TW312747B - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
TW312747B
TW312747B TW085115431A TW85115431A TW312747B TW 312747 B TW312747 B TW 312747B TW 085115431 A TW085115431 A TW 085115431A TW 85115431 A TW85115431 A TW 85115431A TW 312747 B TW312747 B TW 312747B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
interface
contact
test
plane
connector
Prior art date
Application number
TW085115431A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Lear Astronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Lear Astronics Corp filed Critical Lear Astronics Corp
Application granted granted Critical
Publication of TW312747B publication Critical patent/TW312747B/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising
    • G01R31/2844Fault-finding or characterising using test interfaces, e.g. adapters, test boxes, switches, PIN drivers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G01R31/2808Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)

Description

312747 A7
312747 五、發明説明(2 ) 每可互換之測試轉接器具有其本身機械製外殼,電路卡 及内部佈線,以在機械與導電方面將該連接器模組連接於 受測試單位。典型之可互換測試轉接器係顯示於史多華等 人之專利案附圖20-22中。 經濟部中央標準局員工消費合作.社印製 如圖9中所示,使用於Lru式受測試單位之一可互換之 測試轉接器可能相當複雜,因爲自一測試轉接器至其次之 測試轉接器間並無共通性存在。因此,單獨之導線常以線 束及點至點之方式敷設於數個連接器,各電路卡與導線捲 板t間。如若有一不同之LRU戈受測試單位須予測試, 必須構成一疋製之測試轉接器俾偉·用於該特殊之受測試單 位,且須在設計,構造及布線於新製之可互換測試轉接器 方面耗費重大之心力》此外,如圖10中所示厂用於SRU 式受測試單位之可互換測試轉接器常與用於LRU式受測 試單位者大爲不同。是以使用於製造Lru式受測試單位 之測試轉接器之外殼與布線設計,對設計及製造用於 SRU式受測試單位之測試轉接器方面實際上並無用處。 不僅設計及製造每一定製之測試轉接器乃耗費不資,且各 測試轉接器係體積巨大,殊難以處理及改變,以及在不使 用時需要極大之儲存空間。 因此,需有一種易於重新配置以測試各種受測試單位之 任何一種及較易處理而在不使用時較易於儲存之介面測試 轉接器。本發明滿足此等需求並提供更多有關之優點。 本發明之概專 本發明係在用以提供一測試台與—受測試單位間介面之 本紙乐尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) A7 ----------B7 五、發明説明(3 ) 經濟、邓中央標準局員工消費合作衽印製 -般性介面測試轉接器中予以具體表現。此種_般性介面 測試轉接器包括具有多個接觸銷之一介面平面,及具有多 個接觸絲之-平坦介面卡。各接觸销之—部分係與來自 或至測試台之預定電信號配合。該平坦介面卡具有構成與 孩介面平面耦合之一平坦表面,多個接觸襯墊係在該平坦 表面上,每一接觸襯墊係與該介面平面上各接觸銷之一配 合,是以當該平坦表面被牵動與該介面平面成匹配之對準 時,導電接觸即在多個接觸銷與配合之接觸襯墊間建立。 此測試轉接器亦包括至少一個用以使該介面卡與測試中單 位成導電耦合之連接器。在該介面卡上之導電軌跡則使該 連接器與各接觸襯塾_合。 在本發明之一更詳細特色中,一般性介面測試轉接器另 包括一介面框用以容納該介面平面,以及—壓力框,將介 面卡壓抵該介面平面。介面-框亦可包括一對卡片導件,此 對導件乃安裝於自第一框在垂直於該介面平面之方向上突 出並位於該介面平面相反兩端之四個可伸縮導具上,各卡 片導件協助介面卡與介面平面之對準。該介面框亦可包括 各滑動凸輪及用以啓動各滑動凸輪之一傳動裝置把手。相 似者,孩壓力框可包括具有與各滑動凸輪配合之角凸輪槽 之一凸輪從動板,各滑動凸輪與角凸輪槽被配置成於傳動 裝置把手在接合位置時,可使壓力框有充分之力量將介面 卡壓抵介面平面而提供多個接觸銷與配合之多個接觸襯墊 間之導電接觸。 > 在本發明之另一更明細特色中,各接觸銷包含以彈簧裝 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(21〇χ297公釐) ; ^ 裝-- (請先閱讀背面之注意事項f4寫本頁)
1T------^-----------I - I I 1 I — H— · 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 _________ B7_ 五、發明説明(4 ) ~ ' ' 載之金屬探針。此外,該介面平面可包松至少一個具有一 軸向中心導體及一同轴護套之射頻(rf)式接觸銷,以及該 電路卡組合件可包括用以與該射頻式接觸銷匹配之接觸襯 墊中之一同心對,及電耦合於接觸襯墊中僉同心對之一射 頻傳輸線路。 在本發明之另一特色中,受測試單位具有一個或數個連 接器,及該介面框亦容納一個或數個介面連接器,以接受 來自爻測試單位之連接器。此外,該介面平面具有與測試 台配合4第一多數接觸銷及與介面連接器配合之第二多數 接觸銷。又該介面平面乃適於與介面卡或可互換電路卡組 合件搭配俾將測試台導電耦合於介面連接器。 在本發明之一更詳細特色中,電路卡組合件包括與第一 多數之接觸銷匹配之第一多數接觸襯墊以及與第二多數之 接觸銷匹配之在該平坦表面上之第二多數接觸襯墊。此 外,電路卡组合件包括使第一多數接觸襯墊之選出接觸襯 墊與第二多數接觸襯墊之選出接觸襯墊耦合之導電軌跡, 是以當該平坦表面被牵動與介面平面成匹配之對準時,導 電接觸即在測試台與介面連接器間建立。 本發明之其他特色與優點可自下文中與附圖聯合之對較 佳實例之説明獲致明顯之瞭解,本案係以實例方式說明本 發明之原理》 ' 圖式之簡軍説明 所附各圖舉例説明本發明,在附圖中: 圖1爲提供一測試台與一受測試單位(υυτ)間之本發明 -7- ^氏張尺度逋用中國國家樣準(CNS〉Α4規格(21〇χ297公釐)------ t請先閱讀背面之注意事攻/,%寫本頁) 装· 312747 A7 B7 經濟部中央橾準局員工消費合作社印製 五、發明説明(5 ) 一般性介面測試轉接器之方塊圖β 圖2爲本發明之一般性介面測試轉接器之立體透視圖, 該轉接器具有一介面平面,一可互換之電路卡組合件及用 以將該卡片組合件壓抵該介面平面之—壓力框。 圖3爲圖1中之介面平面及可互換之電路卡組合件之立 體透視圖。 圖4Α爲圖3中在介面平面上彈簧裝載之接觸銷及在電路 卡組合件上之對應接觸襯墊之正視圖,部分係橫截面。 圖4Β爲圖3中在電路卡組合修上各接觸襯墊與互連軌跡 之平面圖。 圖5Α爲圖2中在介面平面上之彈簧裝載射頻同軸連接器 及在電路卡组合件上之對應同心接觸襯墊之正士圖,部分 係橫截面。 圖5B爲圖5A中之彈簧裝-載射頻同軸連接器及一對應之 同心接觸襯墊之透視圖。 圖5C爲圖5A中彈簧裝載射頻同軸連接器在其未壓縮狀 態之橫截面圖。 圖5D爲圖5A中彈簧裝載射頻同軸連接器之橫截面圖, 該同軸連接器以充分之力量對同心接觸襯墊施壓,以壓缩 彈簧。 . 圖6爲圖1中一般性介面測試轉接器之立-發遗視.後面 圖。 圖7爲經配置用於一受測試單位的系統位準測試之本發 明一般性介面測試轉接器之透視圖。 (請先閱讀背面之注意事項-T.填寫本頁) .裝· 訂 線 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2丨Ο X 297公釐) 312747 |五、發明説明(6 ) 圖8爲本發明之一般性介面轉接器經配置以 片位準之各單位用之立體透視圖。 "^ 圖9爲用於受測試單位的卡片位準測試之—現有可互換 測試轉接器之立體透視圖。 圖10爲用於受測試單位的卡片位準測試之另—現有可 互換測試轉接器之立體透視圖。 丝佳具體實例之詳細説明 現參閱附圖,特別是圖i與圖2,本發明係具體例示於 概以參考编號1 0指出之用以提供一測試台〗2與受測試單 位(UUT)14間導電介面之一般性介面測試轉接器。在此 種測試轉接器之獨特特徵中者爲—永久性配置之介面平面 16及一可互換之電路卡組合件18,可使該轉‘器僅以改 變可互換之電路卡組合件達成測試台與各種在機械及導電 上有區別之受測試單位之介·面接合。此種一般性介面測試 轉接器另包括一介面框20,該框容納介面平面16及_般 疋單位介面連接器22,並包括一壓力框24,保持電路卡 組合件抵住該介面平面。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 如圖3至5D中所示,介面平面16爲—平坦表面,具有 彈簧裝載之接觸銷26之五個不同場或區域或常稱爲釘床 之POGOS。通常每一接觸銷係與不同之電信號結合。第 一與第二區域2 8及3 0分別相當於測試台之測試儀表與測 試卡信號,第三區域3 2相當於測試台之高電流信號,第 四區域34相當於測試台之射頻信號,及第五區域%相當 於一般之受測試單位介面連接器22。在第—至第7區域中 本紙張U賴巾關家料(cnFT^^( 210x297·^-- 經濟部中央梯準局員工消費合作社印製 、發明説明(7 ) 之各接觸銷26係導電連接於測試台12,及在第五區域之 各接觸销係以導電方式連接於—般之受測試單位介面連接 器:設有充分數量之接觸銷(約5〇〇〇)故測試台與受測試 單位14間所需之每—電連接可通過該介面半面。 該可互換之電路卡組合件18包含—平坦之印刷線路板 或電路卡,具有相當於介面平面16之五個接觸銷區域之 五個接觸襯墊38區域。在電路卡組合件上之每一接觸襯 墊係置於與該介面平面上—對應接觸銷26對準及匹配之 處。孩電路卡另包括多層之印刷_線路或導電互連軌跡 40,用以導電連接各接觸襯墊 ' 該電路卡另包括無接觸 銷之一開放區域,以提供任何受測試單位特定電路4 2之 場所,上述之特定電路乃可能須設置用以測試二特定受測 試單位1 4者。 接觸銷26及接觸襯墊38在穩固之機械接觸中時提供介 面平面16與電路卡組合件18間之導電連接,就低頻信號 而言,在介面平面上之各接觸銷爲彈簧裝載之探針或 POGOS(圖4A)。一導線44連接於每一接觸銷之後部。在 電路卡组合件上之各對應接觸襯墊爲圓形鍍金襯整(圖 4 B ) 〇 對於射頻信號,各接觸銷爲特別之同軸彈簧裝載探針 46,用以介面連接來自一50歐姆同軸電纜之信號。此射 頻探針具有一軸向中心導體48及一同抽之護套50,均以 彈簧裝載,並於保持該電纜之阻抗時提供至接觸襯墊之導 電接觸。在射頻探針之後端設有一SMB連接器51 »適用 t紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) * ^ 私衣1T------^ (請先閲讀背面之注意事現/%寫本頁) 發明説明(8 (同軸彈簧裝載探針可自羅特島,w〇〇ns〇cket2TTl, Inc.獲得。 , 對應之射頻接觸襯墊52由同心之目標襯墊組成。在電 路卡组合件18上,射頻信號係由形成射磺傳輸線路之條 狀線路發送。適當之射頻匹配電路係在印刷電路板上形 成,以匹配該同軸電纜與對應之印刷電路板上條狀線路間 足阻抗。因爲電路卡組合件使用一多層之印刷電路板,可 使用接地平面,防護軌跡及其他典型之射頻設計結構作爲 孩電路卡組合件上射頻信號之麽路。可在信號線路間保持 另外之可比擬信號延遲因爲測試台12與受測試單位“間 之導線或導體長度係相對地予以限定,任何差異可由延長 或縮短電路卡组合件上之適宜導電軌跡40説明i。 介面框20(圖2)亦包括三組滑動凸輪52,與作爲壓力 ^4的一部分之—凸輪從動板5 6上之三组角槽5 4接合。 等凸輪平行於介面平面16滑動,並於與角槽接合時。 供將壓力框朝向介面框拉動之力β此壓力框有—開 65,上有可除去之蓋,用以提供至電路卡组合件之— 域之通路。 爲使電路卡組合件1 8裝入於一般之介面測試轉接 10,可將該電路卡组合件插入由四個拉動卡片導件並 彈簧裝載套管式導具60支持之一對卡片導件58中,因 該電路卡組合件抵住介面平面16。電路卡組合件使卡 導件向下滑動直至其到達由各導件底部之止動子62所限 定t預定位置爲止。在此位置,各接觸襯墊3 8係與對應 意 裝 框 此提 訂 〇 區 器由 而片 限 -11 - 本紙铁尺度適财ilg家標準(CNS) A4規格(2lQx297公慶 五 、發明説明( <各接觸銷28對準。一凸動傳動裝置把手或槓杆64係連 接於各凸輪,並供給使各凸輪滑動之機械利益,故電路卡 組合件乃以充分之壓力被拉抵該介面平面,以使彈簧裝载 之各接觸銷抵住各接觸襯墊》 在介面框2 0側邊上之一般之受測試單位連接器22爲零 插入力連接器66及同軸射頻連接器68。該一般之受測試 單位介面連接器中之所有導電接觸具有在第五接觸銷區域 3 6中之各對應接觸銷。因此在受測試單位介面連接器中 '之每一導電接觸可單獨連接至·配合測試台之區域28, 3〇,32及34中之任何接觸銷,木用之方法爲互連印刷電 路卡上之各適切接觸襯墊。 如圖6中所示,各接觸銷後部26與測試台12之連接器模 組間之導電連接可用帶狀電纜組合件7 0達成。另—方 式,至各接觸銷後部之導電-連接可由設置具有連接各接觸 銷之導線44之一連接器裝置72或設置直接加於介面平 ^部上之連接器74達成之。由於來自測試台之所有電 號均係可在介面平面處利用,無須再佈線於該介面平面, 測試一特殊之受測試單位。代替者,所有必需之“再佈線 乃於可互換之電路卡組合件爲特殊之受測試單位結構所 計時實施。現有之電腦輔助電路产設計及自動路由主具 用以設計電路卡組合件,及對於其他受測試單位之先存 計可於設計新電路卡組合件時利用現有設計而予以修正。 因此’本發明之可互換電路卡组合件之設計與製造係較使 用不同布線之現有測試轉接器之設計與製造遠爲簡單及成 訂 面 信 以 設 可 設 線 ;__ -12· 本纸張尺奴财關雜 五、發明説明(10) 本效率高。 圖7顯示一般性介面測試轉接器1〇,經予配置以經由在 介面框2〇側邊上較大之受測試單位介面連接器22之零插 入力連接器66實施在LRU式受測試單位14上之系統水準 測試。該受測試單位係以測試電纜76連接於各連接器。 測試台m般之受測試單位介面連接器間之所有連接 係經由介面平面丨6及電路卡組合件丨8完成。 如圖8中所示’僅將電路卡組合件18改變及移除恩力框 24中開σ78之蓋,—般性測試璉接器_容易重新配置 以測試-SRU式受測試單位或電路卡14。該则式電路 卡係由安裝於與接觸襯墊表面相對之電路卡组合件表面上 之邊緣連接器8G連接至該電路卡组合件。如屬需要,各 別之SRU式電路卡可使用—個以上之邊緣連接器及多工 電路予以同時測試a . 因此,一般性介面測試器1〇可使—測試台以僅以改變 可互換2路卡組合件18而測試各種不同受測試單位"中 之,任早位β又在測試台之證實測試可藉使用配置成“環 。(Loop 仏號之一電路卡組合件而迅易付諸 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 實施此外’電路切合件之處理與料乃遠較對現有各 系統之測試轉接器之處理與儲存,簡單。 . 雖然上文已揭示本發明之當前較佳具时例,所瞭解者 爲熟諳衣技藝之人士可對所示各較佳具體實例採取各種不 同〈改變而不背離本發明之範圍。本發明僅由下列之申請 專利範固界定之。 13- 本錄尺度適财gg家標準(CNS)

Claims (1)

  1. 六、申請專利範圍 ABCD 經濟部中夬標準局員工消費合作社印製 1· 一種用以提供一測試台與— 介面測試轉接器,包含: 單“,介面之-般姓 上平坦之介面平面’具有多個接觸銷,其中每 接觸銷係與來往於測試台之一 、 -實際上平坦之介面卡’、具有預h㈣配合;以及 -實質上平坦之表面,被配M成與該介面平 合, 在該平坦表面上之多個接觸襯塾,每—接觸襯墊乃 與各接觸狀一配合,俾於該平坦表面被帶動與該介 面平面成對準匹配時,即在多個接觸銷與配合之接觸 襯墊間建立導電接觸, 至少一個連接器,用以將該介面卡耦合‘受測試單 位,及 在该介面卡上之導電-軌跡,使該連接器與一或數個 預定之接觸襯墊耦合。 2. 根據申請專利範圍第〗項之一般性介面測試轉接器,另 包含: 一用以容納該介面平面之第一框;及 —壓力框,將介面卡I抵該介面平面β 3. 根據申請專利範圍第2項之一般性介面測試轉接器,其 中第一框另包括安裝於套管式^•具上自第一框突出於與 該;1面平面垂直之方向及在該介面平面之相反兩端之_ 對卡片導件,其中各卡片導件使該介面卡對準介面平 面。 -14 本紙伕尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X297公釐) I --- I I I- I HI - - m · •裝· (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ,*!. 3
    4.根據申請專利範圍第2項 中 I性介面測試轉接器,其 第-框包括各滑動凸輪及-用以啓動 動裝置把手;及 ^ W 壓力框包括各凸輪從動板,此等從動板具有與滑動凸 輪配合之角凸輪槽,俾使傳動裝置把手在接合位置時, 壓力框以充分之力量將介面卡壓抵介面平面,而提供多 個接觸銷與配合之多個接觸襯墊間之導電接觸。 5. 根據申請專利範圍第!項之一身性介面測試轉接器,其 中各接觸銷包含彈簧裝載之金屬j罙針。 6. 根據申請專利範圍第1項之—般性介面測試轉接器,其 中: , 該介面平面包括至少_個具有_軸向中心導體與一同 轴護套之射頻式接觸銷;及 該電路卡組合件包括與射頻接觸銷配合之接觸襯墊之 —同心對及電耦合於該同心對之接觸襯墊之一射頻傳輸 線路。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 7. 根據申請專利範圍第1項之一般性介面測試轉接器,其 中: 用以使該介面卡與受測試單位導電核合之至少一連接 器包括多個附加於該介面框之·導電連接器,及 孩介面平面包括導電耦合於多個導電連接器之一接觸 銷區域。 8·根據申請專利範圍第1項之一般性介面測試轉接器,其 __ -15- ( 210X297^1 A8 B8 C8 D8 申請專利範圍 中,觸銷乃與來自或發至測試台之每一電信號結合, 此種L號係測試台用以測試受測試單位所必需者。 9_二種一般性介面測試轉接器,使用一可互換之電路卡组 合件以提供—測試台與具有一連接器之受測試單位間之 介面者’包含: ^ 一介面框,該框容納 —用以接受來自受測試單位之連接器之__或數 接器, 两 —介面平面,具有與測試台結合之第-多數接觸销 及與該;丨面連接器結合之第七多數接觸銷,其中與該 介面平面係適於與可互換《電路卡配合以使測試台與 介面連接器成導電耦合。 - K)_根據申請專利範圍第9項之_般性介面測試轉接器,其 中可互換之電路卡組合片.包括: 經配置成與該介面平面耦合之一表面, 在及平坦表面上之與第—多數接觸銷配合之第—多數 接觸襯整及在該平坦表面上之與第二多數接觸襯塾配合 之第二多數接觸襯墊, .使第一多數接觸襯墊之選出接觸襯墊與第二多數接觸 襯整之選出#觸襯独合之各導電軌4,俾於該平坦表 面被拉動與該介面平坦成對準匹配時,即在測試台與介 面連接器間建立導電接觸。 11.根據申請專利範圍第10項之一般性介面測試轉接器,另 包含一壓力框,該框將電路卡組合件壓抵 裝--- (請先閎讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 ΐτ------線’--.-------- • HI 1 - 1 •16-
    、申請專利範圍 2·根據申4專利範圍第i i項之_般性介面測試轉接器,其 中: 、 介面框包括各滑動凸輪及用以致動各滑動凸輪之一傳 動裝置把手, 壓力框包括-凸輪從動板,具有與各滑動凸輪配合之 角凸輪槽,俾於該傳動裝置把手在接合之位£時,使壓 j框以充刀之力量將電路卡組合件壓抵該介面平面,而 1提供多個接觸銷與配合之多個接觸襯塾間之導電接觸。 根據申明專利範圍第9項之一毒性介面測試轉接器 14.根據中請專利範g第9項之—般性介面測試器,其中 ,介面平面包含至少一個具有一軸向中心導體及—同 轴護套之射頻式接觸銷;及 —電路卡組合件包括與I射頻接觸銷配合之接觸襯墊之 —同心對,及與該同心對之接觸襯墊成導電耦合之一射 頻傳輸線路。 —---------^--------玎------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 其 中各接觸銷含有彈簧裝載之金屬探針 經濟部中央標準局舅工消費合作社印製 S N C /_V 準 標 家 國 國 中 用 適 度 尺 張 紙
TW085115431A 1995-12-15 1996-12-13 TW312747B (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/573,026 US5793218A (en) 1995-12-15 1995-12-15 Generic interface test adapter

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW312747B true TW312747B (zh) 1997-08-11

Family

ID=24290357

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW085115431A TW312747B (zh) 1995-12-15 1996-12-13

Country Status (11)

Country Link
US (1) US5793218A (zh)
EP (1) EP0866977B1 (zh)
KR (1) KR100479136B1 (zh)
AU (1) AU7112896A (zh)
DE (1) DE69621152T2 (zh)
ES (1) ES2175129T3 (zh)
HK (1) HK1011223A1 (zh)
IN (1) IN189781B (zh)
PT (1) PT866977E (zh)
TW (1) TW312747B (zh)
WO (1) WO1997022886A1 (zh)

Families Citing this family (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6178255B1 (en) 1998-04-28 2001-01-23 Cross Match Technologies, Inc. Individualized fingerprint scanner
US6269319B1 (en) 1999-01-29 2001-07-31 The Mcdonnell Douglas Corporation Reconfigurable integration test station
US6272562B1 (en) * 1999-05-28 2001-08-07 Cross Match Technologies, Inc. Access control unit interface
US6239592B1 (en) * 1999-06-02 2001-05-29 Sun Microsystems, Inc. Test fixture with quick connect and release board interconnect mechanism
US6886104B1 (en) 1999-06-25 2005-04-26 Cross Match Technologies Rechargeable mobile hand-held fingerprint scanner with a data and power communication interface
US6744910B1 (en) 1999-06-25 2004-06-01 Cross Match Technologies, Inc. Hand-held fingerprint scanner with on-board image normalization data storage
US7162060B1 (en) 1999-08-09 2007-01-09 Cross Match Technologies Method, system, and computer program product for control of platen movement during a live scan
WO2001011550A1 (en) * 1999-08-09 2001-02-15 Cross Match Technologties, Inc. Method, system, and computer program product for a gui to fingerprint scanner interface
WO2001011544A1 (en) * 1999-08-09 2001-02-15 Cross Match Technologies, Inc. System and method for sending a packet with position address and line scan data over an interface cable
US6658164B1 (en) 1999-08-09 2003-12-02 Cross Match Technologies, Inc. Calibration and correction in a fingerprint scanner
US6483932B1 (en) * 1999-08-19 2002-11-19 Cross Match Technologies, Inc. Method and apparatus for rolled fingerprint capture
US6687391B1 (en) 1999-10-22 2004-02-03 Cross Match Technologies, Inc. Adjustable, rotatable finger guide in a tenprint scanner with movable prism platen
AU2001222942A1 (en) * 2000-08-18 2002-03-04 Cross Match Technologies, Inc. Fingerprint scanner auto-capture system and method
US6611152B1 (en) 2000-10-31 2003-08-26 The Boeing Company Test adapter for configuring the electrical communication between a unit under test and an electronic test station and associated separator plate
TW561263B (en) * 2001-03-10 2003-11-11 Samsung Electronics Co Ltd Parallel test board used in testing semiconductor memory devices
US6504730B1 (en) * 2001-07-23 2003-01-07 Hamilton Sundstrand Corporation Serviceable power modules for a power distribution assembly
US6841990B2 (en) * 2001-10-31 2005-01-11 Agilent Technologies, Inc. Mechanical interface for rapid replacement of RF fixture components
US6954260B2 (en) 2002-01-17 2005-10-11 Cross Match Technologies, Inc. Systems and methods for illuminating a platen in a print scanner
US7308122B2 (en) 2002-01-17 2007-12-11 Cross Match Technologies, Inc. Biometric imaging system and method
JP2003307552A (ja) * 2002-04-17 2003-10-31 Tokyo Electron Ltd 信号検出用接触体及び信号校正装置
AU2003254280A1 (en) * 2002-08-02 2004-02-23 Cross Match Technologies, Inc. System and method for counting ridges in a captured print image
US6906544B1 (en) * 2003-02-14 2005-06-14 Cisco Technology, Inc. Methods and apparatus for testing a circuit board using a surface mountable adaptor
US7164440B2 (en) * 2003-02-28 2007-01-16 Cross Match Technologies, Inc. Dynamic image adaptation method for adjusting the quality of digital prints
WO2004090561A1 (ja) * 2003-04-04 2004-10-21 Advantest Corporation 接続ユニット、テストヘッド、および試験装置
US7082676B2 (en) * 2003-08-05 2006-08-01 Qualitau, Inc. Electrostatic discharge (ESD) tool for electronic device under test (DUT) boards
US20050047631A1 (en) * 2003-08-26 2005-03-03 Cross Match Technologies, Inc. Method and apparatus for rolled fingerprint image capture with variable blending
TWI273248B (en) 2006-01-26 2007-02-11 Au Optronics Corp Universal probing apparatus for TFT array test
WO2008128286A1 (en) * 2007-04-18 2008-10-30 Tiip Pty Ltd Test instrument enclosure
US20080295090A1 (en) * 2007-05-24 2008-11-27 Lockheed Martin Corporation Software configuration manager
US7866784B2 (en) * 2008-08-19 2011-01-11 Silverbrook Research Pty Ltd Diagnostic probe assembly for printhead integrated circuitry
DE102012103893A1 (de) * 2012-05-03 2013-11-07 Turbodynamics Gmbh Modul zum Austauschen einer Schnittstelleneinheit in einem Testsystem zum Testen von Halbleiterelementen und Testsystem mit einem solchen Modul
FR2996367B1 (fr) 2012-10-01 2014-10-03 Airbus Operations Sas Systeme de connexion pour connecter un equipement electronique, en particulier pour aeronef, a une unite de test.
CN106324460B (zh) * 2016-11-08 2024-03-22 沈小晴 一种可换针盘式通用测试机构
CN107608842B (zh) * 2017-10-31 2023-11-21 江苏特创科技有限公司 一种接口测试组件及接口测试装置
KR102107111B1 (ko) 2019-09-19 2020-05-06 한화시스템 주식회사 Lru 결합형 sru 시험 장치 및 방법
KR102466483B1 (ko) * 2021-12-20 2022-11-11 한화시스템 주식회사 다중 신호를 사용하는 sru를 위한 시험 장치 및 방법
CN116027124A (zh) * 2022-10-21 2023-04-28 深圳市朗科智能电气股份有限公司 一种可拆式模块化测试平台

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3654585A (en) * 1970-03-11 1972-04-04 Brooks Research And Mfg Inc Coordinate conversion for the testing of printed circuit boards
US3751649A (en) * 1971-05-17 1973-08-07 Marcrodata Co Memory system exerciser
US3854125A (en) * 1971-06-15 1974-12-10 Instrumentation Engineering Automated diagnostic testing system
CA1038042A (en) * 1975-03-03 1978-09-05 Motorola Programmable probe fixture and method of connecting units under test with test equipment
US4352061A (en) * 1979-05-24 1982-09-28 Fairchild Camera & Instrument Corp. Universal test fixture employing interchangeable wired personalizers
US4354268A (en) * 1980-04-03 1982-10-12 Santek, Inc. Intelligent test head for automatic test system
DE3013215A1 (de) * 1980-04-03 1981-10-15 Luther & Maelzer Gmbh, 3050 Wunstorf Adapter fuer ein selbstprogrammierbares leiterplattenpruefgeraet
US4402055A (en) * 1981-01-27 1983-08-30 Westinghouse Electric Corp. Automatic test system utilizing interchangeable test devices
DE3116079A1 (de) * 1981-04-23 1982-11-11 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Pruefsystem
EP0115135A1 (en) * 1982-12-27 1984-08-08 Genrad, Inc. Electrical test fixture for printed circuit boards and the like
US4590581A (en) * 1983-05-09 1986-05-20 Valid Logic Systems, Inc. Method and apparatus for modeling systems of complex circuits
US4551675A (en) * 1983-12-19 1985-11-05 Ncr Corporation Apparatus for testing printed circuit boards
DK291184D0 (da) * 1984-06-13 1984-06-13 Boeegh Petersen Allan Fremgangsmaade og indretning til test af kredsloebsplader
JPS6125263A (ja) * 1984-07-13 1986-02-04 Sony Corp 電子機器制御システム
US4724383A (en) * 1985-05-03 1988-02-09 Testsystems, Inc. PC board test fixture
US4899306A (en) * 1985-08-26 1990-02-06 American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories Test interface circuit which generates different interface control signals for different target computers responding to control signals from host computer
US4716500A (en) * 1985-10-18 1987-12-29 Tektronix, Inc. Probe cable assembly
US4718064A (en) * 1986-02-28 1988-01-05 Western Digital Corporation Automatic test system
US4901259A (en) * 1988-08-15 1990-02-13 Lsi Logic Corporation Asic emulator
US5291129A (en) * 1988-10-24 1994-03-01 Nhk Spring Co., Ltd. Contact probe
CN1045655A (zh) * 1988-11-23 1990-09-26 约翰弗兰克制造公司 系统自动诊断的内核测试接口和方法
US5036479A (en) * 1989-04-20 1991-07-30 Trw Inc. Modular automated avionics test system
US5058110A (en) * 1989-05-03 1991-10-15 Ultra Network Technologies Protocol processor
NL9001478A (nl) * 1990-06-28 1992-01-16 Philips Nv Testinrichting voor electrische schakelingen op panelen.
US5103378A (en) * 1990-09-21 1992-04-07 Virginia Panel Corporation Hinged interlocking receiver for mainframe card cage
US5196789A (en) * 1991-01-28 1993-03-23 Golden Joseph R Coaxial spring contact probe
US5218302A (en) * 1991-02-06 1993-06-08 Sun Electric Corporation Interface for coupling an analyzer to a distributorless ignition system
US5223788A (en) * 1991-09-12 1993-06-29 Grumman Aerospace Corporation Functional avionic core tester
US5357519A (en) * 1991-10-03 1994-10-18 Apple Computer, Inc. Diagnostic system
US5175493A (en) * 1991-10-11 1992-12-29 Interconnect Devices, Inc. Shielded electrical contact spring probe assembly
US5406199A (en) * 1993-07-28 1995-04-11 At&T Corp. Test fixture carrying a channel card for logic level translation

Also Published As

Publication number Publication date
AU7112896A (en) 1997-07-14
HK1011223A1 (en) 1999-07-09
DE69621152D1 (de) 2002-06-13
IN189781B (zh) 2003-04-19
ES2175129T3 (es) 2002-11-16
KR100479136B1 (ko) 2005-05-16
KR20000064402A (ko) 2000-11-06
DE69621152T2 (de) 2003-01-02
EP0866977B1 (en) 2002-05-08
EP0866977A1 (en) 1998-09-30
WO1997022886A1 (en) 1997-06-26
PT866977E (pt) 2002-09-30
US5793218A (en) 1998-08-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW312747B (zh)
TW521151B (en) Pin block structure for mounting contact pins
US7503768B2 (en) High frequency connector assembly
US6611147B2 (en) Apparatus with interchangeable modules for measuring characteristics of cables and networks
EP0829728B1 (en) Rapid action engagement interface connection system and method
CN208432644U (zh) 测试探针
US4632485A (en) Electrical circuit testing apparatus
TW403836B (en) Tdr tester for X-Y prober
JPS6324171A (ja) 集積回路部品動作検査装置
US7371093B1 (en) ZIF connection accessory and ZIF browser for an electronic probe
TWI359535B (en) Zif connectors and semiconductor testing device an
WO2019000975A1 (zh) 一种电测治具
TW200402536A (en) Deskew fixture
JP2005032699A (ja) 電気相互接続装置
TWI250284B (en) Contactor probe and electric probe unit
CN208352559U (zh) 一种测试排线
CN109840170B (zh) Pcie信号量测电路
EP2876739B1 (en) High performance liga spring interconnect system for probing application
CN220327446U (zh) 探头模组
CN211122929U (zh) 一种电脑主板接口多功能测试浮动侧插装置
CN218331637U (zh) 一种紧凑型压合测试机构
TWI807726B (zh) 轉接測試板和顯卡測試裝置
US20210263073A1 (en) Test Probe Adapter
EP2876738B1 (en) High performance multiport connector system using liga springs
CN2153805Y (zh) 微型信号探测头