JPH05129899A - 負性抵抗型双安定回路とその負性抵抗の制御方法 - Google Patents
負性抵抗型双安定回路とその負性抵抗の制御方法Info
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- JPH05129899A JPH05129899A JP3290172A JP29017291A JPH05129899A JP H05129899 A JPH05129899 A JP H05129899A JP 3290172 A JP3290172 A JP 3290172A JP 29017291 A JP29017291 A JP 29017291A JP H05129899 A JPH05129899 A JP H05129899A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 シリコン半導体基板上にモノリシックに製作
するのに好適な負性抵抗型双安定回路とする。 【構成】 この負性抵抗型双安定回路は、ＰＮＰバイポ
ーラトランジスタＴr1及びＰチャンネルＭＯＳ型電界効
果トランジスタ（ＭＯＳＦＥＴ）Ｔr2で構成され、制御
入力端子Ｂ，制御出力端子Ｃ，制御入力及び制御出力の
コモン端子Ｅが設けられている。制御入力端子Ｂへの電
流ＩB を変えることにより、制御出力端子Ｃ−コモン端
子Ｅに生ずる負性抵抗の領域及びその大きさを変化させ
ることができる。
するのに好適な負性抵抗型双安定回路とする。 【構成】 この負性抵抗型双安定回路は、ＰＮＰバイポ
ーラトランジスタＴr1及びＰチャンネルＭＯＳ型電界効
果トランジスタ（ＭＯＳＦＥＴ）Ｔr2で構成され、制御
入力端子Ｂ，制御出力端子Ｃ，制御入力及び制御出力の
コモン端子Ｅが設けられている。制御入力端子Ｂへの電
流ＩB を変えることにより、制御出力端子Ｃ−コモン端
子Ｅに生ずる負性抵抗の領域及びその大きさを変化させ
ることができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、負性抵抗をもつ双安定
回路とその負性抵抗の制御方法に関し、シリコン半導体
基板上にモノリシックに回路を製作するのに好適なもの
である。
回路とその負性抵抗の制御方法に関し、シリコン半導体
基板上にモノリシックに回路を製作するのに好適なもの
である。
【０００２】
【従来の技術】負性抵抗特性を有する半導体素子はアナ
ログ動作、或いはその双安定状態を利用してメモリ動作
などを行わせるなど電子回路の構成上非常に重要な役割
を果たしている。これらの負性抵抗を有する半導体素子
としてはトンネルダイオード、サイリスタ、ＭＩＭ（Me
tal insulator Metal Diode ）などが知られているが、
これらはサイリスタを除いて基本的には２端子素子であ
り、その負性抵抗特性を外部から目的に合わせて制御す
ることは困難である。これらのうちサイリスタは電流制
御型の負性抵抗を持つ素子であるため、直流電圧バイア
スが印加されているときに素子をオフにするのに回路上
の工夫を要する。
ログ動作、或いはその双安定状態を利用してメモリ動作
などを行わせるなど電子回路の構成上非常に重要な役割
を果たしている。これらの負性抵抗を有する半導体素子
としてはトンネルダイオード、サイリスタ、ＭＩＭ（Me
tal insulator Metal Diode ）などが知られているが、
これらはサイリスタを除いて基本的には２端子素子であ
り、その負性抵抗特性を外部から目的に合わせて制御す
ることは困難である。これらのうちサイリスタは電流制
御型の負性抵抗を持つ素子であるため、直流電圧バイア
スが印加されているときに素子をオフにするのに回路上
の工夫を要する。
【０００３】電圧制御型の負性抵抗を持つ素子として
は、上記の素子以外に、「特開平２−４４７５８」に記
載されているものがある。これは、等価的にバイポーラ
トランジスタとＪ−ＦＥＴを組み合わせたもので、商品
名「ＢＡＮＢＩＴ」としてサンプル出荷された。しか
し、市場の反響は全くなく、現在量産されていない。
は、上記の素子以外に、「特開平２−４４７５８」に記
載されているものがある。これは、等価的にバイポーラ
トランジスタとＪ−ＦＥＴを組み合わせたもので、商品
名「ＢＡＮＢＩＴ」としてサンプル出荷された。しか
し、市場の反響は全くなく、現在量産されていない。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】前述のように、電圧制
御型の負性抵抗を持つ素子は、一般に図７に示す特性を
持ち、定電流負荷若しくは抵抗負荷をつなぐことで、単
体で容易に双安定回路を作ることができるという大きな
利点がある。しかし、近年ではＩＣ化が著しく色々の回
路をシリコン基板にモノリシックに製作して小形化軽量
化し、また、回路をモジュール化して設計上の負担を軽
減するようになってきている。電圧制御型の負性抵抗を
持つ素子についてもディスクリート部品として用いるだ
けでなく、シリコン基板にモノリシックに製作し得るこ
とが重要になってくる。このとき、負性抵抗領域の素子
設計の容易性，製造プロセスとのコンパティビリティな
どが要求される。特に、ディジタル回路に用いる場合、
ＣＭＯＳプロセスとの相性が重要な点になっている。上
述の電圧制御型の負性抵抗を持つ素子では、このような
要求を満たすには至っていない。
御型の負性抵抗を持つ素子は、一般に図７に示す特性を
持ち、定電流負荷若しくは抵抗負荷をつなぐことで、単
体で容易に双安定回路を作ることができるという大きな
利点がある。しかし、近年ではＩＣ化が著しく色々の回
路をシリコン基板にモノリシックに製作して小形化軽量
化し、また、回路をモジュール化して設計上の負担を軽
減するようになってきている。電圧制御型の負性抵抗を
持つ素子についてもディスクリート部品として用いるだ
けでなく、シリコン基板にモノリシックに製作し得るこ
とが重要になってくる。このとき、負性抵抗領域の素子
設計の容易性，製造プロセスとのコンパティビリティな
どが要求される。特に、ディジタル回路に用いる場合、
ＣＭＯＳプロセスとの相性が重要な点になっている。上
述の電圧制御型の負性抵抗を持つ素子では、このような
要求を満たすには至っていない。
【０００５】また、最近では、超格子構造のトランジス
タ、或いは共鳴トンネリングトランジスタなどでこのよ
うな負性抵抗素子を作る試みもなされている。これら
は、高度の薄膜作成技術を要し、シリコン基板にモノリ
シックに製作する上での難点となっている。
タ、或いは共鳴トンネリングトランジスタなどでこのよ
うな負性抵抗素子を作る試みもなされている。これら
は、高度の薄膜作成技術を要し、シリコン基板にモノリ
シックに製作する上での難点となっている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の負性抵抗型双安定回路は、キャリア制御電
極と、このキャリア制御電極に制御されるキャリアが流
出するキャリア出力電極と、キャリアが流入するキャリ
ア入力電極とを有した第１のトランジスタ（バイポーラ
トランジスタ，ＭＯＳＦＥＴなど）及び第１のトランジ
スタと同じキャリアで動作する第２のトランジスタ（バ
イポーラトランジスタ，ＭＯＳＦＥＴなど）を備え、第
１のトランジスタのキャリア制御電極と第２のトランジ
スタのキャリア出力電極を接続して制御入力とし、第１
のトランジスタのキャリア出力電極と第２のトランジス
タのキャリア制御電極を接続して制御出力とし、第１の
トランジスタのキャリア入力電極と第２のトランジスタ
のキャリア入力電極を接続して制御入力及び制御出力の
コモンとしたことを特徴とする。
に、本発明の負性抵抗型双安定回路は、キャリア制御電
極と、このキャリア制御電極に制御されるキャリアが流
出するキャリア出力電極と、キャリアが流入するキャリ
ア入力電極とを有した第１のトランジスタ（バイポーラ
トランジスタ，ＭＯＳＦＥＴなど）及び第１のトランジ
スタと同じキャリアで動作する第２のトランジスタ（バ
イポーラトランジスタ，ＭＯＳＦＥＴなど）を備え、第
１のトランジスタのキャリア制御電極と第２のトランジ
スタのキャリア出力電極を接続して制御入力とし、第１
のトランジスタのキャリア出力電極と第２のトランジス
タのキャリア制御電極を接続して制御出力とし、第１の
トランジスタのキャリア入力電極と第２のトランジスタ
のキャリア入力電極を接続して制御入力及び制御出力の
コモンとしたことを特徴とする。
【０００７】また、本発明の負性抵抗の制御方法は、上
述の負性抵抗型双安定回路について、制御入力とコモン
との間に所定のバイアス電流を流して制御出力とコモン
との間で負性抵抗が発生する電圧を調節することを特徴
とする。
述の負性抵抗型双安定回路について、制御入力とコモン
との間に所定のバイアス電流を流して制御出力とコモン
との間で負性抵抗が発生する電圧を調節することを特徴
とする。
【０００８】ここで、第１のトランジスタ及び第２のト
ランジスタがＭＯＳＦＥＴであることを特徴としても良
い。
ランジスタがＭＯＳＦＥＴであることを特徴としても良
い。
【０００９】さらに、第１のトランジスタ及び第２のト
ランジスタがバイポーラトランジスタであることを特徴
としても良い。
ランジスタがバイポーラトランジスタであることを特徴
としても良い。
【００１０】
【作用】本発明の負性抵抗型双安定回路では、制御入力
にある一定のバイアス電流を流している場合、制御出力
−コモン間の電圧をゼロから徐々に増加すると、第２の
トランジスタは初めはオフであるため、第１のトランジ
スタのキャリア出力電極−キャリア入力電極間の電流電
圧特性にしたがって制御出力に流れる電流が増加する。
第２のトランジスタがそのバイアス電流に対するキャリ
ア出力電極−キャリア制御電極の電圧特性にしたがって
バイアス電流に対しそのキャリア出力電極を低下させる
程度に制御出力−コモン間の電圧が大きくなると、第１
のトランジスタのキャリア制御電極−キャリア入力電極
間の電圧は低下しはじめ、第１のトランジスタのキャリ
ア出力電極−キャリア入力電極間の電流電圧特性にした
がって制御出力に流れる電流が減少する。ついには第１
のトランジスタのリーク電流程度の非常に小さな値にな
る。
にある一定のバイアス電流を流している場合、制御出力
−コモン間の電圧をゼロから徐々に増加すると、第２の
トランジスタは初めはオフであるため、第１のトランジ
スタのキャリア出力電極−キャリア入力電極間の電流電
圧特性にしたがって制御出力に流れる電流が増加する。
第２のトランジスタがそのバイアス電流に対するキャリ
ア出力電極−キャリア制御電極の電圧特性にしたがって
バイアス電流に対しそのキャリア出力電極を低下させる
程度に制御出力−コモン間の電圧が大きくなると、第１
のトランジスタのキャリア制御電極−キャリア入力電極
間の電圧は低下しはじめ、第１のトランジスタのキャリ
ア出力電極−キャリア入力電極間の電流電圧特性にした
がって制御出力に流れる電流が減少する。ついには第１
のトランジスタのリーク電流程度の非常に小さな値にな
る。
【００１１】本発明の負性抵抗の制御方法では、所定の
バイアス電流をあたえることで第２のトランジスタがそ
のキャリア出力電極を低下させる制御出力−コモン間の
電圧が調節されている。
バイアス電流をあたえることで第２のトランジスタがそ
のキャリア出力電極を低下させる制御出力−コモン間の
電圧が調節されている。
【００１２】ここで、第１のトランジスタ及び第２のト
ランジスタをＭＯＳＦＥＴとした場合、第１のトランジ
スタのキャリア出力電極−キャリア入力電極間の電流電
圧特性はそのゲート長及びゲート幅で調節でき、第２の
トランジスタのバイアス電流に対するキャリア出力電極
−キャリア制御電極の電圧特性もそのゲート長及びゲー
ト幅で調節できるため、制御出力に流れる電流及びそれ
が低下し始める制御出力−コモン間の電圧に自由度を持
たせ得る。
ランジスタをＭＯＳＦＥＴとした場合、第１のトランジ
スタのキャリア出力電極−キャリア入力電極間の電流電
圧特性はそのゲート長及びゲート幅で調節でき、第２の
トランジスタのバイアス電流に対するキャリア出力電極
−キャリア制御電極の電圧特性もそのゲート長及びゲー
ト幅で調節できるため、制御出力に流れる電流及びそれ
が低下し始める制御出力−コモン間の電圧に自由度を持
たせ得る。
【００１３】
【実施例】本発明の実施例を図面を参照して説明する。
図１の負性抵抗型双安定回路は、ＰＮＰバイポーラトラ
ンジスタＴr1及びＰチャンネルＭＯＳ型電界効果トラン
ジスタ（ＭＯＳＦＥＴ）Ｔr2で構成され、制御入力端子
Ｂ，制御出力端子Ｃ，制御入力及び制御出力のコモン端
子Ｅが設けられている。制御入力端子Ｂには、トランジ
スタＴr1のベース（キャリア制御電極）とＭＯＳＦＥＴ
Ｔr2のドレイン（キャリア出力電極）が接続され、制御
出力端子Ｃには、トランジスタＴr1のコレクタ（キャリ
ア出力電極）とゲート（キャリア制御電極）が接続さ
れ、コモン端子Ｅには、トランジスタＴr1のエミッタ
（キャリア入力電極）とＭＯＳＦＥＴＴr2のソース（キ
ャリア入力電極）が接続されている。
図１の負性抵抗型双安定回路は、ＰＮＰバイポーラトラ
ンジスタＴr1及びＰチャンネルＭＯＳ型電界効果トラン
ジスタ（ＭＯＳＦＥＴ）Ｔr2で構成され、制御入力端子
Ｂ，制御出力端子Ｃ，制御入力及び制御出力のコモン端
子Ｅが設けられている。制御入力端子Ｂには、トランジ
スタＴr1のベース（キャリア制御電極）とＭＯＳＦＥＴ
Ｔr2のドレイン（キャリア出力電極）が接続され、制御
出力端子Ｃには、トランジスタＴr1のコレクタ（キャリ
ア出力電極）とゲート（キャリア制御電極）が接続さ
れ、コモン端子Ｅには、トランジスタＴr1のエミッタ
（キャリア入力電極）とＭＯＳＦＥＴＴr2のソース（キ
ャリア入力電極）が接続されている。
【００１４】この回路は、つぎのような動作によって負
性抵抗特性を示す。制御入力端子Ｂへ一定の電流ＩB を
流した時、制御出力端子Ｃ−コモン端子Ｅの電圧ＶCEが
０Ｖから徐々に増加すると、ＭＯＳＦＥＴＴr2のゲート
電圧も増加する。このゲート電圧がＭＯＳＦＥＴＴr2の
閾値電圧ＶT を越えるとＭＯＳＦＥＴＴr2のドレイン電
流が流れはじめ、電流ＩB を分流し、トランジスタＴr1
のベースに流れる電流が減少し始める。このベース電流
の減少によりトランジスタＴr1のコレクタ電流が減少
し、制御出力端子Ｃに流れる電流ＩCが減少する。この
ようにして負性抵抗が現れ、電流ＩC と電圧ＶCEは、図
２に示す特性になっている。電圧ＶCEが十分に大きくな
ると、ＭＯＳＦＥＴＴr2がオン状態になり、電流ＩC は
トランジスタＴr1のジャンクションリーク電流程度（バ
レー電流は２０ｎＡ程度になっている。）の小さなもの
になる。
性抵抗特性を示す。制御入力端子Ｂへ一定の電流ＩB を
流した時、制御出力端子Ｃ−コモン端子Ｅの電圧ＶCEが
０Ｖから徐々に増加すると、ＭＯＳＦＥＴＴr2のゲート
電圧も増加する。このゲート電圧がＭＯＳＦＥＴＴr2の
閾値電圧ＶT を越えるとＭＯＳＦＥＴＴr2のドレイン電
流が流れはじめ、電流ＩB を分流し、トランジスタＴr1
のベースに流れる電流が減少し始める。このベース電流
の減少によりトランジスタＴr1のコレクタ電流が減少
し、制御出力端子Ｃに流れる電流ＩCが減少する。この
ようにして負性抵抗が現れ、電流ＩC と電圧ＶCEは、図
２に示す特性になっている。電圧ＶCEが十分に大きくな
ると、ＭＯＳＦＥＴＴr2がオン状態になり、電流ＩC は
トランジスタＴr1のジャンクションリーク電流程度（バ
レー電流は２０ｎＡ程度になっている。）の小さなもの
になる。
【００１５】この図からも明らかなように制御入力端子
Ｂへの電流ＩB を変えることにより、制御出力端子Ｃ−
コモン端子Ｅに生ずる負性抵抗の領域及びその大きさを
変化させることができる。通常の負性抵抗デバイスが２
端子素子であり、その負性抵抗を制御しえないが、この
図１の回路は制御入力端子Ｂを使って負性抵抗を制御し
得る点に大きな特徴がある。
Ｂへの電流ＩB を変えることにより、制御出力端子Ｃ−
コモン端子Ｅに生ずる負性抵抗の領域及びその大きさを
変化させることができる。通常の負性抵抗デバイスが２
端子素子であり、その負性抵抗を制御しえないが、この
図１の回路は制御入力端子Ｂを使って負性抵抗を制御し
得る点に大きな特徴がある。
【００１６】また、制御出力端子Ｃに定電流負荷（例え
ば、−２ｍＡ）を設け、電流ＩB を−２２０μＡとする
と、図２の特性図から電圧ＶCEが−０．２５Ｖと−１．
３Ｖの２つの安定点を持つ双安定回路として動作する。
また、抵抗負荷の場合でも同様、図２の特性図におい
て、所定の電流ＩB のＶCE−ＩC 曲線とその抵抗の負荷
線とは２つの交点をもち双安定回路として動作する。
ば、−２ｍＡ）を設け、電流ＩB を−２２０μＡとする
と、図２の特性図から電圧ＶCEが−０．２５Ｖと−１．
３Ｖの２つの安定点を持つ双安定回路として動作する。
また、抵抗負荷の場合でも同様、図２の特性図におい
て、所定の電流ＩB のＶCE−ＩC 曲線とその抵抗の負荷
線とは２つの交点をもち双安定回路として動作する。
【００１７】この回路は、設計製造時の設定即ちプロセ
ス条件やレイアウト設計上の設計パラメータなどの設定
によって、図２の特性を自由に制御可能である。例え
ば、トランジスタＴr1のベース濃度を小さくすると、ト
ランジスタＴr1の電流増幅率β（即ち制御出力端子Ｃに
流れる電流ＩC ／電流ＩB ）を増加させることができ、
ピーク電流値ＩC を変えることができる。また、ピーク
電流値をとる制御出力端子Ｃ−コモン端子Ｅの電圧ＶCE
（ピーク電圧）については、ＭＯＳＦＥＴＴr2のＷ／Ｌ
比（ゲート幅−ゲート長比）を変えると、ＭＯＳＦＥＴ
Ｔr2のドレイン特性が変わり、スレーショルド電圧が変
わって、ピーク電圧ＶCEを変化させることができる。同
時に、ピーク電流値ＩC も変えることができる。バレー
電流については、ＭＯＳＦＥＴＴr2のチャンネル幅を広
げるとより小さくなる。さらに、素子のレイアウトによ
って非常に高速動作をさせることが可能である。また、
トランジスタＴr1のベース−コレクタ間をショットキー
ダイオードでクランプすることによって高速化し得る。
この回路はＢｉ−ＣＭＯＳプロセスで製作するのが好適
である。
ス条件やレイアウト設計上の設計パラメータなどの設定
によって、図２の特性を自由に制御可能である。例え
ば、トランジスタＴr1のベース濃度を小さくすると、ト
ランジスタＴr1の電流増幅率β（即ち制御出力端子Ｃに
流れる電流ＩC ／電流ＩB ）を増加させることができ、
ピーク電流値ＩC を変えることができる。また、ピーク
電流値をとる制御出力端子Ｃ−コモン端子Ｅの電圧ＶCE
（ピーク電圧）については、ＭＯＳＦＥＴＴr2のＷ／Ｌ
比（ゲート幅−ゲート長比）を変えると、ＭＯＳＦＥＴ
Ｔr2のドレイン特性が変わり、スレーショルド電圧が変
わって、ピーク電圧ＶCEを変化させることができる。同
時に、ピーク電流値ＩC も変えることができる。バレー
電流については、ＭＯＳＦＥＴＴr2のチャンネル幅を広
げるとより小さくなる。さらに、素子のレイアウトによ
って非常に高速動作をさせることが可能である。また、
トランジスタＴr1のベース−コレクタ間をショットキー
ダイオードでクランプすることによって高速化し得る。
この回路はＢｉ−ＣＭＯＳプロセスで製作するのが好適
である。
【００１８】図３の負性抵抗型双安定回路は、トランジ
スタ両方をＮチャンネルＭＯＳ型電界効果トランジスタ
（ＭＯＳＦＥＴ）Ｔr1，Ｔr2で構成されたもので、通常
のＣＭＯＳプロセスをそのまま使って１．２μｍルール
で製作されている。
スタ両方をＮチャンネルＭＯＳ型電界効果トランジスタ
（ＭＯＳＦＥＴ）Ｔr1，Ｔr2で構成されたもので、通常
のＣＭＯＳプロセスをそのまま使って１．２μｍルール
で製作されている。
【００１９】この回路は、電流ＩC と電圧ＶCEの間に図
４に示す特性を持ち、前述の回路と同様、負性抵抗が現
れる。この回路の電流増幅率（電流ＩC ／電流ＩB ）
は、１２．４となっている。この回路も図１の回路と同
様プロセス条件及び設計パラメータの設定によって、図
３の特性を自由に制御可能である。
４に示す特性を持ち、前述の回路と同様、負性抵抗が現
れる。この回路の電流増幅率（電流ＩC ／電流ＩB ）
は、１２．４となっている。この回路も図１の回路と同
様プロセス条件及び設計パラメータの設定によって、図
３の特性を自由に制御可能である。
【００２０】図１の回路と比較して、通常の集積回路技
術（ＣＭＯＳプロセス）とのコンパティビリティが良く
高集積化が可能になり、基板上に占める面積がバイポー
ラトランジスタと比較して非常に小さくなり、消費電力
が少なくなる、という利点がある。これは、ＳＲＡＭへ
の応用に向いている。また、新たな設備投資が不要で、
製造コストが低い、という利点がある。一方、電流増幅
率（電流ＩC ／電流ＩB ）を大きくとれない、電流駆動
能力が小さい、という欠点はあるが、これらは、プロセ
ス条件の設定または設計パラメータの変更によって、例
えば、ＭＯＳＦＥＴＴr1，Ｔr2のＷ／Ｌ比をかえること
で調節可能である。
術（ＣＭＯＳプロセス）とのコンパティビリティが良く
高集積化が可能になり、基板上に占める面積がバイポー
ラトランジスタと比較して非常に小さくなり、消費電力
が少なくなる、という利点がある。これは、ＳＲＡＭへ
の応用に向いている。また、新たな設備投資が不要で、
製造コストが低い、という利点がある。一方、電流増幅
率（電流ＩC ／電流ＩB ）を大きくとれない、電流駆動
能力が小さい、という欠点はあるが、これらは、プロセ
ス条件の設定または設計パラメータの変更によって、例
えば、ＭＯＳＦＥＴＴr1，Ｔr2のＷ／Ｌ比をかえること
で調節可能である。
【００２１】上述の回路以外に、図５に示すような構成
をとることが可能である。
をとることが可能である。
【００２２】これら図５の回路はいずれも、制御入力端
子Ｂへ一定の電流ＩB を流した時、図６に示すような電
圧制御型の負性抵抗特性をしめす。図５（ａ），（ｂ）
は、図１，図３の回路を構成するトランジスタの極性を
変えたものであり前述の回路とほぼ同様の動作をする。
図５（ｃ），（ｄ）はバイポーラトランジスタのみで構
成したもので、シリコンの場合ピーク電圧ＶCEはおよそ
０．６Ｖの一定の値になり、バレー電流は十分に小さく
ならず消費電流が大きくなるが、高速動作になるという
利点がある。
子Ｂへ一定の電流ＩB を流した時、図６に示すような電
圧制御型の負性抵抗特性をしめす。図５（ａ），（ｂ）
は、図１，図３の回路を構成するトランジスタの極性を
変えたものであり前述の回路とほぼ同様の動作をする。
図５（ｃ），（ｄ）はバイポーラトランジスタのみで構
成したもので、シリコンの場合ピーク電圧ＶCEはおよそ
０．６Ｖの一定の値になり、バレー電流は十分に小さく
ならず消費電流が大きくなるが、高速動作になるという
利点がある。
【００２３】
【発明の効果】以上の通り本発明の負性抵抗型双安定回
路によれば、定電流負荷若しくは抵抗負荷をつなぐこと
で、容易に双安定回路を作ることができ、これを用いて
メモリなどを構成することができる。また、制御入力と
コモンとの間のバイアス電流にてこの双安定回路の安定
点を調節でき、第１のトランジスタ及び第２のトランジ
スタをＭＯＳＦＥＴとした場合、負性抵抗型双安定回路
の特性に自由度を持たせ得るため、使用される設計条件
に応じて負性抵抗型双安定回路を応用することができ
る。
路によれば、定電流負荷若しくは抵抗負荷をつなぐこと
で、容易に双安定回路を作ることができ、これを用いて
メモリなどを構成することができる。また、制御入力と
コモンとの間のバイアス電流にてこの双安定回路の安定
点を調節でき、第１のトランジスタ及び第２のトランジ
スタをＭＯＳＦＥＴとした場合、負性抵抗型双安定回路
の特性に自由度を持たせ得るため、使用される設計条件
に応じて負性抵抗型双安定回路を応用することができ
る。
【図１】本発明の負性抵抗型双安定回路をＰＮＰバイポ
ーラトランジスタ及びＰチャンネルＭＯＳＦＥＴで構成
したときの回路図。
ーラトランジスタ及びＰチャンネルＭＯＳＦＥＴで構成
したときの回路図。
【図２】図１の回路の特性図。
【図３】本発明の負性抵抗型双安定回路をＮチャンネル
ＭＯＳＦＥＴで構成したときの回路図。
ＭＯＳＦＥＴで構成したときの回路図。
【図４】図３の回路の特性図。
【図５】本発明の負性抵抗型双安定回路の他の構成例の
回路図。
回路図。
【図６】本発明の負性抵抗型双安定回路の負性抵抗を表
す図。
す図。
【図７】負性抵抗素子の一般的特性図。
Ｔr1，Ｔr2…バイポーラトランジスタまたはＭＯＳＦＥ
Ｔ Ｂ…制御入力端子 Ｃ…制御出力端子 Ｅ…コモン端子
Ｔ Ｂ…制御入力端子 Ｃ…制御出力端子 Ｅ…コモン端子
Claims (4)
- 【請求項１】 キャリア制御電極と、このキャリア制御
電極に制御されるキャリアが流出するキャリア出力電極
と、前記キャリアが流入するキャリア入力電極とを有し
た第１のトランジスタ及び前記第１のトランジスタと同
じ前記キャリアで動作する第２のトランジスタを備え、 前記第１のトランジスタのキャリア制御電極と前記第２
のトランジスタのキャリア出力電極を接続して制御入力
とし、 前記第１のトランジスタのキャリア出力電極と前記第２
のトランジスタのキャリア制御電極を接続して制御出力
とし、 前記第１のトランジスタのキャリア入力電極と前記第２
のトランジスタのキャリア入力電極を接続して前記制御
入力及び前記制御出力のコモンとしたことを特徴とする
負性抵抗型双安定回路。 - 【請求項２】 請求項１記載の負性抵抗型双安定回路に
ついて、 前記制御入力と前記コモンとの間に所定のバイアス電流
を流して前記制御出力と前記コモンとの間で負性抵抗が
発生する電圧を調節することを特徴とする負性抵抗の制
御方法。 - 【請求項３】 前記第１のトランジスタ及び前記第２の
トランジスタがＭＯＳＦＥＴであることを特徴とする請
求項１記載の負性抵抗型双安定回路。 - 【請求項４】 前記第１のトランジスタ及び前記第２の
トランジスタがバイポーラトランジスタであることを特
徴とする請求項１記載の負性抵抗型双安定回路。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29017291A JP3290452B2 (ja) | 1991-11-06 | 1991-11-06 | 負性抵抗型双安定回路とその負性抵抗の制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29017291A JP3290452B2 (ja) | 1991-11-06 | 1991-11-06 | 負性抵抗型双安定回路とその負性抵抗の制御方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05129899A true JPH05129899A (ja) | 1993-05-25 |
| JP3290452B2 JP3290452B2 (ja) | 2002-06-10 |
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ID=17752684
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29017291A Expired - Fee Related JP3290452B2 (ja) | 1991-11-06 | 1991-11-06 | 負性抵抗型双安定回路とその負性抵抗の制御方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3290452B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5519348A (en) * | 1992-12-28 | 1996-05-21 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Sense circuit, memory circuit, negative-resistance circuit, schmitt trigger, load circuit, level shifter, and amplifier |
| US7206329B2 (en) | 2004-01-30 | 2007-04-17 | Ricoh Printing Systems Co., Ltd. | Driving system for a semiconductor laser device |
| WO2022202238A1 (ja) * | 2021-03-25 | 2022-09-29 | 株式会社オートネットワーク技術研究所 | ラッチ回路及び給電制御装置 |
-
1991
- 1991-11-06 JP JP29017291A patent/JP3290452B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5519348A (en) * | 1992-12-28 | 1996-05-21 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Sense circuit, memory circuit, negative-resistance circuit, schmitt trigger, load circuit, level shifter, and amplifier |
| US7206329B2 (en) | 2004-01-30 | 2007-04-17 | Ricoh Printing Systems Co., Ltd. | Driving system for a semiconductor laser device |
| WO2022202238A1 (ja) * | 2021-03-25 | 2022-09-29 | 株式会社オートネットワーク技術研究所 | ラッチ回路及び給電制御装置 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3290452B2 (ja) | 2002-06-10 |
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