KR100271626B1 - 비트라인 센스앰프의 오버드라이빙방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (2)
- 메모리셀(11)의 상하에 센스앰프부(12),(13)가 배치되고, 각 센스앰프부(12),(13)의 양단에 오버드라이브펄스에 따라 센스앰프를 구동하는 센스앰프 드라이버(14-17)가 배치된 반도체 메모리구조에 있어서, 데이터의 리드동작과 라이트동작시, 센스앰프의 인에이블시점과 디스에이블시점에서 각각 오버드라이빙 펄스를 발생한 후, 오버드라이빙 펄스구간동안 오버드라이빙 전압으로 상기 센스앰프를 구동하여, 비트라인의 데이터를 풀스윙레벨에 도달시키는 것을 특징으로 하는 비트라인 센스앰프의 오버드라이빙방법.
- 제1항에 있어서, 오버드라이빙 펄스는 센스앰프인에이블신호를 근거로 발생되는 것을 특징으로 하는 비트라인 센스앰프의 오버드라이빙방법.
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KR100571648B1 (ko) * | 2005-03-31 | 2006-04-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 소자의 오버 드라이버 제어신호 생성회로 |
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JP5630335B2 (ja) * | 2011-03-08 | 2014-11-26 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 半導体記憶装置 |
KR102259905B1 (ko) * | 2014-12-08 | 2021-06-03 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 메모리 장치 |
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Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5477498A (en) * | 1993-02-25 | 1995-12-19 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor memory device |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5404327A (en) * | 1988-06-30 | 1995-04-04 | Texas Instruments Incorporated | Memory device with end of cycle precharge utilizing write signal and data transition detectors |
KR0158111B1 (ko) * | 1995-07-06 | 1999-02-01 | 김광호 | 반도체 메모리 장치의 센스앰프 제어회로 |
US5561630A (en) * | 1995-09-28 | 1996-10-01 | International Business Machines Coporation | Data sense circuit for dynamic random access memories |
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---|---|---|---|---|
US5477498A (en) * | 1993-02-25 | 1995-12-19 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor memory device |
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