JPS6132619A - 半導体スイツチ回路 - Google Patents

半導体スイツチ回路

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Publication number
JPS6132619A
JPS6132619A JP15290084A JP15290084A JPS6132619A JP S6132619 A JPS6132619 A JP S6132619A JP 15290084 A JP15290084 A JP 15290084A JP 15290084 A JP15290084 A JP 15290084A JP S6132619 A JPS6132619 A JP S6132619A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
capacitor
current
turns
inductance
semiconductor switch
Prior art date
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Pending
Application number
JP15290084A
Other languages
English (en)
Inventor
Hirobumi Hino
博文 日野
Masaharu Ootakeguchi
大竹口 正治
Kiichi Tokunaga
紀一 徳永
Hiroshi Fukui
宏 福井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Medical Corp
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Medical Corp filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS6132619A publication Critical patent/JPS6132619A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、半導体スイッチ回路に係り、特に。
損失低減に好適なスナバ回路に関する。
〔発明の背景〕
第1図は、半導体スイッチ回路を用いたプツシ−プル型
インバータの回路構成である。1は1次側にセンタタッ
プを有する変圧器、2と6は101次巻線1aおよび1
bに接続され、ベース電流を流すとオンするトランジス
タ、4はコンデンサ4aと抵抗4bの直列接続体から成
り2に印加する過電圧を防止するスナバ回路、5はコン
デンサ5aと抵抗5bの直列接続体から成り6に印加す
る過電圧を防止するスナバ回路、6と7はそれぞれ2と
6に逆並列に接続したダイオード、8は1のセンタタッ
プと、2および6のエミッタに接続する直流電源である
第2図は第1図の動作説明図である。2と−6は交互に
オン、オフする。まず、tlの時点で2にベース電流I
B2を流すと2はオンし、1aには黒丸が正の極性で直
流電源電圧Edが印加する。1bの巻線にも黒丸が正の
極性でEdが誘起され、3のコレクターエミッタ間電圧
VCE3は2Edとなる。t2の時点でIB2がなくな
り、2がオフすると、2には配線インダクタンスのため
に通常2Ed以上の過電圧が印加する。この過電圧によ
って負荷電流は6と逆並列に接続した7に転流するので
6のVCE3は7の順電圧だけになる。負荷電流が減少
して零に゛なるt3の時点で6には再び順電圧Edが印
加する。この時点で2のコレクターエミッタ間電圧V 
CR2もEdとなる。次にt4の時点でベース電流IB
3を3に流すと6はオンし、2がオンした場合と同様の
動作を繰り返す。つまり、t5で■B3がなくなり、6
がオフすると6には過電圧が印加し。
負荷電流は乙に転流してVCE2は6の順電圧だけとな
る。負荷電流が零になるとVCE2. VCE3ともE
dになり、 t6の時点で2をオンする。
2あるいは3がオフした後の過電圧は、インバータと変
圧器の間の配線のインダクタンスに依存する。このため
、特にインバータと変圧器までの距離が長い場合にはイ
ンダクタンスも大きくなり。
過電圧も大きくなる。この過電圧を抑制するために4お
よび5のスナバ回路を接続する。つまり。
インダクタンスに蓄積したエネルギーを4aあるいは5
aによって吸収する。コンデンサによって吸収できるエ
ネルギーEは、コンデンサの容量をC電圧を■とすると E=iCV2  ・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・(1)となる。■は2ある
いは6に印加する電圧となるので、同じエネルギーを吸
収するためにVを小さくするには、Cを大きくする必要
がある。
一方、4aあるいは5aに吸収するエネルギーは充放電
時に4bあるいは5bで消費されスナバ損失となる。こ
の損失PLO8Sは、過電圧が零の場合でもインバータ
の動作周波数をfとするとPLO8S=4・C−Ed2
・f・・・・・・・・・(2)となり、Cの大きさとと
もに損失は増大する。インバータの電圧、電流が大きく
なると必然的にスナバ損失は増大し、冷却、放熱等によ
って装置の大型化、効率の低下をもたらす。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、半導体スイッチ素子のオフ時に発生す
る過電圧を抑え、損失の小さいスナバ回路を提供するこ
とにある。
〔発明の概要〕
本発明は、スナバ回路のコンデンサC−に蓄積したエネ
ルギーEを抵抗を通して放電させるかわりに、インダク
タンスLをもつコイルを用い、  LCの振動を利用し
て、Eを電源に回生ずるようにした。
〔発明の実施例〕
第6図は本発明の一実施例であり、第4図は動作波形図
で、第1.第2図と同一部分には同一符号が付しである
。両図によって本発明の詳細な説明する。
第3図において11と12はダイオード、16と14は
スナバコンデンサ、15と16はエミッタからベースへ
電流が流れる期間オンするPnP型トランジスタ。
17と18はコイル、19と20は2あるいは6がオン
したときに、8→17→15のコレクタ→15のベース
→21→2→8あるいは8→18→16のコレクタ→1
6のベース→22→3→8の電流が流れないようにする
ダイオードである。
2および3の動作は、第1図の従来例と同様で第2図の
ように動作する。t2の時点でIB2が流れなくなり、
2がオフすると、2に流れていた電流は、11を通して
16に流れ、13を充電する。13の電圧vSCは8の
電圧Ed、1aの誘起電圧Edおよび配線インダクタン
スによって(2Ed+AEd)に充電される。t3から
t4の期間は2および6がオフしており、負荷電流も零
になっている状態で、 VCE2およびVCE3には共
に8の電圧Edが印加する。しかし、13に充電された
電荷は、11によって放電が阻止されるのでVSCは(
2Ed+ΔEd)に保たれる。
t4で3がオンすると、 1aには黒丸が負の極性で電
圧が誘起し、 VCE2は2Edとなる。t5で3がオ
フすると、負荷電流が6に転流し、  VCE2は6の
順電圧だけとなり、負荷電流が零になるとVCE2はE
dとなる。この間、 VSCは13の放電経路がないの
で(2Ed+ΔEd)に保たれる。t7でIB2を流し
2をオンすると、13→15のエミッタ→15のベース
→21→2→13の閉回路が形成するので、15には1
3の放電によってI STBのようなベース電流が流れ
る。このI STBによって15はオンし、13の電荷
は。
1ろ→15→17→19→8→13の閉回路で放電する
。この放電々流I STCは13の静電容量Cと17の
インダクタンスしによって振動するので、VSCがEd
より小さ、くなっても流れ続けることができる。16の
放電は2をオフする前に完了する必要があるのでπ汀で
< (t9−is )  ・・・・・・・・・・・・・
・・・・(6)でなくてはならない。また、13の放電
々流はIS’l”Bとl5TCに分流し、  l5TB
は21によって損失となる。したがって、13のエネル
ギーを効果的に回生ずるには、21の抵抗Rを大きくし
てI STBの流れる回路の時定数を大きくする。つま
り CR)π汀で・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・(4)である。こうす
るとl5TCに対してI STBは小さくなり21によ
る損失は小さくなる。以上の動作は。
3におけるスナバ回路の動作と同じである。
以上のように1本発明によれば、スナバコンデンサに蓄
えられたエネルギーは、はとんど電源に回生されるので
損失が少なく、また、半導体スイッチ素子の過電圧抑制
のために、スナバコンデンサを大きくすることができる
第5図は9本発明の他の実施例を示す。101は直流電
源、102は誘導性をもつ負荷、106は負荷に流れる
電流供給と停止を制御するトランジスタ。
104はスナバコンデンサ105を充電するためのダイ
オード、106はエミッタからベースへベース電流を流
すことによってオンするpnp型トランジスタ、107
は106のベース電流を制限する抵抗、108はインダ
クタンスを有するコイルである。
103にベース電流を流しオンさせると101→102
→106→101の閉回路によって102に電力を供給
する。106のベース電流を停止しオフさせると106
に流れていた電流は、104と105に転流し、105
を充電する。105の電圧が101の電圧以上になり。
回路に存在するインダクタンスのエネルギーを吸収する
と電流は流れなくなる。次に再び1′03をオンすると
、105の電荷の一部は、105→106のエミッタ→
106のベース→107→103→105の回路で流れ
、106をオンする。すると、105→106→108
→101→105の閉回路によって、105の電荷は1
01へ回生される。このように1本発明によれば、スナ
バコンデンサで吸収したエネルギーの大部分は電源に回
生されるので、トランジスタに印加する電圧を抑制する
ために、スナバコンデンサを大きくしても、損失を小さ
くできる。なお、このとき105のC,106のR,1
08のLは(3)式、(4)式を満たす必要がある。
第6図は本発明の他の実施例を示す。101〜108は
第5図と同種のものであり、説明を省略する。
103にベース電流を流しオンさせると101→103
→102→101の閉回路によって102に電力を供給
する。103のベース電流を停止しオフさせると103
に流れていた電流は105と104に転流し、105を
充電する。105の電圧が101の電圧以上になり。
回路に存在するインダクタンスのエネルギーを吸収する
と電流は流れなくなる。次に再び103をオンすると1
05の電荷の一部は、105→106→102→106
のエミッター→106のベース→107→105→の回
路で流れ、106をオンする。すると105−)103
→101→106→108→105の閉回路によって1
05の電荷は101へ回生される。第6図に示す回路構
成は、第5図の回路構成の変形であり、同様の効果が得
られる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、半導体スイッチ素子のスナバコンデン
サのエネルギーの大部゛分が電源に回生可能となり、ス
ナバ回路における損失を大幅に低減できる。したがって
、半導体スイッチ素子のターンオフ時に発生する過電圧
抑制のために、容量の大きいスナバコンデンサを用いて
も、大きな損失とならない。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の回路図、第2図は従来の動作を説明する
タイムチャート図、第6図は本発明の一実施例の回路図
、第4図は本発明の詳細な説明するタイムチャート図、
第5.第6図は本発明の他の実施例の回路図である。 1・・・センタタップ付変圧器 2.6・・・トランジスタ 11、12・・・ダイオード   13.14・・・コ
ンデンサ15.16・pnp型トランジスタ 21.22  抵    抗    17.18・・・
コ  イ  ル19.20・・・ダイオード 代理人  弁理士 高 橋 明 夫 第1図 第2囚 IBz、’ 第5図 第6図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、直流電源と負荷と半導体スイッチ素子を直列に接続
    したスイッチ回路において、前記半導体スイッチ素子と
    並列接続した、コンデンサとダイオードとの直列接続体
    と、前記コンデンサの放電を制御するスイッチと、該ス
    イッチと直列接続し前記コンデンサのエネルギーを前記
    直流電源に回生するように接続したインダクタンスを有
    することを特徴とする半導体スイッチ回路。
JP15290084A 1984-07-25 1984-07-25 半導体スイツチ回路 Pending JPS6132619A (ja)

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JP15290084A JPS6132619A (ja) 1984-07-25 1984-07-25 半導体スイツチ回路

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JPS6132619A true JPS6132619A (ja) 1986-02-15

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ID=15550585

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JP15290084A Pending JPS6132619A (ja) 1984-07-25 1984-07-25 半導体スイツチ回路

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6421349A (en) * 1987-05-06 1989-01-24 Ca Atomic Energy Ltd Overcurrent probe and defect detection overcurrent method
JPS6426143A (en) * 1987-07-22 1989-01-27 Tokyo Gas Co Ltd Flaw detecting method for ferromagnetic material pipe

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6421349A (en) * 1987-05-06 1989-01-24 Ca Atomic Energy Ltd Overcurrent probe and defect detection overcurrent method
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