JPS6352326B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6352326B2 JPS6352326B2 JP54141429A JP14142979A JPS6352326B2 JP S6352326 B2 JPS6352326 B2 JP S6352326B2 JP 54141429 A JP54141429 A JP 54141429A JP 14142979 A JP14142979 A JP 14142979A JP S6352326 B2 JPS6352326 B2 JP S6352326B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- glass gob
- output
- glass
- volume
- flip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 159
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 40
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 239000006060 molten glass Substances 0.000 claims description 4
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 4
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000007496 glass forming Methods 0.000 description 2
- 101150086005 gob-1 gene Proteins 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
- 238000005303 weighing Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B7/00—Distributors for the molten glass; Means for taking-off charges of molten glass; Producing the gob, e.g. controlling the gob shape, weight or delivery tact
- C03B7/005—Controlling, regulating or measuring
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/022—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of tv-camera scanning
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/08—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters
- G01B11/10—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters of objects while moving
- G01B11/105—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters of objects while moving using photoelectric detection means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01F—MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
- G01F17/00—Methods or apparatus for determining the capacity of containers or cavities, or the volume of solid bodies
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Fluid Mechanics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は均一に加速する物品の体積および形状
の測定に関する。さらに具体的には、本発明は自
由落下する物品の体積および形状の測定に関す
る。さらに説明すれば本発明はガラス成形機械に
対してフイーダから給送される落下中のガラス塊
の体積および形状の測定に関する。
の測定に関する。さらに具体的には、本発明は自
由落下する物品の体積および形状の測定に関す
る。さらに説明すれば本発明はガラス成形機械に
対してフイーダから給送される落下中のガラス塊
の体積および形状の測定に関する。
ガラス物品の形成にあたつては、溶融ガラス塊
がフイーダからガラス成形機械中に落下させられ
る。このガラス塊の体積(または重量)および形
状は最終ガラス物品の適確な形成のために制御さ
れねばならない因子である。したがつて、このガ
ラス塊が受容できるものであるかどうかを決定す
るためにこれらの因子を監視する必要がある。従
来では、落下するガラス塊を掬器で受けてその重
量を測定することによるスポツト検査が行なわれ
ていた。ガラスの密度は知られているので、ガラ
ス塊の体積をこれによつて求めることができる。
ガラス塊の形状はその落下中に目視することによ
つて定性的に推測されていた。次いで正確な寸法
および形状になされたガラス塊が得られるように
機械作業員によつてガラスフイーダの動作が調節
される。
がフイーダからガラス成形機械中に落下させられ
る。このガラス塊の体積(または重量)および形
状は最終ガラス物品の適確な形成のために制御さ
れねばならない因子である。したがつて、このガ
ラス塊が受容できるものであるかどうかを決定す
るためにこれらの因子を監視する必要がある。従
来では、落下するガラス塊を掬器で受けてその重
量を測定することによるスポツト検査が行なわれ
ていた。ガラスの密度は知られているので、ガラ
ス塊の体積をこれによつて求めることができる。
ガラス塊の形状はその落下中に目視することによ
つて定性的に推測されていた。次いで正確な寸法
および形状になされたガラス塊が得られるように
機械作業員によつてガラスフイーダの動作が調節
される。
前記の方法の欠点は、計量のためにガラス塊を
停止させねばならないことおよび落下するガラス
塊を目視してその形状を決定することがそれ程正
確ではないことである。したがつてガラス塊の寸
法および形状の調節は試行錯誤の手順によること
が多かつた。
停止させねばならないことおよび落下するガラス
塊を目視してその形状を決定することがそれ程正
確ではないことである。したがつてガラス塊の寸
法および形状の調節は試行錯誤の手順によること
が多かつた。
本発明は断面積の形状が円形または幾分だ円形
の落下するガラス塊の体積および形状を測定する
ための装置および方法を開示する。ガラス塊があ
る検査点を通過して移動する際にガラス塊に関し
て90゜隔てておかれた二つのカメラがガラス塊の
水平方向寸法を測定するために用いられる。ガラ
ス塊の動きの等しい増分(距離)毎に、対応する
連続した測定が行なわれる。これらの測定のタイ
ミングはガラス塊の加速を補償するために掃引ク
ロツクによつて制御される。測定結果はガラス塊
全体が検査点を通過してしまうまで記憶装置中に
記憶される。次いでこのガラス塊の体積の決定の
ためにコンピユータが用いられる。引き続く夫々
の測定に対応する断面積は各測定において得られ
た二つの値をかけ合わせ、この積はさらにπ/4を
乗算することによつて決定される。次いでガラス
塊の連続する各「スライス」の体積の値を得るた
めに前記の面積にこれら測定の間の距離を乗算す
る。ガラス塊の全体積を求めるためにガラス塊中
に含まれる全ての「スライス」の体積が加算され
る。
の落下するガラス塊の体積および形状を測定する
ための装置および方法を開示する。ガラス塊があ
る検査点を通過して移動する際にガラス塊に関し
て90゜隔てておかれた二つのカメラがガラス塊の
水平方向寸法を測定するために用いられる。ガラ
ス塊の動きの等しい増分(距離)毎に、対応する
連続した測定が行なわれる。これらの測定のタイ
ミングはガラス塊の加速を補償するために掃引ク
ロツクによつて制御される。測定結果はガラス塊
全体が検査点を通過してしまうまで記憶装置中に
記憶される。次いでこのガラス塊の体積の決定の
ためにコンピユータが用いられる。引き続く夫々
の測定に対応する断面積は各測定において得られ
た二つの値をかけ合わせ、この積はさらにπ/4を
乗算することによつて決定される。次いでガラス
塊の連続する各「スライス」の体積の値を得るた
めに前記の面積にこれら測定の間の距離を乗算す
る。ガラス塊の全体積を求めるためにガラス塊中
に含まれる全ての「スライス」の体積が加算され
る。
カメラから得られたこの情報はまたガラス塊の
形状を決定するために用いられる表示装置の駆動
にも利用される。さらに、この表示装置はガラス
塊の方向、すなわちガラス塊の長手方向軸の進行
径路に対する傾きを求めるために利用される。
形状を決定するために用いられる表示装置の駆動
にも利用される。さらに、この表示装置はガラス
塊の方向、すなわちガラス塊の長手方向軸の進行
径路に対する傾きを求めるために利用される。
第1図について説明すると、溶融ガラス10の
塊がガラスフイーダ9から点線11によつて示さ
れる径路に沿つて落下する。レーザ14および1
5によつて夫々発生される二本の平行なレーザビ
ーム12および13が線11と交さするような方
向で形成されている。レーザビーム12および1
3の間の距離は線xで示される。レーザビーム1
2および13は線11の通過後に一対の光電池セ
ンサ16および18に夫々入射する。これらセン
サ16および18はレーザビーム12および13
がそれらを加撃する際に論理値「0」をまたレー
ザビーム12および13がそれらを加撃しないと
きには論理値「1」を発生する。ガラス塊10は
落下の際にレーザビーム12および13の径路を
遮断しそれによつてビームがセンサ16および1
8にあたらないようにする。したがつて、各セン
サ16および18はガラス塊10が対応するレー
ザビーム12または13の径路を遮断するときに
必らず「1」を発生する。ガラス塊10が充分に
落下した後には、各レーザビーム12および13
が対応するセンサ16または18を再び加撃して
センサ16および18の出力を「0」に変化させ
る。
塊がガラスフイーダ9から点線11によつて示さ
れる径路に沿つて落下する。レーザ14および1
5によつて夫々発生される二本の平行なレーザビ
ーム12および13が線11と交さするような方
向で形成されている。レーザビーム12および1
3の間の距離は線xで示される。レーザビーム1
2および13は線11の通過後に一対の光電池セ
ンサ16および18に夫々入射する。これらセン
サ16および18はレーザビーム12および13
がそれらを加撃する際に論理値「0」をまたレー
ザビーム12および13がそれらを加撃しないと
きには論理値「1」を発生する。ガラス塊10は
落下の際にレーザビーム12および13の径路を
遮断しそれによつてビームがセンサ16および1
8にあたらないようにする。したがつて、各セン
サ16および18はガラス塊10が対応するレー
ザビーム12または13の径路を遮断するときに
必らず「1」を発生する。ガラス塊10が充分に
落下した後には、各レーザビーム12および13
が対応するセンサ16または18を再び加撃して
センサ16および18の出力を「0」に変化させ
る。
ガラス塊10の前縁の各センサ16および18
による感知の間の時間量を測定することによつて
ガラス塊10がレーザビーム12および13を通
過する際の前縁の平均速度を決定することができ
る(距離xは知られている)。この速度が瞬間的
なものにみなされるように距離xは比較的小さな
ものになされている。ガラス塊10の後縁の速度
もまたこの後縁がレーザビーム12および13を
通過するのに要する時間を測定することにより同
様にして決定される。さらにまた、ガラス塊10
全体がレーザビーム13を通過するのに要する時
間が測定され、この測定結果からガラス塊の長さ
が決定される(Voをガラス塊10の初速、aを
重力の加速度、tをガラス塊10全体がレーザビ
ーム13を通過するのに必要な時間としそしてL
をガラス塊の長さとした場合に、L=Vot+1/2 at2の式によつて示される)。
による感知の間の時間量を測定することによつて
ガラス塊10がレーザビーム12および13を通
過する際の前縁の平均速度を決定することができ
る(距離xは知られている)。この速度が瞬間的
なものにみなされるように距離xは比較的小さな
ものになされている。ガラス塊10の後縁の速度
もまたこの後縁がレーザビーム12および13を
通過するのに要する時間を測定することにより同
様にして決定される。さらにまた、ガラス塊10
全体がレーザビーム13を通過するのに要する時
間が測定され、この測定結果からガラス塊の長さ
が決定される(Voをガラス塊10の初速、aを
重力の加速度、tをガラス塊10全体がレーザビ
ーム13を通過するのに必要な時間としそしてL
をガラス塊の長さとした場合に、L=Vot+1/2 at2の式によつて示される)。
ガラス塊10が落下し続ける際にそれは一対の
カメラ20および22によつて二つの異なつた角
度から視られる。これらカメラ20および22は
視野が90゜だけ離されかつレーザビーム13から
(線11に沿つて測定して)距離yの点になるよ
うに設けられている。これらカメラ20および2
2は当該技術分野で通常のものであり、768のフ
オトダイオードからなる水平方向の配列体(図示
せず)を含んでいる。各カメラ20および22は
夫々デジタル出力を与える。すなわち、配列体中
の各フオトダイオードは特定のフオトダイオード
がガラス塊10からのまたはバツクグラウンドか
らのいずれかの光を感知するかによつて論理値
「1」または「0」の出力を有する。このフオト
ダイオードアレイの限界値はガラス塊10および
バツクグラウンドから受けた光の間の対比が検出
されるように調節可能である。ガラス塊10が落
下する際にフオトダイオードアレイは迅速な間隔
で走査される。この走査速度は実用的な目的のた
めに各走査がガラス塊10を横切つて水平に行な
われるような速度である。カメラ20および22
によつて形成される各視野はガラス塊10の全断
面積の広がりならびにその長さの極めて小さな部
分以上のものを含んでいる。各フオトダイオード
は一定の幅を表わす。すなわち、各カメラ20お
よび22の全視野が768mmにわたるときには各フ
オトダイオードがこの視野の1mmを表わすことに
なる。ガラス塊10の動きにおける等しい増分に
対応して引き続く走査がなされる(たとえばガラ
ス塊10の各mm毎の動きに対して1回の走査)。
本発明のこの実施例においては、センサ18によ
るガラス塊10の通過の感知に始まつて512回の
走査がなされる。これらの走査はガラス塊10の
全長がカメラ20および22によつてとらえられ
るような間隔で行なわれる。カメラ20および2
2の引き続く走査を組合わせることによつて落下
するガラス塊10の全体の外形が決定される。
カメラ20および22によつて二つの異なつた角
度から視られる。これらカメラ20および22は
視野が90゜だけ離されかつレーザビーム13から
(線11に沿つて測定して)距離yの点になるよ
うに設けられている。これらカメラ20および2
2は当該技術分野で通常のものであり、768のフ
オトダイオードからなる水平方向の配列体(図示
せず)を含んでいる。各カメラ20および22は
夫々デジタル出力を与える。すなわち、配列体中
の各フオトダイオードは特定のフオトダイオード
がガラス塊10からのまたはバツクグラウンドか
らのいずれかの光を感知するかによつて論理値
「1」または「0」の出力を有する。このフオト
ダイオードアレイの限界値はガラス塊10および
バツクグラウンドから受けた光の間の対比が検出
されるように調節可能である。ガラス塊10が落
下する際にフオトダイオードアレイは迅速な間隔
で走査される。この走査速度は実用的な目的のた
めに各走査がガラス塊10を横切つて水平に行な
われるような速度である。カメラ20および22
によつて形成される各視野はガラス塊10の全断
面積の広がりならびにその長さの極めて小さな部
分以上のものを含んでいる。各フオトダイオード
は一定の幅を表わす。すなわち、各カメラ20お
よび22の全視野が768mmにわたるときには各フ
オトダイオードがこの視野の1mmを表わすことに
なる。ガラス塊10の動きにおける等しい増分に
対応して引き続く走査がなされる(たとえばガラ
ス塊10の各mm毎の動きに対して1回の走査)。
本発明のこの実施例においては、センサ18によ
るガラス塊10の通過の感知に始まつて512回の
走査がなされる。これらの走査はガラス塊10の
全長がカメラ20および22によつてとらえられ
るような間隔で行なわれる。カメラ20および2
2の引き続く走査を組合わせることによつて落下
するガラス塊10の全体の外形が決定される。
カメラ20および22はこのようにしてガラス
塊10が落下する際にその引き続く「スライス」、
すなわち断面を走査する。これらの走査から得ら
れた測定結果は各走査に対応する断面積の決定に
用いることができる。このガラス塊10の断面形
状は円形またはほぼ円形(すなわち、15%以上異
ならない長軸および短軸を有するだ円形)であ
る。断面が実際上円形であるときには、その面積
はカメラ20または22のいずれか一方のみを用
いて求めることができる。カメラ20または22
の出力は断面の直径に対応する。断面積はこの直
径を二乗してπ/4をかけることにより求められ
る。断面積が第2図に示すようにだ円形であると
きには断面積の決定の精度を向上させるためにカ
メラ20および22の双方が必要である。この場
合には、カメラ20および22の出力はだ円形状
の長軸および短軸の値にほぼ対応する。だ円は円
に近似しているからカメラの視野がだ円の軸に関
して整合しなくても面積の決定に含まれる誤差は
無視し得るものである。カメラからのこれら二つ
の値いは互いにかけ合わされ、次いでπ/4を乗算
されてだ円断面の面積が求められる。円は長軸お
よび短軸が互いに等しいだ円であるから断面が円
形である場合にも二つのカメラを用いることがで
きることに注意すべきである。
塊10が落下する際にその引き続く「スライス」、
すなわち断面を走査する。これらの走査から得ら
れた測定結果は各走査に対応する断面積の決定に
用いることができる。このガラス塊10の断面形
状は円形またはほぼ円形(すなわち、15%以上異
ならない長軸および短軸を有するだ円形)であ
る。断面が実際上円形であるときには、その面積
はカメラ20または22のいずれか一方のみを用
いて求めることができる。カメラ20または22
の出力は断面の直径に対応する。断面積はこの直
径を二乗してπ/4をかけることにより求められ
る。断面積が第2図に示すようにだ円形であると
きには断面積の決定の精度を向上させるためにカ
メラ20および22の双方が必要である。この場
合には、カメラ20および22の出力はだ円形状
の長軸および短軸の値にほぼ対応する。だ円は円
に近似しているからカメラの視野がだ円の軸に関
して整合しなくても面積の決定に含まれる誤差は
無視し得るものである。カメラからのこれら二つ
の値いは互いにかけ合わされ、次いでπ/4を乗算
されてだ円断面の面積が求められる。円は長軸お
よび短軸が互いに等しいだ円であるから断面が円
形である場合にも二つのカメラを用いることがで
きることに注意すべきである。
第2図について説明すると、ガラス塊10の断
面のスライスがわずかにだ円形状を有するものと
して示されている。カメラ20および22によつ
て得られた測定により読みW1およびW2が夫々生
じる。これらの測定はだ円形状の長軸および短軸
に必らずしも正確には対応しないが、この不整合
によつてもたらされる誤差は極めて小さい。
面のスライスがわずかにだ円形状を有するものと
して示されている。カメラ20および22によつ
て得られた測定により読みW1およびW2が夫々生
じる。これらの測定はだ円形状の長軸および短軸
に必らずしも正確には対応しないが、この不整合
によつてもたらされる誤差は極めて小さい。
ガラス塊10の連続する各スライスの断面積を
このようにして求めることにより、各スライスの
体積はこの断面積に高さ(すなわち、各測定間の
距離)をかけることによつて求められる。各走査
間の距離は比較的小さいので各スライスの壁面が
正確に垂直でないとしても体積の決定には無視で
きる程度の影響を生じるだけである。ガラス塊1
0全体の体積は個々のスライスの体積の加算によ
つて求められる。ガラス塊10の体積に対してそ
の中に含まれるガラスの既知の密度を乗算するこ
とによつてガラス塊10の重量もまた求められ
る。
このようにして求めることにより、各スライスの
体積はこの断面積に高さ(すなわち、各測定間の
距離)をかけることによつて求められる。各走査
間の距離は比較的小さいので各スライスの壁面が
正確に垂直でないとしても体積の決定には無視で
きる程度の影響を生じるだけである。ガラス塊1
0全体の体積は個々のスライスの体積の加算によ
つて求められる。ガラス塊10の体積に対してそ
の中に含まれるガラスの既知の密度を乗算するこ
とによつてガラス塊10の重量もまた求められ
る。
要するに、ガラス塊10の体積は直径測定のた
めに一つのカメラを用い、そして断面形状を円形
であると仮定することによつて近似的に求められ
る。しかし一般に断面形状は幾分だ円形であるか
ら、この近似はガラス塊10に関して90゜の角度
で隔てられた二つのカメラを用いることによつて
改善され、これらカメラの出力がだ円形断面の軸
の近似を与える。この記載の趣旨に関しては直径
および円軸の測定を水平方向の寸法の測定として
記載する。
めに一つのカメラを用い、そして断面形状を円形
であると仮定することによつて近似的に求められ
る。しかし一般に断面形状は幾分だ円形であるか
ら、この近似はガラス塊10に関して90゜の角度
で隔てられた二つのカメラを用いることによつて
改善され、これらカメラの出力がだ円形断面の軸
の近似を与える。この記載の趣旨に関しては直径
および円軸の測定を水平方向の寸法の測定として
記載する。
第3図には本発明の制御装置のブロツク図が示
されている。センサ16および18の出力は落下
するガラス塊10の速度および長さの決定に用い
られる回路30に供給される。さらにセンサ16
および18の出力はカメラ20および22ならび
に回路30からのデータの受け取りを制御する回
路32に対して接続されている。回路32に対す
るこれらの入力はリセツトレリーズおよびサイク
ルスタートとして表示されており、夫々線48お
よび49によつて示されている。速度および長さ
測定回路30からのデータはコンピユータ34に
供給される。回路30の他の出力はライン35に
よつて示され、掃引クロツク36に接続されてい
る。センサ18の出力もまた掃引クロツク36に
接続されている。掃引クロツク36は周波数の変
化する出力を形成しこれはデータ受取制御回路3
2に接続されている。この掃引クロツク36はガ
ラス塊10の等しい増分に対してその変化する速
度にかかわらず一回の走査が行なわれるようにカ
メラ20および22の走査の速度を制御するため
に用いられる。この増分の値はガラス塊10の各
スライスの高さに等しい。走査スタートと表示さ
れ線37で示されるデータ受取制御回路32の出
力はガラス塊10の外形を測定するために用いら
れる一対の同じ回路38および40に接続されて
いる。これもデータ受取制御回路32から発生さ
れるリセツト信号が線41を介して回路30,3
8および40にそしてまた掃引クロツク36に接
続されている。
されている。センサ16および18の出力は落下
するガラス塊10の速度および長さの決定に用い
られる回路30に供給される。さらにセンサ16
および18の出力はカメラ20および22ならび
に回路30からのデータの受け取りを制御する回
路32に対して接続されている。回路32に対す
るこれらの入力はリセツトレリーズおよびサイク
ルスタートとして表示されており、夫々線48お
よび49によつて示されている。速度および長さ
測定回路30からのデータはコンピユータ34に
供給される。回路30の他の出力はライン35に
よつて示され、掃引クロツク36に接続されてい
る。センサ18の出力もまた掃引クロツク36に
接続されている。掃引クロツク36は周波数の変
化する出力を形成しこれはデータ受取制御回路3
2に接続されている。この掃引クロツク36はガ
ラス塊10の等しい増分に対してその変化する速
度にかかわらず一回の走査が行なわれるようにカ
メラ20および22の走査の速度を制御するため
に用いられる。この増分の値はガラス塊10の各
スライスの高さに等しい。走査スタートと表示さ
れ線37で示されるデータ受取制御回路32の出
力はガラス塊10の外形を測定するために用いら
れる一対の同じ回路38および40に接続されて
いる。これもデータ受取制御回路32から発生さ
れるリセツト信号が線41を介して回路30,3
8および40にそしてまた掃引クロツク36に接
続されている。
外形測定回路38および40がデータ受取制御
回路32から走査スタート信号を受けると、各回
路はカメラスタート/走査完了と表示され線42
および43で示される信号を発生する。線42お
よび43はカメラ20および22に夫々接続され
かつデータ受取制御回路32に接続されている。
このカメラスタート/走査終了信号はカメラ20
および22に一回の走査を行なわせかつデータ受
取制御回路に次の走査スタート信号を発生させ
る。各カメラ20および22の出力は対応する外
形測定回路38および40に接続されている。外
形測定回路38および40からのデータはメモリ
44に送られる。メモリ44の出力は表示装置4
6およびコンピユータ34に接続されている。コ
ンピユータ34の出力もまた表示装置46に接続
されている。
回路32から走査スタート信号を受けると、各回
路はカメラスタート/走査完了と表示され線42
および43で示される信号を発生する。線42お
よび43はカメラ20および22に夫々接続され
かつデータ受取制御回路32に接続されている。
このカメラスタート/走査終了信号はカメラ20
および22に一回の走査を行なわせかつデータ受
取制御回路に次の走査スタート信号を発生させ
る。各カメラ20および22の出力は対応する外
形測定回路38および40に接続されている。外
形測定回路38および40からのデータはメモリ
44に送られる。メモリ44の出力は表示装置4
6およびコンピユータ34に接続されている。コ
ンピユータ34の出力もまた表示装置46に接続
されている。
前記装置の動作はセンサ16がガラス塊10の
前縁を感知することによつて開始される。センサ
16からのリセツトレリーズ信号によつてデータ
受取制御回路32がリセツト信号を発生する。こ
の信号が発生されると回路30,38および40
がデータの受取状態になり掃引クロツク36がク
リアされる。速度および長さ測定回路30がセン
サ16および18によるガラス塊10の異なつた
部分の感知の間の時間間隔を決定する。次いでこ
れらの時間間隔を表わす信号がコンピユータ34
に送られここでガラス塊10の入口速度および出
口速度および長さが決定される。入口速度信号は
また掃引クロツク36にも送られる。センサ18
がガラス塊10の前縁を感知すると、サイクルス
タート信号によつてデータ受取制御回路32が外
形測定回路38および40に対して走査開始信号
を発生させる。次いで回路38および40がカメ
ラ20および22からの信号の受信を開始する。
ガラス塊10が落下するにつれてカメラ20およ
び22が走査されそして回路38および40は各
走査毎にガラス塊10の縁部の幅および中心位置
を決定する。カメラ20および22はガラス塊1
0の等間隔の動きで走査される。この走査の割合
は掃引クロツク36によつて制御される。カメラ
20および22が512回走査された後、データ受
取制御回路32は、このようなスタート信号の発
生を停止する。走査手順が再度開始され次のリセ
ツトレリーズおよびサイクルスタート信号が受信
される。
前縁を感知することによつて開始される。センサ
16からのリセツトレリーズ信号によつてデータ
受取制御回路32がリセツト信号を発生する。こ
の信号が発生されると回路30,38および40
がデータの受取状態になり掃引クロツク36がク
リアされる。速度および長さ測定回路30がセン
サ16および18によるガラス塊10の異なつた
部分の感知の間の時間間隔を決定する。次いでこ
れらの時間間隔を表わす信号がコンピユータ34
に送られここでガラス塊10の入口速度および出
口速度および長さが決定される。入口速度信号は
また掃引クロツク36にも送られる。センサ18
がガラス塊10の前縁を感知すると、サイクルス
タート信号によつてデータ受取制御回路32が外
形測定回路38および40に対して走査開始信号
を発生させる。次いで回路38および40がカメ
ラ20および22からの信号の受信を開始する。
ガラス塊10が落下するにつれてカメラ20およ
び22が走査されそして回路38および40は各
走査毎にガラス塊10の縁部の幅および中心位置
を決定する。カメラ20および22はガラス塊1
0の等間隔の動きで走査される。この走査の割合
は掃引クロツク36によつて制御される。カメラ
20および22が512回走査された後、データ受
取制御回路32は、このようなスタート信号の発
生を停止する。走査手順が再度開始され次のリセ
ツトレリーズおよびサイクルスタート信号が受信
される。
カメラ20および22の各走査の後、外形測定
回路38および40によつて発生されたデータは
メモリ44中に記憶される。メモリ44に全ての
データが入ると、線50で示されるカウンタリセ
ツト信号がデータ受取制御回路32に送られる。
回路32はこれによつて信号を回路38および4
0に送りこれらの回路に含まれているデータカウ
ンタをリセツトする。この信号はCリセツトとし
て表示されており、線51で示されている。メモ
リ44中に記憶された情報は表示装置46に送ら
れ、ここでガラス塊10の二つの外観がスクリー
ンに表示される。コンピユータ34はメモリに記
憶された情報を用いてガラス塊10の体積および
重量を決定する。この情報は次いで表示装置46
に送られる。
回路38および40によつて発生されたデータは
メモリ44中に記憶される。メモリ44に全ての
データが入ると、線50で示されるカウンタリセ
ツト信号がデータ受取制御回路32に送られる。
回路32はこれによつて信号を回路38および4
0に送りこれらの回路に含まれているデータカウ
ンタをリセツトする。この信号はCリセツトとし
て表示されており、線51で示されている。メモ
リ44中に記憶された情報は表示装置46に送ら
れ、ここでガラス塊10の二つの外観がスクリー
ンに表示される。コンピユータ34はメモリに記
憶された情報を用いてガラス塊10の体積および
重量を決定する。この情報は次いで表示装置46
に送られる。
第4図には速度制御回路30が示されている。
落下するガラス塊10がレーザビーム12の径路
を中断すると、まずセンサ16が論理値「1」の
出力を発生する。センサ16のこの出力は線48
を介して制御回路32に、そしてまたANDゲー
ト60の一方の入力端およびインバータ62に接
続されている。センサ16の出力が「1」になる
と制御回路32のリセツト出力が「1」になる。
このリセツト出力はフリツプフロツプ64の反転
クリア入力およびANDゲート68の一方の入力
に接続されている。フリツプフロツプ64の出
力はANDゲート68の他方の入力に接続されて
いる。フリツプフロツプ64の出力は最初「1」
であり、したがつてリセツト信号が「1」になる
とANDゲート68の出力に「1」が生じる。
ANDゲート68の出力はANDゲート60,72
および74の入力に接続されている。したがつて
これらANDゲート60,72および74はAND
ゲート68の出力が「1」であるときに動作可能
となる。
落下するガラス塊10がレーザビーム12の径路
を中断すると、まずセンサ16が論理値「1」の
出力を発生する。センサ16のこの出力は線48
を介して制御回路32に、そしてまたANDゲー
ト60の一方の入力端およびインバータ62に接
続されている。センサ16の出力が「1」になる
と制御回路32のリセツト出力が「1」になる。
このリセツト出力はフリツプフロツプ64の反転
クリア入力およびANDゲート68の一方の入力
に接続されている。フリツプフロツプ64の出
力はANDゲート68の他方の入力に接続されて
いる。フリツプフロツプ64の出力は最初「1」
であり、したがつてリセツト信号が「1」になる
とANDゲート68の出力に「1」が生じる。
ANDゲート68の出力はANDゲート60,72
および74の入力に接続されている。したがつて
これらANDゲート60,72および74はAND
ゲート68の出力が「1」であるときに動作可能
となる。
センサ18の出力は各ANDゲート72および
74の入力およびインバータ76の入力に接続さ
れている。インバータ76の出力はANDゲート
60の一方の入力およびフリツプフロツプ64の
クロツク入力に接続されている。したがつてフリ
ツプフロツプ64はインバータの出力が「0」か
ら「1」に変化したときにクロツクされるが、こ
れはガラス塊10の後縁がセンサ18を通過した
ときに生じる。リセツト信号が「0」であつたと
きにクリアされていたフリツプフロツプ64の出
力はそのクロツク入力に「1」が入つたときに
「0」となる。これによつてANDゲート68の出
力が「0」となる。このようにしてセンサ16が
まずガラス塊10を最初に検知したときと、セン
サ18がガラス塊10を最後に検知したときとの
間においてANDゲート68の出力が「1」とな
る。
74の入力およびインバータ76の入力に接続さ
れている。インバータ76の出力はANDゲート
60の一方の入力およびフリツプフロツプ64の
クロツク入力に接続されている。したがつてフリ
ツプフロツプ64はインバータの出力が「0」か
ら「1」に変化したときにクロツクされるが、こ
れはガラス塊10の後縁がセンサ18を通過した
ときに生じる。リセツト信号が「0」であつたと
きにクリアされていたフリツプフロツプ64の出
力はそのクロツク入力に「1」が入つたときに
「0」となる。これによつてANDゲート68の出
力が「0」となる。このようにしてセンサ16が
まずガラス塊10を最初に検知したときと、セン
サ18がガラス塊10を最後に検知したときとの
間においてANDゲート68の出力が「1」とな
る。
ANDゲート60の出力はセンサ16の出力が
「1」でセンサ18の出力が「0」であるときに
「1」となる(ANDゲート68の出力は「1」と
する)。これは各センサ16および18によるガ
ラス塊10の前縁感知の間の時間に対応する。
ANDゲート70の出力はセンサ16の出力が
「0」でありそしてセンサ18の出力が「1」の
ときに「1」となる(ここでもANDゲート68
出力は「1」とする)。これは各センサ16およ
び18によるガラス塊10の後縁感知の間の時間
に対応する。ANDゲート74の出力はANDゲー
ト68の出力が「1」でありそしてセンサ18の
出力「1」であるときに「1」となる。これはガ
ラス塊10の全体がセンサ18を通過するのに必
要な時間、すなわち通過時間に対応する。
「1」でセンサ18の出力が「0」であるときに
「1」となる(ANDゲート68の出力は「1」と
する)。これは各センサ16および18によるガ
ラス塊10の前縁感知の間の時間に対応する。
ANDゲート70の出力はセンサ16の出力が
「0」でありそしてセンサ18の出力が「1」の
ときに「1」となる(ここでもANDゲート68
出力は「1」とする)。これは各センサ16およ
び18によるガラス塊10の後縁感知の間の時間
に対応する。ANDゲート74の出力はANDゲー
ト68の出力が「1」でありそしてセンサ18の
出力「1」であるときに「1」となる。これはガ
ラス塊10の全体がセンサ18を通過するのに必
要な時間、すなわち通過時間に対応する。
ANDゲート60,72および74の出力は
夫々フリツプフロツプ78,80および82のデ
ータ入力に接続されている。クロツク84の出力
は各フリツプフロツプ78,80および82のク
ロツク入力に接続されている。各フリツプフロツ
プ78,80および82の各データはクロツク信
号の受信時に出力側に通過され、それによつて
ANDゲート60,72および74の出力をクロ
ツク信号と同期させる。クロツク84の出力はイ
ンバータ85の入力にも接続されている。インバ
ータ85の出力は三つのANDゲート86,88
および90の各入力に接続されている。フリツプ
フロツプ78,80および82の出力は夫々
ANDゲート86,88および90の残りの入力
に接続されている。このようにして夫々のフリツ
プフロツプ78,80または82の出力が「1」
であるときに反転されたクロツク信号が各AND
ゲート86,88および90の出力に通過させら
れる。ANDゲート86,88および90の出力
は夫々三つのカウンタ92,94および96のク
ロツク入力に接続されている。したがつて、カウ
ンタ92,94および96は各フリツプフロツプ
78,80および82の夫々の出力が「1」であ
る間に生じるクロツクパルスの数を計数する。こ
れらカウンタ92,94および96は制御回路3
2からリセツト信号を受けたときにクリアされ
る。
夫々フリツプフロツプ78,80および82のデ
ータ入力に接続されている。クロツク84の出力
は各フリツプフロツプ78,80および82のク
ロツク入力に接続されている。各フリツプフロツ
プ78,80および82の各データはクロツク信
号の受信時に出力側に通過され、それによつて
ANDゲート60,72および74の出力をクロ
ツク信号と同期させる。クロツク84の出力はイ
ンバータ85の入力にも接続されている。インバ
ータ85の出力は三つのANDゲート86,88
および90の各入力に接続されている。フリツプ
フロツプ78,80および82の出力は夫々
ANDゲート86,88および90の残りの入力
に接続されている。このようにして夫々のフリツ
プフロツプ78,80または82の出力が「1」
であるときに反転されたクロツク信号が各AND
ゲート86,88および90の出力に通過させら
れる。ANDゲート86,88および90の出力
は夫々三つのカウンタ92,94および96のク
ロツク入力に接続されている。したがつて、カウ
ンタ92,94および96は各フリツプフロツプ
78,80および82の夫々の出力が「1」であ
る間に生じるクロツクパルスの数を計数する。こ
れらカウンタ92,94および96は制御回路3
2からリセツト信号を受けたときにクリアされ
る。
前記のことから明らかなように、カウンタ9
2,94および96はANDゲート60,72お
よび74の出力が夫々「1」となる時間の間に生
じるクロツクパルスの数を計数する(クロツク8
4との同期後)。このようにしてカウンタ92は
センサ16および18によるガラス塊10の前縁
の感知の間におけるパルスを計数する。クロツク
84の周波数は知られており、そしてガラス塊1
0が通過せねばならないセンサ16と18との間
の距離も知られているから、このカウンタ92中
におけるカウンタ数はガラス塊10の前縁がセン
サ16および18により感知される間の平均速度
を求めるために用いることができる。この値は入
口速度である。同様にしてカウンタ94中のカウ
ント数をガラス塊10の後縁がセンサ16および
18を通過する際における出力速度としての平均
速度を決定するために用いることができる。カウ
ンタ96はガラス塊10がセンサ18によつて感
知されている時間の間のパルスを計数する。すな
わちこのカウンタは通過時間を測定する。各カウ
ンタ92,94および96の出力はコンピュータ
34に接続されている。さらに、カウンタ92の
出力は掃引クロツク36にも接続されている。
2,94および96はANDゲート60,72お
よび74の出力が夫々「1」となる時間の間に生
じるクロツクパルスの数を計数する(クロツク8
4との同期後)。このようにしてカウンタ92は
センサ16および18によるガラス塊10の前縁
の感知の間におけるパルスを計数する。クロツク
84の周波数は知られており、そしてガラス塊1
0が通過せねばならないセンサ16と18との間
の距離も知られているから、このカウンタ92中
におけるカウンタ数はガラス塊10の前縁がセン
サ16および18により感知される間の平均速度
を求めるために用いることができる。この値は入
口速度である。同様にしてカウンタ94中のカウ
ント数をガラス塊10の後縁がセンサ16および
18を通過する際における出力速度としての平均
速度を決定するために用いることができる。カウ
ンタ96はガラス塊10がセンサ18によつて感
知されている時間の間のパルスを計数する。すな
わちこのカウンタは通過時間を測定する。各カウ
ンタ92,94および96の出力はコンピュータ
34に接続されている。さらに、カウンタ92の
出力は掃引クロツク36にも接続されている。
カウンタ92の出力はガラス塊10の入口速度
に比例し、したがつて掃引クロツク36の初期周
波数の決定に用いられる。カウンタ92のデジタ
ル出力は掃引クロツク36の一部をなすメモリ中
に記憶される。このメモリの出力は速度のデジタ
ル的な表示となる。この出力は掃引クロツク36
に含まれるデジタル−アナログコンバータによつ
てアナログ電圧に変換される。したがつてこのア
ナログ電圧はガラス塊10の入口速度に比例す
る。この電圧は電圧制御発振器を制御する。この
電圧はその初期値から直線的に傾斜して上昇しガ
ラス塊10の加速を補償するように発振器の周波
数を増加させる。このようにして掃引クロツク3
6の出力周波数はガラス塊10の入口速度に比例
する初期値からスタートしガラス塊10の加速度
の関数として増加する。このようにして掃引クロ
ツク36からの制御信号によりガラス塊10の動
きにおける既知の等しい増分において走査が行な
われる。
に比例し、したがつて掃引クロツク36の初期周
波数の決定に用いられる。カウンタ92のデジタ
ル出力は掃引クロツク36の一部をなすメモリ中
に記憶される。このメモリの出力は速度のデジタ
ル的な表示となる。この出力は掃引クロツク36
に含まれるデジタル−アナログコンバータによつ
てアナログ電圧に変換される。したがつてこのア
ナログ電圧はガラス塊10の入口速度に比例す
る。この電圧は電圧制御発振器を制御する。この
電圧はその初期値から直線的に傾斜して上昇しガ
ラス塊10の加速を補償するように発振器の周波
数を増加させる。このようにして掃引クロツク3
6の出力周波数はガラス塊10の入口速度に比例
する初期値からスタートしガラス塊10の加速度
の関数として増加する。このようにして掃引クロ
ツク36からの制御信号によりガラス塊10の動
きにおける既知の等しい増分において走査が行な
われる。
第5図には第4図の回路の一部のタイミング図
が示されている。センサ16の出力は時刻t1で
「0」から「1」になる。これはセンサ16によ
るガラス塊10の前縁の感知に対応する。センサ
18が時刻t2でガラス塊10の前縁を感知する
と、その出力は「0」から「1」になる。センサ
16および18の出力は時刻t3およびt4において
ガラス塊10の後縁の感知に対応して夫々「0」
に戻る。ANDゲート68の出力は時刻t1とt4との
間で「1」である。ANDゲート60の出力は時
刻t1とt2との間で「1」であり、ANDゲート72
の出力は時刻t3とt4との間で「1」であり、そし
てANDゲート74の出力は時刻t2とt4との間で
「1」である。パルス幅を厳密な尺度では示して
いないクロツクパルス(本実施例で5MHzクロツ
クが使用されている)が対応するカウンタ92,
94および96によつてこれらの時間の間計数さ
れる(フリツプフロツプ78,80および82に
よる同期化後)。
が示されている。センサ16の出力は時刻t1で
「0」から「1」になる。これはセンサ16によ
るガラス塊10の前縁の感知に対応する。センサ
18が時刻t2でガラス塊10の前縁を感知する
と、その出力は「0」から「1」になる。センサ
16および18の出力は時刻t3およびt4において
ガラス塊10の後縁の感知に対応して夫々「0」
に戻る。ANDゲート68の出力は時刻t1とt4との
間で「1」である。ANDゲート60の出力は時
刻t1とt2との間で「1」であり、ANDゲート72
の出力は時刻t3とt4との間で「1」であり、そし
てANDゲート74の出力は時刻t2とt4との間で
「1」である。パルス幅を厳密な尺度では示して
いないクロツクパルス(本実施例で5MHzクロツ
クが使用されている)が対応するカウンタ92,
94および96によつてこれらの時間の間計数さ
れる(フリツプフロツプ78,80および82に
よる同期化後)。
第6図にはデータ受取制御回路32が示されて
いる。リセツトレリーズ信号を含む線48がQ出
力が予め「1」にプリセツトされているフリツプ
フロツプ100のクロツク入力に接続されてい
る。リセツトレリーズ信号が「0」から「1」に
なると、この信号がフリツプフロツプ100をク
ロツクとしてデータ入力の「0」をフリツプフロ
ツプ100のQ出力に通過させる。この出力はイ
ンバータ102の入力に接続されている。インバ
ータ102の出力はリセツト信号41である。イ
ンバータ102の出力はフリツプフロツプ108
の反転リセツト入力、インバータ110の入力お
よびANDゲート112の入力に接続されている。
インバータ110の出力はカウンタ114のクリ
ア入力に接続されている。フリツプフロツプ10
8の出力はANDゲート112の他方の入力に
接続され、このANDゲート112の出力はフリ
ツプフロツプ106の反転リセツト入力に接続さ
れている。初期の状態では、フリツプフロツプ1
08の出力は「1」でありそしてフリツプフロ
ツプ106のQ出力は「0」である。
いる。リセツトレリーズ信号を含む線48がQ出
力が予め「1」にプリセツトされているフリツプ
フロツプ100のクロツク入力に接続されてい
る。リセツトレリーズ信号が「0」から「1」に
なると、この信号がフリツプフロツプ100をク
ロツクとしてデータ入力の「0」をフリツプフロ
ツプ100のQ出力に通過させる。この出力はイ
ンバータ102の入力に接続されている。インバ
ータ102の出力はリセツト信号41である。イ
ンバータ102の出力はフリツプフロツプ108
の反転リセツト入力、インバータ110の入力お
よびANDゲート112の入力に接続されている。
インバータ110の出力はカウンタ114のクリ
ア入力に接続されている。フリツプフロツプ10
8の出力はANDゲート112の他方の入力に
接続され、このANDゲート112の出力はフリ
ツプフロツプ106の反転リセツト入力に接続さ
れている。初期の状態では、フリツプフロツプ1
08の出力は「1」でありそしてフリツプフロ
ツプ106のQ出力は「0」である。
インバータ102の出力が「0」から「1」に
なると(すなわちリセツトレリーズ信号のフリツ
プフロツプ100クロツク後)、カウンタ114
がインバータ110を介してクリアされそして
ANDゲート112の出力が「0」から「1」に
なる。線49はフリツプフロツプ106のクロツ
ク入力に接続され、それによつてフリツプフロツ
プ106をサイクルスタート信号によりクロツク
する。サイクルスタート信号が「0」から「1」
になるとフリツプフロツプ106のデータ入力の
「1」がそのQ出力に通過させられる。この出力
はANDゲート116および118の夫々の入力
端に接続されている。掃引クロツク36の出力は
ANDゲート116の他方の入力に接続され、し
たがつてフリツプフロツプ106のQ出力が
「1」になるとANDゲート116は掃引クロツク
36の出力を通過させる。ANDゲート116の
出力はカウンタ114のクロツク入力に接続され
そしてまた外形測定回路38および39に接続さ
れる走査スタート出力に接続されている。サイク
ルスタート信号が「1」になつた後に生じる掃引
クロツク36の各パルスはしたがつて走査スター
ト信号を発生させかつカウンタ114にカウント
を加えさせる。所望の走査スタート信号の全ての
数が発生された後、カウンタ114はフリツプフ
ロツプ108のクロツク入力に「1」を発生す
る。前記のように本発明のこの実施例では512回
の走査がなされ、そしてカウンタ114は512カ
ウント後に「1」を発生する。
なると(すなわちリセツトレリーズ信号のフリツ
プフロツプ100クロツク後)、カウンタ114
がインバータ110を介してクリアされそして
ANDゲート112の出力が「0」から「1」に
なる。線49はフリツプフロツプ106のクロツ
ク入力に接続され、それによつてフリツプフロツ
プ106をサイクルスタート信号によりクロツク
する。サイクルスタート信号が「0」から「1」
になるとフリツプフロツプ106のデータ入力の
「1」がそのQ出力に通過させられる。この出力
はANDゲート116および118の夫々の入力
端に接続されている。掃引クロツク36の出力は
ANDゲート116の他方の入力に接続され、し
たがつてフリツプフロツプ106のQ出力が
「1」になるとANDゲート116は掃引クロツク
36の出力を通過させる。ANDゲート116の
出力はカウンタ114のクロツク入力に接続され
そしてまた外形測定回路38および39に接続さ
れる走査スタート出力に接続されている。サイク
ルスタート信号が「1」になつた後に生じる掃引
クロツク36の各パルスはしたがつて走査スター
ト信号を発生させかつカウンタ114にカウント
を加えさせる。所望の走査スタート信号の全ての
数が発生された後、カウンタ114はフリツプフ
ロツプ108のクロツク入力に「1」を発生す
る。前記のように本発明のこの実施例では512回
の走査がなされ、そしてカウンタ114は512カ
ウント後に「1」を発生する。
各走査の完了後、論理値「1」の走査完了信号
がORゲート120の入力に接続された線42お
よび43に沿つて発生される。ORゲート120
の出力はANDゲート118の入力に接続されて
いる。したがつてフリツプフロツプ106のQ出
力が「1」になり(すなわち、サイクルスタート
信号が入ると)そして走査完了信号が発生される
とANDゲート118の出力が「1」になる。
ANDゲート118の入力はメモリ44に接続さ
れており、ANDゲート118からの「1」によ
つてメモリ44は外形測定回路38および40か
らデータを受取る。メモリが回路38および40
からデータを受取る方法は通常のものであり、特
に説明を必要としない。メモリ44の受取速度は
全てのデータが次の走査開始信号が発生されるよ
りも充分に早く受取られるような速度である。メ
モリ44のデータ受取りが完了すると、ANDゲ
ート104の入力に対して「1」が発生される。
フリツプフロツプ100の出力はANDゲート
104の他方の入力に接続されていてメモリ44
のデータ受取り中の全時間にわたつて「1」であ
る。したがつて、ANDゲート104の出力は各
走査からのデータがメモリ44によつて得られた
後に「0」から「1」になる。ANDゲート10
4の出力線は51で示され外形測定回路38およ
び40に接続されている。
がORゲート120の入力に接続された線42お
よび43に沿つて発生される。ORゲート120
の出力はANDゲート118の入力に接続されて
いる。したがつてフリツプフロツプ106のQ出
力が「1」になり(すなわち、サイクルスタート
信号が入ると)そして走査完了信号が発生される
とANDゲート118の出力が「1」になる。
ANDゲート118の入力はメモリ44に接続さ
れており、ANDゲート118からの「1」によ
つてメモリ44は外形測定回路38および40か
らデータを受取る。メモリが回路38および40
からデータを受取る方法は通常のものであり、特
に説明を必要としない。メモリ44の受取速度は
全てのデータが次の走査開始信号が発生されるよ
りも充分に早く受取られるような速度である。メ
モリ44のデータ受取りが完了すると、ANDゲ
ート104の入力に対して「1」が発生される。
フリツプフロツプ100の出力はANDゲート
104の他方の入力に接続されていてメモリ44
のデータ受取り中の全時間にわたつて「1」であ
る。したがつて、ANDゲート104の出力は各
走査からのデータがメモリ44によつて得られた
後に「0」から「1」になる。ANDゲート10
4の出力線は51で示され外形測定回路38およ
び40に接続されている。
第6図の回路の制御動作は走査スタート信号が
発生されるとカメラ20および22がそれによつ
て連続的な走査を行なうようにしてなされる。各
走査が完了すると、走査によつて得られたデータ
がメモリ44中に記憶される。メモリ44がその
データ受取りを完了すると、一つの信号が外形測
定回路38および40に対して発生されこれらの
回路を次の走査に関するデータ測定の準備状態に
する。次いで次の走査スタート信号が発生されこ
の手順が繰り返される。所望の数の走査が全て完
了すると、カウンタ114は「1」を発生してフ
リツプフロツプ108をクロツクする。これによ
つて「1」がフリツプフロツプ108のデータ入
力からQ出力に通過しそれによつてフリツプフロ
ツプ108の出力を「0」にする。ANDゲー
ト112の出力はこれにより「1」から「0」に
なり、したがつてフリツプフロツプ106をリセ
ツトしてそのQ出力を「0」にする。フリツプフ
ロツプ108のQ出力はインバータ122の入力
に接続されている。インバータ122の出力はフ
リツプフロツプ100の反転プリセツト入力に接
続されている。したがつて、フリツプフロツプ1
08がクロツクされるとインバータの出力が
「1」から「0」になつてフリツプフロツプ10
0をプリセツトする。フリツプフロツプ100の
Q出力がこれによつて「1」から「0」に変化
し、この変化によつてANDゲート104の出力
が「0」になる。フリツプフロツプ100のQ出
力は「0」から「1」になつてインバータの出力
を「1」から「0」にし、したがつてフリツプフ
ロツプ108ならびに線41に接続されたその他
の種々の装置構成部分をリセツトする。これが初
期位置であり、サイクルは次のリセツトレリーズ
信号によつて自動的に反復される。
発生されるとカメラ20および22がそれによつ
て連続的な走査を行なうようにしてなされる。各
走査が完了すると、走査によつて得られたデータ
がメモリ44中に記憶される。メモリ44がその
データ受取りを完了すると、一つの信号が外形測
定回路38および40に対して発生されこれらの
回路を次の走査に関するデータ測定の準備状態に
する。次いで次の走査スタート信号が発生されこ
の手順が繰り返される。所望の数の走査が全て完
了すると、カウンタ114は「1」を発生してフ
リツプフロツプ108をクロツクする。これによ
つて「1」がフリツプフロツプ108のデータ入
力からQ出力に通過しそれによつてフリツプフロ
ツプ108の出力を「0」にする。ANDゲー
ト112の出力はこれにより「1」から「0」に
なり、したがつてフリツプフロツプ106をリセ
ツトしてそのQ出力を「0」にする。フリツプフ
ロツプ108のQ出力はインバータ122の入力
に接続されている。インバータ122の出力はフ
リツプフロツプ100の反転プリセツト入力に接
続されている。したがつて、フリツプフロツプ1
08がクロツクされるとインバータの出力が
「1」から「0」になつてフリツプフロツプ10
0をプリセツトする。フリツプフロツプ100の
Q出力がこれによつて「1」から「0」に変化
し、この変化によつてANDゲート104の出力
が「0」になる。フリツプフロツプ100のQ出
力は「0」から「1」になつてインバータの出力
を「1」から「0」にし、したがつてフリツプフ
ロツプ108ならびに線41に接続されたその他
の種々の装置構成部分をリセツトする。これが初
期位置であり、サイクルは次のリセツトレリーズ
信号によつて自動的に反復される。
外形測定回路38および40の動作を以下第7
図について説明する。回路38および40は同一
のものであるので回路38についてのみ説明す
る。制御回路32からの線37がフリツプフロツ
プ123のクロツク入力に接続されている。走査
スタート信号が発生されると、フリツプフロツプ
123がクロツクされてデータ入力端の「1」が
Q出力に通過させられる。フリツプフロツプ12
3のQ出力はフリツプフロツプ124のデータ入
力に接続されている。クロツク126の出力がフ
リツプフロツプ124のクロツク入力、三つのフ
リツプフロツプ144,148および154の各
クロツク入力および一対のインバータ128およ
び129の各入力に夫々接続されている。したが
つて、フリツプフロツプ123の出力が「0」と
なつた後にはフリツプフロツプ124に入る第一
のクロツク信号がフリツプフロツプ124のデー
タ入力にある「1」をそのQ出力に通過させる。
フリツプフロツプ124のQ出力はANDゲート
130,132および134の入力、RSフリツ
プフロツプ136のセツト入力およびフリツプフ
ロツプ138の反転プリセツト入力に夫々接続さ
れている。インバータ128の出力がANDゲー
ト130の他方の入力に接続されている。したが
つてフリツプフロツプ124のQ出力が「1」に
なると、反転クロツク信号がANDゲート130
の出力に通過させられる。ANDゲート130の
出力はカウンタ140の入力に接続されている。
カウンタ140はしたがつて反転クロツクパルス
を形成する。
図について説明する。回路38および40は同一
のものであるので回路38についてのみ説明す
る。制御回路32からの線37がフリツプフロツ
プ123のクロツク入力に接続されている。走査
スタート信号が発生されると、フリツプフロツプ
123がクロツクされてデータ入力端の「1」が
Q出力に通過させられる。フリツプフロツプ12
3のQ出力はフリツプフロツプ124のデータ入
力に接続されている。クロツク126の出力がフ
リツプフロツプ124のクロツク入力、三つのフ
リツプフロツプ144,148および154の各
クロツク入力および一対のインバータ128およ
び129の各入力に夫々接続されている。したが
つて、フリツプフロツプ123の出力が「0」と
なつた後にはフリツプフロツプ124に入る第一
のクロツク信号がフリツプフロツプ124のデー
タ入力にある「1」をそのQ出力に通過させる。
フリツプフロツプ124のQ出力はANDゲート
130,132および134の入力、RSフリツ
プフロツプ136のセツト入力およびフリツプフ
ロツプ138の反転プリセツト入力に夫々接続さ
れている。インバータ128の出力がANDゲー
ト130の他方の入力に接続されている。したが
つてフリツプフロツプ124のQ出力が「1」に
なると、反転クロツク信号がANDゲート130
の出力に通過させられる。ANDゲート130の
出力はカウンタ140の入力に接続されている。
カウンタ140はしたがつて反転クロツクパルス
を形成する。
カメラ20の出力がインバータ142の入力、
フリツプフロツプ144のデータ入力およびフリ
ツプフロツプ146の反転リセツト入力に接続さ
れている。インバータ142の出力はRSフリツ
プフロツプ136のR入力およびフリツプフロツ
プ138のクロツク入力に接続されている。カメ
ラ20の出力はフオトダイオードアレイの走査時
間であり、走査速度はクロツク126の周波数と
同一でありこれに対して同期されている。アレイ
中の各フオトダイオードの出力はガラス塊が存在
すれば「1」であり存在しなければ「0」であ
る。したがつてカメラ20の出力は走査されたフ
オトダイオードがガラス塊を感知しなければ
「0」であり走査されたフオトダイオードがガラ
ス塊を感知すれば「1」となる。インバータ14
2からの反転されたカメラ信号はガラス塊の最初
の縁部が感知されるまでは「0」であり、ガラス
塊10の第一の縁部から第二の縁部までは「0」
でありそしてガラス塊10の第二の縁部が感知さ
れた後には「1」となる。
フリツプフロツプ144のデータ入力およびフリ
ツプフロツプ146の反転リセツト入力に接続さ
れている。インバータ142の出力はRSフリツ
プフロツプ136のR入力およびフリツプフロツ
プ138のクロツク入力に接続されている。カメ
ラ20の出力はフオトダイオードアレイの走査時
間であり、走査速度はクロツク126の周波数と
同一でありこれに対して同期されている。アレイ
中の各フオトダイオードの出力はガラス塊が存在
すれば「1」であり存在しなければ「0」であ
る。したがつてカメラ20の出力は走査されたフ
オトダイオードがガラス塊を感知しなければ
「0」であり走査されたフオトダイオードがガラ
ス塊を感知すれば「1」となる。インバータ14
2からの反転されたカメラ信号はガラス塊の最初
の縁部が感知されるまでは「0」であり、ガラス
塊10の第一の縁部から第二の縁部までは「0」
でありそしてガラス塊10の第二の縁部が感知さ
れた後には「1」となる。
走査の開始時にはフリツプフロツプ124のQ
出力は「0」でありそしてインバータ142の出
力は「1」である。走査スタート信号が入るとフ
リツプフロツプ124のQ出力は「1」になりそ
してフリツプフロツプ136の出力は「1」のま
まである。インバータ142の出力が「1」から
「0」になると(すなわちガラス塊10の第一の
縁部が感知されると)、フリツプフロツプ136
の出力も「0」になる。このフリツプフロツプの
出力はANDゲート132の入力に接続されてい
る。前記のように、フリツプフロツプ124のQ
出力はANDゲート132の他方の入力に接続さ
れている。したがつてANDゲート132の出力
は走査スタート信号が入つてから(これはフリツ
プフロツプ124のQ出力を「1」にする)ガラ
ス塊10の第一の縁部が感知されるまで(これは
インバータ142したがつてフリツプフロツプ1
36の出力を「0」にする)「1」である。AND
ゲート132の出力はフリツプフロツプ148の
データ入力に接続されている。フリツプフロツプ
148はクロツク126によつてクロツクされし
たがつてANDゲート132の出力をクロツク1
26に同期させる。フリツプフロツプ148の同
期出力はNANDゲート150の入力に接続され
ている。インバータ129の出力(すなわち反転
クロツク信号)はNANDゲート150の他方の
入力に接続されている。NANDゲート150の
出力はカウンタ152のクロツク入力に接続され
ている。したがつてカウンタ152はフリツプフ
ロツプ148の出力が「1」である時間の間に生
じる反転クロツクパルスを計数する。
出力は「0」でありそしてインバータ142の出
力は「1」である。走査スタート信号が入るとフ
リツプフロツプ124のQ出力は「1」になりそ
してフリツプフロツプ136の出力は「1」のま
まである。インバータ142の出力が「1」から
「0」になると(すなわちガラス塊10の第一の
縁部が感知されると)、フリツプフロツプ136
の出力も「0」になる。このフリツプフロツプの
出力はANDゲート132の入力に接続されてい
る。前記のように、フリツプフロツプ124のQ
出力はANDゲート132の他方の入力に接続さ
れている。したがつてANDゲート132の出力
は走査スタート信号が入つてから(これはフリツ
プフロツプ124のQ出力を「1」にする)ガラ
ス塊10の第一の縁部が感知されるまで(これは
インバータ142したがつてフリツプフロツプ1
36の出力を「0」にする)「1」である。AND
ゲート132の出力はフリツプフロツプ148の
データ入力に接続されている。フリツプフロツプ
148はクロツク126によつてクロツクされし
たがつてANDゲート132の出力をクロツク1
26に同期させる。フリツプフロツプ148の同
期出力はNANDゲート150の入力に接続され
ている。インバータ129の出力(すなわち反転
クロツク信号)はNANDゲート150の他方の
入力に接続されている。NANDゲート150の
出力はカウンタ152のクロツク入力に接続され
ている。したがつてカウンタ152はフリツプフ
ロツプ148の出力が「1」である時間の間に生
じる反転クロツクパルスを計数する。
インバータ142の出力が「0」から「1」に
なると(すなわちガラス塊10の第二の縁部が感
知されると)、フリツプフロツプ138がクロツ
クされそして最初「1」であつたQ出力が「0」
になる。フリツプフロツプ138のQ出力は
ANDゲート134の入力に接続されている。フ
リツプフロツプ124のQ出力はANDゲート1
34の他方の入力に接続されているので、AND
ゲート134の出力は走査スタート信号が入つて
から(これはフリツプフロツプ124のQ出力を
「1」にする)ガラス塊10の第二の縁部が感知
されるまで(これはフリツプフロツプ138のQ
出力を「0」にする)「1」となる。これは走査
に対する開始からガラス塊10の第二の縁部が感
知されるまでの時間に対応する。ANDゲート1
34の出力はフリツプフロツプ148と同様な同
期機能を果すフリツプフロツプ154のデータ入
力に接続されている。フリツプフロツプ154の
出力はNANDゲート156の入力に接続されて
おり、一方インバータ129の出力がNANDゲ
ート156の他方の入力に接続されている。
NANDゲート150と同様な機能をするNAND
ゲート156の出力はカウンタ158のクロツク
入力に接続されている。したがつてカウンタ15
8はフリツプフロツプ154の出力が「1」であ
る時間の間に生じる反転クロツクパルスを計数す
る。
なると(すなわちガラス塊10の第二の縁部が感
知されると)、フリツプフロツプ138がクロツ
クされそして最初「1」であつたQ出力が「0」
になる。フリツプフロツプ138のQ出力は
ANDゲート134の入力に接続されている。フ
リツプフロツプ124のQ出力はANDゲート1
34の他方の入力に接続されているので、AND
ゲート134の出力は走査スタート信号が入つて
から(これはフリツプフロツプ124のQ出力を
「1」にする)ガラス塊10の第二の縁部が感知
されるまで(これはフリツプフロツプ138のQ
出力を「0」にする)「1」となる。これは走査
に対する開始からガラス塊10の第二の縁部が感
知されるまでの時間に対応する。ANDゲート1
34の出力はフリツプフロツプ148と同様な同
期機能を果すフリツプフロツプ154のデータ入
力に接続されている。フリツプフロツプ154の
出力はNANDゲート156の入力に接続されて
おり、一方インバータ129の出力がNANDゲ
ート156の他方の入力に接続されている。
NANDゲート150と同様な機能をするNAND
ゲート156の出力はカウンタ158のクロツク
入力に接続されている。したがつてカウンタ15
8はフリツプフロツプ154の出力が「1」であ
る時間の間に生じる反転クロツクパルスを計数す
る。
NANDゲート156の出力はまたインバータ
160の入力およびフリツプフロツプ146のク
ロツク入力にも接続されている。インバータ16
0の出力およびフリツプフロツプ146の出力
はNANDゲート162の入力に接続されている。
インバータ160はその出力をフリツプフロツプ
146の出力と同期させるための遅延機構を果
す。最初の状態では、フリツプフロツプ146の
反転リセツト入力に接続されたカメラ20の出力
は「0」であり、これによつてフリツプフロツプ
146の出力は「1」に保持される。これによ
りインバータ160からのパルスがANDゲート
162中を通過させられる。ANDゲート162
の出力はインバータ164で反転され、この出力
はカウンタ168の計数を制御する。このインバ
ータ164の目的はカウンタ168の計数をカウ
ンタ158と同期させることである。このように
して、カウンタ168は走査の開始からガラス塊
10の第一の縁部の感知までに生じる全てのクロ
ツクパルスを計数する。ガラス塊10の第一の縁
部が感知されるとカメラ20の出力は「1」にな
る。これによつてフリツプフロツプ146がその
クロツク入力にNANDゲート156からのパル
スを受ける度に反転させられる。このようにし
て、フリツプフロツプ146は分周器として作用
しその出力はNANDゲート156の出力周波数
の1/2の周波数からなるパルス列である。ANDゲ
ート162の出力はこれによつてインバータ16
0から一つ置きのバルスを受けたときだけ「1」
になる。ガラス塊10の第二の縁部が感知される
とカメラ20の出力が「0」になり、NANDゲ
ート156からはそれ以上パルスが入らない。し
たがつてカウンタ168は走査の開始からガラス
塊10の第一の縁部の感知までに生じる全てのク
ロツクパルス、ならびにガラス塊10の第一およ
び第二の縁部の感知の間に生じるクロツクパルス
の1/2に対応する計数を行なう。したがつてこの
計数は前記特定の走査についてのガラス塊10の
中心に対応する。
160の入力およびフリツプフロツプ146のク
ロツク入力にも接続されている。インバータ16
0の出力およびフリツプフロツプ146の出力
はNANDゲート162の入力に接続されている。
インバータ160はその出力をフリツプフロツプ
146の出力と同期させるための遅延機構を果
す。最初の状態では、フリツプフロツプ146の
反転リセツト入力に接続されたカメラ20の出力
は「0」であり、これによつてフリツプフロツプ
146の出力は「1」に保持される。これによ
りインバータ160からのパルスがANDゲート
162中を通過させられる。ANDゲート162
の出力はインバータ164で反転され、この出力
はカウンタ168の計数を制御する。このインバ
ータ164の目的はカウンタ168の計数をカウ
ンタ158と同期させることである。このように
して、カウンタ168は走査の開始からガラス塊
10の第一の縁部の感知までに生じる全てのクロ
ツクパルスを計数する。ガラス塊10の第一の縁
部が感知されるとカメラ20の出力は「1」にな
る。これによつてフリツプフロツプ146がその
クロツク入力にNANDゲート156からのパル
スを受ける度に反転させられる。このようにし
て、フリツプフロツプ146は分周器として作用
しその出力はNANDゲート156の出力周波数
の1/2の周波数からなるパルス列である。ANDゲ
ート162の出力はこれによつてインバータ16
0から一つ置きのバルスを受けたときだけ「1」
になる。ガラス塊10の第二の縁部が感知される
とカメラ20の出力が「0」になり、NANDゲ
ート156からはそれ以上パルスが入らない。し
たがつてカウンタ168は走査の開始からガラス
塊10の第一の縁部の感知までに生じる全てのク
ロツクパルス、ならびにガラス塊10の第一およ
び第二の縁部の感知の間に生じるクロツクパルス
の1/2に対応する計数を行なう。したがつてこの
計数は前記特定の走査についてのガラス塊10の
中心に対応する。
カメラ20の出力はクロツク126でクロツク
されるフリツプフロツプ144のデータ入力に対
して直接接続されている。フリツプフロツプ14
4の出力はNANDゲート170に接続されてい
る。インバータ129の出力がNANDゲート1
70の他方の入力に接続されている。NANDゲ
ート170の出力はカウンタ172のクロツク入
力に接続されている。したがつてカメラ20から
の信号が「1」である時間の間(クロツク126
による同期後)、反転クロツクパルスがNANDゲ
ート170を通過されカウンタ172で計数され
る。カメラ出力はガラス塊感知時に「1」である
からカウンタ172の計数は前記特定の走査に関
してガラス塊の幅に対応する。
されるフリツプフロツプ144のデータ入力に対
して直接接続されている。フリツプフロツプ14
4の出力はNANDゲート170に接続されてい
る。インバータ129の出力がNANDゲート1
70の他方の入力に接続されている。NANDゲ
ート170の出力はカウンタ172のクロツク入
力に接続されている。したがつてカメラ20から
の信号が「1」である時間の間(クロツク126
による同期後)、反転クロツクパルスがNANDゲ
ート170を通過されカウンタ172で計数され
る。カメラ出力はガラス塊感知時に「1」である
からカウンタ172の計数は前記特定の走査に関
してガラス塊の幅に対応する。
カウンタ140の容量はカメラアレイ中のフオ
トダイオードの数(本実施例中では768)に等し
い。カウンタ140を制御するクロツク126の
周波数とフオトダイオードアレイの走査速度とは
同一であるから、カウンタ140の各計数はアレ
イ中の一つのフオトダイオードの走査に対応す
る。したがつて、カウンタ140が768を計数し
たときにはアレイ中の全てのフオトダイオードの
走査が完了している。この時点でカウンタ140
からインバータ174に「1」が発生される。こ
れによつてフリツプフロツプ123の反転リセツ
ト入力に接続されたインバータ174の出力が
「1」から「0」になり、それによつてフリツプ
フロツプ123にQ出力が「0」になる。これに
よつてフリツプフロツプ124のQ出力が「0」
になり、したがつてフリツプフロツプ138をプ
リセツトし(そのQ出力が「1」となるように)
かつフリツプフロツプ136の出力を「1」にす
る。さらにANDゲート130,132および1
34の出力は「0」になるかまたは「0」にとど
まつている。フリツプフロツプ124の出力は
インバータ176の入力に接続されており「0」
から「1」になる。次の走査スタート信号が入る
と、フリツプフロツプ124の出力が「1」か
ら「0」になりインバータ176の出力は「0」
から「1」になる。この信号は次の走査のための
カメラスタート信号および前回の走査のための走
査完了信号として作用する。走査完了信号はデー
タ受取制御回路32に接続されており、カウンタ
152,158,168および172中の計数を
メモリ44中に記憶させる。メモリ44に記憶が
入ると、Cリセツト信号が線51に発生されカウ
ンタ140,152,158,168および17
2はクリアされる。メモリ44の記憶とカウンタ
140,152,158,168および172の
クリアは次のスタート信号がフリツプフロツプ1
22をクロツクして次の走査手順を開始する前に
行なわれる。
トダイオードの数(本実施例中では768)に等し
い。カウンタ140を制御するクロツク126の
周波数とフオトダイオードアレイの走査速度とは
同一であるから、カウンタ140の各計数はアレ
イ中の一つのフオトダイオードの走査に対応す
る。したがつて、カウンタ140が768を計数し
たときにはアレイ中の全てのフオトダイオードの
走査が完了している。この時点でカウンタ140
からインバータ174に「1」が発生される。こ
れによつてフリツプフロツプ123の反転リセツ
ト入力に接続されたインバータ174の出力が
「1」から「0」になり、それによつてフリツプ
フロツプ123にQ出力が「0」になる。これに
よつてフリツプフロツプ124のQ出力が「0」
になり、したがつてフリツプフロツプ138をプ
リセツトし(そのQ出力が「1」となるように)
かつフリツプフロツプ136の出力を「1」にす
る。さらにANDゲート130,132および1
34の出力は「0」になるかまたは「0」にとど
まつている。フリツプフロツプ124の出力は
インバータ176の入力に接続されており「0」
から「1」になる。次の走査スタート信号が入る
と、フリツプフロツプ124の出力が「1」か
ら「0」になりインバータ176の出力は「0」
から「1」になる。この信号は次の走査のための
カメラスタート信号および前回の走査のための走
査完了信号として作用する。走査完了信号はデー
タ受取制御回路32に接続されており、カウンタ
152,158,168および172中の計数を
メモリ44中に記憶させる。メモリ44に記憶が
入ると、Cリセツト信号が線51に発生されカウ
ンタ140,152,158,168および17
2はクリアされる。メモリ44の記憶とカウンタ
140,152,158,168および172の
クリアは次のスタート信号がフリツプフロツプ1
22をクロツクして次の走査手順を開始する前に
行なわれる。
前記の記載からガラス塊測定手順は次のように
要約される。ガラス塊はその落下の際にレーザビ
ームの径路を遮断して測定サイクルを開始させ
る。測定サイクル中においては512回の水平走査
がガラス塊の垂直方向の軸に沿う等しい増分で行
なわれる。走査速度は掃引クロツクによつて制御
される。512回の夫々の走査の間に各カメラに含
まれる768のフオトダイオードアレイが順次走査
される。計数速度がフオトダイオードアレイの走
査速度に等しい四つのカウンタがガラス塊の水平
方向の寸法ならびにガラス塊の縁部の位置および
中心を表わす値まで計数を行なう。512回のそれ
ぞれの走査後に、カウンタ中の値がメモリに入れ
られる。カウンタは次いでリセツトされ次の走査
が行なわれる。512回の全ての走査が完了し各走
査についてのカウンタからの値がメモリ中に記憶
された後、コンピユータがこの情報を利用して測
定中のガラス塊の体積および形状を決定する。カ
メラの各走査に関してコンピユータは水平方向寸
法の測定値をかけ合わせ、次いでその積にπ/4を
乗算して各走査の点におけるガラス塊の断面積を
決定する。次いでこの断面積に走査の間の距離
(すなわちガラス塊の各スライスの高さ)を乗算
すると各走査によつて示されるガラス塊の体積が
得られる。次いで全ての512回の走査についての
体積を加算してガラス塊全体の体積が得られる。
要約される。ガラス塊はその落下の際にレーザビ
ームの径路を遮断して測定サイクルを開始させ
る。測定サイクル中においては512回の水平走査
がガラス塊の垂直方向の軸に沿う等しい増分で行
なわれる。走査速度は掃引クロツクによつて制御
される。512回の夫々の走査の間に各カメラに含
まれる768のフオトダイオードアレイが順次走査
される。計数速度がフオトダイオードアレイの走
査速度に等しい四つのカウンタがガラス塊の水平
方向の寸法ならびにガラス塊の縁部の位置および
中心を表わす値まで計数を行なう。512回のそれ
ぞれの走査後に、カウンタ中の値がメモリに入れ
られる。カウンタは次いでリセツトされ次の走査
が行なわれる。512回の全ての走査が完了し各走
査についてのカウンタからの値がメモリ中に記憶
された後、コンピユータがこの情報を利用して測
定中のガラス塊の体積および形状を決定する。カ
メラの各走査に関してコンピユータは水平方向寸
法の測定値をかけ合わせ、次いでその積にπ/4を
乗算して各走査の点におけるガラス塊の断面積を
決定する。次いでこの断面積に走査の間の距離
(すなわちガラス塊の各スライスの高さ)を乗算
すると各走査によつて示されるガラス塊の体積が
得られる。次いで全ての512回の走査についての
体積を加算してガラス塊全体の体積が得られる。
ガラス塊10の体積の決定のために利用される
他、メモリ44中のこれらのデータはガラス塊1
0の像を表示スクリーン上に形成するためにも用
いられる。これによつてガラス塊の落下の際にお
いてその目視よりもより正確なガラス塊10の形
状の検査を行なうことができる。各水平方向寸法
の測定値は表示装置46中において一本の線を駆
動するのに用いられる。この表示はガラス塊10
の第一の縁部に対応するスクリーンの位置で入り
そしてガラス塊10の第二の縁部に対応する位置
で消される。各カメラ20および22に対応して
表示が発生される。したがつて最終的な表示は
90゜の角度で隔てられた二つの視野からのガラス
塊10の二つの像を含む。コンピユータ34によ
つて求められた体積および重量の情報は視覚的な
読出し値を与えるために表示装置46に送られ
る。さらにメモリ44中に記憶された中心線の測
定値がガラス塊10の落下の際におけるその相対
的な傾斜の決定のためにコンピユータ34によつ
て利用される。選択された中心点がそれらを通過
する直線の垂直線に対する角度を決定するために
分析される。この情報についての視覚的な読出し
値もまた表示装置46中に発生される。
他、メモリ44中のこれらのデータはガラス塊1
0の像を表示スクリーン上に形成するためにも用
いられる。これによつてガラス塊の落下の際にお
いてその目視よりもより正確なガラス塊10の形
状の検査を行なうことができる。各水平方向寸法
の測定値は表示装置46中において一本の線を駆
動するのに用いられる。この表示はガラス塊10
の第一の縁部に対応するスクリーンの位置で入り
そしてガラス塊10の第二の縁部に対応する位置
で消される。各カメラ20および22に対応して
表示が発生される。したがつて最終的な表示は
90゜の角度で隔てられた二つの視野からのガラス
塊10の二つの像を含む。コンピユータ34によ
つて求められた体積および重量の情報は視覚的な
読出し値を与えるために表示装置46に送られ
る。さらにメモリ44中に記憶された中心線の測
定値がガラス塊10の落下の際におけるその相対
的な傾斜の決定のためにコンピユータ34によつ
て利用される。選択された中心点がそれらを通過
する直線の垂直線に対する角度を決定するために
分析される。この情報についての視覚的な読出し
値もまた表示装置46中に発生される。
第1図は本発明の検査装置の概要を示す図、第
2図はガラス塊を上部からみた横断面図、第3図
は本発明の測定装置のブロツク図、第4図は本発
明の速度および長さ測定回路の略図、第5図は第
4図の回路のタイミング図、第6図は本発明のデ
ータ受取制御回路の略図、第7図は本発明の外形
測定回路の略図である。 図中:9……ガラスフイーダ、10……ガラス
塊、12,13……レーザビーム、16,18…
…光電池センサ、20,22……カメラ、30…
…速度および長さ測定回路、32……データ受取
制御回路、34……コンピユータ、36……掃引
クロツク、38,40……外形測定回路、44…
…メモリ、46……表示装置。
2図はガラス塊を上部からみた横断面図、第3図
は本発明の測定装置のブロツク図、第4図は本発
明の速度および長さ測定回路の略図、第5図は第
4図の回路のタイミング図、第6図は本発明のデ
ータ受取制御回路の略図、第7図は本発明の外形
測定回路の略図である。 図中:9……ガラスフイーダ、10……ガラス
塊、12,13……レーザビーム、16,18…
…光電池センサ、20,22……カメラ、30…
…速度および長さ測定回路、32……データ受取
制御回路、34……コンピユータ、36……掃引
クロツク、38,40……外形測定回路、44…
…メモリ、46……表示装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 ガラス塊を形成および給送するためのガラス
フイーダ装置と、 ガラス塊の水平方向寸法をガラス塊が前記フイ
ーダ装置から落下する際の運動における所定の距
離毎に測定するための装置とを含み、 前記測定装置は第一及び第二の水平方向寸法の
測定のためのガラス塊に関して約90゜で隔てられ
た装置を含んでおり、そして 前記ガラス塊の体積を前記所定の増分および前
記水平方向寸法の測定値の関数として決定するた
めの装置、 とを含むことを特徴とする落下中の溶融ガラス塊
の体積の決定装置。 2 前記測定装置が前記水平方向寸法の測定のタ
イミングを制御するためのクロツク装置を含む特
許請求の範囲第1項記載の体積決定装置。 3 前記クロツク装置の初期周波数がガラス塊が
基準点を通過する際の速度の関数である特許請求
の範囲第2項記載の体積決定装置。 4 前記測定装置がガラス塊の落下の際にこれを
監視するカメラ装置を有し、前記カメラ装置はガ
ラス塊の長さ方向に沿う特定の点におけるガラス
塊の水平方向寸法を表わすデジタル出力を与える
ためのフオトセンサ装置を含む特許請求の範囲第
1項記載の体積決定装置。 5 ガラス塊落下の際にその長さを測定するため
の装置をさらに含む特許請求の範囲第1項記載の
体積決定装置。 6 前記長さ測定装置が: 落下中のガラス塊の径路を横断する光ビームを
形成する装置と、該ビームが遮断されたことを決
定するための装置とを含み;そして 該ビームが落下中のガラス塊によつて遮断され
る時間の長さを測定するための装置を含む特許請
求の範囲第5項記載の体積決定装置。 7 前記光ビームがレーザビームである特許請求
の範囲第6項記載の体積決定装置。 8 ガラス塊の形状の表示を前記水平方向寸法の
測定値の関数として発生させるための装置をさら
に含む特許請求の範囲第1項または第4項のいず
れかに記載の体積決定装置。 9 ガラス塊のその移動径路に対する相対的な傾
斜を前記水平方向寸法の測定値の関数として決定
するための装置をさらに含む特許請求の範囲第1
項または第4項のいずれかに記載の体積決定装
置。 10 ガラス塊を切断してガラスフイーダから自
由落下させ、このガラス塊の動きにおける所定の
増分毎に対応するタイミング信号を発生させ、ガ
ラス塊の水平方向寸法をその長さ方向に沿う多数
の点において前記タイミング信号に応答して順次
測定し、そしてこのガラス塊の体積を前記水平方
向寸法の測定値および前記所定の増分の関数とし
て電子的に決定する各段階を含むことを特徴とす
るガラスフイーダから供給される溶融ガラス塊の
体積決定方法。 11 前記ガラス塊の落下中にその長さの決定す
る段階を含む特許請求の範囲第10項記載の体積
決定方法。 12 前記ガラス塊の形状の表示を前記水平方向
寸法の測定値の関数として発生させるための段階
をさらに含む特許請求の範囲第10項記載の体積
決定方法。 13 前記測定段階が前記ガラス塊に関して約
90゜隔てられた第一および第二の水平方向寸法の
測定を行うことを含む特許請求の範囲第10項記
載の体積決定方法。 14 前記ガラス塊のその移動径路に対する相対
的な傾斜を電子的に決定する段階をさらに含む特
許請求の範囲第12項または第13項のいずれか
に記載の体積決定方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US05/958,770 US4205973A (en) | 1978-11-08 | 1978-11-08 | Method and apparatus for measuring the volume and shape of a glass gob |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5566704A JPS5566704A (en) | 1980-05-20 |
JPS6352326B2 true JPS6352326B2 (ja) | 1988-10-18 |
Family
ID=25501276
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14142979A Granted JPS5566704A (en) | 1978-11-08 | 1979-11-02 | Glass block volume and shape measurement |
Country Status (24)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4205973A (ja) |
JP (1) | JPS5566704A (ja) |
AR (1) | AR222835A1 (ja) |
AU (1) | AU514517B2 (ja) |
BE (1) | BE878188A (ja) |
BR (1) | BR7907076A (ja) |
CA (1) | CA1130091A (ja) |
CH (1) | CH645984A5 (ja) |
DD (1) | DD147279A5 (ja) |
DE (1) | DE2935941C2 (ja) |
ES (2) | ES485175A1 (ja) |
FR (1) | FR2440922A1 (ja) |
GB (1) | GB2037980B (ja) |
GR (1) | GR73527B (ja) |
HU (1) | HU180904B (ja) |
IT (1) | IT1120029B (ja) |
MX (1) | MX147058A (ja) |
NL (1) | NL7907399A (ja) |
PH (1) | PH16260A (ja) |
PL (1) | PL121434B1 (ja) |
PT (1) | PT70233A (ja) |
SE (1) | SE7909197L (ja) |
SU (1) | SU1068027A3 (ja) |
ZA (1) | ZA794655B (ja) |
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WO2012035656A1 (ja) | 2010-09-17 | 2012-03-22 | 東洋ガラス株式会社 | ガラス製品のゴブ検査装置 |
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- 1979-09-06 DE DE2935941A patent/DE2935941C2/de not_active Expired
- 1979-09-11 PH PH23023A patent/PH16260A/en unknown
- 1979-09-17 AR AR278076A patent/AR222835A1/es active
- 1979-09-18 MX MX179323A patent/MX147058A/es unknown
- 1979-09-27 PT PT70233A patent/PT70233A/pt unknown
- 1979-10-01 IT IT50423/79A patent/IT1120029B/it active
- 1979-10-05 SU SU792830751A patent/SU1068027A3/ru active
- 1979-10-05 NL NL7907399A patent/NL7907399A/nl unknown
- 1979-10-19 ES ES485175A patent/ES485175A1/es not_active Expired
- 1979-10-19 ES ES485177A patent/ES485177A1/es not_active Expired
- 1979-10-30 HU HU79OE278A patent/HU180904B/hu unknown
- 1979-10-31 BR BR7907076A patent/BR7907076A/pt not_active IP Right Cessation
- 1979-11-02 JP JP14142979A patent/JPS5566704A/ja active Granted
- 1979-11-03 PL PL1979219433A patent/PL121434B1/pl unknown
- 1979-11-05 AU AU52480/79A patent/AU514517B2/en not_active Ceased
- 1979-11-07 FR FR7927506A patent/FR2440922A1/fr active Granted
- 1979-11-07 SE SE7909197A patent/SE7909197L/xx not_active Application Discontinuation
- 1979-11-07 GB GB7938497A patent/GB2037980B/en not_active Expired
- 1979-11-07 DD DD79216744A patent/DD147279A5/de unknown
- 1979-11-08 CH CH1001679A patent/CH645984A5/de not_active IP Right Cessation
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011002263A (ja) * | 2009-06-16 | 2011-01-06 | Toyo Glass Co Ltd | ガラス製品のゴブ検査装置 |
WO2012035656A1 (ja) | 2010-09-17 | 2012-03-22 | 東洋ガラス株式会社 | ガラス製品のゴブ検査装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
MX147058A (es) | 1982-09-29 |
CH645984A5 (de) | 1984-10-31 |
DD147279A5 (de) | 1981-03-25 |
BR7907076A (pt) | 1980-09-16 |
GB2037980A (en) | 1980-07-16 |
PL219433A1 (ja) | 1980-08-11 |
PL121434B1 (en) | 1982-05-31 |
NL7907399A (nl) | 1980-05-12 |
FR2440922B1 (ja) | 1984-06-15 |
AU5248079A (en) | 1980-05-15 |
IT1120029B (it) | 1986-03-19 |
BE878188A (fr) | 1979-12-03 |
FR2440922A1 (fr) | 1980-06-06 |
GR73527B (ja) | 1984-03-12 |
AU514517B2 (en) | 1981-02-12 |
ZA794655B (en) | 1981-04-29 |
AR222835A1 (es) | 1981-06-30 |
CA1130091A (en) | 1982-08-24 |
DE2935941C2 (de) | 1985-05-23 |
SU1068027A3 (ru) | 1984-01-15 |
PT70233A (en) | 1979-10-01 |
IT7950423A0 (it) | 1979-10-01 |
ES485175A1 (es) | 1980-05-16 |
SE7909197L (sv) | 1980-05-09 |
JPS5566704A (en) | 1980-05-20 |
GB2037980B (en) | 1983-01-19 |
US4205973A (en) | 1980-06-03 |
DE2935941A1 (de) | 1980-05-14 |
HU180904B (en) | 1983-05-30 |
PH16260A (en) | 1983-08-19 |
ES485177A1 (es) | 1980-05-16 |
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