbleiterelementen und Testsystem mit einem solchen Modul
FR2996367B1 (fr) 2012-10-01 2014-10-03 Airbus Operations Sas Systeme de connexion pour connecter un equipement electronique, en particulier pour aeronef, a une unite de test.
CN106324460B (zh) * 2016-11-08 2024-03-22 沈小晴 一种可换针盘式通用测试机构
CN107608842B (zh) * 2017-10-31 2023-11-21 江苏特创科技有限公司 一种接口测试组件及接口测试装置
CN116027124A (zh) * 2022-10-21 2023-04-28 深圳市朗科智能电气股份有限公司 一种可拆式模块化测试平台

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3654585A (en) * 1970-03-11 1972-04-04 Brooks Research And Mfg Inc Coordinate conversion for the testing of printed circuit boards
US3751649A (en) * 1971-05-17 1973-08-07 Marcrodata Co Memory system exerciser
US3854125A (en) * 1971-06-15 1974-12-10 Instrumentation Engineering Automated diagnostic testing system
CA1038042A (en) * 1975-03-03 1978-09-05 Motorola Programmable probe fixture and method of connecting units under test with test equipment
US4352061A (en) * 1979-05-24 1982-09-28 Fairchild Camera & Instrument Corp. Universal test fixture employing interchangeable wired personalizers
DE3013215A1 (de) * 1980-04-03 1981-10-15 Luther & Maelzer Gmbh, 3050 Wunstorf Adapter fuer ein selbstprogrammierbares leiterplattenpruefgeraet
US4354268A (en) * 1980-04-03 1982-10-12 Santek, Inc. Intelligent test head for automatic test system
US4402055A (en) * 1981-01-27 1983-08-30 Westinghouse Electric Corp. Automatic test system utilizing interchangeable test devices
DE3116079A1 (de) * 1981-04-23 1982-11-11 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Pruefsystem
EP0115135A1 (en) * 1982-12-27 1984-08-08 Genrad, Inc. Electrical test fixture for printed circuit boards and the like
US4590581A (en) * 1983-05-09 1986-05-20 Valid Logic Systems, Inc. Method and apparatus for modeling systems of complex circuits
US4551675A (en) * 1983-12-19 1985-11-05 Ncr Corporation Apparatus for testing printed circuit boards
DK291184D0 (da) * 1984-06-13 1984-06-13 Boeegh Petersen Allan Fremgangsmaade og indretning til test af kredsloebsplader
JPS6125263A (ja) * 1984-07-13 1986-02-04 Sony Corp 電子機器制御システム
US4724383A (en) * 1985-05-03 1988-02-09 Testsystems, Inc. PC board test fixture
US4899306A (en) * 1985-08-26 1990-02-06 American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories Test interface circuit which generates different interface control signals for different target computers responding to control signals from host computer
US4716500A (en) * 1985-10-18 1987-12-29 Tektronix, Inc. Probe cable assembly
US4718064A (en) * 1986-02-28 1988-01-05 Western Digital Corporation Automatic test system
US4901259A (en) * 1988-08-15 1990-02-13 Lsi Logic Corporation Asic emulator
US5291129A (en) * 1988-10-24 1994-03-01 Nhk Spring Co., Ltd. Contact probe
CN1045655A (zh) * 1988-11-23 1990-09-26 约翰弗兰克制造公司 系统自动诊断的内核测试接口和方法
US5036479A (en) * 1989-04-20 1991-07-30 Trw Inc. Modular automated avionics test system
US5058110A (en) * 1989-05-03 1991-10-15 Ultra Network Technologies Protocol processor
NL9001478A (nl) * 1990-06-28 1992-01-16 Philips Nv Testinrichting voor electrische schakelingen op panelen.
US5103378A (en) * 1990-09-21 1992-04-07 Virginia Panel Corporation Hinged interlocking receiver for mainframe card cage
US5196789A (en) * 1991-01-28 1993-03-23 Golden Joseph R Coaxial spring contact probe
US5218302A (en) * 1991-02-06 1993-06-08 Sun Electric Corporation Interface for coupling an analyzer to a distributorless ignition system
US5223788A (en) * 1991-09-12 1993-06-29 Grumman Aerospace Corporation Functional avionic core tester
US5357519A (en) * 1991-10-03 1994-10-18 Apple Computer, Inc. Diagnostic system
US5175493A (en) * 1991-10-11 1992-12-29 Interconnect Devices, Inc. Shielded electrical contact spring probe assembly
US5406199A (en) * 1993-07-28 1995-04-11 At&T Corp. Test fixture carrying a channel card for logic level translation

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100777267B1 (ko) 2006-01-26 2007-11-20 우 옵트로닉스 코포레이션 전자소자 테스트 시스템의 범용 프루브 장치
KR102107111B1 (ko) 2019-09-19 2020-05-06 한화시스템 주식회사 Lru 결합형 sru 시험 장치 및 방법
KR102466483B1 (ko) * 2021-12-20 2022-11-11 한화시스템 주식회사 다중 신호를 사용하는 sru를 위한 시험 장치 및 방법

Also Published As

Publication number Publication date
US5793218A (en) 1998-08-11
EP0866977B1 (en) 2002-05-08
PT866977E (pt) 2002-09-30
DE69621152T2 (de) 2003-01-02
ES2175129T3 (es) 2002-11-16
DE69621152D1 (de) 2002-06-13
HK1011223A1 (en) 1999-07-09
AU7112896A (en) 1997-07-14
TW312747B (ko) 1997-08-11
IN189781B (ko) 2003-04-19
KR20000064402A (ko) 2000-11-06
WO1997022886A1 (en) 1997-06-26
EP0866977A1 (en) 1998-09-30

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