JPS6256111A - 樹脂封止金型 - Google Patents

樹脂封止金型

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JPS6256111A
JPS6256111A JP60196646A JP19664685A JPS6256111A JP S6256111 A JPS6256111 A JP S6256111A JP 60196646 A JP60196646 A JP 60196646A JP 19664685 A JP19664685 A JP 19664685A JP S6256111 A JPS6256111 A JP S6256111A
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JP
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template
mold
liquid layer
resin
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JP60196646A
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Yuichi Fukushima
福島 有一
Fujio Kobayashi
富士雄 小林
Shinichiro Takahashi
高橋 信一郎
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Original Assignee
Sony Corp
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    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/56Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C45/00Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
    • B29C45/17Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
    • B29C45/1742Mounting of moulds; Mould supports
    • B29C45/1744Mould support platens
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
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    • B29C2045/14098Positioning or centering articles in the mould fixing or clamping inserts having variable dimensions
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は例えば半導体集積回路チップをトランスファモ
ールド成形でパッケージするに使用して好適な樹脂封止
金型に関する。
〔発明の概要〕
本発明は例えば半導体集積回路チップをトランスファモ
ールド成形でパッケージするに使用される樹脂を流入す
る型が形成されたキャビティブロックとこのキャビティ
ブロックを保持する型板とを有する樹脂封止金型におい
て、型板と型板を支持する部材との間に液体層を配し、
この型板を液体層上の各部で上下移動可能としたことに
より、間隙なくキャビティブロック同士を重合せしめ、
パリの発生を抑えパリ処理作業を低減すると共に成形処
理時間の短縮及び成形プレス機の有効稼動を図れるよう
にしたものである。
〔従来の技術〕
従来、半導体集積回路チップをトランスファモールド成
形でパッケージするに使用される樹脂封止金型として第
3図に示す如きものが提案されている。
この第3図において(1)は樹脂が注入される型(2)
及びゲート(3)が形成されたキャビティブロックを示
し、第4図にも示す如くこのキャビティブロック(1)
 (1)で樹脂の流路となるランナ(4)を形成したラ
ンナブロック(5)を挾持し之等を型板(6)に定着し
たキャビティチェイ刈7)に固定すると共に樹脂が注入
される型(8)を形成したキャビティブロック(9) 
(91でランナブロックa〔を挟持し之等を型板(11
)に定着したキャビティチェイス(12)に固定し、キ
ャビティブロック(1)に形成された樹脂が注入される
型(2)とキャビティブロック(9)に形成された樹脂
が注入される型(8)とで半導体集積回路チップを樹脂
封止するためのキャビティ (13)を形成する如くキ
ャビティブロック(11とキャビティブロック(9)が
重合し得る様にすると共に型板(6)及び(11)にヒ
ータ(14)及び(15)と温度検出素子(工6)及び
(17)を設ける如くして樹脂封止金型が構成されてい
る。
この様に構成された樹脂封止金型において半導体集積回
路チップを例えばエポキシ樹脂で封止する場合には、先
ず第5図に示す如く樹脂封止金型を支柱(19)を介し
て支持される成形プレス機(20)に配し、次に第6図
に示す如く半導体集積回路チップ(21)をリードフレ
ーム(22)上に載置し、半導体集積回路チップ(21
)の電極とリードフレーム(22)に設けられたリード
部とをAu線(23)で接続した後、このリードフレー
ム(22)を半導体集積回路チップ(21)の載置部が
キャビティ (13)の略中央部に配される如くキャビ
ティブロック(1)上に載せ、このリードフレーム(2
2)をキャビティブロック(])と(9)とで挟持圧接
する如く支持する。次に型板(6)及び(11)に所定
の電流を供給し、キャビティブロック(1)及び(9)
が共に170℃になる如く加熱した後、溶融した130
tのエポキシ樹脂をランナ(4)及びゲート(3)を介
してキャビティ(13)内に加圧注入して硬化させるこ
とによって第7図に示す如くリードフレーム(22)上
にエポキシ樹脂で封止された半導体集積回路チップを得
ることができる。
しかしながら、従来の樹脂封止金型においては板厚のバ
ラツキや金型を160℃〜180℃に加熱することから
生ずる熱歪の影響で第8図に示す如くキャビティブロッ
ク(1)と(9)との合わせ面が良好に圧接せず、間隙
(23a )  (23b )  (23c )  ・
・・を生じ、この間隙(23a)  (23b)  (
23c)  ・・・からキャビティ (13)に注入さ
れた樹脂が流出することによってパリを生じ、このパリ
を後の工程で取り除かなければならないという不都合が
あった。
そこで第9図に示す如くキャビティブロック(1)を皿
バネ等の強力バネ(24)で支持し、板厚のバラツキや
熱歪による影響を無くすことが提案されているが、この
場合、キャビティチェイス(7)やランナブロク(5)
とキャビティブロック(1)との間に樹脂が流れ込み、
キャビティブロック(11が動かなくなってしまい、却
ってパリが発生してしまうという不都合があった。
そこで従来、第1O図に示す如くパリ発生個所に対応す
る型板(6)と支柱(19)との間に薄板(25)を挟
着し、キャビティブロック(1)と(9)との合わせ面
に間隙(23a)  (23b)  (23c)  ・
・・を生じさせず良好に圧接し、パリの発生を抑えよう
とすることが提案されている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、薄板(25)による調整は長時間を要し
、また型交換や成形プレス機(20)の交換の度に再調
整を要し、成形処理時間に長時間を要すると共に成形プ
レス機(20)の有効稼動を図れないという不都合があ
った。
本発明は、斯る点に鑑み、薄板による調整を要せず、パ
リの発生を抑え、パリ処理作業を低減できると共に成形
時間の短縮及び成形プレス機の有効稼動を図れるように
した樹脂封止金型を提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、第1図に示す如く、樹脂を注入する型(21
(8)が形成されたキャビティブロック(1) (91
とこのキャビティブロック(1) (91を保持する型
板(61(11)とを有する樹脂封止金型において、型
板(61(11)と型板(6)(11)を支持する部材
(26)との間に液体1(27>を配し、型板(6)(
11)を液体層(27)上の各部で上下移動可能とした
ものである。
〔作用〕
斯る本発明に依れば、型板(61(11)と支持部材(
26)との間に液体層(27)が設けられているので、
キャビティブロック(11と(9)との重合面に板厚の
相違による間隙があったとしても型締めの際に液体層(
27)に応力が生じ、この応力が型板(6)(11)面
に均一に働くことによって重合面の当たりの強弱に対応
して型板+61(11)の各部が上又は下方向に移動し
、重合面のすべての部分の当たりが均一になり、間隙が
無くなる。
また加熱時に熱歪が生じキャビティブロック(1)と(
9)との重合面の当たりに強弱が生じた場合にも、液体
層(27)の応力が型板(6) (13,)の面に均一
に働くことによって、重合面の当たりの強弱に対応して
型板(61(11)の各部が上又は下方向に移動し重合
面のすべての部分の当たりが均一になるので間隙が生ず
ることはない。
〔実施例〕
以下、第1図を参照して本発明の樹脂封止金型の一実施
例につき説明しよう。この第1図において第3図に対応
する部分には同一符号を付し、その詳細説明は省略する
この第1図において、(6)は型板を示し、本例ではこ
の型板(6)を支持部材(26)、J二に設げたオイル
1(27)を介して配すると共に型板(6)の周辺にオ
イルシール(28)を設け、この型板(6)をオイル層
(27)上の各部で上下移動可能とする如くし、その他
は従来例と同様に樹脂が注入される型(21及びゲート
(3)が形成されたキャビティブロック(1)口)で樹
脂の流路となるランナ(4)を形成したランチブロック
(5)を挟持し之等を型板(6)に定着したキャビティ
チェイス(7)に固定すると共に樹脂が注入される型(
8)が形成されたキャビティブロック(9) (9)で
ランナブロックQ@を挾持し之等を型板(11)に定着
したキャビティチェイス(12)に固定し、キャビティ
ブロック(1)に形成された樹脂が注入される型(2)
とキャビティブロック(9)に形成された樹脂が注入さ
れる型(8)とで半導体集積回路チップを樹脂封止する
ためのキャビティ (13)を形成する如くキャビティ
ブロック(1)とキャビティブロック(9)とを重合す
ると共に型板(6)及び(11)にヒータ(工4)及び
(15)と温度検出素子(16)及び(17)を設ける
如くして樹脂封止金型を構成する。
この様に構成された樹脂封止金型において半導体集積回
路チップを例えばエポキシ樹脂で封止する場合には、従
来例の場合と同様に先ず第5図に示す如く樹脂封止金型
を支柱(19)を介して支持される成形プレス機(20
)に配し、次に第6図に示す如く半導体集積回路チップ
(21)をリードフレーム(22)上に載置し、半導体
集積回路チップ(21)の電極とリードフレーム(22
)に設けられたリード部とをAu線(23)で接続した
後、このリードフレーム(22)を半導体集櫂回路チッ
プ(21)の載置部がキャビティ (I3)の略中央部
に配される如くキャビティブロック(1)上に載せ、こ
のリードフレーム(22)をキャビティブロック(1)
と(9)とで挟持圧接する如く支持する。次に型板(6
)及び(11)に所定の電流を供給し、キャビティブロ
ック(1)及び(9)が共に170℃になる如く加熱し
た後、溶融した130℃のエポキシ樹脂をランナ(4)
及びゲ−H3)を介してキャビティ (13)内に加圧
注入して硬化させることによって第7図に示す如くリー
ドフレーム(22)上にエポキシ樹脂で封止された半導
体集積回路チップを得ることができる。
この場合、本実施例に依れば、型板(6)と支持部材(
26)との間にオイル!(27)が設けられているので
、キャビティブロック(1)と(9)との重合面に板厚
の相違による間隙があったとしても型締めの際にオイル
M(211に応力が生じ、この応力が型板(6)面に均
一に働くので、重合面の当たりの強弱に対応して型板(
6)の各部が上又は下に移動し、重合面のすべての部分
の当たりが均一になり、間隙が無くなる。
また加熱時に熱歪が生じキャビティブロック(1)と(
9)との重合面の当たりに強弱が生じた場合にも、オイ
ル層(27)の応力が型板(6)面に均一に働くことに
よって、重合面の当たりの強弱に対応して型板(6)の
各部が上又は下方向に移動し、重合面のすべての部分の
当たりが均一になるので間隙が生ずることがない。
従って、本発明に依れば、間隙なくキャビティブロック
(11(91同士を重合せしめ、パリの発生を抑え得る
のでパリ処理作業を低減できると共に薄板(25)によ
る調整を必要としないし、また型交換又は成形プレス機
(20)の交換に際しても薄板(25)の場合の如き再
調整の必要がないので成形処理時間の短縮及び成形プレ
ス機(2o)の有効稼動を図れるという利益がある。
尚、上述実施例においては型板(6)とほぼ同様の広す
のオイル層(27)を設け、このオイル層(27)上に
型板(6)を配した場合について述べたが、この代りに
、第2図に示す如く支持部材(26)にシリンダ(2B
)  (28)  ・・・を設け、このシリンダ(2B
)  (28)  ・・・間をオイル回路(29)  
(29)・・・で連結し、型板(6)をシリンダ(28
)  (2B)・・・に配したピストン(30)  (
30)  ・・・ヲ介して配する如くしても、上述と同
様の作用効果を得ることができる。
また上述実amにおいては液体層(27)の液体として
オイルを使用した場合について述べたが、その他種々の
液体を使用し得ることは勿論である。
更に本発明は上述実施例に限らず、本発明の要しを逸脱
することなくその他種々の構成が取り得ることは勿論で
ある。
〔発明の効果〕
本発明に依れば、型板と型板を支持する部材との間に液
体層を配したので、間隙なくキャビティブロック同士を
重合し、パリの発生を抑えパリ処理費用を低減できると
いう利益があると共に薄板による調整を必要としないし
、また型交換又は成形プレス機交換に際しても薄板の場
合の如き再調整を必要としないので、成形処理時間の短
縮及び成形プレス機の有効稼動を図れるという利益があ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明樹脂封止金型の一実施例の要部を示す断
面図、第2図は本発明の他の実施例の要部を示す断面図
、第3図は従来例の要部を示す断面図、第4図1第5図
、第6図、第7図、第8図。 第9図及び第10図は夫々従来例の説明に供する線図で
ある。 (1)及び(9)は夫々キャビティブロック、(6)及
び(11)は夫々型板、(26)は支持部材、(27)
は液体層である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 樹脂を注入する型が形成されたキャビティブロックと該
    キャビティブロックを保持する型板とを有する樹脂封止
    金型において、上記型板と上記型板を支持する部材との
    間に液体層を配し、上記型板を液体層上の各部で上下移
    動可能としたことを特徴とする樹脂封止金型。
JP60196646A 1985-09-05 1985-09-05 樹脂封止金型 Pending JPS6256111A (ja)

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