DE69118451T2 - Prüfungsanordnung für elektrische Schaltungen auf Printplatten - Google Patents

Prüfungsanordnung für elektrische Schaltungen auf Printplatten

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    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • G01R1/07328Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards

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Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Prüfling von elektrischen Schaltungen auf Leiterplatten und von Bauteilen von elektrischen Schaltungen auf Leiterplatten, in welcher Vorrichtung im Betrieb eine Leiterplatte mit zu prüfenden elektrischen Bauteilen aufgrund eines Unterdrucks in einer ersten Kammer fest gegen eine Unterlage der Vorrichtung anliegt und eine in einer Richtung quer zur Leiterplatte bewegliche Kontaktplatte eine Lage einnimmt, in der die Leiterplatte aufgrund des Druckunterschieds zwischen der ersten Kammer und einer zweiten Kammer mittels der Kontaktplatte elektrisch an eine Prüfeinheit der Vorrichtung angeschlossen ist.
  • Eine aus dem US-Patent 4.115.735 bekannte Vorrichtung der eingangs erwähnten Art ist mit einer ersten und einer zweiten Kontaktplatte versehen, wobei die erste Kontaktplatte zwischen der Unterlage und der zweiten Kontaktplatte angeordnet ist. Beide Kontaktplatten sind mit einem Satz in einer Richtung quer zur zu prüfenden Leiterplatte liegender Prüftaster versehen. In der ersten Kontaktplatte sind Öffnungen angebracht, in die sich die Prüftaster der zweiten Kontaktplatte einschieben lassen. In der bekannten Vorrichtung befindet sich die erste Kammer zwischen der Leiterplatte und der ersten Kontaktplatte, während die zweite Kammer zwischen den beiden Kontaktplatten angeordnet ist. Wenn nur die erste Kammer unter Unterdruck gesetzt wird, kommen nur die Prüftaster der ersten Kontaktplatte in Kontakt mit der Leiterplatte, so daß die Bauteile der Schaltung geprüft werden können. Wenn beide Kammern unter Unterdruck gesetzt werden, kommen alle Prüftaster in Kontakt mit der Leiterplatte und kann die Arbeitsweise der ganzen Schaltung geprüft werden.
  • Die bekannte Vorrichtung hat den Nachteil, daß die Prüftaster der zweiten Kontaktplatte genau in die Öffnungen der ersten Kontaktplatte passen müssen, um eine einwandfreie Abdichtung zwischen den beiden Kammern zu erzielen. Dies führt zu vergleichsweise hohen Herstellungskosten. Ein weiterer Nachteil der bekannten Vorrichtung ist es, daß sich die Kontaktplatten schwer auswechseln lassen, so daß sich die bekannte Vorrichtung im Prinzip nur zum Prüfen eines einzigen Leiterplattentyps eignet. Zum Schluß wird, wenn die erste Kammer oder beide Kammern der bekannten Vorrichtung unter Unterdruck gesetzt werden, eine Anzahl Prüftaster in Kontakt mit der Leiterplatte gebracht, während die Leiterplatte gleichzeitig von diesem Unterdruck an der Unterlage festgehalten wird. Dadurch können die Prüftaster zu früh Kontakt mit der Leiterplatte machen, so daß die Leiterplatte nicht einwandfrei an die Unterlage anliegt oder sogar beschädigt wird.
  • Die vorliegende Erfindung hat zur Aufgabe, eine Vorrichtung der eingangs erwähnten Art zu verschaffen, mit der sich die vorgenannten Nachteile vermeiden lassen.
  • Erfindungsgemäß ist die Vorrichtung hierzu dadurch gekennzeichnet, daß die Kontaktplatte austauschbar auf einer Trennwand angebracht ist, die die erste Kammer hermetisch gegen die zweite Kammer abschließt und unter dem Einfluß eines Druckunterschieds zwischen den beiden Kammern beweglich ist, nachdem eine vorbestimmte Festhaltekraft zwischen der Leiterplatte und der Unterlage erreicht ist. Durch die Verwendung einer Trennwand mit einer austauschbaren Kontaktplatte wird eine einfache und wirksame Abdichtung zwischen den beiden Kammern erzielt, während dadurch, daß auf der Trennwand jedesmal eine an die zu prüfende Leiterplatte angepaßte Kontaktplatte angebracht wird, verschiedene Leiterplattentypen geprüft werden können.
  • Eine besondere Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Vorrichtung ist dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung mit einem Satz von in einer Richtung quer zur Leiterplatte angeordneten Prüftastern versehen ist, wobei sich während des Prüfvorgangs nach Bewegling der Kontaktplatte ein einzig der jeweils zu prüfenden Leiterplatte zugeordneter Teilsatz dieser Prüftaster im Kontakt mit einer diesem Teilsatz entsprechenden Kombination von Kontaktpunkten der Leiterplatte befindet. Dadurch, daß die Vorrichtung mit einer großen Anzahl Prüftaster versehen ist, können viele Typen von elektrischen Schaltungen geprüft werden.
  • Eine weitere Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Vorrichtung, die eine einfache und wirksame Anordnung der Prüftaster in der Vorrichtung verschafft, ist dadurch gekennzeichnet, daß die Prüftaster in gitterförmig angeordneten Bohrungen angebracht sind, die in einer Richtung quer zur Leiterplatte in einer Matrixplatte zwischen der Unterlage und der Kontakiplatte angeordnet sind, wobei jeder Prüftaster mittels der Kontaktplatte in der jeweiligen Bohrung beweglich ist, während jeder Prüftaster mindestens einen mittels der Kontaktplatte zum Prüftaster beweglichen Prüfstift aufweist. Außerdem werden durch die Anordnung der Prüftaster in einer im Grunde einfachen Matrixplatte dieser Art in festen Abständen voneinander und durch die Anordnung der Kontaktpunkte an jeder zu prüfenden Leiterplatte in gegenseitigen Abständen, die diesen festen Abständen gleich oder ein Vielfaches davon sind, räumliche Verteilungen jeweils von Prüftastern und Kontaktpunkten erzielt, die sich ohne weiteres miteinander koordinieren lassen.
  • Eine noch weitere Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Vorrichtung, die eine wirksame elektrische Verbindung von einfächem Aufbau zwischen der Kontaktplatte und der Prüfeinheit der Vorrichtung verschafft, ist dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung mit einem Satz von in einer Richtung quer zur Kontaktplatte angeordneten und in Bohrungen in einer sich parallel zur Kontaktplatte erstreckenden Anschlußplatte angebrachten Anschlußkontakten versehen ist, welche Anschlußkontakte elektrisch an die Prüfeinheit der Vorrichtung angeschlossen sind, wobei sich während des Prüfvorgangs nach Bewegung der Kontaktplatte ein Teilsatz der Anschlußkontakte im Kontakt mit einer diesem Teilsatz entsprechenden Kombination von Kontaktpunkten der Kontaktplatte befindet.
  • Eine besondere Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Vorrichtung, die eine einfache und praktische Bauweise der Kontaktplatte verschafft, ist dadurch gekennzeichnet, daß die Kontaktplatte mit einer Druckschaltung versehen ist, durch die ein nach der Bewegung der Kontaktplatte mit den Anschlußkontakten im Kontakt stehender erster Satz Kontaktpunkte der Kontaktplatte elektrisch mit einem nach der Bewegung der Kontaktplatte mit den Prüftastern im Kontakt stehenden zweiten Satz Kontaktpunkte der Kontaktplatte verbunden ist. Durch diese einfache Bauweise der Kontaktplatte wird erreicht, daß die Kontaktplatte mittels vergleichsweise einfachen Mitteln austauschbar ausgeführt werden kann.
  • Eine weitere Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Vorrichtung, in der im Betrieb vor einer Bewegung der Kontaktplatte auf wirksame Weise eine einwandfreie Festhaltekraft zwischen der zu prüfenden Leiterplatte und der Unterlage erzielt wird, ist dadurch gekennzeichnet, daß die erste Kammer und die zweite Kammer gleichzeitig unter gleiche Unterdrücke gesetzt werden können. Dadurch, daß beide Kammern unter die gleichen Unterdrücke gesetzt werden, kann die Leiterplatte durch Saugkraft auf der Unterlage festgehalten werden, während die Trennwand mit der Kontaktplatte in einer Lage verbleibt, in der kein Kontakt zwischen der Leiterplatte und den Prüftastern besteht.
  • Eine noch weitere Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Vorrichtung, in der sich die elektrischen Verbindungen zwischen den Prüfiastern und der Prüfeinheit auf eine einfache Weise überprüfen lassen, ist dadurch gekennzeichnet, daß die zweite Kammer unter einen höheren Druck als den Umgebungsdruck der Vorrichtung gesetzt werden kann. Dadurch, daß die zweite Kammer unter einen Überdruck gesetzt wird, kann die Kontaktplatte in eine Lage gebracht werden, in der die Kontaktplatte im Kontakt mit den Prüftastern und den Anschlußkontakten steht, ohne daß eine Leiterplatte auf der der Unterlage angebracht ist. Auf diese Weise sind die Prüftaster für eine elektrische Widerstandsmessung zur Überprüfung dieser elektrischen Anschlüsse zugänglich.
  • Es wird darauf hingewiesen, daß in US-A-4.321.533 eine Prüfvorrichtung für Druckschaltungsleiterplatten mit einer Vakuumkammer mit einer Bodenwand und Seitenwänden beschrieben wird, die an eine Vakuumquelle angeschlossen werden kann. Die Prüfvorrichtung ist mit an der Bodenwand befestigten elektrischen Prüftastern versehen. Die zu prüfende Leiterplatte kann auf einer Randdichtung angebracht und unter dem Einfluß eines Unterdrucks in der Vakuumkammer zur Bodenwand bewegt werden. Außerdem ist die Prüfvorrichtung mit einer austauschbaren Selektionsplatte versehen, die zusammen mit der Leiterplatte beweglich und mit einem dem Muster der in Kontakt mit der Leiterplatte zu bringenden Prüftaster entsprechenden Lochmuster versehen ist. Wenn die Leiterplatte und die Selektionsplatte zur Bodenwand und zu den Prüftastern bewegt werden, werden nur die einem der Löcher in der Selektionsplatte entsprechenden Prüftaster in Kontakt mit der Leiterplatte gebracht, während die Selektionsplatte den Kontakt der übrigen Prüftaster mit der Leiterplatte verhindert. Die Löcher in der Selektionsplatte sind groß genug, den Raum zwischen der Leiterplatte und der Selektionsplatte mittels der zwischen der Bodenwand und der Selektionsplatte an die Vakuumkammer angeschlossenen Vakuumquelle unter Unterdruck setzen zu können. Demnach ist die erste Kammer zwischen der Leiterplatte und der Selektionsplatte in der Prüfvorrichtung nach US-A4.321.533 nicht hermetisch gegen die zweite Kammer zwischen der Selektionsplatte und der Bodenwand abgeschlossen.
  • Die Erfindung wird in der Folge unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher beschrieben. Darin sind:
  • Fig. 1 eine Ungsschnittansicht einer erfindungsgemäßen Vorrichtung,
  • Fig. 2 eine Querschnittansicht der Vorrichtung entlang der Linie II-II in Fig. 1,
  • Fig. 3 eine Querschnittansicht der Vorrichtung entlang der Linie III-III von Fig. 1,
  • Fig. 4 eine Detailaeichnung eines Prüftasters der Vorrichtung nach Darstellung in Fig. 1,
  • Fig. 5 eine Detailzeichnung eines Anschlußkontakts der Vorrichtung nach Darstellung in Fig. 1 und
  • Fig. 6 eine Draufsicht einer Kontaktplatte der Vorrichtung nach Darstellung in Fig. 1.
  • Nach Darstellung in Fig. 1 - 6 weist die Vorrichtung einen an einer rechteckigen Metallgrundplatte 3 befestigten rechteckigen Metalihalter 1 auf. Der Halter 1 weist weiter eine aufrechtstehende Wand 5 mit einer rahmenförmigen Unterlage 7 auf, auf der eine Leiterplatte 9 mit zu prüfenden Schaltkreisen genau zum Halter 1 positioniert werden kann. Die Leiterplatte 9 liegt in diesem Fall mit ihren Kanten auf einer an der Unterlage 7 befestigten Gummidichtung 11 auf.
  • Der Halter 1 weist eine parallel zur Leiterplatte 9 liegende Metalltrennwand 13 auf, durch die der Innenraum des Halters 1 nach Darstellung in Fig. 1 und 2 in eine erste Kammer 15 zwischen der Leiterplatte 9 und der Trennwand 13 und eine zweite Kammer 17 zwischen der Trennwand 13 und der Grundplatte 3 unterteilt wird. Zwischen der Grundplatte 3 und einer waagrechten Wand 19 des Halters 1 ist senkrecht zur Leiterplatte 9 eine Anzahl runde Führungsbolzen 21 (siehe Fig. 3) befestigt. In der Trennwand 13 ist eine gleiche Anzahl Bohrungen 23 angebracht, in denen Führungsbuchsen 25 befestigt sind, die die Führungsbolzen 21 mit wenig Spiel konzentrisch umfassen. Ferner ist die Trennwand 13 im Bereich um die Bohrungen 23 herum mit flachen Dichtringen 27 versehen, welche Dichtringe mit ihren Innenkanten an die Führungsbolzen 21 anliegen, so daß bei einem Druckunterschied zwischen den beiden Kammern 15, 17 ein Gasleck an den Führungsbolzen 21 entlang verhütet wird. Die Trennwand ist demnach in einer Richtung quer zur Leiterplatte 9 über diese Führungsbolzen 21 beweglich.
  • Zwischen der Trennwand 13 und der Wand 19 ist eine Anzahl vorgespannte Schraubenfedern 29 angeordnet, unter deren Einfluß die Trennwand 13 bei Druckgleichheit in den Kammern 15, 17 an die auf der Grundplatte 3 angebrachten Anschläge 31 anliegt (siehe Fig. 1 und 3).
  • Nach Darstellung in Fig. 1 und 2 weist der Halter 1 senkrechte Innenwände 33 auf, von denen jede mit einem sich parallel zur Leiterplatte 9 erstreckenden Stufenprofil 35 versehen ist. Weiter nach Darstellung in Fig. 1 und 2 weist die Trennwand 13 an jeder Seitenfläche 37 einen sich parallel zur Leiterplatte 9 erstreckenden herausragenden Rand 39 auf. Zwischen den Stufenprofilen 35 und den herausragenden Rändern 39 ist an den Seitenflächen 37 der Trennwand 13 eine rahmenförmige Kammer 41 eingeschlossen. Ein im Innern der Kammer 41 angebrachter Dichtring 43 wird zwischen den Innenwänden 33 des Halters 1 und den Seitenflächen 37 der Trennwand 13 komprimiert, so daß die erste Kammer 15 hermetisch gegen die zweite Kammer 17 abgeschlossen wird. Die Kammer 41 ist in einer Richtung quer zur Leiterplatte 9 so geräumig, daß der Dichtring 43 bei Bewegung der Trennwand 13 schlupffrei zwischen den Innenwänden 33 und den Seitenflächen 37 rollen kann.
  • Im Innern der aufrechtstehenden Wand 5 des Halters 1 ist eine Matrixplatte 45 aus Epoxydglas mit einer großen Anzahl von in einem Gittermuster angeordneten Bohrungen 47 angebracht, welche Bohrungen 47 sich in einer Richtung quer zur Leiterplatte 9 erstrecken. Die Bohrungen 47 sind in gleichen Abständen voneinander angeordnet. In jeder Bohrung 47 befindet sich ein beweglicher Kupferprüftaster 49, wobei die Prüftaster 49 bei Druckgleichheit in den Kammern 15, 17 mit ihren der Trennwand 13 zugewandten Enden an eine waagrechte Halteplatte 51 anliegen.
  • In Fig. 4 ist einer der Prüftaster 49 detailliert dargestellt. Jeder Prüftaster 49 weist ein Rohr 53 auf, das an jedem seiner beiden Enden mit einem Flanschrand 55 versehen ist. Im Innern des Rohres 53 ist an dessen beiden Enden je ein Kupferstift 57 gleitend angebracht. In einer Lage nach Darstellung in Fig. 4 liegen beide Stifte 57 unter der Vorspannung einer zwischen den Stiften 57 angebrachten Schraubenfeder 59 aus Berylliumkupfer jeweils an die Ränder 55 des Rohres 53 an, während der Prüftaster 49 mit seinem der Trennwand 13 zugewandten Rand 55 an die Halteplatte 51 anliegt und der untere Stift 57 dabei durch eine in der Halteplatte 51 angebrachte Öffnung 61 ragt.
  • Nach Darstellung in Fig. 1 ist in der waagrechten Wand 19 des Halters 1 in einigem Abstand von der Matrixplatte 45 und neben dieser eine aus einem elektrisch isolierenden Werkstoff hergestellte Anscmußplatte 63 angebracht. In der Anschlußplatte 63 sind, ebenso wie in der Matrixplatte 45, in einem Gittermuster in gleichen Abständen voneinander in einer Richtung quer zur Leiterplatte 9 Bohrungen 65 angebracht. In jeder der Bohrungen 65 ist ein Kupferanschlußkontakt 67 befestigt und über ein von der Trennwand 13 abgewandtes Ende elektrisch an eine in Fig. 1 nur schematisch angegebene elektronische Prüfeinheit 69 der Vorrichtung angeschlossen. In Fig. 5 ist einer der Anschlußkontakte 67 detailliert dargestellt. Jeder Anschlußkontakt 67 weist ein Kupferrohr 71 auf, das an seinem der Trennwand 13 zugewandten Ende mit einem Flanschrand 73 versehen ist. Im Innern des Rohres 71 ist an dessen Ende mit dem Flanschrand 73 ein Kupferstift 75 gleitend angebracht. Der Stift 75 liegt bei Druckgleichheit in den Kammern 15, 17 unter der Vorspannung einer im Rohr 71 angebrachten Schraubenfeder 77 an den Rand 73 an.
  • Nach Darstellung in Fig. 1 trägt eine der Leiterplatte 9 zugewandte Seite der Trennwand 13 zwei parallele gerade Führungsschienen 79, die sich beide an einer Seitenfläche 37 der Trennwand 13 über die ganze Breite der Trennwand 13 erstrecken. Die Führungsschienen 79 tragen eine der mittels der Vorrichtung zu prüfenden Leiterplatte 9 entsprechende Kontaktplatte 81. Ein der Matrixplatte 45 gegenüberliegender Abschnitt der Kontaktplatte 81 weist einen ersten Satz elektrischer Kontaktpunkte 83 und Öffnungen 85 in der Kontaktplatte 81 nach schematischer Darstellung in Fig. 6 auf. Der Abstand zwischen nebeneinanderliegenden Kontaktpunkten 83 und Öffnungen 85 ist dem gegenseitigen Abstand der Prüftaster 49 in der Matrixplatte gleich, während die Anzahl Kontakteunkte 83 und Öffnungen 85 zusammen der Anzahl Prüftaster 49 gleich ist. Ein der Anschlußplatte 63 gegenüberliegender Abschnitt der Kontaktplatte 81 weist einen zweiten Satz elektrischer Kontaktpunkte 87 nach schematischer Darstellung in Fig. 6 auf. Der Abstand zwischen nebeneinanderliegenden Kontaktpunkten 87 ist dern gegenseitigen Abstand der Anschlußkontakte 67 der Anschlußplatte 63 gleich, während die Anzahl Kontaktpunkte 83 der Anzahl Anschlußkontakte 67 gleich ist. Jeder der Kontaktpunkte 83 des ersten Satzes ist nach schematischer Darstellung in Fig. 6 über eine Druckschaltung 89 der Kontaktplatte 81 elektrisch mit einem der Kontaktpunkte 87 des zweiten Satzes verbunden.
  • Nach Darstellung in Fig. 2 befindet sich bei einem Ende der Führungsschienen 79 eine Öffnung 90 in einer Seitenwand 91 des Halters 1. Die Öffnung 90 kann mit einem Deckel 93 verschlossen werden. Die Kontaktplatte 81 kann von der Trennwand 13 abgenommen werden, indem die Kontaktplatte 81 über die Führungsschienen 79 durch die Öffnung 90 geführt wird. Der Deckel 93 ist mit in der Figur nicht detailliert dargestellten Mitteln versehen, durch die die Kontaktplatte 81 in einer exakten Lage zur Matrixplatte 45 und Anschlußplatte 63 fixiert wird, wenn der Deckel 93 nach Anbringen der Kontaktplatte 81 auf der Trennwand 13 geschlossen wird.
  • Nach schematischer Darstellung in Fig. 1 ist die erste Kammer 15 an eine Vakuumpumpe 95 angeschlossen. Auch die zweite Kammer 17 ist über ein elektrisch betätigtes erstes Ventil 97 an die Vakuumpumpe 95 angeschlossen. Nachdem eine Leiterplatte 9 auf die Unterlage 7 gelegt wurde, kann bei geöffnetem Ventil 97 von der Vakuumpumpe 95 in beiden Kammern 15, 17 gleichzeitig ein Unterdruck erzeugt werden. Auf diese Weiuse wird die Leiterplatte 9 durch den Druckunterschied zwischen der Umgebung der Vorrichtung und den beiden Kammern 15, 17 auf die Unterlage 7 gedrückt, wobei mittels der Dichtung 11 eine einwandfreie Abdichtung zwischen der Leiterplatte 9 und der Unterlage 7 erzielt wird. Während des Festsaugens der Leiterplatte 9 verbleibt die Trennwand 13 mit der Kontaktplatte 81 in der in Fig. 1 dargestellten Lage.
  • Während des Festsaugens der Leiterplatte 9 wird außerdem ein zwischen der zweiten Kammer 17 und der Umgebung der Vorrichtung angeordnetes zweites elektrisch betätigtes Ventil 99 geschlossen. Nach dem Festsaugen der Leiterplatte 9 wird zuerst das Ventil 97 geschlossen und anschließend das Ventil 99 geöffnet, so daß in der zweiten Kammer 17 ein dem Umgebungsdruck der Vorrichtung gleicher Druck aufgebaut wird, während in der ersten Kammer 15 ein Unterdruck aufrechterhalten wird. Aufgrund des Druckunterschieds zwischen der ersten Kammer 15 und der zweiten Kammer 17 wird die Trennwand 13 mit der Kontaktplatte 81 über die Führungsbolzen 21 zur Leiterplatte 9 bewegt. Hierbei wird eine Anzahl Prüftaster 49, die während der Bewegung der Trennwand 13 Kontakt mit den Kontaktpunkten 83 der Kontaktplatte machen, durch die Bohrungen 47 der Matrixplatte 45 an elektrische Prüfkontakte 101 (siehe Fig. 4) der Leiterplatte 9 gedrückt, wobei durch die Kompression der Schraubenfedern 59 durch die entsprechenden Stifte 57 ein ausreichender Kontaktdruck zwischen der Kontaktplatte 81 einerseits und der Leiterplatte 9 und den relevanten Prüftastern 49 andererseits erzielt wird. Die übrigen, nicht angeschalteten Prüftaster 49 verbleiben während der Bewegung der Trennwand 13 in der in Fig. 4 dargestellten Lage, wobei die der Trennwand 13 zugewandten Stifte 57 der relevanten Prüftaster 49 in die Öffnungen 85 der Kontaktplatte 81 ragen. Zusätzlich machen die Kontaktpunkte 87 der Kontaktplatte 81 während der Bewegung der Trennwand 13 Kontakt mit den Anschlußkontakten 67 der Anschlußplatte 63. Hierbei wird durch die Kompression der Schraubenfedern 77 durch die entsprechenden Stifte 75 ein ausreichender Kontaktdruck zwischen den Anschlußkontakten 67 und der Kontaktplatte 81 sichergestellt.
  • Die Bewegung der Trennwand 13 nach obiger Beschreibung führt zu einer elektrischen Verbindung zwischen den Prüfkontakten 101 der zu prüfenden Leiterplatte 9 und der elektronischen Prüfeinheit 69, worauf die eigentliche Prüfung der Leiterplatte 9 mittels der Prüfeinheit 69 erfolgen kann. Für jede zu prüfende Leiterplatte 9 wird hier eine ausschließlich diesem Leiterplattentyp zugeordnete Kontaktplatte 81 mit einem dem Satz Prüfkontakte 101 der jeweiligen Leiterplatte 9 entsprechenden Satz Kontaktpunkte 83 und Öffnungen 85 verwendet.
  • Nach beendeter Prüfung der Leiterplatte 9 wird die Vakuumpumpe 95 abgeschaltet und das Ventil 97 geöffnet, so daß der Druck in der ersten Kammer 15 gleich dem Umgebungsdruck wird. Die Trennwand 13 mit der Kontaktplatte 81 wird dann durch die Kraft der Schraubenfedern 29 über die Führungsbolzen 21 an die Anschläge 31 bewegt, worauf wieder die in Fig. 1 dargestellte Lage erreicht wird und die Leiterplatte 9 von der Unterlage 7 abgenommen werden kann.
  • Weiter nach Darstellung in Fig. 1 ist die zweite Kammer 17 über ein drittes elektrisch betätigtes Ventil 103 an eine Druckquelle 105 angeschlossen. Das Ventil 103 ist während der Betriebsphasen obiger Vorrichtung geschlossen. Nach Abnahme der Leiterplatte 9 von der Unterlage 7 kann die zweite Kammer 17 unter einen höheren Druck als den in der ersten Kammer 15 herrschenden Umgebungsdruck gesetzt werden, indem die Ventile 97 und 99 geschlossen werden und das Ventil 103 geöffnet wird. Die Trennwand 13 wird durch den Druckunterschied zwischen den beiden Kammern 15 und 17 zur Unterlage 7 bewegt, wobei die Kontaktplatte 81 eine Anzahl Prüftaster 49 in die Matrixplatte 45 einschiebt und die Anschlußkontakte 67 Kontakt mit den Kontaktpunkten 87 der Anschlußplatte 81 machen. In dieser Lage der Vorrichtung kann durch eine elektrische Widerstandsmessung die elektrische Verbindung zwischen den in die Matrixplatte 45 eingeschobenen Prüftastern 49 und der Prüfeinheit 69 überprüft werden. Nachdem eine Messung dieser Art ausgeführt wurde, wird das Ventil 103 gescmossen und werden die Ventile 97 und 99 wieder geöffnet, so daß der Druck in den beiden Kammern 15 und 17 ausgeglichen wird und die Trennwand 13 auf die Anschläge 31 zurückkehrt
  • In Fig. 1 ist auch ein Drucksensor 107 eines an sich bekannten Typs schematisch dargestellt, der in der Wand 19 des Halters 1 angebracht ist. Der Drucksensor 107 mißt den Druck in der ersten Kammer 15 und sendet einer Steuereinheit 109, die die Ventile 97, 99 und 103 sowie die Vakuumpumpe 95 steuert, ein Prüfsignal zu. Nach dem Auflegen einer Leiterplatte 9 auf die Unterlage 7 öffnet die Steuereinheit 109 das Ventil 97 und schließt die Ventile 99 und 103, worauf die Vakuumpumpe 95 eingeschaltet wird. Sobald der vom Drucksensor 107 gemessene Druck während des Festsaugens der Leiterplatte 9 einen Grenzwert unterschreitet, schließt die Steuereinheit 109 das Ventil 97 und öffnet anschließend das Ventil 99, so daß die Kontaktplatte 81 bewegt wird. Die Bewegung der Kontaktplatte 81 wird von einem induktiven Bewegungssensor 11 eines an sich bekannten Typs gemessen, der der Steuereinheit 109 gleichfalls ein Prüfsignal zusendet. Sobald sich die Kontaktplatte 81 der Leiterplatte 9 weit genug genähert hat, wird die Prüfeinheit 69 von der Steuereinheit 109 in Betrieb gesetzt. Nach Beendigung des Prüfvorgangs schaltet die Steuereinheit 109 schließlich die Vakuumpumpe 95 ab und öffnet das Ventil 97, so daß die Trennwand 13 mit der Kontaktplatte 81 auf die Anschläge 31 zurückkehrt
  • Es wird darauf hingewiesen, daß die Verwendung eines Unterdrucks in den Kammern 15 und 17 des Halters 1 nach obiger Beschreibung einen einfachen und wirksamen Antrieb der Kontaktplatte 81 verschafft, während zum Festhalten der zu prüfenden Leiterplatte 9 auf der Unterlage 7 weiter keine besonderen Mittel erforderlich sind. Tatsächlich ist dadurch, daß zuerst die Leiterplatte 9 durch einen Unterdruck in den beiden Kammern 15 und 17 auf der Unterlage 7 festgehalten und anschließend die Trennwand 13 mit der Kontaktplatte 81 durch einen Druckunterschied zwischen den beiden Kammern 15 und 17 bewegt wird, die Reihenfolge des Festhhltens der Leiterplatte 9 und der Bewegung der Kontaktplatte einwandfrei festgelegt und liegt die Leiterplatte 9 während des Prüfvorgangs immer fest auf der Unterlage 7 auf. Die Kontaktplatte 81 kann ersichtlicherweise auch durch andere Antriebsmittel wie zum Beispiel elektromagnetische oder pneumatische Antriebsmittel eines an sich bekannten Typs bewegt werden. In diesem Fall müssen jedoch gesonderte Mittel zum Festhalten der Leiterplatte 9 verwendet werden. Diese Mittel sollten vorzugsweise auch in einer möglichen vereinfachten Ausführungsform der Vorrichtung angewandt werden, in der im Halter nur eine Unterdruckkammer zwischen der Leiterplatte 9 und der Kontaktplatte 81 verwendet wird. Dies deshalb, weil das Festsaugen der Leiterplatte 9 und der Hub der Kontaktplatte 81 in einer Ausführungsform dieser Art gleichzeitig erfolgen, so daß die Leiterplatte 9 während des Hubs der Kontaktplatte 81 von der Unterlage 7 weggeschlagen werden kann, wenn keine weiteren Festhaltemittel verwendet werden.
  • Weiter wird darauf hingewiesen, daß die Anordnung der Prüftaster 49 in einem Gittermuster in der Matrixplatte 45 an die Lage der Prüfkontakte 101 an der zu prüfenden Leiterplatte 9 gebunden ist. Die Anordnung der Prüfkontakte 101 an der Leiterplatte 9 muß mit den Lagen der Prüftaster 49 in der Matrixplatte 45 übereinstimmen. Falls für bestimmte Typen Leiterplatte 9 jedoch eine andere Anordnung der Prüfkontakte 101 erforderlich sein sollte, kann im Prinzip eine andere Matrixplatte 45 mit einer entsprechenden Anordnung der Prüftaster 49 und ein angepaßter Satz Kontaktplatten 81 verwendet werden. In der oben beschriebenen Ausführungsform, die so groß ist, daß alle Prüfkontakte 101 jeder mittels der Vorrichtung zu prüfenden Leiterplatte 9 mit einem entsprechenden Teil der Prüftaster 49 in Kontakt kommen können, beläuft sich die Anzahl Prüftaster 49 und zugeordneter Bohrungen 47 auf 13020 (124 x 105). Die Anordnung der Anschlußkontakte 67 in der Anschlußplatte 63 ist von der Art der in der Vorrichtung verwendeten Prüfeinheit 69 abhängig. Falls für bestimmte Typen Leiterplatte 9 eine andere Art Prüfeinheit 69 erforderlich sein sollte, ist eine angepaßte Anschlußplatte 63 zu verwenden. In der oben beschriebenen Ausführungsform beläuft sich die Anzahl Anschlußkontakte 67 und zugeordneter Bohrungen 65 auf 2448.
  • Gleichfalls wird darauf hingewiesen, daß durch die Verwendung der Prüftaster 49 mit Stiften 57 nach obiger Beschreibung eine einfache Anordnung der Matrixplatte 45 erzielt wird. Ersichtlicherweise können wahlweise auch Prüftaster von einfacherer Konstruktion ohne federnde Stifte verwendet werden. Diese vereinfachten Irrüftaster sind dann in ihrer Gesamtheit federnd in der Matrixplatte 45 montiert. Dadurch ist jedoch eine andere Konstruktion der Matrixplatte 45 erforderlich.
  • Zum Schluß wird darauf hingewiesen, daß die elektrische Verbindung zwischen den Kontaktpunkten 83 und den Kontaktpunkten 87 der Kontaktplatte 81 an der von der Leiterplatte 9 abgewandten Seite der Kontaktplatte 81 auch auf herkömmliche Weise über Anschlußkabel ausgeführt werden kann. Eine auf diese Weise angebrachte Verkabelung ist jedoch ausfallanfälliger und kann beim Einsetzen oder Entnehmen der Kontaktplatte 81 in den bzw. aus dem Halter 1 beschädigt werden.

Claims (7)

1. Vorrichtung zur Prüfung von elektrischen Schaltungen auf Leiterplatten (9) und von Bauteilen von elektrischen Schaltungen auf Leiterplatten (9), in welcher Vorrichtung im Betrieb eine Leiterplatte (9) mit zu prüfenden elektrischen Bauteilen aufgrund eines Unterdrucks in einer ersten Kammer (15) fest gegen eine Unterlage (7, 11) der Vorrichtung anliegt und in welcher Vorrichtung eine in einer Richtung quer zur Leiterplatte (9) bewegliche Kontaktplatte (81) eine Lage einnimmt, in der die Leiterplatte (9) aufgrund des Druckunterschieds zwischen der ersten Kammer (15) und einer zweiten Kammer (17) mittels der Kontaktplatte (81) elektrisch an eine Prüfeinheit (69) der Vorrichtung angeschlossen ist, dadurch gekennzeichnet. daß die Kontaktplatte (81) austauschbar auf einer Trennwand (13) angebracht ist, die die erste Kammer (15) hermetisch gegen die zweite Kammer (17) abschließt und unter dem Einfluß eines Druckunterschieds zwischen den beiden Kammern (15, 17) beweglich ist, nachdem eine vorbestimmte Festhaltekraft zwischen der Leiterplatte (9) und der Unterlage (7, 11) erreicht ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet. daß die Vorrichtung mit einem Satz von in einer Richtung quer zur Leiterplatte (9) angeordneten Prüftastern (49) versehen ist, wobei sich während des Prülvorgangs nach Bewegung der Kontaktplatte (81) ein einzig der jeweils zu prüfenden Leiterplatte (9) zugeordneter Teilsatz dieser Prüftaster (49) im Kontakt mit einer diesem Teilsatz entsprechenden Kombination von Kontaktpunkten (101) der Leiterplatte (9) befindet.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet. daß die Prüftaster (49) in gitterförmig angeordneten Bohrungen (47) angebracht sind, die in einer Richtung quer zur Leiterplatte (9) in einer Matrixplatte (45) zwischen der Unterlage (7, 11) und der Kontaktplatte (81) angeordnet sind, wobei jeder Prüftaster (49) mittels der Kontaktplatte (81) in der jeweiligen Bohrung (47) beweglich ist, während jeder Prüftaster (49) mindestens einen mittels der Kontaktplatte (81) zum Prüftaster (49) beweglichen Prüfstift (57) aufweist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1, 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet. daß die Vorrichtung mit einem Satz von in einer Richtung quer zur Kontaktplatte (81) angeordneten und in Bohrungen (65) in einer sich parallel zur Kontaktplatte (81) erstreckenden Anschlußplatte (63) angebrachten Anschlußkontakten (67) versehen ist, welche Anschlußkontakte (67) elektrisch an die Prüfeinheit (69) der Vorrichtung angeschlossen sind, wobei sich während des Prüfvorgangs nach Bewegung der Kontaktplatte (81) ein Teilsatz der Anschlußkontakte (67) im Kontakt mit einer diesem Teilsatz entsprechenden Kombination von Kontaktpunkten (87) der Kontaktplatte (81) befindet.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Kontaktplatte (81) mit einer Druckschaltung (89) versehen ist, durch die ein nach der Bewegung der Kontaktplatte (81) mit den Anschlußkontakten (67) im Kontakt stehender erster Satz Kontaktpunkte (87) der Kontaktplatte (81) elektrisch mit einem nach der Bewegung der Kontaktplatte (81) mit den Prüftastern (49) im Kontakt stehenden zweiten Satz Kontaktpunkte (83) der Kontaktplatte (81) verbunden ist.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die erste Kammer (15) und die zweite Kammer (17) gleichzeitig unter gleiche Unterdrücke gesetzt werden können.
7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet. daß die zweite Kammer (17) unter einen höheren Druck als den Umgebungsdruck der Vorrichtung gesetzt werden kann.
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Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4313962C1 (de) * 1993-04-28 1994-09-29 Siemens Ag Vorrichtung für den automatischen Test von hochintegrierten Baugruppen
US5793218A (en) * 1995-12-15 1998-08-11 Lear Astronics Corporation Generic interface test adapter
DE19814312C2 (de) * 1998-03-31 2000-06-08 Deutsche Telekom Ag Vorrichtung zum automatischen Testen von Baugruppen oder Bauateilen
US6335627B1 (en) * 1998-04-13 2002-01-01 Intel Corporation Apparatus and method for testing an electronics package substrate
US6468098B1 (en) * 1999-08-17 2002-10-22 Formfactor, Inc. Electrical contactor especially wafer level contactor using fluid pressure
US7396236B2 (en) 2001-03-16 2008-07-08 Formfactor, Inc. Wafer level interposer
US7122760B2 (en) 2002-11-25 2006-10-17 Formfactor, Inc. Using electric discharge machining to manufacture probes
US6945827B2 (en) 2002-12-23 2005-09-20 Formfactor, Inc. Microelectronic contact structure
US20050131513A1 (en) * 2003-12-16 2005-06-16 Cook Incorporated Stent catheter with a permanently affixed conductor
CN100419433C (zh) * 2004-09-24 2008-09-17 京元电子股份有限公司 具有讯号转接装置的集成电路插座及电子元件测试方法
JP4919617B2 (ja) * 2005-05-27 2012-04-18 ヤマハファインテック株式会社 プリント基板の電気検査装置および電気検査方法
CN101424702B (zh) * 2007-10-29 2010-07-28 京元电子股份有限公司 一种探针、测试插座及其测试机
DE102009012021B4 (de) * 2009-03-10 2011-02-03 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Messvorrichtung zur elektrischen Vermessung einer einseitig an einer Messseite elektrisch kontaktierbaren Messstruktur
CN102466760A (zh) * 2010-11-08 2012-05-23 亚旭电脑股份有限公司 频率测量装置
CN102944829B (zh) * 2012-10-30 2015-04-15 江苏斯菲尔电气股份有限公司 一种多功能的线路板测试机台及其使用方法
CN105093044B (zh) * 2015-09-14 2018-06-05 博众精工科技股份有限公司 一种针载板模组测试机构

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4115735A (en) * 1976-10-14 1978-09-19 Faultfinders, Inc. Test fixture employing plural platens for advancing some or all of the probes of the test fixture
US4321533A (en) * 1979-04-19 1982-03-23 Fairchild Camera & Instrument Corp. Printed circuit board test fixture having interchangeable card personalizers
US4344033A (en) * 1980-09-12 1982-08-10 Virginia Panel Corporation Vacuum-actuated test fixture for printed circuit boards
US4625164A (en) * 1984-03-05 1986-11-25 Pylon Company Vacuum actuated bi-level test fixture
US4626776A (en) * 1984-06-07 1986-12-02 O. B. Test Group, Inc. Programmable test fixture
US4626779A (en) * 1985-03-19 1986-12-02 Pylon Company, Inc. Spring-stops for a bi-level test fixture
GB2178860B (en) * 1985-08-09 1988-12-14 Databasix Limited Improvements in or relating to testing equipment for printed circuit boards
US4667155A (en) * 1986-01-07 1987-05-19 Virginia Panel Corporation Modular molded vacuum test fixture
US4636723A (en) * 1986-03-21 1987-01-13 Coffin Harry S Testing device for printed circuit boards
US4746861A (en) * 1986-08-21 1988-05-24 Tti Testron, Inc. Test fixture for printed circuit board assembly
US4841231A (en) * 1987-10-30 1989-06-20 Unisys Corporation Test probe accessibility method and tool
GB2223631B (en) * 1988-10-06 1993-01-13 British Aerospace Universal test fixture

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Publication number Publication date
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CN1026357C (zh) 1994-10-26
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US5166601A (en) 1992-11-24
EP0463684A1 (de) 1992-01-02
CN1057719A (zh) 1992-01-08
NL9001478A (nl) 1992-01-16
EP0463684B1 (de) 1996-04-03

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