NL9001478A - Testinrichting voor electrische schakelingen op panelen. - Google Patents

Testinrichting voor electrische schakelingen op panelen. Download PDF

Info

Publication number
NL9001478A
NL9001478A NL9001478A NL9001478A NL9001478A NL 9001478 A NL9001478 A NL 9001478A NL 9001478 A NL9001478 A NL 9001478A NL 9001478 A NL9001478 A NL 9001478A NL 9001478 A NL9001478 A NL 9001478A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
contact
contact plate
panel
test
plate
Prior art date
Application number
NL9001478A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Philips Nv
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Nv filed Critical Philips Nv
Priority to NL9001478A priority Critical patent/NL9001478A/nl
Priority to US07/651,685 priority patent/US5166601A/en
Priority to EP91201528A priority patent/EP0463684B1/en
Priority to DE69118451T priority patent/DE69118451T2/de
Priority to CN91104150A priority patent/CN1026357C/zh
Priority to JP3184120A priority patent/JPH04233248A/ja
Publication of NL9001478A publication Critical patent/NL9001478A/nl

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • G01R1/07328Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

”Testinrichting voor electrische schakelingen op panelen”
De uitvinding heeft betrekking op een inrichting voor het testen van op panelen aangebrachte electrische schakelingen en van onderdelen van op panelen aangebrachte electrische schakelingen, waarbij in bedrijf door een onderdruk in een eerste kamer een te testen paneel met electrische componenten aanligt op een ondersteuning van de inrichting en door een drukverschil tussen de eerste kamer en een tweede kamer een in een richting dwars op het paneel verplaatsbare contactplaat zich in een positie bevindt waarin het paneel electrisch is verbonden met een testeenheid van de inrichting.
Een uit het Amerikaanse octrooischrift 4,115,735 bekende inrichting van de in de aanhef genoemde soort is voorzien van een eerste en een tweede contactplaat, waarbij de eerste contactplaat zich tussen de ondersteuning en de tweede contactplaat bevindt. Beide contactplaten zijn voorzien van een verzameling zich in een richting dwars op het te testen paneel uitstrekkende teststiften. In de eerste contactplaat zijn openingen aangebracht waarin de teststiften van de tweede contactplaat schuifbaar zijn. Bij de bekende inrichting bevindt de eerste kamer zich tussen het paneel en de eerste contactplaat en bevindt de tweede kamer zich tussen de beide contactplaten. Door alleen in de eerste kamer een onderdruk aan te brengen komen alleen de teststiften van de eerste contactplaat in contact met het paneel en kunnen onderdelen van de schakeling getest worden. Door in beide kamers een onderdruk aan te brengen komen alle teststiften in contact met het paneel en kan de werking van de gehele schakeling getest worden.
Een nadeel van de bekende inrichting is dat de teststiften van de tweede contactplaat nauwkeurig dienen te passen in de openingen van de eerste contactplaat om een toereikende afdichting tussen de beide kamers te verkrijgen. Dit leidt tot relatief hoge fabricagekos- -ten. Een verder nadeel van de bekende inrichting is dat de contactpla-ten moeilijk zijn te vervangen, zodat de bekende inrichting in principe slechts geschikt is voor het testen van één type panelen. Tenslotte wordt bij de bekende inrichting door een onderdruk aan te brengen in de eerste kamer of in beide kamers een aantal teststiften in contact gebracht met het paneel en wordt door de genoemde onderdruk gelijktijdig het paneel vastgezet op de ondersteuning. Hierbij kunnen de teststiften te vroeg in contact komen met het paneel, waardoor het paneel niet goed op de ondersteuning komt te liggen of zelfs beschadigd wordt.
Een doel van de uitvinding is een inrichting van de in de aanhef genoemde soort te verschaffen, waarmee de hiervoor genoemde nadelen worden voorkomen.
De inrichting volgens de uitvinding heeft daartoe tot kenmerk, dat de contactplaat uitwisselbaar is aangebracht op een scheidingswand die de eerste kamer hermetisch afsluit van de tweede kamer en die onder invloed van een drukverschil tussen de beide kamers verplaatsbaar is nadat een vooraf bepaalde aandrukkracht tussen het paneel en de ondersteuning is verkregen.
Door toepassing van een scheidingswand met een uitwisselbare contactplaat wordt een eenvoudige en doelmatige afdichting tussen de beide kamers verkregen, terwijl verschillende typen panelen getest kunnen worden door telkens een aan het te testen paneel aangepaste contactplaat op de scheidingswand aan te brengen.
Een bijzondere uitvoeringsvorm van een inrichting volgens de uitvinding heeft tot kenmerk, dat de inrichting is voorzien van een verzameling dwars op het paneel gerichte teststiften, waaruit in bedrijf na verplaatsing van de contactplaat een voor het te testen paneel unieke deelverzameling van teststiften in contact is met een met de genoemde deelverzameling overeenstemmende combinatie van contactpunten van het paneel. Door de inrichting van een groot aantal teststiften te voorzien kunnen vele soorten electrische schakelingen getest worden.
Een verdere uitvoeringsvorm van een inrichting volgens de uitvinding, die een eenvoudige en doelmatige opstelling van de teststiften in de inrichting verschaft, heeft tot kenmerk, dat de test- __ stiften zijn aangebracht in een rastervormige verzameling van boringen__ die zich in een richting dwars op het paneel uitstrekken in een matrix-plaat tussen de ondersteuning en de contactplaat, waarbij elke test-stift in de betreffende boring verschuifbaar is met behulp van de contactplaat, terwijl elke teststift tenminste een testpen bezit die ten opzichte van de teststift verschuifbaar is met behulp van de contactplaat. Door de teststiften in een dergelijke op zichzelf eenvoudige matrixplaat op een vaste steek te plaatsen en de contactpunten van elk te testen paneel op een onderlinge afstand te plaatsen, die gelijk is aan of een veelvoud is van de genoemde steek, wordt bovendien een eenvoudig op elkaar af te stemmen ruimtelijke indeling van respectievelijk teststiften en contactpunten verschaft.
Een nog verdere uitvoeringsvorm van een inrichting volgens de uitvinding, die een uit een oogpunt van constructie eenvoudige en doelmatige electrische verbinding tussen de contactplaat en de test-eenheid van de inrichting verschaft, heeft tot kenmerk, dat de inrichting is voorzien van een verzameling van dwars op de contactplaat gerichte verbindingsstiften die bevestigd zijn in boringen van een zich evenwijdig aan de contactplaat uitstrekkende verbindingsplaat en die electrisch verbonden zijn met de testeenheid van de inrichting, waarbij in bedrijf na verplaatsing van de contactplaat een deelverzameling van de verbindingsstiften in contact is met een met de genoemde deelverzameling overeenstemmende combinatie van contactpunten van de contactplaat.
Een bijzondere uitvoeringsvorm van een inrichting volgens de uitvinding, die een eenvoudige en praktische opbouw van de contactplaat verschaft, heeft tot kenmerk, dat de contactplaat is voorzien van een gedrukte bedrading met behulp waarvan een eerste verzameling contactpunten van de contactplaat, die na verplaatsing van de contactplaat in contact zijn met de verbindingsstiften, electrisch verbonden is met een tweede verzameling contactpunten van de contactplaat, die na verplaatsing van de contactplaat in contact zijn met de teststiften.
Door de genoemde eenvoudige opbouw van de contactplaat wordt bereikt, dat de contactplaat met behulp van relatief eenvoudige middelen uitwisselbaar kan worden gemaakt.
Een verdere uitvoeringsvorm van een inrichting volgens de uitvinding, waarbij in bedrijf voorafgaande aan een verplaatsing van de -contactplaat op een doelmatige wijze een toereikende aandrukkracht tussen het te testen paneel en de ondersteuning wordt verkregen, heeft tot kenmerk, dat in de eerste kamer en in de tweede kamer gelijktijdig eenzelfde onderdruk instelbaar is. Door in de beide kamers een gelijke onderdruk in te stellen kan het paneel op de ondersteuning vastgezogen worden terwijl de scheidingswand met de eontactplaat in een stand blijft, waarbij er geen contact is tussen het paneel en de teststiften.
Een nog verdere uitvoeringsvorm van een inrichting volgens de uitvinding, waarbij op een eenvoudige wijze de electrische verbinding tussen de teststiften en de testeenheid gecontroleerd kan worden, heeft tot kenmerk, dat in de tweede kamer een druk instelbaar is die hoger is dan een in de omgeving van de inrichting heersende druk. Door een overdruk in de tweede kamer aan te brengen kan de contactplaat in een stand gebracht worden, waarbij de contactplaat in contact is met de teststiften en de verbindingsstiften, zonder dat er een paneel is geplaatst op de ondersteuning. De teststiften zijn op deze wijze toegankelijk voor een electrische weerstandsmeting ter controle van de genoemde electrische verbinding.
De uitvinding zal in het volgende nader worden toegelicht aan de hand van de tekening, waarin:
Figuur 1 een langsdoorsnede van een inrichting volgens de uitvinding toont,
Figuur 2 een dwarsdoorsnede van de inrichting volgens de lijn II-II in figuur 1 toont,
Figuur 3 een dwarsdoorsnede van de inrichting volgens de lijn III-III in figuur 1 toont,
Figuur 4 in detail een teststift van de inrichting toont, zoals in figuur 1 is weergegeven,
Figuur 5 in detail een verbindingsstift van de inrichting toont, zoals in figuur 1 is weergegeven, en
Figuur 6 een bovenaanzicht toont van een contactplaat van de inrichting volgens figuur 1.
De met de figuren 1 tot en met 6 geïllustreerde inrichting -bevat een rechthoekige, metalen houder 1 die bevestigd is op een rechthoekige, metalen bodemplaat 3. De houder 1 bevat verder een rechthoekige, opstaande wand 5 met een raamvormige ondersteuning 7, waarop een te testen paneel 9 met electrische schakelingen in een nauwkeurige positie ten opzichte van de houder 1 kan worden gelegd. Het paneel 9 ligt daarbij met zijn randen op een aan de ondersteuning 7 bevestigde pakking 11 uit rubber.
In de houder 1 bevindt zich een zich evenwijdig aan het paneel 9 uitstrekkende metalen scheidingswand 13 die de ruimte binnenin de houder 1 verdeelt in een eerste kamer 15 tussen het paneel 9 en de scheidingswand 13 en een tweede kamer 17 tussen de scheidingswand 13 en de bodemplaat 3, zoals in de figuren 1 en 2 getoond wordt. Tussen de bodemplaat 3 en een horizontale wand 19 van de houder 1 is een aantal dwars op het paneel 9 staande ronde geleidepennen 21 bevestigd (zie figuur 3). In de scheidingswand 13 is eenzelfde aantal boringen 23 aangebracht, waarin geleidebussen 25 zijn bevestigd die zich met geringe speling concentrisch om de geleidepennen 21 bevinden. Verder is de scheidingswand 13 ter plaatse van de boringen 23 voorzien van platte afdichtringen 27 die met hun binnenranden aanliggen tegen de geleidepennen 21, zodat bij een drukverschil tussen de beide kamers 15, 17 een gaslek langs de geleidepennen 21 wordt voorkomen. Op deze wijze is de scheidingswand 13 in een richting dwars op het paneel 9 verplaatsbaar langs de genoemde geleidepennen 21.
Tussen de scheidingswand 13 en de wand 19 is een aantal voorgespannen schroefveren 29 opgesteld onder invloed waarvan de scheidingswand 13 tegen op de bodemplaat 3 aangebrachte aanslagen 31 aanligt bij een gelijke druk in de kamers 15, 17 (zie figuur 1 en 3).
In de figuren 1 en 2 is te zien, dat de houder 1 vertikale binnenwanden 33 bezit, die elk zijn voorzien van een zich evenwijdig aan het paneel 9 uitstrekkend trapvormig profiel 35. Zoals in de figuren 1 en 2 verder is te zien, bevat de scheidingswand 13 op elk zijvlak 37 een zich evenwijdig aan het paneel 9 uitstrekkende, uitstekende rand 39. Door de trapvormige profielen 35 en de uitstekende randen 39 is nabij de zijvlakken 37 van de scheidingswand 13 een raamvormige kamer 41 begrensd. In de kamer 41 bevindt zich een afdichtring 43 die aangedrukt ligt tussen de binnenwanden 33 van de houder 1 en de zijvlakken 37 van de scheidingswand 13, zodat de eerste kamer 15 her- -metisch is afgesloten van de tweede kamer 17. In een richting dwars op., het paneel 9 is de kamer 41 zo ruim, dat de afdichtring 43 bij het verplaatsen van de scheidingswand 13 zonder slip kan rollen tussen de binnenwanden 33 en de zijvlakken 37.
Binnen de opstaande wand 5 van de houder 1 is een matrix-plaat 45 uit epoxyglas aangebracht, waarin zich een groot aantal boringen 47 bevindt volgens een rastervormig patroon, die zich in een richting dwars op het paneel 9 uitstrekken. De steek van de boringen 47 is constant. In elke boring 47 bevindt zich een verschuifbare koperen teststift 49, waarbij de teststiften 49 bij gelijke druk in de kamers 15, 17 met hun naar de scheidingswand 13 toegekeerde uiteinden aanliggen op een horizontale steunplaat 51.
In figuur 4 is in detail een van de teststiften 49 weergegeven. De teststiften 49 bevatten ieder een pijp 53 die aan beide uiteinden voorzien is van een omgezette rand 55. In de pijp 53 is nabij elk der beide uiteinden daarvan een koperen pen 57 verschuifbaar. In een in figuur 4 weergegeven toestand rusten beide pennen 57 tegen de respectievelijke randen 55 van de pijp 53 onder voorspanning van een tussen de pennen 57 opgestelde schroefveer 59 uit berylliumkoper en ligt de teststift 49 met de naar de scheidingswand 13 toegekeerde rand 55 aan tegen de steunplaat 51, waarbij de onderste pen 57 door een in de steunplaat 51 aangebrachte opening 61 steekt.
Zoals in figuur 1 is te zien, is in de horizontale wand 19 van de houder 1 op enige afstand naast de matrixplaat 45 een verbin-dingsplaat 63 aangebracht die vervaardigd is van een electrisch isolerend materiaal. In de verbindingsplaat 63 zijn evenals in de matrixplaat 45 zich in een richting dwars op het paneel 9 uitstrekkende boringen 65 aangebracht volgens een rastervormig patroon met een constante steekafstand. In elk der boringen 65 is een koperen verbin-dingsstift 67 bevestigd die met een van de scheidingswand 13 afgekeerd uiteinde electrisch is verbonden met een in figuur 1 slechts schematisch weergegeven electronische testeenheid 69 van de inrichting. In figuur 5 is in detail een van de verbindingsstiften 67 weergegeven. De verbindingsstiften 67 bevatten elk een koperen pijp 71 die aan een naar de scheidingswand 13 toegekeerd uiteinde is voorzien van een omgezette rand 73. In de pijp 71 is een koperen pen 75 verschuifbaar nabij het van de omgezette rand 73 voorziene uiteinde van de pijp 71. Bij gelijke -druk in de kamers 15, 17 rust de pen 75 tegen de rand 73 onder voor--- spanning van een in de pijp 71 aangebrachte schroefveer 77.
In figuur 1 is te zien, dat op een naar het paneel 9 toegekeerde zijde van de scheidingswand 13 twee evenwijdige rechte geleide-rails 79 zijn aangebracht, die zich elk nabij een zijvlak 37 van de scheidingswand 13 over de gehele breedte van de scheidingswand 13 uitstrekken. De geleiderails 79 ondersteunen een contactplaat 81 die correspondeert met het type paneel 9 dat met behulp van de inrichting moet worden getest. Een tegenover de matrixplaat 45 gelegen deel van de contactplaat 81 bevat een eerste verzameling van electrische contactpunten 83 en openingen 85 in de contactplaat 81, zoals schematisch is weergegeven in de figuur 6. De afstand tussen naast elkaar gelegen contactpunten 83 en openingen 85 is gelijk aan de steek van de test-stiften 49 in de matrixplaat 45, waarbij het aantal contactpunten 83 en openingen 85 tezamen gelijk is aan het aantal teststiften 49. Een tegenover de verbindingsplaat 63 gelegen deel van de contactplaat 81 bevat een tweede verzameling van electrische contactpunten 87, zoals schematisch is weergegeven in figuur 6. De afstand tussen naast elkaar gelegen contactpunten 87 is gelijk aan de steek van de verbindingsstif-ten 67 van de verbindingsplaat 63 en het aantal contactpunten 87 is gelijk aan het aantal verbindingsstiften 67. Elk der contactpunten 83 van de eerste verzameling is electrisch verbonden met een der contactpunten 87 van de tweede verzameling door middel van een gedrukte bedrading 89 van de contactplaat 81, die schematisch is weergegeven in figuur 6.
Nabij een uiteinde van de geleiderails 79 bevindt zich, zoals in figuur 2 is weergegeven, een opening 90 in een zijwand 91 van de houder 1. De opening 90 is afsluitbaar door middel van een deksel 93. De contactplaat 81 kan van de scheidingswand 13 verwijderd worden door de contactplaat 81 langs de geleiderails 79 door de opening 90 te schuiven. Het deksel 93 is voorzien van in de figuren niet nader weergegeven middelen, waarmee de contactplaat 81 in een nauwkeurige positie ten opzichte van de matrixplaat 45 en de verbindingsplaat 63 wordt vergrendeld als het deksel 93 na het aanbrengen van de contactplaat 81 op de scheidingswand 13 wordt gesloten.
Zoals in figuur 1 op schematische wijze is weergegeven, is de eerste kamer 15 aangesloten op een vacuümpomp 95. Via een eerste -electrisch bediende klep 97 is ook de tweede kamer 17 op de vacuümpomp____ 95 aangesloten. Na het aanbrengen van een paneel 9 op de ondersteuning 7 kan met behulp van de vacuümpomp 95 in beide kamers 15, 17 gelijktijdig een onderdruk worden aangebraoht indien de klep 97 is geopend.
Op deze wijze wordt het paneel 9 op de ondersteuning 7 vastgezogen door het drukverschil tussen de omgeving van de inrichting en de beide kamers 15, 17, waarbij door de pakking 11 een toereikende afdichting tussen het paneel 9 en de ondersteuning 7 verkregen wordt. Tijdens het vastzuigen van het paneel 9 blijft de scheidingswand 13 met de contact-plaat 81 in de in figuur 1 getekende stand.
Verder is een tweede electrisch bediende klep 99, die zich tussen de tweede kamer 17 en de omgeving van de inrichting bevindt, tijdens het vastzuigen van het paneel 9 gesloten. Nadat het paneel 9 is vastgezogen wordt eerst de klep 97 gesloten en wordt vervolgens de klep 99 geopend, zodat in de tweede kamer 17 een druk wordt opgebouwd die gelijk is aan de druk in de omgeving van de inrichting, waarbij in de eerste kamer 15 een onderdruk wordt gehandhaafd. Door het drukverschil tussen de eerste kamer 15 en de tweede kamer 17 wordt de scheidingswand 13 met de contactplaat 81 langs de geleidepennen 21 in de richting van het paneel 9 verplaatst. Daarbij wordt een aantal teststiften 49, die tijdens de verplaatsing van de scheidingswand 13 in contact komen met de contactpunten 83 van de contactplaat 81, langs de boringen 47 van de matrixplaat 45 tegen electrische testcontacten 101 (zie figuur 4) van het paneel 9 gedrukt, waarbij door indrukking van de schroefveren 59 middels de betreffende pennen 57 een toereikende aandrukkracht tussen enerzijds de contactplaat 81 en anderzijds het paneel 9 en de betreffende teststiften 49 wordt verkregen. De overige, niet geactiveerde teststiften 49 blijven tijdens de verplaatsing van de scheidingswand 13 in de in figuur 5 getekende stand, waarbij de naar de scheidingswand 13 toegekeerde pennen 57 van de betreffende teststiften 49 in de openingen 85 van de contactplaat 81 steken. Verder komen tijdens de verplaatsing van de scheidingswand 13 de contactpunten 87 van de contactplaat 81 in contact met de verbindingsstiften 67 van de verbindingsplaat 63·
Daarbij wordt door indrukking van de schroefveren 77 middels de betref- : fende pennen 75 een toereikende aandrukkracht tussen de verbindingsstiften 67 en de contactplaat 81 verkregen.
Door verplaatsing van de scheidingswand 13 op de hiervoor beschreven wijze ontstaat een electrische verbinding tussen de test- ~ contacten 101 van het te testen paneel 9 en de electronische test-eenheid 69, waarna de eigenlijke test van het paneel 9 met behulp van de testeenheid 69 kan worden uitgevoerd. Bij elk te testen paneel 9 wordt daarbij een voor dat type paneel unieke contactplaat 81 gebruikt met een met de verzameling testcontacten 101 van het betreffende type paneel 9 corresponderende verzameling van contactpunten 83 en openingen 85.
Nadat de test van het paneel 9 is voltooid, wordt de vacuüm-pomp 95 uitgeschakeld en de eerste klep 97 geopend, zodat ook de druk in de eerste kamer 15 gelijk wordt aan de omgevingsdruk. Onder invloed van de kracht van de schroefveren 29 wordt de scheidingswand 13 met de contaotplaat 81 dan langs de geleidepennen 21 verplaatst tot tegen de aanslagen 31, waarna de in figuur 1 weergegeven stand weer is bereikt en het paneel 9 van de ondersteuning 7 kan worden verwijderd.
Zoals verder in figuur 1 is weergegeven, is de tweede kamer 17 via een derde electrisch bediende klep 103 aangesloten op een druk-bron 105. De klep 103 is gesloten tijdens de in het voorgaande omschreven bedrijfsfasen van de inrichting. Na het verwijderen van het paneel 9 van de ondersteuning 7 kan in de tweede kamer 17 een druk worden ingesteld, die hoger is dan de dan in de eerste kamer 15 heersende omgevingsdruk, door de kleppen 97 en 99 te sluiten en de klep 103 te openen. Door het drukverschil tussen de beide kamers 15 en 17 wordt de scheidingswand 13 naar de ondersteuning 7 toe verplaatst, waarbij door de contactplaat 81 een aantal teststiften 49 in de matrixplaat 45 wordt verschoven en waarbij de verbindingsstiften 67 in contact komen met de contactpunten 87 van de contactplaat 81. In deze stand van de inrichting kan de electrische verbinding tussen de in de matrixplaat 45 verschoven teststiften 49 en de testeenheid 69 worden gecontroleerd door middel van een electrische weerstandsmeting. Na uitvoering van een dergelijke meting wordt de klep 103 gesloten en worden de kleppen 97 en 99 weer geopend, zodat de druk in beide kamers 15 en 17 gelijk wordt en de scheidingswand 13 weer terugkeert naar de aanslagen 31·
In figuur 1 is verder op schematische wijze een druksensor 107 weergegeven van een op zichzelf bekende soort, die is aangebracht in de wand 19 van de houder 1. De druksensor 107 meet de druk in de eerste kamer 15 en geeft een meetsignaal aan een regeleenheid 109, die -de kleppen 97, 99 en 103 alsmede de vacuümpomp 95 bestuurt. Nadat een----- paneel 9 op de ondersteuning 7 is geplaatst, wordt door de regeleenheid 109 de klep 97 geopend en de kleppen 99 en 103 gesloten, waarna vervolgens de vacuümpomp 95 wordt ingesehakeld. Indien tijdens het vastzuigen van het paneel 9 de met behulp van de druksensor 107 gemeten druk beneden een grenswaarde komt, wordt door de regeleenheid 109 de klep 97 gesloten en vervolgens klep 99 geopend, zodat de contactplaat 81 wordt verplaatst. De verplaatsing van de contactplaat 81 wordt gemeten door een inductieve verplaatsingssensor 111 van een op zichzelf bekende soort, die eveneens een meetsignaal geeft aan de regeleenheid 109. Indien de contactplaat 81 voldoende dicht is genaderd tot het paneel 9, wordt door de regeleenheid 109 de testeenheid 69 gestart. Na beëindiging van de test wordt tenslotte door de regeleenheid 109 de vacuümpomp 95 uitgeschakeld en wordt de klep 97 geopend, zodat dan de scheidingswand 13 met de contactplaat 81 naar de aanslagen 31 terugkeert .
Opgemerkt wordt, dat door toepassing van een onderdruk in de kamers 15 en 17 van de houder 1, zoals in het voorgaande is beschreven, een eenvoudige en doelmatige aandrijving van de contactplaat 81 is verkregen, terwijl geen verdere bijzondere middelen nodig zijn om het te testen paneel 9 op de ondersteuning 7 te bevestigen. Doordat namelijk eerst het paneel 9 op de ondersteuning 7 wordt vastgezogen door een onderdruk in beide kamers 15, 17 en vervolgens de scheidingswand 13 met de contactplaat 81 wordt verplaatst door een drukverschil tussen beide kamers 15, 17, is de volgorde van aanzuiging van het paneel 9 en verplaatsing van de contactplaat 81 bepaald en ligt het paneel 9 tijdens de testfase altijd stevig aan op de ondersteuning 7. Uiteraard kan de contactplaat 81 ook met behulp van andere aandrijflniddelen verplaatst worden, zoals bijvoorbeeld electromagnetische of pneumatische aandrijflniddelen van een op zichzelf bekende soort. Daarbij dienen echter afzonderlijke middelen voor het vastzetten van het paneel 9 te worden toegepast. Deze middelen dienen bij voorkeur ook te worden toegepast in een mogelijke vereenvoudigde uitvoeringsvorm van de inrichting, waarbij in de houder 1 alleen een onderdrukkamer tussen het paneel 9 en de contactplaat 81 is toegepast. In een dergelijke uitvoeringsvorm vindt de aanzuiging van het paneel 9 en de verplaatsing van de contactplaat 81 immers gelijtijdig plaats, zodat het paneel 9 “tijdens de verplaatsing van de contactplaat 81 van de ondersteuning 7~ kan worden afgestoten indien geen verdere vastzetmiddelen zijn toegepast.
Verder wordt opgemerkt, dat de rastervormige rangschikking van de teststiften 49 in de matrixplaat 45 samenhangt met de plaats van de testcontacten 101 op het te testen paneel 9. De plaatsing van de testcontacten 101 op het paneel 9 dient in overeenstemming te zijn met de plaats van de teststiften 49 in de matrixplaat 45. Indien echter bij bepaalde soorten panelen 9 een andersoortige rangschikking van de testcontacten 101 nodig is, kan in principe een andere matrixplaat 45 met een overeenkomstige rangschikking van de teststiften 49 en een aangepaste serie eontactplaten 81 toegepast worden. Het aantal teststiften 49 en daarbij behorende boringen 47 bedraagt in de in het voorgaand beschreven uitvoeringsvorm 13020 (124 x 105) en is zo groot, dat alle testcontacten 101 van ieder met behulp van de inrichting te testen paneel 9 met een overeenkomstig deel van de teststiften 49 in contact kan komen. De rangschikking van de verbindingsstiften 67 in de verbin-dingsplaat 63 hangt af van het type testeenheid 69 dat wordt toegepast in de inrichting. Indien bij bepaalde soorten panelen 9 het gebruik van een ander type testeenheid 69 nodig is, dient een aangepaste referen-tieplaat 63 te worden toegepast. Het aantal verbindingsstiften 67 en daarbij behorende boringen 65 bedraagt in de hiervoor beschreven uitvoeringsvorm 2448.
Verder wordt opgemerkt, dat door toepassing van de in het voorgaande omschreven teststiften 49 met pennen 57 een eenvoudige opbouw van de matrixplaat 45 is verkregen. Uiteraard kunnen ook op zichzelf eenvoudigere teststiften zonder inverende pennen toegepast worden. Deze vereenvoudigde teststiften zijn dan in hun geheel verend in de matrixplaat 45 bevestigd. Dit vraagt een andere opbouw van de matrixplaat 45.
Tenslotte wordt opgemerkt, dat de electrische verbinding tussen de contactpunten 83 en de contactpunten 87 van de contactplaat 81 ook op een conventionele wijze kan worden uitgevoerd door middel van verbindingsdraden aan de van het paneel 9 afgekeerde zijde van de contactplaat 81. Een op deze wijze uitgevoerde bedrading is echter gevoeliger voor storingen en kan bij het plaatsen van de contactplaat 81 in de houder 1 of bij het verwijderen ervan beschadigd worden.

Claims (5)

  1. 2. Inrichting volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat de inrichting is voorzien van een verzameling dwars op het paneel gerichte : teststiften, waaruit in bedrijf na verplaatsing van de contactplaat een voor het te testen paneel unieke deelverzameling van teststiften in contact is met een met de genoemde deelverzameling overeenstemmende ; combinatie van contactpunten van het paneel.
  2. 3· Inrichting volgens conclusie 2, met het kenmerk, dat de teststiften zijn aangebracht in een rastervormige verzameling van boringen die zich in een richting dwars op het paneel uitstrekken in een matrixplaat tussen de ondersteuning en de contactplaat, waarbij elke teststift in de betreffende boring verschuifbaar is met behulp van de contactplaat, terwijl elke teststift tenminste een testpen bezit die ten opzichte van de teststift verschuifbaar is met behulp van de contactplaat. ή. Inrichting volgens conclusie 1, 2 of 3, met het kenmerk, dat de inrichting is voorzien van een verzameling van dwars op de contactplaat gerichte verbindingsstiften die bevestigd zijn in boringen van een zich evenwijdig aan de contactplaat uitstrekkende verbindingsplaat en die electrisch verbonden zijn met de testeenheid van de inrichting, waarbij in bedrijf na verplaatsing van de contactplaat een deelverzameling van de verbindingsstiften in contact is met een met de genoemde deelverzameling overeenstemmende combinatie van contactpunten van de contactplaat.
  3. 5. Inrichting volgens conclusie 4, met het kenmerk, dat de “contaetplaat is voorzien van een gedrukte bedrading met behulp waarvan — een eerste verzameling contactpunten van de contactplaat, die na verplaatsing van de contactplaat in contact zijn met de verbindingsstif-ten, electrisch verbonden is met een tweede verzameling contactpunten van de contactplaat, die na verplaatsing van de contactplaat in contact zijn met de teststiften.
  4. 6. Inrichting volgens een der conclusies 1 t/m 5, met het kenmerk, dat in de eerste kamer en in de tweede kamer gelijktijdig eenzelfde onderdruk instelbaar is.
  5. 7. Inrichting volgens een der conclusies 1 t/m 6, met het kenmerk, dat in de tweede kamer een druk instelbaar is die hoger is dan een in de omgeving van de inrichting heersende druk.
NL9001478A 1990-06-28 1990-06-28 Testinrichting voor electrische schakelingen op panelen. NL9001478A (nl)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL9001478A NL9001478A (nl) 1990-06-28 1990-06-28 Testinrichting voor electrische schakelingen op panelen.
US07/651,685 US5166601A (en) 1990-06-28 1991-02-06 Test device for electric circuits on boards
EP91201528A EP0463684B1 (en) 1990-06-28 1991-06-18 Test device for electric circuits on boards
DE69118451T DE69118451T2 (de) 1990-06-28 1991-06-18 Prüfungsanordnung für elektrische Schaltungen auf Printplatten
CN91104150A CN1026357C (zh) 1990-06-28 1991-06-25 检测电路板上的电路的检测装置
JP3184120A JPH04233248A (ja) 1990-06-28 1991-06-28 ボード上の電気回路テスト装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL9001478 1990-06-28
NL9001478A NL9001478A (nl) 1990-06-28 1990-06-28 Testinrichting voor electrische schakelingen op panelen.

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL9001478A true NL9001478A (nl) 1992-01-16

Family

ID=19857328

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL9001478A NL9001478A (nl) 1990-06-28 1990-06-28 Testinrichting voor electrische schakelingen op panelen.

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5166601A (nl)
EP (1) EP0463684B1 (nl)
JP (1) JPH04233248A (nl)
CN (1) CN1026357C (nl)
DE (1) DE69118451T2 (nl)
NL (1) NL9001478A (nl)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4313962C1 (de) * 1993-04-28 1994-09-29 Siemens Ag Vorrichtung für den automatischen Test von hochintegrierten Baugruppen
US5793218A (en) * 1995-12-15 1998-08-11 Lear Astronics Corporation Generic interface test adapter
DE19814312C2 (de) * 1998-03-31 2000-06-08 Deutsche Telekom Ag Vorrichtung zum automatischen Testen von Baugruppen oder Bauateilen
US6335627B1 (en) * 1998-04-13 2002-01-01 Intel Corporation Apparatus and method for testing an electronics package substrate
US6468098B1 (en) * 1999-08-17 2002-10-22 Formfactor, Inc. Electrical contactor especially wafer level contactor using fluid pressure
US7396236B2 (en) 2001-03-16 2008-07-08 Formfactor, Inc. Wafer level interposer
US7122760B2 (en) 2002-11-25 2006-10-17 Formfactor, Inc. Using electric discharge machining to manufacture probes
US6945827B2 (en) 2002-12-23 2005-09-20 Formfactor, Inc. Microelectronic contact structure
US20050131513A1 (en) * 2003-12-16 2005-06-16 Cook Incorporated Stent catheter with a permanently affixed conductor
CN100419433C (zh) * 2004-09-24 2008-09-17 京元电子股份有限公司 具有讯号转接装置的集成电路插座及电子元件测试方法
JP5334355B2 (ja) * 2005-05-27 2013-11-06 ヤマハファインテック株式会社 プリント基板の電気検査装置および電気検査方法
CN101424702B (zh) * 2007-10-29 2010-07-28 京元电子股份有限公司 一种探针、测试插座及其测试机
DE102009012021B4 (de) * 2009-03-10 2011-02-03 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Messvorrichtung zur elektrischen Vermessung einer einseitig an einer Messseite elektrisch kontaktierbaren Messstruktur
CN102466760A (zh) * 2010-11-08 2012-05-23 亚旭电脑股份有限公司 频率测量装置
CN102944829B (zh) * 2012-10-30 2015-04-15 江苏斯菲尔电气股份有限公司 一种多功能的线路板测试机台及其使用方法
CN105093044B (zh) * 2015-09-14 2018-06-05 博众精工科技股份有限公司 一种针载板模组测试机构

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4115735A (en) * 1976-10-14 1978-09-19 Faultfinders, Inc. Test fixture employing plural platens for advancing some or all of the probes of the test fixture
US4321533A (en) * 1979-04-19 1982-03-23 Fairchild Camera & Instrument Corp. Printed circuit board test fixture having interchangeable card personalizers
US4344033A (en) * 1980-09-12 1982-08-10 Virginia Panel Corporation Vacuum-actuated test fixture for printed circuit boards
US4625164A (en) * 1984-03-05 1986-11-25 Pylon Company Vacuum actuated bi-level test fixture
US4626776A (en) * 1984-06-07 1986-12-02 O. B. Test Group, Inc. Programmable test fixture
US4626779A (en) * 1985-03-19 1986-12-02 Pylon Company, Inc. Spring-stops for a bi-level test fixture
GB2178860B (en) * 1985-08-09 1988-12-14 Databasix Limited Improvements in or relating to testing equipment for printed circuit boards
US4667155A (en) * 1986-01-07 1987-05-19 Virginia Panel Corporation Modular molded vacuum test fixture
US4636723A (en) * 1986-03-21 1987-01-13 Coffin Harry S Testing device for printed circuit boards
US4746861A (en) * 1986-08-21 1988-05-24 Tti Testron, Inc. Test fixture for printed circuit board assembly
US4841231A (en) * 1987-10-30 1989-06-20 Unisys Corporation Test probe accessibility method and tool
GB2223631B (en) * 1988-10-06 1993-01-13 British Aerospace Universal test fixture

Also Published As

Publication number Publication date
DE69118451T2 (de) 1996-10-02
CN1026357C (zh) 1994-10-26
EP0463684A1 (en) 1992-01-02
DE69118451D1 (de) 1996-05-09
CN1057719A (zh) 1992-01-08
EP0463684B1 (en) 1996-04-03
US5166601A (en) 1992-11-24
JPH04233248A (ja) 1992-08-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL9001478A (nl) Testinrichting voor electrische schakelingen op panelen.
CA1165394A (en) Universal circuit board test fixture
US7633304B2 (en) Device for testing electronic components, in particular ICs, having a sealing board arranged inside a pressure test chamber
US4321533A (en) Printed circuit board test fixture having interchangeable card personalizers
EP1163936A2 (en) Floor equipped with exercise fixtures
US6084422A (en) Printed circuit board testing device
EP0259110B1 (en) Hermetically sealed package tester
CN103635814A (zh) 具有用于电子装置测试的交错蜿蜒测试触点的探针模块
US6091253A (en) Jig for electrically bridging between a circuit board and a tester during testing of the circuit board
US4636723A (en) Testing device for printed circuit boards
CN100585415C (zh) 印刷基板的电气检测装置及方法
US9383252B2 (en) Windshield for a precision balance
CN105940309A (zh) 用于对由待测电子装置所辐射出的电磁场进行高分辨率空间扫描的扫描仪系统和方法
EP0633493B1 (en) Storage phosphor cassette autoloader having cassette sensor
JP2000502791A (ja) 位置調節可能な探り針を有するプリント回路の電気的検査装置
US20050261854A1 (en) Vacuum chamber with two-stage longitudinal translation for circuit board testing
US5265130A (en) Cell-size inspection device for nuclear fuel assembly
CN208751402U (zh) 一种尺寸检测设备
SE469122B (sv) Luckarrangemang foer taetande tillslutning av en oeppning mellan tvaa angraensande utrymmen
JP4534842B2 (ja) ペーストのスクリーン印刷装置
CN112683176A (zh) 一种用于pcb板的检测设备
CN208282775U (zh) 一种自动化连续测试设备
CN207946288U (zh) 一种片状样品夹持装置
CN220773068U (zh) 玻璃检测装置
CN220751361U (zh) 称重装置

Legal Events

Date Code Title Description
A1B A search report has been drawn up
BV The patent application has lapsed