KR102107111B1

KR102107111B1 - Lru 결합형 sru 시험 장치 및 방법

Info

Publication number: KR102107111B1
Application number: KR1020190115363A
Authority: KR
Inventors: 박상준
Original assignee: 한화시스템 주식회사
Priority date: 2019-09-19
Filing date: 2019-09-19
Publication date: 2020-05-06

Abstract

본 발명은, SRU들과 마더 보드를 다대일로 연결하고, SRU들이 송수신하는 실체 신호 중 내부 신호를 송출하는 SRU 시험 지그, 및 SRU 시험 지그와 연결되고, SRU 시험 지그를 통해 송출되는 내부 신호를 분석하는 본체를 포함하는 LRU 결합형 SRU 시험 장치와, 이에 적용되는 LRU 결합형 SRU 시험 방법으로서, LRU에 구비된 SRU들이 실제로 송수신하는 신호를 활용하여 SRU들의 정상 작동 여부를 시험할 수 있는 LRU 결합형 SRU 시험 장치 및 방법이 제시된다.

Description

LRU 결합형 SRU 시험 장치 및 방법{LRU COMBINED SRU TESTING APPARATUS AND METHOD}

본 발명은 LRU 결합형 SRU 시험 장치 및 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 LRU에 구비된 SRU들이 실제로 송수신하는 신호를 활용하여 SRU들의 정상 작동 여부를 시험할 수 있는 LRU 결합형 SRU 시험 장치 및 방법에 관한 것이다.

일반적으로 ATE(Automatic Test Equipment)로 LRU(Line Replaceable Unit)에 구비된 SRU(Shop Replaceable Unit)들의 정상 작동 여부를 시험할 때, LRU에서 SRU들을 분리하여 개별 시험치구에 장착하고, 개별 시험치구를 전자 회로 및 계측기와 연결시킨 후, 전자 회로에서 생성한 모의신호를 SRU들에 입력하고, SRU로부터 계측기로 출력되는 출력 신호를 분석하여, SRU들의 정상 작동 여부를 시험한다.

모의 신호는 SRU들이 필요로 하는 내부 신호를 모사한 모의 신호로서, SRU들이 LRU에 구비된 상태에서 작동 중에 실제로 주고받는 내부 신호에 모의 신호를 정확하게 일치시켜야 정확한 시험 결과를 얻을 수 있다.

하지만 내부 신호는 SRU들이 담당하는 기능에 따라 종류가 다양하고, 이처럼 다양한 종류의 내부 신호를 모두 모사하기 위해서는 많은 비용이 소요된다. 그리고 내부 신호들 중에 정밀한 모사가 기술적으로 불가능한 경우가 있다. 또한, 최근 개발되는 SRU들은 고속의 복잡한 내부 신호를 주로 사용한다. 이러한 내부 신호는 표준화된 신호가 아니고, 단거리 전달만 가능하며, 노이즈에 영향을 많이 받으므로, 모의 신호 생성 및 생성된 모의 신호의 입출력을 위한 전자 회로의 설계 및 구현이 어렵고, 이에 큰 비용이 소요된다.

따라서, 최근에는 ATE를 시용하여 SRU들의 정상 작동 여부를 시험하지 않고, LRU의 정상 작동 여부만을 시험하는 경우가 늘어나고 있다. 이에, LRU의 고장은 파악하기 쉬우나, LRU에 장착된 SRU들 중 어느 부분이 고장난 것인지는 식별해 내지 못하는 문제점이 있다.

본 발명의 배경이 되는 기술은 하기의 특허문헌에 게재되어 있다.

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10-1567364

B1

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10-0479136

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본 발명은 LRU에 구비된 SRU들이 실제로 송수신하는 신호를 활용하여 SRU들의 정상 작동 여부를 정확하게 시험할 수 있는 LRU 결합형 SRU 시험 장치 및 방법을 제공한다.

본 발명의 실시 형태에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 장치는, LRU에 구비된 SRU들과 상기 LRU의 마더 보드를 다대일로 연결하고, 상기 SRU들이 송수신하는 실체 신호 중 내부 신호를 송출하는 SRU 시험 지그; 및 상기 SRU 시험 지그와 연결되고, 상기 SRU 시험 지그를 통해 송출되는 내부 신호를 분석하는 본체;를 포함한다.

상기 마더 보드 및 상기 SRU들 중 어느 하나와 연결되고, 상기 실체 신호 중 외부 신호를 입출력할 수 있는 LRU 시험 지그;를 포함하고, 상기 본체는 상기 LRU 시험 지그와 연결되고, 상기 LRU 시험 지그를 통해 입출력되는 외부 신호를 생성 및 분석할 수 있다.

상기 LRU은 일측이 개구된 하우징 및 상기 하우징의 개구를 커버할 수 있는 커버를 구비하고, 상기 SRU들은 상기 하우징의 내부에 수용되고, 상기 SRU 시험 지그는 상기 개구를 커버하도록 장착되고, 일면에 상기 SRU들이 다대일로 접속되고, 상기 일면과 대향하는 타면에 상기 마더 보드가 접속되고, 상기 커버는 상기 마더 보드를 커버하도록 장착되며, 상기 하우징 및 상기 커버에 의해 상기 SRU들과 상기 SRU 시험 지그와 상기 마더 보드가 외부 환경으로부터 차폐될 수 있다.

상기 SRU 시험 지그는, 상기 개구를 커버할 수 있도록 형성되는 프레임; 상기 프레임의 일면에 구비되는 SRU 연결 커넥터; 상기 프레임의 일면과 대향하는 타면에 구비되는 마더 보드 연결 커넥터; 상기 프레임의 일면과 타면 사이의 측면에 구비되는 신호 송출 커넥터; 상기 프레임에 내장되고, 상기 SRU 연결 커넥터 및 상기 신호 송출 커넥터와 연결되는 스위칭 회로부; 상기 스위칭 회로부와 상기 신호 송출 커넥터 사이에 마련되는 증폭부;를 포함할 수 있다.

상기 스위칭 회로부는 상기 SRU들이 송수신하는 내부 신호 중 분석하고자 하는 신호를 상기 신호 송출 커넥터로 스위칭하고, 상기 증폭부는 스위칭된 내부 신호를 아날로그 신호로 변환할 수 있다.

본 발명의 다른 실시 형태에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 장치는, LRU에 구비된 SRU들 중 일 SRU를 상기 LRU의 마더 보드에 일대일로 연결시키고, 상기 일 SRU이 송수신하는 실체 신호 중 내부 신호를 송출하는 SRU 시험 지그; 상기 SRU 시험 지그와 연결되고, 상기 SRU 시험 지그를 통해 송출되는 내부 신호를 분석하는 본체;를 포함한다.

상기 마더 보드 및 상기 SRU들 중 어느 하나와 연결되고, 상기 SRU들이 송수신하는 실체 신호 중 외부 신호를 입출력할 수 있는 LRU 시험 지그;를 포함하고, 상기 본체는 상기 LRU 시험 지그와 연결되고, 상기 LRU 시험 지그를 통해 입출력되는 외부 신호를 생성 및 분석할 수 있다.

상기 LRU은 일측이 개구된 하우징을 구비하고, 상기 마더 보드는 상기 하우징의 내부에 수용되고, 상기 SRU들은 상기 마더 보드에 다대일로 접속되고, 상기 SRU들 중 상기 일 SRU와 상기 마더 보드 사이에 상기 SRU 시험 지그가 마련되고, 상기 일 SRU 및 상기 SRU 시험 지그는 상기 개구를 통하여 상기 하우징의 외부에 노출될 수 있다.

상기 SRU 시험 지그는, 상기 개구를 통해 상기 하우징의 내부에 삽입될 수 있도록 형성되는 프레임; 상기 프레임의 일면에 구비되는 SRU 연결 커넥터; 상기 프레임의 일면과 대향하는 타면에 구비되는 마더 보드 연결 커넥터; 상기 프레임의 일면과 타면 사이의 측면에 구비되는 신호 송출 커넥터; 상기 프레임에 내장되고, 상기 SRU 연결 커넥터 및 상기 신호 송출 커넥터와 연결되는 스위칭 회로부; 상기 스위칭 회로부와 상기 신호 송출 커넥터 사이에 마련되는 증폭부;를 포함할 수 있다.

상기 스위칭 회로부는 상기 일 SRU가 송수신하는 내부 신호를 상기 신호 송출 커넥터로 스위칭하고, 상기 증폭부는 스위칭된 내부 신호를 아날로그 신호로 변환할 수 있다.

상기 SRU 시험 지그는, 상기 신호 송출 커넥터와 이격되고, 상기 프레임을 상기 하우징의 외부로 인출시킬 수 있도록 상기 프레임의 측면에 형성되며 적어도 일부가 상기 하우징의 내면에 접촉될 수 있는 이젝터;를 포함할 수 있다.

상기 LRU는 상기 하우징의 외면에 장착되고, 상기 마더 보드를 통하여 상기 SRU들과 연결되는 신호 입출력 커넥터를 구비하고, 상기 LRU 시험 지그는 상기 신호 입출력 커넥터를 통하여 상기 마더 보드 및 상기 SRU들 중 어느 하나와 연결될 수 있다.

상기 신호 송출 커넥터는 상기 LRU 시험 지그에 접속되고, 상기 본체는 상기 LRU 시험 지그를 통해 상기 SRU 시험 지그와 연결될 수 있다.

상기 LRU 시험 지그는 외부 신호 출력부 및 외부 신호 입력부를 포함하고, 상기 본체는 외부 신호 생성부, 외부 신호 분석부, 아날로그 신호 입력부 및 아날로그 신호 분석부를 포함하고, 상기 아날로그 신호 입력부는 아날로그 신호로 변환되어 상기 SRU 시험 지그로부터 송출되는 내부 신호를 입력받아서 상기 아날로그 신호 분석부로 전달할 수 있다.

본 발명의 실시 형태에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 방법은, LRU에 구비된 SRU들의 정상 작동 여부를 시험할 수 있는 LRU 결합형 SRU 시험 방법으로서, SRU들을 구비하는 LRU에 외부 신호를 입력하고, 상기 LRU로부터 출력되는 외부 신호를 분석하여 LRU의 기능들에 대한 정상 작동 여부를 시험하는 과정; 상기 기능들 중 정상적으로 작동되지 않는 기능과 관련된 일 SRU의 주변 SRU로부터 출력되는 내부 신호를 스위칭하여 외부로 송출하는 과정; 외부로 송출된 내부 신호를 분석하여 상기 주변 SRU의 정상 작동 여부를 시험하는 과정;을 포함한다.

상기 내부 신호를 스위칭하여 외부로 송출하는 과정 이전에, 상기 LRU로 입력된 외부 신호 중 상기 정상적으로 작동되지 않는 기능에 대응하는 외부 신호를 검증하는 과정;을 포함할 수 있다.

본 발명의 다른 실시 형태에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 방법은, LRU에 구비된 SRU들의 정상 작동 여부를 시험할 수 있는 LRU 결합형 SRU 시험 방법으로서, SRU들을 구비하는 LRU에 정상 작동 여부를 시험하고자 하는 기능에 대응하는 외부 신호를 입력하고, 상기 LRU로부터 출력되는 외부 신호를 분석하여 상기 기능의 정상 작동 여부를 시험하는 과정; 상기 기능과 관련된 일 SRU의 주변 SRU로부터 출력되어 상기 일 SRU로 입력되는 내부 신호를 스위칭하여 외부로 송출하는 과정; 외부로 송출된 내부 신호를 분석하여 상기 주변 SRU의 정상 작동 여부를 시험하는 과정;을 포함한다.

상기 내부 신호를 스위칭하여 외부로 송출하는 과정 이전에, 상기 외부 신호를 검증하는 과정;을 포함할 수 있다.

상기 내부 신호를 스위칭하여 외부로 송출하는 과정은, 상기 내부 신호를 아날로그 신호로 변환하며 증폭시켜 송출하는 과정;을 포함할 수 있다.

상기 내부 신호는 상기 SRU들이 접속된 상기 LRU의 마더 보드를 통하여 상기 SRU들이 실제로 송수신하는 내부 신호일 수 있다.

본 발명의 실시 형태에 따르면, LRU의 마더 보드와 SRU의 사이에 SRU 시험용의 SRU 시험 지그를 결합한 후, LRU 결합형 SRU 시험 장치의 본체에 SRU 시험 지그를 연결시키고, SRU들이 실제로 송수신하는 신호를 SRU 시험 지그로부터 본체로 송출하고, 송출된 신호를 본체에서 분석하여 SRU들의 정상 작동 여부를 정확하게 시험할 수 있다.

이처럼 LRU에 구비된 SRU들이 실제로 송수신하는 신호를 활용하여 SRU들의 정상 작동 여부를 정확하게 시험할 수 있으므로, 개별 SRU의 고장 여부를 정확하게 알 수 있고, 올바른 시험 결과를 얻을 수 있다.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 SRU들이 구비된 LRU을 나타내는 도면이다.
도 2는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 SRU 시험 지그의 개략도이다.
도 3은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 SRU 시험 지그를 LRU의 마더 보드와 SRU에 결합하는 방식을 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 장치의 구성부들의 연결 관계를 보여주는 도면이다.
도 5는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 SRU 시험 지그의 스위칭 회로부 및 증폭부를 보여주는 도면이다.
도 6은 본 발명의 제2 실시 예에 따른 SRU 시험 지그의 개략도이다.
도 7은 본 발명의 제2 실시 예에 따른 SRU 시험 지그를 LRU의 마더 보드와 SRU의 사이에 결합한 모습을 보여주는 도면이다.
도 8은 본 발명의 실시 예들에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 방법의 플로우 차트이다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여, 본 발명의 실시 예를 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시 예에 한정되는 것이 아니고, 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이다. 단지 본 발명의 실시 예는 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 해당 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 본 발명의 실시 예를 설명하기 위하여 도면은 과장될 수 있고, 도면상의 동일한 부호는 동일한 요소를 지칭한다.

본 발명의 실시 예에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 장치 및 방법은 다양한 군용 임무 플랫폼에서 사용되는 각종 전자기기의 원활한 운용을 위한 자동시험장비(ATE)에 적용될 수 있다.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 SRU들이 구비된 LRU을 나타내는 도면이다. 도 1의 (a) 및 (b)는 본 발명의 실시 예에 따른 LRU의 분해도 및 블록도이다. 도 2의 (a) 및 (b)는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 SRU 시험 지그의 모습을 도시한 개략도이다.

도 3의 (a)는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 SRU 시험 지그를 LRU의 마더 보드와 SRU에 결합하는 방식을 설명하기 위한 도면이다. 또한, 도 3의 (b)는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 SRU 시험 지그가 결합된 LRU을 LRU 시험 지그 및 본체와 연결한 모습을 보여주는 개념도이다.

도 4는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 장치의 구성부들의 연결 관계를 보여주는 도면이다. 도 5는 본 발명의 제1 실시 예에 따른 SRU 시험 지그의 스위칭 회로부 및 증폭부를 보여주는 도면이다.

이하에서는 도 1 내지 도 5를 참조하여, 본 발명의 제1 실시 예에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 장치를 상세하게 설명한다.

본 발명의 제1 실시 예에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 장치는, LRU(10)를 해체하지 않고 LRU(10)에 SRU(15)들이 구비된 상태 그대로 SRU(15)들의 정상 작동 여부를 시험할 수 있다. 구체적으로 본 발명의 제1 실시 예에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 장치는 SRU(15)들을 마더 보드(14)에서 전기적으로 분리시키지 않고 SRU(15)들과 접속 가능한 SRU 시험 지그(100)를 이용하여, SRU(15)들을 마더 보드(14)에 연결시킨 상태로 SRU(15)들과 마더보드(14) 간에 사용하는 실체 신호를 SRU 시험 지그(100)와 연결된 본체(300)로 스위칭하고, 스위칭된 신호를 본체(300)에서 분석함으로써 SRU(15)들의 정상 작동 여부를 시험할 수 있다. 즉, LRU 결합형 SRU 시험 장치는 SRU(15)들이 마더 보드(14)에 접속된 상태 그대로 SRU(15)들을 시험하기 위하여 SRU(15)들에 접속 가능한 SRU 시험 지그(100) 및 이와 연결된 본체(300)를 포함한다. 아래에서 이를 더욱 상세하게 설명한다.

본 발명의 제1 실시 예에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 장치는, LRU(10)에 구비된 SRU(15)들과 LRU(10)의 마더 보드(14)를 다대일로 연결하고, SRU(15)들이 송수신하는 실체 신호 중 내부 신호를 송출하는 SRU 시험 지그(100), 마더 보드(14) 및 SRU(15)들 중 어느 하나와 연결되고, SRU(15)들이 송수신하는 실체 신호 중 외부 신호를 입출력할 수 있는 LRU 시험 지그(200), SRU 시험 지그(100) 및 LRU 시험 지그(200)와 연결되고, LRU 시험 지그(200)를 통해 입출력되는 외부 신호를 생성 및 분석하고, SRU 시험 지그(100)를 통해 송출되는 내부 신호를 분석하는 본체(300)를 포함할 수 있다.

LRU 결합형 SRU 시험 장치는 시험하고자 하는 SRU(15)들을 LRU(10)에서 분리하여 SRU 시험 지그(100)에 장착시키는 대신, 시험하고자 하는 SRU(15)들이 구비된 LRU(10)에 SRU 시험 지그(100)를 결합시킨 후, LRU(10)에 구비된 SRU(15)들이 실제로 송수신하는 자체 신호를 활용하여 SRU(15)들의 정상 작동 여부를 정확하게 시험할 수 있다.

LRU(10)은 하나 이상의 SRU(15)을 구비할 수 있고, 각종 임무 플랫폼에 구비되어 탈거 및 교체가 가능하며, 하나 이상의 기능을 수행할 수 있는 전자기기일 수 있다. LRU(10)을 시험대상품(Unit Under Test, UUT)이라고 지칭할 수도 있다.

LRU(10)은, 적어도 일측이 개구된 하우징(11), 하우징(11)의 개구를 커버할 수 있도록 형성되는 적어도 하나의 커버, 하우징(11)의 내부에 수용될 수 있는 마더 보드(14), 하우징(11)의 내부에 수용될 수 있고, 마더 보드(14)에 접속될 수 있는 적어도 하나 이상의 SRU(15), 및 하우징(11)의 외면에 장착되고, 마더 보드(14)를 통하여 SRU(15)들과 연결되는 신호 입출력 커넥터(16)를 포함할 수 있다.

하우징(11)은 내부에 마더 보드(14) 및 SRU(15)들이 수용될 수 있는 소정의 내부 공간을 가질 수 있다. 하우징(11)은 상부 및 하부가 개방된 중공형의 사각 박스 형상일 수 있다. 물론, 하우징(11)의 형상은 다양할 수 있다. 한편, 하우징(11)의 소정 위치에 하우징(11)의 내부 공간을 냉각시킬 수 있도록 냉각 수단이 형성될 수 있다. 냉각 수단의 종류는 다양할 수 있고, 예컨대 냉각유로 및 방열핀 등이 냉각 수단으로 사용될 수 있다.

하우징(11)의 내부 공간을 외부로부터 차폐시킬 수 있도록, 하우징(11)은 하부 개구에 하부커버(12)가 장착될 수 있고, 상부 개구에 상부커버(13)가 장착될 수 있다. 하부커버(12) 및 상부커버(13)는 하부 개구 및 상부 개구의 면적과 부합하는 사각 판 형상일 수 있다. 물론, 하부커버(12) 및 상부커버(13)의 형상은 다양할 수 있다.

하우징(11), 하부커버(12) 및 상부커버(13)는 전자기파의 차폐가 가능하도록 전기 전도성 재질 혹은 도체 재질을 포함할 수 있고, 소정 두께로 형성될 수 있다.

마더 보드(14)는 사각 판 형상일 수 있고, 하부커버(12)의 상면에 안착될 수 있고, 하우징(11)의 내부 공간에 수용될 수 있다. 마더 보드(14)에는 SRU(15)들 예컨대 회로카드들을 안정적으로 구동시킬 수 있고, SRU(15)들의 데이터 입출력 교환이 원활할 수 있도록 하는 각종 회로 및 전기전자 부품이 실장될 수 있다. 마더 보드(14)는 상면에 SRU 연결 커넥터(14a)가 구비될 수 있다. SRU 연결 커넥터(14a)는 복수개 구비되며, 마더 보드(14)의 상면을 따라 나열될 수 있다.

SRU(15)들은 하우징(11)의 내부에 수용되고, 마더 보드(14)에 접속될 수 있다. 구체적으로 SRU(15)들은 하부에 마더 보드 연결 커넥터(15a)를 구비하고, 마더 보드 연결 커넥터(15a)가 SRU 연결 커넥터(14a)에 삽입될 수 있다. 마더 보드 연결 커넥터(15a) 및 SRU 연결 커넥터(14a)를 통하여 SRU(15)와 마더 보드(14)가 전기적으로 연결될 수 있다. 마더 보드(14)를 통하여 SRU(15)들이 신호를 송수신할 수 있다. SRU(15)들은 예컨대 LRU(10)의 각종 기능을 수행할 수 있도록 마련되는 회로카드들일 수 있다.

SRU(15)들은 내부에 신호 처리부(15b) 및 내부 신호 입출력부(15c)가 내장될 수 있다. SRU(15)들은 내부 신호 입출력부(15c)를 통하여 내부 신호를 송수신할 수 있고, 신호 처리부(15b)를 이용하여 입력된 내부 신호를 처리할 수 있고, 출력하고자 하는 내부 신호를 생성할 수 있다.

SRU(15)들 중 적어도 하나는 외부 신호 입출력부(15d)를 구비할 수 있다. 외부 신호 입출력부(15d)는 LRU(10)의 기능 구현을 위해 SRU(15)들이 서로 간에 주고받는 내부 신호 중 원하는 신호를 외부 신호로 변환시키고, 마더 보드(14) 및 신호 입출력 커넥터(16)를 통하여 외부의 시스템 혹은 장치로 출력할 수 있다.

또한, 외부 신호 입출력부(15d)는 마더 보드(14) 및 신호 입출력 커넥터(16)를 통해, 외부의 시스템 혹은 장치로부터 외부 신호를 입력받을 수 있다. 입력받은 외부 신호는 내부 신호로 변환되고, 신호 처리부(15b) 및 내부 신호 입출력부(15c)를 거쳐, 관련 기능을 수행하는 SRU(15)들에 출력될 수 있다.

한편, 외부 신호 입출력부(15d)는 마더 보드(14)에 구비될 수도 있다.

LRU(10)가 원하는 기능을 수행하는 동안, SRU(15)들이 실제로 입출력하는 각종 신호를 실체 신호라고 지칭한다. 이러한 실체 신호는 내부 신호 및 외부 신호를 포함할 수 있다.

내부 신호는 SRU(15)들이 마더 보드(14)를 통해 서로 주고받는 신호로서, 표준 신호 규격을 벗어난 비표준 신호들의 집합체일 수 있다. 내부 신호는 속도가 빠르고 단거리 신호 전달에 유리할 수 있다.

외부 신호는 SRU(15)들 중 적어도 하나 이상이 마더 보드(14)를 통하여 외부의 시스템 혹은 장치와 서로 주고받는 신호로서, 예컨대 미리 설정된 소정의 통신 인터페이스 규격을 준수하도록 표준화된 각종 표준 신호들을 포함할 수 있다. 외부 신호는 신호의 속도가 상대적으로 느리나, 장거리 신호 전달이 가능하고, 노이즈에 강할 수 있다.

SRU 시험 지그(100)는 하우징(11)의 하부 개구를 커버하도록 장착되고, 일면에 SRU(15)들이 다대일로 접속되고, 일면과 대향하는 타면에 마더 보드(14)가 접속될 수 있다. SRU 시험 지그(100)는 SRU(15)들이 서로 간에 송수신하는 내부 신호를 스위칭하여 외부로 송출하는 역할을 한다.

SRU 시험 지그는(100)는, 프레임(110), SRU 연결 커넥터(120), 마더 보드 연결 커넥터(130), 신호 송출 커넥터(140), 스위칭 회로부(160) 및 증폭부(170)을 포함할 수 있다.

프레임(110)은 SRU 시험 지그는(100)의 본체로서, 하우징(11)의 하부 개구를 커버할 수 있도록 형성될 수 있다. 프레임(110)은 하우징(11)의 하부 개구의 면적과 부합하는 사각 판 형상일 수 있으며, 소정의 두께를 가질 수 있다.

하우징(11)의 하부 개구에서 하부커버(12)를 탈착시킨 후, 마더 보드(14)를 SRU(15)들로부터 분리시키고, 하우징(11)의 하부 개구를 커버하도록 프레임(110)을 장착하고, 프레임(110)의 일면에 구비된 SRU 연결 커넥터(120)들에 SRU(15)들을 삽입할 수 있다. 이때, 마더 보드(14)는 프레임(110)의 타면에 구비된 마더 보드 연결 커넥터(130)에 접속될 수 있고, 하부커버(12)가 마더 보드(14)의 하면을 커버하도록 장착될 수 있다. 한편, 상부커버(13)는 하우징(11)의 상부 개구를 커버하도록 장착될 수 있다. 하우징(11), 상부커버(13) 및 하부커버(12)에 의하여 SRU(15)들과 SRU 시험 지그(100)와 마더 보드(14)가 외부 환경으로부터 차폐될 수 있다.

SRU 연결 커넥터(120)는 프레임(110)의 일면 예컨대 상면에 구비될 수 있다. SRU 연결 커넥터(120)는 복수개 구비되며 프레임(110)의 일면을 따라 나열될 수 있다. SRU 연결 커넥터(120)에 SRU(15)들의 마더 보드 연결 커넥터(15a)가 삽입될 수 있다.

마더 보드 연결 커넥터(130)는 프레임(110)의 일면과 대향하는 타면 예컨대 하면에 구비될 수 있다. 마더 보드 연결 커넥터(130)는 복수개 구비될 수 있고, 프레임(110)의 타면을 따라 나열될 수 있다. 마더 보드 연결 커넥터(130)에 마더 보드(14)의 SRU 연결 커넥터(14a)가 삽입될 수 있다.

신호 송출 커넥터(140)는 프레임(110)의 일면과 타면 사이의 측면에 구비될 수 있다. 신호 송출 커넥터(140)는 하우징(11)의 외부로 노출될 수 있다.

스위칭 회로부(160)는 프레임(110)에 내장되고, SRU 연결 커넥터(120), 마더 보드 연결 커넥터(130) 및 신호 송출 커넥터(140)와 연결될 수 있다. 이때, 스위칭 회로부(160)는 마더 보드(14)를 통하여 송수신되는 내부 신호의 회선별로 독립적으로 구비되며, SRU(15)들이 송수신하는 내부 신호 중 분석하고자 하는 신호를 신호 송출 커넥터(140)로 스위칭할 수 있다.

스위칭 회로부(160)는 SPDT(Single Pole Double Through) 접점과 같은 기계식 릴레이에서부터 아날로그 스위치 및 신호별 전용 스위칭 IC 등 다양한 전기전자 부품으로 구현될 수 있다. 예컨대 스위칭 회로부(160)는 스위칭하고자 하는 신호가 출력되는 SRU(15)쪽에 공통 단자를 연결하고, 공통 단자의 반대편 즉, 신호를 입력하고자 하는 SRU(15)쪽에 외부 단자 및 내부 단자를 마련하여, 공통 단자로 입력되는 신호를 외부 및 내부로 스위칭할 수 있도록 형성될 수 있다. 공통 단자들은 SRU 연결 커넥터(120)와 연결될 수 있고, 외부 단자들은 신호 송출 커넥터(140)와 연결될 수 있고, 내부 단자들은 마더 보드 연결 커넥터(130)와 연결될 수 있다. 스위칭 회로부(160)는 내부 신호의 스위칭에 따른 경로 증가를 최소화시킬 수 있다.

스위칭 회로부(160)를 이용하여 의심되는 특정 내부 신호를 외부로 스위칭할 수 있고, 스위칭된 신호를 본체(300)가 분석하여 해당 신호를 출력한 SRU(15)이 정상 작동하는지를 확인할 수 있다.

증폭부(170)는 스위칭 회로부(160)와 신호 송출 커넥터(140) 사이에 마련될 수 있다. 증폭부(170)는 스위칭 회로부(160)에서 스위칭된 내부 신호를 아날로그 신호로 변환하며 증폭시킬 수 있다. 구체적으로 증폭부(170)는 스위칭된 내부 신호를 해당 신호 특성에 따라서 증폭 혹은 감쇄하여 본체(300)의 아날로그 신호 입력부(330)에 맞는 전압 레벨로 변화시킬 수 있다.

LRU 시험 지그(200)는 외부 신호를 전송할 수 있는 시험 케이블을 통해 신호 입출력 커넥터(16)와 연결될 수 있다. 또한, LRU 시험 지그(200)는 신호 입출력 커넥터(16)를 통하여 마더 보드(14) 및 SRU(15)들 중 어느 하나와 연결될 수 있다.

LRU 시험 지그(200)는 아날로그 신호로 변환된 내부 신호를 전송할 수 있는 시험 케이블을 통해 신호 송출 커넥터(140)와 연결될 수 있다. 또한, LRU 시험 지그(200)는 신호 송출 커넥터(140)를 통하여 스위칭 회로부(160)와 연결될 수 있다.

LRU 시험 지그(200)는 외부 신호 출력부(210) 및 외부 신호 입력부(220)를 포함할 수 있다. 외부 신호 출력부(210)는 본체(300)로부터 출력된 외부 신호를 신호 입출력 커넥터(16) 및 마더 보드(14)를 통하여 SRU(15)들 중 적어도 어느 하나에 공급할 수 있다. 외부 신호 입력부(220)는 SRU(15)들 중 적어도 어느 하나로부터 출력되는 외부 신호를 입력받아서 본체(300)로 전달할 수 있다.

본체(300)는 LRU 시험 지그(200)와 연결될 수 있다. 또한, 본체(300)는 LRU 시험 지그(200)를 통해 SRU 시험 지그(100)와 연결될 수 있다. 본체(300)는 외부 신호 생성부(310), 외부 신호 분석부(320), 아날로그 신호 입력부(330), 아날로그 신호 분석부(340) 및 스위치 제어부(350)를 포함할 수 있다,

외부 신호 생성부(310)는 시험하고자 하는 LRU(10)의 기능에 맞게 외부 신호를 생성하여 출력할 수 있다. 외부 신호 생성부(310)는 LRU 시험 지그(200)의 외부 신호 출력부(210)와 연결될 수 있다. 외부 신호 분석부(320)는 SRU(15)들 중 적어도 어느 하나로부터 출력되는 외부 신호를 입력받아서 분석함으로써 시험하고자 하는 LRU(10)의 기능이 정상 작동하는지를 시험할 수 있다. 외부 신호 분석부(320)는 LRU 시험 지그(200)의 외부 신호 입력부(220)와 연결될 수 있다. 아날로그 신호 입력부(330)는 LRU 시험 지그(200)를 통하여 SRU 시험 지그(100)의 증폭부(170)와 연결될 수 있다. 아날로그 신호 입력부(330)는 아날로그 신호로 변환되어 SRU 시험 지그(100)로부터 송출되는 내부 신호를 입력받아 아날로그 신호 분석부(340)로 전달할 수 있다. 아날로그 신호 분석부(340)는 입력받은 아날로그 신호를 분석함으로써 시험하고자 하는 LRU(10)의 기능과 관련된 SRU(15)과 그 주변 SRU(15)들의 기능이 정상 작동하는지를 시험할 수 있다. 스위치 제어부(350)는 SRU(15)들 중 시험하고자 하는 SRU(15)에서 출력된 내부 신호를 스위칭하도록 스위칭 회로부(160)의 작동을 제어할 수 있다.

상술한 바와 같이, 본 발명의 제1 실시 예에 따르면, SRU 시험 지그(100)가 LRU(10)에 결합되어 내부 신호를 직접적으로 활용함과 동시에, 분석이 필요한 내부 신호를 외부로 스위칭하여 해당 신호와 관련된 SRU(15)의 고장 여부를 정확하게 확인할 수 있다.

따라서, 모사가 어려운 내부 신호의 모사를 위한 별도의 모의신호 발생 장치와 노이즈에 약한 내부 신호를 SRU(15)들에 입력시키기 위한 내부 신호 입출력부를 본체(300) 내에 구성하지 않아도 되므로 신호가 이동하는 경로를 최소화시킬 수 있고, 본체(300)의 구성을 간단하게 할 수 있다.

즉, 모의신호 발생 장치 대신에 아날로그 신호 입력부(330)와 아날로그 신호 분석부(340)를 본체(300)가 구비하여 본체(300)의 구성을 간단하게 할 수 있다. 이때, 아날로그 신호 입력부(330)와 아날로그 신호 분석부(340)는 상용의 아날로그 신호 입출력 장치를 사용할 수 있다.

또한, SRU 시험 지그(100)가 LRU(10)에 결합되기 때문에, SRU(15)들이 하우징(11)의 내부에서 보호될 수 있으므로, 하우징(11)이 가진 냉각 성능을 충분히 발휘할 수 있고, 시험 중에 SRU(15)들 및 마더 보드(14)의 냉각 및 외부 전자기파 차폐가 가능하여 올바른 시험 결과를 얻을 수 있다.

이하, 본 발명의 제1 실시 예에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 장치를 LRU(10)에 결합하는 방식을 설명한다. 우선, 하부커버(12)와 마더 보드(14)를 하우징(11)으로부터 분리시키고, SRU 시험 지그(100)로 하우징(11)의 하부 개구를 커버하면서 SRU 연결 커넥터(120)들을 하우징(11) 내부의 SRU(15)들에 접속시킨다. 이때, SRU 시험 지그(100)의 프레임(110)이 하우징(11)의 하부 개구를 완전히 덮도록 결합됨으로써 하우징(11)의 냉각 및 전자기파 차폐 성능을 유지할 수 있다. 이후, SRU 시험 지그(100)의 마더 보드 연결 커넥터(130)에 마더 보드(14)의 SRU 연결 커넥터(14a)들을 결합하고, 마더 보드(14)의 하면에 하부커버(12)를 부착한다. 이후, LRU 시험 지그(200)에 신호 입출력 커넥터(16)와 신호 송출 커넥터(140)를 연결시킨 후, LRU 시험 지그(200)와 본체(300)를 연결시킨다.

도 1 내지 도 5를 참조하여 본 발명의 제1 실시 예를 설명하였으나 본 발명은 하기의 제2 실시 예를 포함하여 다양한 형식으로 구성될 수 있다.

도 6은 본 발명의 제2 실시 예에 따른 SRU 시험 지그의 개략도이다. 도 7은 본 발명의 제2 실시 예에 따른 SRU 시험 지그를 LRU의 마더 보드와 SRU의 사이에 결합한 모습을 보여주는 도면이다. 여기서, 도 7의 (a)는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 SRU 시험 지그를 LRU의 마더 보드와 SRU에 결합하는 방식을 설명하기 위한 도면이고, 도 7의 (b)는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 SRU 시험 지그가 결합된 LRU을 LRU 시험 지그 및 본체와 연결한 모습을 보여주는 개념도이다.

이하, 본 발명의 제2 실시 예에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 장치를 설명한다.

이하에서 설명하고자 하는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 장치는 상술한 본 발명의 제1 실시 예의 LRU 결합형 SRU 시험 장치와 구성이 유사하므로, 중복되는 내용은 그 설명을 간략하게 하거나 생략하고, 차이점이 있는 내용을 중심으로 하여 상세하게 설명하기로 한다.

본 발명의 제2 실시 예에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 장치는, 시험하고자 하는 SRU(15)들을 LRU(10)로부터 분리하지 않고 LRU(10)에 구비된 SRU(15)들의 정상 작동 여부를 시험할 수 있다. 본 발명의 제2 실시 예에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 장치는 시험하고자 하는 LRU(10)가 냉각 및 전자기파 간섭에 영향이 없을 때 적용될 수 있다. 본 발명의 제2 실시 예에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 장치는 LRU(10)와의 결합이 제1 실시 예보다 간단하므로, 시험의 편의성을 향상시킬 수 있다.

본 발명의 제2 실시 예에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 장치는, LRU(10)에 구비된 SRU(15)들 중 일 SRU(15')를 LRU(10)의 마더 보드(14)에 일대일로 연결시키고, 일 SRU(15')이 송수신하는 실체 신호 중 내부 신호를 송출하는 SRU 시험 지그(100) 및 SRU 시험 지그(100)와 연결되고, SRU 시험 지그(100)를 통해 송출되는 내부 신호를 분석하는 본체(300)를 포함한다.

또한, LRU 결합형 SRU 시험 장치는, 마더 보드(14) 및 SRU(15)들 중 어느 하나와 연결되고, SRU(15)들이 송수신하는 실체 신호 중 외부 신호를 입출력할 수 있는 LRU 시험 지그(200)를 포함할 수 있다. 이때, 본체(300)는 LRU 시험 지그(200)와 연결되고, LRU 시험 지그(200)를 통해 입출력되는 외부 신호를 생성 및 분석할 수 있다.

LRU(10)은 일측 및 타측이 개구된 하우징(11)을 구비할 수 있다. 하우징(11)의 일측 개구 예컨대 상부 개구에는 상부커버가 장착되고, 하우징(11)의 타측 개구 예컨대 하부 개구에는 하부커버(12)가 장착될 수 있다. 한편, LRU 결합형 SRU 시험 장치와 LRU(10)을 결합시킨 상태에서는 상부커버가 하우징(11)으로부터 분리될 수 있고, 상부 개구를 상하로 가로지르도록 SRU 시험 지그(100)가 배치될 수 있다.

마더 보드(14)는 하우징(11)의 내부에 수용되고, 하부커버(12)에 의해 보호될 수 있다. 마더 보드(14)는 신호 입출력 커넥터(16)와 전기적으로 연결될 수 있다. SRU(15)들은 마더 보드(14)에 다대일로 접속될 수 있다. SRU(15)들 중 시험하고자 하는 일 SRU(15')와 마더 보드(14)를 연결시키도록 이들 사이에 SRU 시험 지그(100)가 마련되며, 일 SRU(15') 및 SRU 시험 지그(100)는 상부 개구를 통하여 하우징(11)의 외부에 노출될 수 있다. 신호 입출력 커넥터(16)는 하우징(11)의 외면에 장착되고, 마더 보드(140)를 통하여 SRU(15)들과 연결될 수 있다.

SRU 시험 지그(100)는 시험하고자 하는 일 SRU(15')를 마더 보드(14)에 일대일로 연결시키고, 일 SRU(15')이 송수신하는 실체 신호 중 내부 신호를 송출할 수 있다. SRU 시험 지그(100)는, 상부 개구를 통해 하우징(11)의 내부에 삽입될 수 있도록 형성되는 프레임(110), 프레임(110)의 일면 예컨대 상면에 구비되는 SRU 연결 커넥터(120), 프레임(110)의 일면과 대향하는 타면 예컨대 하면에 구비된 마더 보드 연결 커넥터(130), 프레임(110)의 일면과 타면 사이의 측면에 구비되는 신호 송출 커넥터(140), 프레임(110)에 내장되고, SRU 연결 커넥터(120), 마더 보드 연결 커넥터(130) 및 신호 송출 커넥터(140)와 연결되는 스위칭 회로부, 및 스위칭 회로부와 신호 송출 커넥터(140) 사이에 마련되는 증폭부를 포함할 수 있다. 스위칭 회로부는 일 SRU(15')가 송수신하는 내부 신호를 신호 송출 커넥터(140)로 스위칭하고, 증폭부는 스위칭된 내부 신호를 아날로그 신호로 변환할 수 있다.

SRU 시험 지그(100)는 신호 송출 커넥터(140)와 이격되고, 프레임(110)을 하우징(11)의 외부로 인출시킬 수 있도록 프레임(110)의 측면에 형성된 이젝터(150)를 포함할 수 있다. 이젝터(150)는 레버 형상일 수 있고, 회전축(150a)에 지지될 수 있으며, 적어도 일부가 하우징(11)의 내면에 접촉될 수 있다. 이젝터(150)는 회전축(150a)을 중심으로 회전하며, 적어도 일부가 하우징(11)의 내면에 접촉됨으로써, 회전축(150a) 및 이와 연결된 프레임(110)을 상측으로 인출할 수 있다.

LRU 시험 지그(200)는 신호 입출력 커넥터(16)에 연결될 수 있고, 이를 통하여 마더 보드(14) 및 SRU(15)들 중 적어도 어느 하나와 연결될 수 있다. LRU 시험 지그(200)는 SRU(15)들이 송수신하는 실체 신호 중 외부 신호를 입출력할 수 있다. 또한, LRU 시험 지그(200)는 신호 송출 커넥터(140)에 접속될 수 있고, 신호 송출 커넥터(140)로부터 출력되는 아날로그 신호를 입력받을 수 있다.

LRU 시험 지그(200)는 외부 신호 출력부 및 외부 신호 입력부를 포함할 수 있다. 외부 신호 출력부 및 외부 신호 입력부는 신호 입출력 커넥터(16)를 통해 마더 보드(14) 및 SRU(15)들 중 적어도 어느 하나와 연결될 수 있다.

본체(300)는 LRU 시험 지그(200)와 연결될 수 있다. 또한, 본체(300)는 LRU 시험 지그(200)를 통해 SRU 시험 지그(100)와 연결될 수 있다. 본체(300)는 외부 신호 생성부, 외부 신호 분석부, 아날로그 신호 입력부, 아날로그 신호 분석부 및 스위치 제어부를 포함할 수 있다. 외부 신호 생성부는 LRU 시험 지그(200)의 외부 신호 출력부와 연결될 수 있다. 외부 신호 분석부는 LRU 시험 지그(200)의 외부 신호 입력부와 연결될 수 있다. 아날로그 신호 입력부는 LRU 시험 지그(200)를 통하여 SRU 시험 지그(100)의 신호 송출 커넥터(140)와 연결될 수 있다. 아날로그 신호 입력부는 아날로그 신호로 변환되어 SRU 시험 지그(100)로부터 송출되는 내부 신호를 입력받아서 아날로그 신호 분석부로 전달하고, 아날로그 신호 분석부는 입력받은 신호를 분석할 수 있다. 스위치 제어부는 상술한 스위칭 회로부의 작동을 제어할 수 있다.

도 8은 본 발명의 실시 예들에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 방법의 플로우 차트이다.

이하, 본 발명의 제1 실시 예에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 장치에 적용되는 LRU 결합형 SRU 시험 방법을 설명한다.

이때, 이하에서 LRU 결합형 SRU 시험 방법을 설명함에 있어, 상술한 본 발명의 제1 실시 예에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 장치의 설명과 중복되는 내용은 그 설명을 간략하게 하거나 생략하기로 한다.

본 발명의 제1 실시 예에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 방법은, LRU(10)에 구비된 SRU(15)들의 정상 작동 여부를 시험할 수 있는 LRU 결합형 SRU 시험 방법으로서, SRU(15)들을 구비하는 LRU(10)에 외부 신호를 입력하고, LRU(10)로부터 출력되는 외부 신호를 분석하여 LRU(10)의 기능들에 대한 정상 작동 여부를 시험하는 과정, 시험한 기능들 중 정상적으로 작동되지 않는 기능과 관련된 일 SRU의 주변 SRU로부터 출력되는 내부 신호를 스위칭하여 외부로 송출하는 과정, 외부로 송출된 내부 신호를 분석하여 주변 SRU의 정상 작동 여부를 시험하는 과정을 포함한다.

이때, 내부 신호를 스위칭하여 외부로 송출하는 과정 이전에, LRU(10)로 입력된 외부 신호 중 정상적으로 작동되지 않는 기능에 대응하는 외부 신호를 검증하는 과정을 포함할 수 있다. 한편, 상술한 내부 신호는 SRU(15)들이 접속된 LRU(10)의 마더 보드(14)를 통해 SRU(15)들이 실제로 송수신하는 내부 신호일 수 있다.

먼저, 본 발명의 제1 실시 예에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 장치를 LRU(10)에 결합시킨다. 이후, 본체(300)에서 외부 신호를 생성하고, LRU 시험 치구(200)를 통하여 LRU(10)에 외부 신호를 입력한다(S110).

외부 신호는 시험하고자 하는 LRU(10)의 기능을 구현하기 위하여 LRU(10)이 필요로 하는 신호일 수 있다. 시험하고자 하는 LRU(10)의 기능의 개수는 하나 이상이고, 외부 신호의 종류도 하나 이상일 수 있다. 또한, 시험하고자 하는 LRU(10)의 기능들은 SRU(15)들에 일대일, 일대다 혹은 다대일로 매칭될 수 있다.

LRU(10)에 외부 신호를 입력하면, LRU(10)로부터 외부 신호가 출력될 수 있다. 출력된 외부 신호는 LRU 시험 치구(200)를 통하여 본체(300)의 외부 신호 분석부(320)로 입력될 수 있다. 외부 신호 분석부(320)는 외부 신호를 분석하여 시험하고자 하는 기능의 정상 여부 및 해당 기능과 관련된 일 SRU의 정상 작동 여부를 시험할 수 있다(S120).

시험 결과가 정상으로 나오면, 다음 기능에 대한 시험을 시작한다. 전체기능시험이 완료되면 시험을 종료한다. 시험 결과가 비정상으로 나오면, 불량기능 관련 외부 신호를 선택하고(S210), 선택된 외부 신호가 정상인지를 검증한다(S220). 즉, LRU(10)로 입력된 외부 신호가 정상인지 검증한다. 이때, 외부 신호 출력부(210)와 외부 신호 입력부(220)를 연결시키고, 외부 신호 생성부(310)에서 생성된 외부 신호를 외부 신호 분석부(320)로 전달한 후, 검증을 수행할 수 있다.

외부 신호가 정상이 아닌 것으로 판단되면, LRU(10) 및 LRU 결합형 SRU 시험 장치의 연결 상태와, LRU 결합형 SRU 시험 장치의 작동 상태를 검사하고(S230), 외부 신호가 정상적으로 출력 되도록 LRU 결합형 SRU 시험 장치를 조정한다(S240).

외부 신호가 정상인 것으로 판단되면, 불량기능 관련 일 SRU에서 출력되는 내부 신호를 스위칭하여 아날로그 신호의 형태로 변환 및 증폭시켜 본체(300)로 송출한다. 이때, 아날로그 신호 입력부(330)에 알맞는 신호규격으로 변환될 수 있다. 이후, 아날로그 신호 분석부(340)를 이용하여, 송출된 내부 신호를 분석한다.

분석 결과 내부 신호가 정상이면 SRU(15)들에 구비된 외부 신호 입출력부(15d)가 불량인 것으로 판단할 수 있다. 분석 결과 내부 신호가 비정상이면 불량기능 관련 일 SRU가 불량인 것으로 판단할 수 있다.

이후, 스위칭 회로부(160), 증폭부(170) 및 신호 송출 커넥터(140)를 이용하여, 불량기능과 관련된 일 SRU의 주변 SRU로부터 출력되는 내부 신호를 스위칭하여 아날로그 신호의 형태로 변환 및 증폭시켜 외부로 송출한다(S310). 이후, 아날로그 신호의 형태로 외부로 송출된 내부 신호를 본체(300)의 아날로그 신호 분석부(340)에서 분석하여 주변 SRU의 정상 작동 여부를 시험한다. 내부 신호가 정상이면 주변 SRU를 정상으로 판단하고, 일 SRU를 고장으로 판단한다(S330). 반면, 내부 신호가 비정상이면 해당 신호와 관련된 주변 SRU를 고장으로 판단한다(S340).

이하, 본 발명의 제2 실시 예에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 장치에 적용되는 LRU 결합형 SRU 시험 방법을 설명한다.

이하에서 설명하고자 하는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 방법은 상술한 본 발명의 제1 실시 예의 LRU 결합형 SRU 시험 방법과 구성이 유사하므로, 중복되는 내용은 그 설명을 간략하게 하거나 생략하고, 차이점이 있는 내용을 상세하게 설명하기로 한다.

본 발명의 제2 실시 예에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 방법은, LRU에 구비된 SRU들의 정상 작동 여부를 시험할 수 있는 LRU 결합형 SRU 시험 방법으로서, SRU들을 구비하는 LRU에 정상 작동 여부를 시험하고자 하는 기능에 대응하는 외부 신호를 입력하고, LRU로부터 출력되는 외부 신호를 분석하여 해당 기능의 정상 작동 여부를 시험하는 과정, 해당 기능과 관련된 일 SRU의 주변 SRU로부터 출력되어 일 SRU로 입력되는 내부 신호를 스위칭하여 외부로 송출하는 과정, 외부로 송출된 내부 신호를 분석하여 주변 SRU의 정상 작동 여부를 시험하는 과정을 포함한다.

이때, 일 SRU로부터 출력되는 내부 신호를 스위칭하여 외부로 송출하는 과정 이전에, 외부 신호를 검증하는 과정을 포함할 수 있다. 한편, 내부 신호는 SRU(15)들이 접속된 LRU(10)의 마더 보드(14)를 통하여 SRU(15)들이 실제로 송수신하는 내부 신호일 수 있다.

우선, 정상 작동 여부를 시험하고자 하는 기능에 대응하는 일 SRU(15')와 마더 보드(14)를 SRU 시험 지그(100)로 연결시키고, SRU 시험 지그(100) 및 LRU(10)를 LRU 시험 지그(200)에 연결시키고, LRU 시험 지그(200)를 본체(300)에 연결시킨다. 이후, 시험하고자 하는 기능에 대응하는 외부 신호를 본체(300)에서 생성하여 LRU 시험 지그(200)로 출력하고, LRU(10)의 신호 입출력 커넥터(16)를 통하여 마더 보드(14) 및 SRU(15)들에 입력시킨다. 외부 신호의 입력에 의해 LRU(10)로부터 출력되는 외부 신호를 LRU 시험 지그(200)로 입력받아 본체(300)의 외부 신호 분석부로 전달하고, 이를 분석하여 해당 기능의 정상 작동 여부를 시험한다. 기능이 정상이면 시험을 종료한다. 기능이 비정상이면 본체(300)에서 생성된 외부 신호가 정상인지 검증한다.

외부 신호가 정상이 아닌 것으로 판단되면, LRU(10) 및 LRU 결합형 SRU 시험 장치의 연결 상태와, LRU 결합형 SRU 시험 장치의 작동 상태를 검사하고, 외부 신호가 정상적으로 출력 되도록 LRU 결합형 SRU 시험 장치의 설정을 조정한다.

외부 신호가 정상인 것으로 판단되면, 일 SRU에서 출력되는 내부 신호를 스위칭하여 아날로그 신호의 형태로 변환 및 증폭시켜 본체(300)로 송출한다. 이후, 아날로그 신호 분석부(340)를 이용하여, 송출된 내부 신호를 분석한다.

이후, 스위칭 회로부, 증폭부 및 신호 송출 커넥터(140)를 이용하여, 해당 기능과 관련된 일 SRU의 주변 SRU로부터 출력되어 일 SRU로 입력되는 내부 신호를 스위칭하여 외부 예컨대 본체(300)로 송출한다. 이때, 내부 신호를 아날로그 신호로 변환하며 증폭시켜 송출한다. 그리고 본체(300)의 아날로그 신호 분석부(340)를 이용하여, 내부 신호를 분석하여 주변 SRU의 정상 작동 여부를 시험한다.

내부 신호가 정상이면 주변 SRU를 정상으로 판단하고, 일 SRU를 고장으로 판단한다. 반면, 내부 신호가 비정상이면 해당 신호와 관련된 주변 SRU를 고장으로 판단한다.

상술한 바에 따르면, 본 발명의 실시 예들은 SRU 시험 치구(100)를 LRU(10)에 장착시킴으로써, LRU(10)에서 사용되는 실체 신호를 활용하여 SRU(15)들의 작동을 시험할 수 있으므로, 시험 정확도를 향상시키고, 시험 비용을 절감할 수 있다.

예컨대 SRU(15)들이 LRU(10)에 구비된 상태로 실제로 주고 받는 내부 신호는 고속으로 송수신되며, 외부 요인에 민감한 신호이기 때문에, 이를 모사하기 위해서는 고도의 기술이 필요하다. 또한, 내부 신호를 모사하더라도 LRU(10)의 외부에서 SRU(15)들로 모사된 내부 신호를 입력하는 경우, 전송 거리가 늘어나기 때문에, 노이즈가 발생하게 된다.

이때, 본 발명의 실시 예들에 따른 LRU 결합형 SRU 시험 장치 및 방법은 SRU 시험 치구(100)를 LRU(10)에 결합시키고, SRU 시험 치구(100)를 통해 내부 신호를 외부로 스위칭함으로써 LRU(10) 내에서 SRU(15)들이 사용하는 내부 신호를 시험에 활용할 수 있다. 이에, 내부 신호 모사를 위한 고가의 장비를 사용하지 않아도 되므로, 시험 비용을 줄일 수 있고, 실체 신호를 시험에 사용하기 때문에, 모사된 신호를 사용하는 것에 비하여 시험 정확도를 향상시킬 수 있다. 또한, 증폭부를 이용하여 내부 신호를 증폭시킴으로써, 노이즈가 개입하는 것을 원천 차단할 수 있다.

또한, SRU 시험 치구(100)를 활용하여 내부 신호 중 관심이 가는 내부 신호를 스위칭시켜 검사할 수 있기 때문에 SRU(15)들을 능동적으로 검사하여 SRU(15)들의 개별 고장 여부를 쉽게 식별할 수 있다.

본 발명의 상기 실시 예는 본 발명의 설명을 위한 것이고, 본 발명의 제한을 위한 것이 아니다. 본 발명의 상기 실시 예에 개시된 구성과 방식은 서로 결합하거나 교차하여 다양한 형태로 조합 및 변형될 것이고, 이에 의한 변형 예들도 본 발명의 범주로 볼 수 있음을 주지해야 한다. 즉, 본 발명은 청구범위 및 이와 균등한 기술적 사상의 범위 내에서 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 본 발명이 해당하는 기술 분야에서의 업자는 본 발명의 기술적 사상의 범위 내에서 다양한 실시 예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.

10: LRU
15: SRU
100: SRU 시험 지그
200: LRU 시험 지그
300: 본체

Claims

LRU에 구비된 SRU들과 상기 LRU의 마더 보드를 다대일로 연결하고, 상기 SRU들이 송수신하는 실체 신호 중 내부 신호를 송출하는 SRU 시험 지그; 및
상기 SRU 시험 지그와 연결되고, 상기 SRU 시험 지그를 통해 송출되는 내부 신호를 분석하는 본체;를 포함하고,
상기 SRU 시험 지그는,
상기 SRU들이 상기 LRU의 상기 마더 보드에 접속된 상태 그대로, 상기 SRU의 기능 구현을 위해 상기 LRU의 상기 마더 보드를 통하여 상기 SRU들이 서로 간에 실제로 주고받는 상기 실체 신호들 중 표준 신호 규격을 벗어난 비표준 신호들의 집합체인 상기 내부 신호를 스위칭하여 외부로 송출할 수 있도록 스위칭 회로부;를 구비하는 LRU 결합형 SRU 시험 장치.
청구항 1에 있어서,
상기 마더 보드 및 상기 SRU들 중 어느 하나와 연결되고, 상기 실체 신호 중 외부 신호를 입출력할 수 있는 LRU 시험 지그;를 포함하고,
상기 본체는 상기 LRU 시험 지그와 연결되고, 상기 LRU 시험 지그를 통해 입출력되는 외부 신호를 생성 및 분석하는 LRU 결합형 SRU 시험 장치.
청구항 2에 있어서,
상기 LRU은 일측이 개구된 하우징 및 상기 하우징의 개구를 커버할 수 있는 커버를 구비하고,
상기 SRU들은 상기 하우징의 내부에 수용되고,
상기 SRU 시험 지그는 상기 개구를 커버하도록 장착되고, 일면에 상기 SRU들이 다대일로 접속되고, 상기 일면과 대향하는 타면에 상기 마더 보드가 접속되고,
상기 커버는 상기 마더 보드를 커버하도록 장착되며,
상기 하우징 및 상기 커버에 의해 상기 SRU들과 상기 SRU 시험 지그와 상기 마더 보드가 외부 환경으로부터 차폐될 수 있는 LRU 결합형 SRU 시험 장치.
청구항 3에 있어서,
상기 SRU 시험 지그는,
상기 개구를 커버할 수 있도록 형성되는 프레임;
상기 프레임의 일면에 구비되는 SRU 연결 커넥터;
상기 프레임의 일면과 대향하는 타면에 구비되는 마더 보드 연결 커넥터;
상기 프레임의 일면과 타면 사이의 측면에 구비되는 신호 송출 커넥터;
상기 프레임에 내장되고, 상기 SRU 연결 커넥터 및 상기 신호 송출 커넥터와 연결되는 상기 스위칭 회로부;
상기 스위칭 회로부와 상기 신호 송출 커넥터 사이에 마련되는 증폭부;를 포함하는 LRU 결합형 SRU 시험 장치.
청구항 4에 있어서,
상기 스위칭 회로부는 상기 SRU들이 송수신하는 상기 내부 신호 중 분석하고자 하는 신호를 상기 신호 송출 커넥터로 스위칭하고,
상기 증폭부는 스위칭된 내부 신호를 아날로그 신호로 변환하는 LRU 결합형 SRU 시험 장치.
LRU에 구비된 SRU들 중 일 SRU를 상기 LRU의 마더 보드에 일대일로 연결시키고, 상기 일 SRU이 송수신하는 실체 신호 중 내부 신호를 송출하는 SRU 시험 지그;
상기 SRU 시험 지그와 연결되고, 상기 SRU 시험 지그를 통해 송출되는 내부 신호를 분석하는 본체;를 포함하고,
상기 SRU 시험 지그는,
상기 SRU들이 상기 마더 보드에 접속된 상태 그대로, 상기 일 SRU의 기능 구현을 위해 상기 마더 보드를 통하여 상기 SRU들이 서로 간에 실제로 주고받는 상기 실체 신호들 중 표준 신호 규격을 벗어난 비표준 신호들의 집합체인 상기 내부 신호를 스위칭하여 외부로 송출할 수 있도록 스위칭 회로부;를 구비하는 LRU 결합형 SRU 시험 장치.
청구항 6에 있어서,
상기 마더 보드 및 상기 SRU들 중 어느 하나와 연결되고, 상기 SRU들이 송수신하는 실체 신호 중 외부 신호를 입출력할 수 있는 LRU 시험 지그;를 포함하고,
상기 본체는 상기 LRU 시험 지그와 연결되고, 상기 LRU 시험 지그를 통해 입출력되는 외부 신호를 생성 및 분석하는 LRU 결합형 SRU 시험 장치.
청구항 7에 있어서,
상기 LRU은 일측이 개구된 하우징을 구비하고,
상기 마더 보드는 상기 하우징의 내부에 수용되고,
상기 SRU들은 상기 마더 보드에 다대일로 접속되고,
상기 SRU들 중 상기 일 SRU와 상기 마더 보드 사이에 상기 SRU 시험 지그가 마련되고,
상기 일 SRU 및 상기 SRU 시험 지그는 상기 개구를 통하여 상기 하우징의 외부에 노출될 수 있는 LRU 결합형 SRU 시험 장치.
청구항 8에 있어서,
상기 SRU 시험 지그는,
상기 개구를 통해 상기 하우징의 내부에 삽입될 수 있도록 형성되는 프레임;
상기 프레임의 일면에 구비되는 SRU 연결 커넥터;
상기 프레임의 일면과 대향하는 타면에 구비되는 마더 보드 연결 커넥터;
상기 프레임의 일면과 타면 사이의 측면에 구비되는 신호 송출 커넥터;
상기 프레임에 내장되고, 상기 SRU 연결 커넥터 및 상기 신호 송출 커넥터와 연결되는 상기 스위칭 회로부;
상기 스위칭 회로부와 상기 신호 송출 커넥터 사이에 마련되는 증폭부;를 포함하는 LRU 결합형 SRU 시험 장치.
청구항 9에 있어서,
상기 스위칭 회로부는 상기 일 SRU가 송수신하는 상기 내부 신호를 상기 신호 송출 커넥터로 스위칭하고,
상기 증폭부는 스위칭된 내부 신호를 아날로그 신호로 변환하는 LRU 결합형 SRU 시험 장치.
청구항 9에 있어서,
상기 SRU 시험 지그는,
상기 신호 송출 커넥터와 이격되고, 상기 프레임을 상기 하우징의 외부로 인출시킬 수 있도록 상기 프레임의 측면에 형성되며 적어도 일부가 상기 하우징의 내면에 접촉될 수 있는 이젝터;를 포함하는 LRU 결합형 SRU 시험 장치.
청구항 4 또는 청구항 9에 있어서,
상기 LRU는 상기 하우징의 외면에 장착되고, 상기 마더 보드를 통하여 상기 SRU들과 연결되는 신호 입출력 커넥터를 구비하고,
상기 LRU 시험 지그는 상기 신호 입출력 커넥터를 통하여 상기 마더 보드 및 상기 SRU들 중 어느 하나와 연결되는 LRU 결합형 SRU 시험 장치.
청구항 12에 있어서,
상기 신호 송출 커넥터는 상기 LRU 시험 지그에 접속되고,
상기 본체는 상기 LRU 시험 지그를 통해 상기 SRU 시험 지그와 연결되는 LRU 결합형 SRU 시험 장치.
청구항 2 또는 청구항 7에 있어서,
상기 LRU 시험 지그는 외부 신호 출력부 및 외부 신호 입력부를 포함하고,
상기 본체는 외부 신호 생성부, 외부 신호 분석부, 아날로그 신호 입력부 및 아날로그 신호 분석부를 포함하고,
상기 아날로그 신호 입력부는 아날로그 신호로 변환되어 상기 SRU 시험 지그로부터 송출되는 내부 신호를 입력받아서 상기 아날로그 신호 분석부로 전달하는 LRU 결합형 SRU 시험 장치.
LRU에 구비된 SRU들의 정상 작동 여부를 시험할 수 있는 LRU 결합형 SRU 시험 방법으로서,
SRU들이 LRU에 장착된 상태로, 상기 LRU에 외부 신호를 입력하고, 상기 LRU로부터 출력되는 외부 신호를 분석하여 LRU의 기능들에 대한 정상 작동 여부를 시험하는 과정;
상기 기능들 중 정상적으로 작동되지 않는 기능과 관련된 일 SRU의 주변 SRU로부터 출력되는 내부 신호를 스위칭하여 외부로 송출하는 과정;
외부로 송출된 내부 신호를 분석하여 상기 주변 SRU의 정상 작동 여부를 시험하는 과정;을 포함하고,
상기 내부 신호는 상기 SRU들이 상기 LRU의 마더 보드에 접속된 상태로, 상기 일 SRU의 기능 구현을 위하여, 상기 마더 보드를 통해 상기 SRU들이 서로 간에 실제로 주고받는 실체 신호들 중 표준 신호 규격을 벗어난 비표준 신호들의 집합체인 LRU 결합형 SRU 시험 방법.
청구항 15에 있어서,
상기 내부 신호를 스위칭하여 외부로 송출하는 과정 이전에,
상기 LRU로 입력된 외부 신호 중 상기 정상적으로 작동되지 않는 기능에 대응하는 외부 신호를 검증하는 과정;을 포함하는 LRU 결합형 SRU 시험 방법.
LRU에 구비된 SRU들의 정상 작동 여부를 시험할 수 있는 LRU 결합형 SRU 시험 방법으로서,
SRU들이 LRU에 장착된 상태로, 상기 LRU에 정상 작동 여부를 시험하고자 하는 기능에 대응하는 외부 신호를 입력하고, 상기 LRU로부터 출력되는 외부 신호를 분석하여 상기 기능의 정상 작동 여부를 시험하는 과정;
상기 기능과 관련된 일 SRU의 주변 SRU로부터 출력되어 상기 일 SRU로 입력되는 내부 신호를 스위칭하여 외부로 송출하는 과정;
외부로 송출된 내부 신호를 분석하여 상기 주변 SRU의 정상 작동 여부를 시험하는 과정;을 포함하고,
상기 내부 신호는 상기 SRU들이 상기 LRU의 마더 보드에 접속된 상태로, 상기 일 SRU의 기능 구현을 위하여, 상기 마더 보드를 통해 상기 SRU들이 서로 간에 실제로 주고받는 실체 신호들 중 표준 신호 규격을 벗어난 비표준 신호들의 집합체인 LRU 결합형 SRU 시험 방법.
청구항 17에 있어서,
상기 내부 신호를 스위칭하여 외부로 송출하는 과정 이전에,
상기 외부 신호를 검증하는 과정;을 포함하는 LRU 결합형 SRU 시험 방법.
청구항 15 또는 청구항 17에 있어서,
상기 내부 신호를 스위칭하여 외부로 송출하는 과정은,
상기 내부 신호를 아날로그 신호로 변환하며 증폭시켜 송출하는 과정;을 포함하는 LRU 결합형 SRU 시험 방법.
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