JPS63281031A - チツプ温度検出回路 - Google Patents
チツプ温度検出回路Info
- Publication number
- JPS63281031A JPS63281031A JP11609987A JP11609987A JPS63281031A JP S63281031 A JPS63281031 A JP S63281031A JP 11609987 A JP11609987 A JP 11609987A JP 11609987 A JP11609987 A JP 11609987A JP S63281031 A JPS63281031 A JP S63281031A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transistor
- collector
- base
- voltage
- whose
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 19
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、半導体集積回路において、特に所定温度に
なったときこれを検出してハイ又はロウの所定電圧を出
力するチップ温度検出回路に関するものである。
なったときこれを検出してハイ又はロウの所定電圧を出
力するチップ温度検出回路に関するものである。
第２図は従来のチップ温度検出回路を示す回路図であり
、図において、１は定電流源、１０〜１２．１４は抵抗
、１３はトランジスタである。このチップ温度検出回路
は、安定化電圧ｖ、７．を抵抗１０．１１により分圧し
た電圧■、と温度により変化するトランジスタ１３の■
１とを利用し、出力（ＯＵＴ）をハイからロウに変化さ
せるものである。
、図において、１は定電流源、１０〜１２．１４は抵抗
、１３はトランジスタである。このチップ温度検出回路
は、安定化電圧ｖ、７．を抵抗１０．１１により分圧し
た電圧■、と温度により変化するトランジスタ１３の■
１とを利用し、出力（ＯＵＴ）をハイからロウに変化さ
せるものである。
このようなチップ温度検出回路では、安定化電圧Ｖ３□
を抵抗１０．１１により分圧した電圧Ｖ。
を抵抗１０．１１により分圧した電圧Ｖ。
とトランジスタ１３のベース・エミッタ間電圧ｖｌｆと
が比較され、ｖｌｌ！がＶ、より小さい場合に出力がロ
ウになる。
が比較され、ｖｌｌ！がＶ、より小さい場合に出力がロ
ウになる。
Ｖａｔは温度上昇に伴って下降するが、安定化電圧ｖ、
７．の分圧として得られるｖｌは一定であるため、ｖＩ
とＶ□が交差する点が現われ、その点を始点にしてトラ
ンジスタ１３がオンする。
７．の分圧として得られるｖｌは一定であるため、ｖＩ
とＶ□が交差する点が現われ、その点を始点にしてトラ
ンジスタ１３がオンする。
従って、ｖｏの温度係数を利用して、トランジスタ１３
をオンさせる温度を自由に設定することができる。
をオンさせる温度を自由に設定することができる。
従来のチップ温度検出回路は以上のように構成されてい
るので、安定化電圧Ｖ １？ｌが温度に関して安定でな
ければならず、その構成に多くの素子が必要であるとい
う問題点があった。
るので、安定化電圧Ｖ １？ｌが温度に関して安定でな
ければならず、その構成に多くの素子が必要であるとい
う問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、安定化電圧Ｖ、□を設けることなく、簡単な
素子構成により得ることができるチップ温度検出回路を
提供することを目的とする。
たもので、安定化電圧Ｖ、□を設けることなく、簡単な
素子構成により得ることができるチップ温度検出回路を
提供することを目的とする。
Ｃ問題点を解決するための手段〕
この発明に係るチップ温度検出回路は、コレクタ・ベー
ス間に拡散抵抗を接続し、ベースを電流源に、エミッタ
をアースに接続した第１のトランジスタと、ベースを該
第１のトランジスタのコレクタに、エミッタをアースに
接続した第２のトランジスタを設け、上記拡散抵抗によ
る電圧降下により上記第２のトランジスタをオンさせて
、ハイ又はロウの所定電圧の出力を得るようにしたもの
である。
ス間に拡散抵抗を接続し、ベースを電流源に、エミッタ
をアースに接続した第１のトランジスタと、ベースを該
第１のトランジスタのコレクタに、エミッタをアースに
接続した第２のトランジスタを設け、上記拡散抵抗によ
る電圧降下により上記第２のトランジスタをオンさせて
、ハイ又はロウの所定電圧の出力を得るようにしたもの
である。
この発明においては、拡散抵抗による電圧降下と第２の
トランジスタのｖｌとが温度により変化するので、所定
の温度にて上記電圧降下がＶＩＥより大きくなり、第２
のトランジスタがオンすることとなる。
トランジスタのｖｌとが温度により変化するので、所定
の温度にて上記電圧降下がＶＩＥより大きくなり、第２
のトランジスタがオンすることとなる。
以下、この発明の実施例を図について説明する。
第１図はこの発明の一実施例によるチップ温度検出回路
を示す回路図であり、図において、１は定電流源、２は
拡散抵抗、３はコレクタ・ベース間に拡散抵抗２を接続
したトランジスタ、４，５゜６は定電流回路（カレント
ミラー回路）を構成するトランジスタ、７はトランジス
タ５のコレクタ電流がオーブンになるのを防ぐために用
いられる拡散抵抗、８は拡散抵抗、９は出力端子（ＯＵ
Ｔ）とＧＮＤ間に設けられたトランジスタであり、これ
ら拡散抵抗及びトランジスタのｖｏは各々温度係数を持
っている。
を示す回路図であり、図において、１は定電流源、２は
拡散抵抗、３はコレクタ・ベース間に拡散抵抗２を接続
したトランジスタ、４，５゜６は定電流回路（カレント
ミラー回路）を構成するトランジスタ、７はトランジス
タ５のコレクタ電流がオーブンになるのを防ぐために用
いられる拡散抵抗、８は拡散抵抗、９は出力端子（ＯＵ
Ｔ）とＧＮＤ間に設けられたトランジスタであり、これ
ら拡散抵抗及びトランジスタのｖｏは各々温度係数を持
っている。
このような構成になるチップ温度検出回路では、温度が
上昇すると、拡散抵抗２の抵抗値２が大きくなりその電
圧降下が大きくなる。そのためトランジスタ３と４のエ
ミッタ・ベース間電圧に差が生じる。
上昇すると、拡散抵抗２の抵抗値２が大きくなりその電
圧降下が大きくなる。そのためトランジスタ３と４のエ
ミッタ・ベース間電圧に差が生じる。
ここで拡散抵抗２の抵抗値をＲ１増加分をΔＲ１定電流
源１の電流をＩ、、トランジスタ４に流れる電流をＩ８
、トランジスタ３．４のエミッタ・ベース間電圧をそれ
ぞれＶ□ｌ＋Ｖ□、とすると、拡散抵抗２による電圧降
下は次式で表わされる。
源１の電流をＩ、、トランジスタ４に流れる電流をＩ８
、トランジスタ３．４のエミッタ・ベース間電圧をそれ
ぞれＶ□ｌ＋Ｖ□、とすると、拡散抵抗２による電圧降
下は次式で表わされる。
！、（Ｒ＋ΔＲ） ＝Ｖｍｔ＋ Ｖｍｔｚ（ただし、
ｎ、ｍはトランジスタ３．４のエミッタサイズ比、Ｉｓ
＋、 Ｉｓ□は飽和電流、ｖ７はサーマル電圧である
。） この式から電流Ｉ２が求まり、カレントミラー回路によ
りトランジスタ６に流れる電流■３が得られる。
ｎ、ｍはトランジスタ３．４のエミッタサイズ比、Ｉｓ
＋、 Ｉｓ□は飽和電流、ｖ７はサーマル電圧である
。） この式から電流Ｉ２が求まり、カレントミラー回路によ
りトランジスタ６に流れる電流■３が得られる。
次に拡散抵抗８の抵抗値をＲ８とすると、温度が上昇す
るとその抵抗値はＲ６＋ΔＲ８となる。
るとその抵抗値はＲ６＋ΔＲ８となる。
従って抵抗８による電圧降下（Ｒ，＋ΔＲ１）×１３が
トランジスタ９のベースにかかることとなる。この時電
流Ｉ２によるトランジスタ９のエミッタ・ベース間電圧
を■。、とすると、電圧降下（Ｒ，＋ΔＲ１１）×Ｉ３
がＶ １ｔ９を越えた時にトランジスタ９がオンし、出
力（ＯＵＴ）がロウとなる。
トランジスタ９のベースにかかることとなる。この時電
流Ｉ２によるトランジスタ９のエミッタ・ベース間電圧
を■。、とすると、電圧降下（Ｒ，＋ΔＲ１１）×Ｉ３
がＶ １ｔ９を越えた時にトランジスタ９がオンし、出
力（ＯＵＴ）がロウとなる。
このように、本実施例回路では、拡散抵抗２による電圧
降下により所定の温度でトランジスタ４がオンし、該ト
ランジスタ４に流れる電流Ｉ！に基づいてトランジスタ
９がオンするようにしたので、所定の温度にてロウレベ
ルの電圧を出力することができ、従来回路のような“安
定化電圧、□を設けることなく、拡散抵抗とトランジス
タとの簡単な素子構成によりチップ温度検出回路を得る
ことができる。
降下により所定の温度でトランジスタ４がオンし、該ト
ランジスタ４に流れる電流Ｉ！に基づいてトランジスタ
９がオンするようにしたので、所定の温度にてロウレベ
ルの電圧を出力することができ、従来回路のような“安
定化電圧、□を設けることなく、拡散抵抗とトランジス
タとの簡単な素子構成によりチップ温度検出回路を得る
ことができる。
なお、上記実施例では、ロウレベルの電圧を出力する場
合について述べたが、トランジスタ６゜９、拡散抵抗８
を用いない回路構成とすれば、ハイレベルを出力するこ
とができる。
合について述べたが、トランジスタ６゜９、拡散抵抗８
を用いない回路構成とすれば、ハイレベルを出力するこ
とができる。
また、上記実施例では、電流Ｉ、を一定のものとし、電
流１ｘ、Ｉｘを拡散抵抗２．及びトランジスタ３．４の
エミッタ比により得るものについて説明しているが、電
流■１は温度により変化するものであってもよく、上記
実施例と同様の効果を奏する。
流１ｘ、Ｉｘを拡散抵抗２．及びトランジスタ３．４の
エミッタ比により得るものについて説明しているが、電
流■１は温度により変化するものであってもよく、上記
実施例と同様の効果を奏する。
以上のように、この発明によれば、コレクタ・ベース間
に拡散抵抗を接続し、ベースを電流源に、エミッタをア
ースに接続した第１のトランジスタと、ベースを該第１
のトランジスタのコレクタに、エミッタをアースに接続
した第２のトランジスタを設け、上記拡散抵抗による電
圧降下により上記第２のトランジスタをオンさせて、ハ
イ又はロウの所定電圧の出力を得るようにしたので、安
定化電圧を設けることなく、拡散抵抗及びトランジスタ
による簡単な素子構成によりチップ温度検出回路を得る
ことができる効果がある。
に拡散抵抗を接続し、ベースを電流源に、エミッタをア
ースに接続した第１のトランジスタと、ベースを該第１
のトランジスタのコレクタに、エミッタをアースに接続
した第２のトランジスタを設け、上記拡散抵抗による電
圧降下により上記第２のトランジスタをオンさせて、ハ
イ又はロウの所定電圧の出力を得るようにしたので、安
定化電圧を設けることなく、拡散抵抗及びトランジスタ
による簡単な素子構成によりチップ温度検出回路を得る
ことができる効果がある。
第１図はこの発明の一実施例によるチップ温度検出回路
を示す回路図、第２図は従来のチップ温度検出回路を示
す回路図である゛。 図において、１は定電流源、２，７．８は拡散抵抗、３
，４．９はｎｐｎトランジスタ、５．６はｐｎｐトラン
ジスタ、Ｉｌ、Ｉｌ、Ｉｓは電流である。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
を示す回路図、第２図は従来のチップ温度検出回路を示
す回路図である゛。 図において、１は定電流源、２，７．８は拡散抵抗、３
，４．９はｎｐｎトランジスタ、５．６はｐｎｐトラン
ジスタ、Ｉｌ、Ｉｌ、Ｉｓは電流である。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (3)
- （１）周囲温度が所定温度になったときこれを検出して
ハイ又はロウの所定電圧を出力するチップ温度検出回路
において、 コレクタ・ベース間に拡散抵抗を接続し、ベースを電流
源に、エミッタをアースに接続した第１のトランジスタ
と、 ベースを該第１のトランジスタのコレクタに、エミッタ
をアースに接続し、上記拡散抵抗による電圧降下により
所定温度にてオンする第２のトランジスタと、 該第２のトランジスタに流れる電流があるときハイ又は
ロウの所定電圧を出力端子に出力する出力回路とを備え
たことを特徴とするチップ温度検出回路。 - （２）上記出力回路は、 第１のコレクタを上記第２のトランジスタのコレクタに
、第２のコレクタを上記出力端子に接続した第３のｐｎ
ｐトランジスタと、 上記出力端子とアース間に接続された第１の拡散抵抗と
を備え、 検出出力としてハイレベルの電圧を出力するものである
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載のチップ温
度検出回路。 - （３）上記出力回路は、 第１のコレクタを上記第２のトランジスタのコレクタに
、第２のコレクタを上記出力端子に接続した第３のｐｎ
ｐトランジスタと、 上記出力端子とアース間に接続された第１の拡散抵抗と
、 ベースを該第３のトランジスタのベースに、コレクタを
第２の拡散抵抗を介してアースに接続した第４のｐｎｐ
トランジスタと、 ベースを上記第４のトランジスタのコレクタに接続し、
コレクタ・エミッタ間を上記出力端子とアース間に接続
した第５のトランジスタとを備え、検出出力としてロウ
レベルの電圧を出力するものであることを特徴とする特
許請求の範囲第１項記載のチップ温度検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11609987A JPS63281031A (ja) | 1987-05-13 | 1987-05-13 | チツプ温度検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11609987A JPS63281031A (ja) | 1987-05-13 | 1987-05-13 | チツプ温度検出回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63281031A true JPS63281031A (ja) | 1988-11-17 |
Family
ID=14678677
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11609987A Pending JPS63281031A (ja) | 1987-05-13 | 1987-05-13 | チツプ温度検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63281031A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5918982A (en) * | 1996-09-12 | 1999-07-06 | Denso Corporation | Temperature detecting using a forward voltage drop across a diode |
| CN103050423A (zh) * | 2012-12-20 | 2013-04-17 | 上海宏力半导体制造有限公司 | 晶圆温度的检测方法 |
-
1987
- 1987-05-13 JP JP11609987A patent/JPS63281031A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5918982A (en) * | 1996-09-12 | 1999-07-06 | Denso Corporation | Temperature detecting using a forward voltage drop across a diode |
| CN103050423A (zh) * | 2012-12-20 | 2013-04-17 | 上海宏力半导体制造有限公司 | 晶圆温度的检测方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS63136712A (ja) | 差動比較回路 | |
| US20070145534A1 (en) | Reference voltage generating circuit and semiconductor integrated circuit using the reference voltage generating circuit | |
| JPS5652420A (en) | Constant-current circuit | |
| JP2845654B2 (ja) | 電流検出回路 | |
| JPS63281031A (ja) | チツプ温度検出回路 | |
| US20030030128A1 (en) | Transistor configuration for a bandgap circuit | |
| JPH0844449A (ja) | 定電圧回路 | |
| JPH103321A (ja) | 電流出力回路 | |
| JPH05244718A (ja) | 熱保護装置 | |
| JPH02162837A (ja) | Ｄ／ａ変換器 | |
| JPH0682309B2 (ja) | 基準電圧発生回路 | |
| JP3255226B2 (ja) | 電圧制御増幅器 | |
| JP2830516B2 (ja) | 電流比較器 | |
| JP2996551B2 (ja) | カレントミラー回路装置 | |
| JPS5855454Y2 (ja) | 定電流回路 | |
| JPH06260925A (ja) | レベルシフト回路 | |
| JPH02215211A (ja) | 電流レベル検出回路 | |
| JP2574931B2 (ja) | バンドギャップ型定電流回路 | |
| JPH02112007A (ja) | 基準電圧発生回路 | |
| JPH0358603A (ja) | 利得制御回路 | |
| JPH10228326A (ja) | 定電圧出力回路 | |
| JPS6297363A (ja) | 基準電圧発生回路 | |
| JPH0556531B2 (ja) | ||
| JPS6133519A (ja) | 基準電圧源回路 | |
| JPH09146648A (ja) | 基準電圧発生回路 |