JPH0563044A - テスト機能付ｉｃソケツト - Google Patents
テスト機能付ｉｃソケツトInfo
- Publication number
- JPH0563044A JPH0563044A JP24699791A JP24699791A JPH0563044A JP H0563044 A JPH0563044 A JP H0563044A JP 24699791 A JP24699791 A JP 24699791A JP 24699791 A JP24699791 A JP 24699791A JP H0563044 A JPH0563044 A JP H0563044A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- test
- socket
- connection terminal
- terminal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 回路基板自体を含めた障害解析において、そ
の回路基板に実装のＩＣ自体が不具合であるか、あるい
は、その回路基板自体が不具合であるかを簡便にチェッ
クする。 【構成】 ＩＣソケット１において、回路基板側接続端
子２と、搭載ＩＣ接続端子３との間にテスト回路４を備
え、テスト回路４にて両端子２，３間の電気的接続を分
離あるいは、接続するなどのテスト機能を持たせ、この
テスト回路４を、ＩＣソケット１の外部からテスト制御
回路６にて制御する。
の回路基板に実装のＩＣ自体が不具合であるか、あるい
は、その回路基板自体が不具合であるかを簡便にチェッ
クする。 【構成】 ＩＣソケット１において、回路基板側接続端
子２と、搭載ＩＣ接続端子３との間にテスト回路４を備
え、テスト回路４にて両端子２，３間の電気的接続を分
離あるいは、接続するなどのテスト機能を持たせ、この
テスト回路４を、ＩＣソケット１の外部からテスト制御
回路６にて制御する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＩＣソケットに関し、
特に回路機能をテストするためのテスト機能を有するＩ
Ｃソケットに関する。
特に回路機能をテストするためのテスト機能を有するＩ
Ｃソケットに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のＩＣソケットでは、図４に示すよ
うに、外部接続端子（回路基板側）２と、内部接続端子
（搭載ＩＣ接続側）３とを電気的に接続した構造を複数
組備えて構成されていた。
うに、外部接続端子（回路基板側）２と、内部接続端子
（搭載ＩＣ接続側）３とを電気的に接続した構造を複数
組備えて構成されていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この従来のＩＣソケッ
トでは、回路基板等に実装し、該ＩＣソケットにＩＣを
搭載した時における障害解析において、該ＩＣソケット
に実装のＩＣを取り換えるためには、該回路基板あるい
は、該回路基板を搭載する装置の電源をオフする必要が
ある。
トでは、回路基板等に実装し、該ＩＣソケットにＩＣを
搭載した時における障害解析において、該ＩＣソケット
に実装のＩＣを取り換えるためには、該回路基板あるい
は、該回路基板を搭載する装置の電源をオフする必要が
ある。
【０００４】また、ＩＣソケットに実装のＩＣ自体の不
具合であるのか、あるいは、該ＩＣの外部つまり回路基
板を含めた回路に問題があるのかを個別に簡便にチェッ
クする手段がないと言う問題点があった。
具合であるのか、あるいは、該ＩＣの外部つまり回路基
板を含めた回路に問題があるのかを個別に簡便にチェッ
クする手段がないと言う問題点があった。
【０００５】本発明の目的は前記課題を解決したテスト
機能付ＩＣソケットを提供することにある。
機能付ＩＣソケットを提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係るテスト機能付ＩＣソケットにおいて
は、ＩＣソケットに搭載されるＩＣとの接続端子と、該
接続端子に対応する回路基板側接続端子との間の電気的
接続を選択的に分離あるいは接続するテスト回路と、該
テスト回路の制御をＩＣソケット外部よりのテスト制御
信号にて行うテスト制御回路とを有するものである。
め、本発明に係るテスト機能付ＩＣソケットにおいて
は、ＩＣソケットに搭載されるＩＣとの接続端子と、該
接続端子に対応する回路基板側接続端子との間の電気的
接続を選択的に分離あるいは接続するテスト回路と、該
テスト回路の制御をＩＣソケット外部よりのテスト制御
信号にて行うテスト制御回路とを有するものである。
【０００７】また、搭載されるＩＣとの接続端子あるい
は、それに対応する回路基板側端子の電位を選択的にセ
ンスする手段を前記テスト回路に有し、該テスト回路の
センス制御及びセンスした結果をＩＣソケットの外部に
取り出す手段を前記テスト制御回路に有するものであ
る。
は、それに対応する回路基板側端子の電位を選択的にセ
ンスする手段を前記テスト回路に有し、該テスト回路の
センス制御及びセンスした結果をＩＣソケットの外部に
取り出す手段を前記テスト制御回路に有するものであ
る。
【０００８】
【作用】本発明では、外部接続端子（回路基板側）と、
内部接続端子（搭載ＩＣ接続側）との間に設けたテスト
回路により、前記両端子間を電気的に分離接続するよう
にしたものである。
内部接続端子（搭載ＩＣ接続側）との間に設けたテスト
回路により、前記両端子間を電気的に分離接続するよう
にしたものである。
【０００９】
【実施例】次に本発明について、図面を参照して説明す
る。
る。
【００１０】（実施例１）図１は、本発明の実施例１に
係るＩＣソケットの構成を示した図である。
係るＩＣソケットの構成を示した図である。
【００１１】図１において、本発明のＩＣソケット１
は、外部接続端子（回路基板側）２と内部接続端子（搭
載ＩＣ接続側）３との間にテスト回路４を有している。
は、外部接続端子（回路基板側）２と内部接続端子（搭
載ＩＣ接続側）３との間にテスト回路４を有している。
【００１２】テスト回路４は、テスト制御端子５よりの
テスト制御信号にて、テスト制御回路６を動作させ、こ
のテスト制御回路６の制御によって、外部接続端子２と
内部接続端子３の間の電気的接続を分離する回路７を有
するものである。
テスト制御信号にて、テスト制御回路６を動作させ、こ
のテスト制御回路６の制御によって、外部接続端子２と
内部接続端子３の間の電気的接続を分離する回路７を有
するものである。
【００１３】したがって、テスト制御端子５の制御に
て、ＩＣソケット１に搭載のＩＣを回路基板より電気的
に分離することが可能となる。
て、ＩＣソケット１に搭載のＩＣを回路基板より電気的
に分離することが可能となる。
【００１４】（実施例２）図２は、本発明の実施例２に
係るＩＣソケットの構成を示した図である。
係るＩＣソケットの構成を示した図である。
【００１５】本実施例では、テスト回路４中に、外部接
続端子２の電位をセンスし、その値をテスト制御回路６
にフィードバックするセンス回路８と、テスト制御回路
６より値を設定し、その設定された値を外部接続端子
２′に供給するドライブ回路９とを有している。
続端子２の電位をセンスし、その値をテスト制御回路６
にフィードバックするセンス回路８と、テスト制御回路
６より値を設定し、その設定された値を外部接続端子
２′に供給するドライブ回路９とを有している。
【００１６】なお、電気的接続分離回路７によって、外
部接続端子２′と、内部接続端子３′の間は、実施例１
に示したように電気的接続が分離可能となる。
部接続端子２′と、内部接続端子３′の間は、実施例１
に示したように電気的接続が分離可能となる。
【００１７】また、テスト制御端子５′により、センス
回路８のセンスした値を取り出したり、ドライブ回路９
にドライブしたい値を入力する。
回路８のセンスした値を取り出したり、ドライブ回路９
にドライブしたい値を入力する。
【００１８】（実施例３）図３は、本発明の実施例２に
示したＩＣソケットを実装した回路基板にて、どのよう
にテスト機能が発揮されるかを説明する図である。
示したＩＣソケットを実装した回路基板にて、どのよう
にテスト機能が発揮されるかを説明する図である。
【００１９】図において、１０，１００はＩＣソケッ
ト、２１，２２，２３，２０１，２０２，２０３は外部
接続端子（回路基板側）、３１，３２，３３，３０１，
３０２，３０３は内部接続端子（搭載ＩＣ接続側）、４
０，４００はテスト回路である。
ト、２１，２２，２３，２０１，２０２，２０３は外部
接続端子（回路基板側）、３１，３２，３３，３０１，
３０２，３０３は内部接続端子（搭載ＩＣ接続側）、４
０，４００はテスト回路である。
【００２０】また、５０，５１，５００，５０１はテス
ト制御端子、６０，６００はテスト制御回路、７０，７
００は電気的接続分離回路、８０，８００はセンス回
路、９０，９００はドライブ回路、１０００は論理素子
である。
ト制御端子、６０，６００はテスト制御回路、７０，７
００は電気的接続分離回路、８０，８００はセンス回
路、９０，９００はドライブ回路、１０００は論理素子
である。
【００２１】図３において、ＩＣソケット１０，１００
をテスト制御回路６０，６００の制御により、テスト回
路４０，４００の中の電気的接続分離回路７０，７００
を動作させて、各ＩＣソケットに搭載のＩＣを電気的に
分離する。
をテスト制御回路６０，６００の制御により、テスト回
路４０，４００の中の電気的接続分離回路７０，７００
を動作させて、各ＩＣソケットに搭載のＩＣを電気的に
分離する。
【００２２】テスト制御端子５０の制御により、テスト
制御端子５１から、テスト制御回路６０を経由して、テ
スト回路４０中のドライブ回路９０の各外部接続端子２
１，２２，２３に対して、選択的にドライブすべき値を
設定して、ドライブ回路９０にてドライブする。
制御端子５１から、テスト制御回路６０を経由して、テ
スト回路４０中のドライブ回路９０の各外部接続端子２
１，２２，２３に対して、選択的にドライブすべき値を
設定して、ドライブ回路９０にてドライブする。
【００２３】対向するＩＣソケット１００の各外部接続
端子２０１，２０２，２０３にて観測される値を、テス
ト回路４００中のセンス回路８００にてセンスする。
端子２０１，２０２，２０３にて観測される値を、テス
ト回路４００中のセンス回路８００にてセンスする。
【００２４】テスト制御端子５００の制御により、テス
ト制御端子５０１からテスト制御回路６００を経由し
て、センスした値を取り出す。
ト制御端子５０１からテスト制御回路６００を経由し
て、センスした値を取り出す。
【００２５】この時、外部接続端子２１にドライブした
値に対して、外部接続端子２０１にてセンスされた値が
同一であれば、外部接続端子２１と２０１の接続が確認
できる。
値に対して、外部接続端子２０１にてセンスされた値が
同一であれば、外部接続端子２１と２０１の接続が確認
できる。
【００２６】また、外部接続端子２０１でセンスされた
値が、外部接続端子２２と同一であれば、外部接続端子
２１との接続がなく、外部接続端子２２と接続されてい
ると判断される。
値が、外部接続端子２２と同一であれば、外部接続端子
２１との接続がなく、外部接続端子２２と接続されてい
ると判断される。
【００２７】外部接続端子２０１でセンスされた値が、
外部接続端子２１，２２，２３等でドライブされている
値や、外部接続端子２０２，２０３等でセンスされた値
とも異なり変化しなければ、部接続端子２１，２０１間
の接続はなく、また他の外部接続端子との接続もないと
結論される。
外部接続端子２１，２２，２３等でドライブされている
値や、外部接続端子２０２，２０３等でセンスされた値
とも異なり変化しなければ、部接続端子２１，２０１間
の接続はなく、また他の外部接続端子との接続もないと
結論される。
【００２８】一方、外部接続端子２０２でセンスされた
値が、外部接続端子２０１でセンスされた値と同一であ
れば、外部接続端子２０１と２０２が接続されていると
判定される。
値が、外部接続端子２０１でセンスされた値と同一であ
れば、外部接続端子２０１と２０２が接続されていると
判定される。
【００２９】他に、外部接続端子２０３でセンスされる
値が、外部接続端子２２，２３にてドライブされる値を
論理素子１０００にて論理演算された結果として推測さ
れる値と同一であれば、論理素子１０００の論理機能を
含めて動作を確認できる。
値が、外部接続端子２２，２３にてドライブされる値を
論理素子１０００にて論理演算された結果として推測さ
れる値と同一であれば、論理素子１０００の論理機能を
含めて動作を確認できる。
【００３０】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ＩＣソケ
ット内に、外部接続端子（回路基板側）と、内部接続端
子（搭載ＩＣ接続側）の間に、電気的な接続を分離する
機能を有するテスト回路と、テスト制御端子よりテスト
回路の制御を行うテスト制御回路を備えることにより、
本ＩＣソケットが実装された回路基板の電源をオフする
ことなしに、ＩＣソケットに搭載のＩＣを取り外した
り、交換することが可能となる。
ット内に、外部接続端子（回路基板側）と、内部接続端
子（搭載ＩＣ接続側）の間に、電気的な接続を分離する
機能を有するテスト回路と、テスト制御端子よりテスト
回路の制御を行うテスト制御回路を備えることにより、
本ＩＣソケットが実装された回路基板の電源をオフする
ことなしに、ＩＣソケットに搭載のＩＣを取り外した
り、交換することが可能となる。
【００３１】また、搭載ＩＣの機能とは全く関係せず
に、搭載ＩＣに入力あるいは出力している値をセンスし
たり、あるいは、搭載ＩＣの出力を切断して、回路基板
に対して所望の電圧をドライブする手段を有することに
より、テスト性能を搭載ＩＣとは独立にチェックできる
という効果を有する。
に、搭載ＩＣに入力あるいは出力している値をセンスし
たり、あるいは、搭載ＩＣの出力を切断して、回路基板
に対して所望の電圧をドライブする手段を有することに
より、テスト性能を搭載ＩＣとは独立にチェックできる
という効果を有する。
【図１】本発明の実施例１を示した図である。
【図２】本発明の実施例２を示した図である。
【図３】図２に示した実施例のＩＣソケットを使用した
回路基板の例を示す図である。
回路基板の例を示す図である。
【図４】従来例を示した図である。
１，１０，１００ ＩＣソケット ２，２′，２１，２２，２３，２０１，２０２，２０３
外部接続端子（回路基板側） ３，３′，３１，３２，３３，３０１，３０２，３０３
内部接続端子（搭載ＩＣ接続側） ４，４０，４００ テスト回路 ５，５′，５０，５１，５００，５０１ テスト制御端
子 ６，６０，６００ テスト制御回路 ７，７０，７００ 電気的接続分離回路 ８，８０，８００ センス回路 ９，９０，９００ ドライブ回路 １０００ 論理素子
外部接続端子（回路基板側） ３，３′，３１，３２，３３，３０１，３０２，３０３
内部接続端子（搭載ＩＣ接続側） ４，４０，４００ テスト回路 ５，５′，５０，５１，５００，５０１ テスト制御端
子 ６，６０，６００ テスト制御回路 ７，７０，７００ 電気的接続分離回路 ８，８０，８００ センス回路 ９，９０，９００ ドライブ回路 １０００ 論理素子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０１Ｒ 33/76 9057−5Ｅ 33/945 Ｅ 9057−5Ｅ
Claims (2)
- 【請求項１】 ＩＣソケットに搭載されるＩＣとの接続
端子と、該接続端子に対応する回路基板側接続端子との
間の電気的接続を選択的に分離あるいは接続するテスト
回路と、 該テスト回路の制御をＩＣソケット外部よりのテスト制
御信号にて行うテスト制御回路とを有することを特徴と
するテスト機能付ＩＣソケット。 - 【請求項２】 前記請求項１に記載のＩＣソケットにお
いて、 搭載されるＩＣとの接続端子あるいは、それに対応する
回路基板側端子の電位を選択的にセンスする手段をテス
ト回路に有し、 該テスト回路のセンス制御及びセンスした結果をＩＣソ
ケットの外部に取り出す手段をテスト制御回路に有する
ことを特徴とするテスト機能付ＩＣソケット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24699791A JPH0563044A (ja) | 1991-08-31 | 1991-08-31 | テスト機能付ｉｃソケツト |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24699791A JPH0563044A (ja) | 1991-08-31 | 1991-08-31 | テスト機能付ｉｃソケツト |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0563044A true JPH0563044A (ja) | 1993-03-12 |
Family
ID=17156842
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24699791A Pending JPH0563044A (ja) | 1991-08-31 | 1991-08-31 | テスト機能付ｉｃソケツト |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0563044A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH076839A (ja) * | 1993-06-16 | 1995-01-10 | Nec Corp | Ｉｃソケット |
| JPH0712901A (ja) * | 1993-06-16 | 1995-01-17 | Nec Corp | バウンダリスキャン機能付ｉｃソケット |
-
1991
- 1991-08-31 JP JP24699791A patent/JPH0563044A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH076839A (ja) * | 1993-06-16 | 1995-01-10 | Nec Corp | Ｉｃソケット |
| JPH0712901A (ja) * | 1993-06-16 | 1995-01-17 | Nec Corp | バウンダリスキャン機能付ｉｃソケット |
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