JPS614264A - 自動ギヤングボンデイング用接続テ−プと半導体素子の組合せ - Google Patents

自動ギヤングボンデイング用接続テ−プと半導体素子の組合せ

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Publication number
JPS614264A
JPS614264A JP59124411A JP12441184A JPS614264A JP S614264 A JPS614264 A JP S614264A JP 59124411 A JP59124411 A JP 59124411A JP 12441184 A JP12441184 A JP 12441184A JP S614264 A JPS614264 A JP S614264A
Authority
JP
Japan
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semiconductor element
lead
tape
electrode
leads
Prior art date
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Pending
Application number
JP59124411A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuo Oki
大木 和雄
Koichi Nakayama
中山 恒一
Kenichi Uehara
健一 上原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Eneos Corp
Original Assignee
Nippon Mining Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Mining Co Ltd filed Critical Nippon Mining Co Ltd
Priority to JP59124411A priority Critical patent/JPS614264A/ja
Publication of JPS614264A publication Critical patent/JPS614264A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/86Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using tape automated bonding [TAB]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/86Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using tape automated bonding [TAB]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
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    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、一般には半導体装置に関するものであり、特
に半導体素子即ちチップにリード線を接続するテープキ
ャリアポンディングのための自動ギャングボンディング
用接続テープと半導体素子との組合せに関するものであ
る。
11且遣 近年半導体装置の需要の伸びは著しく、従って半導体装
置の製造業界においては、高品質の半導体装置を単時間
で且つ量産し得る製造技術の開発が希求されている。現
在の半導体装置を高品質で且つ量産するに際しての一つ
の問題は、それ自体はリード線を有さない半導体素子(
チップ)にリード線を付設するポンディング作業にあっ
た。
従来、半導体素子のポンディング法は大別すると、 (1)チップマウント/ワイヤポンディング法(2)テ
ープキャリアポンディング法 (3)はんだ接合フリップチップポンディング法がある
が、特にテープキャリアポンディング法は、半導体素子
の電極を一度にポンディング(ギャングボンディング)
することができ、又一連の製造工程がテープ状にて処理
し得るために取扱い及び量産化が容易であるという点か
ら最近注目を浴びている。
テープキャリアポンディング法にも種々の方式があるが
、米国特許第3,902,148号には、半導体素子(
チップ)を樹脂封止する、所謂プラスチック封止形のテ
ープキャリアポンディングの一例、特にプラスチック封
止形のテープキャリアポンディングに適した接続テープ
の一実施態様が例示される。
従来、テープキャリアポンディング法においては、銅又
は銅合金から虞る長尺の金属テープから成る接続テープ
が使用される。金属テープには。
長手方向に沿って、所定間隔にてリードパタンか、打抜
き又はフォトエツチング処理にて連続的に形成される。
リードパタンは複数個のリードを有し、各リードは、内
方に突出し半導体素子の電極に接合されるインナーリー
ド部分と、半導体装置の端子となるリードフレーム部材
に接続されるアウターリード部分とから成り、該アウタ
ーリード部分が金属テープに連結している。
リードパタンが連続的に形成された金属テープ即ち接続
テープは、ポンディング工程にてギャングボンディング
装置へと連続的に供給され、リードのインナーリード部
分が半導体素子の電極部に接合される。リードパタンに
接合された半導体素子は、次でリードのインナーリード
部分と共にプラスチックで封止される。
ポンディング及びプラスチック封止工程後の半導体装置
の半製品は、次の工程に送られる前に半導体素子の回路
及びリード線部分の断線等の試験及び検査をなすことが
極めて重要である。しかしながら、上述のようなシング
ルレイヤの金属テープから成る接続テープを使用したテ
ープキャリアポンディング法では、各リードのアウター
リード部分は同一の金属テープに連結されているために
、半製品の試験、検査のためにはリードのアウターリー
ド部分を切断する必要がある。
しかしながら、このように各リードをアウターリード部
分位置にて切断すると、各半導体素子は接続テープから
分離され、各半製品は個々に試験ちび検査をしなければ
ならず、半導体装置の量産化、自動化の大きな障害、と
なった。
上記米国特許は、アウターリード部分を金属テープから
切、り離した際、つまりポンディング加工終了後におい
ても、プラスチックで封止された半導体装置の半製品が
金属テープから分離されずテープ状にて、半導体素子の
回路及びリード線部分9断線等の試験及び検査のための
工程へと送給し得るべく少なくとも1本のサポートリー
ドを金属テープに形成することを提案している。該サポ
ートリードは、リードと同じく金属テープから内方へと
突出し、半導体素子の電極に接触することはないが半導
体素子と共にプラスチックで封止される。従って、該米
国特許の接続テープにおいては、サポートリード以外の
リードを、即ち、半導体素子と電気的に接続されたリー
ドを切断した後も、半導体装置の半製品は接続テープに
保持され。
以後の工程もテープ状にて送給し得るという特徴を有し
ている。
しかしながら、該米国特許に開示されるサポートリード
は、その先端がわずかに、半導体素子と共にプラスチッ
クで封止されるに過ぎず、以後の加工工程にて外れるこ
とがあった。
本発明は、上記米国特許に開示されるようなサポートリ
ード付接続テープを改良し、ポンディング工程後にプラ
スチック封止工程のあるなしにかかわらず、半導体装置
の半製品をしっかりと保持し、テープ状にて連続的に取
扱うことtでき、斯る半製品の電気的試験及び検査をな
すことのできる自動ギヤングボンディング用接轢テープ
と半導体素子との組合せを提供するものである。
本発明の他の目的は、半導体装置を自動的且つ量産的規
模にて、しかも高品質にて製造することのできる自動ギ
ャングボンディング用接続テープと半導体素子との組合
せを提供することである。
しい 次に、本発明に係る自動ギャングボンディング用接続テ
ープ及び半導体素子の一実施態様を図面に則して詳しく
説明する。
第1図を参照すると、本発明に係る接続テープ1は、銅
又は銅合金で作製されたシングルレイヤ(単層)の金属
テープ2で構成される。該金属テープ2の長手方向両側
縁に沿っては、該金属テープ2の位置決め及び送りをな
すためのスプロケット孔4が形成される。又金属テープ
2の長手方向中央部には、所定間隔にて該金属テープ2
の長手方向に沿ってリードパタン6が形成される。
一方1本発明に従った半導体素子8は、第2図に示され
るように、回路部分に連結された電極パッド8aと、回
路部分とは電気的に接続されていない、つまり絶縁され
た絶縁パッド8bとが設けられる。絶縁パッド8bは、
第2図に示される実施態様では、半導体素子8の四隅に
、4個数けらl    れているが、その配置及び個数
は所望に応じて任意に設計することができる。
第1図に戻って、金属テープ2のリードパタン6につい
て更に説明する。リードパタン6は、前記半導体素子8
の電極パッド8aに対応した数及び配置にて形成された
電極リードlOと、前記半導体素子8の絶縁パッド8b
に対応した数及び配置にて形成されたサポートリード1
2とから構成される。
各電極リードlOは、半導体素子8の電極パッド8aに
接続されるインナーリード部分10aと、金属テープ2
に連結されているアウターリード部分10bとから成る
。又、各サポートリード12も、半導体素子8の絶縁パ
ッド8bに接続されるインナーリード部分12aと、金
属テープ2に連結されたアウターリード部分12bとか
ら成る。勿論、各リード10.12は互いに分離して形
成されている。
リードパタン6は、種々の方法及び工程にて作成し得る
が、通常はフォトレジストを利用した写真及びエツチン
グ技術にて形成されるであろう。
このようにして作成された金属テープ2から成る接続テ
ープ1と、半導体素子8とはポンディング工程にて自動
ギャングボンディング装置に送給され、半導体素子8の
電極パッド8a及び絶縁パッド8bにそれぞれリードパ
タン6の電極リード10及びサポートリード12のイン
ナーリード部分10a及び12aが接合される。
また、サポートリード12に対応する電極パッド8bは
、上記説明においては、半導体素子の電気的機能には、
寄与しない絶縁パッドであるが、必要に応じて、半導体
素子のアース用電極パッドとして用いることもできる。
このようにすることで、半導体素子にその機能には無用
のパッドを作成することを避けることができる。これら
の選枳は半導体素子の回路設計者により適宜性なわれる
免1夏羞」 本発明に従って構成されそしてポンディングされた接続
テープlと半導体素子8とは、次に半製品の形態で回路
部分及びリード線部分の試験、検査を行なうのが好まし
く、従って電極リード10のアウターリード部分tab
が、切断線14位置より切断される。このように電極リ
ード10を金属テープ2より切断しても、サポートリー
ド12の働きにより、半導体素子8は金属テープにしっ
かりと保持される。従って、ポンディング工程後の半導
体装置の半製品は、プラスチック封止の如何にかかわら
ず、テープ状にて取扱うことができ、電気的回路の試験
及び検査を連続的に行なうことができ、半導体装置の製
造の自動化及び量産化を好適に達成することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明に従った接続テープの一実施態様の平
面図である。 第2図は、本発明に従った半導体素子の電極パッド及び
絶縁パッドの配列の一実施態様の平面図である。 l:接続テープ 2:金属テープ 6:リードパタン 8:半導体素子 8a:電極パッド 8b:絶縁パッド 10:電極リード 12:サポートリード 第1図 第2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)電極パッド及び絶縁パッドを有した半導体素子と、
    前記電極パッドに接続される電極リード及び前記絶縁パ
    ッドに接続される少なくとも1つのサポートリードを備
    えたリードパタンが形成された金属テープから成る自動
    ギャングボンディング用接続テープとの組合せ。 2)電極パッドを有した半導体素子と、前記電極パッド
    に接続される電極リードのうち、アース用電極パッドに
    接続される電極リードがサポートリードとして機能する
    ことを特徴とするリードパターンが形成された金属テー
    プから成る自動ギャングボンディング用接続テープとの
    組合せ。
JP59124411A 1984-06-19 1984-06-19 自動ギヤングボンデイング用接続テ−プと半導体素子の組合せ Pending JPS614264A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59124411A JPS614264A (ja) 1984-06-19 1984-06-19 自動ギヤングボンデイング用接続テ−プと半導体素子の組合せ

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JP59124411A JPS614264A (ja) 1984-06-19 1984-06-19 自動ギヤングボンデイング用接続テ−プと半導体素子の組合せ

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JPS614264A true JPS614264A (ja) 1986-01-10

Family

ID=14884802

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JP59124411A Pending JPS614264A (ja) 1984-06-19 1984-06-19 自動ギヤングボンデイング用接続テ−プと半導体素子の組合せ

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JP (1) JPS614264A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03119740A (ja) * 1989-10-02 1991-05-22 Hitachi Ltd 液晶ディスプレイ装置用半導体装置
JPH03159144A (ja) * 1989-11-16 1991-07-09 Hitachi Ltd 半導体装置
JPH09283572A (ja) * 1996-04-17 1997-10-31 Nec Corp フィルム・キャリア半導体装置

Cited By (3)

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