JPWO2015072098A1 - ゲート駆動回路およびそれを用いた電力変換装置 - Google Patents

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Abstract

半導体デバイスを誤点弧することなく高速に駆動するゲート駆動回路を提供する。順バイアスのための正電源と、逆バイアスのための負電源と、ゲート駆動信号Sに応じて正電源の電圧または負電源の電圧を出力する第1バイアス回路と、第1バイアス回路が負電源の電圧を出力する際に負電源の電圧により充電されるコンデンサと、ゲート駆動信号Sに応じて正電源の電圧または負電源の電圧を半導体デバイスのゲートへ供給する第2バイアス回路とを設ける。第2バイアス回路は、半導体デバイスがターンオンする遷移期間の初期段階に限り、正電源の電圧に代えて、第1バイアス回路から出力される正電源の電圧にコンデンサの充電電圧を重畳することにより昇圧された電圧を半導体デバイスのゲートへ供給する。

Description

本発明は、半導体デバイスを誤点弧することなく高速に駆動するゲート駆動回路、およびそれを用いた電力変換装置に関するものである。
従来のゲート駆動回路としては、専用電源を用いてコンデンサに充電しておき、スイッチング素子である半導体デバイスがターンオンする遷移期間の初期段階に、コンデンサの充電電圧に基づいて駆動電源電圧を昇圧して駆動電圧を生成し、生成した駆動電圧を半導体デバイスに供給するように構成され、指示信号に基づいてコンデンサの充電電圧を可変電圧生成部により調整可能とし、以て駆動電圧を適宜調整して当該半導体デバイスの高速スイッチングを実現するものがあった。しかも、スイッチング素子であるMOSFET(metal−oxide−semiconductor field−effect transistor)のドレイン・ソース間電圧が変化するミラー期間が終了するまでにコンデンサの充電電荷を放電するようにしていた(特許文献1参照)。
また、従来のゲート駆動回路の別の例としては、半導体デバイスがオフしている間にコンデンサを充電し、当該半導体デバイスがターンオンする際に電源電圧とコンデンサの充電電圧とを直列に合成した順方向高電圧により、当該半導体デバイスの入力容量を瞬時に初期充電して当該半導体デバイスを迅速にターンオンさせるものがあった(特許文献2参照)。
特開2013−99181号公報 特開2010−200560号公報
しかしながら、特許文献1に示すゲート駆動回路の構成では、可変電圧生成部によって電圧を変更して制御するので、数十ns以下で半導体デバイスを高速駆動する場合、指示信号とPWM(pulse−width modulation)信号との同期をとりつつ指示信号を受けて電圧を変更する必要があり、制御系を構成するうえで応答性に課題を有していた。また、可変電圧生成部を新たに設ける必要があるため、回路構成が複雑かつ高コストになるという課題を有していた。
また、充電電荷の放電期間がミラー期間を含んでいると、半導体デバイスをブリッジ構成とした際の対向するアームのドレイン・ソース間電圧の変動期間も短縮されるため、ミラー容量への充電電流ピーク値が増加し、オフ状態の半導体デバイスが誤点弧する可能性が高まるという課題を有していた。
また、特許文献2に示すゲート駆動回路では、電源電圧の2倍の電圧によって半導体デバイスのゲート入力容量を瞬時に初期充電して迅速にターンオンさせることになるので、駆動対象がゲート容量の大きい、例えば化合物(SiC、GaN等)半導体の場合、ゲート電流ピークが過大となり、ゲート電流を通電する半導体の電流容量が大きくなる。その結果、ゲート駆動回路はプリント基板面積が大きくなり、プリント基板上の配線インダクタンス等が大きくなって高周波ノイズが重畳し易く、また自己発生ノイズによる誤点弧等の可能性が高まるという課題を有していた。
本発明は、上記従来の課題を解決するもので、半導体デバイスを誤点弧することなく高速に駆動するゲート駆動回路を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明のゲート駆動回路は、半導体デバイスのゲートを駆動するゲート駆動回路であって、半導体デバイスの順バイアスのための正電源と、半導体デバイスの逆バイアスのための負電源と、ゲート駆動信号を入力し当該ゲート駆動信号に応じて正電源の電圧または負電源の電圧を出力する第1バイアス回路と、第1バイアス回路が負電源の電圧を出力する際に負電源の電圧により充電されるコンデンサと、ゲート駆動信号を入力し当該ゲート駆動信号に応じて正電源の電圧または負電源の電圧を半導体デバイスのゲートへ供給する第2バイアス回路とを備え、第2バイアス回路は、半導体デバイスがターンオンする遷移期間の初期段階にて、正電源の電圧に代えて、第1バイアス回路から出力される正電源の電圧にコンデンサの充電電圧を重畳することにより昇圧された電圧を半導体デバイスのゲートへ供給するように構成される。
本構成によって、ターンオン時の初期段階では正電源の電圧に負電源の電圧を重畳した電圧で半導体デバイスを駆動し、コンデンサの充電電荷が放電された後は正電源の電圧で半導体デバイスを駆動することができる。
コンデンサに蓄積される電荷量は、半導体デバイスがターンオンする際に当該半導体デバイスのゲート電圧がプラトー電圧に到達するまでに必要な電荷量以下とすればよい。
本発明のゲート駆動回路によれば、負電源の電圧、すなわち逆バイアス電圧を用いてコンデンサへの充電を行うため、ゲート駆動信号のみでターンオン時の順バイアス電圧を段階的に変化させることができ、簡単な構成でかつ低コスト化して高速駆動を実現できる。また、順バイアス電圧が過剰な電圧(例えば正電源電圧の2倍)ではなく、逆バイアス電圧を重畳した電圧となるため、急峻なゲート電流が通電されることはなく、電流ピークの抑制と適切な電流ピーク時間の設定ができる。
また、コンデンサの蓄積電荷量を、半導体デバイスがターンオンする際に当該半導体デバイスのゲート電圧がプラトー電圧に到達するまでに必要な電荷量以下とすれば、ミラー期間を過ぎた後は正電源の電圧のみで駆動するため、ブリッジ構成とした際の対向するアームのデバイス端子電圧の変動期間は短縮せず、ミラー容量への充電電流ピーク値を抑制し、以て誤点弧を抑制することができる。
本発明の実施形態に係るゲート駆動回路の構成を示す回路図である。 ゲート駆動信号がLレベルであるときの図1のゲート駆動回路の動作を説明するための図である。 ゲート駆動信号がHレベルであるときの図1のゲート駆動回路の動作を説明するための図である。 誘導性負荷を接続した場合のMOSFETのターンオン時の各部波形の例を示す図である。 各アームがMOSFETで構成されたハーフブリッジ回路にてMOSFETが誤点弧する可能性があることを説明するための回路図である。 フルブリッジ回路の各アームに図1のゲート駆動回路を用いてなる電力変換装置の例を示す回路図である。
以下、本発明の実施形態について、図面を参照しながら説明する。
図1は、本発明の実施形態に係るゲート駆動回路の構成を示す回路図である。図1のゲート駆動回路1は、半導体デバイス6をなすMOSFETのゲートを駆動する回路であって、正電源2と、負電源3と、第1バイアス回路4と、コンデンサ5と、第2バイアス回路7と、制限抵抗8,9と、逆流防止ダイオード10A,10B,10Cと、コンデンサ21,22と、抵抗23と、逆流防止ダイオード24,25とを備える。
正電源2は、半導体デバイス6の順バイアスのための電源である。負電源3は、半導体デバイス6の逆バイアスのための電源であって、コンデンサ3aと、ツェナーダイオード3bとの並列接続により構成される。コンデンサ21と、抵抗23とは、正電源2と負電源3との間に配されている。
第1バイアス回路4は、NPNトランジスタ4aと、PNPトランジスタ4bと、絶縁回路4cとにより構成され、PWM信号でもあるゲート駆動信号Sを入力し、当該ゲート駆動信号Sに応じて正電源2の電圧または負電源3の電圧を出力する。具体的には、ゲート駆動信号Sに応じてNPNトランジスタ4aがオン状態になると、正電源2の電圧が逆流防止ダイオード24およびNPNトランジスタ4aを介して第1バイアス回路4から出力される。また、ゲート駆動信号Sに応じてPNPトランジスタ4bがオン状態になると、負電源3の電圧がPNPトランジスタ4bを介して第1バイアス回路4から出力される。
コンデンサ5は、第1バイアス回路4が負電源3の電圧を出力する際に、当該負電源3の電圧により充電される。制限抵抗9は、コンデンサ5への充電電流を制限する。逆流防止ダイオード10Aは、コンデンサ5から負電源3側への放電電流を防止する。
第2バイアス回路7は、NPNトランジスタ7aと、PNPトランジスタ7bと、絶縁回路7cとにより構成され、ゲート駆動信号Sを入力し、当該ゲート駆動信号Sに応じて正電源2の電圧または負電源3の電圧を半導体デバイス6のゲートへ供給する。ただし、第2バイアス回路7は、半導体デバイス6がターンオンする遷移期間の初期段階に限り、正電源2の電圧に代えて、第1バイアス回路4から出力される正電源2の電圧にコンデンサ5の充電電圧を重畳することにより昇圧された電圧を半導体デバイス6のゲートへ供給する。逆流防止ダイオード10Bは、コンデンサ5から正電源2側への放電電流を防止する。逆流防止ダイオード10Cは、正電源2からコンデンサ5への充電電流を防止する。制限抵抗8は、半導体デバイス6の駆動電流を制限する。
図2は、ゲート駆動信号SがLレベルであって、第1バイアス回路4中のPNPトランジスタ4bと第2バイアス回路7中のPNPトランジスタ7bとがオン状態であるときの図1のゲート駆動回路1の動作を説明するための図である。このとき、負電源3から逆流防止ダイオード10A、制限抵抗9、コンデンサ5、PNPトランジスタ4bによって、コンデンサ5を充電する第1閉ループが生成され、電流I1が流れる。これにより、コンデンサ5には、逆流防止ダイオード25のカソード側が正極となり、かつ逆流防止ダイオード25のアノード側が負極となるように、電荷が蓄積される。また、第2バイアス回路7が制限抵抗8を介して別途閉ループを生成するので、電流I2が流れることにより、半導体デバイス6はオフ状態となる。
図3は、ゲート駆動信号SがHレベルであって、第1バイアス回路4中のNPNトランジスタ4aと第2バイアス回路7中のNPNトランジスタ7aとがオン状態であるときの図1のゲート駆動回路1の動作を説明するための図である。このとき、正電源2からNPNトランジスタ4a、コンデンサ5、逆流防止ダイオード10Cを経由して電流I3が流れることにより、第1バイアス回路4から第2バイアス回路7へ正のバイアス電圧が供給される。ここで、コンデンサ5の充電電圧は逆流防止ダイオード25のカソード側が正極であるため、正電源2の電圧にコンデンサ5の充電電圧が加算されるので、昇圧された電圧がNPNトランジスタ7aと制限抵抗8とを介して半導体デバイス6のゲートに供給されることになる。ただし、コンデンサ5の蓄積電荷は徐々に放電される。したがって、コンデンサ5の充電電圧は放電と共に低下し、2つの逆流防止ダイオード10B,10Cのカソード側の接続点の電圧が、正電源2の電圧から逆流防止ダイオード10Bの電圧低下分を差し引いた電圧よりも低くなった時点で、コンデンサ5を経由する電流I3は流れなくなり、正電源2から逆流防止ダイオード10Bを介した電流I4が流れることになる。
以上のように、図1のゲート駆動回路1によれば、半導体デバイス6がターンオンする遷移期間の初期段階では正電源2の電圧に負電源3の電圧を加算した昇電圧で半導体デバイス6を駆動し、その後は正電源2のみの電圧で半導体デバイス6を駆動するため、ゲート駆動信号Sのみで半導体デバイス6のターンオン時の順バイアス電圧を段階的に変化させることができる。したがって、簡単な構成かつ低コストで半導体デバイス6の高速駆動を実現できる。また、順バイアス電圧を過剰な電圧(例えば正電源電圧の2倍)ではなく、適切な電圧とすることができる。
図4は、誘導性負荷を接続した場合のMOSFETのターンオン時の各部波形の例を示す図である。図4では、上から順に、ドレイン・ソース間電圧Vds、ドレイン電流Id、ゲート・ソース間電圧Vgsを示している。t1はゲート・ソース間電圧Vgsの立ち上がり期間、t2はゲート・ソース間電圧Vgsが一定のプラトー電圧Vgpを示すミラー期間、t3はミラー期間後のゲート・ソース間電圧Vgsの上昇期間、t4はドレイン電流Idの立ち上がり期間である。ドレイン電流Idの立ち上がり期間t4は、ゲート・ソース間電圧Vgsの立ち上がり期間t1に含まれている。
図4に示したように、ゲート・ソース間電圧Vgsが閾値電圧Vthを超えるとドレイン電流Idが流れ始め、ゲート・ソース間電圧Vgsがプラトー電圧Vgpに到達した際にMOSFETが所定の負荷電流を流す。また、ドレイン・ソース間電圧Vdsは、ミラー期間中に、MOSFETのオン抵抗と負荷電流とによって決まる電圧まで低下する。スイッチング損失の低減のためには、ミラー期間t2の短縮と、ドレイン電流立ち上がり期間t4の短縮とが有効である。
図5は、各アームがMOSFETで構成されたハーフブリッジ回路にてMOSFETが誤点弧する可能性があることを説明するための回路図である。図5のハーフブリッジ回路11は、上アームのMOSFETである半導体デバイス6Aと、下アームのMOSFETである半導体デバイス6Bとの直列回路を備えている。一方の半導体デバイス6Aでは、ドレイン・ソース間に環流ダイオードである半導体デバイス33Aが接続されるとともに、当該半導体デバイス6Aをオフ状態とするように負電源3Aが制限抵抗8Aを介してゲートに接続されている。31Aはゲート・ドレイン間の寄生容量(ミラー容量)、32Aはゲート・ソース間の寄生容量である。他方の半導体デバイス6Bでは、ドレイン・ソース間に環流ダイオードである半導体デバイス33Bが接続されるとともに、当該半導体デバイス6Bをオン状態またはオフ状態とするように正電源2Bまたは負電源3Bが制限抵抗8Bを介してゲートに接続されている。31Bはゲート・ドレイン間の寄生容量、32Bはゲート・ソース間の寄生容量である。
図5において、下アームの半導体デバイス6Bがオフ状態からターンオンした場合、当該半導体デバイス6Bのドレイン・ソース間電圧Vdsの変化期間(図5のミラー期間t2)には、上アームの半導体デバイス6Aのドレイン・ゲート間電圧Vdgも変化する結果、後者の半導体デバイス6Aのドレインからゲートへ充電電流Idgが流れる。この充電電流Idgはドレイン・ゲート間電圧Vdgの変化速度に応じて決定され、ドレイン・ゲート間電圧Vdgの変化速度が大きいほど充電電流Idgも大きくなる。そして、充電電流Idgと半導体デバイス6Aのゲート・ソース間のインピーダンスとによって、負電源3Aの電圧が逆バイアス電圧としてゲートに印加されている半導体デバイス6Aのゲート・ソース間電圧Vgsが上昇し、半導体デバイス6Aが誤点弧する可能性が生じる。逆に言うと、この誤点弧を抑制するためには、ミラー期間t2を短縮しない方がよいことが判る。
以上のことから、ミラー期間t2を短縮せずに、ドレイン電流立ち上がり期間t4、またはゲート・ソース間電圧立ち上がり期間t1を選択的に短縮するために、図1中の半導体デバイス6であるMOSFETのゲート・ソース間電圧Vgsがプラトー電圧Vgpに到達するまでのゲート・ソース間電荷量をQp、負電源3の電源電圧をVminusとすると、コンデンサ5の容量Cを、
C=Qp/Vminus
とするのがよい。つまり、コンデンサ5の蓄積電荷量を、半導体デバイス6がターンオンする際にゲート・ソース間電圧Vgsがプラトー電圧Vgpに到達するまでに必要な電荷量以下とするのである。これにより、図4のミラー期間t2が開始するまでにコンデンサ5の充電電荷は放電する。
以上に説明したコンデンサ5の容量Cを採用することによって、ミラー期間t2を短縮せずに、ドレイン電流立ち上がり期間t4、またはゲート・ソース間電圧立ち上がり期間t1を選択的に短縮することができるので、ハーフブリッジ回路11の構成時にターンオンする半導体デバイス6Bに対向する、オフ状態にある半導体デバイス6Aの寄生容量(ミラー容量)31Aへの充電電流Idgを抑制することができる結果、半導体デバイス6Aの誤点弧を抑制することができる。
図6は、フルブリッジ回路の各アームに図1のゲート駆動回路を用いてなる電力変換装置の例を示す回路図である。図6の電力変換装置13は、各々直流電源12に接続された第1および第2ハーフブリッジ回路11A,11Bと、ゲート駆動信号を生成する信号生成回路14と、出力波形を整形するフィルタ回路15と、出力電圧を検出する電圧センサ16とを有する単相インバータであって、単相交流出力が負荷40に接続されている。フィルタ回路15は、インダクタ15aと、コンデンサ15bとで構成される。
第1ハーフブリッジ回路11Aは、上アームのMOSFETである半導体デバイス6Aと、下アームのMOSFETである半導体デバイス6Bとの直列回路を備えている。一方の半導体デバイス6Aでは、ドレイン・ソース間に半導体デバイス33Aが、ゲート・ソース間にゲート駆動回路1Aがそれぞれ接続されている。他方の半導体デバイス6Bでは、ドレイン・ソース間に半導体デバイス33Bが、ゲート・ソース間にゲート駆動回路1Bがそれぞれ接続されている。第2ハーフブリッジ回路11Bは、上アームのMOSFETである半導体デバイス6Cと、下アームのMOSFETである半導体デバイス6Dとの直列回路を備えている。一方の半導体デバイス6Cでは、ドレイン・ソース間に環流ダイオードである半導体デバイス33Cが、ゲート・ソース間にゲート駆動回路1Cがそれぞれ接続されている。他方の半導体デバイス6Dでは、ドレイン・ソース間に環流ダイオードである半導体デバイス33Dが、ゲート・ソース間にゲート駆動回路1Dがそれぞれ接続されている。ゲート駆動回路1A,1B,1C,1Dは、各々例えば図1の構成を持つ。
信号生成回路14は、ゲート駆動回路1A,1B,1C,1Dの各々へゲート駆動信号を供給するように、各ゲート駆動信号をPWMに従ってデューティ制御する。この際、第1ハーフブリッジ回路11Aの半導体デバイス33Aと第2ハーフブリッジ回路11Bの半導体デバイス33Dとがオン状態であるときには第1ハーフブリッジ回路11Aの半導体デバイス33Bと第2ハーフブリッジ回路11Bの半導体デバイス33Cとがオフ状態を保持し、第2ハーフブリッジ回路11Bの半導体デバイス33Cと第1ハーフブリッジ回路11Aの半導体デバイス33Bとがオン状態であるときには第2ハーフブリッジ回路11Bの半導体デバイス33Dと第1ハーフブリッジ回路11Aの半導体デバイス33Aとがオフ状態を保持するように制御される。
図6の電力変換装置13では、第1および第2ハーフブリッジ回路11A,11Bから出力され、フィルタ回路15を通過して負荷40に印加される電圧が、目標の波高値の正弦波電圧となるように、電圧センサ16の出力が信号生成回路14にフィードバックされ、信号生成回路14が各ゲート駆動信号のパルス幅を変調する。
以上のように、図6の電力変換装置13によれば、図1のゲート駆動回路1の構成を図6中のゲート駆動回路1A,1B,1C,1Dの各々に適用することによって、半導体デバイス6A,6B,6C,6Dを高速に駆動することによる低損失化が図れると同時に、誤点弧を防止することができる。
なお、以上の説明において、半導体デバイス6,6A,6B,6C,6DとしてMOSFETを図示したが、本発明をこれに限定するものではなく、IGBT(insulated−gate bipolar transistor)であっても作用効果に相違は無い。
また、Si系のパワー半導体デバイスのみならず、SiC、GaN等の化合物半導体デバイスであってもよい。
また、逆バイアス用の負電源3をコンデンサ3aとツェナーダイオード3bとにより構成したが、本発明をこれに限定するものではなく、その他の構成であってもよい。
また、制御信号側と二次側との間を絶縁回路4c,7cで絶縁する構成としたが、レベルシフト回路等を用いた構成であってもよい。
また、電力変換装置13を単相インバータとしたが、三相インバータ、コンバータ、マトリックスコンバータ等の電力変換装置であっても、本発明は適用可能である。
本発明に係るゲート駆動回路は、パワー半導体デバイスのゲートに印加する電圧を2段階に切り替えて高速化を図りつつ、誤点弧を防止することができるので、高速スイッチングを必要とする電力変換装置に用いる半導体デバイスの駆動技術として有用である。
1,1A,1B,1C,1D ゲート駆動回路
2,2B 正電源
3,3A,3B 負電源
3a コンデンサ
3b ツェナーダイオード
4 第1バイアス回路
4a NPNトランジスタ
4b PNPトランジスタ
4c 絶縁回路
5 コンデンサ
6,6A,6B,6C,6D 半導体デバイス
7 第2バイアス回路
7a NPNトランジスタ
7b PNPトランジスタ
7c 絶縁回路
8,8A,8B 制限抵抗
9 制限抵抗
10A,10B,10C 逆流防止ダイオード
11,11A,11B ハーフブリッジ回路
12 直流電源
13 電力変換装置
14 信号生成回路
15 フィルタ回路
15a インダクタ
15b コンデンサ
16 電圧センサ
21,22 コンデンサ
23 抵抗
24,25 逆流防止ダイオード
31A,31B ゲート・ドレイン間の寄生容量
32A,32B ゲート・ソース間の寄生容量
33A,33B,33C,33D 半導体デバイス
40 負荷
S ゲート駆動信号

Claims (5)

  1. 半導体デバイスのゲートを駆動するゲート駆動回路であって、
    前記半導体デバイスの順バイアスのための正電源と、
    前記半導体デバイスの逆バイアスのための負電源と、
    ゲート駆動信号を入力し、当該ゲート駆動信号に応じて前記正電源の電圧または前記負電源の電圧を出力する第1バイアス回路と、
    前記第1バイアス回路が前記負電源の電圧を出力する際に、前記負電源の電圧により充電されるコンデンサと、
    前記ゲート駆動信号を入力し、当該ゲート駆動信号に応じて前記正電源の電圧または前記負電源の電圧を前記半導体デバイスのゲートへ供給する第2バイアス回路とを備え、
    前記第2バイアス回路は、前記半導体デバイスがターンオンする遷移期間の初期段階にて、前記正電源の電圧に代えて、前記第1バイアス回路から出力される前記正電源の電圧に前記コンデンサの充電電圧を重畳することにより昇圧された電圧を前記半導体デバイスのゲートへ供給するゲート駆動回路。
  2. 請求項1に記載のゲート駆動回路において、
    前記コンデンサに蓄積される電荷量は、前記半導体デバイスがターンオンする際に当該半導体デバイスのゲート電圧がプラトー電圧に到達するまでに必要な電荷量以下であるゲート駆動回路。
  3. 請求項1または2に記載のゲート駆動回路を用いた電力変換装置。
  4. 半導体デバイスのゲートを駆動するゲート駆動回路であって、
    正電源と、
    負電源と、
    ゲート駆動信号と前記正電源の電圧と前記負電源の電圧を入力し、当該ゲート駆動信号に応じて前記正電源の電圧または前記負電源の電圧を出力する第1バイアス回路と、
    前記第1バイアス回路が前記負電源の電圧を出力する際に、前記負電源の電圧により充電される第1コンデンサと、
    前記第1バイアス回路と前記第1コンデンサとの間で直列接続される第1抵抗と、第1逆流防止ダイオードと、
    前記ゲート駆動信号を入力し、当該ゲート駆動信号に応じて前記正電源の電圧または前記負電源の電圧を前記半導体デバイスのゲートへ供給する第2バイアス回路とを備え、
    前記正電源と前記負電源との間に配された第2抵抗と第2コンデンサと第3コンデンサと、
    前記正電源と前記第1バイアス回路との間に配された第2逆流防止ダイオードと、
    前記第1コンデンサと並列に接続され、アノード側が前記第1バイアス回路の出力と接続された第3逆流防止ダイオードと、
    前記正電源と前記第2バイアス回路との間に配された第4逆流防止ダイオードと、
    前記第3逆流防止ダイオードのカソードとアノード側が接続された第4逆流防止ダイオードと
    前記第2バイアス回路の出力に接続された第3抵抗を備えたゲート駆動回路。
  5. 前記負電源はコンデンサと、ツェナーダイオードとの並列接続により構成され、
    前記第1バイアス回路は、第1絶縁回路と第1NPNトランジスタと第1PNPトランジスタとからなり、
    前記第2バイアス回路は、第2絶縁回路と第2NPNトランジスタと第2PNPトランジスタとからなることを特徴とする
    請求項4のゲート駆動回路。
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