JPS62120547A - インサ−キツトエミユレ−タ接続方式 - Google Patents
インサ−キツトエミユレ−タ接続方式Info
- Publication number
- JPS62120547A JPS62120547A JP60260487A JP26048785A JPS62120547A JP S62120547 A JPS62120547 A JP S62120547A JP 60260487 A JP60260487 A JP 60260487A JP 26048785 A JP26048785 A JP 26048785A JP S62120547 A JPS62120547 A JP S62120547A
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- JP
- Japan
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- socket
- signal line
- microprocessor
- ice
- circuit
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の概要〕
プリント基板にインサーキットエミュレータ接続用ソケ
ットを設け、インサーキットエミュレータ接続用ソケッ
トにインサーキットエミュレータのプローブを接続した
場合には、マイクロプロセッサと周辺回路の間の電気的
接続を断ち、同時に、インサーキットエミュレータ接続
用ソケットを介してインサーサーキットエミュレータか
らの信号線を周辺回路に接続することにより、プリント
基板に実装されたマイクロプロセッサを抜き差しするこ
となく、インサーキットエミュレータによるプリント基
板のハードウェア、ソフトウェアの試験を可能としたイ
ンサーキットエミュレータ接続方式。
ットを設け、インサーキットエミュレータ接続用ソケッ
トにインサーキットエミュレータのプローブを接続した
場合には、マイクロプロセッサと周辺回路の間の電気的
接続を断ち、同時に、インサーキットエミュレータ接続
用ソケットを介してインサーサーキットエミュレータか
らの信号線を周辺回路に接続することにより、プリント
基板に実装されたマイクロプロセッサを抜き差しするこ
となく、インサーキットエミュレータによるプリント基
板のハードウェア、ソフトウェアの試験を可能としたイ
ンサーキットエミュレータ接続方式。
本発明は、マイクロプロセッサを実装したプリント基板
に試験用のインサーキットエミュレータを接続する方式
に関するものである。
に試験用のインサーキットエミュレータを接続する方式
に関するものである。
マイクロプロセッサを実装したプリント基板のハードウ
ェア、ソフトウェアの試験においては、マイクロプロセ
ッサの動作をシュミレートすることができるインサーキ
ットエミュレータ(以下ICEと称する。)が多く用い
られる。
ェア、ソフトウェアの試験においては、マイクロプロセ
ッサの動作をシュミレートすることができるインサーキ
ットエミュレータ(以下ICEと称する。)が多く用い
られる。
従来このICEを接続する方式としては、第3図の概念
図に示すように、マイクロプロセッサ4をプリント基板
5に半田付けされたICソケット3の上に実装し、IC
EI側にマイクロプロセッサ4と同等の形状を有するプ
ローブ2を用意しておき、マイクロプロセッサ4を取り
外し、ICソケット3にプローブ2を接続することによ
り、ICEIと被試験プリント基板5を接続する方式が
とられている。
図に示すように、マイクロプロセッサ4をプリント基板
5に半田付けされたICソケット3の上に実装し、IC
EI側にマイクロプロセッサ4と同等の形状を有するプ
ローブ2を用意しておき、マイクロプロセッサ4を取り
外し、ICソケット3にプローブ2を接続することによ
り、ICEIと被試験プリント基板5を接続する方式が
とられている。
従来のICE接続方式では、マイクロプロセッサ4とプ
ローブ2をICソケット3に抜き差しすることが頻繁に
行われるため、マイクロプロセッサ4とプローブ2の接
続端子およびICソケット3の劣化をまねくと同時に、
ICソケット3とプローブ2の間の接続状態も悪化する
欠点がある。
ローブ2をICソケット3に抜き差しすることが頻繁に
行われるため、マイクロプロセッサ4とプローブ2の接
続端子およびICソケット3の劣化をまねくと同時に、
ICソケット3とプローブ2の間の接続状態も悪化する
欠点がある。
また、TCEIを接続しない状態においても、マイクロ
プロセッサ4がICソケット3に実装されるため接続に
関して信頼性の点で問題がある。
プロセッサ4がICソケット3に実装されるため接続に
関して信頼性の点で問題がある。
本発明は従来の問題点を解決するため、プリント基板に
設けたICE接続用ソケットと、ICEに接続したIC
E接続用ソケットに接続するプローブと、プローブをI
CE接続用ソケットに接続したとき、ICEを接続した
ことを検知し、マイクロプロセッサと周辺回路との間の
電気的接続を断ち、同時にICE接続用ソケットを介し
てICEからの信号線を周辺回路に接続する手段とを備
えて構成したことを特徴としている。
設けたICE接続用ソケットと、ICEに接続したIC
E接続用ソケットに接続するプローブと、プローブをI
CE接続用ソケットに接続したとき、ICEを接続した
ことを検知し、マイクロプロセッサと周辺回路との間の
電気的接続を断ち、同時にICE接続用ソケットを介し
てICEからの信号線を周辺回路に接続する手段とを備
えて構成したことを特徴としている。
この発明は、ICE接続用ソケットにIC’Eのプロー
ブを接続した場合には、マイクロプロセッサと周辺回路
の間の電気的接続を断ち、同時にICE接続用ソケット
を介してICEからの信号線を周辺回路に接続すること
により、プリント基板に実装されたマイクロプロセッサ
を抜き差しすることなく、ICEによるプリント基板の
ハードウェア、ソフトウェアの試験を行うことができる
。
ブを接続した場合には、マイクロプロセッサと周辺回路
の間の電気的接続を断ち、同時にICE接続用ソケット
を介してICEからの信号線を周辺回路に接続すること
により、プリント基板に実装されたマイクロプロセッサ
を抜き差しすることなく、ICEによるプリント基板の
ハードウェア、ソフトウェアの試験を行うことができる
。
以下図面にもとづいて実施例につき説明する。
第1図に本発明の実施例の回路構成図を、第2図に本発
明の実、施例の全体構成図を示す。
明の実、施例の全体構成図を示す。
マイクロプロセッサ4は、被試験プリント基板5に半田
付けされており、ICEIのプローブ2は、プリント基
板5の上のICE接続用ソケット6に接続される。IC
E接続用ソケット6のマイクロプロセッサ4の入力信号
線13に相当する端子はマイクロプロセッサ4と接続さ
れ、周辺回路7からの信号をマイクロプロセッサ4と並
列に入力する。マイクロプロセッサ4の出力信号線のう
ち、リセット中はフローティング状態となる出力信号線
14も、ICE接続用ソケット6の対応する信号線と並
列に接続され、リセットされていない状態では出力信号
を周辺回路7へ、またリセット中は周辺回路7へICE
Iからの出力信号が供給される。さらにマイクロプロセ
ッサ4の出力信号線のうち、リセット中もフローティン
グ状態とならない出力信号線15は、3ステート制御可
能な制御ゲート8を通して1 、CE接続用ソケット6
の対応する信号線とともに周辺回路7に接続される。
付けされており、ICEIのプローブ2は、プリント基
板5の上のICE接続用ソケット6に接続される。IC
E接続用ソケット6のマイクロプロセッサ4の入力信号
線13に相当する端子はマイクロプロセッサ4と接続さ
れ、周辺回路7からの信号をマイクロプロセッサ4と並
列に入力する。マイクロプロセッサ4の出力信号線のう
ち、リセット中はフローティング状態となる出力信号線
14も、ICE接続用ソケット6の対応する信号線と並
列に接続され、リセットされていない状態では出力信号
を周辺回路7へ、またリセット中は周辺回路7へICE
Iからの出力信号が供給される。さらにマイクロプロセ
ッサ4の出力信号線のうち、リセット中もフローティン
グ状態とならない出力信号線15は、3ステート制御可
能な制御ゲート8を通して1 、CE接続用ソケット6
の対応する信号線とともに周辺回路7に接続される。
またプローブ2には、接地された制御用端子11があり
、制御用端子11に対応するICE接続用ソケット6側
の制御信号線12は、マイクロプロセッサ4のリセット
端子R3Tおよび制御ゲート8の制御端子Gに接続され
る。
、制御用端子11に対応するICE接続用ソケット6側
の制御信号線12は、マイクロプロセッサ4のリセット
端子R3Tおよび制御ゲート8の制御端子Gに接続され
る。
このような構成において、ICEIのプローブ2をIC
E接続用ソケット6に接続しない状態においては、制御
信号線12は、抵抗9により有効な状態に保たれ、制御
ゲート8の出力は動作状態となり、マイクロプロセッサ
4はリセット状態を解除され、通常の動作をすることが
できる。このときICE接続用ソケット6にはプローブ
2は接続されておらず、被試験プリント基板5の動作を
妨げることはない。
E接続用ソケット6に接続しない状態においては、制御
信号線12は、抵抗9により有効な状態に保たれ、制御
ゲート8の出力は動作状態となり、マイクロプロセッサ
4はリセット状態を解除され、通常の動作をすることが
できる。このときICE接続用ソケット6にはプローブ
2は接続されておらず、被試験プリント基板5の動作を
妨げることはない。
またプローブ2がICE接続用ソケット6に接続される
と、制御信号線12は制御用端子11により無効状態と
なり、マイクロプロセッサ4はリセットされ、マイクロ
プロセッサ4の出力および制御ゲート8の出力はフロー
ティング状態となる。このとき、ICE接続用ソケット
6からはICEIの出力信号が供給され、周辺回路7は
ICEIによって制御される。
と、制御信号線12は制御用端子11により無効状態と
なり、マイクロプロセッサ4はリセットされ、マイクロ
プロセッサ4の出力および制御ゲート8の出力はフロー
ティング状態となる。このとき、ICE接続用ソケット
6からはICEIの出力信号が供給され、周辺回路7は
ICEIによって制御される。
すなわち、プローブ2を接続しない状態においては、被
試験プリント基板5上のマイクロプロセッサ4が通常動
作を行い、プローブ2を接続した状態においては、IC
EIによりプリント基板5の試験を行うことができる。
試験プリント基板5上のマイクロプロセッサ4が通常動
作を行い、プローブ2を接続した状態においては、IC
EIによりプリント基板5の試験を行うことができる。
第1図に示した本実施例は、制御信号線12によりマイ
クロプロセッサ4のリセット端子R3Tを制御する例に
ついて説明したが、′#11御信号線12により制御さ
れるマイクロプロセッサ4の端子は、リセットに限定さ
れたものではなく、ホルトスリーステートコントロール
と呼ばれる端子なども同様に利用できる。また制御ゲー
ト8は、3ステー)$lJ御ゲートに限定されるもので
はなく、アナログスイッチ、リレーなどによっても実現
できる。
クロプロセッサ4のリセット端子R3Tを制御する例に
ついて説明したが、′#11御信号線12により制御さ
れるマイクロプロセッサ4の端子は、リセットに限定さ
れたものではなく、ホルトスリーステートコントロール
と呼ばれる端子なども同様に利用できる。また制御ゲー
ト8は、3ステー)$lJ御ゲートに限定されるもので
はなく、アナログスイッチ、リレーなどによっても実現
できる。
以上述べたように、本発明によればICE接続用ソケッ
トにICEを接続した場合のみ、ICEから被試験プリ
ント基板の制御を可能とすることにより、プリント基板
上のマイクロプロセッサを抜き差しすることなしにIC
Eによるプリント基板の試験が可能となる。その結果、
マイクロプロセッサの端子などの劣化を起すこともなく
、マイクロプロセッサをプリント基板に直接半田付けす
ることも可能となる。また専用のICE接続用ソケット
を設けることにより、ICEとの接続信頼性も向上する
。
トにICEを接続した場合のみ、ICEから被試験プリ
ント基板の制御を可能とすることにより、プリント基板
上のマイクロプロセッサを抜き差しすることなしにIC
Eによるプリント基板の試験が可能となる。その結果、
マイクロプロセッサの端子などの劣化を起すこともなく
、マイクロプロセッサをプリント基板に直接半田付けす
ることも可能となる。また専用のICE接続用ソケット
を設けることにより、ICEとの接続信頼性も向上する
。
第1図は本発明の実施例の回路構成図、第2図は本発明
の実施例の全体構成図、第3図は従来技術の概念図であ
る。 1・・・インサーキットエミュレータ(ICE)、2・
・・プローブ、3・・・ICソケット、4・・・マイク
ロプロセッサ、5・・・プリント基板、6・・・ICE
接続用ソケット、7・・・周辺回路、8・・・制御ゲー
ト、9・・・抵抗、11・・・制御用端子、12・・・
制御信号線、13・・・入力信号線、14.15・・・
出力信号線特許出願人 冨士電機株式会社(外1名)
代理人 弁理士 玉 蟲 久五部 (外2名) 本発明の実施例の回I!)4j!成図 第1図
の実施例の全体構成図、第3図は従来技術の概念図であ
る。 1・・・インサーキットエミュレータ(ICE)、2・
・・プローブ、3・・・ICソケット、4・・・マイク
ロプロセッサ、5・・・プリント基板、6・・・ICE
接続用ソケット、7・・・周辺回路、8・・・制御ゲー
ト、9・・・抵抗、11・・・制御用端子、12・・・
制御信号線、13・・・入力信号線、14.15・・・
出力信号線特許出願人 冨士電機株式会社(外1名)
代理人 弁理士 玉 蟲 久五部 (外2名) 本発明の実施例の回I!)4j!成図 第1図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 マイクロプロセッサを実装したプリント基板に試験用の
インサーキットエミュレータを接続するインサーキット
エミュレータ接続方式において、前記プリント基板に設
けたインサーキットエミュレータ接続用ソケットと、 前記インサーキットエミュレータに接続した前記インサ
ーキットエミュレータ接続用ソケットに接続するプロー
ブと、 前記プローブを前記インサーキットエミュレータ接続用
ソケットに接続したとき、前記インサーキットエミュレ
ータを接続したことを検知し、前記マイクロプロセッサ
と周辺回路との間の電気的接続を断ち、同時に前記イン
サーキットエミュレータ接続用ソケットを介して前記イ
ンサーキットエミュレータからの信号線を周辺回路に接
続する手段と を備えてなるインサーキットエミュレータ接続方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60260487A JPS62120547A (ja) | 1985-11-20 | 1985-11-20 | インサ−キツトエミユレ−タ接続方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60260487A JPS62120547A (ja) | 1985-11-20 | 1985-11-20 | インサ−キツトエミユレ−タ接続方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62120547A true JPS62120547A (ja) | 1987-06-01 |
Family
ID=17348646
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60260487A Pending JPS62120547A (ja) | 1985-11-20 | 1985-11-20 | インサ−キツトエミユレ−タ接続方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62120547A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5333307A (en) * | 1992-08-17 | 1994-07-26 | Intel Corporation | Circuitry and method for causing a microcontroller/microprocessor to be on-circuit emulated |
JPH0656841U (ja) * | 1991-12-12 | 1994-08-05 | 株式会社新興製作所 | 表面実装形cpu回路基板 |
JPH08212098A (ja) * | 1995-02-08 | 1996-08-20 | Nec Corp | デバッグ方法 |
JPH09145793A (ja) * | 1995-11-27 | 1997-06-06 | Nec Corp | 表面実装型半導体集積回路装置及び該装置にエミュレータのコネクタを接続するためのソケット |
WO2003027694A3 (en) * | 2001-09-27 | 2003-10-30 | Intel Corp | Method and apparatus for in-circuit testing of sockets |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5995654A (ja) * | 1982-11-22 | 1984-06-01 | Mitsubishi Electric Corp | マイクロプロセッサのデバックマシーン接続装置 |
JPS6133460B2 (ja) * | 1979-12-24 | 1986-08-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | |
JPS6262357B2 (ja) * | 1980-06-16 | 1987-12-25 | Victor Company Of Japan |
-
1985
- 1985-11-20 JP JP60260487A patent/JPS62120547A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6133460B2 (ja) * | 1979-12-24 | 1986-08-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | |
JPS6262357B2 (ja) * | 1980-06-16 | 1987-12-25 | Victor Company Of Japan | |
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US5333307A (en) * | 1992-08-17 | 1994-07-26 | Intel Corporation | Circuitry and method for causing a microcontroller/microprocessor to be on-circuit emulated |
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WO2003027694A3 (en) * | 2001-09-27 | 2003-10-30 | Intel Corp | Method and apparatus for in-circuit testing of sockets |
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