CN106875975B - 一种退出死机状态的方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供一种退出死机状态的方法和装置，方法包括：当SPIFlash进入死机状态且无法进行软件复位时，拉低CSB引脚电平，保持SCLK引脚电平为预设电平；在CSB引脚电平首次拉低后，拉低SI引脚电平；保持CSB引脚电平以第一周期进行翻转，和保持SI引脚电平以第二周期进行翻转，同时在每个CSB引脚电平的上升沿采样SI引脚电平或在每个CSB引脚电平的下降沿采样SI引脚电平；当采样结果为预设复位命令且SCLK引脚电平为预设电平时，启动SPI Flash的复位机制。在SPI Flash进入死机状态且无法进行软件复位时，本发明实施例在无需增加额外硬件的情况下，对SPI Flash进行复位。

Description

一种退出死机状态的方法和装置

技术领域

本发明涉及存储器技术领域，特别是涉及一种退出死机状态的方法和一种退出死机状态的装置。

背景技术

图1是串行非易失闪存存储器(SPI Flash)的引脚示意图，其中，CSB为输入引脚，接收片选使能信号。SO(IO1)为输入输出引脚，用于输出数据。WPB(IO2)为输入输出引脚，接收写保护使能信号。VSS为接地引脚。SI(IO0)为输入输出引脚，接收写入数据。SCLK为输入引脚，接收串行同步时钟。HOLDB(IO3)为输入引脚，接收保持信号。VCC为电源引脚。可以看出，在硬件上，SPI Flash的8个引脚均具有相应的信号功能，如果要添加专用复位信号的引脚将会引入额外的硬件开销。

现有技术中，通过软件复位(Soft Reset)的方式对SPI Flash进行复位。

现有技术存在以下缺陷：软件复位取决于SPI Flash必须工作在能够有效接收并识别系统命令的状态下。当一些非法操作使得SPI Flash进入死机状态而不能识别命令时，将无法通过软件来复位SPI Flash，该SPI Flash将无法正常使用。

发明内容

鉴于上述问题，本发明实施例的目的在于提供一种退出死机状态的方法和相应的一种退出死机状态的装置，以解决现有技术中SPI Flash进入死机状态而不能识别命令时，无法通过软件复位SPI Flash的问题。

为了解决上述问题，本发明实施例公开了一种退出死机状态的方法，应用于SPIFlash，所述SPI Flash包括CSB引脚、SCLK引脚和SI引脚，所述退出死机状态的方法包括：

当所述SPI Flash进入死机状态且无法进行软件复位时，拉低所述CSB引脚电平，并保持所述SCLK引脚电平为预设电平；

在所述CSB引脚电平首次拉低后，拉低所述SI引脚电平；

保持所述CSB引脚电平以第一周期进行翻转，和保持所述SI引脚电平以第二周期进行翻转，同时在每个所述CSB引脚电平的上升沿采样所述SI引脚电平或在每个所述CSB引脚电平的下降沿采样所述SI引脚电平；

当采样结果为预设复位命令且所述SCLK引脚电平为所述预设电平时，启动所述SPI Flash的复位机制。

可选地，在所述在每个所述CSB引脚电平的上升沿采样所述SI引脚电平或在每个所述CSB引脚电平的下降沿采样所述SI引脚电平之后，还包括：

当所述采样结果不为预设复位命令或所述SCLK引脚电平翻转时，返回所述拉低所述CSB引脚电平，并保持所述SCLK引脚电平为预设电平的步骤。

可选地，所述预设电平为低电平或高电平。

可选地，所述SPI Flash包括用于检测所述CSB引脚电平的CSB检测电路，所述第一周期大于所述CSB检测电路的响应时间。

可选地，所述SPI Flash包括用于检测所述SI引脚电平的SI检测电路，所述第二周期大于所述SI检测电路的响应时间。

为了解决上述问题，本发明实施例还公开了一种退出死机状态的装置，应用于SPIFlash，所述SPI Flash包括CSB引脚、SCLK引脚和SI引脚，所述退出死机状态的装置包括：

第一电平设置模块，用于当所述SPI Flash进入死机状态且无法进行软件复位时，拉低所述CSB引脚电平，并保持所述SCLK引脚电平为预设电平；

第二电平设置模块，用于在所述CSB引脚电平首次拉低后，拉低所述SI引脚电平；

采样模块，用于保持所述CSB引脚电平以第一周期进行翻转，和保持所述SI引脚电平以第二周期进行翻转，同时在每个所述CSB引脚电平的上升沿采样所述SI引脚电平或在每个所述CSB引脚电平的下降沿采样所述SI引脚电平；

复位模块，用于当采样结果为预设复位命令且所述SCLK引脚电平为所述预设电平时，启动所述SPI Flash的复位机制。

可选地，在所述采样模块之后，还包括：

返回模块，用于当所述采样结果不为预设复位命令或所述SCLK引脚电平翻转时，返回所述第一电平设置模块。

可选地，所述预设电平为低电平或高电平。

可选地，所述SPI Flash包括用于检测所述CSB引脚电平的CSB检测电路，所述第一周期大于所述CSB检测电路的响应时间。

可选地，所述SPI Flash包括用于检测所述SI引脚电平的SI检测电路，所述第二周期大于所述SI检测电路的响应时间。

本发明实施例包括以下优点：在SPI Flash进入死机状态且无法进行软件复位时，首先拉低CSB引脚电平，并保持SCLK引脚电平为预设电平，在CSB引脚电平首次拉低后，拉低SI引脚电平，进而保持CSB引脚电平以第一周期进行翻转，和保持SI引脚电平以第二周期进行翻转，同时在每个CSB引脚电平的上升沿采样SI引脚电平或在每个CSB引脚电平的下降沿采样SI引脚电平，并当采样结果为预设复位命令且SCLK引脚电平为预设电平时，启动SPIFlash的复位机制。这样，利用SPI Flash中的CSB引脚采样SI引脚信号，实现了启动SPIFlash的复位机制，有效降低了SPI Flash不能复位的概率，极大提高了SPI Flash的使用寿命，且该复位过程中无需增加额外硬件。

附图说明

图1是SPI Flash的引脚示意图；

图2是本发明的一种退出死机状态的方法实施例的步骤流程图；

图3是本发明的另一种退出死机状态的方法实施例的步骤流程图；

图4是本发明的一种退出死机状态的方法实施例的时序示意图；

图5是本发明的一种退出死机状态的装置实施例的结构框图；

图6是本发明的另一种退出死机状态的装置实施例的结构框图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

参照图2，其示出了本发明的一种退出死机状态的方法实施例的步骤流程图，该退出死机状态的方法应用于包括CSB引脚(输入引脚)、SCLK引脚(串行同步时钟输入引脚)和SI引脚(输入输出引脚，接收写入数据)的SPI Flash。该退出死机状态的方法具体可以包括如下步骤：

步骤S10，当SPI Flash进入死机状态且无法进行软件复位时，拉低CSB引脚电平，并保持SCLK引脚电平为预设电平。

其中，步骤S10保持SCLK引脚电平为预设电平不翻转，可以防止其它命令输入SPIFlash，避免干扰本发明实施例的退出死机状态的方法的执行。具体地，步骤S10可以向SCLK引脚外加预设电平来实现保持SCLK引脚电平为预设电平。

步骤S20，在CSB引脚电平首次拉低后，拉低SI引脚电平。

步骤S30，保持CSB引脚电平以第一周期进行翻转，和保持SI引脚电平以第二周期进行翻转，同时在每个CSB引脚电平的上升沿采样SI引脚电平或在每个CSB引脚电平的下降沿采样SI引脚电平。

步骤S40，当采样结果为预设复位命令且SCLK引脚电平为预设电平时，启动SPIFlash的复位机制。

在本发明的另一个实施例中，参照图3，在步骤S30在每个CSB引脚电平的上升沿采样SI引脚电平或在每个CSB引脚电平的下降沿采样SI引脚电平之后，还可以包括：

步骤S50，当采样结果不为预设复位命令或SCLK引脚电平翻转时，返回拉低CSB引脚电平，并保持SCLK引脚电平为预设电平的步骤。

在步骤S50之后，执行步骤S10、步骤S20、步骤S30、步骤S50，直至采样结果为预设复位命令。

可选地，在本发明的一个实施例中，预设电平可以为低电平或高电平。其中，步骤S10可以将SCLK引脚接地，以使SCLK引脚电平保持为低电平；步骤S10可以将SCLK引脚外接电源，以使SCLK引脚电平保持为高电平。

可选地，在本发明的一个实施例中，SPI Flash可以包括用于检测CSB引脚电平的CSB检测电路，第一周期可以大于CSB检测电路的响应时间。可选地，第一周期可以大于或等于100ns，其中，CSB引脚电平处于低电平的时间可以大于或等于50ns，CSB引脚电平处于高电平的时间可以大于或等于50ns。可选地，在本发明的一个实施例中，SPI Flash可以包括用于检测SI引脚电平的SI检测电路，第二周期可以大于SI检测电路的响应时间。可选地，SI引脚电平的建立时间可以大于或等于5ns，SI引脚电平的保持时间可以大于或等于5ns。具体地，第二周期可以根据第一周期、预设复位命令以及SI引脚电平对应SI检测电路的响应时间进行设置。

在本发明的一个具体实施例中，参照图4，当SPI Flash进入死机状态且无法进行软件复位时，步骤S10拉低CSB引脚电平，并保持SCLK引脚电平为低电平，在CSB引脚电平首次拉低后，步骤S20拉低SI引脚电平，步骤S30保持CSB引脚电平以第一周期(低电平的时间tCSL+高电平的时间tCSH)进行翻转，保持SI引脚电平以第二周期进行翻转，且步骤S30在每个CSB引脚电平的上升沿采样SI引脚电平，当采样结果为预设复位命令(如：0101)且SCLK引脚电平保持为低电平时，步骤S40启动SPI Flash的复位机制。其中，步骤S30进行了4次采样。图4中，Reset为SPI Flash内部的复位信号，当Reset为低电平时，SPI Flash内部启动复位程序，SPI Flash内部复位成功后，SPI Flash内部将Reset置为1，此后SPI Flash内部可正常使用，tReset为复位时间。当步骤S40启动SPI Flash的复位机制后，Reset信号拉低。

本发明实施例的退出死机状态的方法包括以下优点：在SPI Flash进入死机状态且无法进行软件复位时，首先拉低CSB引脚电平，并保持SCLK引脚电平为预设电平，在CSB引脚电平首次拉低后，拉低SI引脚电平，进而保持CSB引脚电平以第一周期进行翻转，和保持SI引脚电平以第二周期进行翻转，同时在每个CSB引脚电平的上升沿采样SI引脚电平或在每个CSB引脚电平的下降沿采样SI引脚电平，并当采样结果为预设复位命令且SCLK引脚电平为预设电平时，启动SPI Flash的复位机制。这样，利用SPI Flash中的CSB引脚采样SI引脚信号，实现了启动SPI Flash的复位机制，有效降低了SPI Flash不能复位的概率，极大提高了SPI Flash的使用寿命，且该复位过程中无需增加额外硬件。

需要说明的是，对于方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明实施例并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明实施例，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作并不一定是本发明实施例所必须的。

参照图5，其示出了本发明的一种退出死机状态的装置实施例的结构框图，该退出死机状态的装置应用于包括CSB引脚(输入引脚)、SCLK引脚(串行同步时钟输入引脚)和SI引脚(输入输出引脚，接收写入数据)的SPI Flash。该退出死机状态的装置具体可以包括如下模块：

第一电平设置模块10，用于当SPI Flash进入死机状态且无法进行软件复位时，拉低CSB引脚电平，并保持SCLK引脚电平为预设电平。

第二电平设置模块20，用于在CSB引脚电平首次拉低后，拉低SI引脚电平。

采样模块30，用于保持CSB引脚电平以第一周期进行翻转，和保持SI引脚电平以第二周期进行翻转，同时在每个CSB引脚电平的上升沿采样SI引脚电平或在每个CSB引脚电平的下降沿采样SI引脚电平。

复位模块40，用于当采样结果为预设复位命令且SCLK引脚电平为预设电平时，启动SPI Flash的复位机制。

在本发明的另一个实施例中，参照图6，在采样模块30之后，退出死机状态的装置还可以包括：

返回模块50，用于当采样结果不为预设复位命令或SCLK引脚电平翻转时，返回第一电平设置模块10。

可选地，在本发明的一个实施例中，预设电平为低电平或高电平。

可选地，在本发明的一个实施例中，SPI Flash可以包括用于检测CSB引脚电平的CSB检测电路，第一周期可以大于CSB检测电路的响应时间。可选地，在本发明的一个实施例中，SPI Flash可以包括用于检测SI引脚电平的SI检测电路，第二周期可以大于SI检测电路的响应时间。

本发明实施例的退出死机状态的装置包括以下优点：在SPI Flash进入死机状态且无法进行软件复位时，首先第一电平设置模块拉低CSB引脚电平，并保持SCLK引脚电平为预设电平，在CSB引脚电平首次拉低后，第二电平设置模块拉低SI引脚电平，进而采样模块保持CSB引脚电平以第一周期进行翻转，和保持SI引脚电平以第二周期进行翻转，同时在每个CSB引脚电平的上升沿采样SI引脚电平或在每个CSB引脚电平的下降沿采样SI引脚电平，并当采样结果为预设复位命令且SCLK引脚电平为预设电平时，复位模块启动SPI Flash的复位机制。这样，利用SPI Flash中的CSB引脚采样SI引脚信号，实现了启动SPI Flash的复位机制，有效降低了SPI Flash不能复位的概率，极大提高了SPI Flash的使用寿命，且该复位过程中无需增加额外硬件。

对于装置实施例而言，由于其与方法实施例基本相似，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。

本领域内的技术人员应明白，本发明实施例的实施例可提供为方法、装置、或计算机程序产品。因此，本发明实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明实施例是参照根据本发明实施例的方法、终端设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理终端设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理终端设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理终端设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理终端设备上，使得在计算机或其他可编程终端设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程终端设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

尽管已描述了本发明实施例的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明实施例范围的所有变更和修改。

最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。

以上对本发明所提供的一种退出死机状态的方法和一种退出死机状态的装置，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种退出死机状态的方法，应用于SPIFlash，所述SPI Flash包括输入引脚、串行同步时钟输入引脚和输入输出引脚，其特征在于，所述退出死机状态的方法包括：

当所述SPI Flash进入死机状态且无法进行软件复位时，拉低所述输入引脚电平，并保持所述串行同步时钟输入引脚电平为预设电平；

在所述输入引脚电平首次拉低后，拉低所述输入输出引脚电平；

保持所述输入引脚电平以第一周期进行翻转，和保持所述输入输出引脚电平以第二周期进行翻转，同时在每个所述输入引脚电平的上升沿采样所述输入输出引脚电平或在每个所述输入引脚电平的下降沿采样所述输入输出引脚电平；

当采样结果为预设复位命令且所述串行同步时钟输入引脚电平为所述预设电平时，启动所述SPIFlash的复位机制。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述在每个所述输入引脚电平的上升沿采样所述输入输出引脚电平或在每个所述输入引脚电平的下降沿采样所述输入输出引脚电平之后，还包括：

当所述采样结果不为预设复位命令或所述串行同步时钟输入引脚电平翻转时，返回所述拉低所述输入引脚电平，并保持所述串行同步时钟输入引脚电平为预设电平的步骤。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设电平为低电平或高电平。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述SPI Flash包括用于检测所述输入引脚电平的输入检测电路，所述第一周期大于所述输入检测电路的响应时间。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述SPI Flash包括用于检测所述输入输出引脚电平的输入输出检测电路，所述第二周期大于所述输入输出检测电路的响应时间。

6.一种退出死机状态的装置，应用于SPIFlash，所述SPI Flash包括输入引脚、串行同步时钟输入引脚和输入输出引脚，其特征在于，所述退出死机状态的装置包括：

第一电平设置模块，用于当所述SPI Flash进入死机状态且无法进行软件复位时，拉低所述输入引脚电平，并保持所述串行同步时钟输入引脚电平为预设电平；

第二电平设置模块，用于在所述输入引脚电平首次拉低后，拉低所述输入输出引脚电平；

采样模块，用于保持所述输入引脚电平以第一周期进行翻转，和保持所述输入输出引脚电平以第二周期进行翻转，同时在每个所述输入引脚电平的上升沿采样所述输入输出引脚电平或在每个所述输入引脚电平的下降沿采样所述输入输出引脚电平；

复位模块，用于当采样结果为预设复位命令且所述串行同步时钟输入引脚电平为所述预设电平时，启动所述SPIFlash的复位机制。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，在所述采样模块之后，还包括：

返回模块，用于当所述采样结果不为预设复位命令或所述串行同步时钟输入引脚电平翻转时，返回所述第一电平设置模块。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述预设电平为低电平或高电平。

9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述SPI Flash包括用于检测所述输入引脚电平的输入检测电路，所述第一周期大于所述输入检测电路的响应时间。

10.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述SPI Flash包括用于检测所述输入输出引脚电平的输入输出检测电路，所述第二周期大于所述输入输出检测电路的响应时间。