JP2996551B2 - カレントミラー回路装置 - Google Patents

カレントミラー回路装置

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JP2996551B2 JP3261512A JP26151291A JP2996551B2 JP 2996551 B2 JP2996551 B2 JP 2996551B2 JP 3261512 A JP3261512 A JP 3261512A JP 26151291 A JP26151291 A JP 26151291A JP 2996551 B2 JP2996551 B2 JP 2996551B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体集積装置よりな
るカレントミラー回路装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のカレントミラー回路は図
2に示すような構成であった。図2において、電源端子
1と負電源(またはGND)端子2の間に、エミッタ負
荷抵抗31 、バイポーラ型トランジスタ41 のエミッ
タ、さらにそのコレクタに接続される定電流源5の第1
番目の直列回路61 が接続されている。この直列回路6
1 に並列に、エミッタ負荷抵抗32 、バイポーラ型トラ
ンジスタ42 のエミッタ、さらにそのコレクタに接続さ
れる出力負荷72 の第2番目の直列回路62 と同様な直
列回路が第n番目まで複数個接続されている。そして、
カレントミラーを形成するバイポーラ型トランジスタ4
1 〜4n のベースは共通接続され、トランジスタ41
ベースはそのコレクタと定電流源5の接続点に接続され
ている。また、各バイポーラ型トランジスタ42 〜4n
のコレクタにはそれぞれカレントミラーの出力端子82
〜8n が接続されている。
【0003】上記構成により、以下、その動作を説明す
る。ここで、n=2としても一般性は失われないので、
以下の説明においては、n=2とする。また、カレント
ミラーを形成するバイポーラ型トランジスタ41 、42
が全く同じ特性を持つと仮定する。トランジスタ41
接続される定電流源5の値をi1 とし、トランジスタ4
2 のコレクタを流れる電流をi2 とすれば、電流i1
2 の間には、(1)式が成立する。
【0004】 i2 =hFE/(2+hFE)*i1 *(1+VCE/VA )/(1+VBE/VA ) ・・・(1) ただし、(1)式において、hFEはトランジスタ41
2 の電流増幅率であり、VA はトランジスタ42 のア
ーリー電圧、VBEはトランジスタ41 のベース、エミッ
タ間電圧、VCEはトランジスタ42 のコレクタ、エミッ
タ間電圧を示している。
【0005】(1)式において、電流i2 は、出力負荷
2 に供給されるが、出力電圧の変化により、VCEが変
化し、それに応じて電流i2 が変化するという問題があ
る。これは、電流i2 の電圧特性と言われており、この
電圧特性のために電流変換精度がとれないという問題が
発生する。
【0006】この電圧特性はカレントミラーの出力イン
ピーダンスと関係があり、出力インピーダンスが高けれ
ば、電圧特性は改善される。したがって、カレントミラ
ー回路のエミッタ負荷として挿入される抵抗31 、32
はかかる問題を解決しようとするものであり、これら抵
抗31 、32 がない場合のカレントミラーの出力インピ
ーダンスをZ0 とすると、この出力インピーダンスZ0
は(1)式をVCEで微分することによって(2)式で与
えられる。
【0007】 Z0 =(1+VCE/VA )*VA /i2 ・・・(2) また、エミッタ抵抗を挿入した場合のカレントミラーの
出力インピーダンスをZ1 とすると、この出力インピー
ダンスZ1 は(3)式で与えられる。
【0008】 Z1 =Z0 *(1+gm*R)・・・(3) ただし、(3)式において、Rは抵抗31 、32 の抵抗
値であり、gmは動作点i2 におけるトランジスタ42
の相互コンダクタンスである。(3)式から判るように
出力インピーダンスは抵抗がない場合に比べて(1+g
m*R)倍高くなっており、電圧特性が改善される。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の構成におい
て、電圧特性をさらに良くするためには、抵抗値を大き
くする必要があるが、このことは、半導体集積装置にお
けるチップ面積の増大を招くという問題が生じ、また同
時に、抵抗値を大きくすることは、抵抗比のバラツキが
大きくなって電流変換精度が確保できなくなるという問
題があった。
【0010】本発明は上記従来の問題を解決するもの
で、チップ面積を小さくすることができ、かつ、電圧特
性がほとんどない電流変換精度に優れたカレントミラー
回路装置を提供することを目的とするものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明のカレントミラー回路装置は、複数のバイポー
ラ型トランジスタと複数のMOS型トランジスタとを同
一チップ上に集積した半導体集積回路装置よりなるカレ
ントミラー回路装置であって、前記カレントミラー回路
の一対の前記バイポーラ型トランジスタは、各ベースが
電圧一定に設定され、それぞれのエッミタ負荷としての
前記MOS型トランジスタのゲート端子及びドレイン端
子が互いに共通に接続されて電源線に、前記MOS型ト
ランジスタの各ソース端子が前記一対のバイポーラ型ト
ランジスタのそれぞれのエミッタに接続された構成とし
たものである。
【0012】
【作用】上記構成により、MOS型トランジスタ群のゲ
ート端子および1個のMOS型トランジスタのドレイン
端子を共通に接続しているので、MOS型トランジスタ
群は、常時、飽和領域で動作する。飽和領域におけるM
OS型トランジスタの出力インピーダンスは非常に高く
なっており、カレントミラーを構成するバイポーラ型ト
ランジスタのエミッタ端子にエミッタ負荷としてMOS
型トランジスタをそれぞれ接続することにより、バイポ
ーラ型トランジスタのエミッタ端子に等価的に高抵抗が
接続されたことになる。また、MOS型トランジスタ群
の動作点は全く同じであることから、高抵抗の相対精度
も非常に高くなる。このように、エミッタ負荷としてM
OS型トランジスタを用いることで、半導体集積装置に
おけるチップ面積が小さくなり、かつ電圧特性を大幅に
改善することが可能となって電流変換精度に優れたカレ
ントミラー回路が実現可能となる。
【0013】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
しながら説明する。なお、従来例と同一の作用効果を奏
するものには同一の符号を付してその説明を省略する。
【0014】図1は本発明の一実施例のカレントミラー
回路装置の回路図である。図1において、カレントミラ
ー回路を構成するバイポーラ型トランジスタ41 〜4n
のエミッタのそれぞれと電源端子1の間に、MOS型ト
ランジスタ111 〜11n をそれぞれ設け、MOS型トラン
ジスタ111 〜11n のゲート端子および1個のMOS型ト
ランジスタ111 のドレイン端子を共通に接続する。以上
によりバイポーラ構造の素子とCMOS構造の素子を同
一チップ上に集積した半導体集積装置よりなるカレント
ミラー回路装置が構成される。
【0015】上記構成により、以下、その動作を説明す
る。本説明においてはn=2とする。MOS型トランジ
スタ111 のゲート電圧VG 、MOS型トランジスタ112
のドレイン電圧をVD とする。また、MOS型トランジ
スタ111 、112 に流れる電流をそれぞれ、i8 、i9
する。さらに、MOS型トランジスタ群の形状、特性は
同等と仮定する。さらには、MOS型トランジスタのゲ
ート、ソース間電圧は常に等しく保たれ、1個のMOS
型トランジスタのゲート、ドレイン端子は共通に接続さ
れているから、電流i8 、i9 、電圧VG 、VD の間に
は、(4a)、(4b)式が成立する。
【0016】 i8 =i9 ・・・(4a) VG =VD ・・・(4b) また、i8 、i9 は、(5)式で表わされる。
【0017】 i8 =i9 =KP *(W/L)*(VG −VCC−VT 2 *(1+λ*VDS)・・・ ・・(5) ただし、KP はMOS型トランジスタの構造から決まる
定数であり、Wはチャンネル幅、Lはチャンネル長、V
T はしきい値電圧、さらに、λは電圧特性定数である。
【0018】これらMOS型トランジスタ111 、112
出力インピーダンスをZ08、Z09とすると、出力インピ
ーダンスZ08、Z09は、(5)式を電圧VDSで微分して
(6)式で表わされる。
【0019】 Z08=Z09 =(1+λ*VDS)/(λ*i8 )・・・(6) (6)式において、λ=0.1、i8 =100 uA,VDS
=1.5Vとし、出力インピーダンスZ08、Z09を求め
ると、(7)式で与えられる。
【0020】 Z08=Z09=115KΩ・・・(7) (7)式に示すように、MOS型トランジスタ111 、11
2 を接続することにより、等価的に高抵抗がバイポーラ
型トランジスタ41 、42 のエミッタ端子にそれぞれ接
続されることになる。従来のエミッタ抵抗負荷では、抵
抗値が高々、数KΩであることからすれば、1桁以上大
きい抵抗値となっている。(2)式および(3)式によ
れば、Z0 もZ08、Z09と同等の抵抗値であり、したが
って、両者の積となるカレントミラーの出力インピーダ
ンスはほとんど無限大になり、電圧特性がない電流変換
精度に優れたカレントミラー回路を実現することができ
る。また、MOS型トランジスタ111 、112 は高集積で
実現できることから、従来のエミッタ抵抗負荷に比べて
チップ面積を小さくすることができる。
【0021】なお、本実施例では、サイズを同じくする
PNPトランジスタおよびP型MOSトランジスタから
構成されるカレントミラー回路について説明したが、サ
イズが異なるPNPトランジスタから構成される場合
も、P型MOSトランジスタのサイズをPNPトランジ
スタのサイズの違いに合わせて変えることにより、本発
明が適用できる。また、NPNトランジスタおよびN型
MOSトランジスタから構成される場合も全く同様に本
発明が適用できる。
【0022】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、カレント
ミラーを構成するバイポーラ型トランジスタ群のエミッ
タにMOS型トランジスタをそれぞれ接続し、MOS型
トランジスタ群のゲート端子および1個のMOS型トラ
ンジスタのドレイン端子を共通に接続することより、バ
イポーラ型トランジスタ群のエミッタ端子に、高集積
で、かつ相対精度が非常に高い高抵抗が接続される機能
を有することになり、チップ面積を小さくすることがで
きるとともに、電圧特性がほとんどない電流変換精度に
優れたカレントミラー回路を実現することができるもの
である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のカレントミラー回路装置の
回路図である。
【図2】従来のカレントミラー回路装置の回路図であ
る。
【符号の説明】
1 〜4n バイポーラ型トランジスタ 111 〜11n MOS型トランジスタ

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のバイポーラ型トランジスタと複数
    MOS型トランジスタとを同一チップ上に集積した半
    導体集積回路装置よりなるカレントミラー回路装置であ
    って、前記カレントミラー回路の一対の前記バイポーラ
    型トランジスタは、各ベースが電圧一定に設定され、そ
    れぞれのエッミタ負荷として前記MOS型トランジス
    のゲート端子及びドレイン端子互いに共通に接続
    て電源線に、前記MOS型トランジスタのソース端
    前記一対のバイポーラ型トランジスタのそれぞれの
    エミッタに接続された構成としたカレントミラー回路装
    置。
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