TW312747B - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- TW312747B TW312747B TW085115431A TW85115431A TW312747B TW 312747 B TW312747 B TW 312747B TW 085115431 A TW085115431 A TW 085115431A TW 85115431 A TW85115431 A TW 85115431A TW 312747 B TW312747 B TW 312747B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- interface
- contact
- test
- plane
- connector
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2836—Fault-finding or characterising
- G01R31/2844—Fault-finding or characterising using test interfaces, e.g. adapters, test boxes, switches, PIN drivers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
- G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
312747 A7
312747 五、發明説明(2 ) 每可互換之測試轉接器具有其本身機械製外殼,電路卡 及内部佈線,以在機械與導電方面將該連接器模組連接於 受測試單位。典型之可互換測試轉接器係顯示於史多華等 人之專利案附圖20-22中。 經濟部中央標準局員工消費合作.社印製 如圖9中所示,使用於Lru式受測試單位之一可互換之 測試轉接器可能相當複雜,因爲自一測試轉接器至其次之 測試轉接器間並無共通性存在。因此,單獨之導線常以線 束及點至點之方式敷設於數個連接器,各電路卡與導線捲 板t間。如若有一不同之LRU戈受測試單位須予測試, 必須構成一疋製之測試轉接器俾偉·用於該特殊之受測試單 位,且須在設計,構造及布線於新製之可互換測試轉接器 方面耗費重大之心力》此外,如圖10中所示厂用於SRU 式受測試單位之可互換測試轉接器常與用於LRU式受測 試單位者大爲不同。是以使用於製造Lru式受測試單位 之測試轉接器之外殼與布線設計,對設計及製造用於 SRU式受測試單位之測試轉接器方面實際上並無用處。 不僅設計及製造每一定製之測試轉接器乃耗費不資,且各 測試轉接器係體積巨大,殊難以處理及改變,以及在不使 用時需要極大之儲存空間。 因此,需有一種易於重新配置以測試各種受測試單位之 任何一種及較易處理而在不使用時較易於儲存之介面測試 轉接器。本發明滿足此等需求並提供更多有關之優點。 本發明之概專 本發明係在用以提供一測試台與—受測試單位間介面之 本紙乐尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) A7 ----------B7 五、發明説明(3 ) 經濟、邓中央標準局員工消費合作衽印製 -般性介面測試轉接器中予以具體表現。此種_般性介面 測試轉接器包括具有多個接觸銷之一介面平面,及具有多 個接觸絲之-平坦介面卡。各接觸销之—部分係與來自 或至測試台之預定電信號配合。該平坦介面卡具有構成與 孩介面平面耦合之一平坦表面,多個接觸襯墊係在該平坦 表面上,每一接觸襯墊係與該介面平面上各接觸銷之一配 合,是以當該平坦表面被牵動與該介面平面成匹配之對準 時,導電接觸即在多個接觸銷與配合之接觸襯墊間建立。 此測試轉接器亦包括至少一個用以使該介面卡與測試中單 位成導電耦合之連接器。在該介面卡上之導電軌跡則使該 連接器與各接觸襯塾_合。 在本發明之一更詳細特色中,一般性介面測試轉接器另 包括一介面框用以容納該介面平面,以及—壓力框,將介 面卡壓抵該介面平面。介面-框亦可包括一對卡片導件,此 對導件乃安裝於自第一框在垂直於該介面平面之方向上突 出並位於該介面平面相反兩端之四個可伸縮導具上,各卡 片導件協助介面卡與介面平面之對準。該介面框亦可包括 各滑動凸輪及用以啓動各滑動凸輪之一傳動裝置把手。相 似者,孩壓力框可包括具有與各滑動凸輪配合之角凸輪槽 之一凸輪從動板,各滑動凸輪與角凸輪槽被配置成於傳動 裝置把手在接合位置時,可使壓力框有充分之力量將介面 卡壓抵介面平面而提供多個接觸銷與配合之多個接觸襯墊 間之導電接觸。 > 在本發明之另一更明細特色中,各接觸銷包含以彈簧裝 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(21〇χ297公釐) ; ^ 裝-- (請先閱讀背面之注意事項f4寫本頁)
1T------^-----------I - I I 1 I — H— · 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 _________ B7_ 五、發明説明(4 ) ~ ' ' 載之金屬探針。此外,該介面平面可包松至少一個具有一 軸向中心導體及一同轴護套之射頻(rf)式接觸銷,以及該 電路卡組合件可包括用以與該射頻式接觸銷匹配之接觸襯 墊中之一同心對,及電耦合於接觸襯墊中僉同心對之一射 頻傳輸線路。 在本發明之另一特色中,受測試單位具有一個或數個連 接器,及該介面框亦容納一個或數個介面連接器,以接受 來自爻測試單位之連接器。此外,該介面平面具有與測試 台配合4第一多數接觸銷及與介面連接器配合之第二多數 接觸銷。又該介面平面乃適於與介面卡或可互換電路卡組 合件搭配俾將測試台導電耦合於介面連接器。 在本發明之一更詳細特色中,電路卡組合件包括與第一 多數之接觸銷匹配之第一多數接觸襯墊以及與第二多數之 接觸銷匹配之在該平坦表面上之第二多數接觸襯墊。此 外,電路卡组合件包括使第一多數接觸襯墊之選出接觸襯 墊與第二多數接觸襯墊之選出接觸襯墊耦合之導電軌跡, 是以當該平坦表面被牵動與介面平面成匹配之對準時,導 電接觸即在測試台與介面連接器間建立。 本發明之其他特色與優點可自下文中與附圖聯合之對較 佳實例之説明獲致明顯之瞭解,本案係以實例方式說明本 發明之原理》 ' 圖式之簡軍説明 所附各圖舉例説明本發明,在附圖中: 圖1爲提供一測試台與一受測試單位(υυτ)間之本發明 -7- ^氏張尺度逋用中國國家樣準(CNS〉Α4規格(21〇χ297公釐)------ t請先閱讀背面之注意事攻/,%寫本頁) 装· 312747 A7 B7 經濟部中央橾準局員工消費合作社印製 五、發明説明(5 ) 一般性介面測試轉接器之方塊圖β 圖2爲本發明之一般性介面測試轉接器之立體透視圖, 該轉接器具有一介面平面,一可互換之電路卡組合件及用 以將該卡片組合件壓抵該介面平面之—壓力框。 圖3爲圖1中之介面平面及可互換之電路卡組合件之立 體透視圖。 圖4Α爲圖3中在介面平面上彈簧裝載之接觸銷及在電路 卡組合件上之對應接觸襯墊之正視圖,部分係橫截面。 圖4Β爲圖3中在電路卡組合修上各接觸襯墊與互連軌跡 之平面圖。 圖5Α爲圖2中在介面平面上之彈簧裝載射頻同軸連接器 及在電路卡组合件上之對應同心接觸襯墊之正士圖,部分 係橫截面。 圖5B爲圖5A中之彈簧裝-載射頻同軸連接器及一對應之 同心接觸襯墊之透視圖。 圖5C爲圖5A中彈簧裝載射頻同軸連接器在其未壓縮狀 態之橫截面圖。 圖5D爲圖5A中彈簧裝載射頻同軸連接器之橫截面圖, 該同軸連接器以充分之力量對同心接觸襯墊施壓,以壓缩 彈簧。 . 圖6爲圖1中一般性介面測試轉接器之立-發遗視.後面 圖。 圖7爲經配置用於一受測試單位的系統位準測試之本發 明一般性介面測試轉接器之透視圖。 (請先閱讀背面之注意事項-T.填寫本頁) .裝· 訂 線 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2丨Ο X 297公釐) 312747 |五、發明説明(6 ) 圖8爲本發明之一般性介面轉接器經配置以 片位準之各單位用之立體透視圖。 "^ 圖9爲用於受測試單位的卡片位準測試之—現有可互換 測試轉接器之立體透視圖。 圖10爲用於受測試單位的卡片位準測試之另—現有可 互換測試轉接器之立體透視圖。 丝佳具體實例之詳細説明 現參閱附圖,特別是圖i與圖2,本發明係具體例示於 概以參考编號1 0指出之用以提供一測試台〗2與受測試單 位(UUT)14間導電介面之一般性介面測試轉接器。在此 種測試轉接器之獨特特徵中者爲—永久性配置之介面平面 16及一可互換之電路卡組合件18,可使該轉‘器僅以改 變可互換之電路卡組合件達成測試台與各種在機械及導電 上有區別之受測試單位之介·面接合。此種一般性介面測試 轉接器另包括一介面框20,該框容納介面平面16及_般 疋單位介面連接器22,並包括一壓力框24,保持電路卡 組合件抵住該介面平面。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 如圖3至5D中所示,介面平面16爲—平坦表面,具有 彈簧裝載之接觸銷26之五個不同場或區域或常稱爲釘床 之POGOS。通常每一接觸銷係與不同之電信號結合。第 一與第二區域2 8及3 0分別相當於測試台之測試儀表與測 試卡信號,第三區域3 2相當於測試台之高電流信號,第 四區域34相當於測試台之射頻信號,及第五區域%相當 於一般之受測試單位介面連接器22。在第—至第7區域中 本紙張U賴巾關家料(cnFT^^( 210x297·^-- 經濟部中央梯準局員工消費合作社印製 、發明説明(7 ) 之各接觸銷26係導電連接於測試台12,及在第五區域之 各接觸销係以導電方式連接於—般之受測試單位介面連接 器:設有充分數量之接觸銷(約5〇〇〇)故測試台與受測試 單位14間所需之每—電連接可通過該介面半面。 該可互換之電路卡組合件18包含—平坦之印刷線路板 或電路卡,具有相當於介面平面16之五個接觸銷區域之 五個接觸襯墊38區域。在電路卡組合件上之每一接觸襯 墊係置於與該介面平面上—對應接觸銷26對準及匹配之 處。孩電路卡另包括多層之印刷_線路或導電互連軌跡 40,用以導電連接各接觸襯墊 ' 該電路卡另包括無接觸 銷之一開放區域,以提供任何受測試單位特定電路4 2之 場所,上述之特定電路乃可能須設置用以測試二特定受測 試單位1 4者。 接觸銷26及接觸襯墊38在穩固之機械接觸中時提供介 面平面16與電路卡組合件18間之導電連接,就低頻信號 而言,在介面平面上之各接觸銷爲彈簧裝載之探針或 POGOS(圖4A)。一導線44連接於每一接觸銷之後部。在 電路卡组合件上之各對應接觸襯墊爲圓形鍍金襯整(圖 4 B ) 〇 對於射頻信號,各接觸銷爲特別之同軸彈簧裝載探針 46,用以介面連接來自一50歐姆同軸電纜之信號。此射 頻探針具有一軸向中心導體48及一同抽之護套50,均以 彈簧裝載,並於保持該電纜之阻抗時提供至接觸襯墊之導 電接觸。在射頻探針之後端設有一SMB連接器51 »適用 t紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) * ^ 私衣1T------^ (請先閲讀背面之注意事現/%寫本頁) 發明説明(8 (同軸彈簧裝載探針可自羅特島,w〇〇ns〇cket2TTl, Inc.獲得。 , 對應之射頻接觸襯墊52由同心之目標襯墊組成。在電 路卡组合件18上,射頻信號係由形成射磺傳輸線路之條 狀線路發送。適當之射頻匹配電路係在印刷電路板上形 成,以匹配該同軸電纜與對應之印刷電路板上條狀線路間 足阻抗。因爲電路卡組合件使用一多層之印刷電路板,可 使用接地平面,防護軌跡及其他典型之射頻設計結構作爲 孩電路卡組合件上射頻信號之麽路。可在信號線路間保持 另外之可比擬信號延遲因爲測試台12與受測試單位“間 之導線或導體長度係相對地予以限定,任何差異可由延長 或縮短電路卡组合件上之適宜導電軌跡40説明i。 介面框20(圖2)亦包括三組滑動凸輪52,與作爲壓力 ^4的一部分之—凸輪從動板5 6上之三组角槽5 4接合。 等凸輪平行於介面平面16滑動,並於與角槽接合時。 供將壓力框朝向介面框拉動之力β此壓力框有—開 65,上有可除去之蓋,用以提供至電路卡组合件之— 域之通路。 爲使電路卡組合件1 8裝入於一般之介面測試轉接 10,可將該電路卡组合件插入由四個拉動卡片導件並 彈簧裝載套管式導具60支持之一對卡片導件58中,因 該電路卡組合件抵住介面平面16。電路卡組合件使卡 導件向下滑動直至其到達由各導件底部之止動子62所限 定t預定位置爲止。在此位置,各接觸襯墊3 8係與對應 意 裝 框 此提 訂 〇 區 器由 而片 限 -11 - 本紙铁尺度適财ilg家標準(CNS) A4規格(2lQx297公慶 五 、發明説明( <各接觸銷28對準。一凸動傳動裝置把手或槓杆64係連 接於各凸輪,並供給使各凸輪滑動之機械利益,故電路卡 組合件乃以充分之壓力被拉抵該介面平面,以使彈簧裝载 之各接觸銷抵住各接觸襯墊》 在介面框2 0側邊上之一般之受測試單位連接器22爲零 插入力連接器66及同軸射頻連接器68。該一般之受測試 單位介面連接器中之所有導電接觸具有在第五接觸銷區域 3 6中之各對應接觸銷。因此在受測試單位介面連接器中 '之每一導電接觸可單獨連接至·配合測試台之區域28, 3〇,32及34中之任何接觸銷,木用之方法爲互連印刷電 路卡上之各適切接觸襯墊。 如圖6中所示,各接觸銷後部26與測試台12之連接器模 組間之導電連接可用帶狀電纜組合件7 0達成。另—方 式,至各接觸銷後部之導電-連接可由設置具有連接各接觸 銷之導線44之一連接器裝置72或設置直接加於介面平 ^部上之連接器74達成之。由於來自測試台之所有電 號均係可在介面平面處利用,無須再佈線於該介面平面, 測試一特殊之受測試單位。代替者,所有必需之“再佈線 乃於可互換之電路卡組合件爲特殊之受測試單位結構所 計時實施。現有之電腦輔助電路产設計及自動路由主具 用以設計電路卡組合件,及對於其他受測試單位之先存 計可於設計新電路卡組合件時利用現有設計而予以修正。 因此’本發明之可互換電路卡组合件之設計與製造係較使 用不同布線之現有測試轉接器之設計與製造遠爲簡單及成 訂 面 信 以 設 可 設 線 ;__ -12· 本纸張尺奴财關雜 五、發明説明(10) 本效率高。 圖7顯示一般性介面測試轉接器1〇,經予配置以經由在 介面框2〇側邊上較大之受測試單位介面連接器22之零插 入力連接器66實施在LRU式受測試單位14上之系統水準 測試。該受測試單位係以測試電纜76連接於各連接器。 測試台m般之受測試單位介面連接器間之所有連接 係經由介面平面丨6及電路卡組合件丨8完成。 如圖8中所示’僅將電路卡組合件18改變及移除恩力框 24中開σ78之蓋,—般性測試璉接器_容易重新配置 以測試-SRU式受測試單位或電路卡14。該则式電路 卡係由安裝於與接觸襯墊表面相對之電路卡组合件表面上 之邊緣連接器8G連接至該電路卡组合件。如屬需要,各 別之SRU式電路卡可使用—個以上之邊緣連接器及多工 電路予以同時測試a . 因此,一般性介面測試器1〇可使—測試台以僅以改變 可互換2路卡組合件18而測試各種不同受測試單位"中 之,任早位β又在測試台之證實測試可藉使用配置成“環 。(Loop 仏號之一電路卡組合件而迅易付諸 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 實施此外’電路切合件之處理與料乃遠較對現有各 系統之測試轉接器之處理與儲存,簡單。 . 雖然上文已揭示本發明之當前較佳具时例,所瞭解者 爲熟諳衣技藝之人士可對所示各較佳具體實例採取各種不 同〈改變而不背離本發明之範圍。本發明僅由下列之申請 專利範固界定之。 13- 本錄尺度適财gg家標準(CNS)
Claims (1)
- 六、申請專利範圍 ABCD 經濟部中夬標準局員工消費合作社印製 1· 一種用以提供一測試台與— 介面測試轉接器,包含: 單“,介面之-般姓 上平坦之介面平面’具有多個接觸銷,其中每 接觸銷係與來往於測試台之一 、 -實際上平坦之介面卡’、具有預h㈣配合;以及 -實質上平坦之表面,被配M成與該介面平 合, 在該平坦表面上之多個接觸襯塾,每—接觸襯墊乃 與各接觸狀一配合,俾於該平坦表面被帶動與該介 面平面成對準匹配時,即在多個接觸銷與配合之接觸 襯墊間建立導電接觸, 至少一個連接器,用以將該介面卡耦合‘受測試單 位,及 在该介面卡上之導電-軌跡,使該連接器與一或數個 預定之接觸襯墊耦合。 2. 根據申請專利範圍第〗項之一般性介面測試轉接器,另 包含: 一用以容納該介面平面之第一框;及 —壓力框,將介面卡I抵該介面平面β 3. 根據申請專利範圍第2項之一般性介面測試轉接器,其 中第一框另包括安裝於套管式^•具上自第一框突出於與 該;1面平面垂直之方向及在該介面平面之相反兩端之_ 對卡片導件,其中各卡片導件使該介面卡對準介面平 面。 -14 本紙伕尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X297公釐) I --- I I I- I HI - - m · •裝· (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ,*!. 34.根據申請專利範圍第2項 中 I性介面測試轉接器,其 第-框包括各滑動凸輪及-用以啓動 動裝置把手;及 ^ W 壓力框包括各凸輪從動板,此等從動板具有與滑動凸 輪配合之角凸輪槽,俾使傳動裝置把手在接合位置時, 壓力框以充分之力量將介面卡壓抵介面平面,而提供多 個接觸銷與配合之多個接觸襯墊間之導電接觸。 5. 根據申請專利範圍第!項之一身性介面測試轉接器,其 中各接觸銷包含彈簧裝載之金屬j罙針。 6. 根據申請專利範圍第1項之—般性介面測試轉接器,其 中: , 該介面平面包括至少_個具有_軸向中心導體與一同 轴護套之射頻式接觸銷;及 該電路卡組合件包括與射頻接觸銷配合之接觸襯墊之 —同心對及電耦合於該同心對之接觸襯墊之一射頻傳輸 線路。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 7. 根據申請專利範圍第1項之一般性介面測試轉接器,其 中: 用以使該介面卡與受測試單位導電核合之至少一連接 器包括多個附加於該介面框之·導電連接器,及 孩介面平面包括導電耦合於多個導電連接器之一接觸 銷區域。 8·根據申請專利範圍第1項之一般性介面測試轉接器,其 __ -15- ( 210X297^1 A8 B8 C8 D8 申請專利範圍 中,觸銷乃與來自或發至測試台之每一電信號結合, 此種L號係測試台用以測試受測試單位所必需者。 9_二種一般性介面測試轉接器,使用一可互換之電路卡组 合件以提供—測試台與具有一連接器之受測試單位間之 介面者’包含: ^ 一介面框,該框容納 —用以接受來自受測試單位之連接器之__或數 接器, 两 —介面平面,具有與測試台結合之第-多數接觸销 及與該;丨面連接器結合之第七多數接觸銷,其中與該 介面平面係適於與可互換《電路卡配合以使測試台與 介面連接器成導電耦合。 - K)_根據申請專利範圍第9項之_般性介面測試轉接器,其 中可互換之電路卡組合片.包括: 經配置成與該介面平面耦合之一表面, 在及平坦表面上之與第—多數接觸銷配合之第—多數 接觸襯整及在該平坦表面上之與第二多數接觸襯塾配合 之第二多數接觸襯墊, .使第一多數接觸襯墊之選出接觸襯墊與第二多數接觸 襯整之選出#觸襯独合之各導電軌4,俾於該平坦表 面被拉動與該介面平坦成對準匹配時,即在測試台與介 面連接器間建立導電接觸。 11.根據申請專利範圍第10項之一般性介面測試轉接器,另 包含一壓力框,該框將電路卡組合件壓抵 裝--- (請先閎讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 ΐτ------線’--.-------- • HI 1 - 1 •16-、申請專利範圍 2·根據申4專利範圍第i i項之_般性介面測試轉接器,其 中: 、 介面框包括各滑動凸輪及用以致動各滑動凸輪之一傳 動裝置把手, 壓力框包括-凸輪從動板,具有與各滑動凸輪配合之 角凸輪槽,俾於該傳動裝置把手在接合之位£時,使壓 j框以充刀之力量將電路卡組合件壓抵該介面平面,而 1提供多個接觸銷與配合之多個接觸襯塾間之導電接觸。 根據申明專利範圍第9項之一毒性介面測試轉接器 14.根據中請專利範g第9項之—般性介面測試器,其中 ,介面平面包含至少一個具有一軸向中心導體及—同 轴護套之射頻式接觸銷;及 —電路卡組合件包括與I射頻接觸銷配合之接觸襯墊之 —同心對,及與該同心對之接觸襯墊成導電耦合之一射 頻傳輸線路。 —---------^--------玎------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 其 中各接觸銷含有彈簧裝載之金屬探針 經濟部中央標準局舅工消費合作社印製 S N C /_V 準 標 家 國 國 中 用 適 度 尺 張 紙
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/573,026 US5793218A (en) | 1995-12-15 | 1995-12-15 | Generic interface test adapter |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW312747B true TW312747B (zh) | 1997-08-11 |
Family
ID=24290357
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW085115431A TW312747B (zh) | 1995-12-15 | 1996-12-13 |
Country Status (11)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5793218A (zh) |
EP (1) | EP0866977B1 (zh) |
KR (1) | KR100479136B1 (zh) |
AU (1) | AU7112896A (zh) |
DE (1) | DE69621152T2 (zh) |
ES (1) | ES2175129T3 (zh) |
HK (1) | HK1011223A1 (zh) |
IN (1) | IN189781B (zh) |
PT (1) | PT866977E (zh) |
TW (1) | TW312747B (zh) |
WO (1) | WO1997022886A1 (zh) |
Families Citing this family (38)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6178255B1 (en) * | 1998-04-28 | 2001-01-23 | Cross Match Technologies, Inc. | Individualized fingerprint scanner |
US6269319B1 (en) | 1999-01-29 | 2001-07-31 | The Mcdonnell Douglas Corporation | Reconfigurable integration test station |
US6272562B1 (en) * | 1999-05-28 | 2001-08-07 | Cross Match Technologies, Inc. | Access control unit interface |
US6239592B1 (en) * | 1999-06-02 | 2001-05-29 | Sun Microsystems, Inc. | Test fixture with quick connect and release board interconnect mechanism |
US6744910B1 (en) | 1999-06-25 | 2004-06-01 | Cross Match Technologies, Inc. | Hand-held fingerprint scanner with on-board image normalization data storage |
US6886104B1 (en) | 1999-06-25 | 2005-04-26 | Cross Match Technologies | Rechargeable mobile hand-held fingerprint scanner with a data and power communication interface |
US6658164B1 (en) | 1999-08-09 | 2003-12-02 | Cross Match Technologies, Inc. | Calibration and correction in a fingerprint scanner |
AU1939300A (en) * | 1999-08-09 | 2001-03-05 | Cross Match Technologies, Inc. | Method, system, and computer program product for a gui to fingerprint scanner interface |
WO2001011544A1 (en) * | 1999-08-09 | 2001-02-15 | Cross Match Technologies, Inc. | System and method for sending a packet with position address and line scan data over an interface cable |
US7162060B1 (en) | 1999-08-09 | 2007-01-09 | Cross Match Technologies | Method, system, and computer program product for control of platen movement during a live scan |
US6483932B1 (en) | 1999-08-19 | 2002-11-19 | Cross Match Technologies, Inc. | Method and apparatus for rolled fingerprint capture |
EP1224609A1 (en) | 1999-10-22 | 2002-07-24 | Cross Match Technologies, Inc. | Adjustable, rotatable finger guide in a tenprint scanner with movable prism platen |
JP2004506993A (ja) * | 2000-08-18 | 2004-03-04 | クロス マッチ テクノロジーズ, インコーポレイテッド | 指紋スキャナ自動キャプチャシステムおよび方法 |
US6611152B1 (en) | 2000-10-31 | 2003-08-26 | The Boeing Company | Test adapter for configuring the electrical communication between a unit under test and an electronic test station and associated separator plate |
TW561263B (en) * | 2001-03-10 | 2003-11-11 | Samsung Electronics Co Ltd | Parallel test board used in testing semiconductor memory devices |
US6504730B1 (en) * | 2001-07-23 | 2003-01-07 | Hamilton Sundstrand Corporation | Serviceable power modules for a power distribution assembly |
US6841990B2 (en) * | 2001-10-31 | 2005-01-11 | Agilent Technologies, Inc. | Mechanical interface for rapid replacement of RF fixture components |
US6954260B2 (en) | 2002-01-17 | 2005-10-11 | Cross Match Technologies, Inc. | Systems and methods for illuminating a platen in a print scanner |
ATE406626T1 (de) | 2002-01-17 | 2008-09-15 | Cross Match Technologies Inc | Fingerabdruck-workstation und verfahren |
JP2003307552A (ja) * | 2002-04-17 | 2003-10-31 | Tokyo Electron Ltd | 信号検出用接触体及び信号校正装置 |
WO2004013801A2 (en) * | 2002-08-02 | 2004-02-12 | Cross Match Technologies, Inc. | System and method for counting ridges in a captured print image |
US6906544B1 (en) * | 2003-02-14 | 2005-06-14 | Cisco Technology, Inc. | Methods and apparatus for testing a circuit board using a surface mountable adaptor |
US7164440B2 (en) * | 2003-02-28 | 2007-01-16 | Cross Match Technologies, Inc. | Dynamic image adaptation method for adjusting the quality of digital prints |
CN100480718C (zh) * | 2003-04-04 | 2009-04-22 | 爱德万测试株式会社 | 连接单元、测试头以及测试装置 |
US7082676B2 (en) * | 2003-08-05 | 2006-08-01 | Qualitau, Inc. | Electrostatic discharge (ESD) tool for electronic device under test (DUT) boards |
US20050047631A1 (en) * | 2003-08-26 | 2005-03-03 | Cross Match Technologies, Inc. | Method and apparatus for rolled fingerprint image capture with variable blending |
TWI273248B (en) | 2006-01-26 | 2007-02-11 | Au Optronics Corp | Universal probing apparatus for TFT array test |
WO2008128286A1 (en) * | 2007-04-18 | 2008-10-30 | Tiip Pty Ltd | Test instrument enclosure |
US20080295090A1 (en) * | 2007-05-24 | 2008-11-27 | Lockheed Martin Corporation | Software configuration manager |
US7866784B2 (en) * | 2008-08-19 | 2011-01-11 | Silverbrook Research Pty Ltd | Diagnostic probe assembly for printhead integrated circuitry |
DE102012103893A1 (de) | 2012-05-03 | 2013-11-07 | Turbodynamics Gmbh | Modul zum Austauschen einer Schnittstelleneinheit in einem Testsystem zum Testen von Halbleiterelementen und Testsystem mit einem solchen Modul |
FR2996367B1 (fr) * | 2012-10-01 | 2014-10-03 | Airbus Operations Sas | Systeme de connexion pour connecter un equipement electronique, en particulier pour aeronef, a une unite de test. |
CN106324460B (zh) * | 2016-11-08 | 2024-03-22 | 沈小晴 | 一种可换针盘式通用测试机构 |
CN107608842B (zh) * | 2017-10-31 | 2023-11-21 | 江苏特创科技有限公司 | 一种接口测试组件及接口测试装置 |
KR102107111B1 (ko) | 2019-09-19 | 2020-05-06 | 한화시스템 주식회사 | Lru 결합형 sru 시험 장치 및 방법 |
KR102466483B1 (ko) * | 2021-12-20 | 2022-11-11 | 한화시스템 주식회사 | 다중 신호를 사용하는 sru를 위한 시험 장치 및 방법 |
CN116027124A (zh) * | 2022-10-21 | 2023-04-28 | 深圳市朗科智能电气股份有限公司 | 一种可拆式模块化测试平台 |
US12117481B2 (en) * | 2022-12-27 | 2024-10-15 | Intelligent Memory Limited | Autonomous detection of memory insertion into test equipment without requiring power to the tester unit |
Family Cites Families (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3654585A (en) * | 1970-03-11 | 1972-04-04 | Brooks Research And Mfg Inc | Coordinate conversion for the testing of printed circuit boards |
US3751649A (en) * | 1971-05-17 | 1973-08-07 | Marcrodata Co | Memory system exerciser |
US3854125A (en) * | 1971-06-15 | 1974-12-10 | Instrumentation Engineering | Automated diagnostic testing system |
CA1038042A (en) * | 1975-03-03 | 1978-09-05 | Motorola | Programmable probe fixture and method of connecting units under test with test equipment |
US4352061A (en) * | 1979-05-24 | 1982-09-28 | Fairchild Camera & Instrument Corp. | Universal test fixture employing interchangeable wired personalizers |
US4354268A (en) * | 1980-04-03 | 1982-10-12 | Santek, Inc. | Intelligent test head for automatic test system |
DE3013215A1 (de) * | 1980-04-03 | 1981-10-15 | Luther & Maelzer Gmbh, 3050 Wunstorf | Adapter fuer ein selbstprogrammierbares leiterplattenpruefgeraet |
US4402055A (en) * | 1981-01-27 | 1983-08-30 | Westinghouse Electric Corp. | Automatic test system utilizing interchangeable test devices |
DE3116079A1 (de) * | 1981-04-23 | 1982-11-11 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Pruefsystem |
EP0115135A1 (en) * | 1982-12-27 | 1984-08-08 | Genrad, Inc. | Electrical test fixture for printed circuit boards and the like |
US4590581A (en) * | 1983-05-09 | 1986-05-20 | Valid Logic Systems, Inc. | Method and apparatus for modeling systems of complex circuits |
US4551675A (en) * | 1983-12-19 | 1985-11-05 | Ncr Corporation | Apparatus for testing printed circuit boards |
DK291184D0 (da) * | 1984-06-13 | 1984-06-13 | Boeegh Petersen Allan | Fremgangsmaade og indretning til test af kredsloebsplader |
JPS6125263A (ja) * | 1984-07-13 | 1986-02-04 | Sony Corp | 電子機器制御システム |
US4724383A (en) * | 1985-05-03 | 1988-02-09 | Testsystems, Inc. | PC board test fixture |
US4899306A (en) * | 1985-08-26 | 1990-02-06 | American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories | Test interface circuit which generates different interface control signals for different target computers responding to control signals from host computer |
US4716500A (en) * | 1985-10-18 | 1987-12-29 | Tektronix, Inc. | Probe cable assembly |
US4718064A (en) * | 1986-02-28 | 1988-01-05 | Western Digital Corporation | Automatic test system |
US4901259A (en) * | 1988-08-15 | 1990-02-13 | Lsi Logic Corporation | Asic emulator |
US5291129A (en) * | 1988-10-24 | 1994-03-01 | Nhk Spring Co., Ltd. | Contact probe |
CN1045655A (zh) * | 1988-11-23 | 1990-09-26 | 约翰弗兰克制造公司 | 系统自动诊断的内核测试接口和方法 |
US5036479A (en) * | 1989-04-20 | 1991-07-30 | Trw Inc. | Modular automated avionics test system |
US5058110A (en) * | 1989-05-03 | 1991-10-15 | Ultra Network Technologies | Protocol processor |
NL9001478A (nl) * | 1990-06-28 | 1992-01-16 | Philips Nv | Testinrichting voor electrische schakelingen op panelen. |
US5103378A (en) * | 1990-09-21 | 1992-04-07 | Virginia Panel Corporation | Hinged interlocking receiver for mainframe card cage |
US5196789A (en) * | 1991-01-28 | 1993-03-23 | Golden Joseph R | Coaxial spring contact probe |
US5218302A (en) * | 1991-02-06 | 1993-06-08 | Sun Electric Corporation | Interface for coupling an analyzer to a distributorless ignition system |
US5223788A (en) * | 1991-09-12 | 1993-06-29 | Grumman Aerospace Corporation | Functional avionic core tester |
US5357519A (en) * | 1991-10-03 | 1994-10-18 | Apple Computer, Inc. | Diagnostic system |
US5175493A (en) * | 1991-10-11 | 1992-12-29 | Interconnect Devices, Inc. | Shielded electrical contact spring probe assembly |
US5406199A (en) * | 1993-07-28 | 1995-04-11 | At&T Corp. | Test fixture carrying a channel card for logic level translation |
-
1995
- 1995-12-15 US US08/573,026 patent/US5793218A/en not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-09-18 KR KR10-1998-0704459A patent/KR100479136B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1996-09-18 AU AU71128/96A patent/AU7112896A/en not_active Abandoned
- 1996-09-18 DE DE69621152T patent/DE69621152T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1996-09-18 ES ES96932262T patent/ES2175129T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1996-09-18 PT PT96932262T patent/PT866977E/pt unknown
- 1996-09-18 EP EP96932262A patent/EP0866977B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-09-18 WO PCT/US1996/014949 patent/WO1997022886A1/en not_active Application Discontinuation
- 1996-09-30 IN IN1728CA1996 patent/IN189781B/en unknown
- 1996-12-13 TW TW085115431A patent/TW312747B/zh active
-
1998
- 1998-11-28 HK HK98112440A patent/HK1011223A1/xx not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20000064402A (ko) | 2000-11-06 |
DE69621152D1 (de) | 2002-06-13 |
EP0866977A1 (en) | 1998-09-30 |
WO1997022886A1 (en) | 1997-06-26 |
EP0866977B1 (en) | 2002-05-08 |
US5793218A (en) | 1998-08-11 |
IN189781B (zh) | 2003-04-19 |
AU7112896A (en) | 1997-07-14 |
HK1011223A1 (en) | 1999-07-09 |
ES2175129T3 (es) | 2002-11-16 |
PT866977E (pt) | 2002-09-30 |
DE69621152T2 (de) | 2003-01-02 |
KR100479136B1 (ko) | 2005-05-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW312747B (zh) | ||
TW521151B (en) | Pin block structure for mounting contact pins | |
US7748990B2 (en) | High frequency connector assembly | |
US6611147B2 (en) | Apparatus with interchangeable modules for measuring characteristics of cables and networks | |
EP0829728B1 (en) | Rapid action engagement interface connection system and method | |
CN208432644U (zh) | 测试探针 | |
CN108153630A (zh) | 一种信号测试装置 | |
TW317042B (zh) | ||
TW403836B (en) | Tdr tester for X-Y prober | |
JPS6324171A (ja) | 集積回路部品動作検査装置 | |
US7371093B1 (en) | ZIF connection accessory and ZIF browser for an electronic probe | |
TWI359535B (en) | Zif connectors and semiconductor testing device an | |
TW200402536A (en) | Deskew fixture | |
WO2019000975A1 (zh) | 一种电测治具 | |
JP2005032699A (ja) | 電気相互接続装置 | |
TWI250284B (en) | Contactor probe and electric probe unit | |
US20210263073A1 (en) | Test Probe Adapter | |
CN215494995U (zh) | 一种id芯片检验装置 | |
EP2876739B1 (en) | High performance liga spring interconnect system for probing application | |
CN211122929U (zh) | 一种电脑主板接口多功能测试浮动侧插装置 | |
CN218331664U (zh) | 一种pcb板电子元器件功能测试设备 | |
TW384558B (en) | A drawer for automatically pluggable and unpluggable electronic cards and a method of removing electronic cards | |
CN112217069A (zh) | 一种基于vita74标准的信号测试连接件及工装 | |
CN101183137A (zh) | 探针式电路板测试制具的固定方法 | |
Porges et al. | Signal Transmission Line With Low Attenuation and Wide Frequency Passband |