JPWO2010131286A1 - 受信装置、試験装置、受信方法および試験方法 - Google Patents
受信装置、試験装置、受信方法および試験方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JPWO2010131286A1 JPWO2010131286A1 JP2011513120A JP2011513120A JPWO2010131286A1 JP WO2010131286 A1 JPWO2010131286 A1 JP WO2010131286A1 JP 2011513120 A JP2011513120 A JP 2011513120A JP 2011513120 A JP2011513120 A JP 2011513120A JP WO2010131286 A1 JPWO2010131286 A1 JP WO2010131286A1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- clock
- unit
- phase
- signal
- data signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 49
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 12
- 238000010998 test method Methods 0.000 title claims description 4
- 240000007320 Pinus strobus Species 0.000 claims abstract description 87
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 16
- 238000012549 training Methods 0.000 claims description 24
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 5
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 13
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 7
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 7
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 7
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 101100020619 Arabidopsis thaliana LATE gene Proteins 0.000 description 3
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 2
- 230000001172 regenerating effect Effects 0.000 description 2
- 230000008929 regeneration Effects 0.000 description 2
- 238000011069 regeneration method Methods 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L7/00—Arrangements for synchronising receiver with transmitter
- H04L7/02—Speed or phase control by the received code signals, the signals containing no special synchronisation information
- H04L7/033—Speed or phase control by the received code signals, the signals containing no special synchronisation information using the transitions of the received signal to control the phase of the synchronising-signal-generating means, e.g. using a phase-locked loop
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L7/00—Arrangements for synchronising receiver with transmitter
- H04L7/02—Speed or phase control by the received code signals, the signals containing no special synchronisation information
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31727—Clock circuits aspects, e.g. test clock circuit details, timing aspects for signal generation, circuits for testing clocks
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
- G11C29/56012—Timing aspects, clock generation, synchronisation
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/07—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop using several loops, e.g. for redundant clock signal generation
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/0805—Details of the phase-locked loop the loop being adapted to provide an additional control signal for use outside the loop
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/0807—Details of the phase-locked loop concerning mainly a recovery circuit for the reference signal
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/085—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal
- H03L7/091—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal the phase or frequency detector using a sampling device
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/10—Details of the phase-locked loop for assuring initial synchronisation or for broadening the capture range
- H03L7/104—Details of the phase-locked loop for assuring initial synchronisation or for broadening the capture range using an additional signal from outside the loop for setting or controlling a parameter in the loop
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L7/00—Arrangements for synchronising receiver with transmitter
- H04L7/0008—Synchronisation information channels, e.g. clock distribution lines
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
Abstract
Description
Claims (15)
- データ信号および前記データ信号を取り込む基準タイミングを示すクロック信号を受信する受信装置であって、
前記クロック信号の第1再生クロックを生成する第1再生クロック生成部と、
前記第1再生クロックのパルスに応じて、互いに位相が異なる第1の複数のストローブを発生する第1マルチストローブ発生部と、
前記第1の複数のストローブのそれぞれのタイミングにおける前記クロック信号の値に基づいて、前記第1の複数のストローブに対する前記クロック信号のエッジ位置を検出する第1検出部と、
前記クロック信号のエッジ位置に応じて前記第1再生クロックの位相を調整する第1調整部と、
前記第1調整部による前記第1再生クロックの位相調整量に応じて前記データ信号を取り込むタイミングを調整する第2調整部と、
を備える受信装置。 - 第2再生クロックを生成する第2再生クロック生成部と、
前記第2再生クロックのパルスに応じて、互いに位相が異なる第2の複数のストローブを発生する第2マルチストローブ発生部と、
前記第2の複数のマルチストローブのそれぞれのタイミングにおける前記データ信号の値に基づいて、前記第2の複数のストローブに対する前記データ信号のエッジ位置を検出する第2検出部と、
を備え、
前記第2調整部は、前記第1調整部による前記第1再生クロックの位相調整量に応じて前記第2再生クロックの位相を調整する
請求項1に記載の受信装置。 - 前記第2調整部は、前記第1調整部による前記第1再生クロックの位相調整量と同量前記第2再生クロックの位相を調整する請求項2に記載の受信装置。
- 前記第2再生クロックのトレーニング期間において、前記第2調整部は、前記データ信号のエッジ位置に応じて前記第2再生クロックの位相を調整し、
前記第2再生クロックのトレーニング期間の終了後において、前記第2調整部は、前記第1調整部による前記第1再生クロックの位相調整量と同量前記第2再生クロックの位相を調整する請求項3に記載の受信装置。 - 前記第1の複数のストローブに対する前記クロック信号のエッジ位置と前記第1の複数のストローブのうち予め定められた第1境界ストローブの位置との差分を示す第1差分データと、前記第2の複数のストローブに対する前記データ信号のエッジ位置と前記第2の複数のストローブのうち予め定められた第2境界ストローブの位置との差分を示す第2差分データとのいずれに応じて前記第2再生クロックの位相を調整するかを切り替える切替部を更に備える請求項4に記載の受信装置。
- 予め設定された前記トレーニング期間の間、前記第2差分データに応じて前記第2再生クロックの位相を調整することを前記切替部に指示し、前記トレーニング期間の終了後、前記第1差分データに応じて前記第2再生クロックの位相を調整することを前記切替部に指示するタイマ部を更に備える請求項5に記載の受信装置。
- 前記切替部は、当該受信装置の動作を制御する制御部のから指示に応じて前記第1差分データおよび前記第2差分データのいずれに応じて前記第2再生クロックの位相を調整するかを切り替える
請求項5または6に記載の受信装置。 - 前記第2の複数のストローブに対する前記データ信号のエッジ位置を前記第2検出部から受け取って、前記データ信号のジッタを測定するジッタ測定部を更に備える請求項4から7のいずれかに記載の受信装置。
- 外部から与えられた受信信号を前記クロック信号として受信する第1受信部と、
前記受信信号を前記データ信号として受信する第2受信部と、
を更に備える
請求項2から8のいずれかに記載の受信装置。 - 前記第2受信部が前記受信信号の論理値を判定するために用いるしきい値を設定する閾値設定部を更に備える請求項9に記載の受信装置。
- 前記第1再生クロックに対する前記第2再生クロックの位相差を設定する位相差設定部を更に備える請求項10に記載の受信装置。
- 前記閾値設定部により複数のしきい値のそれぞれを前記第2受信部に設定し、それぞれのしきい値において前記位相差設定部により前記第1再生クロックに対する前記第2再生クロックの複数の位相差のそれぞれを設定して、それぞれのしきい値およびそれぞれの位相差が設定されている場合における前記データ信号の論理値を取得するシュムー測定部を更に備える請求項11に記載の受信装置。
- 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
請求項4から12のいずれかに記載の受信装置と、
前記受信装置により前記データ信号を取り込んだ結果に基づいて、前記被試験デバイスの良否を判定する判定部と、
を備える試験装置。 - データ信号および前記データ信号を取り込む基準タイミングを示すクロック信号を受信する受信方法であって、
前記クロック信号の第1再生クロックを生成する第1再生クロック生成ステップと、
前記第1再生クロックのパルスに応じて、互いに位相が異なる第1の複数のストローブを発生する第1マルチストローブ発生ステップと、
前記第1の複数のストローブのそれぞれのタイミングにおける前記クロック信号の値に基づいて、前記第1の複数のストローブに対する前記クロック信号のエッジ位置を検出する第1検出ステップと、
前記クロック信号のエッジ位置に応じて前記第1再生クロックの位相を調整する第1調整ステップと、
前記第1調整ステップによる前記第1再生クロックの位相調整量に応じて前記データ信号を取り込むタイミングを調整する第2調整ステップと、
を備える受信方法。 - 被試験デバイスを試験する試験方法であって、
請求項14に記載の受信方法により受信した前記データ信号を取り込んだ結果に基づいて、前記被試験デバイスの良否を判定する
試験方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2009/002053 WO2010131286A1 (ja) | 2009-05-11 | 2009-05-11 | 受信装置、試験装置、受信方法および試験方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2010131286A1 true JPWO2010131286A1 (ja) | 2012-11-01 |
JP5211239B2 JP5211239B2 (ja) | 2013-06-12 |
Family
ID=43084684
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011513120A Expired - Fee Related JP5211239B2 (ja) | 2009-05-11 | 2009-05-11 | 受信装置、試験装置、受信方法および試験方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8605825B2 (ja) |
JP (1) | JP5211239B2 (ja) |
KR (1) | KR101227670B1 (ja) |
CN (1) | CN102415045A (ja) |
TW (1) | TWI390226B (ja) |
WO (1) | WO2010131286A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102112024B1 (ko) | 2014-04-14 | 2020-05-19 | 삼성전자주식회사 | 데이터 스토리지 시스템에서의 스트로브 신호 성형방법 및 그에 따른 스트로브 신호 성형장치 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7333570B2 (en) * | 2000-03-14 | 2008-02-19 | Altera Corporation | Clock data recovery circuitry associated with programmable logic device circuitry |
JP4251800B2 (ja) * | 2001-11-08 | 2009-04-08 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置 |
JP4279489B2 (ja) * | 2001-11-08 | 2009-06-17 | 株式会社アドバンテスト | タイミング発生器、及び試験装置 |
JP4006260B2 (ja) * | 2002-04-26 | 2007-11-14 | 株式会社アドバンテスト | 半導体試験装置 |
JP4152710B2 (ja) * | 2002-10-01 | 2008-09-17 | 株式会社アドバンテスト | ジッタ測定装置、及び試験装置 |
US7406646B2 (en) * | 2002-10-01 | 2008-07-29 | Advantest Corporation | Multi-strobe apparatus, testing apparatus, and adjusting method |
JP4002811B2 (ja) * | 2002-10-04 | 2007-11-07 | 株式会社アドバンテスト | マルチストローブ生成装置、試験装置、及び調整方法 |
US7856578B2 (en) * | 2005-09-23 | 2010-12-21 | Teradyne, Inc. | Strobe technique for test of digital signal timing |
US7574632B2 (en) * | 2005-09-23 | 2009-08-11 | Teradyne, Inc. | Strobe technique for time stamping a digital signal |
WO2007038233A2 (en) * | 2005-09-23 | 2007-04-05 | Teradyne, Inc. | Strobe technique for test of digital signal timing |
US7573957B2 (en) * | 2005-09-23 | 2009-08-11 | Teradyne, Inc. | Strobe technique for recovering a clock in a digital signal |
US7756654B2 (en) * | 2007-08-15 | 2010-07-13 | Advantest Corporation | Test apparatus |
-
2009
- 2009-05-11 CN CN2009801589576A patent/CN102415045A/zh active Pending
- 2009-05-11 WO PCT/JP2009/002053 patent/WO2010131286A1/ja active Application Filing
- 2009-05-11 JP JP2011513120A patent/JP5211239B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-05-11 KR KR1020117018385A patent/KR101227670B1/ko active IP Right Grant
-
2010
- 2010-04-30 TW TW099113987A patent/TWI390226B/zh not_active IP Right Cessation
-
2011
- 2011-07-27 US US13/192,402 patent/US8605825B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2010131286A1 (ja) | 2010-11-18 |
US8605825B2 (en) | 2013-12-10 |
KR20110114623A (ko) | 2011-10-19 |
JP5211239B2 (ja) | 2013-06-12 |
US20120194251A1 (en) | 2012-08-02 |
TWI390226B (zh) | 2013-03-21 |
KR101227670B1 (ko) | 2013-01-29 |
CN102415045A (zh) | 2012-04-11 |
TW201105989A (en) | 2011-02-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3920318B1 (ja) | 試験装置および試験方法 | |
TWI401444B (zh) | 測試裝置、測試方法、抖動濾波電路以及抖動濾波方法 | |
CN100422756C (zh) | 半导体试验装置 | |
US20090048796A1 (en) | Test apparatus | |
KR20080083305A (ko) | 시험 장치, 시험 방법, 및 프로그램 | |
KR101081545B1 (ko) | 복조 장치, 시험장치 및 전자 디바이스 | |
US8111082B2 (en) | Test apparatus | |
JP4895551B2 (ja) | 試験装置および試験方法 | |
JP5211239B2 (ja) | 受信装置、試験装置、受信方法および試験方法 | |
JP5314755B2 (ja) | 受信装置、試験装置、受信方法および試験方法 | |
JP5232913B2 (ja) | クロック生成装置、試験装置およびクロック生成方法 | |
JP4943274B2 (ja) | 波形表示方法 | |
JP5154585B2 (ja) | 誤り率測定装置及び方法 | |
JP5210646B2 (ja) | 被測定信号の変化点を検出する装置、方法および試験装置 | |
JP2004125573A (ja) | マルチストローブ装置、試験装置、及び調整方法 | |
JP2011130231A (ja) | パラメータ設定装置およびパラメータ設定方法 | |
KR20180110824A (ko) | 병렬 신호의 위상 정렬 장치 및 방법 | |
WO2010087009A1 (ja) | 電子デバイス、試験装置および試験方法 | |
WO2010087008A1 (ja) | 電子デバイス、試験装置および試験方法 | |
JP2006180029A (ja) | テスト回路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121225 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130122 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130219 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130225 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160301 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |