JP6221281B2 - 絶縁検査方法及び絶縁検査装置 - Google Patents
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Description
特に、この絶縁検査は、一方の配線パターンに電圧を印加して、他方の配線パターンに流れる電流を測定することにより、これら配線パターン間の抵抗値を算出して、この抵抗値から絶縁状態を検査するものである。
前記電圧検出手段が検出する電圧値を用いて、この比較結果により当該回路基板を良品又は不良品として判定する判定手段とを備え、前記電源手段は、該電源手段からの電流を制御する電流制御部を備え、前記電流制御部は、前記第一検査部と第二検査部の間の電位差が前記所定の電位差となるまでに供給される第一電流が、該所定の電位差に到達された後に供給される第二電流よりも大きくなるよう制御されることを特徴とする絶縁検査装置を提供する。
請求項2記載の発明は、前記電流制御部は、前記第一電流と前記第二電流が、0〜30mAの範囲に制御されていることを特徴とする請求項1記載の絶縁検査装置を提供する。
請求項3記載の発明は、前記電流制御部は、前記第一電流が前記第二電流の5〜30倍に制御されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の絶縁検査装置を提供する。
請求項4記載の発明は、複数の配線パターンが形成される基板において、前記複数の配線パターンから検査対象となる配線パターンが選択され、該配線パターンの絶縁検査を行う絶縁検査方法であって、前記複数の配線パターンから検査対象となる配線パターンを第一検査部として選出するとともに、該第一検査部以外の検査対象となる配線パターンを第二検査部として検査対象間を選出し、前記検査対象間に前記絶縁検査を行うための所定電位差が生じるように電力を供給し、前記検査対象間に前記電力が供給される際の該検査対象間の電位差を検出し、前記検出される前記電位差を基に、前記検査対象間の絶縁状態を判定し、前記検査対象間に前記所定電位差が設定される際に、該所定電位差に到達するまでに供給される電流値が、該所定電位差に到達した後に供給される電流値よりも大きくなるよう制御されることを特徴とする絶縁検査方法を提供する。
請求項2記載の発明によれば、第一電流と第二電流が、0〜30mAの範囲内に設定されているので、好適な絶縁検査を実施することができる。
請求項3記載の発明によれば、第一電流が第二電流の5〜30倍に制御されているので、検査対象間に所定の電位差を付与する時間を短縮し、且つ、電位差が付与された検査対象間に対しては高いスパーク検出能力を有することができる。
本発明は、基板上に形成される複数の配線パターンの絶縁検査を行う場合に発生するスパーク不良を効率良く且つ検査時間を冗長することなく行うことができる絶縁検査装置及びその方法に関する。
本発明に係る本実施形態の絶縁検査装置1は、電源手段2、電圧検出手段3、電流検出手段4、電流制御部5、制御手段6、切替手段7、電流供給端子8、電圧検出端子9、表示手段10を備えてなる。図1で示される実施形態では、本発明の絶縁検査装置1と、検査対象となる基板CBと、絶縁検査装置1と基板CBとを電気的に接続するコタンクトプローブCPが示されている。
図1では、各配線パターンP1〜P4に電気的に接触する4本のコンタクトプローブCPが示されている。このコンタクトプローブCPは、絶縁検査装置1と基板CBを電気的に導通可能に接続する。また、このコンタクトプローブCPの配置位置や配置本数は、基板CBに形成される配線パターンに応じて適宜設定されることになる。
この電源手段2が印加することになる電位差は、使用者により適宜に設定されるが、基板の絶縁検査の場合一般的に200〜250Vに設定される。
尚、電流供給手段2により供給される電流値を決定することもできるが、この電流検出手段4を用いることによっても、検査対象間の電流値を検出することもできる。
以上が本発明に係る絶縁検査装置1の構成の説明である。
尚、図2は本絶縁検査装置の絶縁検査を実施する場合の一実施例を示す図であり、図3は図2の絶縁検査装置の電圧変化を示すグラフであり、(a)は良品の場合の電圧変化を示しており、(b)は不良品の場合の電圧変化を示している。
この場合、選出手段61が、検査対象間を設定するために、検査対象となる配線パターンPを選出する。選出手段61が検査対象となる配線パターンPを選出すると、この選出手段61は切替手段7へこの検査対象として選出された配線パターンPの上流側電流供給端子81と上流側電圧検出端子91が特定される。そして、この特定された上流側電流供給端子81と上流側電圧検出端子91を接続状態とするためのスイッチ素子SW1、SW2がONされるように、選出手段61から動作信号が切替手段7へ送信される。切替手段7は、選出手段61からのスイッチ素子のON/OFF動作に関する信号を受信すると、この信号に従ってスイッチ素子SWのON/OFF制御が行われる。
図3では、(a)が、スパーク不良が存在しない場合の電圧の変化を示すグラフであり、(b)がスパーク不良に存在した場合の電圧の変化を示すグラフである。図3では、電圧値V1が検査対象間に印加される所定の電位差に設定されている。この図3では、(a)の時刻t0から時刻t1までの間、(b)の時刻t0から時刻t3の間が、検査対象間の電圧が所定電位差まで上昇している状態を示しており、この期間は第一電流が供給されることになる。
図3では、図3(a)の時刻t1から時刻t2の期間に、この第二電流による電流供給が行われる。図3(b)では、時刻t0から時刻t3の間でスパーク不良(図面での符号Aで示される箇所)が発見されることになるため、絶縁検査が行われる時刻をグラフには記載していないが、時刻t3以降は第二電流が検査対象間に供給されることになる。
この絶縁検査装置1では、検査対象となる一本の配線パターンPと残り全ての配線パターンの絶縁検査が行われ、この検査対象の一本の配線パターンPの絶縁検査が終了すると、検査対象として次の配線パターンPが一本選択され、残り全ての配線パターンとの絶縁検査が繰り返し行われる。なお、各検査対象間(検査対象の配線パターンP)の絶縁検査が実施される場合には、上記のようなスパーク不良も同時に検査が実施され、不良が検出された場合には、不良基板として検査が終了される。
上記の如く、このようにして被検査基板に設けられる配線パターン全てを検査対象の配線パターンとして絶縁検査が行われることになる。
2・・・・・・電源手段
3・・・・・・電圧検出手段
5・・・・・・電流制御部
6・・・・・・制御手段
Claims (4)
- 複数の配線パターンが形成される基板において、前記複数の配線パターンから検査対象となる配線パターンが選択され、該配線パターンの絶縁検査を行う絶縁検査装置であって、
前記複数の配線パターンから検査対象となる配線パターンを第一検査部として選出するとともに、該第一検査部以外の検査対象となる配線パターンを第二検査部として選出する選出手段と、
前記第一検査部と前記第二検査部との間に所定の電位差を設定するために、該第一検査部と該第二検査部に電気的に夫々接続されて電力を供給する電源手段と、
前記第一検査部と第二検査部との間の電位差を検出する電圧検出手段と、
前記電圧検出手段が検出する電圧値に基づいて、電圧降下の発生を検出した場合に当該回路基板を不良品として判定する判定手段とを備え、
前記電源手段は、該電源手段からの電流を制御して、所定の制限電流以上の電流が流れないように制限する電流リミッタ回路を備え、
前記電流リミッタ回路は、前記第一検査部と第二検査部の間の電位差が前記所定の電位差となるまでの前記制限電流である第一電流が、該所定の電位差に到達された後の前記制限電流である第二電流よりも大きくなるよう制御されることを特徴とする絶縁検査装置。 - 前記電流制御部は、前記第一電流と前記第二電流が、0〜30mAの範囲に制御されていることを特徴とする請求項1記載の絶縁検査装置。
- 前記電流制御部は、前記第一電流が前記第二電流の5〜30倍に制御されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の絶縁検査装置。
- 複数の配線パターンが形成される基板において、前記複数の配線パターンから検査対象となる配線パターンが選択され、該配線パターンの絶縁検査を行う絶縁検査方法であって、
前記複数の配線パターンから検査対象となる配線パターンを第一検査部として選出するとともに、該第一検査部以外の検査対象となる配線パターンを第二検査部として検査対象間を選出し、
前記検査対象間に前記絶縁検査を行うための所定電位差が生じるように電力を供給し、
前記検査対象間に前記電力が供給される際の該検査対象間の電位差を検出し、
前記検出される前記電位差を基に、電圧降下の発生を検出した場合に前記検査対象間の絶縁状態を不良と判定し、
前記検査対象間に前記所定電位差が設定される際に、該所定電位差に到達するまでに供給される電流値を第一電流以上の電流が流れないように制限し、該所定電位差に到達した後に供給される電流値を第二電流以上の電流が流れないように制限し、前記第一電流は前記第二電流よりも大きくなるよう制御されることを特徴とする絶縁検査方法。
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