JPS63100386A

JPS63100386A - 診断回路

Info

Publication number: JPS63100386A
Application number: JP62182460A
Authority: JP
Inventors: マイクル　ジェイ．ミラー
Original assignee: Integrated Device Technology Inc
Current assignee: Renesas Electronics America Inc
Priority date: 1986-07-24
Filing date: 1987-07-23
Publication date: 1988-05-02
Anticipated expiration: 2010-09-20
Also published as: EP0254981B1; DE3777906D1; US4710927B1; US4710927A; JPH0786525B2; EP0254981A3; EP0254981A2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】産業上の利用分野本発明は、−膜内には集積回路装置に関し、特に、直列
診断を行ないうるテスト機能を組込むことに１１する。

従来の技術とその問題点集積回路（ＩＣ＞装置の集積レベルの高度化に伴つ゛Ｃ
１ボードおＪ、びシステムのレベルも高度化されてきた
。この傾向により、適正な設５１を確実に行なったり、
製造／使用現場におけるテストを容易ト：行なったりす
ることが［Ｎ　ｆｌ化する傾向にある。表面取付け（Ｌ
　ＣＣ）　Ｊ３よびピン間隔の縮小によって所望の高実
装密度が達成されたが、これはまた、テスト条件をます
ま１゛困難化する一因となった。

このような小情を好転させるために、システム、ボード
及び集積回路装置の製造において、それぞれの製品内に
組込み式のテスト機能（ＢＩＴ）を配設することが始め
られた。（なお、従来技術の形式の直列診断については
、次の参考文献に詳細に説明されている。−、Ｈｉｌｌ
ｅｒ外による米国特許筒４．４７６．５６０号、ならび
に、ＭｏｎｏｌｉｔｈｉｃＨｅｌＯｒｔｅＳ　Ｉｎｃｏ
ｒｐｏｒａｔｅｄより刊行の「Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ
　Ｎｏｔｅ　ＡＮ　−１２７Ｊ　、Ｅｌｅｃｔｒ。

’　８４　ｒＰｒｏｇｒａｍ　５ｅｓｓｉｏｎ　Ｒｅｃ
ｏｒｄ　５ｅｓｓｉｏｎ　　１６、ＨａＶ１５−１７．
１９８４において発表された１ｓ＋ｔｉｙａｚ　Ｈ，Ｂ
ｅｎｇａｌｉ、Ｖｉｎｃｅｎｔ　Ｊ、Ｃｏ１１およびＦ
ｒａｎｋＬｅｅ著の「Ｄｉａｇｎｏｓｔｉｃ　Ｄｅｖｉ
ｃｅｓ　ａｎｄ　Ａｌｇｏｒｉｔｔｖｓｆｏｒ　Ｔｅｓ
ｔｉｎｇ　Ｄｉｇｉｔａｌ　５ｙｓｔｃａ＋ｓ　Ｊと題
する論文、及び、八ｄｖａｎｃｅｄ　Ｍｉｃｒｏ　Ｄｅ
ｖｉｃｅｓ　Ｉｎｃｏｒｐｏｒａｔｅｄより刊行の「０
ｎ−Ｃｈｉｐ　Ｄｉａｇｎｏｓｔｉｃｓ　１ｌａｎｄｂ
ｏｏｋＪ　）門単にいうと、以上の参考文献は、組合せ
形（論理）回路に用いられてきた技術が、しばしば逐次
形（論理）回路のテストには効果的でなく役に立たない
ことを示している。に組合辺形回路の出力に発生する信
号の状態（論理レベル）は、その回路の入力に供給され
た信号の現在の状態のみに依存する。一方、逐次形回路
においては、回路の出力に発生する信号の状態は、入力
信号の前の状態にも依存する。）観念的には、もし逐次形回路の全てのレジスタ内の植を
直接的動作によって制御し、かつ、観察することができ
るとすれば、診断タスクを組合わせ形回路に対するもの
に減少しく９ることが提案されている。この目的のため
に、帰還路を遮断し、レジスタ内の逐次データの代りに
テストデータを挿入１」ることが提案された。レジスタ
の内及び外へのデータの直接的並列ローディングは、極
めて多くの入力および出力バスを必要とするため、除外
された。直接的直列ローディングも、特に制御路内のレ
ジスタにおいであるデータビットパターンが禁止される
ので、やはり除外された。データがレジスタの内及び外
へシフトされる時に、この禁止条件が満たされなくなり
うろことが示された。

診断目的のため、テストデータが挿入されるべきそれぞ
れのレジスタに対し追加の診断回路を使用することが提
案された。提案された診断回路は、「診断」レジスタお
よびマルチプレクサを用いている。［参考文献において
は、診断レジスタはシャドウレジスタ（ｓｈａｄｏｗ　
ｒｅｇｉｓｔｅｒ　）とも呼ばれている。参考文献にお
いて帰還レジスタ、出力レジスタ、パイプラインレジス
タと呼ばれている既存のレジスタは、今後「状態」レジ
スタと呼ぶことにする。］状態レジスタと同じ長さく同数の段）を有する診断レジ
スタは、モード（ロード）入力、クロック入力、テスト
データを（を列形式で）レジスタ内へシフ１〜するため
にクロック入力と共に使用される直列データ入力、およ
びテストデータを（直列形式で）レジスタ外ヘシフトす
るためにクロック入力と共に使用される直列データ出力
を有する。

さらに、診断レジスタは、テストデータを（並列形式で
）レジスタ内にロードするためにモード入力と共に用い
られる１組の並列データ入力と、１組の並列データ出力
とを有する。状態レジスタとやはり同じ長さをもったマ
ルチプレクサは、モード（選択）入力、第１組の並列デ
ータ入力、第２組の並列データ入力、および１組の並列
データ出力を有する。このマルチプレクサは、モード入
力に供給される信号の論理状態によって選択される、第
１または第２組のいずれかのデータ入力に供給されたそ
れぞれの信号の状態に対応した論理状態を右する信号を
、１組のデータ出力に発生する形式のものである。

追加の診断回路において、診断レジスタのモード入力は
、マルチプレクサのモード入力に接続される。さらに、
診断レジスタの並列データ入力はそれぞれ、状態レジス
タの（並列）データ出力のそれぞれに接続され、診断レ
ジスタの並列データ出力はそれぞれ、マルチプレクサの
第１組のデータ入力のそれぞれに接続される。状態レジ
スタの（並列）データ入力への正規の接続は遮断される
。

マルチプレクサの第２組のデータ入力は、前に状態レジ
スタのデータ入力に接続され、今はマルチプレクサのそ
れぞれのデータ出力に接続されている（組合せ形回路網
の）それぞれの線路に接続される。

ｉ後に、上述の診断回路は、他の諸論断回路とカスケー
ド接続されるべきことが指示されている。

ある診断レジスタの直列データ出力は、次の診断レジス
タの直列データ入力に接続されるのである。

もちろん、全ての診断レジスタのクロック入力は相互に
接続され、全てのモード入力も同様である。

テストデータを逐次形回路のレジスタ内へ転送するのに
は有効であるが、上述の従来技術形の診断回路は、テス
トアドレスおよびテスト指令を用いる装置をもたないと
いう欠点を有する。

発明の技術的課題　その解決手段及び効果の。

貞従って、本発明は、テストアドレス、テスト指令、およ
びテストデータを使用しうる診断回路を提供することを
主たる目的とする。

本発明のｂう１つの目的は、最少数のビンの追加により
、集積回路装置内に組込むのに適した診断回路を提供す
ることである。

簡単にいうと、前述の目的つまり技術的課題に指向して
、本発明はあらまし次のような技術手段を採択すること
により、これを具現する。すなわち、本発明では先ず指
令レジスタ、データレジスタ、Ｊ３よびマルチプレクサ
を用いている。また、指令レジスタは、クロック入力と
、テスト指令を（直列形式で）このレジスタ内ヘシフト
するためにり１−１ツク入力と共に使用される直列デー
タ入力と、−ノ′スト指令を（直列形式で）このレジス
タから外へシフトするためにクロック入力と共に使用さ
れる直列データ出力と、指令レジスタが受けた最も新し
い指令を表わすいくつかの信号を発生するための１組の
並列データ出力と、を石する。そして、データレジスタ
は、クロック入力と、テストデータを（直列形式で）こ
のレジスタ内ヘシフトするためにクロック入力と共に使
用される直列データ入力と、テストデータを（直列形式
で）このレジスタから外ヘシフトするためにクロック入
力と共に使用される直列データ出力と、ロード入力と、
テストデータを（並列形式で）このレジスタ内ヘロード
するためにロード入力と共に使用されるいくつかの並列
データ入力と、１−タレジ、スタが受けた最も新しいデ
ータを表わすいくつかの信号を発生するためのいくつか
の並列データ出力と、を有する。さらに、マルチプレク
サは、指令レジスタの直列データ出力に接続されたデー
タ入力と、データレジスタの直列データ出力に接続され
たもう１つのデータ入力と、＆ｌｌ　ａｌｌ入力と、デ
ータ出力と、を有する。

本発明の主たる利点は、テストアドレス、テスト指令、
およびテストデータを使用しうる診断回路を提しうるこ
とである。

本発明のもう１つの利点は、最少数のピンの追加によっ
て集積回路装置内に組込むのに適した診断回路を提供し
うることである。

本発明の以上の、およびその他の諸口的および諸利点は
、添付図面に示されている実施例についての以下の詳細
な説明によって明らかにされる。

１隻１第１図には、本発明の実施例である診断回路の全体が１
０によって示されており、この診断回路１０は、状態レ
ジスタ１２によって代表される他の回路、およびバッフ
ァ１４によって代表される８つの３状態バツフアをテス
トするために使用される。診断のために、（診断モード
にある）診断回路１０は、（外部的に）供給される３つ
の信号を受け、１つのく内部的）発生信号を供給（出力
）する。詳述すると、診断回路１０は、線路２０上に（
外部的に）供給される直列診断信号用り臼ツク信号と、
線路２２上に（外部的に）供給される指令とデータとの
双方を（直列形式で）含む直列診断信号と、線路２４上
に（外部的に）供給される指令／データ制御信号と、を
受曝プ、指令とデータとの双方を（直列形式で）含む直
列診断信号を線路２６上に（内部的に）発生し、供給（
出力）する。

正常（非診断）モードにおいては、状態レジスタ１２は
、８′ａ路（１’））　ハス３０上に：　（外ＩＳ的１
．：）供給される８つの信号を（並列形式で）受け、線
路３２上に、（Ｄ）バス３０の信号をこのレジスタ内ヘ
クロツク（ロード）するためのく外部的に）供給される
信号を受けて、８線路（内部）　（Ｑ）バス３４上に８
つの信号を発生する。正常モードにおいては、バッファ
１４によって代表される８つのバッファは、線路３６上
に（外部的に）供給されたくアクティブな低レベルの）
出力有効化信号を受け、（この出力有効化が低レベルに
なった時）８ａ路（Ｙ）バス３８上に〈内部的に）８つ
の（出力）信号を発生する。これらの（出力）信号のそ
れぞれの状態は、バス３４上に供給された８つの信号の
それぞれに対応している。

量水の診断回路１０は、主な要素として、指令レジスタ
４０、指令Ｙツー１回路４２、全体が４４に示されてい
る指令ストローブ発生凹路、データレジスタ４６、およ
びマルチブレクリ４８を用いている。

指令レジスタ４０は、り［１ツク入力と、このレジスタ
内へテスト指令を（直列形式で）シフトするために該ク
ロック入力と共に使用される直列データ入力と、このレ
ジスタから外へテスト指令を（直列形式で）シフトする
ために該クロツク入力と共に使用される直列データ出力
と、いくつかの並列ｆ−タ出力と、を有する。この実施
例においては、指令レジスタ４０は、４つの段〈従って
、４つの並列データ出力）を右する。

指令レジスタ４０のクロック入力は、２入力ＡＮｌ）ゲ
ート６０によって線路２０に接続されており、線路２４
上に高論理レベルを有りる診断回路１０駆動用の指令／
データ制ｍ信号が（外部的に）供給された時にのみ、（
外部的に）供給される診断回路１０を駆動するための右
列診断信号用クロック信号を受ける。詳述すると、指令
レジスタ４０のクロック入力は線路６２によってゲート
６０の出力に接続され、ゲート６００２入力の一方は線
路２０に、使方は線路２４に接続されている。さらに、
指令レジスタ４０の直列データ入力は線路２２に直接接
続され、（外部的に）供給される診断回路１０駆動用の
直列診断信号（の指令部分）を受ける。指令レジスタ４
０の直列データ出力は線路６４に接続され、このレジス
タの４つの並列データ出力はそれぞれ４線路バス６６の
対応線路に接続されている。

指令デコード回路４２の配置は、テストされる回路のｆ
、ＩＩ　Ｍ要求に従って決定される。ある同車な応用に
おいＣは、バス６６の１つ、またはそれ以上の線路（指
令レジスタ４０の出力）は、υ制御されるべき諸要素に
直接接続される。（もちろん、このような配置は制御バ
ス内のレジスタをｖｌ　ｉｌｌするのには適せず、特に
、ある指令ビットパターンが禁止される場合、および指
令レジスタ４０内へ、または、外へ指令がシフトされる
時に禁止条ｒｔが守られない場合はそうである。また、
このような配置は、過電に長い診断指令を必要とする。

）′実施例においては、指令デコード回路４２は、バス
６６の４１ｉｌ路の対応するそれぞれに接続された４つ
のデータ入力線路と、１６のデータ出力線路とを有する
。４線路？０．７２．７４．７６によって代表されるい
くつかの線路に結合せしめられる前に、デコーダの出力
線路上に発生した信号のあるものは、いくつかのゲート
によって組合わされて、いくつかの指令信号を生じる。

指令デコード回路４２の諸ゲートの配置の詳細な説明は
、診断回路１０の動作の説明に関連して与えられる。

指令ストローブ発生回路４４は、指令デコード回路４２
から線路７０．７２．７４．７６によって代表される語
線路上へ発生した指令信号のそれぞれを、（外部的に）
線路２４上に供給される診断回路１０駆動用の指令／デ
ータｖ制御信号のへレベルｈ＼ら低レベルへの移行と、
（外部的に）線路２０Ｆに供給される診断回路１０を駆
動するための直＆ｌＪ診断信号用クロック信号の次勺イ
クルの低レベルから高レベルへの移行との間の期間にお
いてのみ、４線路８０．８２．８４．８６によって代表
されるいくつかの線路のうちの対応線路へ結合せしめる
。

この目的のために、指令ストローブ発生回路４４は、イ
ンバータ９０と、Ｄ形フリップフロップ９２と、２入力
ＡＮＤゲート９４と、４ゲート１００．１０２，１０４
，１０６１．：よッテ代表されるいくつかの追加の２入
力ＡＮＤグーｌ−と、を有する。ゲート９４の一方の入
力は線路１１０およびインバータ９０により線路２４に
接続され、（外部的に供給される）診断回路１０駆肋用
の指令／データ制御信号を受ける。ゲート９４の他方の
入力は線路１１２によりフリップフロップ９２の（アク
ティブな高レベルの）データ出力（Ｑ）に接続され、こ
のフリップ７０ツブのデータ入力（Ｄ）も線路２４に接
続されており、このフリップ７０ツブのりＯツク入力は
線路２０に接続されて（外部的に供給される）診断回路
１０駆動用の直列診断信号用りＯツク信号を受けるよう
になっている。ゲート９４の出力は線路１１４により、
ゲート１００，１０２，１０４，１０６によって代表さ
れる追加ゲートのそれぞれの一方の入力に接続されてい
る。ゲート１００，１０２，１０４゜１０６によって代
表される諸ゲートのそれぞれの他方の入力は、線路７０
，７２．７４．７６によって代表される諸線路のうちの
対応線路に接続され、これらの諸ゲートのそれぞれの出
力は、線路８０、．８２．８４．８６によって代表され
る諸線路のうちの対応線路に接続されている。

Ｒ８形フリツブフｌ］ツブ１２０は、線路８０゜８２．
８４．８６によって代表される諸線路のうちの２線路に
接続されている。詳述すると、フリップ７０ツブ１２０
のセット入力（Ｓ）は線路８２に接続され、リゼツト入
力（Ｒ）は線路８４に接続され、データ出力（Ｑ）は線
路１２２に接続されている。

状態レジスタ１２（８段）と同じ長さ（同じ段数）を有
するデータレジスタ４６は、クロック入力と、テストデ
ータを（ｔｉ列形式で）このレジスタ内ヘシフトするた
めにクロック入力と共に使用される直列データ入力と、
テストデータを（直列形式で）このレジスタから外ヘシ
フトするためにクロツク入力と共に使用される直列デー
タ出力と、を右する。さらに、データレジスタ４６は、
ロード入力と、テストデータを（並ダ１形式で）このレ
ジスフ内ヘロードするためにロード入力と共に使用され
るいくつかの（８つの）並列データ入力と、テストデー
タを（並列形式で）このレジスタから外へ伝送するため
のいくつかのく８つの）並列データ出力と、を有する。

データレジスタ４６のクロック入力は、２入力ＡＮＤゲ
ート１３０およびインバータ１３２によって線路２４に
接続され、線路２４上に低論理レベルを有する診断回路
１０駆動用指令／＆制御信号が（外部的に）供給された
時にのみ、（外部的に）供給される診断回路１０を駆動
するための直列診断信号用クロック信号を受けるように
なっている。

詳述すると、データレジスタ４６のクロツク入力は、線
路１３４によりゲート１３０の出力に接続されている。

ゲート１３０の一方の入力は、線路１３６およびインバ
ータ１３２により線路２４に接続され、診断回路１０駆
動用の指令／データ信号を受けるようになっている。ゲ
ート１３０の他方の入力は線路２０に接続され、診断回
路１０を駆＃１１るための直列診断信号用クロック信号
を受けるようになっている。さらに、データレジスタ４
６の直列データ入力は、直接線路２２に接続され、（外
部的に）供給される診断回路１０駆仙用の直列診断信号
（のデータ部分）を受けるようになっている。データレ
ジスタ４６の直列データ出力は、線路１３８に接続され
ている。データレジスタ４６のロード入力は線路８６に
接続され、このレジスタの８つの並列データ入力はそれ
ぞれ８線路バス１４２の対応線路に接続され、このレジ
スタの８つの並列データ出力はそれぞれ８線路バス１４
０の対応線路に接続されている。

この実施例においてはマルチプレクサ１５０が使用され
、このマルチプレクサは、制ｔｌｌ（ｉｔ択）入力、第
１データ入力、第２データ入力、およびデータ出力を有
する。マルチブレク′）Ｊ１５０は、υ（弾入力に供給
される信号の論理状態によって選択される第１または第
２データ入力のいずれかに受ける信号の状態に対応した
論理状態を有する信号をデータ出力に発生する形式のも
のである。マルチプレクサ１５０の一方のデータ入力は
線路２２に接続され、他方のデータ入力は線路６４に接
続され、１１１１０入力は線路１２２に接続され、デー
タ出力は線路１５２に接続されている。

最後に、マルチプレクサ１５０と同様のマルチブレク量
す４８においては、一方のデータ入力は線路１５２に接
続され、他方のデータ入力は線路１３８に接続され、制
御入力は線路２４に接続され、データ出力は線路２６に
接続されている。

診断回路１０は、他の諸診断回路とカスケード接続され
る。１つの診断回路の線路２６は次段の診断回路の線路
２２に接続され、（外部的に供給される）直タリ診断信
号を１つの診断回路から次段の診断回路へと伝送する。

全ての診断回路の線路２０は相互に接続されて（外部的
に供給される）直列診断信号用クロック信号を並列に受
け、全ての診断回路の線路２４も相互に接続されて（外
部的に供給される）指令／データｆｂｌＪ　ＩＩＩ信号
を並列に受ける。

動作において、線路２４上に（外部的に）低論理レベル
を右する指令／データ制御信号が供給されると、診断回
路１０を含む諸診断回路を通して直列診断信号データが
（Ｍ列に）シフトされ、全ての回路に同時にロードされ
る。詳述すると、線路２０上に（外部的に）供給される
直列診断信号用クロック信号の低レベルから高レベルへ
のそれぞれの移行によって、線路２２上に（外部的に）
供給される直列詮所信号によって代表されるデータの１
ビツトが、データレジスタ４６内へシフトインされ、（
直列冷所信号用クロック信号の８＋ナイクル前にこのレ
ジスタ内へシフトインされた〉データの１ビツトが、こ
のレジスタから線路２６」−へシフトアウトされる。

次に、線路２４上に供給される指令／データ制御信号の
レベルは、高論理レベルへ変化する。すると、直列診断
信号指令が診断回路１０を含む諸診断回路を通して（ｉ
￥列に）シフトされ、やはり全ての回路に同時にロード
される。線路２ｏ上に（外部的に）供給される直列診断
信号用クロック信号の低レベルから高レベルへのそれぞ
れの移行によって、やはり線路２２上に供給される直列
詮所信号によって代表される指令の１ビツトが、指令レ
ジスタ４０内へシフトインされ、（ｒｉ直列診断信号用
クロック信号４サイクル前にこのレジスタ内へシフトイ
ンされた）指令の１ビツトが、このレジスタから線路２
６上へシフトアウトされる。

最後に、線路２４上に（外部的に）供給される指令／デ
ータｔＩＩＩＩＩｌ信号の高レベルから低レベルへの移
行から、線路２０上に（外部的に）供給される直列診断
信号用クロック信号の次す−イクルの低レベルから高レ
ベルへの移行までの間、指令レジスタ４０内へ前にシフ
トインされた指令が実行される。この後、再び直列診断
信号データがシフトイン／ア「クトされる。

状態レジスタ１２によって代表される回路、およびバッ
ファ１４によって代表される８つの３状態バツフアをテ
ストするために、診断回路１０は、追加のマルチプレク
サ２００，２０２，２０４゜２０６．２０８みよびバッ
ファ２１０によって代表される８つの３状態バツフアを
含む。マルチプレクサ２００，２０２，２０４，２０６
．２０８は、第１または第２組の８つのデータ入力に供
給されたそれぞれの信号の状態に対応したそれぞれの論
理状態を有する８信号を、８つのｆ−夕出力の組に発生
する形式のものである。

これら追加のマルチプレクサおよびバッファにおいて、
マルチプレク１す２００の１組の８データ入力のそれぞ
れはバス１４００８′ｏ路のうちの対応線路に接続され
、他の組の８データ入力のそれぞれはバス１４２の８８
路のうちの対応線路に接続され、８データ出力の組のそ
れぞれは８線路バス２２０の対応線路に接続されている
。バッファ２１０によって代表される８つの３状態バツ
フアはぞれぞれ、バス２２０の８線路のうちの対応線路
と、（Ｄ）バス３０の８線路のうちの対応線路との間に
接続されている。

マルチプレクサ２０２の１組のデータ入力はバス１４０
に接続され、他の組のデータ入力は、（Ｄ）バス３０に
接続され、データ出力の組は８線路バス２２４に接続さ
れている。マルチプレクサ“２０４の１組のデータ入力
はバス１４０に接続され、他の組のデータ入力は（Ｄ）
バス３０に接続され、データ出力の組は８線路バス２２
６に接続されている。

状態レジスタ１２の８データ入力はそれぞれバス２２６
の８ＰＪ路のうちの対応線路に接続され、クロック（ロ
ード）入力は線路３２に接続され、８データ出力はそれ
ぞれ８線路バス２３０の対応線路に接続されている。

マルチプレクサ２０６の１組のデータ入力はバス２２４
に接続され、他の組のデータ入力はバス２３０に接続さ
れ、データ出力の組は（Ｑ）バス３４に接続されており
、マルチプレクサ２０８の１組のデータ入力は（Ｑ）バ
ス３４に接続され、他の組のデータ入力は（Ｙ）バス３
８に接続され、データ出力の組はバス１４２に接続され
ている。

最後に、バッファ１４によって代表される８つの３状態
バツフアはそれぞれ、（Ｑ）バス３４の８線路のうちの
対応線路と、（Ｙ）バス３８の８線路のうちの対応線路
との間に接続されている。

バッファ１４によって代表される諸バッファのそれぞれ
の３状態制御λカは、線路３６に接続されている。

（診断回路１０がない場合は、状態レジスタ１２の８デ
ータ入力はそれぞれ（Ｄ）バス３ｏの８線路のうちの対
応線路に直接接続され、このレジスタの８データ出力ｉ
よそれぞれ（Ｑ）バス３４の８線路のうちの対応線路に
直接接続される。）指令デコード回路４２の諸ゲートは
、諸レジスタ、諸マルチプレクサ、および諸ゲー１〜を
制御１１シて、次の指令を供給する。

コード　　　指　令ＯＹをデータレジスタへ１　Ｑをデータレジスタへ２　Ｄをデータレジスタへ３　りＯツク信号と同期してＹをデータレジスタへ４　状態（線路３２および３６）をデータレジスタへ１５　ＹをＤに接続６および７　リザーブ（ノーオペレーション）８　データレジスタをＹへ９　データレジスタをＤへ１０　データレジスタを状態レジスタへ１１　直列モー
ドを選択１２　スタブ（ｓｔｕｂ）モードを選択１３　クロック
信号と同期してデータレジスタをＹへ１４　　ＤをＹに接続１５　ノーオペレーション詳述すると、指令デコード回路４２の諸ゲートは、諸レ
ジスタ、諸マルチプレクリ、諸ゲートを制御して、２進
コード化された０のコードが指令レジスタ４０内へシフ
トインされた時には、マルチプレクサ２０８をしてバス
１４２に接続された８データ出力の組のそれぞれの出力
に、（Ｙ）バス３８の８′６路上に供給された８信りの
それぞれの状態に対応した論理状態を有する８信号を発
生せしめ、データレジスタ４６をしてバス１４２上に（
並列形式で）発生した８信号をこのレジスタ内へロード
せしめる。

２進コードの１に応答しては、マルチプレクサ２０８　
ハ、バス１４２上に（結合させｒ）（Ｑ）バス３４から
供給された信号に対応した信号を発生し、データレジス
タ４６はバス１４２上に発生した信号をこのレジスタ内
にロードする。

２進コードの２に応答しては、マルチプレクサ２０２は
（Ｌ））バス３０から供給された信号に対応する信号を
バス２２４上に発生し、マルチプレクサ２０６はこの信
号を（Ｑ）バス３４に結合せしめ、マルチプレクサ２０
８はこの信号をバス１４２に結合せしめ、データレジス
タ４６はこの信号を該レジスタ内へ０−ドＪる。

２進コードの３に応答しては、マルチプレクサ２０８は
（Ｙ）バス３８から供給された信号をバス１４２に結合
せしめ、データレジスタ４６（Ｊバス１４２上に生じた
信号を、線路３２上に（外部的に）供給されるクロック
信号と同期して、このレジスタ内ヘロードする。

２進コードの４に応答しては、線路３６上および線路３
２上のそれぞれに（外部的に）供給される信号の状態が
データレジスタ４６内ヘロードされる。

２進コードの５に応答しては、マルヂブレクサ２０８は
（Ｙ）バス３８から供給された１４号をバス１４２に結
合せしめ、マルチプレクサ２００およびバッファ２１０
によって代表される諸バッファはこの信号を（Ｄ）バス
３０に結合せしめる。

２進コードの８に応答しては、マルチプレクサ２０２は
、バス１４０上へデータレジスタ４６から（並列形式で
）供給された信号を、バス２２４に結合せしめ、マルチ
プレクサ２０６はこの信号を（Ｑ）バス３４に結合゛ぜ
しめ、バッファ１４によって代表される諸バッファはこ
の信号を（Ｙ）バス３８に結合せしめる。

２進コードの９に応答しては、マルチプレクリ２００は
、バス１４０上へデータレジスタ４６から（並列形式で
）供給された信号を、バス２２０に結合せしめ、バッフ
ァ２１０によって代表される詰バッファはこの信号を（
Ｄ）バス３０に結合せしめる。

２進コードの１０に応答しては、マルチプレクサ２０４
は、バス１４０トヘデータレジスタ４６から供給された
信号を、バス２２６に結合せしめ、状態レジスタ１２は
この信号を該レジスタ内へ〇−ドする。

２進コードの１１に応答しては、マルチプレクサ１５０
は線路６４上に供給された信号を線路１５２に結合せし
め、２進コード１２に応答しては、このマルチプレクサ
は線路２２上に供給された信号を線路１５２に結合せし
める。（ｖ！者のモードは、指令が反復されるべき場合
、または他の諸論断回路がテストのための指令をさらに
要求する場合に有用である。）２進モードの１３に応答しては、マルチプレクサ２０２
は、バス１４０上へデータレジスタ４６から供給された
信号を、バス２２４に結合ゼしめ、マルチプレクサ２０
６はこの信号を（Ｑ）バス３４に結合せしめ、バッファ
１４によって代表される諸バッファはこの信号を、線路
３２上に（外部的に）供給されるクロック信号と同期し
て、（Ｙ）バス３８に結合せしめる。

Ｒ後に、２進コードの１４に応答しては、マルチプレク
サ２０２％よ、（Ｄ＞バス３ｏ上に（外部的に）供給さ
れた信号を、バス２２４に結合せしめ、マルチプレクリ
２０６はこの信号を（Ｑ）バス３４に結合せしめ、バッ
ファ１４によって代表される諸バッファはこの信号を（
Ｙ）バス３８に結合せしめる。

本技術分野に精通した者ならば、以上の開示から、上述
の実施例に対しある変更および改変を施しうろことがわ
かるはずである。従って、特許請求の範囲には、本発明
の真の精神および範囲に属する全てのそのような変更お
よび改変が含まれるようにし【ある。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の実施例である診断回路の概略図であ
る。符号の説明１０・・・診断回路、４０・・・指令レジスタ、４２・・・指令デコード回路、４４・・・指令ストローブ発生回路、４６・・・データレジスタ、４８・・・マルチプレクサ、６０・・・２入力ＡＮＤゲート、９０・・・インバータ、９２・・・Ｄ形フリップフロップ、９４．１００，１０２，１０４，１０６．１３０・・・
２入力ＡＮＤゲート、１３２・・・インバータ、１５０・・・マルチプレクサ。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）指令およびデータの双方を直列形式で含む直列診
断信号と、直列診断信号用クロツク信号と、指令／デー
タ信号とを受ける診断回路であつて：第１の結合手段と
：前記第１の結合手段に接続され前記直列診断信号用クロ
ツク信号を受けるようになつているクロツク入力、前記
直列診断信号の前記指令部分を受けるように接続された
直列データ入力、前記直列診断信号用クロツク信号の所
定サイクル数だけ遅延した前記直列診断信号の前記指令
部分を表わす信号を発生する直列データ出力、及び、最
も新しく受けた前記指令を表わす複数の信号を発生する
所定数の並列データ出力、を有する指令レジスタと：第２の結合手段と：前記第２の結合手段に接続され前記直列診断信号用クロ
ツク信号を受けるようになつているクロツク入力、前記
直列診断信号の前記データ部分を受けるように接続され
た直列データ入力、前記直列診断信号用クロツク信号の
所定サイクル数だけ遅延した前記直列診断信号の前記デ
ータ部分を表わす信号を発生する直列データ出力、デー
タを並列形式で表わす所定数の信号を受けるための所定
数の並列データ入力、及び、最も新しく受けた前記デー
タを表わす複数の信号を発生する所定数の並列データ出
力、を有するデータレジスタと：第３の結合手段と：前記第３の結合手段により前記指令レジスタの直列デー
タ出力に接続され該指令レジスタから発生した直列診断
信号の前記遅延指令部分を受けるようになつている第１
データ入力、前記データレジスタの前記直列データ出力
に接続され該データレジスタから発生する直列診断信号
の遅延したデータ部分を受けるようになつている第２デ
ータ入力、前記指令／データ信号を受けるように接続さ
れた制御入力、及び、遅延した直列診断信号を発生する
ためのデータ出力、を有するマルチプレクサ；を組合わせて成ることを特徴とする診断回路。
（２）特許請求の範囲第１項において、前記第１の結合
手段が、前記直列診断信号用クロツク信号を前記直列診
断信号の前記指令部分中のみにおいて前記指令レジスタ
に結合せしめるためのゲート装置を含む、こと、を特徴
とする前記診断回路。
（３）特許請求の範囲第２項において、前記ゲート装置
がＡＮＤゲート装置を有し、該ＡＮＤゲート装置の第１
入力が前記直列診断信号用クロツク信号を受けるように
接続され、第２入力が前記指令／データ信号を受けるよ
うに接続され、出力が前記指令レジスタのクロツク入力
に接続されている、診断回路。
（４）特許請求の範囲第１項において、前記第２結合装
置が、前記直列診断信号用クロツク信号を前記直列診断
信号の前記データ部分中のみにおいて前記データレジス
タに結合せしめるためのゲート装置を含む、診断回路。
（５）特許請求の範囲第４項において、前記ゲート装置
がインバータ装置およびＡＮＤゲート装置を有し、該Ａ
ＮＤゲート装置の第１入力が前記直列診断信号用クロツ
ク信号を受けるように接続され、第２入力が前記インバ
ータ装置を経て前記指令／データ信号を受けるように接
続され、出力が前記データレジスタのクロツク入力に接
続されている、前記診断回路。
（６）特許請求の範囲第１項において、前記指令レジス
タの前記並列データ出力に接続され前記指令を表わす信
号を受けるようになつている複数の入力と、複数の出力
とを有するデコード装置、及び、前記デコード装置の該
出力に接続された複数の入力と、所定時間の間ストロー
ブ指令を表わす信号を発生する複数の出力とを有する指
令ストローブ発生装置と、をさらに含む診断回路。
（７）特許請求の範囲第６項において、前記指令ストロ
ーブ発生装置が、前記直列診断信号用クロツク信号を受けるように接続さ
れたクロツク入力、前記指令／データ信号を受けるよう
に接続されたデータ入力、及び、データ出力を有するフ
リツプフロツプ装置と、インバータ装置と、前記インバータ装置を経て前記指令／データ信号を受け
るように接続された第１入力、前記フリツプフロツプ装
置のデータ出力に接続された第２入力、及び、出力を有
する第１ＡＮＤゲート装置と、複数の第２ＡＮＤゲート装置であつて、それぞれが前記
第１ＡＮＤゲート装置の前記出力に接続されている第１
入力、前記デコード装置の前記諸出力のうちの対応する
１つに接続されている第２入力、及び、出力を有し、該
第２ＡＮＤゲート装置の諸出力に前記ストローブ指令信
号を発生するようになつている前記複数の第２ＡＮＤゲ
ート装置と、を含んで成る前記診断回路。
（８）特許請求の範囲第１項において、前記第３の結合
手段が、前記指令レジスタの前記直列データ出力に接続
された第１データ入力と、前記直列診断信号を受けるよ
うに接続された第２データ入力と、前記マルチプレクサ
の前記第１データ入力に接続されたデータ出力と、を有
するマルチプレクサ装置を含んで成る前記診断回路。