JPWO2009063829A1 - アダマンタン誘導体、その製造方法及びアダマンタン誘導体を含む硬化性組成物 - Google Patents
アダマンタン誘導体、その製造方法及びアダマンタン誘導体を含む硬化性組成物 Download PDFInfo
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Abstract
Description
一方、光学特性に優れるアクリル系樹脂の欠点である耐熱性の向上も検討され、多官アクリレートモノマーを用いた架橋アクリル樹脂が検討されている。特に、脂環式アクリレートの硬化物は、ガラス転移温度が高く、硬化収縮率及び吸湿率が小さいことから、脂環式アクリレートを含むアクリレート共重合体に関する技術は多数開示されている。例えば、モノマー成分Aとしてエステル部分に炭素数4以下の脂肪族炭化水素基を有する(メタ)アクリレート、モノマー成分Bとして脂環式多官能(メタ)アクリレート、及び重合開始剤を含有し、加熱又は光によって硬化する樹脂組成物が開示されている(例えば、特許文献4参照)。また、光学接着剤等を用途とする、エステル部に炭化水素5〜22の脂環式炭化水素基を有する(メタ)アクリル酸エステルとアルキレンオキサイドを有する多官能(メタ)アクリレートによる組成物が開示されている(例えば、特許文献5参照)。しかし、接着剤としての実装時の耐熱性を満足させるものではあるが、構造体としての耐熱性や機械特性については不十分である。
したがって、アクリル系硬化性組成物において、その硬化物の光学的透明性が高く、耐光性、耐熱性、機械特性に優れ、硬化収縮の小さい、光学部材に好適な組成物が望まれている。
すなわち、本発明は、
1.一般式(I)で表されるアダマンタン誘導体、
2.一般式(I)において、kが0である上記1に記載のアダマンタン誘導体、
3.アダマンタンエポキシ類と、アクリル酸、メタクリル酸、トリフルオロメタクリル酸、無水アクリル酸、無水メタクリル酸、無水トリフルオロメタクリル酸から選ばれる1種の化合物とを反応させることを特徴とする上記1に記載のアダマンタン誘導体の製造方法、
4.上記1に記載のアダマンタン誘導体と重合開始剤とを含む硬化性組成物、
5.上記4に記載の硬化性組成物を加熱又は光照射により硬化させてなる硬化物、
6.上記1に記載のアダマンタン誘導体を用いてなるフォトレジスト材料、
7.上記1に記載のアダマンタン誘導体を用いてなるカラーレジスト材料、
8.上記1に記載のアダマンタン誘導体に基づく単量体単位を含む(メタ)アクリル系重合体、
9.上記8に記載の(メタ)アクリル系重合体を含有するレジスト組成物、及び
10.上記9に記載のレジスト組成物を用いて支持体上にレジスト膜を形成する工程と、該レジスト膜を選択露光する工程と、選択露光された該レジスト膜をアルカリ現像処理してレジストパターンを形成する工程とを含むレジストパターン形成方法、
を提供するものである。
また、本発明のアダマンタン誘導体を単量体単位とする(メタ)アクリル系重合体を用いることにより、酸拡散性,現像液溶解性等に優れたレジスト組成物を与えることができる。
本発明のアダマンタン誘導体は、下記一般式(I)で表されるアクリレート基、メタクリレート基、トリフルオロメタクリレート基から選ばれる1種の基を含有するアダマンタン誘導体(以下、単に「アダマンタン誘導体」と称すことがある)である。
このアダマンタン誘導体としては、上記一般式(I)において、kが0であるものが特に好ましい。
上記一般式(I)で表されるアダマンタン誘導体は、エポキシアダマンタン類と、アクリル酸、メタクリル酸、トリフルオロメタクリル酸、無水アクリル酸、無水メタクリル酸、無水トリフルオロメタクリル酸から選ばれる1種の化合物とを、触媒存在下で反応させることにより得ることができる。
アダマンタンスピロオキシラン化合物(II)とアクリル酸又はメタクリル酸又はトリフルオロメタクリル酸(III)とを反応させることにより、一般式(I−a)で表わされるアダマンタン誘導体が得られる。
一方、エポキシアダマンタン類と、無水アクリル酸、無水メタクリル酸、無水トリフルオロメタクリル酸から選ばれる1種の化合物との反応は、下記反応式(b)で示すことができる。
アダマンタンスピロオキシラン化合物(II)と無水アクリル酸又は無水メタクリル酸又は無水トリフルオロメタクリル酸(IV)とを反応させることにより、一般式(I−b)で表わされるアダマンタン誘導体が得られる。
これらの中で、特にアダマンタン−2−スピロ−オキシラン及びアダマンタン−2,4−ジ(スピロ−オキシラン)が好ましい。
一方、前記反応式(b)の場合、アダマンタンスピロオキシラン化合物(II)と無水アクリル酸又は無水メタクリル酸又は無水トリフルオロメタクリル酸(IV)との使用割合は後処理の観点から、化合物(II)におけるスピロオキシラン基1モルに対して、無水アクリル酸又は無水メタクリル酸又は無水トリフルオロメタクリル酸は2〜10モルが好ましく、2〜4モルがより好ましい。
この触媒の使用量は、原料であるエポキシアダマンタン類に対して、通常、0.01〜2モル程度、好ましくは0.01〜1モルである。触媒の使用量が、0.01モル以上であると、反応時間が長くなり過ぎず適度なものとなる。触媒の使用量が、2モル以下であると、得られる効果と経済性のバランスが良好となる。
溶媒量は、エポキシアダマンタン類の濃度が、好ましくは0.5質量%以上、より好ましくは10質量%以上となる量である。この時、エポキシアダマンタン類が懸濁状態でもよいが、溶解していることが望ましい。
反応の際の圧力は、絶対圧力で0.01〜10MPa程度、好ましくは常圧〜1MPaである。圧力が高すぎると、安全上問題があり、特別な装置が必要となるため産業上有用ではないが、圧力が10MPa以下であると、安全性が確保されるので特別な装置が不要となり、産業上有用である。反応時間は、通常、1分〜24時間程度、好ましくは1〜15時間である。
反応生成物を、必要に応じて精製することができる。精製方法としては、蒸留、晶析、カラム分離等が可能であり、生成物の性状と不純物の種類により選択できる。
本発明の硬化性組成物は、前記一般式(I)で表されるアダマンタン誘導体と重合開始剤とを含む。重合開始剤としては、例えば、加熱により硬化させる場合には、熱重合開始剤が用いられ、光により硬化させる場合には、光重合開始剤が用いられる。
また、光重合開始剤としては、例えば、アセトフェノン類、ベンゾフェノン類、ベンジル類、ベンゾインエーテル類、ベンジルジケタール類、チオキサントン類、アシルホスフィンオキサイド類、アシルホスフィン酸エステル類、芳香族ジアゾニウム塩、芳香族スルホニウム塩、芳香族ヨードニウム塩、芳香族ヨードシル塩、芳香族スルホキオニウム塩、メタロセン化合物等が挙げられる。
重合開始剤の使用量は、上記アダマンタン誘導体100質量部に対して、通常、0.01〜4質量部であることが好ましく、より好ましくは0.5〜2質量部である。重合開始剤の含有率を上記範囲とすることにより、良好な重合及び光学特性等物性を発現できる。
硬化促進剤の含有率は、上記アダマンタン誘導体と、重合開始剤とを含む硬化性組成物100質量部に対して、通常、0.01〜8.0質量部であることが好ましく、より好ましくは0.1〜3.0質量部である。硬化促進剤の含有率を上記範囲とすることにより、充分な硬化促進効果を得られ、また、得られる硬化物に変色が見られない。
フェノール系化合物としては、イルガノクス1010(Irganox1010、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製、商標)、イルガノクス1076(Irganox1076、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製、商標)、イルガノクス1330(Irganox1330、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製、商標)、イルガノクス3114(Irganox3114、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製、商標)、イルガノクス3125(Irganox3125、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製、商標)、イルガノクス3790(Irganox3790、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ社製、商標)、BHT、シアノクス1790(Cyanox1790、サイアナミド社製、商標)及びスミライザーGA−80(SumilizerGA−80、住友化学社製、商標)等の市販品を挙げることができる。
変性剤としては、例えば、グリコール類、シリコーン類、アルコール類等の従来から公知の変性剤が挙げられる。シランカップリング剤としては、例えば、シラン系、チタネート系等の従来から公知のシランカップリング剤が挙げられる。脱泡剤としては、例えば、シリコーン系等の従来から公知の脱泡剤が挙げられる。無機粉末としては、用途に応じて粒径が数nm〜10μmのものが使用でき、例えば、ガラス粉末、シリカ粉末、チタニア、酸化亜鉛及びアルミナ等の公知の無機粉末が挙げられる。溶剤としては、硬化成分が粉末の場合や、コーティングの希釈溶剤として、トルエンやキシレン等の芳香族系溶剤やメチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン系溶剤等を使用することができる。
本発明の硬化物は、前記一般式(I)で表されるアダマンタン誘導体と重合開始剤とを含む硬化性組成物を硬化してなるものである。
硬化性組成物の硬化方法としては、例えば、必要に応じて使用することのできる各種添加剤を混合し、成型する金型(樹脂金型)への注入、あるいはコーティングにより所望の形状にした後に、加熱又は光照射して硬化する方法を用いることができる。
光照射による硬化の場合、紫外線を用いることにより行う。紫外線の光量は、通常、500〜5000mJ/cm2程度、好ましくは1000〜4000mJ/cm2である。
また、紫外線照射後に後加熱を行ってもよく、70〜200℃で0.5〜12時間行うことが好ましい。
本発明の硬化性組成物を硬化して得られた硬化物は、耐熱性、透明性及び耐光性等に優れているので、光半導体(LED等)、フラットパネルディスプレイ(有機EL素子等)、電子回路、光回路(光導波路)用等の封止剤や接着剤、光学通信用レンズ及び光学用フィルム等の光学電子部材に好適に用いることができる。その成形方法としては射出成形、ブロー成形、プレス成形等、特に限定されるものではないが、好ましくはペレット状の組成物を射出成形機に用いて、射出成形することにより製造される。
有機EL用に適用する際の構成は、一般的なガラスや透明樹脂等の透光性基板上に、陽極/正孔注入層/発光層/電子注入層/陰極が順次設けられた構成の有機EL素子に適用可能である。有機EL素子の封止材として、金属缶や金属シートあるいはSiN等のコーティングされた樹脂フィルムをEL素子にカバーする際の接着剤、あるいは本発明のアダマンタン誘導体を含む硬化性組成物にガスバリアー性を付与するために無機フィラー等を分散することで、直接、EL素子を封止することも可能である。表示方式として、現在、主流のボトムエミッション型にも適用可能であるが、今後、光の取出し効率等の点で期待されるトップエミッション型に適用することで、本発明の硬化物の透明性や耐熱性の効果を活かせる。
光学用フィルムとして用いる際の構成は、液晶用のフィルム基板、有機EL用フィルム基板等のディスプレイ用として、あるいは光拡散フィルム、反射防止フィルム、蛍光色素等を分散することによる色変換フィルム等に適用可能である。
カラーレジストについては、液晶表示向けのカラーフィルタを構成するRGB及びブラックマトリックス等のレジストの主成分もしくは添加剤として適応可能である。
本発明はまた、本発明のアダマンタン誘導体に基づく単量体単位を含む(メタ)アクリル系重合体、これを含有するレジスト組成物をも提供する。
本発明のレジスト組成物に用いられる(メタ)アクリル系重合体としては、前記一般式(I)で表されるアダマンタン誘導体に基づく単量体単位を、5〜90モル%含むものが好ましく、10〜30モル%含むものがより好ましい。
(メタ)アクリル重合体を得るための重合法については特に限定されず、慣用の重合法で行うことができるが、例えば、溶液重合(沸点重合、沸点未満重合)、乳化重合、懸濁重合、塊状重合等の公知の重合方法を用いることができる。重合後の反応液中に残存している高沸点の未反応モノマー量が少ないほど好ましく、重合時あるいは重合終了後、必要に応じて未反応モノマーを除去する操作を施すことが好ましい。
特に上記重合法のうち、溶媒中でラジカル重合開始剤を用いた重合反応が好ましい。重合開始剤としては特に限定はないが、パーオキサイド系重合開始剤、アゾ系重合開始剤等が用いられる。
また、メタノールと水の混合溶媒を用いることにより、分子量300以上の分子を除去しないか又はほとんど除去することなく、未反応モノマー、重合開始剤及びその反応残査物等の不要物を除去できる。メタノールと水との混合割合は、メタノール:水=100:8〜30(質量比)の範囲内であることが好ましく、100:10〜20がより好ましい。洗浄溶媒の量は、未反応モノマー等の不純物除去の観点から、重合溶媒に対して2質量倍以上が好ましく、4〜8質量倍であることがさらに好ましい。
本発明のレジスト組成物は、先述の(メタ)アクリル系重合体を含有するものであれば特に限定されないが、本発明のレジスト組成物100質量部に対して、本発明の(メタ)アクリル系重合体を2〜50質量部含有するものが好ましく、5〜15質量部含有するものがより好ましい。
本発明のレジスト組成物は、上記(メタ)アクリル系重合体以外に、PAG(光酸発生剤)や有機アミン等のクエンチャー、アルカリ可溶性樹脂(例えば、ノボラック樹脂、フェノール樹脂、イミド樹脂、カルボキシル基含有樹脂等)等のアルカリ可溶成分、着色剤(例えば、染料等)、有機溶媒(例えば、炭化水素類、ハロゲン化炭化水素類、アルコール類、エステル類、ケトン類、エーテル類、セロソルブ類、カルビトール類、グリコールエーテルエステル類、これらの混合溶媒等)等を添加することができる。
本発明のレジスト組成物は、前記(メタ)アクリル系重合体と光酸発生剤、及び必要に応じて有機溶媒等を混合し、必要に応じて夾雑物をフィルター等の慣用の固体分離手段により除去することにより調製できる。このレジスト組成物を基材又は基板上に塗布し、乾燥した後、所定のマスクを介して、塗膜(レジスト膜)に光線を露光して(又は、さらに露光後ベークを行い)潜像パターンを形成し、次いで現像することにより、微細なパターンを高い精度で形成できる。
本発明は、上記レジスト組成物を用いて支持体上にレジスト膜を形成する工程と、該レジスト膜を選択露光する工程と、選択露光されたレジスト膜をアルカリ現像処理してレジストパターンを形成する工程とを含むレジストパターン形成方法をも提供する。
上記支持体としては、シリコンウエハー、金属、プラスチック、ガラス、セラミック等が挙げられる。
レジスト組成物を用いてレジスト膜を形成する工程は、スピンコータ、ディップコータ、ローラコータ等の慣用の塗布手段を用いて行うことができる。レジスト膜の厚みは、例えば、好ましくは50nm〜20μm、より好ましくは100nm〜2μmである
レジスト膜を選択露光する工程には、種々の波長の光線、例えば、紫外線、X線等が利用でき、半導体レジスト用では、通常、g線、i線、エキシマレーザー(例えば、XeCl、KrF、KrCl、ArF、ArCl等)、軟X線等が使用される。露光エネルギーは、例えば0.1〜1000mJ/cm2、好ましくは1〜100mJ/cm2程度である。
実施例1
(2−ヒドロキシ−2−アダマンチル)メチル−2−メタクリレート
温度計、冷却管及び撹拌装置を備えた1Lの三つ口フラスコに、アダマンタン−2−スピロ−オキシラン50g(0.303mol)と、ジメチルホルムアミド500mlとを入れ、窒素雰囲気下で完全に溶けるまで撹拌した。溶解後、1,8−ジアザビシクロ[5,4,0]ウンデセン−7を11.5g(0.0758mol)、メタクリル酸を51.2ml加え、120℃で5時間撹拌した。反応終了後、室温(25℃)まで冷却したのち、エーテルで抽出し、抽出液の水洗をおこなった。抽出液を濃縮し、ヘキサンを加え目的物の晶析をおこなった。目的物を白色固体で45g(融点87℃、収率59%)得た。
1.核磁気共鳴スペクトル(溶媒:CDCl3、日本電子株式会社製 JNM-ECA500)
1H−NMR(500MHz):6.13(1H, a"), 6.13(1H, a'), 4.36(2H, e), 2.08-2.26(2H, g), 1.97(3H, c), 1.71-1.78(10H, h,i,j,k), 1.55-1.58(2H, l)
13C−NMR(125MHz):18.42(c), 27.12(j or k), 27.29(j or k), 27.12(j or k), 32.79(h or j), 34.38(h or j), 35.21(g), 38.00(l), 69.39(e), 74.22(f), 125.85(a), 136.17(b), 167.50(d)
2.ガスクロマトグラフ質量分析スペクトル(株式会社島津製作所製 GC-MS-QP2010)
GC−MS:151(100%), 133(6.3%), 91(16.0%), 79(9.6%), 69(13.8%)
[2−(メタクリルオキシ)−2−アダマンチル]メチルメタクリレート
温度計、冷却管及び撹拌装置を備えた1Lの三つ口フラスコに、アダマンタン−2−スピロ−オキシラン50g(0.303mol)と、ジメチルホルムアミド500mlとを入れ、窒素雰囲気下で完全に溶けるまで撹拌した。溶解後、1,8−ジアザビシクロ[5,4,0]ウンデセン−7を11.5g(0.0758mol)、無水メタクリル酸を134.5ml加え、120℃で12時間撹拌した。反応終了後、室温(25℃)まで冷却したのち、エーテルで抽出し、抽出液の水洗をおこなった。抽出液を濃縮し、目的物を白色固体で50g(融点41.0℃、収率52%)得た。
1.核磁気共鳴スペクトル(溶媒:CDCl3、日本電子株式会社製 JNM-ECA500)
1H−NMR(500MHz):6.08(2H, a"and a1"), 5.53(2H, a'and a1'), 4.88(2H, e), 2.52(2H, g), 1.94(6H, c and c1), 1.71-1.86(10H, h,i,j,k), 1.55-1.58(2H, l)
13C−NMR(125MHz):18.25, 18.42(c1 or c), 26.90(j or k), 32.22(j or k), 32.50(j or k), 34.11(h or j), 34.44(h or j), 34.73(g), 38.01(l), 63.03(e), 86.11(f), 124.73, 125.58(a1 or a), 136.22, 137.54(b1 or b), 166.13, 167.00(d1 or d)
2.ガスクロマトグラフ質量分析スペクトル(株式会社島津製作所製、GC-MS-QP2010)
GC−MS:232(19.3%), 219(6.5%), 204(14.2%), 163(3.6%), 135(2.9%), 69(100%)
実施例3
実施例1で得られたアダマンタン誘導体60質量部、メチルメタクリレート40質量部と重合開始剤であるベンゾインブチルエーテル1質量部を加え硬化性組成物とし、これに紫外線を光量2000mJ/cm2で照射して硬化させた。得られた硬化物の下記物性評価(1)〜(5)の結果を表1に示した。
実施例4
実施例2で得られたアダマンタン誘導体100質量部と重合開始剤であるベンゾインブチルエーテル1質量部を加え硬化性組成物とし、これに紫外線を光量2000mJ/cm2で照射して硬化させた。得られた硬化物の下記物性評価(1)〜(5)の結果を表1に示した。
メチルメタクリレート100質量部と重合開始剤であるベンゾイソブチルエーテル1質量部を加え、これを紫外線照射により硬化させた。得られた硬化物の下記物性評価(1)〜(5)の結果を表1に示した。
(1)ガラス転移温度(℃):Tg
硬化した試料をアルミ容器に5mg入れ、示差走査型熱量計(パーキネルマー社製、DSC−7)を用い、0℃から10℃/分にて昇温して、得られた熱流束曲線に観測される不連続点より求めた。
(2)熱分解温度(℃):Td(5%)
硬化した試料をアルミ容器に5mg入れ、示差熱熱質量同時測定装置(エスアイアイ・ナノテクノロジー社製、TG/DAT6000)を用い、窒素雰囲気下、25℃から600℃まで、5℃/分で昇温させることにより得られた質量変化曲線にて質量が5%減少した時の温度を求めた。ガラス転移温度及び熱分解温度が高いと耐熱性に優れたものとなる。
試料として肉厚3mmの試験片を用いてJIS K 7105に準拠し、測定波長400nmにて測定した。測定装置は株式会社島津製作所製分光光度計UV−3100Sを用いた。
(4)吸湿性率(%)
30×30×3mmの試験片を100℃で24時間乾燥した質量と、乾燥後の試験片を80℃で3時間水に浸けた質量との質量差から算出した。
(5)硬化収縮率(%)
硬化性組成物の硬化前の比重と、硬化後の比重から算出した。
実施例5
窒素雰囲気下のフラスコに、モノマーAを12.5質量部、モノマーBを23.4質量部、モノマーCを17.0質量部、2,2’−アゾビス(イソ酪酸)ジメチルを4.1質量部、メチルイソブチルケトンを600質量部で投入し、単量体溶液を調整した。窒素雰囲気下の別のフラスコに200質量部のメチルイソブチルケトンを投入し、撹拌しながら116℃まで加熱した後、上記単量体溶液を4時間かけて滴下した。滴下終了後、2時間116℃で加熱還流を続け、熟成終了後に室温まで冷却した。その後、反応液を4500質量部のメタノールと水の混合溶媒(混合比5/1)に注いで沈殿させる操作を3回行い精製した。その結果、モノマーA:モノマーB:モノマーCの共重合組成(mol)=18:38:44,重量平均分子量(Mw)が7231,分散度(Mw/Mn)1.40の共重合体P1を得た。
実施例6
実施例5で得られた共重合体P1 100質量部に対し、光酸発生剤としてトリフェニルスルホニウムノナフルオロブタンスルホネートを5質量部加え、得られた樹脂組成物10質量部に対してプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート90質量部を用いて溶解し、レジスト組成物R1を調製した。シリコンウエハー上に、調製したレジスト組成物R1を塗布し、110℃で、60秒間ベークを行い、レジスト膜を形成した。こうして得られたウエハーを波長248nmの光により、異なる露光量で数点オープン露光した。露光直後に110℃で、60秒間加熱した後、テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド水溶液(2.38質量%)で60秒間現像した。このときの露光量に対する膜厚の変化を表2及び図1に示す。
Claims (10)
- 一般式(I)において、kが0である請求項1に記載のアダマンタン誘導体。
- アダマンタンエポキシ類と、アクリル酸、メタクリル酸、トリフルオロメタクリル酸、無水アクリル酸、無水メタクリル酸、無水トリフルオロメタクリル酸から選ばれる1種の化合物とを反応させることを特徴とする請求項1に記載のアダマンタン誘導体の製造方法。
- 請求項1に記載のアダマンタン誘導体と重合開始剤とを含む硬化性組成物。
- 請求項4に記載の硬化性組成物を加熱又は光照射により硬化させてなる硬化物。
- 請求項1に記載のアダマンタン誘導体を用いてなるフォトレジスト材料。
- 請求項1に記載のアダマンタン誘導体を用いてなるカラーレジスト材料。
- 請求項1に記載のアダマンタン誘導体に基づく単量体単位を含む(メタ)アクリル系重合体。
- 請求項8に記載の(メタ)アクリル系重合体を含有するレジスト組成物。
- 請求項9に記載のレジスト組成物を用いて支持体上にレジスト膜を形成する工程と、該レジスト膜を選択露光する工程と、選択露光された該レジスト膜をアルカリ現像処理してレジストパターンを形成する工程とを含むレジストパターン形成方法。
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