JPS62239398A - 半導体メモリ - Google Patents
半導体メモリInfo
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- JPS62239398A JPS62239398A JP61081711A JP8171186A JPS62239398A JP S62239398 A JPS62239398 A JP S62239398A JP 61081711 A JP61081711 A JP 61081711A JP 8171186 A JP8171186 A JP 8171186A JP S62239398 A JPS62239398 A JP S62239398A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- control signal
- chip selection
- semiconductor memory
- output
- internal circuit
- Prior art date
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- Granted
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 14
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 6
- 230000009849 deactivation Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/18—Address timing or clocking circuits; Address control signal generation or management, e.g. for row address strobe [RAS] or column address strobe [CAS] signals
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体メモリに関し、特にチップ選択入力信号
から決定される出カフ0−ティング時間(以後THzと
言う)を改善する半導体メモリに関−+2 〔従来の技術〕 従来半導体メモリは、チップ選択入力信号から作られる
1個の制御信号で内部回路及び出力トランジスタの制御
を行っており、かつ、チップ選択アクセス(以後TAC
8と言う。)を速くするためK。
から決定される出カフ0−ティング時間(以後THzと
言う)を改善する半導体メモリに関−+2 〔従来の技術〕 従来半導体メモリは、チップ選択入力信号から作られる
1個の制御信号で内部回路及び出力トランジスタの制御
を行っており、かつ、チップ選択アクセス(以後TAC
8と言う。)を速くするためK。
チップ選択時に前記制御信号が高速に発生する様に設計
されている。
されている。
上述した従来の半導体メモリは、内部回路制御信号の活
性時、出力データを速く出力するように設計しているた
め、非活性時、出力データは逆に遅くなる。即ち、出力
トランジスタの非活性化が遅れるので出カフ0−ティ/
グ時間THzが遅くなるという欠点がある。
性時、出力データを速く出力するように設計しているた
め、非活性時、出力データは逆に遅くなる。即ち、出力
トランジスタの非活性化が遅れるので出カフ0−ティ/
グ時間THzが遅くなるという欠点がある。
本発明の目的は上記従来の半導体メモリの欠点を改善し
、TACIIが高速で、かつ、TH2も高速である半導
体メモリを提供することにある。
、TACIIが高速で、かつ、TH2も高速である半導
体メモリを提供することにある。
本発明は、チップ選択入力信号より、内部回路制御信号
及び出力トランジスタ制御信号から成る2個の制御信号
を発生し、前記内部回路制御信号は半導体メモリの非活
性時よシ活性時に於て高速に発生し、前記出力トランジ
スタ制御信゛号は半導体メモリの活性時より非活性時に
於て高速に発生する機に構成されている。
及び出力トランジスタ制御信号から成る2個の制御信号
を発生し、前記内部回路制御信号は半導体メモリの非活
性時よシ活性時に於て高速に発生し、前記出力トランジ
スタ制御信゛号は半導体メモリの活性時より非活性時に
於て高速に発生する機に構成されている。
次に本発明の実施例について第1図を用いて説明する。
第1図は相補型MOSインバータで構成されているチッ
プ選択回路であり、QPI Chsz QpsはPチャ
ンネル屋MO8)ランジスタQNI、 Qwz、 QN
I、はNチャンネル型MO8)ランジスタである。また
、QPI QNIで構成されている相補型インバータを
インバータ1 、Qps、 Qptzで構成されている
相補型インバータ2 、QP3. QNIで構成されて
いる相補型インバータをインバータ3とし、インバータ
2の出力は内部回路制御信号C8′・インA−73の出
力は、出力トランジスタ制御信号c s ”を出力する
。
プ選択回路であり、QPI Chsz QpsはPチャ
ンネル屋MO8)ランジスタQNI、 Qwz、 QN
I、はNチャンネル型MO8)ランジスタである。また
、QPI QNIで構成されている相補型インバータを
インバータ1 、Qps、 Qptzで構成されている
相補型インバータ2 、QP3. QNIで構成されて
いる相補型インバータをインバータ3とし、インバータ
2の出力は内部回路制御信号C8′・インA−73の出
力は、出力トランジスタ制御信号c s ”を出力する
。
上記内部回路制御信号C8′は従来の内部回路制御信号
と違い、出力トランジスタの制御は行なわない。
と違い、出力トランジスタの制御は行なわない。
ここで、インバータ2のゲート幅(W)/)j−ト長(
L)のPチャンネルfiMO8)ランジスタとNチャン
ネル型MOSトランジスタの比率を例えばWP/L門:
WN/LN=1:10にかつ、インバータ3については
WP/LP:WN/LN=10:IK設定しておけばチ
ップ選択入力信号C8が活性時(例えばO)、内部回路
制御信号C8’が速く活性化されるためTiO2が高速
化できる。
L)のPチャンネルfiMO8)ランジスタとNチャン
ネル型MOSトランジスタの比率を例えばWP/L門:
WN/LN=1:10にかつ、インバータ3については
WP/LP:WN/LN=10:IK設定しておけばチ
ップ選択入力信号C8が活性時(例えばO)、内部回路
制御信号C8’が速く活性化されるためTiO2が高速
化できる。
また、チップ選択入力信号C8が非活性時(例えば3v
)、出力トランジスタ制御信号で百″が速く非活性にな
るためTHEが高速にできる。ここで、W、、W、はそ
れぞれPチャンネル型MO8)ランジスタ、Nチャンネ
ル型トランジスタのゲート幅を示し、LP、LNはそれ
ぞれPチャンネル型MOSト?ンジスタ、Nチャンネル
型MO8)ランジスタのゲート長を示す。
)、出力トランジスタ制御信号で百″が速く非活性にな
るためTHEが高速にできる。ここで、W、、W、はそ
れぞれPチャンネル型MO8)ランジスタ、Nチャンネ
ル型トランジスタのゲート幅を示し、LP、LNはそれ
ぞれPチャンネル型MOSト?ンジスタ、Nチャンネル
型MO8)ランジスタのゲート長を示す。
尚、チップ選択入力信号C81内部回路制御信号cs’
、出力トランジスタ制御信号τg″及びデータ出力OU
Tのタイミングチャートを第2図に示す。
、出力トランジスタ制御信号τg″及びデータ出力OU
Tのタイミングチャートを第2図に示す。
以上説明したように本発明によれば、チップ選択回路に
よりて作られる内部口、路制御信号の他に出力トランジ
スタのみを制御する出力トランジスタ制御信号を設ける
ことによりTiO2、Tstzを同時に高速化できる。
よりて作られる内部口、路制御信号の他に出力トランジ
スタのみを制御する出力トランジスタ制御信号を設ける
ことによりTiO2、Tstzを同時に高速化できる。
゛
第1図は本発明の寧施例のチップ選択回路図、第2図は
本実施例のタイミングチャートである。 1.2.3−・・・・・相補型MOSインバータ、Qp
t*Qpt*Qps・・・・・・Pチャンネル屋MOS
トtンジスタ、QNI #QN2 tQNs・・・・・
・Nチャンネル型MOSトランジスタ、C8・・・・−
・チップ選択入力信号、C8′内部回路制御信号、C8
・・・・・・出力トランジスタ制御信号、OUT・・・
・・・データ出力。
本実施例のタイミングチャートである。 1.2.3−・・・・・相補型MOSインバータ、Qp
t*Qpt*Qps・・・・・・Pチャンネル屋MOS
トtンジスタ、QNI #QN2 tQNs・・・・・
・Nチャンネル型MOSトランジスタ、C8・・・・−
・チップ選択入力信号、C8′内部回路制御信号、C8
・・・・・・出力トランジスタ制御信号、OUT・・・
・・・データ出力。
Claims (1)
- チップ選択入力信号より、内部回路制御信号及び出力ト
ランジスタ制御信号から成る2個の制御信号を発生し、
前記内部回路制御信号は、半導体メモリの非活性時より
活性時に於て高速に発生し、前記出力トランジスタ制御
信号は半導体メモリの活性時より非活性時に於て高速に
発生する様に構成されていることを特徴とする半導体メ
モリ。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61081711A JPH0644393B2 (ja) | 1986-04-08 | 1986-04-08 | 半導体メモリ |
GB8708439A GB2190558B (en) | 1986-04-08 | 1987-04-08 | Semiconductor memory circuit |
US07/036,765 US4841488A (en) | 1986-04-08 | 1987-04-08 | Semiconductor memory circuit with improved timing and delay control for data read out |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61081711A JPH0644393B2 (ja) | 1986-04-08 | 1986-04-08 | 半導体メモリ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62239398A true JPS62239398A (ja) | 1987-10-20 |
JPH0644393B2 JPH0644393B2 (ja) | 1994-06-08 |
Family
ID=13753973
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61081711A Expired - Lifetime JPH0644393B2 (ja) | 1986-04-08 | 1986-04-08 | 半導体メモリ |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4841488A (ja) |
JP (1) | JPH0644393B2 (ja) |
GB (1) | GB2190558B (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2569554B2 (ja) * | 1987-05-13 | 1997-01-08 | 三菱電機株式会社 | ダイナミツクram |
US5387827A (en) * | 1990-01-20 | 1995-02-07 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit having logic gates |
JP2744115B2 (ja) * | 1990-05-21 | 1998-04-28 | 株式会社東芝 | 疑似スタティックramの制御回路 |
JP2900523B2 (ja) * | 1990-05-31 | 1999-06-02 | 日本電気株式会社 | 不揮発性半導体メモリ装置の書込回路 |
NL9001500A (nl) * | 1990-07-02 | 1992-02-03 | Philips Nv | Geintegreerde schakeling voorzien van een invoer buffer schakeling. |
US5289403A (en) * | 1991-07-08 | 1994-02-22 | Hewlett-Packard Company | Self-timed content addressable memory access mechanism with built-in margin test feature |
JPH05128866A (ja) * | 1991-10-31 | 1993-05-25 | Toshiba Corp | ランダムアクセスメモリの書き込み、読出し制御回路 |
KR940026946A (ko) * | 1993-05-12 | 1994-12-10 | 김광호 | 데이타출력 확장방법과 이를 통한 신뢰성있는 유효데이타의 출력이 이루어지는 반도체집적회로 |
US5424985A (en) * | 1993-06-30 | 1995-06-13 | Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. | Compensating delay element for clock generation in a memory device |
JP2551338B2 (ja) * | 1993-07-23 | 1996-11-06 | 日本電気株式会社 | 情報処理装置 |
US5532969A (en) * | 1994-10-07 | 1996-07-02 | International Business Machines Corporation | Clocking circuit with increasing delay as supply voltage VDD |
EP1197867A3 (en) * | 1996-06-06 | 2005-12-14 | Freescale Semiconductor, Inc. | Method for accessing memory |
US5875482A (en) * | 1996-06-06 | 1999-02-23 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for programmable chip select negation in a data processing system |
JP2001006360A (ja) * | 1999-06-22 | 2001-01-12 | Mitsubishi Electric Corp | 同期型半導体記憶装置 |
CN106875975B (zh) * | 2016-12-29 | 2019-11-15 | 北京兆易创新科技股份有限公司 | 一种退出死机状态的方法和装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5634186A (en) * | 1979-08-29 | 1981-04-06 | Hitachi Ltd | Bipolar memory circuit |
JPS58203694A (ja) * | 1982-05-21 | 1983-11-28 | Nec Corp | メモリ回路 |
JPS58220291A (ja) * | 1982-06-15 | 1983-12-21 | Nec Corp | 信号伝般時間制御回路 |
JPS60111391A (ja) * | 1983-11-21 | 1985-06-17 | Nec Corp | 半導体出力回路 |
JPS60193193A (ja) * | 1984-03-13 | 1985-10-01 | Toshiba Corp | メモリlsi |
US4710903A (en) * | 1986-03-31 | 1987-12-01 | Wang Laboratories, Inc. | Pseudo-static memory subsystem |
-
1986
- 1986-04-08 JP JP61081711A patent/JPH0644393B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1987
- 1987-04-08 US US07/036,765 patent/US4841488A/en not_active Expired - Fee Related
- 1987-04-08 GB GB8708439A patent/GB2190558B/en not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2190558B (en) | 1989-11-29 |
GB2190558A (en) | 1987-11-18 |
JPH0644393B2 (ja) | 1994-06-08 |
GB8708439D0 (en) | 1987-05-13 |
US4841488A (en) | 1989-06-20 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |