JPH05157793A - ショートチェック付き電源回路 - Google Patents
ショートチェック付き電源回路Info
- Publication number
- JPH05157793A JPH05157793A JP3322748A JP32274891A JPH05157793A JP H05157793 A JPH05157793 A JP H05157793A JP 3322748 A JP3322748 A JP 3322748A JP 32274891 A JP32274891 A JP 32274891A JP H05157793 A JPH05157793 A JP H05157793A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- voltage
- terminal
- power supply
- power source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】電源回路が負荷の電子回路に電圧を印加する前
に、電圧供給される電子回路基板のショートチェックを
行う事ができる。 【構成】電源端子Ａと少なくとも１個の信号端子Ｂと接
地端子Ｃとを有する電子回路６の負荷に対し電源端子Ａ
に供給する電圧を出力する電源端子Ｄならびに接地端子
Ｃと接続される接地端子Ｅを有する電源回路５と、信号
端子Ｂに微少電圧を供給する低圧供給回路２ならびに微
少電圧をモニタする電圧確認回路３ならびに電源回路５
から供給電圧Ｄを接地に切り換える第１のスイッチ４
Ａ、信号端子Ｂへオープンから微少電圧の供給に切り換
える第２のスイッチ４Ｂからなる切り換え部４を有する
ショートチェック回路１とを備えている。
に、電圧供給される電子回路基板のショートチェックを
行う事ができる。 【構成】電源端子Ａと少なくとも１個の信号端子Ｂと接
地端子Ｃとを有する電子回路６の負荷に対し電源端子Ａ
に供給する電圧を出力する電源端子Ｄならびに接地端子
Ｃと接続される接地端子Ｅを有する電源回路５と、信号
端子Ｂに微少電圧を供給する低圧供給回路２ならびに微
少電圧をモニタする電圧確認回路３ならびに電源回路５
から供給電圧Ｄを接地に切り換える第１のスイッチ４
Ａ、信号端子Ｂへオープンから微少電圧の供給に切り換
える第２のスイッチ４Ｂからなる切り換え部４を有する
ショートチェック回路１とを備えている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は負荷となる電子回路のシ
ョートチェック機能を有するショートチェック付き電源
回路に関する。
ョートチェック機能を有するショートチェック付き電源
回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の電子回路用の電源回路は、電子回
路基板の信号回路、特にＩＣの信号出力端子と電源端子
との間でのショート障害は、ＩＣ単体でチェックされ
る。このチェックを電圧印加直前に手作業等で再チェッ
クすることは、端子数が多いことと、ＩＣ端子が小型の
ために行わず、そのまま電圧を印加していた。
路基板の信号回路、特にＩＣの信号出力端子と電源端子
との間でのショート障害は、ＩＣ単体でチェックされ
る。このチェックを電圧印加直前に手作業等で再チェッ
クすることは、端子数が多いことと、ＩＣ端子が小型の
ために行わず、そのまま電圧を印加していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この従来の電源回路で
は、電子回路基板内の電源端子と信号端子が例えばショ
ートしていた場合でも、そのまま電圧を供給しているの
で、電子回路基板を破壊してしまうような欠点があっ
た。
は、電子回路基板内の電源端子と信号端子が例えばショ
ートしていた場合でも、そのまま電圧を供給しているの
で、電子回路基板を破壊してしまうような欠点があっ
た。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明のショートチェッ
ク付き電源回路は電源端子Ａと少なくとも１個の信号端
子Ｂと接地端子Ｃとを有する電子回路の負荷に対し前記
電源端子Ａに供給する電源を出力する電源端子Ｄならび
に接地端子Ｃと接続される接地端子Ｅを有する電源回路
と、前記信号端子Ｂに微少電圧を供給する低圧供給回路
ならびに前記微少電圧をモニタする電圧確認回路ならび
に前記電源回路からの供給電圧Ｄを接地に切り換える第
１のスイッチ、前記信号端子Ｂへオープンから前記微少
電圧の供給に切り換える第２のスイッチからなる切り換
え部を有するショートチェック回路とを備えている。
ク付き電源回路は電源端子Ａと少なくとも１個の信号端
子Ｂと接地端子Ｃとを有する電子回路の負荷に対し前記
電源端子Ａに供給する電源を出力する電源端子Ｄならび
に接地端子Ｃと接続される接地端子Ｅを有する電源回路
と、前記信号端子Ｂに微少電圧を供給する低圧供給回路
ならびに前記微少電圧をモニタする電圧確認回路ならび
に前記電源回路からの供給電圧Ｄを接地に切り換える第
１のスイッチ、前記信号端子Ｂへオープンから前記微少
電圧の供給に切り換える第２のスイッチからなる切り換
え部を有するショートチェック回路とを備えている。
【０００５】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図１は本発明の第１の実施例のブロック図である。
図１の実施例は試験すべき電子回路６、この電子回路６
に通常の電圧、例えば＋５Ｖと接地０電位を供給する電
源回路５、本実施例で追加されたショートチェック回路
１から構成される。ショートチェック回路１はＩＣ回路
を損傷させない微少電圧、例えば＋０．１Ｖ程度の電圧
を発生する低圧供給回路２、この微少電圧をモニタして
いる電圧確認回路３、電源回路５の電圧端子Ｄを電子回
路６の電源端子Ａへ接続するか、又は接地電位に切り換
えるスイッチ４Ａおよび電子回路６の信号端子Ｂに接続
されている線をオープンから低圧供給回路２の微少電圧
供給に切り換えるスイッチ４Ｂを有する切り換え部４か
ら構成される。
る。図１は本発明の第１の実施例のブロック図である。
図１の実施例は試験すべき電子回路６、この電子回路６
に通常の電圧、例えば＋５Ｖと接地０電位を供給する電
源回路５、本実施例で追加されたショートチェック回路
１から構成される。ショートチェック回路１はＩＣ回路
を損傷させない微少電圧、例えば＋０．１Ｖ程度の電圧
を発生する低圧供給回路２、この微少電圧をモニタして
いる電圧確認回路３、電源回路５の電圧端子Ｄを電子回
路６の電源端子Ａへ接続するか、又は接地電位に切り換
えるスイッチ４Ａおよび電子回路６の信号端子Ｂに接続
されている線をオープンから低圧供給回路２の微少電圧
供給に切り換えるスイッチ４Ｂを有する切り換え部４か
ら構成される。
【０００６】次に本実施例の動作を説明する。まず電子
回路６の基板上の電源はオフの状態で電子端子Ａの電圧
＋５Ｖの線をスイッチ４Ａで切り離し、強制的に接地す
る。さらに、電子回路６に負担をかけない微少電圧
（０．１Ｖ）を低圧供給回路２からスイッチ４Ｂで信号
端子Ｂに入力する。ここで電子回路６の基板が正常であ
れば、電圧確認回路３のモニタ電圧０．１は変化しな
い。したがって電圧確認回路３にてショートしていない
事が確認される。次に電子回路６が仮想ショート位置８
にてショートしていたと仮定し説明する。ここで切替え
部４のスイッチ４Ａ，４Ｂの設定条件は前述と同様にシ
ョートチェック状態のままである。このショー状態では
電源端子Ａと信号端子Ｂとはショートしているので、電
圧確認回路３のモニタ電圧０．１Ｖは接地されＯＶに変
化する。
回路６の基板上の電源はオフの状態で電子端子Ａの電圧
＋５Ｖの線をスイッチ４Ａで切り離し、強制的に接地す
る。さらに、電子回路６に負担をかけない微少電圧
（０．１Ｖ）を低圧供給回路２からスイッチ４Ｂで信号
端子Ｂに入力する。ここで電子回路６の基板が正常であ
れば、電圧確認回路３のモニタ電圧０．１は変化しな
い。したがって電圧確認回路３にてショートしていない
事が確認される。次に電子回路６が仮想ショート位置８
にてショートしていたと仮定し説明する。ここで切替え
部４のスイッチ４Ａ，４Ｂの設定条件は前述と同様にシ
ョートチェック状態のままである。このショー状態では
電源端子Ａと信号端子Ｂとはショートしているので、電
圧確認回路３のモニタ電圧０．１Ｖは接地されＯＶに変
化する。
【０００７】次に本発明の第２の実施例を図２により説
明する。第２の実施例ではショートチェック回路１Ａの
切り換え部４のスイッチ４Ａに電源回路５の＋５Ｖ電圧
Ｄおよび低圧供給回路２の微少電圧０．１Ｖを供給して
いる。ショートチェック時には電子回路６の電源端子Ａ
に微少電圧が入力される。また、スイッチ４Ｂが連動し
て信号端子Ｂが接地される。動作は第１の実施例と同じ
で電源端子Ａ、信号端子Ｂがショートされていれば電圧
確認回路３のモニタ電圧が０．１ＶからＯＶになりショ
ートが確認される。
明する。第２の実施例ではショートチェック回路１Ａの
切り換え部４のスイッチ４Ａに電源回路５の＋５Ｖ電圧
Ｄおよび低圧供給回路２の微少電圧０．１Ｖを供給して
いる。ショートチェック時には電子回路６の電源端子Ａ
に微少電圧が入力される。また、スイッチ４Ｂが連動し
て信号端子Ｂが接地される。動作は第１の実施例と同じ
で電源端子Ａ、信号端子Ｂがショートされていれば電圧
確認回路３のモニタ電圧が０．１ＶからＯＶになりショ
ートが確認される。
【０００８】なお、本実施例では電源端子Ａ、信号端子
Ｂが１個ずつの場合を例示したが、少なくとも信号端子
Ｂが複数個ある場合に、それらを並列に接続してショー
トチェックをまとめて行うことも可能である。又、電子
回路６単体のショートチェックのみであれば、ショート
チェック回路１単体で試験することも可能である。
Ｂが１個ずつの場合を例示したが、少なくとも信号端子
Ｂが複数個ある場合に、それらを並列に接続してショー
トチェックをまとめて行うことも可能である。又、電子
回路６単体のショートチェックのみであれば、ショート
チェック回路１単体で試験することも可能である。
【０００９】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、電源回路
にショートチェック回路を追加しているので、ショート
している電子回路基板を破壊せずにショートチェックの
みの試験であれば、ショートチェック回路のみで試験す
ることができる効果がある。
にショートチェック回路を追加しているので、ショート
している電子回路基板を破壊せずにショートチェックの
みの試験であれば、ショートチェック回路のみで試験す
ることができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施例のブロック図である。
【図２】本発明の第２の実施例のブロック図である。
１，１Ａ ショートチェック回路 ２ 低圧供給回路 ３ 電圧確認回路 ４ 切り換え部 ４Ａ，４Ｂ スイッチ ５ 電源回路 ６ 電子回路 ７ ＩＣ ８ 仮想ショート位置 Ａ 電源端子 Ｂ 信号端子 Ｃ，Ｅ 接地端子 Ｄ ＋５Ｖ端子
Claims (2)
- 【請求項１】 電源端子Ａと少なくとも１個の信号端子
Ｂと接地端子Ｃとを有する電子回路の負荷に対し前記電
源端子Ａに供給する電源を出力する電源端子Ｄならびに
接地端子Ｃと接続される接地端子Ｅを有する電源回路
と、前記信号端子Ｂに微少電圧を供給する低圧供給回路
ならびに前記微少電圧をモニタする電圧確認回路ならび
に前記電源回路からの供給電圧Ｄを接地に切り換える第
１のスイッチ、前記信号端子Ｂへオープンから前記微少
電圧の供給に切り換える第２のスイッチからなる切り換
え部を有するショートチェック回路とを備えていること
を特徴とするショートチェック付き電源回路。 - 【請求項２】 前記第１のスイッチが前記電源回路から
の供給電圧Ｄを前記微少電圧の供給に切り換え、前記第
２のスイッチがオープンから接地に切り換えることを特
徴とする請求項１記載のショートチェック付き電源回
路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3322748A JPH05157793A (ja) | 1991-12-06 | 1991-12-06 | ショートチェック付き電源回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3322748A JPH05157793A (ja) | 1991-12-06 | 1991-12-06 | ショートチェック付き電源回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05157793A true JPH05157793A (ja) | 1993-06-25 |
Family
ID=18147202
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3322748A Withdrawn JPH05157793A (ja) | 1991-12-06 | 1991-12-06 | ショートチェック付き電源回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05157793A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100518995B1 (ko) * | 1997-05-22 | 2005-11-25 | 로베르트 보쉬 게엠베하 | 전기회로장치 |
| JP2009121947A (ja) * | 2007-11-15 | 2009-06-04 | Hitachi Ltd | ショートチェックシステム、情報処理装置及びショートチェック方法。 |
| JP2010249802A (ja) * | 2009-03-26 | 2010-11-04 | Daikin Ind Ltd | 集積回路における外部端子の開放／短絡検査方法及び集積回路における外部端子の開放／短絡検査装置 |
-
1991
- 1991-12-06 JP JP3322748A patent/JPH05157793A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100518995B1 (ko) * | 1997-05-22 | 2005-11-25 | 로베르트 보쉬 게엠베하 | 전기회로장치 |
| JP2009121947A (ja) * | 2007-11-15 | 2009-06-04 | Hitachi Ltd | ショートチェックシステム、情報処理装置及びショートチェック方法。 |
| JP2010249802A (ja) * | 2009-03-26 | 2010-11-04 | Daikin Ind Ltd | 集積回路における外部端子の開放／短絡検査方法及び集積回路における外部端子の開放／短絡検査装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990311 |