JPWO2009122701A1 - 試験モジュール、試験装置および試験方法 - Google Patents
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Abstract
Description
12/058,757 出願日 2008年03月31日
110 統合制御部
120 試験モジュール
130 規格バス
140 試験セグメント
150 インターフェイス
160 群制御部
161 指示情報格納部
162 指示情報制御部
163 位置情報格納部
164 スイッチ
165 調停部
166 結果格納部
170 パターン生成部
171 指示情報一時格納部
172 基本パターンデータ格納部
173 パターン形成タイミング部
174 ドライバ
175 コンパレータ
176 比較検出部
177 結果一時格納部
180 内部バス
200 DUT
Claims (13)
- 被試験デバイスに与える試験パターンの単位である基本パターンの展開順序を指示する指示情報を格納する指示情報格納部と、
前記指示情報の読み出し位置を示す位置情報を格納する複数の位置情報格納部と、
前記基本パターンを格納する基本パターン格納部、および、前記指示情報の一部を一時的に格納する指示情報一時格納部を有し、前記複数の位置情報格納部のそれぞれに対応して設けられた複数のパターン生成部と、
前記指示情報格納部から前記指示情報一時格納部に前記指示情報の一部を伝送する、前記複数のパターン生成部に共通の情報伝送路と、
を備え、
前記複数のパターン生成部のそれぞれは、前記複数のパターン生成部のそれぞれに対応する前記複数の位置情報格納部のそれぞれに格納された位置情報に従い前記指示情報格納部から前記指示情報一時格納部に読み出された前記指示情報の一部に指示された順に、前記基本パターンを展開し、被試験デバイスに与える試験パターンを生成する、
試験モジュール。 - 前記複数のパターン生成部は、同一種類の被試験デバイスに与える前記試験パターンの各々を独立して生成する、
請求項1に記載の試験モジュール。 - 前記複数の位置情報格納部のそれぞれに格納された各位置情報が示す前記読み出し位置から、前記指示情報格納部に格納された前記指示情報の一部を読み出し、前記複数の指示情報一時格納部のそれぞれに格納する、前記複数のパターン生成部のそれぞれに対応した複数の指示情報制御部、
をさらに備えた請求項2に記載の試験モジュール。 - 前記指示情報の一部を前記指示情報格納部から読み出し、前記複数の指示情報制御部のそれぞれが生成する各読出要求を調停する調停部、
をさらに備えた請求項3に記載の試験モジュール。 - 前記試験パターンが前記被試験デバイスに与えられた場合に前記被試験デバイスからの出力として期待される期待値パターンと、前記試験パターンが与えられた前記被試験デバイスが実際に出力した出力パターンとを比較して、不一致の場合にフェイルとして検出する、前記複数のパターン生成部のそれぞれに対応付けられた複数の比較検出部と、
前記複数の比較検出部のそれぞれが検出した各フェイルの内容を示す各フェイル情報を、前記複数のパターン生成部のそれぞれに対応付けて格納する結果格納部と、
をさらに備えた請求項4に記載の試験モジュール。 - 前記結果格納部は、前記フェイル情報を、前記フェイルを発生した前記基本パターンに関連付けて格納する、
請求項5に記載の試験モジュール。 - 請求項1から請求項6の何れかに記載の試験モジュールを備えた試験装置。
- 被試験デバイスに与える試験パターンの単位である基本パターンの展開順序を指示する指示情報を、指示情報格納部に格納する段階と、
前記指示情報の読み出し位置を示す位置情報を、複数の位置情報格納部にそれぞれ格納する段階と、
前記基本パターンを、基本パターン格納部に格納する段階と、
前記指示情報の一部を一時的に、指示情報一時格納部に格納する段階と、
前記複数の位置情報格納部のそれぞれに対応して設けられた複数のパターン生成部のそれぞれにおいて、前記複数のパターン生成部のそれぞれに対応して設けられた前記複数の位置情報格納部のそれぞれに格納された位置情報に従い、前記指示情報格納部から前記指示情報一時格納部に前記指示情報の一部を読み出す段階と、
前記複数のパターン生成部のそれぞれにおいて、読み出された前記指示情報の一部が指示する順に、前記基本パターンを展開し、被試験デバイスに与える試験パターンを生成する段階と、
を備え、
前記指示情報格納部から前記指示情報一時格納部に前記指示情報の一部を読み出す段階は、前記指示情報の一部が、前記複数のパターン生成部に共通の情報伝送路を介して読み出される、
試験方法。 - 前記試験パターンを生成する段階は、同一種類の被試験デバイスに与える前記試験パターンの各々を前記複数のパターン生成部ごとに独立して生成する、
請求項8に記載の試験方法。 - 前記複数の位置情報格納部のそれぞれに格納された各位置情報が示す各読み出し位置から、前記指示情報格納部に格納された前記指示情報の一部を読み出し、読み出した前記指示情報の一部を、前記複数のパターン生成部のそれぞれに対応付けて、複数の指示情報一時格納部のそれぞれに格納する、指示情報制御段階、
をさらに備えた請求項9に記載の試験方法。 - 前記指示情報の一部を前記指示情報格納部から読み出し、前記指示情報制御段階でそれぞれ生成される読出要求を調停する調停段階、
をさらに備えた請求項10に記載の試験方法。 - 前記試験パターンが前記被試験デバイスに与えられた場合に前記被試験デバイスからの出力として期待される期待値パターンと、前記試験パターンが与えられた前記被試験デバイスが実際に出力した出力パターンとを比較して、不一致の場合にフェイルとして検出する比較検出段階と、
前記比較検出段階で検出した前記フェイルの内容を示すフェイル情報を、結果格納部に格納する結果格納段階と、
を前記複数のパターン生成部のそれぞれに対応したパターン生成段階ごとにさらに備えた
請求項11に記載の試験方法。 - 前記結果格納段階は、前記フェイル情報を、前記フェイルを発生した前記基本パターンに関連付けて前記結果格納部に格納する、
請求項12に記載の試験方法。
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JP2001021609A (ja) * | 1999-07-07 | 2001-01-26 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路の検査方法 |
JP3067794U (ja) * | 1999-09-20 | 2000-04-11 | 株式会社アドバンテスト | 半導体試験装置のバスインターフェース装置 |
US6629282B1 (en) * | 1999-11-05 | 2003-09-30 | Advantest Corp. | Module based flexible semiconductor test system |
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US6961881B2 (en) * | 2001-09-14 | 2005-11-01 | Fujitsu Limited | Semiconductor device |
US7265570B2 (en) * | 2001-09-28 | 2007-09-04 | Inapac Technology, Inc. | Integrated circuit testing module |
US7295028B2 (en) * | 2002-08-30 | 2007-11-13 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Semiconductor integrated circuit and memory test method |
US6917215B2 (en) * | 2002-08-30 | 2005-07-12 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Semiconductor integrated circuit and memory test method |
JP4241157B2 (ja) * | 2003-04-16 | 2009-03-18 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置 |
EP1666898B1 (en) * | 2003-09-03 | 2007-11-21 | Advantest Corporation | Testing apparatus |
JP2005141532A (ja) | 2003-11-07 | 2005-06-02 | Kawasaki Microelectronics Kk | システムデバッグ装置 |
JP4308637B2 (ja) * | 2003-12-17 | 2009-08-05 | 株式会社日立製作所 | 半導体試験装置 |
JP4486383B2 (ja) | 2004-03-08 | 2010-06-23 | 株式会社アドバンテスト | パターン発生器、及び試験装置 |
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JP4261432B2 (ja) * | 2004-07-09 | 2009-04-30 | 株式会社アドバンテスト | 半導体試験装置および半導体試験方法 |
KR100540506B1 (ko) * | 2004-08-03 | 2006-01-11 | 주식회사 유니테스트 | 메모리 소자 테스트를 위한 알고리즘 패턴 생성기 및 이를이용한 메모리 테스터 |
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JP2006252702A (ja) * | 2005-03-11 | 2006-09-21 | Nec Electronics Corp | 半導体集積回路装置及びその検査方法 |
US20060236185A1 (en) * | 2005-04-04 | 2006-10-19 | Ronald Baker | Multiple function results using single pattern and method |
JP2007017430A (ja) * | 2005-06-06 | 2007-01-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | テストパターン生成方法 |
KR100736679B1 (ko) * | 2006-08-09 | 2007-07-06 | 주식회사 유니테스트 | 반도체 테스트를 위한 패턴 생성 장치 및 패턴 생성 방법 |
US7725793B2 (en) * | 2007-03-21 | 2010-05-25 | Advantest Corporation | Pattern generation for test apparatus and electronic device |
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