JPWO2019156051A1 - 高周波モジュール - Google Patents

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Abstract

ボンディングワイヤーにより部品間シールドを形成する際に、接合の終点部に突起電極を配置することで、ワイヤーのループ形状を安定させることができる高周波モジュールを提供する。高周波モジュール1aは、多層配線基板2と、該多層配線基板2の上面20aに実装された部品3a〜3dと、部品3aを覆うように、複数のボンディングワイヤー11により形成されたシールド部材13と、各ボンディングワイヤー11の接合の終点部12bに設けられた突起電極5aとを備える。各ボンディングワイヤー11の接合の終点部12bに突起電極5aが設けられることにより、ボンディングワイヤー11のセカンドボンド側での不所望な曲がりを抑制することができ、部品3aの側面および天面を覆うようなシールド部材13を容易に形成することができる。

Description

本発明は、シールドを備える高周波モジュールに関する。
通信端末装置などの電子機器のマザー基板には、種々の高周波モジュールが実装される。この種の高周波モジュールの中には、配線基板に実装された部品が封止樹脂層で封止されるものがある。また、部品に対するノイズを遮蔽するために、封止樹脂層の表面をシールド膜で被覆する場合もある。配線基板に複数の部品が実装される場合では、特定の部品に対してのみ、ノイズを遮蔽したい場合があるが、封止樹脂層の表面を被覆するシールド膜では、特定の部品に対してのみシールドを行うのが困難であり、設計自由度が低い。そこで、設計自由度が高いシールド部材の配置が可能な高周波モジュールが提案されている。例えば、図11に示すように、特許文献1に記載の高周波モジュール100では、配線基板101に部品102が実装される。部品102は、複数のボンディングワイヤー103で囲まれており、これらのボンディングワイヤー103により、部品102がシールドされる。このようにすると、シールドすることが必要な箇所のみに、ボンディングワイヤー103を実装すれはよいため、シールド部材の設計自由度が向上する。
特許第5276169号公報(段落0021〜0024、図3等参照)
しかしながら、従来の高周波モジュール100は、ボンディングワイヤー103のループを所定間隔で配列してシールド構造を構成するが、ボンディングワイヤー103は、変形しやすい。このため、部品102を跨いだ形状のシールド部材を形成しようとすると、ボンディングワイヤー103の、特にワイヤー終点側であるセカンドボンド側の端部と部品102との距離を大きくとる必要がある。これは、ワイヤーボンディング技術において、ワイヤー始点側であるファーストボンド側は、ループ形状をコントロールすることは比較的容易であるが、セカンドボンド側は、ループ形状をコントロールすることが難しいためである。セカンドボンド側でループ形状をコントロールすることが難しい理由は、セカンドボンド側では、ワイヤーを曲げて部品近傍へ配置することが難しいため、裾引き形状にする必要があり、そうすると、部品から離れた位置にワイヤーの終点を設定しなければならないからである。したがって、部品102とワイヤーとの間に大きな距離を設けることなく、部品102に接触させないように、部品102を跨ぐようなボンディングワイヤー103を形成することが困難であった。
本発明は、上記した課題に鑑みてなされたものであり、シールドの設計自由度が高く、シールド特性が変動しにくい、部品を高密度に実装可能な高周波モジュールを提供することを目的とする。
上記した目的を達成するために、本発明の高周波モジュールは、配線基板と、前記配線基板の一方主面に実装された部品と、前記配線基板の前記一方主面に形成された第1突起電極とボンディングワイヤーにより形成され、前記部品をシールドするシールド部材とを備え、前記ボンディングワイヤーは、接合の起点部が前記配線基板の前記一方主面に接続され、接合の終点部が前記第1突起電極に接続されていることを特徴としている。
この構成によれば、ボンディングワイヤーの接合の終点部を突起電極に接続することにより、セカンドボンド側のループ形状をコントロールすることができるため、部品に接触させることなく、シールド部材を形成することができる。また、特に、距離を小さくとることが難しい接合の終点部において、突起電極が設けられているので、ワイヤーの裾引き部分をなくす、あるいは減らすことができるため、部品とボンディングワイヤー終点部との距離を小さくすることができる。したがって、部品を高密度に実装することができ、設計自由度を向上させることができる。また、ワイヤーボンディングにより部品を実装する場合に、部品実装と同じ工程で同時にシールド部材を形成することができる。
また、前記第1突起電極が金属めっきにより形成されていてもよい。
また、前記第1突起電極が金属ブロックにより形成されていてもよい。
また、前記配線基板の前記一方主面に形成された第2突起電極をさらに備え、前記起点部が前記第2突起電極に接続されていてもよい。
この構成によれば、各突起電極に対してボンディングワイヤーを接合することができるため、ボンディングワイヤーのループ形状のコントロールが容易になり、部品とボンディングワイヤーとの距離を小さくしつつも、部品の側面とボンディングワイヤーを接触させることなく、シールド部材を形成することができる。
また、前記第2突起電極が金属めっきにより形成されていてもよい。
また、記第2突起電極が金属ブロックにより形成されていてもよい。
また、前記部品を封止する封止樹脂層と前記封止樹脂層の表面に設けられたシールド膜とをさらに備え、前記封止樹脂層は、前記配線基板の前記一方主面に当接する当接面と、該当接面に対向する対向面と、前記当接面と前記対向面の端縁同士を繋ぐ側面とを有し、前記シールド膜は、少なくとも前記封止樹脂層の前記対向面と前記側面とを被覆し、前記封止樹脂層の前記対向面において、前記ボンディングワイヤーが前記シールド膜と接していてもよい。
この構成によれば、ボンディングワイヤーとシールド膜とを接続することで、コンパートメントシールドとしてのシールド性能を向上させることができる。
また、前記シールド部材は、複数の前記ボンディングワイヤーにより形成され、前記複数のボンディングワイヤーが、それぞれ前記部品を跨ぐように配置されていてもよい。この構成によれば、部品を覆う形状のシールド部材を容易に形成することができる。
また、前記シールド部材は、複数の前記ボンディングワイヤーにより形成され、前記複数のボンディングワイヤーが、前記部品を囲むように前記部品の周囲に沿って配置されていてもよい。
この構成によれば、部品の周囲にシールド部材を配置することができるため、シールド性能を向上させることができる。
また、前記配線基板の前記一方主面に対して垂直な方向から見たときに、前記複数のボンディングワイヤーのうち一部のボンディングワイヤーは、それぞれ略平行に配置され、前記複数のボンディングワイヤーのうち残りのボンディングワイヤーは、前記一部のボンディングワイヤーと交差するようにそれぞれ略平行に配置されていてもよい。
この構成によれば、部品の側面および天面を覆うようなシールド部材を容易に形成することができる。
また、前記配線基板の前記一方主面に対して垂直な方向から見たときに、前記部品は矩形状を有し、前記複数のボンディングワイヤーは、前記部品の一辺に対して斜め方向にそれぞれ略平行に配置されていてもよい。
この構成によれば、少ない本数のボンディングワイヤーにより、部品に対するあらゆる方向からの電磁波を遮断することができる。
また、配線基板と、前記配線基板の一方主面に実装された部品と、前記配線基板の前記一方主面に形成された複数の第1突起電極と、複数のボンディングワイヤーにより形成され、前記部品をシールドするシールド部材と、前記部品を封止する封止樹脂層と、前記封止樹脂層の表面に設けられたシールド膜とを備え、前記封止樹脂層は、前記配線基板の前記一方主面に当接する当接面と、該当接面に対向する対向面と、前記当接面と前記対向面の端縁同士を繋ぐ側面とを有し、前記シールド膜は、少なくとも前記封止樹脂層の前記対向面と前記側面とを被覆し、前記ボンディングワイヤーは、一端が前記第1突起電極に接続され、他端が前記封止樹脂層の前記対向面から露出して前記シールド膜と接続していてもよい。
この構成によれば、ボンディングワイヤーとシールド膜とを接続することにより、コンパートメントシールドとしてのシールド性能をより向上させることができる。
本発明によれば、ボンディングワイヤーの接合の終点部を突起電極に接続することにより、セカンドボンド側のループ形状をコントロールすることができるため、部品に接触させることなく、シールド部材を形成することができる。また、突起電極によるループ形状のコントロールにより、ボンディングワイヤーと部品との距離を小さくすることができるため、部品を高密度に実装することができ、設計自由度を向上させることができる。
本発明の第1実施形態にかかる高周波モジュールの断面図である。 図1の高周波モジュールのシールド膜を除いた状態の平面図である。 本発明の第2実施形態にかかる高周波モジュールの断面図である。 図3の高周波モジュールのシールド膜を除いた状態の平面図である。 図3の高周波モジュールの突起電極の変形例を示す図である。 図3の高周波モジュールのボンディングワイヤーの変形例を示す図である。 本発明の第3実施形態にかかる高周波モジュールの断面図である。 図7の高周波モジュールのシールド膜を除いた状態の平面図である。 本発明の第4実施形態にかかる高周波モジュールのシールド膜を除いた状態の平面図である。 図7の高周波モジュールのシールド膜を除いた状態の平面図である。 従来の高周波モジュールの断面図である。
<第1実施形態>
本発明の第1実施形態にかかる高周波モジュール1aについて、図1〜図2を参照して説明する。なお、図1は図2のA−A矢視断面図、図2は高周波モジュール1aのシールド膜6を除いた状態の平面図である。
この実施形態にかかる高周波モジュール1aは、図1および図2に示すように、多層配線基板2(本発明の「配線基板」に相当)と、該多層配線基板2の上面20aに実装された複数の部品3a〜3dと、多層配線基板2の上面20aに積層された封止樹脂層4と、封止樹脂層4の表面を被覆するシールド膜6と、多層配線基板2の上面20aに実装された複数の第1突起電極5aと、部品3aを跨ぐように配置されたボンディングワイヤー11とを備え、例えば、高周波信号が用いられる電子機器のマザー基板等に搭載される。
多層配線基板2は、例えば、低温同時焼成セラミック、高温同時焼成セラミックやガラスエポキシ樹脂などで形成された複数の絶縁層2a〜2dが積層されて成る。多層配線基板2の上面20a(本発明の「配線基板の一方主面」に相当)には、部品3a〜3dの実装電極7が形成される。多層配線基板2の下面20bには、外部接続用の複数の外部電極8が形成される。また、隣接する絶縁層2a〜2d間それぞれに、各種の内部配線電極9が形成されるとともに、多層配線基板2の内部には、絶縁層2a〜2dに形成された内部配線電極9同士を接続するための複数のビア導体10が形成される。なお、実装電極7、外部電極8および内部配線電極9は、いずれもCuやAg、Al等の配線電極として一般的に採用される金属で形成されている。また、各ビア導体10は、AgやCu等の金属で形成されている。なお、各実装電極7、各外部電極8には、Ni/Auめっきがそれぞれ施されていてもよい。
部品3a〜3dは、ICやPA(パワーアンプ)などの半導体素子や、チップインダクタ、チップコンデンサ、チップ抵抗等のチップ部品で構成され、半田接合などの一般的な表面実装技術により多層配線基板2に実装される。
封止樹脂層4は、エポキシ樹脂等の封止樹脂として一般的に採用される樹脂で形成され、各部品3a〜3dを封止する。また、封止樹脂層4は、多層配線基板2に当接する下面4b(本発明の「封止樹脂層の当接面」に相当)と、該下面4bに対向する上面4a(本発明の「封止樹脂層の対向面」に相当)と、側面4cとを有する。
第1突起電極5aは、表面にAuめっきされた金属部材等で形成される。第1突起電極5aの形成方法は、例えば、多層配線基板2がセラミック基板である場合は、貫通孔に導電性ペーストが充填された樹脂シートを、セラミック積層体(焼結前の多層配線基板2)の上面に圧着し、セラミック積層体を焼成することにより、樹脂シートが焼失し、導電性ペーストが焼結されて多層配線基板2の上面20aに金属突起物を形成し、ここにAuめっきを施すことにより、第1突起電極5aを形成することができる。あるいは、Auめっきされた金属ブロックを配置してもよいし、金属ブロック配置後にAuめっきを施してもよい。金属ブロックは金属ピンであっても良い。また、配線基板上にめっきにより形成される金属突起物を用いてもよい。この場合、位置精度よく、また必要最低限の面積で配置することが可能であり、さらに半田等を使わないため半田フラッシュ等のおそれもない事から好ましい。
また、多層配線基板2がガラスエポキシ基板等の樹脂基板である場合には、次のようにして第1突起電極5aを形成することができる。まず、多層配線基板2の上面20aに板状のCuなどの金属材料で形成される電極基体を配置し、当該電極基体が被覆されるように無電解めっきにより給電膜を形成する。給電膜は、無電解Cuめっきにより形成される。その後、給電膜が被覆されるようにめっきレジスト膜を付与する。めっきレジスト膜は既知のフォトレジスト膜材料から適宜選択することができる。次に、めっきレジスト膜が露光、現像されることにより、給電膜の少なくとも一部が露出するように開口部を形成し、開口部に電解めっきを施すことにより、多層配線基板2の上面20aに金属突起物を形成する。金属突起物は、例えばCuめっきにより形成される。その後、めっきレジスト膜を除去し、露出した給電膜および電極基体をエッチングにより除去した後、金属突起物にNiめっき膜およびAuめっき膜を形成して第1突起電極5aを形成することができる。
第1突起電極5aの表面は、Auめっきされている必要があるが、上記したように、Niめっき膜とAuめっき膜の2層になっていてもよいし、Auめっき膜単層であってもよい。また、第1突起電極5aは、表面にAuめっきが施された金属ブロックを多層配線基板2の上面20aに配置することにより形成してもよい。また、Auめっきされた端子電極を持つ部品を第1突起電極5aとして利用してもよい。
ボンディングワイヤー11は、一般的にワイヤーボンディングに利用される、Au、Al、Cuなどの金属ワイヤーである。図2に示すように、複数のボンディングワイヤー11が部品3aを跨ぐように配置され、多層配線基板2の上面20aに対して垂直な方向から見たときに、各ボンディングワイヤー11が部品3aに対して縦方向と横方向に格子状に配置されている。各ボンディングワイヤー11がこのように部品3aを覆うように配置されることで、部品3aに対するシールド部材13を形成している。また、この実施形態では、接合の終点部12b(セカンドボンド側の端部)である端部に第1突起電極5aが配置されている。ボンディングワイヤー11は、接合の終点部12bからの高さが高くなるほど、ループ形状をコントロールすることが困難になり、特に、セカンドボンド側で許容量以上に曲がってしまい、部品3aに接触する恐れがある。しかしながら、本実施形態では、接合の終点部12bに第1突起電極5aを配置することで、ボンディングワイヤー11の接合の終点部12bからの高さが低くなるため、ループ形状を安定させることができる。このため、部品3aに接触しないように、かつ、部品3aからの距離が小さい位置にボンディングワイヤー11を配置することができる。
シールド膜6は、封止樹脂層4の表面(上面4a、側面4c)と多層配線基板2の側面20cとを被覆する。また、シールド膜6は、多層配線基板2の側面20cに露出したグランド電極(図示省略)に接続される。
シールド膜6は、封止樹脂層4の上面4aに積層された密着膜と、密着膜に積層された導電膜と、導電膜に積層された保護膜とを有する多層構造で形成することができる。ここで、密着膜は、導電膜と封止樹脂層4との密着強度を高めるために設けられたものであり、例えば、SUSなどの金属で形成することができる。導電膜は、シールド膜6の実質的なシールド機能を担う層であり、例えば、Cu、Ag、Alのうちのいずれかの金属で形成することができる。保護膜は、導電膜が腐食したり、傷が付いたりするのを防止するために設けられたものであり、例えば、SUSで形成することができる。
したがって、上記した実施形態によれば、ボンディングワイヤー11のセカンドボンド側の端部である接合の終点部12bに第1突起電極5aを配置することで、セカンドボンド側のボンディングワイヤー11のループの高さを低くすることができ、ループ形状のコントロールが可能になる。このため、ボンディングワイヤー11がセカンドボンド側において不所望に曲がることによる、部品3aへの接触を防止することができるため、部品3aの側面とボンディングワイヤー11との距離を小さくしつつ、部品3aを跨ぐようなシールド部材13を容易に形成することができる。また、部品3aとボンディングワイヤー11との距離を小さくできるため、多層配線基板2の上面20aにおいて、部品を高密度に実装することができ、設計自由度を向上させることができる。
また、金属ピンのみでシールドを形成する場合と比較して、部品3aの天面を覆うようなシールドを容易に形成することができる。また、多層配線基板2の上面20aにワイヤーボンディングにより実装する部品がある場合には、部品を実装する工程で同時にボンディングワイヤー11によるシールド部材を形成することが可能であり、製造コストを削減することができる。
<第2実施形態>
本発明の第2実施形態にかかる高周波モジュール1bについて、図3〜図4を参照して説明する。なお、図3は高周波モジュール1bの断面図であって、図4のB−B矢視断面図、図4は高周波モジュール1bのシールド膜6を除いた状態の平面図である。
この実施形態にかかる高周波モジュール1bが、図1〜図2を参照して説明した第1実施形態の高周波モジュール1aと異なるところは、図3〜図4に示すように、ボンディングワイヤー11の接合の起点部12a(ファーストボンド側の端部)に、第2突起電極5bが配置されていることである。その他の構成は、第1実施形態の高周波モジュール1aと同じであるため、同一符号を付すことにより説明を省略する。
この実施形態では、ボンディングワイヤー11の接合の起点部12a(ファーストボンド側の端部)に第2突起電極5bが配置され、ボンディングワイヤー11の接合の終点部12b(セカンドボンド側の端部)に第1突起電極5aが配置されている。なお、第2突起電極5bは、第1突起電極5aと同様に形成することができる。
この構成によれば、第1実施形態の高周波モジュール1aと同様の効果に加えて、ボンディングワイヤー11の起点部12aおよび終点部12bからの高さを低くすることができるため、さらにループ形状のコントロールが容易になる。
(突起電極の変形例)
上記した実施形態では、複数の第1突起電極5aおよび複数の第2突起電極5bが、多層配線基板2の上面20aに配置されていたが、図5に示す高周波モジュール1cの突起電極5cのように、突起電極が枠状に形成されていてもよい。この場合、複数の突起電極を形成する必要がないため、製造コストを抑制することができる。
(ボンディングワイヤーの変形例)
上記した実施形態では、多層配線基板2の上面20aに対して垂直な方向から見たときに、複数のボンディングワイヤー11が部品3aに対して縦方向と横方向に格子状に配置されていたが、図6に示す高周波モジュール1dのように、複数のボンディングワイヤー11aが部品3aに対して斜め方向に略平行に配列されていてもよい。部品3aに対して斜め方向にボンディングワイヤー11aを配置することにより、部品3aに対する縦方向からと横方向からの電磁波を同時に遮断することができる。このため、格子状に配置した場合と比べて少ない本数のボンディングワイヤー11aで、部品3aに対するシールド特性を向上させることができる。
<第3実施形態>
本発明の第3実施形態にかかる高周波モジュール1eについて、図7〜図8を参照して説明する。なお、図7は高周波モジュール1eの断面図であって、図8のC−C矢視断面図、図8は図7のシールド膜6を除いた状態の平面図である。
この実施形態にかかる高周波モジュール1eが、図1〜図2を参照して説明した第1実施形態の高周波モジュール1aと異なるところは、図7および図8に示すように、複数のボンディングワイヤー11bが、多層配線基板2の上面20aに対して垂直な方向から見たときに、部品3aを囲むように部品3aの周囲に沿って配置されている点である。その他の構成は、第1実施形態の高周波モジュール1aと同じであるため、同一符号を付すことにより説明を省略する。
この実施形態では、接合の終点部12b(セカンドボンド側の端部)が第1突起電極5aに接続され、接合の起点部12a(ファーストボンド側の端部)が多層配線基板2の上面20aに接続された複数のボンディングワイヤー11bが、部品3aの周囲に沿って配置されて、部品3aの側面を囲むようにシールド部材が形成されている。また、封止樹脂層4の上面4aにおいて、ボンディングワイヤー11bとシールド膜6とが接しているため、部品3aの側面および上面を覆うシールドが形成されている。
この構成によれば、ボンディングワイヤー11を緻密に配置することで、ボンディングワイヤー11のループ形状を安定させることができる。また、ボンディングワイヤー11が封止樹脂層4の上面4aにおいてシールド膜6と接することにより、部品3aの側面および上面に対する電磁波を遮断することができる。
<第4実施形態>
本発明の第3実施形態にかかる高周波モジュール1fについて、図9〜図10を参照して説明する。なお、図9は高周波モジュール1fの断面図であって、図10のD−D矢視断面図、図10は図9のシールド膜6を除いた状態の平面図である。
この実施形態にかかる高周波モジュール1fが、図1〜図2を参照して説明した第1実施形態の高周波モジュール1aと異なるところは、図9および図10に示すように、ボンディングワイヤー11cが封止樹脂層4の上面4aにおいて、シールド膜6と接続している点である。その他の構成は、第1実施形態の高周波モジュール1aと同じであるため、同一符号を付すことにより説明を省略する。
部品3aを跨ぐようにボンディングワイヤーを配置して封止樹脂層4を形成した後に、封止樹脂層4の上面4aを研磨することにより、ボンディングワイヤー11cが封止樹脂層4の上面4aから露出する。この状態でシールド膜6を形成することにより、封止樹脂層4の上面4aでシールド膜6と接続されたボンディングワイヤー11cを形成することができる。
この構成によれば、ボンディングワイヤー11cとシールド膜6とで、部品3aを覆うシールド部材13を形成することができる。また、高周波モジュール1fの低背化が容易である。
なお、本発明は上記した各実施形態に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない限りにおいて、上記したもの以外に種々の変更を行なうことが可能である。例えば、上記した各実施形態や変形例の構成を組合わせてもよい。
また、本発明は、シールドを備える種々の高周波モジュールに適用することができる。
1a〜1f 高周波モジュール
2 多層配線基板(配線基板)
3a〜3d 部品
4 封止樹脂層
5a〜5c 突起電極(第1突起電極、第2突起電極)
6 シールド膜
11、11a〜11c ボンディングワイヤー
12a 接合の起点部
12b 接合の終点部
13 シールド部材
本発明の第1実施形態にかかる高周波モジュールの断面図である。 図1の高周波モジュールのシールド膜を除いた状態の平面図である。 本発明の第2実施形態にかかる高周波モジュールの断面図である。 図3の高周波モジュールのシールド膜を除いた状態の平面図である。 図3の高周波モジュールの突起電極の変形例を示す図である。 図3の高周波モジュールのボンディングワイヤーの変形例を示す図である。 本発明の第3実施形態にかかる高周波モジュールの断面図である。 図7の高周波モジュールのシールド膜を除いた状態の平面図である。 本発明の第4実施形態にかかる高周波モジュールのシールド膜を除いた状態の断面図である。 図7の高周波モジュールのシールド膜を除いた状態の平面図である。 従来の高周波モジュールの断面図である。
<第4実施形態>
本発明の第実施形態にかかる高周波モジュール1fについて、図9〜図10を参照して説明する。なお、図9は高周波モジュール1fの断面図であって、図10のD−D矢視断面図、図10は図9のシールド膜6を除いた状態の平面図である。

Claims (12)

  1. 配線基板と、
    前記配線基板の一方主面に実装された部品と、
    前記配線基板の前記一方主面に形成された第1突起電極と
    ボンディングワイヤーにより形成され、前記部品をシールドするシールド部材とを備え、
    前記ボンディングワイヤーは、接合の起点部が前記配線基板の前記一方主面に接続され、接合の終点部が前記第1突起電極に接続されている
    ことを特徴とする高周波モジュール。
  2. 前記第1突起電極が金属めっきにより形成されていることを特徴とする請求項1に記載の高周波モジュール。
  3. 前記第1突起電極が金属ブロックにより形成されていることを特徴とする請求項1に記載の高周波モジュール。
  4. 前記配線基板の前記一方主面に形成された第2突起電極をさらに備え、
    前記起点部が前記第2突起電極に接続されていることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の高周波モジュール。
  5. 前記第2突起電極が金属めっきにより形成されていることを特徴とする請求項4に記載の高周波モジュール。
  6. 前記第2突起電極が金属ブロックにより形成されていることを特徴とする請求項4に記載の高周波モジュール。
  7. 前記部品を封止する封止樹脂層と
    前記封止樹脂層の表面に設けられたシールド膜とをさらに備え、
    前記封止樹脂層は、前記配線基板の前記一方主面に当接する当接面と、該当接面に対向する対向面と、前記当接面と前記対向面の端縁同士を繋ぐ側面とを有し、
    前記シールド膜は、少なくとも前記封止樹脂層の前記対向面と前記側面とを被覆し、
    前記封止樹脂層の前記対向面において、前記ボンディングワイヤーが前記シールド膜と接していることを特徴とする請求項1ないし6のいずれか1項に記載の高周波モジュール。
  8. 前記シールド部材は、複数の前記ボンディングワイヤーにより形成され、
    前記複数のボンディングワイヤーが、それぞれ前記部品を跨ぐように配置されていることを特徴とする請求項1ないし7のいずれか1項に記載の高周波モジュール。
  9. 前記シールド部材は、複数の前記ボンディングワイヤーにより形成され、
    前記複数のボンディングワイヤーが、前記部品を囲むように前記部品の周囲に沿って配置されていることを特徴とする請求項1ないし7のいずれか1項に記載の高周波モジュール。
  10. 前記配線基板の前記一方主面に対して垂直な方向から見たときに、
    前記複数のボンディングワイヤーのうち一部のボンディングワイヤーは、それぞれ略平行に配置され、
    前記複数のボンディングワイヤーのうち残りのボンディングワイヤーは、前記一部のボンディングワイヤーと交差するようにそれぞれ略平行に配置される
    ことを特徴とする請求項8に記載の高周波モジュール。
  11. 前記配線基板の前記一方主面に対して垂直な方向から見たときに、
    前記部品は矩形状を有し、
    前記複数のボンディングワイヤーは、前記部品の一辺に対して斜め方向にそれぞれ略平行に配置されることを特徴とする請求項8に記載の高周波モジュール。
  12. 配線基板と、
    前記配線基板の一方主面に実装された部品と、
    前記配線基板の前記一方主面に形成された複数の第1突起電極と、
    複数のボンディングワイヤーにより形成され、前記部品をシールドするシールド部材と、
    前記部品を封止する封止樹脂層と、
    前記封止樹脂層の表面に設けられたシールド膜とを備え、
    前記封止樹脂層は、前記配線基板の前記一方主面に当接する当接面と、該当接面に対向する対向面と、前記当接面と前記対向面の端縁同士を繋ぐ側面とを有し、
    前記シールド膜は、少なくとも前記封止樹脂層の前記対向面と前記側面とを被覆し、
    前記ボンディングワイヤーは、一端が前記第1突起電極に接続され、他端が前記封止樹脂層の前記対向面から露出して前記シールド膜と接続している
    ことを特徴とする高周波モジュール。
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11239178B2 (en) * 2018-11-29 2022-02-01 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Semiconductor package structures and methods of manufacturing the same
WO2021039325A1 (ja) * 2019-08-23 2021-03-04 株式会社村田製作所 モジュール
CN114521290A (zh) * 2019-09-27 2022-05-20 株式会社村田制作所 模块
US11450618B2 (en) 2020-01-17 2022-09-20 STATS ChipPAC Pte. Ltd. Semiconductor device and method of compartment shielding using bond wires
JP7282048B2 (ja) * 2020-02-12 2023-05-26 三菱電機株式会社 電力用半導体装置およびその製造方法
CN219085958U (zh) * 2020-06-11 2023-05-26 株式会社村田制作所 模块
WO2021256300A1 (ja) * 2020-06-16 2021-12-23 株式会社村田製作所 モジュール
US12055633B2 (en) * 2020-08-25 2024-08-06 Lumentum Operations Llc Package for a time of flight device
WO2022044504A1 (ja) * 2020-08-31 2022-03-03 株式会社村田製作所 回路モジュール及びサブモジュールの製造方法
CN114256211B (zh) * 2020-09-25 2022-10-18 荣耀终端有限公司 封装体及其制备方法、终端和电子设备
WO2022085686A1 (ja) * 2020-10-22 2022-04-28 株式会社村田製作所 回路モジュール

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001044305A (ja) * 1999-07-29 2001-02-16 Mitsui High Tec Inc 半導体装置
JP2005050868A (ja) * 2003-07-29 2005-02-24 Kyocera Corp 電子装置
US20050040501A1 (en) * 2003-08-20 2005-02-24 Hagen Deborah A. Wirebonded assemblage method and apparatus
JP2005347489A (ja) * 2004-06-02 2005-12-15 Fujitsu Ltd 半導体装置
US8012868B1 (en) * 2008-12-15 2011-09-06 Amkor Technology Inc Semiconductor device having EMI shielding and method therefor
US20120061816A1 (en) * 2010-09-10 2012-03-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor package and method of fabricating the same
WO2016117196A1 (ja) * 2015-01-21 2016-07-28 株式会社村田製作所 電力増幅モジュール
US20170236785A1 (en) * 2015-12-19 2017-08-17 Skyworks Solutions, Inc. Shielded lead frame packages
US20170263568A1 (en) * 2016-03-10 2017-09-14 Amkor Technology, Inc. Semiconductor device having conductive wire with increased attachment angle and method

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3012868A (en) 1957-12-16 1961-12-12 Dow Chemical Co Enhanced organic explosives
JP3238326B2 (ja) * 1996-07-17 2001-12-10 株式会社東芝 発光装置
JP2002359445A (ja) * 2001-03-22 2002-12-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd レーザー加工用の誘電体基板およびその加工方法ならび半導体パッケージおよびその製作方法
JP3838571B2 (ja) * 2003-08-14 2006-10-25 松下電器産業株式会社 固体撮像装置の製造方法
JP2007258670A (ja) * 2006-02-24 2007-10-04 Yamaha Corp 半導体装置
JP2009033114A (ja) * 2007-06-29 2009-02-12 Tdk Corp 電子モジュール、及び電子モジュールの製造方法
CN102105981B (zh) 2008-07-31 2013-11-13 斯盖沃克斯解决方案公司 集成的干扰屏蔽体的半导体封装体及其制造方法
JP2010258295A (ja) * 2009-04-27 2010-11-11 Sharp Corp 高周波モジュール、その製造方法、および電子機器
JP5327299B2 (ja) * 2011-09-09 2013-10-30 オムロン株式会社 半導体装置及びマイクロフォン
KR101835483B1 (ko) * 2011-12-09 2018-03-08 삼성전자주식회사 멀티-칩 패키지 및 그의 제조 방법
JP6488985B2 (ja) * 2015-10-26 2019-03-27 株式会社村田製作所 高周波モジュール
US10134686B2 (en) * 2016-09-30 2018-11-20 Avago Technologies International Sales Pte. Limited Systems and methods for providing electromagnetic interference (EMI) compartment shielding for components disposed inside of system electronic packages
CN219085958U (zh) * 2020-06-11 2023-05-26 株式会社村田制作所 模块

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001044305A (ja) * 1999-07-29 2001-02-16 Mitsui High Tec Inc 半導体装置
JP2005050868A (ja) * 2003-07-29 2005-02-24 Kyocera Corp 電子装置
US20050040501A1 (en) * 2003-08-20 2005-02-24 Hagen Deborah A. Wirebonded assemblage method and apparatus
JP2005347489A (ja) * 2004-06-02 2005-12-15 Fujitsu Ltd 半導体装置
US8012868B1 (en) * 2008-12-15 2011-09-06 Amkor Technology Inc Semiconductor device having EMI shielding and method therefor
US20120061816A1 (en) * 2010-09-10 2012-03-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor package and method of fabricating the same
WO2016117196A1 (ja) * 2015-01-21 2016-07-28 株式会社村田製作所 電力増幅モジュール
US20170236785A1 (en) * 2015-12-19 2017-08-17 Skyworks Solutions, Inc. Shielded lead frame packages
US20170263568A1 (en) * 2016-03-10 2017-09-14 Amkor Technology, Inc. Semiconductor device having conductive wire with increased attachment angle and method

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