DE3136896C2 - - Google Patents

Info

Publication number
DE3136896C2
DE3136896C2 DE19813136896 DE3136896A DE3136896C2 DE 3136896 C2 DE3136896 C2 DE 3136896C2 DE 19813136896 DE19813136896 DE 19813136896 DE 3136896 A DE3136896 A DE 3136896A DE 3136896 C2 DE3136896 C2 DE 3136896C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
probe
sleeve
plug
sliding pin
pin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE19813136896
Other languages
English (en)
Other versions
DE3136896A1 (de
Inventor
Werner 7750 Konstanz De Heilmann
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ingun Pruefmittelbau & Co KG Elektronik 7750 Konstanz De GmbH
Original Assignee
Ingun Pruefmittelbau & Co KG Elektronik 7750 Konstanz De GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ingun Pruefmittelbau & Co KG Elektronik 7750 Konstanz De GmbH filed Critical Ingun Pruefmittelbau & Co KG Elektronik 7750 Konstanz De GmbH
Priority to DE19813153596 priority Critical patent/DE3153596C2/de
Priority to DE19813136896 priority patent/DE3136896A1/de
Publication of DE3136896A1 publication Critical patent/DE3136896A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3136896C2 publication Critical patent/DE3136896C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • G01R1/07328Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716Elastic
    • G01R1/06722Spring-loaded

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Prüfen einer elektronischen Leiterplatte mittels zumindest eines in einer Ausnehmung einer Trägerplatte angeordneten, an die Verdrahtung eines Prüfautomaten anschließbaren Taststiftes mit einem der Leiterplatte während des Prüfvorganges anliegenden sowie unter Einwirkung einer Schraubenfeder axial verschieblichen Tastkopf an einem Gleitstift, wobei die Bohrungen der Trägerplatte mit verdrahtbaren Steckhülsen besetzt sind, von denen zumindest einige den Gleitstift axial verschiebbar aufnehmen, an dessen Tastkopf die Steckhülse durch die mit ihr verbundene, den Gleitstift umfangende und mit einem Ende an den Tastkopf oder den Gleitstift angeschlossene Schraubenfeder mechanisch angekoppelt ist.
Eine solche Vorrichtung ist aus der DE 29 24 262 A1 bekannt.
Bei dieser bekannten Vorrichtung ist die Schraubenfeder einends auf einen im Durchmesser kleineren Ansatzzapfen des Taststiftes aufgesetzt und legt sich andernends gegen eine Einbördelung der Steckhülse. Die Anordnung ist verhältnismäßig klapprig und unsicher, insbesondere was die Halterung und Führung der Schraubenfeder betrifft. Dies macht sich besonders bemerkbar, wenn der Taststiftteil, bestehend aus Taststift und Tastkopf ausgetauscht werden soll.
Der Erfindung liegt deshalb die Aufgabe zugrunde, den Kontaktstift so zu gestalten, daß die Einzelteile, wie Tastkopf und Druckfeder, leicht austauschbar sind.
Zur Lösung dieser Aufgabe führt, daß die Schraubenfeder einends in einer Ringnut des Tastkopfes und andernends in einer Ringnut eines Ansatzes in Form eines Hohlzapfens der Steckhülse sitzt.
Die Steckhülse sitzt in einer paßgenau gebohrten Platte und ist am unteren Ende verdrahtet. Somit bleibt sie eine kompakte Einheit, die über Kabel mit einem Testsystem verbunden ist. Wird ein Kontaktstift beschädigt, so muß nicht mehr die ganze Baueinheit, also Führungshülse, Tastkopf und Druckfeder, ausgewechselt werden. Die Verschleißteile, wie Tastkopf und Druckfeder sind leicht austauschbar. Der Kontaktstift oder Taststift ist somit wesentlich kostengünstiger. Eine Steckhülse entfällt ganz. Ausgewechselt wird nur der Tastkopf oder die Druckfeder.
Ein wesentlicher Vorteil besteht außerdem darin, daß man die Funktionsweise auch in eingebautem Zustand nachträglich verändern kann, z. B. durch andere Federkräfte, Tastkopfformen oder variable Bauhöhen.
Da sich die Druckfeder in keiner geschlossenen Hülse befindet, entfällt die Gefahr, daß sich Schmutzteilchen ansammeln können und der Übergangswiderstandswert nachteilig beeinflußt wird. Der Kontaktstift ist somit selbstreinigend. Außerdem entfällt der in geschlossenen Schraubenfederhülsen entstehende Abrieb.
Besondere Weiterbildungen sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.
So kann die Steckhülse einen der Trägerplatte auflegbaren an sich bekannten Anschlagkragen aufweisen, an den der Hohlzapfen koaxial angeformt ist. Außerdem kann der Ringnut ein sich zu konisch erweiterndes Führungsstück zur Schraubenfeder hin vorgeordnet sein.
Die Erfindung wird in der nachfolgenden Beschreibung bevor­ zugter Ausführungsbeispiele sowie anhand der Zeichnung näher erläutert; diese zeigt in
Fig. 1 eine Schrägansicht auf einen Teil einer herkömmlichen Prüfvorrichtung mit in einem Nadelträger ange­ ordneten Tastnadeln;
Fig. 2 eine gegenüber Fig. 1 vergrößerte Tastnadel im Längsschnitt;
Fig. 3 die Tastnadel der Fig. 2 in auseinandergezogenem Seitenriß;
Fig. 4 eine andere Ausführungsform der Prüfvorrichtung etwa entsprechend der Darstellung der Fig. 1;
Fig. 5 eine der in Fig. 4 erkennbaren Tastnadeln im Längs­ schnitt;
Fig. 6 einen Teil einer Tastnadel im Längsschnitt;
Fig. 7 die Tastnadel der Fig. 6 in einer gegenüber letzterer veränderter Gebrauchslage.
In einem Rahmen 1 einer nicht weiter dargestellten Prüf- und Abtastvorrichtung für gedruckte Schaltungsplatten lagert eine Trägerplatte 2 für Taststifte oder Tastnadeln 10.
Die Trägerplatte 2 bzw. der Nadelträger besteht aus mehreren von einem Rahmen 4 umgebenen System- oder Einzelplatten 5 mit rasterartig verteilten Bohrungen 6 für die in diese ein­ gesteckten und vornehmlich durch Reibschluß festgelegten Tastnadeln 10. Der Bohrungsquerschnitt und sein Umriß hängen von Form und Größe der Tastnadeln 10 ab.
In jede dieser Einzelplatten 5 ist an einer Längs­ seite sowie an einer Schmalseite eine zur Plattenebene parallele Nut 7 eingebracht, während an den anderen Seiten entsprechen­ de Federn 8 abstehen.
Das Rastermaß n für die Bohrungen 6 kann jede erforderliche Normenmessung haben, wird aber im Hinblick auf die Forderung nach günstiger Lagerhalterung vornehmlich mit 2,5 bis 2,54 mm oder geringerer Netzweite -- für beide Koordinaten gleicher­ maßen -- benutzt.
In einer der Bohrungen 6 der in Fig. 2 teilweise wiedergegebenen Trägerplatte 2 sitzt eine Steckhülse 11 mit auf der Plattenoberfläche 9 ruhendem Randkragen 12. Die gesamte Trägerplatte 2 kann mit diesen Steckhül­ sen 11 bestückt sein, die in nicht wiedergegebener Weise im Bereich einzelner vom Boden 13 der Steckhülsen 11 abragen­ der elektrischer Anschlußfahnen 14 verdrahtet sind.
Die Steckhülse 11 ist mit einer in der Hülsenachse M verlau­ fenden Bohrung 15 zur Aufnahme eines Gleitstiftes 16 versehen. Der Gleitstift 16 ist in der Bohrung 15 verschiebbar und trägt an sei­ nem freien Ende einen kronenartigen Tastkopf 17.
Der Gleitstift 16 durchsetzt eine Schraubenfeder 20, die in einer Ringnut 18 eines oberhalb des Randkragens 12 vorgesehenen Hohlzapfens 19 der Steckhülse 11 an dieser festliegt. Das obere Ende der Schraubenfeder 20 umfängt einen unterhalb des Tast­ kopfes 17 befindlichen Ansatz, der ein Führungsstück 21 bildet und der im Bereich einer Ring­ nut 22 liegt.
In Ruhelage des Taststiftes 10 hält die Schraubenfeder 20 die Tastkopfoberfläche 23 in einem Abstand a von beispiels­ weise 16 mm zur Plattenoberfläche 9. In nicht gezeigter Prüfposition wird die Schraubenfeder 20 zusammengedrückt und der Tastkopf 17 in Pfeilrichtung x zur Plattenoberfläche 9 hin geführt.
Dank der Anordnung der Schraubenfeder 20 ist es problemlos möglich, den gesamten oberen Taststiftteil 25 aus Gleitstift 16 und Tastkopf 17 auszutauschen und beispielsweise gegen spitze Tastköpfe 17 s oder andere Einsätze auszutauschen. Außerdem entfällt bei dieser Anordnung der Schraubenfeder 20 der in ge­ schlossenen Schraubenfederhülsen entstehende Abrieb.
Die Trägerplatte 3 nach Fig. 4 ist als Einsatz in eine pneumatische Prüfvorrichtung gedacht und deshalb an den Außenseiten 27 ihres Rahmens 4 mit einer umlaufenden Nut 28 versehen, in der ein in Fig. 4 übersichtlichkeitshalber herausgenommener Dichtungskragen 29 festliegt. Der Dichtungskragen 29 liegt in Einbaulage dem Gegenrahmen 1 der Prüfvorrichtung an und dichtet so deren nicht wiedergegebenen Innenraum ab.
In den Bohrungen 6 stecken Taststifte 30 nach Fig. 5 mit in einer Druckhülse 31 von einem Außendurchmesser d von beispiels­ weise 2 mm angeordnetem Gleitstift 16 mit kronenartigem Tast­ kopf 17. Die Druckhülse 31 wird von dem Randkragen 12 in der Einzelplatte 5 gehalten und endet nach unten hin in einer elektrischen Klemmbuchse 32, an die ein pneumatischer Anschluß 33 angrenzt.
Im Innenraum 34 der Druckhülse 31 stützt sich die Schrauben­ feder 20 einends gegen einen unteren als Führungsschuh ausgebildeten Führungsring 35 des Gleitstiftes 16 sowie andernends gegen einen oberen Führungsring 36 ab, der einen Dichtungsring 37 gegen eine Ringschulter 38 des Randkragens 12 hält. Wird die Druckhülse 31 über den pneumatischen Anschluß 33 mit Luft beaufschlagt, so drückt die Luft den Führungsring 35 aufwärts gegen die Kraft der Schraubenfeder 20 in Pfeil­ richtung y, so daß der Tastkopf 17 sich von der Oberfläche 9 der Einzelplatte 5 entfernt und gleichzeitig der Dichtungs­ ring 37 durch den Führungsring 36 gequetscht und gegen die Druckhülseninnenfläche gedrückt wird.
Bei dem Taststift 40 nach Fig. 6, 7 ist die Schraubenfeder 20 zwischen einem Verschlußteil 41 der Druck­ hülse 31 und dem hier tieferliegenden Führungsring 36 ange­ ordnet.
Bei Beaufschlagung der Druckhülse 31 mit Luft wird der Tast­ kopf 17 nach Fig. 7 um ein Hubmaß h vom Hülsenverschlußteil 41 abgehoben.

Claims (3)

1. Vorrichtung zum Prüfen einer elektronischen Leiter­ platte mittels zumindest eines in einer Ausnehmung einer Trägerplatte angeordneten, an die Verdrahtung eines Prüfautomaten anschließba­ ren Taststiftes mit einem der Leiterplatte während des Prüfvorganges anliegenden sowie unter Einwirkung einer Schraubenfeder axial verschieblichen Tastkopf an einem Gleitstift, wobei die Bohrungen der Trägerplat­ te mit verdrahtbaren Steckhülsen besetzt sind, von denen zumindest einige den Gleitstift axial verschieb­ bar aufnehmen, an dessen Tastkopf die Steckhülse durch die mit ihr verbundene, den Gleitstift umfangende und mit einem Ende an den Tastkopf oder den Gleitstift angeschlossene Schraubenfeder mechanisch angekoppelt ist, dadurch gekennzeichnet, daß die Schraubenfeder (20) einends in einer Ringnut (22) des Tastkopfes (17) und andernends in einer Ring­ nut (18) eines Ansatzes in Form eines Hohlzapfens (19) der Steckhülse (11) sitzt.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Steckhülse (11) einen der Trägerplatte (2) auflegbaren an sich bekannten Anschlagkragen (12) auf­ weist, an den der Hohlzapfen (19) koaxial angeformt ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Ringnut (18, 22) ein sich zu ihr ko­ nisch erweiterndes Führungsstück (19, 21) zur Schrauben­ feder (20) hin vorgeordnet ist.
DE19813136896 1981-09-17 1981-09-17 Vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte Granted DE3136896A1 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19813153596 DE3153596C2 (en) 1981-09-17 1981-09-17 Test head for electronic conductor boards
DE19813136896 DE3136896A1 (de) 1981-09-17 1981-09-17 Vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19813136896 DE3136896A1 (de) 1981-09-17 1981-09-17 Vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3136896A1 DE3136896A1 (de) 1983-04-14
DE3136896C2 true DE3136896C2 (de) 1989-05-11

Family

ID=6141889

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19813136896 Granted DE3136896A1 (de) 1981-09-17 1981-09-17 Vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE3136896A1 (de)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2547959B1 (fr) * 1983-06-23 1986-06-13 Laudren Cie Ets Dispositif de prise de test pour tete de cable
HU192083B (en) * 1984-11-29 1987-05-28 Bhg Hiradastech Vallalat Testing probe for testing printed wiring and printed circuit panels
SE448404B (sv) * 1985-02-04 1987-02-16 Probe Hb Anordning for temporer sammankoppling av ett metinstrument med en elektronisk enhet
DE3602696C2 (de) * 1986-01-30 1996-07-11 Festo Kg Prüfeinrichtung für auf Trägern angeordnete elektronische Bauelemente
US4801876A (en) * 1986-04-18 1989-01-31 Sagami Tsushin Kogyo Kabushiki Kaisha Printed wiring board tester
DE3844685C2 (de) * 1987-04-16 1995-05-18 Teradyne Inc Kontaktsonde
EP0351174B1 (de) * 1988-07-13 1995-05-17 Hewlett-Packard Company Ausrichtungssystem für gedruckte Schaltungskarten
US5645433A (en) * 1994-05-09 1997-07-08 Johnstech International Corporation Contacting system for electrical devices
US5639247A (en) * 1994-05-09 1997-06-17 Johnstech International Corporation Contacting system for electrical devices
DE10048303C2 (de) * 2000-09-29 2003-09-25 Ptr Mestechnik Gmbh & Co Kg Schraubbarer Pneumatik-Federkontaktstift

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1903088A1 (de) * 1969-01-22 1971-01-21 Siemens Ag Kontaktvorrichtung
CA1038042A (en) * 1975-03-03 1978-09-05 Motorola Programmable probe fixture and method of connecting units under test with test equipment
US4183609A (en) * 1978-03-16 1980-01-15 Luna L Jack Insulator board for spring probe fixtures
DE2924262C2 (de) * 1979-06-15 1984-12-13 Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg Federnder Kontaktbaustein für Meß- und Prüfzwecke

Also Published As

Publication number Publication date
DE3136896A1 (de) 1983-04-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3421799C2 (de)
EP0215146B1 (de) Vorrichtung zum elektronischen Prüfen von Leiterplatten oder dergleichen
DE3249770C2 (en) Device for testing electrical circuit boards
DE3136896C2 (de)
DE2933862A1 (de) Vorrichtung zur elektronischen pruefung von leiterplatten.
DE3038665A1 (de) Pruefeinrichtung
EP2015087B1 (de) Vorrichtung zum Testen von elektronischen Bauelementen, insbesondere IC's, mit innerhalb einer Drucktestkammer angeordnetem Abdichtboard
DE2707900C3 (de) Universal-Adaptiervorrichtung für Geräte zur elektrischen Prüfung unterschiedlicher gedruckter Schaltungen
EP0268969A1 (de) Adapter für ein Leiterplattenprüfgerät
EP0278073B1 (de) Prüfstift für einen Adapter eines Leiterplattenprüfgerätes
DE102012013371B4 (de) Messvorrichtung für ein Stößelkissen einer Presse
DE19630823C1 (de) Koordinatenmeßgerät mit Kollisionsschutz
EP0315707B1 (de) Adapter für eine Vorrichtung zur elektronischen Prüfung von Leiterplatten
DE102004054534B4 (de) Verteileranschlußmodul
DE4416151C1 (de) Vorrichtung zum Kontaktieren von Prüfpunkten einer elektronischen Leiterplatte o. dgl. Prüfling
DE3045882A1 (de) Vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte oder einer entsprechenden elektronischen baugruppe mit kontaktstiften sowie kontaktstift dafuer
DE4225464C2 (de) Verfahren zum Prüfen eines an einem Kabelende festgelegten Kontaktschuh auf Verrastung in einem Stecker
DE3016483A1 (de) Vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte o.dgl.
DE3153596C2 (en) Test head for electronic conductor boards
DE3722485C2 (de)
DE202018102253U1 (de) Vorrichtung zum Spannen von Werkstücken
EP0170061B1 (de) Steck- und Ziehwerkzeug
DE102020210873B4 (de) Vorrichtung zum Herstellen von Einpressverbindungen zwischen einem oder mehreren Einpresselementen und einem oder mehrere Öffnungen eines Trägers und Verfahren
DE102015215634A1 (de) Halter zum Niederhalten einer zu prüfenden Platine auf einen Prüfadapter in einer Prüfanordnung
DE2816721A1 (de) Vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte o.dgl.

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
8125 Change of the main classification

Ipc: G01R 31/28

8172 Supplementary division/partition in:

Ref country code: DE

Ref document number: 3153596

Format of ref document f/p: P

Q171 Divided out to:

Ref document number: 3153596

Ref country code: DE

AH Division in

Ref country code: DE

Ref document number: 3153596

Format of ref document f/p: P

D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
AH Division in

Ref country code: DE

Ref document number: 3153596

Format of ref document f/p: P

8339 Ceased/non-payment of the annual fee