JP2010249802A - 集積回路における外部端子の開放/短絡検査方法及び集積回路における外部端子の開放/短絡検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】集積回路10は、外部から電源が供給される電源端子P11と、電源に基づいて動作する回路101と、第1回路101に接続され、所定の方向に並んで配置され、外部からの制御によって第1電位H及び第1電位Hと異なる第2電位Lとを任意に出力可能なN(Nは3以上の自然数)個の外部端子P10とを備える。外部端子P10のうち、方向の一方側からM(Mは1からNまでの自然数)個目までの外部端子に第1電位を、(M+1)個目からN個目までの外部端子に第1電位と異なる第2電位を出力させ、電源端子11を流れる電流の値が所定の基準値を超えたことを以って、M個目と(M+1)個目の外部端子の間が短絡していると判定する。
【選択図】図1
Description
<検査システムの構成>
図1に示されるように、検査システムは電気回路1と検査装置2とを備えている。
かかる検査システムにおける検査方法について説明する。
図12に例示する検査システムは、検査装置2の構成という点で図1に例示する検査システムと相違している。図12の検査装置2は図1の検査装置2と比較して、クロック供給部26を更に備えている。クロック供給部26はクロックを混成集積回路1(より詳細な一例は集積回路10、以下、集積回路10を例にとって説明する)へと与える。
10 集積回路
15,16 分周回路
17 スイッチ
21 シャント抵抗
22 電流検出回路
23 命令部
24 判定部
26 クロック供給部
27 周波数制御部
101,102 回路
H 第1電位
L 第2電位
P10 外部端子群
P1〜P5 外部端子
ST2〜ST5,ST7,ST8 ステップ
Claims (15)
- 外部から電源が供給される電源端子(11,P11)と、
前記電源に基づいて動作する第1回路(101)と、
前記第1回路に接続され、所定の方向に並んで配置され、外部からの制御によって第1電位(H)及び前記第1電位と異なる第2電位(L)とを任意に出力可能なN(Nは3以上の自然数)個の外部端子(P10,P1〜P5)と
を備える集積回路(1,10)における外部端子の開放/短絡検査方法であって、
(a)前記N個の外部端子のうち、前記方向の一方側からM(Mは1からNまでの自然数)個目までの外部端子に前記第1電位(H)を、(M+1)個目からN個目までの外部端子に前記第2電位(L)を出力させるステップ(ST2)と、
(b)前記ステップ(a)の実行後に、前記電源端子を流れる電流の値が所定の基準値を超えたことを以って、前記M個目と前記(M+1)個目の外部端子の間が短絡していると判定するステップ(ST3,ST4,ST5)と
を実行する、集積回路における外部端子の開放/短絡検査方法。 - 前記集積回路(1,10)は、前記電源に基づいて動作する第2回路(102)を有し、
前記N個の外部端子(P10,P1〜P5)の相互間のうち任意の隣り合う2つの間に短絡が生じ、前記N個の外部端子の相互間のうち前記2つの間のみに電位差が生じたときに、前記2つを流れる電流は、前記N個の外部端子に前記第1電位(H)が出力された状態で前記電源端子(11)を流れる正常電流の最大値よりも、大きい、請求項1に記載の集積回路における外部端子の開放/短絡検査方法。 - 前記集積回路(1,10)は、前記電源に基づいて動作する第2回路(102)を有し、
前記N個の外部端子(P10,P1〜P5)の相互間のうち任意の隣り合う2つの間に短絡が生じ、前記N個の外部端子の相互間のうち前記2つの間のみに電位差が生じたときに、前記2つを流れる電流は、前記N個の外部端子が全て開放された状態で前記電源端子(11)を流れる正常電流の最大値よりも、大きい、請求項1に記載の集積回路における外部端子の開放/短絡検査方法。 - 前記集積回路(1,10)はクロックが入力されるクロック入力端子を備え、前記集積回路は前記クロックに基づいて動作し、前記電源端子(11)を介して前記集積回路に流れる電流のうち、前記クロックの周波数に依存する成分は前記クロックの周波数が低いほど小さく、
(c)前記ステップ(a)に先立って実行され、前記クロックの周波数を低下して前記集積回路へと与えるステップ
をさらに含む、請求項1に記載の集積回路における外部端子の開放/短絡検査方法。 - (d)前記Mを1から(N−1)まで順に更新して、前記ステップ(a)及び前記ステップ(b)を繰り返すステップ(ST7,ST8)を更に実行する、請求項1乃至4の何れか一つに記載の集積回路における外部端子の開放/短絡検査方法。
- 前記第2回路(102)は前記外部端子に接続されないCMOS型回路を有し、
前記ステップ(a)は、ローパスフィルタ(25)を介して前記電流の値を検出するステップを含む、請求項1乃至5の何れか一つに記載の集積回路における外部端子の開放/短絡検査方法。 - 外部から電源が供給される電源端子(11)と、
前記電源に基づいて動作する第1回路(101)と、
前記第1回路に接続され、所定の方向に並んで配置され、外部からの制御によって第1電位(H)及び前記第1電位と異なる第2電位(L)とを任意に出力可能なN(Nは3以上の自然数)個の外部端子(P10,P1〜P5)と
を備える集積回路(1,10)における外部端子の開放/短絡検査装置であって、
前記電源端子に流れる電流の値を検出する電流検出部(21,22)と、
前記N個の外部端子のうち、前記方向の一方側からM(Mは1からNまでの自然数)個目までの外部端子に前記第1電位を、(M+1)個目からN個目までの外部端子に前記第2電位を出力させる信号(S1〜S4)を前記集積回路へと出力する命令部(23)と、
前記電流の値が所定の基準値を超えたことを以って、前記M個目と前記(M+1)個目の外部端子の間が短絡していると判定する判定部(24)と
を含む、集積回路における外部端子の開放/短絡検査装置。 - 前記集積回路(1,10)は、前記電源に基づいて動作する第2回路(102)を有し、
前記N個の外部端子(P10,P1〜5)の相互間のうち任意の隣り合う2つの間に短絡が生じ、前記N個の外部端子の相互間のうち前記2つの間のみに電位差が生じたときに、前記2つを流れる電流は、前記N個の外部端子に前記第1電位(H)が出力された状態で前記電源端子(11)を流れる電流の最大値よりも、大きい、請求項7に記載の集積回路における外部端子の開放/短絡検査装置。 - 前記集積回路(1,10)は、前記電源に基づいて動作する第2回路(102)を有し、
前記N個の外部端子(P10,P1〜5)の相互間のうち任意の隣り合う2つの間に短絡が生じ、前記N個の外部端子の相互間のうち前記2つの間のみに電位差が生じたときに、前記2つを流れる電流は、前記N個の外部端子が全て開放された状態で前記電源端子を流れる正常電流の最大値よりも、大きい、請求項7に記載の集積回路における外部端子の開放/短絡検査装置。 - 前記集積回路(1,10)はクロックが入力されるクロック入力端子(12,P12)を備え、前記集積回路は前記クロックに基づいて動作し、前記集積回路は、前記クロックの周波数が低いほど、前記電源端子(11)を介して前記集積回路を流れる電流のうち前記クロックの周波数に依存する成分が小さい特性を有し、
前記クロックを前記クロック入力端子へと与えるクロック供給部(26)
をさらに含む、請求項7に記載の集積回路における外部端子の開放/短絡検査装置。 - 前記集積回路(1,10)は、
クロックが入力されるクロック入力端子(12)と、
前記クロック入力端から入力された前記クロックの周波数を変更する第2回路(15〜17)と
を備え、前記集積回路は前記第2回路による変更後の前記クロックに基づいて動作し、前記集積回路は、変更後の前記クロックの周波数が低いほど、前記電源端子(11)を介して前記集積回路を流れる電流のうち前記クロックの周波数に依存する成分が小さい特性を有し、
前記第2回路における前記周波数の変更を制御する制御信号を前記第2回路に供給する周波数制御部(27)
を更に含む、請求項7に記載の集積回路における外部端子の開放/短絡検査装置。 - 前記集積回路は、クロックが入力されるクロック入力端子(12)と、前記電源の高電位と低電位との間で相互に直列に接続され、前記クロックに応じて相補的に導通する一対のスイッチング素子とを備え、
前記クロックを前記クロック入力端子へと与えるクロック供給部(26)と、
前記電流検出部が検出した値を平均する平均部(25)と
を更に含み、
前記判定部(24)は前記平均部が平均した前記電流の値が所定の基準値を超えたことを以って、前記M個目と前記(M+1)個目の外部端子の間が短絡していると判定する、請求項7に記載の集積回路における外部端子の開放/短絡検査装置。 - 前記集積回路は、クロックが入力されるクロック入力端子(12)と、前記クロック入力端から入力された前記クロックの周波数を変更する第2回路(15〜17)と、前記電源の高電位と低電位との間で相互に直列に接続され、変更後の前記クロックに応じて相補的に導通する一対のスイッチング素子と
を備え、
前記第2回路における前記周波数の変更を制御する制御信号を前記第2回路に供給する周波数制御部(27)と、
前記電流検出部が検出した値を平均する平均部(25)と
を更に含み、
前記判定部(24)は前記平均部が平均した前記電流の値が所定の基準値を超えたことを以って、前記M個目と前記(M+1)個目の外部端子の間が短絡していると判定する、請求項7に記載の集積回路における外部端子の開放/短絡検査装置。 - 前記命令部(23)は前記Mを1からN−1まで順に更新して前記信号(S1〜S4)を前記集積回路(1,10)へと出力する、請求項7乃至13の何れか一つに記載の集積回路における外部端子の開放/短絡検査装置。
- 前記第2回路(102)はCMOS型の回路を有し、
前記電流検出部(21,22)は、ローパスフィルタ(25)を介して前記電流の値を検出する、請求項7乃至14の何れか一つに記載の集積回路における外部端子の開放/短絡検査装置。
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011022104A (ja) * | 2009-07-21 | 2011-02-03 | Daikin Industries Ltd | 集積回路における外部端子の開放/短絡検査方法及び集積回路における外部端子の開放/短絡検査装置 |
CN103135023A (zh) * | 2011-11-28 | 2013-06-05 | 西门子公司 | 在电力网络中检测短路的方法和装置 |
CN103245869A (zh) * | 2013-04-10 | 2013-08-14 | 福州瑞芯微电子有限公司 | 一种集成电路电源管脚短路判定检测方法 |
JP2015001470A (ja) * | 2013-06-17 | 2015-01-05 | 日本電産リード株式会社 | 基板検査装置 |
CN106526493A (zh) * | 2016-11-01 | 2017-03-22 | 北京理工大学 | 基于bp神经网络的动力电池外部短路故障诊断及温升预测方法和系统 |
JP2020060555A (ja) * | 2018-10-08 | 2020-04-16 | 株式会社豊田自動織機 | ステータの検査方法及び検査システム |
WO2020075494A1 (ja) * | 2018-10-08 | 2020-04-16 | 株式会社豊田自動織機 | ステータの検査方法及び検査システム |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05157793A (ja) * | 1991-12-06 | 1993-06-25 | Nec Niigata Ltd | ショートチェック付き電源回路 |
JPH06350421A (ja) * | 1993-06-11 | 1994-12-22 | Sanyo Electric Co Ltd | 光検出器 |
JPH085691A (ja) * | 1994-06-21 | 1996-01-12 | Matsushita Electron Corp | 薄膜トランジスタアレイの検査方法 |
JPH1183952A (ja) * | 1997-09-12 | 1999-03-26 | Fujitsu Ltd | 電子回路の試験方法及び試験装置 |
JP2001066340A (ja) * | 1999-08-27 | 2001-03-16 | Nec Eng Ltd | モニタ回路 |
JP2005098785A (ja) * | 2003-09-24 | 2005-04-14 | Toyota Motor Corp | 多極端子のショート検出方法及びショート検出システム |
-
2010
- 2010-02-19 JP JP2010034961A patent/JP5604902B2/ja active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05157793A (ja) * | 1991-12-06 | 1993-06-25 | Nec Niigata Ltd | ショートチェック付き電源回路 |
JPH06350421A (ja) * | 1993-06-11 | 1994-12-22 | Sanyo Electric Co Ltd | 光検出器 |
JPH085691A (ja) * | 1994-06-21 | 1996-01-12 | Matsushita Electron Corp | 薄膜トランジスタアレイの検査方法 |
JPH1183952A (ja) * | 1997-09-12 | 1999-03-26 | Fujitsu Ltd | 電子回路の試験方法及び試験装置 |
JP2001066340A (ja) * | 1999-08-27 | 2001-03-16 | Nec Eng Ltd | モニタ回路 |
JP2005098785A (ja) * | 2003-09-24 | 2005-04-14 | Toyota Motor Corp | 多極端子のショート検出方法及びショート検出システム |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011022104A (ja) * | 2009-07-21 | 2011-02-03 | Daikin Industries Ltd | 集積回路における外部端子の開放/短絡検査方法及び集積回路における外部端子の開放/短絡検査装置 |
CN103135023A (zh) * | 2011-11-28 | 2013-06-05 | 西门子公司 | 在电力网络中检测短路的方法和装置 |
CN103245869A (zh) * | 2013-04-10 | 2013-08-14 | 福州瑞芯微电子有限公司 | 一种集成电路电源管脚短路判定检测方法 |
JP2015001470A (ja) * | 2013-06-17 | 2015-01-05 | 日本電産リード株式会社 | 基板検査装置 |
CN106526493A (zh) * | 2016-11-01 | 2017-03-22 | 北京理工大学 | 基于bp神经网络的动力电池外部短路故障诊断及温升预测方法和系统 |
CN106526493B (zh) * | 2016-11-01 | 2018-11-23 | 北京理工大学 | 动力电池外部短路故障诊断及温升预测方法和系统 |
JP2020060555A (ja) * | 2018-10-08 | 2020-04-16 | 株式会社豊田自動織機 | ステータの検査方法及び検査システム |
WO2020075494A1 (ja) * | 2018-10-08 | 2020-04-16 | 株式会社豊田自動織機 | ステータの検査方法及び検査システム |
JP7213425B2 (ja) | 2018-10-08 | 2023-01-27 | 株式会社豊田自動織機 | ステータの検査方法及び検査システム |
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