DE3045882A1 - Vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte oder einer entsprechenden elektronischen baugruppe mit kontaktstiften sowie kontaktstift dafuer - Google Patents

Vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte oder einer entsprechenden elektronischen baugruppe mit kontaktstiften sowie kontaktstift dafuer

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DE3045882A1
DE3045882A1 DE19803045882 DE3045882A DE3045882A1 DE 3045882 A1 DE3045882 A1 DE 3045882A1 DE 19803045882 DE19803045882 DE 19803045882 DE 3045882 A DE3045882 A DE 3045882A DE 3045882 A1 DE3045882 A1 DE 3045882A1
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Werner 7750 Konstanz Heilmann
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INGUN PRUEFMITTELBAU
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • G01R1/07328Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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Description

  • Vorrichtung zum Prüfen einer elektronischen Leiterplatte
  • oder einer entsprechenden elektronischen Baugruppe mit Kontaktstiften sowie Kontaktstift dafür Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Prüfen von in einem Muster angeordneten Meßpunkten einer in einem Aufnahmeteil der Vorrichtung auswechselbar angeordneten elektronischen Leiterplatte oder einer entsprechenden elektronischen Baugruppe mittels an einer Stiftträgerplatte angebrachter, jeweils einen axial gegen einen in einer Hülse vorhandenen Kraftspeicher verschieblichen Kontaktkopf aufweisender Kontaktstifte, deren Kontaktkopf einen Meßpunkt der Leiterplatte od. dgl. während des Prüfvorganges berührt und über seinen Kontaktstift und ein Kabel doer eine entsprechende Verdrahtung mit einer Registrier- oder Meßeinrichtung verbindbar ist. Darüber hinaus zielt die Erfindung auf Kontaktstifte für eine derartige Vorrichtung.
  • Prüfvorrichtungen der beschriebenen Art dienen dazu, die zu prüfenden Punkte beispielsweise einer gedruckten Schaltungsplatte kurzzeitig simultan mit einem Prüfautomaten oder Prüfpult zu verbinden. Dies erfolgt durch die Kontaktstifte, deren Köpfe auf jene Prüfpunkte aufgesetzt werden und die anderseits mittels flexibler Leitungen an das -- gegebenenfalls Defekte anzeigende -- Prüfpult oder den Prüfcomputer angeschlossen sind. Die Kontaktstifte sind in einem gewählten Muster auf der Stiftträgerplatte verteilt. Zur Durchführung der Prüfung wird eine Leiterplatte an die Kontaktstifte herangebracht.
  • Um nun eine gleichmäßige Auflage der Leiterplatte auf den Prüfköpfen zu erreichen und eine Verfälschung der Prüfresultate zu unterbinden, hat man die beispielsweise durch die US-PS 3 043 021 bekanntgewordenen Kontaktstifte im Laufe der Zeit federnd ausgebildet. Derart gefederte Kontaktstifte sind mit galvanisch veredelten Prüfköpfen oder Tastspitzen versehen, die mit ihrer für den Anwendungsfall geeigneten Form und dem optimalen Federdruck sichere elektrisch leitende Verbindungen herstellen, wenn die zu prüfende Leiterplatte mittels eines sogenannten Prüfadapters auf die Prüfköpfe gedrückt wird.
  • Die Verwendung solcher Adapter ist mechanisch aufwendig und mit verhältnismäßig hohen Kosten verbunden. Ein weiterer und sehr erschwerender Nachteil bekannter Prüfvorrichtungen ist darin zu sehen, daß die einzelnen Kontaktstifte verdrahtet werden müssen, daß man also bei Wechsel des Prüfmusters die Verdrahtung entfernen und bei Verwendung eines anderen Musters wieder erneut verdrahten muß.
  • Angesichts dieser Gegebenheiten hat sich der Erfinder das Ziel gesetzt, eine Vorrichtung der eingangs erwähnten Art zu schaffen, welche in einfacher Weise zu betreiben ist und vor allem den Nachteilen begegnet, die aufwendige Verdrahtung stets erneut durchführen sowie eine große Lagerhaltung für diverse Prüfmuster betreiben zu müssen.
  • Zur Lösung dieser Aufgabe führt, daß in der Prüfvorrichtung eine in einem regelmäßigen Raster mit stiftartigen Kontaktschäften od. dgl. bestückte Kontaktträgerplatte vorgesehen ist, die einends an die Kabel angeschlossen und andernends mit einer Kontaktstelle zur Anlage an einen Kontaktstift versehen sind, wobei die in dem zu prüfenden Muster angeordneten Kontaktstifte in der Stiftträgerplatte in Abstand zur Kontaktträgerplatte so gehalten sind, daß durch eine Hubbewegung wenigstens ein Teil des Kontaktstifts an die Kontaktstelle des gesonderten Kontaktschaftes einerseits und die Leiterplatte anderseits heranführbar ist. Dabei hat es sich als besonders günstig erwiesen, den Aufnahmeteil als Kontaktkassette mit einer Unterdruckkammer zu versehen, welche an eine Unterdruckpumpe angeschlossen ist und an die die Leiterplatte angesetzt wird.
  • Dank der lückenlos rasterförmig mit den Kontaktschäften bestückten Kontaktträgerplatte sind nun dem Aufnahmeteil bzw. der Kontaktkassette so viele Kontaktstellen für die verdrahtungsfreien Kontaktstifte vorhanden, daß jedes beliebige Muster kontaktiert zu werden vermag. Die Verdrahtung wird nur einmal durchgeführt und zwar für beliebige Muster der Kontaktstifte bzw. der Meßpunkte an den Leiterplatten.
  • Eine andere Lösung der vom Erfinder gesehenen Aufgabe wird dadurch erzielt, daß in der Prüfvorrichtung eine in einem regelmäßigen Raster mit stiftartigen Kontaktschäften od. dgl. bestückte Kontaktträgerplatte vorgesehen ist, die einends an die Kabel angeschlossen sowie andernends mit einer Kontaktstelle versehen sind, und daß der Kontaktträgerplatte eine Prüfschablone mit in dem zu prüfenden Muster angeordneten Kontaktorganen zugeordnet ist, wobei diese an ihrer von den Kontaktschäften fernen Seite eine Kontaktstelle anbieten, an welche in einem regelmäßigen Raster in der Stiftträgerplatte angebrachte Kontaktstifte heranführbar und in dem zu prüfenden Muster an die Kabel od. dgl. anschließbar sind. Hiedurch entfällt jeglicher Eingriff in die Kontaktkassette, die darüber hinaus für alle denkbaren Muster unverändert verwendet werden kann.
  • Eine aus handelsüblichen Plattenteilen etwa nach der DE-PS 2 243 457 bestehende Prüfschablone kann umsteckbare Kontaktschäfte oder Kontaktstifte tragen, jedoch liegt es auch im Rahmen der Erfindung, anders ausgebildete Kontaktorgane einzusetzen, die geeignet sind, in einem ausgewählten Muster einen Teil der an der Kontaktträgerplatte vorhandenen Kontaktschäfte mit den entsprechenden Kontaktstiften der Stiftträgerplatte zu verbinden.
  • Nach einem weiteren Merkmal der Erfindung ist die Leiterplatte gegenüber der Stiftträgerplatte abstandsveränderlich gelagert, beispielsweise durch Zwischenschaltung von Kraftspeichern, welche sich einerseits an einem festen Teil der#ontaktkassette abstützen und anderseits die Leiterplatte oder eine diese aufnehmende Deck- oder Stützplatte halten.
  • Dabei hat es sich als besonders günstig erwiesen, daß die Stiftträgerplatte eine Ausnehmung des Bodens des Aufnahmeteils bzw. der Kontaktkassette zugeordnet und auf diesem -- unter Zwischenschaltung der erwähnten Kraftspeicher -- vertikal bewegbar eine die Unterdruckkammer begrenzende Platte vorgesehen ist, welche die darauf auswechselbar vorgesehene Leiterplatte aufnimmt. Dank dieser einfachen Maßnahme kann die Leiterplatte problemlos bei Aufbau des Unterdrucks in der Unterdruckkammer zur Stiftträgerplatte hin bewegt und so in Kontakt mit den Kontaktköpfen der Kontaktstifte gebracht werden.
  • Im Rahmen der Erfindung liegt es auch, daß die Stiftträgerplatte mit einem Raster von Bohrungen für die Kontaktstifte versehen sowie durch eine von den Kontaktstiften durchsetzbare Folie od. dgl. als Begrenzung der Unterdruckkammer abgedeckt ist. Nach dieser Maßgabe bildet also die Stiftträgerplatte selbst eine Wand der Unterdruckkammer und zwar auf einfache Weise dadurch, daß man die bekannte Rasterplatte mit handelsüblicher Folie abdeckt, welche lediglich so beschaffen sein muß, daß die Kontaktstifte problemlos hindurchgeführt werden können. Statt der Folie kann allerdings auch erfindungsgemäß ein folienartiger Film durch eine beispielsweise aufgesprühte Flüssigkeit erzeugt werden.
  • Insbesondere zur Vereinfachung der Lagerhaltung wird im Rahmen der Erfindung auch die Prüfschablone mit einem Raster von Bohrungen für stiftartige Kontaktorgane versehen sein, so daß man also die bereits erwähnten Lochplatten zu verwenden vermag. Für den Fall, daß die Prüfschablone selbst als Begrenzung der Unterdruckkammer dienen soll -- was durch erfindungsgemäße Zwischenschaltung eines Dichtorgans zwischen Kontaktkassette einerseits und diese tragende Wandungen anderseits problemlos möglich ist -- kann auch die Prüfschablone mit einer von den stiftartigen Kontaktorganen durchsetzbaren Folie abgedeckt sein bzw. eine aufgesprühte Schicht aufweisen.
  • Die Prüfschablone und/oder die Kontaktträgerplatte ist an vertikalen Sockelwänden festlegbar, auf denen der Aufnahmeteil bzw. die Kontaktkassette ruht. Es ist erkennbar, daß die Vergrößerung der Unterdruckkammer schon dadurch hergestellt werden kann, daß man die Sockelwände einerseits und die Kontaktkassette anderseits miteinander dicht verbindet. Hierzu genügt es,-wie gesagt --, eines der beiden Teile mit einer Gummidichtung zu versehen sowie Rast- oder Sperrorgane zu verwenden, welche.die beiden Vorrichtungsteile erfindungsgemäß in Gebrauchslage fest miteinander verbinden.
  • Auf diese Rastenanordnung wird bei der Beschreibung der in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispiele noch näher eingegangen.
  • Im Rahmen der Erfindung liegt auch ein Kontaktstift für eine Vorrichtung der eingangs erwähnten Art, welcher sich dadurch auszeichnet, daß in der Hülse einends ein den Prüfkopf tragendes Gleitstück und am anderen Ende ein Kolbenstück eines koaxial aus der Hülse ragenden bewegbaren Kontaktfußes verschiebbar vorgesehen ist, wobei das Gleitstück als Kolbenstück ausgebildet und zwischen beiden Kolbenstücken eine Feder angeordnet sein kann. Jedoch ist es auch möglich, das Gleitstück mit einem Kolbenring oder einem Kolbenkragen zu versehen und diesen als widerlager für wenigstens eine Feder zu verwenden.
  • In beiden Fällen handelt es sich um doppelseitig gefederte Kontaktstifte, dank deren die Kontaktierung bzw. die Verbindung zwischen den Meßpunkten des Prüfling einerseits und den Kontaktschäften anderseits sehr genau herstellbar ist. Die Kontaktstifte mit jeweils zwei Kolbenstücken verwendet man bevorzugt dann, wenn in die Stiftträgerplatte das Muster des Prüflings eingesteckt werden soll, während man den Kontaktstift mit einem Kolbenstück und einem gesondert gefederten Gleitstift mit Kolbenring zur vollständigen Bestückung der Stiftträgerplatte heranzieht, also dann, wenn der Stiftträgerplatte eine Prüfschablone zugeordnet ist. In letzterem Fall lagert der Kolbenring bevorzugt zwischen zwei Federn, deren eine sich gegen das Kolbenstück und deren andere sich gegen die Hülse stützt.
  • Erfindungsgemäß ist zwischen den beiden axial einander zugeordneten gefederten Kolbenstücken bzw. Gleitstücken, also dem Kontaktkopf einerseits und dem Kontaktfuß anderseits, ein mechanischer Leerlauf vorgesehen; nach erfolgtem Einsatz der Kontaktkassette findet noch keine unter dem Federdruck stehende Kontaktieruna statt, da der erforderliche Arbeitsdruck sich erst einstellt, wenn der Prüfling beispielsweise durch das Vakuum in der Unterdruckkammer der Kontaktkassette in seine Meßlage abgesenkt wird.
  • Von Bedeutung hierzu ist auch, daß die Länge des Kontaktstiftes in ausgefahrenem Zustand von Kontaktkopf und Kontaktfuß, beispielsweise 52 mm sich zur Hublänge des Kontaktfußes wie 8,5 : 1 bis 9 : 1 und/oder zur Hublänge des Kontaktkopfes wie 5 : 1 bis 6,5 : 1 verhält. Diese Maßgaben stellen besonders günstige Verhältnisse für die Herstellung des Stiftes dar.
  • Weitere Vorteile, Merkmale und Einzelheiten der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung bevorzugter Ausführungsbeispiele sowie anhand der Zeichnung; diese zeigt in: Fig. 1: die Draufsicht auf eine Prüfvorrichtung für bestücks Leiterplatten, elektrische Baugruppen od.
  • dgl. mit Kontaktstiften; Fig. 2: den Längsschnitt durch die Prüfvorrichtung entsprechend Linie II - II in Fig. 1; Fig. 3: den Längsschnitt durch ein Ausführungsbeispiel eines vergrößert dargestellten Kontaktstiftes; Fig. 4: eine der Fig. 3 entsprechende Wiedergabe eines anderen Kontaktstiftes; Fig. 5: eine schematische Darstellung einer anderen Prüfvorrichtung.
  • An eine rahmenartige Bodenplatte 1 einer Prüfvorrichtung 2 sind entlang den Außenkanten 3 Seitenwände 4 sowie diese zu einem Kasten ergänzende Stirnwände 5 befestigt.
  • In Abstand a zu den Stirnwänden 5 sind auf der Bodenplatte 1 Sockelwände 6 angebracht, die beidseits einer Bodenöffnung 8 der Breite b verlaufen. In den Sockelwänden 6 sind gemäß Fig. 2 in vertikalem Abstand h zur Oberfläche 7 der Bodenplatte 1 einander zugekehrte Seitennuten 9 erkennbar, in die eine -- gegebenenfalls entsprechend DE-PS 2 243 457 mehrteilige -- Kontaktträgerplatte 10 eingeschoben ist. Diese ist im Rastermaß x - y (Fig. 1) von t beispielsweise 2,54 mm (1XfO ) mit Bohrungen 11 zur Aufnahme von Kontaktschäften 12 versehen; diese Bohrungen 11 sind der Übersichtlichkeit halber nur in Fig. 1 und lediglich in einem Eck der Kontaktträgerplatte wiedergegeben, befinden sich aber auf dieser insgesamt. Ebenfalls ist aus Gründen der Übersicht in der Zeichnung nicht verdeutlicht, daß in jeder Bohrung 11 der Kontaktträgerplatte 10 ein derartiger Kontaktschaft 12 sitzt, an dessen zur Bodenplatte 1 ragendes Kupplungsende 13 jeweils ein Draht oder Kabel 15 angeklemmt oder angelötet ist; jedes dieser Kabel 15 durchsetzt jene Bodenöffnung 8 oder eine seitliche Ausnehmung in einer Seitenwand 4 und endet in einem nicht wiedergegebenen Prüfcomputer.
  • Die beschriebene Bestückung der Kontaktträgerplatte 10 entspricht auf einer Nutzfläche von 286 x 235 mm einer maximalen Kontaktbelegungszahl von 9240 möglichen Meßpunkten, bezogen auf das Meßpunktschema einer mit dieser Prüfvorrichtung 2 testbaren gedruckten Leiterplatte 20 od. dgl.
  • Die Leiterplatte 20 wird in einer Kontaktkassette 21 untergebracht, welche an der Unterseite mit Rastbolzen 22 versehen ist, die beim Aufsetzen auf buchsenartige Aufnahmesäulen 23 in deren Innenraum 24 einrasten. Aus dieser Raststellung können die Rastbolzen 22 durch -- gegebenenfalls über einen gesteuerten Antrieb 25a betätigte-Sperrklinken 25 freigesetzt werden.
  • In der in Fig. 2 gezeigten Raststellung ruht eine Rahmenleiste 26 der Kontaktkassette 21 auf einem Gummiprofil 27, das von der Firstfläche 28 der Sockelwand 6 teilweise nach oben ragt.
  • In der Kontaktkassette 21 ist eine Stiftträgerplatte 30 vorgesehen, in welcher Kontaktstifte 40 in einem Muster angebracht sind, welches jenem der zu messenden Punkte der Schaltung oder Leiterplatte 20 entspricht.
  • Die Stiftträgerplatte 30 wird durch die Rahmenleisten 26 sowie durch seitliche Ausgleichorgane 29 am Kassettenboden 31 gehalten, der eine Ausnehmung 32 für die Stiftträgerplatte 30 anbietet. Der Kassettenboden 31 bildet mit einem Profilrand 33 und einer diesem an fliegenden flexiblen Deckplatte 34, die von einer Stützplatte 35 unterfangen wird, einen kammerartigen Zwischenraum 45. Dabei ruht die Stützplatte 35 innerhalb des Profilrandes 33 auf Federn 36, ist also -- zusammen mit der etwa aus Schaumgummi gefertigten Deckplatte 34 -- vertikal bewegbar gelagert.
  • Die Leiterplatte 20 sitzt auswechselbar zwischen Haltestiften 37 od. dgl. der Stützplatte 35. Zur besseren Handhabung der Kontaktkassette 21 sind in deren Randbereich Bohrungen od. dgl. Aufnahmeöffnungen 38 für von den Sockelwänden 6 aufragende Fangstifte 39 als Führung vorgesehen, wie dies in einem Ausschnitt der Stiftträgerplatte 30 angedeutet ist.
  • Die Kontaktstifte 40 berühren zur Prüfung der Leiterplatte 20 diese jeweils mit einem Kontaktkopf 41 und sind mit einem Kontaktfuß 42 in ein buchsenartiges Aufnahmeteil 14 eines der Kontaktschäfte 12 einsetzbar. Nach diesem Prinzip wird eine ganze Verdrahtungsebene bzw. eine sonst erforderliche zusätzliche Trennstelle mit Vielfach-Steckverbindern eingespart.
  • Das Aufeinanderzuführen der Konaktteile 14,20,41,42 erfolgt durch in der Kontaktkassette 21 mittels einer nicht gezeigten, -- an einen Zylinder 43 mit Rohrstutzen 44 anfügbaren -- Vakuumpumpe erzeugten Unterdruck in der als Vakuumkammer wirkenden Zwischenkammer 45 der Kontaktkassette 21. Letztere ist über eine nicht erkennbare Ausnehmung im Kassettenboden 31 an jenen Zylinder 43 angeschlossen.
  • Zum Abdichten der Vakuumkammer 45 nach unten hin liegt der Stiftträgerplatte 30 eine handelsübliche -- in Fig.
  • 2 überhöht wiedergegebene -- Folie 46 als Abdeckung auf, die von den Kontaktstiften 40 durchsetzt und gegebenenfalls gehalten wird.
  • Der in Fig. 3 stark vergrößert dargestellte Kontaktstift 40 einer Gesamtlänge q von beispielsweise 41,5 mm besteht aus einer Hülse 50 mit Hülsenkragen 49 sowie zwei in der Hülse 50 bewegbaren Kolbenstücken 51, 52, die an ihren zueinander weisenden Stirnflächen mit Zapfen 53 versehen sind; die Zapfen 53 dienen der Zentrierung einer zwischen die Kolbenstücke 51, 52 eingeftigten Schraubenfeder 54, die sich beidends gegen eine jenen Zapfen 53 umgebende Ringschulter 55 abstützt.
  • Das untere Kolbenstück 52 einer Länge i von etwa 4 mm schließt einstückig an einen Bolzen 58 geringeren Durchmessers an, der in einem spitzen Kontaktfuß 42 endet.
  • Dieser Bolzen 58 durchsetzt eine Stirnbohrung 59 der Hülse 50, wobei letztere um die Stirnbohrung 59 zum Hülseninnenraum 60 hin einen ringförmigen Anschlag 61 für eine Schulter 62 des Kolbenstücks 52 anbietet.
  • Entsprechend hierzu wird das andere Ende der Hülse 50 von einem Bolzen 63 durchsetzt, der in den kronenähnlichen Kontaktkopf 41 übergeht.
  • Der Bolzen 63 ist unter Bildung einer Anschlagschulter 64 für eine Anschlagfläche 65 der Hülse 50 an das obere Kolbenstück 51 angefügt, welches eine Länge e von beispielsweise 7 mm aufweist.
  • Dieser doppelseitig gefederte Kontaktstift 40 stellt die Verbindung zwischen dem Meßpunkt der Leiterplatte 20 -- also dem Prüfling -- einerseits und einem jene Kontaktschäfte 12 anderseits her. Zwischen den beiden Kolbenstücken 51, 52 besteht ein mechanischer Leerlauf, der bewirkt, daß nach erfolgtem Einsatz der Kontaktkassette 21 in die Aufnahmemechanik der Prüfvorrichtung 2 noch keine unter Federdruck stehende Kontaktierung stattfindet. Dies vereinfacht die Handhabung.
  • Der erforderliche Arbeitsdruck stellt sich erst ein, wenn die Leiterplatte bzw. der Prüfling 20 durch das Vakuum in der Unterdruckkammer 45 der Kontaktkassette 21 in die Funktionsstellung abgesenkt wird. In dieser Lage ist die leitende Verbindung zwischen den Meßpunkten des Prüflings 20 über die Kontaktstifte 40 und die Kontaktschäfte 12 zur Verdrahtung 15 und damit zum Eingang des in der Zeichnung nicht dargestellten Prüfcomputers hergestellt. Die maximale Hublänge für den Kontaktstift 40 ergibt sich durch die Hublängen s1 bzw.
  • für Kontaktfluß 42 bzw. Kontaktkopf 41, welche 5 mm bzw. 6,5 mm betragen.
  • Im übrigen ist die Prüfvorrichtung 2 funktionell Bestandteil dieses Prüfcomputers und wird zweckmäßigerweise mit diesem zusammen auf einem Arbeitstisch fest montiert.
  • Die Verdrahtung 15 bleibt so stets unverändert.
  • Die Ausführungsform eines Kontaktstifts 70 nach Fig. 4 weist ebenfalls in einer Hülse 50 ein unteres Kolbenstück 52 auf, von dem ein Bolzen 58 einer Hublänge s von beispielsweise 10 mm abragt und die Hülsenstirnbohrung 59 durchsetzt. Dieser Bolzen 58 endet in einem kronenartigen Kontaktfuß 42k einer Länge k von z. B.
  • 3 mm.
  • Die den Zapfen 53 umfangende Schraubenfeder 54 liegt mit ihrer anderen Stirn einem Kolbenring 76 an, in dem das Steckende 75 eines Gleitschaftes 73 sitzt. Letzterer ist von einer zweiten Schraubenfeder 74 umgeben, die sich zwischen dem Kolbenring 76 und #der oberen Anschlagfläche 65 der Hülse 50 spannt.
  • Der Kontaktkopf 41r eines Durchmessers d von beispielsweise 2 mm ist axial nach außen domartig gewölbt, seine Hublänge s2 -- welche durch die innenliegende Schraubenfeder 74 begrenzt wird -- beträgt im gewählten Beispiel maximal 6 mm, die Kontaktberührung soll im Normalfall nach 3 bis 4 mm Ausfahrweg erreicht sein. Dabei gelangt der Kontaktfuß 42k innerhalb seines maximalen Ausfahr-oder Hubwegs s1 von etwa 10 mm nach 2 bis 3 mm Leerhub in Kontaktposition und fährt dann normalerweise nach weiteren 3 bis 4 mm auf einem sogenannten Kontaktdruckweg weiter aus.
  • Der Kontaktstift 70 wird in einer Prüfvorrichtung 72 verwendet, wie sie die Fig. 5 zeigt. Darin ist oberhalb der Kontaktträgerplatte 10 in einen schulterartigen Absatz 66 der Sockelwände 6 eine Prüfschablone 80 eingelegt, die mit einem nicht gezeigten Raster von Bohrungen 81 versehen und mit Zwischenstiften 82 im Muster der zu prüfenden Leiterplatte bzw. des Prüflings 20 bestückt ist.
  • Bei dieser Prüfvorrichtung 72 sind alle Bohrungen 11 der Stiftträgerplatte 30 mit den Kontaktstiften 70 versehen, so daß ein durch das sich ändernde Muster des Prüflings 20 bedingtes Umstecken von Kontaktstiften 40 entfällt; der Einbau mehrerer Schraubenfedern 54, 74 ermöglicht die Verwendung jener Prüfschablone 80, dank deren nur jene Kontaktstifte 70 an die Verkabelung 50 angeschlossen werden, die beim Aufsetzen der Kontaktkassette 21 koaxial auf einen der Zwischenstifte 82 treffen

Claims (16)

  1. PATENTANSPRÜCHE vorrichtung zum Prüfen von in einem Muster angeordneten Meßpunkten einer in einem Au fnahme teil der Vorrichtung auswechselbar-angeordneten elektronischen Leiterplatte oder einer entsprechenden elektronischen Baugruppe mittels an einer Stiftträgerplatte angebrachter, jeweils einen axial gegen einen in einer Hülse vorhandenen Kraftspeicher verschieblichen Kontaktkopf aufweisender Kontaktstifte, deren Kontaktkopf einen Meßpunkt der Leiterplatte od. dgl. während des Prüfvorganges berührt und über seinen Kontaktstift und ein Kabel oder eine entsprechende Verdrahtung mit einer Registrier-oder Meßeinrichtung verbindbar ist, dadurch gekennzeichnet, daß in der Prüfvorrichtung (2) eine in einem regelmäßigen Raster #,y) mit stiftartigen Kontaktschäften (12) bestückte Kontaktträgerplatte (10) vorgesehen ist, die einends an die Kabel (15) angeschlossen und andernends mit einer Kontaktstelle (14) zur Anlage an einen Kontaktstift (40) versehen sind, wobei die in dem zu prüfenden Muster angeordneten Kontaktstifte in die Stiftträgerplatte (29) in Abstand zur Kontaktträgerplatte so gehalten sind, daß durch eine Hubbewegung wenigstens ein Teil des Kontaktstifts an die Kontaktstelle einerseits und die Leiterplatte (20) anderseits herangeführt ist.
  2. 2. Vorrichtung zum Prüfen von in einem Muster angeordneten Meßpunkten einer in einem Aufnahmeteil der Vorrichtung auswechselbar angeordneten elektronischen Leiterplatte oder einer entsprechenden elektronischen Baugruppe mittels an einer Stiftträgerplatte angebrachter, jeweils einen axial gegen einen in einer Hülse vorhandenen Kraftspeicher verschieblichen Kontaktkopf aufweisender Kontaktstifte, deren Kontaktkopf einen Meßpunkt der Leiterplatte od. dgl.
    während des Prüfvorganges berührt und über seinen Kontaktstift und ein Kabel oder eine entsprechende Verdrahtung mit einer Registrier- oder Meßeinrichtung verbindbar ist, dadurch gekennzeichnet, daß in der Prüfvorrichtung (72) eine in einem regelmäßigen Raster (x,y) mit stiftartigen Kontaktschäften (12) bestückte Kontaktträgerplatte (10) vorgesehen ist, die einends an die Kabel (15) angeschlossen und andernends mit einer Kontaktstelle (14) versehen sind, daß der Kontaktträgerplatte eine Prüfschablone (80) mit in dem zu prüfenden Muster angeordneten Kontaktorganen (82) zugeordnet ist und diese an ihrer von den Kontaktschäften fernen Seite eine Kontaktstelle anbieten, an welche in einem regelmäßigen Raster (x,y) in der Stiftträgerplatte (30) angebrachte Kontaktstifte (70) heranfithrbar und in dem zu prüfenden Muster an die Kabel (15) od. dgl. anschließbar sind.
  3. 3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß deren Aufnahmeteil (21) als Unterdruckkammer (45) ausgebildet und diese an eine Unterdruckpumpe angeschlossen ist.
  4. 4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Leiterplatte (20) gegenüber der Stiftträgerplatte (30) abstandsveränderlich lagert.
  5. 5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Stiftträgerplatte (30) einer Ausnehmung (32) des Bodens (31) des Aufnahmeteils bzw. der Kontaktkassette (21) zugeordnet und auf diesem unter Zwischenschaltung von Kraftspeichern (36) vertikal bewegbar eine die Unterdruckkammer (45) begrenzende Platte (34 bzw. 35) vorgesehen ist, welche die auswechselbare Leiterplatte (20) aufnimmt.
  6. 6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Stiftträgerplatte (30) mit einem Raster (x, y) von Bohrungen (11) für die Kontaktstifte (40, 70) versehen sowie durch eine von den Kontaktstiften durchsetzbare Folie (46) od. dgl. als Begrenzung der Unterdruckkammer (45) abgedeckt ist.
  7. 7. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfschablone (80) mit einem Raster (x,y) von Bohrungen (81) für stiftartige Kontaktorgane (82) versehen ist.
  8. 8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfschablone (80) mit einer von den stiftartigen Kontaktorganen (82) durchsetzbaren Folie abgedeckt und eine Begrenzung der Unterdruckkammer (45) ist.
  9. 9. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfschablone (80) und/oder die Kontaktträgerplatte (10) an vertikalen Sockelwänden (6) festlegbar ist/sind, auf denen der Aufnahmeteil bzw. die Kontaktkassette (21) ruht.
  10. 10. Kontaktstift für eine Vorrichtung zum Prüfen von in einem Muster angeordneten Meßpunkten einer in einem Aufnahmeteil der Vorrichtung auswechselbar angeordneten elektronischen Leierplatte oder einer entsprechenden elektronischen Baugruppe mittels an einer Stiftträgerplatte angebrachter, jeweils einen axial gegen einen in einer Hülse vorhandenen Kraftspeicher verschieblichen Kontaktkopf aufweisender Kontaktstifte, deren Kontaktkopf einen Meßpunkt der Leiterplatte od.
    dgl. während des Prüfvorganges berührt und über seinen Kontaktstift und ein Kabel oder eine entsprechende Verdrahtung mit einer Registrier- oder Meßeinrichtung verbindbar ist, dadurch gekennzeichnet, daß in der Hülse (50) einends ein den Prüfkopf (41) tragendes Gleitstück (51,73) und am anderen Ende ein Kolbenstück (52) eines koaxial aus der Hülse ragenden bewegbaren Kontaktfußes (42) verschiebbar vorgesehen ist.
  11. 11. Kontaktstift nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß das Gleitstück als Kolbenstück (51) ausgebildet und zwischen beiden Kolbenstücken (51,52) eine Feder (54) angeordnet ist.
  12. 12. Kontaktstift nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, daß jedes Kolbenstück (51, 52) einen axialen Zapfen (53) zur zentrierung der ihn um.fangenden als Schraubenfeder (54) ausgebildeten Feder aufweist.
  13. 13. Kontaktstift nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß das Gleitstück (73) mit einem Kolbenring oder Kolbenkragen (76) versehen ist und dieser als Widerlager für wenigstens eine Feder (54; 74) dient.
  14. 14. Kontaktstift nach Anspruch 10 oder 13, dadurch gekennzeichnet, daß der Kolbenring (76) zwischen zwei Federn (54, 74) lagert, deren eine sich gegen das Kolbenstück (52) und deren andere sich gegen die Hülse (50) stützt.
  15. 15. Kontaktstift nach wenigstens einem der Ansprüche 10 bis 14, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen den zueinander koaxial angeordneten Kolbenstücken (51, 52) und/oder zwischen dem Kolbenring (76) und einem Kolbenstück (52) ein mechanischer Leerlauf vorhanden ist.
  16. 16. Kontaktstift nach wenigstens einem der Ansprüche 10 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß die Länge des Kontaktstiftes (40, 70) in ausgefahrenem Zustand von Kontaktkopf (41) und Kontaktfuß (42), beispielsweise 52 mm, sich zur Hublänge (S1) des Kontaktfußes wie 8,5 : 1 bis 9 : 1 und/oder zur Hublänge (s2) des Kontaktfußes wie 5 : 2 bis 6,5 : 1 verhält.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2533403A1 (fr) * 1982-09-17 1984-03-23 Orion Electronic Sarl Procede de controle de circuits electriques et installation pour la mise en oeuvre de ce procede
DE3312436A1 (de) * 1982-10-29 1984-05-03 Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg Kontaktiervorrichtung
DE3240415A1 (de) * 1982-11-02 1984-05-03 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Nadelfelder fuer pruefautomaten
DE3316103A1 (de) * 1983-05-03 1984-11-08 Nixdorf Computer Ag, 4790 Paderborn Pruefnadel fuer ein pruefgeraet zum pruefen von leiterplatten
EP0361689B1 (de) * 1988-09-09 1995-07-19 Qa Technology Company Inc. Messsonde für elektrische Schaltungen

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2807332A1 (de) * 1978-02-21 1979-08-23 Feinmetall Gmbh Federnder kontaktbaustein
US4230985A (en) * 1978-01-12 1980-10-28 Fairchild Camera And Instrument Corporation Fixturing system
DE2915742A1 (de) * 1979-04-19 1980-10-30 Werner Heilmann Vorrichtung zum pruefen elektronischer schaltungen
WO1980002599A1 (en) * 1979-05-24 1980-11-27 Fairchild Camera Instr Co Universal test fixture employing interchangeable wired personalizers
DE2921007A1 (de) * 1979-05-23 1980-11-27 Siemens Ag Vorrichtung zum pruefen einer elektrischen leiterplatte
DE3038665A1 (de) * 1980-10-13 1982-06-16 Riba GmbH, 7801 Schallstadt Pruefeinrichtung

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4230985A (en) * 1978-01-12 1980-10-28 Fairchild Camera And Instrument Corporation Fixturing system
DE2807332A1 (de) * 1978-02-21 1979-08-23 Feinmetall Gmbh Federnder kontaktbaustein
DE2915742A1 (de) * 1979-04-19 1980-10-30 Werner Heilmann Vorrichtung zum pruefen elektronischer schaltungen
DE2921007A1 (de) * 1979-05-23 1980-11-27 Siemens Ag Vorrichtung zum pruefen einer elektrischen leiterplatte
WO1980002599A1 (en) * 1979-05-24 1980-11-27 Fairchild Camera Instr Co Universal test fixture employing interchangeable wired personalizers
DE3038665A1 (de) * 1980-10-13 1982-06-16 Riba GmbH, 7801 Schallstadt Pruefeinrichtung

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2533403A1 (fr) * 1982-09-17 1984-03-23 Orion Electronic Sarl Procede de controle de circuits electriques et installation pour la mise en oeuvre de ce procede
DE3312436A1 (de) * 1982-10-29 1984-05-03 Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg Kontaktiervorrichtung
DE3240415A1 (de) * 1982-11-02 1984-05-03 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Nadelfelder fuer pruefautomaten
DE3316103A1 (de) * 1983-05-03 1984-11-08 Nixdorf Computer Ag, 4790 Paderborn Pruefnadel fuer ein pruefgeraet zum pruefen von leiterplatten
EP0361689B1 (de) * 1988-09-09 1995-07-19 Qa Technology Company Inc. Messsonde für elektrische Schaltungen

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