KR100206638B1 - 수치제어장치 - Google Patents

수치제어장치 Download PDF

Info

Publication number
KR100206638B1
KR100206638B1 KR1019910002757A KR910002757A KR100206638B1 KR 100206638 B1 KR100206638 B1 KR 100206638B1 KR 1019910002757 A KR1019910002757 A KR 1019910002757A KR 910002757 A KR910002757 A KR 910002757A KR 100206638 B1 KR100206638 B1 KR 100206638B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
data
input
sizing
numerical control
control device
Prior art date
Application number
KR1019910002757A
Other languages
English (en)
Other versions
KR920000021A (ko
Inventor
요네다다까오
야마모또후미오
사까끼바라야스지
아리모또나오끼
요시다요지
반노지사도
Original Assignee
오니시 다다시
도요다고키가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP4198290A external-priority patent/JP2880551B2/ja
Priority claimed from JP7404690A external-priority patent/JPH03273403A/ja
Priority claimed from JP7915890A external-priority patent/JP2883671B2/ja
Application filed by 오니시 다다시, 도요다고키가부시키가이샤 filed Critical 오니시 다다시
Publication of KR920000021A publication Critical patent/KR920000021A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100206638B1 publication Critical patent/KR100206638B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00—Programme-control systems
    • G05B19/02—Programme-control systems electric
    • G05B19/18—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00—Programme-control systems
    • G05B19/02—Programme-control systems electric
    • G05B19/18—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
    • G05B19/408—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by data handling or data format, e.g. reading, buffering or conversion of data
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00—Programme-control systems
    • G05B19/02—Programme-control systems electric
    • G05B19/18—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
    • G05B19/416—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by control of velocity, acceleration or deceleration
    • G05B19/4166—Controlling feed or in-feed
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00—Program-control systems
    • G05B2219/30—Nc systems
    • G05B2219/33—Director till display
    • G05B2219/33268—D-A, A-D
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00—Program-control systems
    • G05B2219/30—Nc systems
    • G05B2219/35—Nc in input of data, input till input file format
    • G05B2219/35312—Display working state, process
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00—Program-control systems
    • G05B2219/30—Nc systems
    • G05B2219/37—Measurements
    • G05B2219/37345—Dimension of workpiece, diameter
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00—Program-control systems
    • G05B2219/30—Nc systems
    • G05B2219/37—Measurements
    • G05B2219/37617—Tolerance of form, shape or position
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00—Program-control systems
    • G05B2219/30—Nc systems
    • G05B2219/41—Servomotor, servo controller till figures
    • G05B2219/41362—Registration, display of servo error

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Numerical Control (AREA)

Abstract

본원 발명의 연삭기의 수치 제어장치는 하나의 기준 사이징 포인트가 수치제어프로그램의 내용에 따라 선택되고, 공작물의 직경을 나타내는 측정 아날로그 데이터는 가공된 공작물의 크기가 선택된 기준 사이징 포인트와 일치되는지를 판정하기 위해 연속적으로 입력되며, 가공된 공작물의 크기와 기준 사이징 포인트의 일치에 따라 사이징 신호가 공급된 다음, 가공제어가 사이징 신호에 응답하여 변경되고, 측정장치에 의해 공급되는 아날로그 신호는 소정 시간의 소정 간격에서 샘플링되고, 아날로그 신호는 이 아날로그 신호가 연삭기의 온도변화나 진동에 의거하여 결정되는 소정의 범위인지를 알기 위해 테스트되며, 그 테스트의 결과가 측정장치의 출력특성의 점검이 용이해지도록 표시되며, 상기 아날로그 신호는 소정치와 비교되어, 그 비교결과가 소정 기준치와 함께 표시된다.

Description

수치 제어장치
제1도는 본 발명의 제1실시예의 사이징 기능을 가진 수치 제어장치와 결합되는 연삭기의 블록도.
제2도는 제1도의 수치 제어장치의 전기적 구성의 블록도.
제3도, 제4도 및 제5도는 제2도의 수치 제어장치에 포함된 메인 CPU에 의해 실행되는 과정의 플로차트.
제6도는 제2도의 수치 제어장치에 의해 실행되는 수치제어(NC) 프로그램의 일 예의 도면.
제7도는 본 발명의 제2실시예의 수치 제어장치의 전기적 구성의 블록도.
제8도 및 제9도는 제7도의 수치 제어장치에 포함된 CUP에 의해 실행되는 과정의 플로차트.
제10도는 제1도의 수치 제어장치에 포함된 CRT 상에 표시된 샘플링 결과의 일 실시예의 도면.
제11도는 본 발명의 제3실시예의 수치 제어장치의 전기적 구성의 블록도.
제12도 및 제13도는 제11도의 수치 제어장치에 포함된 CUP에 의해 실행되는 절차의 플로차트.
제14a도는 제11도의 수치 제어장치에 접속된 CRT의 표시 스크린 상에 표시된 아날로그 장치 A*에 대한 기준레벨(포인트)과 측정치와의 관계도.
제14b도는 제14a도에 도시된 아날로그 장치 A*에 대한 표시 스크린 상에 세팅하기 위한 기준레벨에 대응하는 마크와 구체적인 지령 데이터의 도면.
제15도는 제11도의 수치 제어장치에 접속된 CRT 표시 스크린의 설명을 위한 복수의 아날로그 장치에 대한 측정치와 기준레벨에 관한 정보의 도면.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 베드 11 : 테이블
12 : 주축대 13 : 주축
14 : 서보모터 15 : 테일스톡
30 : 수치 제어장치 31 : 메인 CUP
32 : ROM 33 : RAM
34 : 입·출력인터페이스 39 : 시퀀스제어장치
42 : 테이프리더 43 : 키보드
44 : CRT 50 : 측정장치
53 : 증폭기 60 : D/A 콘버터
본 발명은 아날로그 장치에 의해 공급된 아날로그 신호를 처리할 수 있는 수치 제어장치(NC)에 관한 것으로, 특히 사이징 수단(sizing means)을 가지면서 외경 측정장치의 아날로그 출력신호에 따라 공작물의 직경을 체크할 수 있는 수치 제어에 관한 것이다.
종래의 수치 제어장치는 어떠한 사이징 기능도 갖고 있지 않으며, 그러한 수치 제어장치가 사이징 기능을 행할 수 있도록 하기 위해서는 별도의 사이징 장치가 시퀀스 제어장치를 통하여 수치 제어장치에 접속된다. 이러한 사이징 장치는 복수의 기준 사이징 포인트 즉 사이징 신호의 레벨이 변화되는 포인트에 대한 데이터를 기억하고, 시퀀스 제어장치를 통해 사이징 신호 즉 2진 신호레벨의 온·오프 신호를 수치 제어장치에 인가하여 수치 제어장치의 동작을 변경시키게 된다. 따라서, 사이징 기능은 수치 제어장치에 사이징 장치와 시퀀스 제어장치를 부가적으로 제공함으로써 가능하게 된다.
따라서, 종래의 제어장치는 수치 제어장치의 조작패널을 이용하여 기준 사이징 포인트를 조정하거나 변경할 수 없다는 단점이 있다. 즉, 사이징 장치의 조작패널은 기준 사이징 포인트를 조정하도록 조작해야만 되고, 사이징 장치에 의해 시퀀스 제어장치를 통해 수치 제어장치에 인가되는 사이징 신호는 아날로그 신호가 아니고 온·오프 신호이므로 수치 제어장치는 사이징 장치에 의해 측정된 순간 직경치에 따른 실시간 제어동작을 행할 수 없게 된다.
한편, 사이징 장치의 측정헤드와 증폭기는 보통 적재하기에 앞서 온도변화 또는 기계적인 진동 등과 같은 외부적인 장애에 대해 사이징 장치의 측정헤드와 증폭기의 특성 의존성을 체크한다. 이러한 체크 동작은 특수한 측정기구를 사이징 장치의 측정헤드와 증폭기에 연결하여 행한다.
따라서, 별도의 측정장치가 수치 제어장치에 대해 독립적인 사이징 장치의 특성체크 및 확인시 사이징 장치의 각 기능 구성 유니트에 접속되어야만 되므로 특성 체크를 위한 번거로운 작업이 요구되고, 사이징 장치의 출력은 수치적으로 제어되는 기계공구의 동작조건에 관계없이 측정되므로 기계공구가 수치 제어장치의 제어 및 사이징 장치에 대해 열과 기계적인 진동이 가해지는 상태 하에서 수치 제어장치에 결합된 사이징 장치의 출력 특성을 평가하는 것은 불가능하게 된다.
한편, 공작물의 직경을 측정하기 위한 측정장치와 같은 사이징 장치에 의해 주어진 아날로그 신호의 레벨에 따른 가공처리를 변경 및 선택할 수 있는 어떠한 수치 제어장치도 제공되어 있지 않다. 사이징 장치는 시퀀스 제어장치를 통하여 수치 제어장치에 접속된다. 사이징 장치는 아날로그 신호의 레벨을 기준 신호 레벨과 비교함으로써 아날로그 신호를 2진 신호레벨을 갖는 온·오프 신호로 변환하여 그 온·오프 신호를 시퀀스 제어장치를 통하여 수치 제어장치에 출력한다. 상기 수치 제어장치와 이 수치 제어장치에 대해 독립적인 사이징 장치는 각각 독립적인 조작패널을 구비한다.
따라서, 사이징 장치의 조정, 기준 신호레벨을 나타내는 지령치의 세팅 및 세팅된 기준포인트(기준레벨)수의 변화는 사이징 장치의 조작 패널을 조작해야만 달성될 수 있다. 사이징 장치 외에 복수의 아날로그 장치가 채용되는 경우 데이터는 독립적으로 장치된 개별적인 아날로그 장치의 조작패널 상에서 독출해야만 되므로 작업의 용이성이 더욱 떨어진다.
본 발명은 상기한 문제점들을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 제1목적은 측정된 아날로그 신호를 직접 입력할 수 있는 수치 제어장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 제2목적은 가공중 연속적으로 측정되는 공작물의 직경을 나타내는 레벨의 신호를 아날로그 측정신호에 기초하여 가공동작을 제어할 수 있는 수치 제어장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 제3목적은 기준 사이징 포인트를 직접 용이하게 변경할 수 있는 수치 제어장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 제4목적은 측정장치로부터 아날로그 신호를 직접 입력할 수 있으면서 실제 가공 동작 중 온도와 기계적인 진동에 대해 측정장치의 출력 특성의 의존성을 신속하게 체크 및 확인할 수 있는 제어장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 제5목적은 아날로그 장치에 의해 제공되는 아날로그 신호를 직접 입력할 수 있으면서 CRT의 표시와 같은 하나의 표시로 복수의 아날로그 장치의 모든 출력 데이터를 표시할 수 있는 수치 제어장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 제1특징을 갖는 수치 제어장치에 있어서, 데이터 입력수단은 공작물의 치수를 측정함으로써 얻어진 측정된 아날로그 데이터를 입력하여 그 측정된 아날로그 데이터에 대응하는 측정 디지털 데이터로 변환하며, 사이징 신호 발생 수단은 데이터 입력수단에 의해 제공된 측정된 디지털 데이터와 기준 사이징 포인트의 값과 일치하는 경우 사이징 신호를 공급하고, 제어수단은 사이징 신호 발생수단에 의해 제공된 사이징 신호에 응답하여 수치 제어장치의 내용을 변경한다.
따라서, 본 발명의 제1특징을 갖는 수치 제어장치는 측정장치로부터 측정데이터를 직접 입력할 수 있으며, 측정 데이터를 기초로 가공모드를 제어할 수 있다.
본 발명의 제2특징을 갖는 수치 제어장치에 있어서, 데어터 입력수단에 의해 주어진 측정 데이터가 샘플링 동작 중에 소정의 샘플링 주기로 주기적으로 제공된다. 데이터 테스트수단은 측정 데이터가 온도 변화 또는 기계적인 진동에 기인하는 변동에 대한 허용치를 고려함으로써 연산되는 범위의 상한치와 하한치 사이에 포함되는지를 결정하고 이 허용치는 허용치 기억수단에 기억된다. 데이터 출력수단은 테스트된 측정 데이터를 표시한다.
따라서, 이 수치 제어장치는 측정장치로부터 측정된 아날로그 데이터를 직접 입력할 수 있으며, 측정장치를 수치 제어장치에 접속한 다음 온도 및 기계적인 진동에 대한 측정장치의 출력 특성 의존성을 체크 및 확인할 수 있다. 그러므로, 측정장치가 기계적인 제어장치와 접속되어 있는 상태에서 측정장치의 출력 특성은 신속하게 평가될 수 있으므로, 측정 시스템의 주기적인 점검이 용이하게 된다.
본 발명의 제3특징을 갖는 수치 제어장치에 있어서, 데이터 입력수단은 아날로그 장치에 의해 인가되는 아날로그 신호를 입력하여, 그 아날로그 신호를 디지털 데이터로 변환하고, 데이터 평가수단은 입력 데이터와 기준레벨을 나타내는 소정의 지령 데이터를 비교한다. 데이터 표시수단은 입력 데이터와 기준레벨 간의 관계를 비교결과와 함께 표시한다.
따라서, 본 발명의 제3특징을 갖는 수치 제어장치는 그 수치 제어장치에 접속된 CRT와 같은 표시장치를 제공할 수 있고, 아날로그 장치로부터 출력된 전체 출력 데이터를 하나의 스크린 상에 표시하여 표시가 신속하게 인식 가능하게 되는 것은 물론 액세스 가능하게 이루어질 수 있다.
다음에, 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명한다.
[제1실시예]
1. 수치제어(NC) 연삭기의 일반구조
제1도에 있어서, 연삭기는 베드(10)와 이 베드(10)상에서 슬라이드 작동하기 위해 장착된 테이블(11)을 갖추고 있고, 이 테이블(11)상에는 주축(13)을 지지하는 주축대(12)가 장착되어 있으며, 서보모토(14)가 상기 주축(13)을 회전시킨다. 또, 상기 테이블(11)의 우측단에는 테일스톡(tailstock)(15)이 장착되고, 테일스톡(15)의 센터(16)와 주축(13)의 센터(17) 사이에 공작물(W)을 지지하고, 공작물(W)은 회전시 주축(13)과 일치된 상태로(in phase) 놓이도록 상기 주축(13)으로부터 돌출된 위치결정핀(18)에 의해 고정된다.
베드(10)의 후방에는 공작물(W)에 대해 진퇴가능한 휠슬라이드(wheel slide)(20)가 안내되고, 휠슬라이드(20) 상에 지지된 연삭휠(G)은 모터(21)에 의해 회전된다. 도시되지 않은 이송 나사에 의해 상기 휠슬라이드(20)에 동작 가능하게 연결된 서보모터(23)는 정·역회전에 의해 제어되어 공작물(W)에 대해 휠슬라이드(20)를 전진 및 후퇴하도록 이동시킨다.
상기 공작물(W)의 직경을 측정하기 위한 측정장치(50)는 베드(10)의 전방에 배치되어 있다.
상기 측정징치(50)는 제2도에 도시된 바와 같이 주요 구성요소로서 1쌍의 접촉자(51), 차동트랜스(52) 및 증폭기(53)를 포함한다. 상기 공작물(W)의 직경측정시 1쌍의 접촉자(51) 사이의 간격은 공작물(W)의 직경 변화에 따라 가변되고, 측정장치(50)의 증폭기(53)는 상기 1쌍의 접촉자(51)에 대해 측정된 아날로그 신호를 증폭하여, 그 측정된 아날로그 신호를 수치 제어장치(30)에 출력한다. 증폭기(53)의 출력은 소정의 초기 거리로부터 1쌍의 접촉자(51) 사이의 거리 변화를 나타낸다.
구동장치(40, 41)는 상기 수치 제어장치(30)에 의해 제공되는 지령펄스에 의해 제어되어 각각 서보모터(23, 14)를 구동한다.
상기 수치 제어장치(30)는 공작물(W)을 연삭하기 위한 동작을 제어하도록 서보모터(14, 23)를 동기적으로 제어하며, 이 수치 제어장치(30)에는 가공 사이클 데이터를 입력하기 위한 테이프리더(42)와, 제어 데이터 등을 입력하기 위한 조작패널 상의 키보드(43), 및 정보를 표시하기 위한 CRT(44)가 접속된다.
2. 수치 제어장치의 구성
제2도는 수치 제어장치(30)의 전기적 구성의 블록도이다.
수치 제어장치(30)는 주요 구성요소로서 연삭기를 제어하는 메인 CUP(31), 제어 프로그램을 기억하는 ROM(32), 데이터를 기억하는 RAM(33), 입·출력 인터페이스(34), 및 데이터 입력수단인 A/D 콘버터(38)를 포함한다.
상기 A/D 콘버터(38)는 메인 CPU(31)에 접속되어 상기 측정장치(50)에 의해 제공되는 측정된 아날로그 신호를 그에 비례하는 디지털 데이터로 변환하고 그 디지털 데이터를 메인 CPU(31)에 입력한다. 메인 CPU(31)는 2진 신호레벨의 사이징 신호를 I/O포트를 통하여 시퀀스 제어장치(39)에 인가한다.
RAM(33)은 수치제어(NC) 데이터 기억영역(331), 마스터 데이터 기억영역(332), 원점위치 기억영역(333), 측정된 절대위치 기억영역(334), 및 목표 사이즈 데이터 기억영역(335)을 가지며, 상기 NC 데이터 기억영역(331)은 NC 데이터를 기억하고, 상기 마스터 데이터 기억영역(332)은 마스터 데이터(Ms) 즉 마스터피스(WM)의 절대치를 기억한다. 원점위치 기억영역(333)은 원점위치(MO) 즉 측정장치(50)의 측정범위에서 원점의 절대위치를 기억하고, 상기 측정장치(50)의 출력은 원점위치(MO)로부터의 편차를 나타낸다. 따라서, 원점위치(MO)는 마스터피스(WM)가 측정장치(50)에 의해 측정될 때 측정장치(50)로부터 출력되는 측정된 마스트피스(WM)를 마스터 데이터(MS)로부터 감산함으로써 얻어진다. 상기 측정장치(50)의 출력이 0인 경우 공작물의 측정된 직경은 원점위치(MO)로 나타낸 기준치와 동일하게 된다.
측정 절대위치 기억영역(334)은 원점위치(MO)와 공작물(W)의 측정데이터(MW) 즉 원점위치(MO)로부터의 편차를 가산함으로서 얻어진 공작물(W)의 측정 절대위치(AW)를 기억하고, 목표 사이즈 데이터 기억영역(335)은 기준 사이징 포인트에 대한 기준치로서 목표사이즈(S1, . . . ,Sn)를 기억한다. 측정 절대 데이터(AW)의 일치성 즉 목표 사이즈(S1, . . . ,Sn기준 사이징 포인트)인 공작물(W)의 측정된 치수에 따라 각 사이징 신호가 생성된다.
수치 제어장치(30)는 구동장치(40, 41)를 통해 서보모터(14, 23)를 구동하기 위해 구동 CPU(36)와 RAM(35), 및 펄스 분배회로(37)로 구성된 구동 시스템을 구비하고 있다.
RAM(35)은 메인 CPU(31)로부터 연삭휠(G)의 위치를 결정하기 위한 위치 결정 데이터를 입력하고, 상기 구동 CPU(36)는 연삭휠(G)의 이동을 슬로우업 및 슬로우다운시키는 동작과 목표 포인트에 도달하는 경로에서 보간 포인트를 결정하기 위한 동작을 행하게 되며, 구동 CPU(36)는 보간된 포인트의 위치 데이터를 주기적으로 제공하고, 펄스 분배회로(37)는 구동장치(40, 41)로 이동 지령펄스를 제공한다.
3. 수치 제어장치의 동작
제3도, 제4도 및 제5도는 수치 제어장치(30)의 메인 CPU(31)에 의해 실행되는 과정의 플로차트로, 제3도, 제4도 및 제5도에 도시된 플로차트에 대해서는 수치 제어장치(30)의 RAM(33)의 NC 데이터 기억영역(331)에 기억된 NC 프로그램을 나타내는 제6도를 참조하여 설명한다.
먼저, 제3도에 도시된 마스터피스 측정 프로그램이 실행되며, 마스터피스 측정 프로그램의 실행에 앞서 마스터피스(WM)는 1쌍의 센터(16,17) 사이에 세트되고, 측정장치(50)의 1쌍의 접촉자(51)는 측정 장치의 접촉자(51)가 마스터피스와 결합되도록 전진한다.
스텝(100)에서 마스터데이터(MS) 즉 마이터피스(WM)의 절대치는 키보드(43)를 조작함으로써 입력되고, 스텝(102)에서 마스터 데이터(MS)가 RAM(33)의 마스터 데이터 기억영역(332)에 기억된다.
이어서, 스텝(104)에서 수치 제어장치(30)는 측정장치(50)로부터 마스터피스(WM)의 측정된 마스터 데이터(MM)를 독출한다.
스텝(106)에서 측정장치(50)의 측정범위 내의 원점위치(MO) 즉 1쌍의 접촉자(51) 사이의 초기 간극 또는 거리를 다음 식을 이용하여 연산한다.
MO= MS- MM
스텝(108)에서는 스텝(106)에서 연산된 원점위치(MO)가 원점위치 기억영역(333)에 기억되고, 이어서 프로그램이 종료된다.
연속해서, 제4도에 도시된 가공프로그램이 실행되며, 스텝(200)에서 공작물의 기준직경을 나타내며, 목표 사이즈 데이터 기억영역(335)에 미리 기억된 기준 사이징 포인트로서 목표사이즈(S1, . . . ,Sn)가 독출된다.
스텝(202)에서 RAM(33)의 NC 데이터 기억영역(331)에 기억된 NC 프로그램 중 하나의 블록이 독출된다.
스텝(204)에서는 스텝(202)에서 독출된 NC 프로그램의 블록이 지령(MO7) 즉 사이징에 대한 가공 명령(사이징 가공 명령)을 가지고 있는지 판정한다. 만일 지령(MO7)을 갖는 블록 N**1(제6도)이 스텝(202)에서 독출되면 스텝(204)에서의 응답이 긍정으로 되어 스텝(206)이 실행된다. 이 스텝(206)에서 사이징 기계가공 플래그(Fp)가 세트된 다음, 프로그램은 후속블록 N**2을 독출하기 위해 스텝(202)으로 복귀한다.
블록 N**2은 지령(MO7)을 가지고 있지 않으므로 스텝(204)에서의 응답은 부정으로 되고, 프로그램은 스텝(208)으로 진행한다. 이 스텝(208)에서는 블록N**2이 이동지령(GO1)을 가지고 있는지 판정한다. 블록 N**2은 이동지령(GO1)을 가지고 있으므로 응답은 긍정으로 되고, 이어서 스텝(210)에서는 사이징 기계 가공 플래그(Fp)가 세트되었는지를 판정한다. 사이징 기계 가공 플래그(Fp)가 세트되어 있으므로 사이징 가공 플래그(Fp)가 스텝(212)에서 리세트된 다음 프로그램은 스텝(214)으로 진행한다.
스텝(214)에서 제5도에 도시된 측정 데이터 입력 프로그램이 실행된다.
제5도에 있어서, 공작물(W)의 현재 측정데이터(MW)가 스텝(300)에서 측정장치(50)로부터 독출된다.
스텝(302)에서 공작물(W)의 측정 절대위치(AW)가 다음 식을 이용하여 연산된다.
AW=MO+MW
여기서, MW는 공작물(W)의 측정 데이터이고, MO는 RAM(33)의 원점위치 기억영역(333)에 미리 기억된 측정장치(50)의 측정영역 내의 원점위치이다.
이어서, 스텝(304)에서는 스텝(302)에서 연산된 측정 절대위치(AW)가 RAM(33)의 측정 절대위치 기억영역(334)에 기억된다.
스텝(306)에서는 RAM(33)의 측정 절대위치 기억영역(334)에 기억된 측정 절대위치(AW)가 블록 N**2에서 n=1이므로 RAM(33)의 목표 사이즈 데이터 기억영역(335)에 미리 기억된 목표 사이즈(S1)(기준 사이징 포인트)와 동등한지를 판정한다. 공작물(W)이 제1목표 사이즈(S1)(제1기준 사이징 포인트)로 가공되지 않은 경우 스텝(306)에서의 응답은 부정으로 되고, 이어서 프로그램이 종료된다. AW= S1인 경우 사이즈 플래그(FM)가 세트되면 즉 사이징 신호가 생성되면 프로그램이 종료된다.
다시 제4도에 있어서, 스텝(216)에서 사이즈 플래드(FM)가 세트되는지를 판정하고, 만일 AW가 S1과 동등하지 않고 사이즈 플래그(FM)가 리세트되는 경우 휠슬라이드 이동 프로그램이 스텝(218)에서 실행된다. 휠슬라이드(20)는 제6도의 NC 프로그램의 블록 N**2에서 특정된 이동속도 F=100으로 이송되고, 이후 스텝(214) 내지 스텝(218)이 반복된다. 스텝(306)에서의 응답이 긍정으로 되는 경우 즉 AW=S1인 경우, 사이즈 플래그(FM)가 세트되므로 즉 사이징 신호가 생성되므로 스텝(216)에서의 응답이 긍정으로 된다. 이어서, 스텝(220)에서 사이즈 플래그(FM)가 리세트되어 공작물(W)이 제1목표 사이지(S1)로 가공되는 경우 NC 프로그램의 블록 N**2의 지령(GO1)에 따르는 가공동작이 중단된다.
이어서, 프로그램은 스텝(202)으로 복귀하여 제6도의 NC 프로그램의 블록 N**3이 독출되어 상기 과정이 반복된다.
스텝(202)에서 독출된 NC 프로그램의 블록이 지령(GO1)을 가지고 있지 않은 경우, 프로그램은 스텝(222)으로 진행하여 다른 지령코드에 의해 특정된 처리를 실행하고, 이어서 프로그램은 스텝(202)으로 복귀되어 상기 과정을 반복한다. 스텝(210)에서 사이징 가공 플래그(Fp)가 세트되지 않은 것으로 판정되는 경우 휠슬라이드 이동 프로그램이 스텝(224)의 정상모드에서 실행되고, 이어서 프로그램은 스텝(202)으로 복귀되어 상기 과정을 반복한다.
사이즈 플래그(FM)가 세트되기 이전에 스텝(218)에서 휠슬라이드 이동 프로그램의 실행 중 NC 프로그램의 블록 N**2에서 특정된 X=500에 대응하는 크기로 공작물(W)이 가공되는 경우 휠슬라이드(20)의 이동이 정지되어 가공동작이 정지되며, 프로그램이 종료된다.
따라서, 사이징 기능을 가진 수치 제어장치(30)에는 측정장치(50)에 접속된 A/D 콘버터(38)가 제공되어, 실시간 모드에서 측정장치(50)에 의해 제공된 공작물(W)의 측정 데이터를 입력할 수 있다. 그러므로, 수치 제어장치(30)는 측정치를 기초로 정밀한 시간-연속 제어동작을 행할 수 있다.
수치 제어장치(30)는 어떠한 시퀀스 제어장치도 필요로 하지 않고 메인 CPU(31)에 의해 사이즈 플래그(FM)를 세트하여 사이징 신호를 직접 생성하기 때문에 가공 동작모드의 신속한 변경이 가능하다.
또한, 수치 제어장치(30)의 키보드(43)의 동작과 상기 수치 제어장치(30)의 CRT(44) 상에 표시된 데이터의 인식을 통해 수치 제어장치(30)의 RAM(33)에서의 기준 사이징 포인트(목표 사이즈)를 설정 및 변경할 수 있으므로, 수치적으로 제어되는 시스템의 액세스 능력이 향상된다.
[제2실시예]
1. NC 연삭기의 일반구조
본 발명의 제2실시예의 수치 제어장치와 결합된 NC 연삭기는 제1도의 NC 연삭기의 구조와 동일하게 되어 있다.
2. 수치 제어장치의 구성
본 발명의 제2실시예의 수치 제어장치(30)는 제2실시예에 채용된 RAM(33)이 제1실시예에 채용된 RAM과 다르게 되어 있다는 것을 제외하면 제2도에 도시된 제1실시예의 수치 제어장치의 구성과 동일하게 되어 있다.
제7도에 있어서, 상기 RAM(33)은 NC 데이터 기억영역(331), 샘플링 시간 기억영역(332), 샘플링 간격 기억영역(333), 허용치 기억영역(334), 상한치 기억영역(335), 하한치 기억영역(336), 및 측정치 기억영역(337)을 가지며, 상기 NC 데이터 기억영역(331)은 NC 데이터를 기억하고, 상기 샘플링 시간 기억영역(332)은 타이머(T1)가 세트되는 샘플링 시간(TS)을 기억하고, 샘플링 간격 기억영역(333)은 타이머(T2)가 설정되는 샘플링 간격(T1)을 기억한다. 상기 허용치 기억영역(334)은 허용치(VT)를 기억하고, 상한치 기억영역(335)은 마스터피스(WM)의 직경을 초기에 미리 측정함으로써 구해진 기준치(VB)에 허용치(VT)를 가산함으로써 얻어지는 상한치(VMAX)를 기억하고, 상한치 기억영역(336)은 허용치(VT)를 기준치(VB)로부터 감산함으로써 얻어지는 하한치(VMIN)를 기억한다. 상기 측정치 기억영역(337)은 샘플링 시간(TS)의 샘플링 간격(T1)으로 측정장치(50)의 테스트 또는 보정시에 측정된 마스터피스(WM)의 측정치(VM)를 기억한다. 또한, OK(수용가능) 또는 NG(배제)로 표시되는 측정치(VM) 평가 결과를 나타내는 정보도 상기 측정치 기억영역(337)에 기억되고, RAM(33)의 기억영역은 샘플링 시간 기억수단의 기능을 가지고 있다.
3. 수치 제어장치의 동작
수치 제어장치(30)의 동작에 대해 수치 제어장치(30)의 메인 CPU(31)에 의해 실행되는 과정을 나타내는 제8도 및 제9도와, 샘플링에 의해 얻어지는 데이터를 나타내는 제10도를 참조하여 설명한다.
제8도의 초기화 프로그램은 온도, 진동 및 스타트 특성의 체크 및 확인을 위해 실행된다.
초기화 프로그램의 스타트에 앞서 마스터피스(WM)는 1쌍의 센터(16,17) 사이에 세트되고, 측정장치(50)와 접촉자(51)는 마스터피스(WM)와 결합되도록 전진한다.
스텝(400)에서 샘플링 시간(TS) 즉 타이머(T1)가 세트되는 원하는 샘플링 기간이 키보드(43)를 조작함으로써 입력되고, 이어서 스텝(402)에서 샘플링 시간(TS)은 RAM(33)의 샘플링시간 기억영역(332)에 기억된다.
스텝(404)에서 타이머(T2)가 세트되는 샘플링 간격(TI)이 키보드(43)를 조작함으로써 입력되고, 이어서 그 샘플링 간격(TI)은 스텝(406)에서 RAM(33)의 샘플링 간격 기억영역(333)에 기억된다.
이어서, 스텝(408)에서 허용치(VT)가 키보드(43)를 조작함으로써 입력된 다음, 그 허용치(VT)는 스텝(410)에서 허영치 기억영역(334)에 기억된다.
이후, 스텝(412)에서 기준치(VB) 즉 마스터피스(WM)의 직경을 미리 측정함으로써 미리 얻어지는 측정장치(50)의 기준 위치로부터의 편차가 키보드(43)로부터 입력된다.
스텝(414)에서 마스터피스(WM)에 대한 상한치(VMAX)가 다음 식을 이용하여 연산된다.
VMAX=VB+VT
이어서, 스텝(416)에서는 상기 스텝(414)에서 구해진 상한치가 상한치 기억영역(335)에 기억된다.
스텝(418)에서 마스터피스(WM)에 대한 하한치(VMIN)가 다음 식을 이용하여 연산된다.
VMIN=VB-VT
스텝(420)에서는 상기 스텝(418)에서 구해진 하한치(VMIN)가 하한치 기억영역(336)에 기억된 다음, 프로그램이 종료된다.
연속해서 제9도의 샘플링 프로그램이 실행되며, 스텝(500)에서 타이머(T1)가 세트되는 샘플링 시간(TS)과, 타이머(T2)가 세트되는 샘플링 시간(T1), 상한치(VMAX) 및 하한치(VMIN)가 각각 RAM(33)의 샘플링 시간 기억영역(332), 샘플링 간격 기억영역(333), 상한치 기억영역(335), 및 하한치 기억영역(336)으로부터 독출된다.
스텝(502)에서 타이머(T1)가 스타트된 다음 스텝(504)에서 타이머(T2)가 얻어진 다음 그 측정 데이터(FM스타트된다.
스텝(506)에서 마스터피스(WM)의 직경이 측정장치(50)의 접촉자(51)를 마스터피스(WM)의 표면에 접촉시킴으로서 측정되고, 측정된 아날로그 데이터는 A/D 콘버터(38)에 의해 비례하는 측정된 디지털 데이터로 변환되어 측정 데이터(VM)가 얻어진 다음 그 측정 데이터(VM)가 기억된다. 스텝(508)에서는 측정 데이터(VM)가 상한치(VMAX)보다 크지 않은지를 판정한다. 스텝(508)에서의 응답이 긍정이면 스텝(510)에서는 측정 데이터(VM)가 하한치(VMIN)보다 작은지를 판정한다. 스텝(510)에서의 응답이 긍정이면 측정 데이터(VM)는 OK(수용가능)로서 고려되어 그 측정데이터(VM)는 스텝(512)에서 수치 제어장치(30)의 CRT(44)의 스크린 상에 기준치(VB) 및 허용치(VT)와 함께 제10도에서 플롯(IP1, IP2, IP3, IP4, . . . )에 의해 표시된 바와 같이 표시되며, 수용 가능한 측정 데이터(VM)는 RAM(33)의 측정치 기억영역(337)에 기억된다.
스텝(508) 또는 스텝(510)에서의 응답이 부정 즉 스텝(506)에서 독출된 측정 데이터(VM)가 상한치(VMAX)보다 크거나 하한치(VMIN)보다 작으면, 프로그램은 스텝(514)으로 진행하여 측정 데이터(VM)가 NG(배제)로서 고려되어 제10도에 플롯(IP5)포 표시된 바와 같이 CRT(44)의 스크린 상에 표시됨과 함께 배제된 측정 데이터는 측정치 기억영역(337)에 기억된다.
이어서, 스텝(516)에서 타이머(T1)가 세트된 시간(TS)이 경과되었는지를 판정한다. 스텝(516)에서의 응답이 부정인 경우 즉 마스터피스(WM)의 직경에 대한 샘플링을 위한 샘플링 시간(TS)이 경과되지 않은 경우, 스텝(518)에서 타이머(T2)가 세트되는 샘플링 간격(TI)이 경과되었는지를 판정한다. 샘플링 간격(TI)이 경과된 후 프로그램은 스텝(504)으로 복귀된 다음 상기 과정이 후속 측정 데이터(VM)에 대해 반복된다.
스텝(516)에서의 응답이 긍정인 경우 프로그램은 종료된다.
데이터 평가수단이 스텝(508)과 스텝(510)에서 이루어지고, 데이터 출력수단이 스텝(512)과 스텝(514)에서 이루어진다.
상기 설명으로부터 분명히 알 수 있는 바와 같이 사이징 기능을 가진 제2실시예의 수치 제어장치는 외부 측정기구를 필요로 하지 않고 키보드(43)의 동작을 통해 온도, 진동 및 스타트 특성과 측정장치(50)의 반복 측정의 정밀도 체크 및 확인이 가능하게 되어 사이징 동작이 현저하게 용이해진다. 기계적인 시스템을 포함하는 전체 시스템의 온도, 진동 및 스타트 특성은 측정장치(50)를 수치 제어 장치(30)에 접속한 다음 즉시 평가될 수 있으므로, 작업 현장 등에서의 정기 점검이 용이하게 된다.
[제3 실시예]
1. NC 연삭기의 일반구조
본 발명의 제3실시예의 수치 제어장치와 결합되는 NC 연삭기는 제1도의 NC 연삭기의 구조와 동일하게 되어 있다.
2. 수치 제어장치의 구성
제11도는 아날로그 장치에 접속된 본 발명 제3실시예의 수치 제어장치(30)의 전기적 구성의 블록도이다.
수치 제어장치(30)는 주요 구성요소로서 메인 CPU(31), 제어 프로그램을 기억하는 ROM(32), 데이터를 기억하는 RAM(33), 인터페이스(34, 61), 입력수단 A/D 콘버터(38), 및 데이터 출력수단인 D/A 콘버터(60)를 포함한다.
제어 패널 상에 제공되어 오퍼레이터 패널로 기능하는 키보드(43)와 정보를 표시하는 CRT(44)는 인터페이스(34)를 통해 수치 제어장치(30)의 CPU(31)에 접속된다.
상기 CPU(31)에 접속된 A/D 콘버터(38)는 아날로그 장치(A1, A2, . . . .)에 의해 제공된 아날로그 신호를 비례하는 디지털 데이터로 변환하여 그 디지털 데이터를 CPU(31)에 인가한다.
상기 D/A 콘버터(60)는 디지털 아날로그 신호로 변환한다. 디지털 데이터는 각 아날로그 장치(A1, A2, . . .)에서의 각 기준치를 나타내는 지령 데이터를 포함한다.
시퀀스 제어장치(39)는 인터페이스(61)를 통하여 CPU(31)에 접속되며, 시퀀스 제어장치(39)는 아날로그 장치로부터의 입력 아날로그 신호와 RAM(33)에 세트된 지령 데이터의 레벨에 대응하는 CPU(31)로부터 출력되는 2진 레벨의 온·오프 신호를 기초로 하여 NC 사이클을 제어한다. RMA(33)은 NC 데이터를 기억하기 위한 NC 데이터 기억영역(331), 복수의 소정 레벨을 나타내는 지령 데이터를 기억하기 위한 지령 데이터 기억엉역(332) 및 아날로그 장치(A1, A2, . . .)에 의해 입력 데이터를 기억하기 위한 입력 데이터 기억영역(333)을 가지고 있다. 아날로그 장치(A1)는 제2도에 도시된 측정장치(50)이다.
3. 수치 제어장치의 동작
수치 제어장치(30)의 동작에 대해 수치 제어장치(3)의 CPU(31)에 의해 실행되는 과정을 나타내는 제12도와 제13도를 참조하여 설명한다.
제12도와 제13도의 과정은 수치 제어장치(30)에 접속된 아날로그 장치(A1, A2, . . . , A*)에 대해 실행된다.
이러한 동작은 CRT(44)의 표시 스크린을 나타내는 제14a도와 기준레벨을 세팅하기 위한 지령 데이터를 나타내는 제14b도를 참조하여 예를 들어 아날로그 장치(A*)에 대하여 설명한다.
먼저, 제12도에 도시된 기준레벨 세팅 프로그램이 실행된다.
스텝(600)에서 아날로그 장치(A*)에 대한 기준레벨(n)(n=1, 2, . . . . .)을 설정하기 위한 지령 데이터(VLn)가 키보드(43)를 조작함으로써 입력된다.
아날로그 장치(A1)가 측정장치(50)이므로 기준레벨은 제1실시예에서의 목표 사이즈에 해당한다.
즉, 예컨대 제14b도에 도시된 바와 같이 레벨1은 마크 △로 표시되고, 대응하는 입력 지령 데이터 VL1=0.885이다.
이어서, 스텝(602)에서 지령 데이터(VLn)는 RAM(33)의 지령 데이터 기억영역(332)에 기억된 다음, 프로그램이 종료된다.
연속해서 제13도의 입력 데이터 표시 프로그램이 실행되고, 스텝(700)에서 RAM(33)의 지령 데이터 기억영역(332)에 기억된 아날로그 장치(A*)를 위한 기준 레벨(1, . . . . . n)에 대응하는 지령 데이터(VL1, . . . . . ., VL1)가 독출된다.
스텝(702)에서 n이 초기값 1로 세트된다.
스텝(704)에서 입력 데이터(VIn)가 아날로그 장치(A*)로부터 독출된다.
이어서, 스텝(706)에서는 상기 스텝(704)에서 독출된 입력 데이터(VIn)가 제15도에 도시된 바와 같이 수치 제어장치(30)에 접속된 CRT(44)의 표시 스크린 상에서 아날로그 장치(A*)에 각각 할당된 개별적인 표시영역의 입력 표시위치에 표시된다.
이후, 스텝(708)에선모든 상기 스텝(704)에서 독출된 입력 데이터(VIn)가 h=1의 기준레벨 에 대한 지령 데이터(VL1)보다 작은지를 판정한다. 입력 데이터(VIn)가 지령 데이터(VL1)보다 작으면 스텝(708)에서의 응답은 부정으로 되고, 프로그램은 스탭(704)으로 복귀되어 스텝(704) 내지 스텝(708)을 반복한다.
VIn≥VL1인 경우 수치 제어장치(30)는 입력 데이터(VIn)가 기준레벨 1에 대한 지령 데이터(VL1)에 도달된 것을 나타내는 긍정 신호(아날로그 장치 A1인 경우의 사이징 신호)를 스텝(710)에서 시퀀 스제어장치(39)에 인가하고, 이어서 시퀀스 제어장치(39)는 수치 제어장치가 기준레벨 1에 대한 NC 사이클을 시작하도록 지령한다.
이어서, 스텝(712)에서 VIN=VL1을 나타내는 표시가 스텝(712)에서 표시된다. 예컨대 제14a도에 도시된 바와 같이, 기준레벨 1에 대한 백사각형 □만이 VL1≤VInVL2인 경우 흑사각형 ■으로 변경된다.
이어서, 스텝(714)에서 레벨 1이 최종 기준레벨인지를 판정한다. 후속 레벨 2에 대한 지령 데이터가 본 실시예에서 제공되므로 스텝(714)에서의 응답은 부정으로 되어 스텝(716)이 실행된다.
스텝(716)에서 현재의 기준레벨이 1만큼 증가하면, 즉 레벨 2가 선택되면, 프로그램이 스텝(704)으로 복귀되어 상기 과정이 반복된다.
스텝(714)에서의 응답이 긍정 즉 현재의 기준레벨이 최종 기준레벨 n인 경우 프로그램이 종료된다.
아날로그 장치에 대한 기준레벨을 나타내는 지령 데이터를 포함하는 데이터의 세팅은 인터페이스(34)를 통해 수치 제어장치(30)에 접속된 키보드(43)를 조작함으로써 수치 제어장치(30)의 CPU(31)에 입력되고, CPU(31)는 입력 아날로그 신호의 신호레벨을 세트된 기준레벨과 비교하여 입력 아날로그 신호 레벨의 출구영역을 표시하여, 또한 CPU(31)는 입력 아날로그 신호의 레벨이 각 기준레벨과 동등하게 되는 경우 가공모드를 변경시키기 위해 각각의 온·오프 신호를 발생할 수 있다.
또한 CPU(31)는 데이터를 D/A 콘버터(60)를 통해 아날로그 장치에 전송할 수 있다.
본 발명의 수치 제어장치는 접속된 복수의 아날로그 장치 중 하나의 장치로부터 입력 데이터를 입력할 수 있고, 입력 데이터를 기초로 생성된 출력 데이터를 나머지 아날로그 장치의 제어를 위해 그 아날로그 장치에 인가할 수 있다.

Claims (9)

  1. 공작물의 측정된 크기에 따라 제어동작을 변경시킬 수 있는 수치 제어장치에 있어서, 상기 제어동작이 변경되며, 상기 공작물의 치수를 정해 주는 기준 사이징 포인트를 표시하는 데이터 값을 기억하기 위한 기준 사이징 포인트 기억수단과, 상기 기준 사이징 포인트를 표시하는 데이터 값을 독출하기 위한 기준 사이징 포인트 독출수단과, 상기 공작물의 치수를 측정함으로써 얻어지는 측정 아날로그 데이터 값을 입력하고, 그 측정 아날로그 데이터 값을 대응하는 디지털 데이터로 변환하기 위한 데이터 입력수단과, 상기 데이터 입력수단에 의해 제공된 상기 디지털 데이터와 상기 기준 시이징 포인트 독출수단에 의해 독출된 상기 기준 사이징 포인트를 표시하는 데이터 값을 비교하여, 상기 디지털 데이터와 상기 기준 사이징 포인트를 표시하는 데이터 값이 일치하면 사이징 신호를 발생하기 위한 사이징 신호 발생수단과, 상기 사이징 신호 발생수단에 의해 제공된 상기 사이징 신호에 응답하여 상기 수치 제어장치의 제어 동작을 변경하기 위한 제어수단으로 구성되는 것을 특징으로 하는 수치 제어장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 기준 사이징 포인트 기억수단은 복수의 기준 사이징 포인트를 기억하고, 상기 기준 사이징 포인트 독출수단은 수치제어 프로그램에 포함된 수치 지령에 따라 상기 기준 사이징 포인트 중 하나를 선택적으로 독출하는 것을 특징으로 하는 수치 제어장치.
  3. 사이징 기능을 가진 수치 제어장치에 있어서, 마스터피스 또는 공작물의 크기를 측정함으로써 얻어지는 측정된 아날로그 데이터를 입력하여, 그 측정된 아날로그 데이터를 그에 비례하는 측정 디지털 데이터로 변환하기 위한 데이터 입력수단과, 샘플링 간격 시간을 기억하기 위한 샘플링 간격 기억수단과, 상기 마스터피스 또는 공작물의 크기가 측정되는 동안 상기 샘플링 간격 기억수단에 기억된 샘플링 간격 시간에 상기 측정된 아날로그 데이터에 비례하는 상기 측정된 디지털 데이터를 샘플링하기 위한 샘플링 수단과, 허용치를 입력하기 위한 허용치 입력수단과, 상기 허용치 입력수단에 의해 입력된 허용치를 나타내는 데이터를 기억하기 위한 허용치 기억수단과, 상기 마스터피스 또는 공작물의 크기를 나타내는 기본값을 입력하기 위한 기본값 입력수단과, 상기 기본값에 허용치를 가산함으로써 상한치를 계산하고, 상기 기본값에서 허용치를 감산함으로써 하한치를 계산하는 계산수단과, 상기 기본값, 상한치 및 하한치를 갖는 샘플링 수단에 의해 샘플링된 복수의 측정 데이터값을 표시하기 위한 표시수단으로 구성되는 것을 특징으로 하는 수치 제어장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 샘플링 수단은 소정의 샘플링 시간 이내에서 동작하는 것을 특징으로 하는 수치 제어장치.
  5. 수치 제어장치에 있어서, 아날로그 장치에 의해 인가되는 아날로그 신호를 입력하여, 상기 아날로그 신호를 이 아날로그 신호의 레벨에 비례하는 디지털 데이터로 변환하기 위한 데이터 입력수단과, 상기 디지털 데이터의 레벨이 기준레벨을 초과하는지 또는 그 이하인지를 판단하기 위해 입력 데이터를 기준레벨을 나타내는 소정의 지령데이터 값과 비교함으로써 상기 데이터 입력수단에 의해 인가된 입력 데이터를 평가하기 위한 데이터 평가수단과, 상기 데이터 평가수단에 의해 행해진 데이터 평가의 결과와 함께, 상기 데이터 입력수단에 의해 인가된 입력 데이터와 상기 지령 데이터 간의 관계를 표시하기 위한 데이터 표시수단으로 구성되는 것을 특징으로 하는 수치 제어장치.
  6. 수치 제어장치에 있어서, 아날로그 장치에 의해 인가되는 아날로그 신호를 입력하여, 상기 아날로그 신호를 이 아날로그 신호의 레벨에 비례하는 디지털 데이터로 변환하기 위한 데이터 입력수단과, 입력 데이터와 기준레벨을 나타내는 소정의 지령 데이터를 비교함으로써 상기 데이터 입력수단에 의해 인가된 입력 데이터를 평가하기 위한 데이터 평가수단과, 상기 데이터 평가수단에 의해 행해진 데이터 평가의 결과에 대응하여 상기 수치 제어장치에 의해 실행되는 프로세스를 요구하는 신호를 발생하기 위한 프로세스 신호 발생수단과, 상기 데이터 평가수단에 의해 행해진 데이터 평가의 결과와 함께, 상기 데이터 입력수단에 의해 인가된 입력 데이터와 상기 지령 데이터 간의 관계를 표시하기 위한 데이터 표시수단으로 구성되는 것을 특징으로 하는 수치 제어장치.
  7. 제5항에 있어서, 상기 데이터 평가수단은 복수의 소정 각 기준레벨을 나타내는 복수의 소정 각 지령 데이터와 상기 입력 데이터를 비교함으로써 상기 데이터 입력수단에 의해 인가된 상기 입력 데이터를 평가하고, 상기 데이터 표시수단은 상기 데이터 입력수단에 의해 인가된 상기 입력 데이터와 상기 복수의 지령 데이터 간의 관계를 표시하는 것을 특징으로 하는 수치 제어장치.
  8. 제6항에 있어서, 상기 데이터 평가수단은 복수의 소정 각 기준레벨을 나타내는 복수의 소정 각 지령 데이터와 상기 입력 데이터를 비교함으로써 상기 데이터 입력수단에 의해 인가된 상기 입력데이터를 평가하고, 상기 데이터 표시수단은 상기 데이터 입력수단에 의해 인가된 상기 입력 데이터와 상기 복수의 지령 데이터 간의 관계를 표시하고, 상기 프로세스 신호 발생수단은 상기 입력 데이터가 상기 각 지령 데이터와 동등한 경우 상기 수치 제어장치에 의해 실행되는 각 프로세스를 요구하는 각 신호를 발생하는 것을 특징으로 하는 수치 제어장치.
  9. 제6항에 있어서, 상기 아날로그 장치는 공작물의 치수를 측정하기 위한 측정 장치인 것을 특징으로 하는 수치 제어장치.
KR1019910002757A 1990-02-21 1991-02-21 수치제어장치 KR100206638B1 (ko)

Applications Claiming Priority (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4198290A JP2880551B2 (ja) 1990-02-21 1990-02-21 数値制御装置
JP90-41982 1990-02-21
JP7404690A JPH03273403A (ja) 1990-03-23 1990-03-23 定寸機能を有する数値制御装置
JP90-74056 1990-03-23
JP7915890A JP2883671B2 (ja) 1990-03-27 1990-03-27 定寸機能を有する数値制御装置
JP90-79158 1990-03-27

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR920000021A KR920000021A (ko) 1992-01-10
KR100206638B1 true KR100206638B1 (ko) 1999-07-01

Family

ID=27291022

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019910002757A KR100206638B1 (ko) 1990-02-21 1991-02-21 수치제어장치

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5477118A (ko)
EP (1) EP0443552A3 (ko)
KR (1) KR100206638B1 (ko)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU665048B2 (en) 1992-02-14 1995-12-14 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Apparatus and method for feedback-adjusting working condition for improving dimensional accuracy of processed workpieces
JPH0929598A (ja) * 1995-07-25 1997-02-04 Hitachi Ltd 非球面形状物体の加工装置
US5796619A (en) * 1996-02-15 1998-08-18 The Boeing Company Method and apparatus for numerically controlled probing
WO1997049523A1 (en) * 1996-06-26 1997-12-31 The Gleason Works Detecting tool wear by thermal monitoring of workpiece
DE19626763C2 (de) * 1996-07-03 2000-02-17 Zoller Gmbh & Co Kg E Verfahren zur Eingabe von Parametern in Meßprogramme für CNC-gesteuerte Einstell- und Meßgeräte
DE19848642A1 (de) * 1998-10-22 2000-04-27 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Verfahren zur Kompensation von temperaturbedingten Maßabweichungen in der Maschinengeometrie
JP2001260021A (ja) * 2000-03-16 2001-09-25 Toshiba Mach Co Ltd ロール研削盤の数値制御装置
JP3436515B2 (ja) 2000-04-18 2003-08-11 株式会社ミツトヨ 測定装置、信号出力方法および記憶媒体
JP2002236506A (ja) * 2001-02-09 2002-08-23 Toyoda Mach Works Ltd 工作機械の制御システム
JP3910482B2 (ja) * 2002-04-26 2007-04-25 Ｔｈｋ株式会社 数値制御工作機械における加工誤差補正方法及びこれを用いた研削盤
US7159637B2 (en) * 2004-03-17 2007-01-09 Rite-Hite Holding Corporation Impactable bottom curtain for a rolling steel door
CN101596698B (zh) * 2009-07-10 2011-11-16 兰州瑞德实业集团有限公司 用于数控精密研磨抛光机控制的控制器
CN109656196A (zh) * 2018-12-27 2019-04-19 西安交通大学 数控系统综合性能测试方法与装置
CN110347114A (zh) * 2019-07-23 2019-10-18 清华大学 一种数控机床可靠性数据采集分析系统

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4195250A (en) * 1976-12-08 1980-03-25 Ikegai Tekko Kabushiki Kaisha Automatic measuring and tool position compensating system for a numerically controlled machine tool
JPS5518383A (en) * 1978-07-28 1980-02-08 Toyoda Mach Works Ltd Numerical controller for controlling grinding
JPS5930666A (ja) * 1982-08-09 1984-02-18 Toyoda Mach Works Ltd 数値制御工作機械用送り制御装置
US4630214A (en) * 1984-04-13 1986-12-16 Moore Special Tool Co., Ltd. Jig grinder with automatic reciprocation and outfeed control
JPS6294247A (ja) * 1985-10-17 1987-04-30 Toyoda Mach Works Ltd 途中停止機能を備えた数値制御工作機械
US4791575A (en) * 1986-10-31 1988-12-13 The Pratt & Whitney Company, Inc. Method for generating axis control data for use in controlling a grinding machine and the like and system therefor
JP2846881B2 (ja) * 1987-09-14 1999-01-13 豊田工機株式会社 数値制御研削盤
US4887221A (en) * 1987-09-25 1989-12-12 Sunnen Products Company Computer controlled honing machine using look up table data for automatic programming
JP2734145B2 (ja) * 1989-12-15 1998-03-30 三菱電機株式会社 ワイヤ放電加工装置

Also Published As

Publication number Publication date
US5477118A (en) 1995-12-19
EP0443552A2 (en) 1991-08-28
KR920000021A (ko) 1992-01-10
EP0443552A3 (en) 1992-07-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100206638B1 (ko) 수치제어장치
US4884373A (en) Numerically controlled machine tool
US5067086A (en) Three-dimensional shape machining laser device
US5523953A (en) Method and apparatus for correcting positioning errors on a machine tool
US4873793A (en) Numerically controlled machine tool
US6118245A (en) Control device and control process for motors
KR0139526B1 (ko) 그라인딩 머신용 수치 제어장치
US4956946A (en) Numerically controlled grinding machine
US4881021A (en) Numerical control equipment
US4908555A (en) Axis feedrate output system
JP2883671B2 (ja) 定寸機能を有する数値制御装置
JPS63191552A (ja) 測定子誤差補正機能を備えた数値制御工作機械
KR940010397B1 (ko) 피치 오차 정정 데이타의 리로딩 방법
JPS62130160A (ja) Ｎｃ工作機械の自動工具補正装置
JP3163792B2 (ja) 数値制御研削盤
JPS61230841A (ja) 数値制御工作機械の工具の軌跡修正方法
JPH0623408Y2 (ja) 数値制御研削盤の主軸回転位置検出装置
JPH07100281B2 (ja) 数値制御工作機械
JPH10225843A (ja) 数値制御工作機械用補正パラメータ設定装置および数値制御装置
JPH0771933A (ja) 形状測定方法および装置
JP2611123B2 (ja) 数値制御カム研削盤
KR0155777B1 (ko) 레이저 측정기를 사용한 피치 에러 보정 장치 및 피치 에러 보정 데이터 설정 방법
JPH01210250A (ja) スキップ位置制御装置
JPH0761608B2 (ja) 数値制御カム研削盤
JPH08112739A (ja) 数値制御装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20100323

Year of fee payment: 12

EXPY Expiration of term