JPS62113758A - 低温焼成セラミツクス - Google Patents

低温焼成セラミツクス

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JPS62113758A
JPS62113758A JP60237458A JP23745885A JPS62113758A JP S62113758 A JPS62113758 A JP S62113758A JP 60237458 A JP60237458 A JP 60237458A JP 23745885 A JP23745885 A JP 23745885A JP S62113758 A JPS62113758 A JP S62113758A
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    • C04B35/10Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics based on aluminium oxide
    • C04B35/111Fine ceramics
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
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    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C10/00Devitrified glass ceramics, i.e. glass ceramics having a crystalline phase dispersed in a glassy phase and constituting at least 50% by weight of the total composition
    • C03C10/0036Devitrified glass ceramics, i.e. glass ceramics having a crystalline phase dispersed in a glassy phase and constituting at least 50% by weight of the total composition containing SiO2, Al2O3 and a divalent metal oxide as main constituents
    • C03C10/0045Devitrified glass ceramics, i.e. glass ceramics having a crystalline phase dispersed in a glassy phase and constituting at least 50% by weight of the total composition containing SiO2, Al2O3 and a divalent metal oxide as main constituents containing SiO2, Al2O3 and MgO as main constituents
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/0306Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、特に電子工業用部品に適し、その他耐熱工業
部品、食器、厨房部品、装飾品などに用いられる低温焼
成セラミックスに関する。
[従来の技術] コンピュータの高速化、民生機器の高周波化に伴ない、
従来のアルミナ基板は誘電率が大きいため(ε−10)
、信号遅延の原因となり、これに代る低誘電率基板が強
く求められている。
また、アルミナ基板は焼成温度が高いため、使用する導
体材料が比較的抵抗の大きな高融点金属であるMo 、
Wに限定され、信号遅延の原因となっていた。
そこで、誘電率が低く、抵抗の小さなAU。
A++ 、A(J −Pd 、Cuが導体材料として使
用可能となる1100℃以下で焼成でき、かつLSIチ
ップの大型化を考慮して、チップと基板との熱膨@差に
よる応力が小さくなるようにシリコンに近い熱膨張係数
を持つ低温焼成基板が実用化され始めている。
そして、本発明者らは、先に特願昭59−110973
号において、優れた電気的、機械的特性をもち、かつ高
速焼成が可能で、また、部分結晶化するために、焼成時
および再熱処理時の導体、抵抗体パターンの流動防止に
優れたCa0−AI 203−8i ’Oz  (−B
2O3)系ガラスとアルミナ系との低温焼成セラミック
スを開発した。
[発明が解決しようとする問題点] 上記本発明者らの開発した材料は、アルミナの割合を最
大50%に限定したため、強度上に問題が残った。強度
を向上するためには、アルミナの使用割合を増大する必
要があるが、本発明ではこのアルミナの使用割合を増大
しても充分に緻密化させるものである。
[問題点を解決するための手段] 本発明は、重量基準でA120350〜72%、S i
 0218〜35%、CaOおよびMgOの少なくとも
 1種4〜27.5%、B2O3 0〜15%、10%
以下の不純物よりなる組成をもち、出発原料として、C
aOおよびMgOの少なくとも1種10〜55%、Al
 z O30〜30%、5io245〜70%、B2O
50〜30%、不純物10%以下からなる組成範囲内に
あり、そのBET比表面積が4.01/g以上の粒度を
有するガラス粉末40〜50%と、アルミナ粉末60〜
50%とを用いて低温焼成して得られた低温焼成セラミ
ックスである。
すなわち、本発明はガラス粉末のBET比表面積が41
/g以上有するものを使用した場合、アルミナ粉末の割
合が60%まで緻密な焼結体を得ることができた。これ
以上は、いくらガラスを微細化してもアルミナの割合を
増やすことはできなかった。
かかるガラス粉末に混合するアルミナ粉末は、ガラス粉
末とは逆にあまり微細なものは好ましくなく、0.5μ
以上の粒径をもつものが望ましい。これ以上微細なアル
ミナ粉末を使用すると焼結体を緻密化することが困−難
にある。
本発明では、アルミナ粉末の使用割合を増加することが
できたため、強度が向上し、アルミナ粉末55%のもの
で、約3000に9/C112のアルミナ基板並の抗折
強度を得ることができた。また、アルミナ粉末の割合を
増加したにもかかわらず、焼成温度はあまり変化せず、
1100℃以下で焼成することが可能である。
ガラスの粒度をBET比表面積で示したのは、ガラスの
粒子が液体中では分散しにくく、通常の粒度測定器では
正確な値が測定できないため、粒度では限定範囲を示す
のが困難だからである。
出発原料のガラス粉末の組成を限定した理由はつぎの通
りである。
Si 02が45%より減少すると誘電率および熱膨張
係数が高くなり、また部分結晶化により析出するアノー
サイトやコージェライト、ムライトの潰が充分でなくな
り、導体や抵抗パターンが焼成時、再熱処理時に流動し
易くなる。
Si 02が70%を越えると1100℃以下での焼成
が困難となる。
Al2O3は30%より多くなると1100℃以下での
焼成が困難となる。
CaOおよびMgOの少なくとも1種が10%より少な
いと1100℃以下での焼成が不可能となり、55%を
越えると誘電率と熱膨張係数が大ぎくなる。CaOより
M(JOを使用した方が誘電率と熱膨張係数は小さくな
るが、55%を越えると部分結晶化により析出するコー
ジェライト、ムライトの吊が充分でなくなる。
B203はガラスを1300〜1450℃附近の温度で
溶解するためと、セラミックスの焼成温度を低下させる
効果があり電気特性や機械的物理特性を変えることなく
、1100℃以下の焼成温度にすることができるように
なる。B2O3が30%より多くなると抗折強度が弱く
なったり、耐水性が悪くなり、信頼性が悪くなる。ただ
し、B2O3が増えることにより、誘電率と熱膨張係数
は低くなる傾向にある。
このガラスは不純物として、5%までのNa2Oまたは
に20のアルカリ金属酸化物を含み1りる。これらは、
ガラスの原料に不純物として含まれていたり、また、ガ
ラス化の際、溶解性を向上するために添加するものであ
るが、5%を越えると電気特性や耐水性を劣化させ信頼
性が悪くなり好ましくない。
また、3a○、Pb O,Fe 203、MnO2、M
n  304 、Cr  203 、NiO。
GO203などを不純物として10%まで含み得る。こ
れらの不純物は特性をあまり劣化させることがなく、ま
た、本発明の材料は部分結晶化する際、基本的には特別
な核形成物質をガラス成分に添加する必要はないが、上
記不純物は結晶化を促進する場合もあると考えられる。
以上の組成をもつガラス粉末40〜50%とアルミナ粉
末50〜60%の混合粉末を焼成して得られる基板は、
A120350〜72%、SiO218〜35%、Ca
OおよびM(toの少なくとも1)1!4〜21.5%
、B2O30〜15%および10%以下の不純物よりな
る組成をもつ。
本発明セラミックスをつ(るには、原料としてC,a 
O(又はfvl O) 、Si 02、At 203.
B2O3を所定の配合組成になるよう混合し、1300
〜1450℃で溶解急冷しガラス化する。この場合、原
料の形態は炭酸塩、酸化物、水酸化物のいずれでも良い
。又、上記温度範囲は炉材料等の関係から望ましい範囲
である。
次に上記で得られたガラス粉末とアルミナ粉末とを所定
の割合で混合し、成形粉末とし、これを冷間プレスある
いはテープキャスティング等通常のセラミックス成形法
にしたがって成形し、800〜1000℃で焼成する。
本発明を多層基板に利用するとき、成形したグリーンシ
ート上に例えばAa系の導体を印刷し、必要な枚数重ね
合せて、同時に焼成し、必要な場合にはスレーホールを
形成して、一体化した基板とすることができる。
又、Rlj 02系あるいはSiC系等の抵抗を印刷し
、さらには3a Ti 03系やSrTiO3系、P 
(FeJ/、W//J) Os −Pj(FeANbl
/、)o3系等のコンデンサペーストをグリーンシート
上に印刷し、これを重ね合せ、またはコンデンサ組成を
主体にしたグリーンシートを作り、これを重ね合せ同時
に焼成し、抵抗やコンデンサを内蔵し、一体化した基板
とすることもできる。
さらに、グリーンシート上に、導体として粒度調整をし
、かつ耐酸化処理を施したCu粉末ペーストを印刷し多
層化し、N2を主体とした雰囲気中で同時焼成を行ない
、Cu導体を内蔵した低温同時焼成多層基板をつくるこ
ともできる。又、この場合、N2不活性雰囲気であるた
め、Ni−Cr、モリブデンシリサイド、W−N1等の
金属又は金属間化合物を使用した抵抗ペーストを用い、
Cu導体並びに抵抗を内蔵した多層基板の作成も可能で
ある。
[実施例] Qa CO3、M(1(OH)2 、Si 02、Al
2O3、H・3803をガラスの出発原料に使用し、所
定の組成割合にしたがい秤量した。
これをライカイ機で充分混合した後、1400℃で溶解
し、水中投下してガラスを1qた。
得られたガラスをアルミナポットに、水、アルミナボー
ルとともに入れ、湿式粉砕し、乾燥して、比表面積4.
5111’ /(Jのガラス粉末を得た。
このガラス粉末45%とアルミナ粉末55%、まはガラ
ス粉末40%とアルミナ粉末60%をアルミナポットに
水、アルミナボールとともに入れ、3間抜混合した後、
乾燥した。
この乾燥粉末1000gに、メタアクリル系バインダー
100g、可塑剤(DOA)50(+、溶剤(トルエン
、キシレン) 400Qを加えてスリップとした後、ド
クターブレードを用いて1i+a+厚のグリーンシート
を作成した。このグリーンシートを850〜1000℃
で焼成してセラミックスを得、その物理特性を測定した
セラミックスの物理特性と組成との関係を表1の実施例
1〜4に示した。得られたセラミックスの抗折強度は2
600〜3200ka/ clで、アルミナ基板並の強
度を示した。
表1 表2に示した比較例1〜4は、実施例1〜4で得られた
ガラス粉末60%とアルミナ粉末40%からなる材料で
、実施例と同様の方法で得られた基板の抗折強度を示し
たもので、1700〜2100kg/c1の抗折強度し
か得られなかった。
又、表2に示した比較例5〜8は、実施例1〜4と同組
成のガラスを使用し、そのBET比表面積が31/gの
粉末45%とアルミナ粉末55%からなる材料で、実施
例と同様の方法で得られた基板の抗折強度を示したもの
で、緻密化しティなイタメニ、2000〜2200kl
J/ cm 2の強度しか得られなかった。
表2 [発明の効果1 本発明で得られるセラミックスは1100℃以下で焼成
でき、その強度がアルミナ基板兼の抗折強度を得ること
ができる。これによりアルミナ基板に比較し、強度の低
下をみることなく、誘電率、熱を脹係数などの特性が向
上し、また、抵抗の小さなAlj 、 A!1 、 A
11l −Pd 、 Cuなどの金属を導体に使用でき
るようになる。
特許出願人  鳴海製陶株式会社 代理人 弁理士 小 松 秀 岳 代理人 弁理士 旭     宏 手続ネ甫正書 (自発) 昭和61年12月10日 特許庁長官  黒 1)明 雄  殿 1、事件の表示     昭和60年特許願第2374
58号2、発明の名称     低温焼成セラミックス
3、補正をする者 事件との関係   特許出願人 名  称     鳴海製陶株式会社 ″T′− 5、補正命令の日付   く自 発) 6、補正の対℃ 7、補正の内容              ゛・  
  10(1)  明細書第4頁第14行の「ある」を
「なる」に訂正する。
(2)  第5頁第10行の「コージェライト、′」の
後に「ウォラステライト」と訂正する。
[31第7頁第7行と8行の間に[但し、特に高温高湿
下での信頼性を要求される場合はPb成分を含有しない
ことが望ましい。]と訂正する。
4) 第8頁第5行のf’ 1000℃」を「1100
℃」と訂正する。
(5)第8頁第13行の「P (Fez/3W+/3 
) 03−PtJをr P b (F e2t3W+/
3 )03−PbJに訂正する。
(印 第10頁の第11行の「1〜4」を「1〜5」と
訂正する。
口 第11頁の表1の右端の実施例4の後に実施例5を
加える。(別紙衣1を参照) (8)第11真下から3行のr1700Jを「1800
」と訂正する。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 重量基準でAl_2O_350〜72%、SiO_21
    8〜35%、CaOおよびMgOの少なくとも1種4〜
    27.5%、B_2O_30〜15%、10%以下の不
    純物よりなる組成をもち、出発原料として、CaOおよ
    びMgOの少なくとも1種10〜55%、Al_2O_
    30〜30%、SiO_245〜70%、B_2O_3
    0〜30%、不純物10%以下からなる組成範囲内にあ
    り、そのBET比表面積が4.0m^2/g以上の粒度
    を有するガラス粉末40〜50%と、アルミナ粉末60
    〜50%とを用いて低温焼成して得られた低温焼成セラ
    ミックス。
JP60237458A 1985-10-25 1985-10-25 低温焼成セラミツクス Granted JPS62113758A (ja)

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