JPS6297427A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPS6297427A
JPS6297427A JP60176587A JP17658785A JPS6297427A JP S6297427 A JPS6297427 A JP S6297427A JP 60176587 A JP60176587 A JP 60176587A JP 17658785 A JP17658785 A JP 17658785A JP S6297427 A JPS6297427 A JP S6297427A
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gate
circuit
mesfet
drain
mes
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Tomihiro Suzuki
富博 鈴木
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Sumitomo Electric Industries Ltd
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Sumitomo Electric Industries Ltd
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/40Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/41Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape, relative sizes or dispositions
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/01Modifications for accelerating switching
    • H03K19/017Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits
    • H03K19/01707Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits
    • H03K19/01714Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits by bootstrapping, i.e. by positive feed-back
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/02Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
    • H03K19/08Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
    • H03K19/094Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
    • H03K19/0952Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using Schottky type FET MESFET

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (7)  技  術  分  野 この発明は、ショットキゲート電界効果トラン−ジスタ
(MES FET )を用いた集積回路に関する。
特にショットキゲート電界効果トランジスタにより構成
される論理ゲート回路に関する。
(イ)従来技術とその問題点 Si半導体を用いた集積回路は、速度や消費電力などの
点で、GaAsなど化合物半導体集積回路に及ばないと
ころがある。
GaAs半導体は、高速性、低消費電力など優れた特長
がある。そこでGaAsなど化合物半導体を用いた集積
回路のデジタル応用分野への利用が強く要望されている
GaAs集積回路など化合物半導体集積回路は、Siと
は異なりショットキゲート電界効果トランジスタ(ME
S Fli:T )によって構成される。
デジタル集積回路のうち、極めて重要な回路要素である
論理ゲートについても、MES FETを用いた種々の
回路が既に知られている。
第4図は、MES FETを用いた従来の代表的な論理
ゲート回路例であるDCFL回路の回路構成図である。
この回路は、ノーマリオフタイプのMES FET l
と、負荷2とを直列に接続し、MES FRETのゲー
トを入力、ドレインを出力としだものである。
負荷2は、抵抗又はMES FETで構成される。
DCFL回路は消費電力が少いので、大規模集積回路に
適している。
しかし、DCFL回路は、論理振幅が小さい、という欠
点があった。
論理のハイレベルがショットキゲートの順方向立上り電
圧でクランプされるし、論理のローレベルがグランドよ
りも僅かに高い電位(通常0.2v)となるために、論
理振幅は通常500m’/程度である。
これは小さい値である。
このため、DCFL回路は、MES FETのスレシボ
ールド電圧のばらつきに対する余裕やノイズマージンは
、非常に厳しいものになる。
さらに、DCFL回路では、特にローレベルを十分に下
げる必要から、負荷として、大きな値の抵抗や、電流を
十分にしぼったMES FETを使用する必要がある。
負荷が実効的に大きい抵抗値を持っているから、負荷と
ドレインとの間から出力を取った場合、出力の電流駆動
能力は小さい。特にカレントソースとして用いる時、極
めて小さな駆動能力しか持たない。
このようなわけで、長い配線や、多数のファンアウトを
含む回路には不向きであった。
第5図は、MES FETを用いた従来の論理ゲート回
路の第2の代表例であるBFL回路の回路構成図である
これはスイッチ段と、バッファ段とを組合わせだもので
ある。
スイッチ段は、ノーマリオンタイプのMES FET4
と、これに対して直列に接続された負荷3とよりなる。
負荷3は抵抗又はMES FETである。MESFET
 4のゲートが入力である。
バッファ段はMES FET 4のドレイン出力を増幅
、レベルシフトする。
バッファ段ハ、ノーマリオンタイプのMES FET5
.7と、この中間に接続されたレベルシフト用ショット
キーバリヤダイオード6によって構成される。
BFL回路では、スレシホールド電圧が−0,5’i’
〜−2,OV ノMES FRETを通常使用する。
このような場合、出力の論理振幅が約1.5v以上とな
る。大きい論理振幅を持つので、スレシホールド電圧の
ばらつきに対して十分な余裕を持たせる事ができる。又
ノイズマージンも大きくなる。
さらに、BFL回路では、ノーマリオフMES FET
に比べ、電流駆動能力の大きいノーマリオンMESFE
Tが用いられている。ざらにBFL回路はバッファ増幅
段を持っている。このだめ、BFL回路の出力の電流駆
動能力はDCFL回路に比べて大きい。
このようにBFL回路は、論理振幅、電流駆動能力など
に於て優れた特長を持つ。しかし、BFL回路は消費電
力が大きい。ゲート当り、通常l mWから数mWの消
費電力である。このため、BFL回路は大規模集積回路
を構成するものとしては不適当である。BFL回路によ
って、大規模集積回路を作製する事ができない。
又BFL回路は、バッファ増幅段に於て、定常的に電力
が消費される回路構成である。このため、ゲートのスイ
ッチング時の電流駆動能力に対するゲート消費電力、と
いう点からも効率的な回路とはいえない。
サラニ、BFL回路では、レベルシフトダイオードを最
低でも、1ヶ含む。このため、論理振幅を1.5v程度
以下にする事は難しい。
つまり、論理振幅が逆に大きすぎるのである。
もちろん論理振幅は大きい方が一般的には便利である。
GaAs基板の上にMES FETのICを作製した場
合従来から問題になっているのは、ウェハ面内に於ける
スレシホールド電圧のばらつきである。スレシホールド
電圧が均一でなければ、歩出りよく、GaAs ICを
作る事ができない。
スレシホールド電圧のばらつきが著しいので、前述のD
CFL回路をGaAs ICに適用する際に難しい問題
があったわけである。スレシホールド電圧は、ウェハの
転位やその他の欠陥と相関はあるが、直接的な関係はよ
く分っていない。
しかし、GaAsウェハ上に作ったMES FR:Tを
含むICに於いて、スレッシホールド電圧のバラツキは
、近年、数十mV以下になってきた。それ程均−性の高
いGaAs単結晶を製造する事ができるようになったの
である。
スレシホールド電圧のバラツキが数十mVであるから、
論理振幅が1.5vもある、というのは、余裕度が大き
すぎる、という事である。
論理振幅は1.5vも要らないが、むしろ電力消費を、
BFL回路よりも少なくしたい、という要望が強い。
つまり、BFL回路の多電力消費という欠点が重大な問
題になってきたのである。
(つ)発明の目的 本発明は、従来技術のこのような欠点を改良するもので
ある。
低消費電力でありながら、スイッチング時には十分な電
流駆動能力を有し、大規模集積回路を構成するために必
要にして十分なだけの論理振幅を与えるMES FET
を用いた新しい論理ゲート回路を提供する事が、本発明
の目的である。
に)構 成 第1図は本発明のMES FETを用いた論理ゲートの
基本回路を示している。
第1のMES FET 9のソースは接地され、ドレイ
ンは負荷8に接続される。ゲートは入力に接続される。
後に述べるように、第1のMES FIT 9は単一で
あるとは必らない。並列に複数個のMES FETを接
続すればNOR回路になる。直列に複数個のMES F
ETを接続すればNAND回路になる。
第1のMES FET 9が単一である場合は、インバ
ータになる。
MES FET ハ/ −v !Jオフカラ浅いノーマ
リオンの領域で動作できれば良い。
負荷8は正電位vDDに接続されている。負荷8は、抵
抗負荷であっても良いし、能動負荷つまりMES FE
Tであっても良い。
以上がスイッチ段である。これに続いてバッファ増幅段
が設けられる。
バッファ増幅段は、第2のMES FET I Qと、
第3のMES FET l 2とを直列に接続し、さら
にショットキーバリヤダイオード11をキャパシタンス
として用いている。
第2のMli:S FET I Qはドレインが正電位
vDDに接続されている。ゲートは前記第1のMES 
FETのドレインに接続されている。ソースは、第3の
Mli:S FET 12のドレインに接続されている
第3のMli:S FET 12は、ゲート及びソース
が同一の負電位v08に接続されている。
ショットキーバリヤダイオード11は、アノートカ、M
ES Fli:T l 0(7)ソー;z、、MES 
FET l 2 ノI’レインに接続されている。カソ
ードは、第1のMES FET 9のドレイン、すなわ
ち第2のMES FET10のゲートに接続されている
MES FET l 2は、MES FET 7と同じ
ように負荷として機能している。
MES FET 1Q ハノーマリオフでもノーマリオ
ン−でも良い。第5図と異なるところは、ショットキー
バリヤダイオードがMES FETと直列につながれて
いない、という事である。従って、MES FR:Tの
接続点に於て電圧降下がない。
さらに、新しく、ショットキーバリヤダイオード11が
MES FET 1Qのソース、ゲート間に逆バイアス
されて接続されている。これは、スピードアップ用のキ
ャパシターとして機能する。
このゲート回路では、スイッチ段の出力をバッファ増幅
段に於てレベルシフトしている。
ショットキーバリヤダイオード11に対する逆バイアス
は、レベルシフトの電位差である。
レベルシフト電位差は、MES FET 12のゲート
幅を、MES FET I Qのゲート幅に比べて広く
するか、又はMES FET l 2のスレシホールド
電圧を、MES FET 1Qのスレシホールド電圧に
比べてよりオン側に設定する事により、0.6v程度ま
では容易に実現できる。
このため論理振幅は、0.6V〜1.2■のものが得ら
れる。これは、小さすぎず、大きすぎない、といえる。
大規模な集積回路を実現するために必要かつ十分な値が
確保できる。
MES FET 9のスレシホールド電圧も、ノーマリ
オフから、浅いノーマリオンにわたる領域で任意に設定
する事ができる。このだめDCFL回路に比べて極めて
広いスレシホールド電圧のバラツキに対し、十分な余裕
度が実現される。
第1図の回路は基本形である。これは、NANDゲート
、NORゲートの回路に適用する事ができる。
第2図はNORゲートの回路に本発明を適用したもので
ある。入力A、B、・・・・・・に対しMES FET
 a 。
bSc、・・・・・・が並列に設けられている。MES
 FETのソースは接地されるゲートが論理人力A、B
C1・・・・・・になっている。ドレインは統一されて
負荷8に接続されている。
その他の回路構成は第1図のものと同一である。
バッファ増幅段ではMIrS FET I Q、MES
 FET l 2が直列に接続されている。
スピードアップ用のキャパシタンスヲ、逆バイアスされ
たショットキーバリヤダイオード11が与えている。
第3図は本発明をNANDゲートに適用したものを示す
。MKS FET a、 b、・・・・・・が直列に接
続されこれに入力AXB、C,・・・・・・が入力され
る。
(3)  効   果 (1)論理振幅が適当な範囲にある。0.6〜1.2v
にする事ができる。
これは、大規模集積回路を実現するために、必要かつ十
分な値である。ウェハ面上で、スレシホールド電圧のバ
ラツキがかなり存在したとしても、論理振幅が0.6 
V以」二あるので十分余裕がある。
(2)  動作速度、スイッチング時の電流駆動能力の
点でも、DCFL回路など、低消費電力型のゲート素子
に比べてより優れている。
(3)本発明の回路はレベルシフト段を有するので、ス
イッチング段の論理のローレベルを高めに設定しても、
なお十分な動作余裕が得られる。したがって負荷抵抗8
の抵抗値をより小さく(或は電流値をより大きく)でき
る。このため、ゲートの電流駆動能力を高める事ができ
る。
(4)本発明のゲート回路は、スピードアップ用のキャ
パシタンスを有する。このため、スイッチング時には過
渡的に、大きな電流を流す事ができる。
負荷が容毒性であれば、スピードアップ用コンデンサの
機能が減殺される。しかし、負荷の容量の数倍程度の容
量を持っていれば、ゲートのスイッチング時間の負荷容
量による劣化を小さく抑える事ができる。
例えばGaAs ICではIMM程度の配線長は、約1
00 fFの負荷容量に相当する。従って、このような
場合、スピードアップ用のコンデンサとしては数百fF
あれば十分である。
本発明のゲート回路では、ショットキーバリヤダイオー
ドの逆バイアスが0.5 V程度であるから、数ミクロ
ン角の小さな領域で、上記の容量のキャパシタンスを十
分に形成する事ができる。
(5)第1図に於て、MES FET I Q及びME
S FET12は、ショットキーバリヤダイオードの逆
バイアス電圧を発生し、レベルシフトした直流電位を伝
達する目的に十分なだけの電流を流すように設定する事
ができる。
このようにすれば、スイッチング時に必要な過渡的な駆
動電流は、ショットキーバリヤダイオードを用いたキャ
パシタンスを通して供給される。バッファ部の定常時の
状態に於て、大きい電流は不要である。前記逆バイアス
を保つ電圧があれば良いだけである。
そうすると、バッファ部の定常特電流を少く設定できる
ので、バッファ部の消費電力は小さくする事ができる。
このため、本発明の回路は、DCFL回路とほぼ同程度
の低消費電力の回路となる。
DCFL回路と同程度の消費電力の条件下に於ても、本
発明の回路は、高い負荷駆動能力を合わせ持つ事ができ
る。
(6)本発明のMES FETはノーマリオフでも、浅
いノーマリオンであっても良い。いずれであっても構成
できる。
しかし、本発明の回路は、全てのMES FETを、−
500771V程度までのノーマリオンIIIES F
ETのみで構成する事もできる。この場合、MES F
ETのスレシホールド電圧を一種類にした回路構成にす
る事もできる。スレシホールドが同一のMESFETば
かりであるから、ウェハプロセスを簡素化する事ができ
る。
(7)  従来、DCFL回路などでは、NAND回路
や複合ゲートの製作は難しいとされていた。論理振幅が
小さいからである。
本発明では、論理振幅を大きくできるから、NAND回
路や複合ゲートも作製する事ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の論理ゲート基本回路図。 第   11゛ 第2図は本発明の論理ゲート回路を用いてNORゲート
を構成した場合の回路図。 第3図は本発明の論理ゲート回路を用いてNANDゲー
トを構成した場合の回路図。 第4図はMES FETを用いた代表的な論理ゲートで
あるDCFL回路の回路図。 第5図はMli:S FETを用いた代表的な論理ゲー
トであるBFL回路の回路図。 8・・・・・・・・・・・・・・・・・・負 荷9.1
0.12  ・・・・・・・・・ MES FET11
 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ ショットキ
ーバリヤダイオ−ド発  明  者     鈴  木
  富  博手続補正書旧発) 昭和61年6 月17日 1、事件の表示 特願昭60−176587号2、発明
の名称 半導体装置 3、補正をする者 事件との関係  特許出願人 居 所大阪市東区北浜5丁目15番地 名 称(213)住友電気工業株式会社代表者社長 川
 上 哲 部 4、代 理 人 吊537 住 所 大阪市東成区中道3丁目15番16号明細書の
「発明の詳細な説明」、「図面の簡単な説明」の欄イへ 6、補正の内容 (1)  明細書第15頁第18行目と第19行目の間
に、以下の文章を挿入する。 「 (イ)実施例 本発明の論理ゲート回路の設計例を第6図に示す。 MES FETのスレシホールド電圧は全て−0,4V
である。第6図の回路図のMES FETの横に、対応
するゲート幅を示した。ゲート長は全て1.2μmであ
る。電源は−1,5vと−2,5vの2電源を用いてい
る。 第7図に本発明の論理ゲート回路の転送特性を第6図の
設計例について示す。 比較のため、高集積度GaAs ICで通常用いられる
DCFL回路の転送特性も合わせて示した。 横軸が入力ゲート電圧、縦軸が出力電圧である。 4本の曲線が書かれているが、この内Aを付したものが
、入力、出力特性を示す。曲線Aを45゜の直線に関し
対称に折り返したものが曲線Bである。BA間の拡がり
がノイズマージンの広さを表ワス。ノイズマージンの広
さが一目で分るので、ゲート回路の設計に於てよく用い
る表示法である。 出力電圧は−1,8v〜−〇、S Vになっている。 −1,5’/と−2,5vの電源を用いる事によりEC
Lコンパチブルな出力が得られる事が分る。 これは、Si ICによる既存の高速論理回路とのイン
ターフェースを考える上で極めて実用的な価値が大きい
。 又、第7図から、本発明の論理ゲートがDCFL回路に
比べて、2倍以上のノイズマージンを実現している、と
いう事が分る。 このため、本発明の論理ゲートを用いたGaAs IC
ではプロセスの余裕度が、DCFL回路に比べて極めて
大きくなる。これにより、高い歩留りが実現された。 容量性の負荷を増加させた場合の、本発明の論理ゲート
回路の動作速度(伝搬遅延時間)の特性を第8図に示し
た。 容量性の負荷というのは、配線、ファンアウトの事であ
る。 横軸は負荷容量(pF)と、これに対応する配線長(J
RM)、又はファンアウトの数である。縦軸は伝搬遅延
時間(p sec )である。ゲート長は1.2μmで
ある。 比較のため、従来からGaAs ICに用いられる、D
CFL回路のデータも図示した。 単位ゲート回路あたり、0.5mWと低消費電力であり
ながら、配線長1朋の配線を駆動しても、伝搬遅延時間
が約250ピコ秒である。極めて高速である。 本発明の論理ゲート回路によれば、数キロゲートのLS
Iが実現可能であり、LSIの典形的な負荷である、配
線やファンアウトに対し、第8図に示すように、DCF
L回路に比べて、約2倍程度高速である。」 (2)  明細書第16頁第8行目と第9行目の間に以
下の文章を挿入する。 「第6図は本発明の実施例を示すゲート回路図。 第7図は本発明の論理ゲート回路(第6図の例)とDC
FL回路の転送特性を示すグラフ。Aは入出力特性曲線
、BはAを45°の線について対称に折り返した曲線。 第8図は容量性負荷の数を増した場合の伝搬遅延時間の
増加を、本発明の論理ゲート回路とDCFL回路につい
て測定した結果を示すグラフ。」手続補正書(方式) 昭和61年11月28日 1、事件の表示 特願昭60−176587号 2、発明の名称 半導体装置 3補正をする者 事件との関係  特許出願人 居 所大阪市東区北浜5丁目15番地 名 称(213)住友電気工業株式会社代表者社長 川
 −1−哲 部 4、代 理 人 畳537 住 所 大阪市東成区中道3丁目15番16号手続補正
書(自発) 昭和61年6 月17日 特許庁長官 宇 賀 道 部  殿 1、事件の表示 特願昭60−176587号2、発明
の名称 半導体装置 3、補正をする者 事件との関係  特許出願人 居 所大阪市東区北浜5丁目15番地 名 称(213)住友電気工業株式会社代表者社長 川
 上 哲 部 4、代 理 人 ■537 住 所 大阪市東成区中道3丁目15番16号及び図面

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ショットキゲート電界効果トランジスタMESFETに
    より構成される論理ゲート回路において、ソースが接地
    されゲートが入力に接続されドレインが抵抗負荷又は能
    動負荷を通じて正電位に接続されている1又は並列に接
    続された複数の第1のMESFET、或はソース、ドレ
    インが順次接続され最初の素子のドレインが負荷に接続
    され最後の素子のソースが接地されゲートには並列入力
    が接続される複数の第1のMESFETと、前記第1の
    MESFETのドレイン、又は最初の素子のドレインに
    ゲートが接続され、ドレインが正電位に接続されかつソ
    ースが出力に接続された第2のMESFETと、ソース
    とゲートがともに同じ負電位に接続されておりドレイン
    が出力に接続された第3のMESFETと、前記第1の
    MESFETのドレインにカソードが接続され出力にア
    ノードが接続されているショットキーバリヤダイオード
    とからなる事を特徴とする半導体装置。
JP60176587A 1985-08-09 1985-08-09 半導体装置 Pending JPS6297427A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60176587A JPS6297427A (ja) 1985-08-09 1985-08-09 半導体装置
US06/893,496 US4755695A (en) 1985-08-09 1986-08-05 Logic gate having low power consumption
EP86110881A EP0217072A1 (en) 1985-08-09 1986-08-06 Semiconductor device
KR1019860006562A KR900000068B1 (ko) 1985-08-09 1986-08-09 반도체 장치
CA000515705A CA1260561A (en) 1985-08-09 1986-08-11 Semiconductor device

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US (1) US4755695A (ja)
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